JP3259771B2 - プラズマディスプレイパネル - Google Patents
プラズマディスプレイパネルInfo
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/02—Manufacture of electrodes or electrode systems
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
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Description
端子部構造を有するプラズマディスプレイパネルに関す
る。
下、適宜「PDP」という)は、その特徴を生かして益
々大型、大容量化の道を着々と歩んでおり、一方ではカ
ラー化の実用化をめざした研究も着実に進みつつある。
かかる状況下、パネル側の電極、特に狭ピッチで形成さ
れる陽極を、外部回路と高信頼度で接続することが重要
な課題となっている。
ては、従来、図5〜7に示すような構造が採用されてき
た。図5は従来の端子部の平面図であり、図6はAA’
断面図、図7はBB’断面図である。この端子部構造
は、図6、7のように後面基板1と前面基板9とが対向
配置され、周辺部が封止材8により封着されている。銀
電極(陽極)2は、異方性導電膜(ACF)3を介し、
FPC(フレキシブル・プリント回路)5に設けられた
FPC電極(外部電極)4と接続している。FPC5の
上部には保護ガラス板7が設けられ、銀端子部への水分
の浸入を防止し、銀端子のマイグレーションの低減を図
っている。なお、端子部は樹脂6で被覆されている。
端子部構造は、陽極と外部回路との接続部分において、
隣接する電極間の絶縁性が低下するというという問題が
あった。これは銀のマイグレーションが発生することが
原因である。この点について図6を参照して説明する。
図6は従来の端子部の拡大図である。DCバイアスを印
加したとき、電極材料のマイグレーションは+から−の
方向(図6の矢印の方向)に成長する。電界は最短距離
間に集中するため、左側2つの電極間の電界の向きはF
PC電極から銀電極2へ向く(図中、の方向)。一
方、右側の2つの電極間の電界の向きは銀電極2からF
PC電極へと向く(図中、の方向)。このうち、上記
のような電界集中が発生すると、銀のマイグレーショ
ンが起こり、絶縁破壊を起こすのである。なお、上記構
造では保護ガラス板7が銀端子のマイグレーションを低
減する目的で配設されているが、これでは銀のマイグレ
ーションを充分に防止することはできない。
あり、パネル側の電極と外部回路との接続部分におい
て、隣接するパネル側電極間の絶縁性を向上させ、絶縁
信頼性の高いプラズマディスプレイパネルを提供するこ
とを課題とする。
明によれば、複数の陽極の設けられた第一の基板と、第
一の基板と対向する複数の陰極の設けられた第二の基板
とを有し、周辺部が封止材により封着されてなるプラズ
マディスプレイ装置において、外部回路から前記陽極に
電圧を供給するための、FPCに設けられた外部電極
が、前記陽極と導電膜を介して接続され、前記外部電極
の幅が前記陽極の幅よりも広く、前記外部電極が前記陽
極を覆うように形成され、かつ、前記外部電極の前記陽
極とは反対側に前記FPCを介して保護ガラスが配置さ
れ、該保護ガラスは樹脂とともに前記外部電極と前記陽
極との接続部を被覆する位置に設けられたことを特徴と
するプラズマディスプレイ装置が提供される。
極の近傍に電界集中部が発生し、この部分から陽極構成
材料のマイグレーションが起こり、絶縁破壊を起こして
いた。これに対し、本発明のプラズマディスプレイ装置
は、外部電極の幅が陽極の幅よりも広く、外部電極が陽
極を覆うように形成されている。このため、陽極近傍に
電界を集中することが防止され、陽極構成材料のマイグ
レーションの問題を解決でき、PDP端子部の絶縁信頼
性を向上させることができる。
合金からなることが好ましい。銀や銀合金を用いれば、
電極の形成を容易に行うことができるからである。銀や
銀合金を陽極材料に使用した場合、従来ではマイグレー
ションの問題が生じていたが、本発明によれば、この問
題も解決されるため、銀または銀合金の陽極材料として
の利点を充分に活かすことができる。
ら陽極に電圧を供給するための電極をいう。外部回路と
しては通常FPCが用いられるが、この場合、外部電極
は、このFPC上に設けられる。外部電極の構成材料と
しては、銅や銅合金、またはAu等が好ましく用いられ
る。本発明は陽極材料のマイグレーションの防止を主目
的とするが、上記した外部電極材料を用いた場合、隣接
する外部電極間のエレクトロマイグレーションをも有効
に防止できる。
ここで外部電極の幅は陽極の幅の1.1〜3倍とするこ
とが好ましく、1.3〜2.5倍とすることがさらに好
ましい。外部電極の幅が狭すぎると陽極を充分に覆うこ
とができず、陽極材料のマイグレーションを充分に防止
できない場合がある。また外部電極の幅が広すぎると、
陽極群および外部電極群を狭いピッチで形成することが
難しくなる。
電膜を介して接続される。導電膜としては、異方性導電
膜(以下、適宜「ACF」と称する)が好ましく用いら
れる。例えば、Ni粒子等の導電膜粒子を熱硬化性樹脂
中に分散させた膜が好ましく用いられる。
されるカラーPDP等に適用した場合、特に顕著な効果
を発揮する。陽極群がファインピッチで形成された場
合、電界集中に起因する陽極材料のマイグレーションが
発生しやすいからである。
参照して説明する。
り、図2はそのAA’断面図、図3はそのBB’断面図
である。
が対向配置され、周辺部が封止材8により封着されてい
る。銀電極(陽極)2は、異方性導電膜(ACF)3を
介し、FPC5に設けられたFPC電極(外部電極)4
と接続している。FPC電極の材料として銅が使用され
ている。FPC5の上部には保護ガラス板7が設けら
れ、銀端子部への水分の浸入を防止し、銀端子のマイグ
レーションの低減を図っている。なお、端子部は樹脂6
で被覆されている。
極)との位置関係は、図2のようになっている。図のよ
うに、FPC電極の幅が銀電極2の幅よりも広く、FP
C電極が銀電極2を覆うように形成されている。このよ
うにすることによって、銀電極構成材料のマイグレーシ
ョンが効果的に防止され、絶縁信頼性が向上する。
子部の作製方法について、図4を参照して説明する。
銀ペーストを塗布し、乾燥させる。次いで銀ペースト塗
膜を乾燥させた後、ガラスマスクを用い、露光、現像し
てパターンを形成する。これを焼成し焼き固めることに
より、パネル側電極(陽極)を形成する。一方、モジュ
ールと組み立てるFPCについては、まずACFをFP
C電極に仮圧着しておく。
(陽極)とFPC電極とを対向させて本圧着し、端子部
を作製する。
いて、TEG(Test Element Group)を用いて信頼性試
験を行った。ここで、TEGとは、基板上に電極群が形
成されたテストパターンであって、電極間距離(端子
幅)等の因子を種々の値に変えて配置されている。信頼
性試験は、温度65℃、湿度85%の高温高湿の条件
で、DC100Vを500時間連続印加した後、拡大観
察することにより行った。対照実験として、銀電極2が
FPC電極で覆われていない、図5〜7に示す従来の端
子部構造についても同様の評価を行った。
ていない従来の端子構造では、銀電極構成材料である銀
のマイグレーションが起こっていた。一方、銀電極がF
PC電極で覆われた本発明に係る端子構造では、銀のマ
イグレーションは認められなかった。
2、6を比較して説明する。図6は従来の端子部拡大図
である。DCバイアスを印加したとき、電極材料のマイ
グレーションは+から−の方向(図6の矢印の方向)に
成長する。電界は最短距離間に集中するため、左側2つ
の電極間の電界の向きはFPC電極から銀電極2へ向く
(図中、の方向)。逆に、右側の2つの電極間の電界
の向きは銀電極2からFPC電極へと向く(図中、の
方向)。このうち、上記のような電界集中が発生する
と、銀のマイグレーションが起こり、絶縁破壊を起こす
のである。一方、図2に示す本発明に係る端子部構造で
は、FPC電極が銀電極を覆うように形成されている。
このため、FPC電極−銀電極間よりもFPC電極−F
PC電極間の距離の方が短くなり、この部分に電界が集
中する。このため銀のマイグレーションは発生しにくく
なる。一方、FPC電極は一般に銅等のマイグレーショ
ン耐性の高い金属が用いられる。したがって、上記のよ
うな構造とすることにより、隣接電極間のマイグレーシ
ョンが効果的に防止される。
して銅を用いたが、これに代えてAuを用いることもで
きる。銅はマイグレーションの起こりにくい材料である
が、Auは銅よりもさらにマイグレーション耐性に優れ
ている。したがってAuを使用することにより更に絶縁
耐性を向上させることができる。
部電極の幅が陽極の幅よりも広く、外部電極が陽極を覆
うように形成されているため、陽極構成材料のマイグレ
ーションを防止し、PDP端子部の絶縁信頼性を向上さ
せることができる。
部の上面図である。
P端子部のAA’断面図である。
P端子部のBB’断面図である。
方法を説明するための図である。
子部の上面図である。
DP端子部のAA’断面図である。
DP端子部のBB’断面図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 複数の陽極の設けられた第一の基板と、
第一の基板と対向する複数の陰極の設けられた第二の基
板とを有し、周辺部が封止材により封着されてなるプラ
ズマディスプレイ装置において、 外部回路から前記陽極に電圧を供給するための、FPC
に設けられた外部電極が、前記陽極と導電膜を介して接
続され、 前記外部電極の幅が前記陽極の幅よりも広く、 前記外部電極が前記陽極を覆うように形成され、かつ、 前記外部電極の前記陽極とは反対側に前記FPCを介し
て保護ガラスが配置され、該保護ガラスは樹脂とともに
前記外部電極と前記陽極との接続部を被覆する位置に設
けられたことを特徴とするプラズマディスプレイ装置。 - 【請求項2】 前記陽極が銀または銀合金からなること
を特徴とする請求項1に記載のプラズマディスプレイ装
置。 - 【請求項3】 前記外部電極が銅または銅合金からなる
ことを特徴とする請求項1または2に記載のプラズマデ
ィスプレイ装置。 - 【請求項4】 前記外部電極が金からなることを特徴と
する請求項1または2に記載のプラズマディスプレイ装
置。 - 【請求項5】 前記外部電極の幅が前記陽極の幅の1.
1〜3倍であることを特徴とする請求項1乃至4いずれ
かに記載のプラズマディスプレイ装置。
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Family Applications (1)
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KR100718963B1 (ko) * | 2005-02-17 | 2007-05-16 | 엘지전자 주식회사 | 플라즈마 디스플레이 패널의 씨오에프/티씨피 패키지 |
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-
1999
- 1999-01-25 JP JP01601799A patent/JP3259771B2/ja not_active Expired - Fee Related
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