JP3259733B2 - 光ファイバの融着接続方法 - Google Patents

光ファイバの融着接続方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、端面同士を突き合わせ
た少なくとも1対の光ファイバを放電融着する光ファイ
バの融着接続方法に関する。
【0002】
【従来の技術】融着接続する光ファイバの側方透過像を
画像処理することにより、ファイバ端面の状態を検出
し、接続損失を推定する装置を用いた光ファイバの融着
接続方法が知られている。この場合、得られたファイバ
像はモニタ画面に表示され、表示された画像に基づき、
ファイバ端面の不良などが検出される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、かかる融着接
続装置を用いた光ファイバの融着接続方法では、モニタ
画面を切り替えると、モニタ画面に表示された各データ
は消去される。従って、接続作業が終了した後に、得ら
れたデータを解析、処理する場合には、モニタ画面に表
示された各データをパーソナルコンピュータ(以下、
「パソコン」という。)等の外部機器に転写する必要が
ある。その為、パソコンの現場持込み、データ書込みな
ど、データ取込みの為の作業が余分に必要となり、作業
効率が低下するという問題があった。
【0004】そこで本発明は、得られたデータを簡単に
保持できる融着接続装置を用いた光ファイバの融着接続
方法を提供することにより、作業効率の向上を図ること
を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する為
に、本発明は端面同士を突き合わせた少なくとも1対の
光ファイバを放電融着する光ファイバの融着接続方法で
あって、1対の光ファイバの端部を融着する放電電極
と、1対の光ファイバのファイバ像を撮像し、ファイバ
像に基づき画像処理を実行する画像処理系と、画像処理
により得られたデータを記憶する不揮発性メモリと、を
備えた融着接続装置を用い、複数回の融着接続により消
去されることなく不揮発性メモリに蓄積されたデータに
基づいて、放電電極による融着接続を解析し、画像処理
により得られる計測値の許容値もしくは融着接続条件
設定することを特徴とする。
【0006】
【作用】本発明によると、複数回の融着接続において画
像処理系の処理により得られたデータは、消去されるこ
となく不揮発性メモリに蓄積され、これに基づき融着接
続の結果が解析されて、画像処理により得られる計測値
の許容値もしくは融着接続条件が設定される。これによ
り、融着接続損失の改善や接続作業性の向上が実現でき
る。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面に基づき
説明する。なお、説明において、同一要素には同一符号
を用い、重複する説明は省略する。
【0008】図1は、本発明の実施例に係る光ファイバ
の融着接続方法に用いるのに好適な融着接続装置の構成
を示す図である。この融着接続装置は、光学系として顕
微鏡1、画像処理系としてカメラ2、画像メモリ3、C
PU4、プログラム用メモリ5、不揮発性メモリとして
EEPROMなどのデータ用メモリ6、モニタ7を備え
ている。
【0009】テープ形光ファイバ8は、その一部の被覆
が除去され、露出した複数の光ファイバ8aがV溝基板
9により整列された状態で保持されている。1対のV溝
基板9はV溝が合致するように配列されているので、保
持された1対の光ファイバ8aの端部は突き合わされた
状態になっている。
【0010】互いに突き合わされた光ファイバ8aの上
下方向には、照明用光源10と顕微鏡1がそれぞれ配置
されているので、光ファイバ8aの拡大されたファイバ
像がカメラ2に結像される。さらに、突き合わされた光
ファイバ8aの両側には、一対の放電電極11が配置さ
れている。
【0011】カメラ2にはA/D変換部12を介して画
像メモリ3が接続されている。その為、アナログ値とし
て得られたファイバ像はディジタルデータに変換され、
画像メモリ3に記憶される。カメラ2としてはCCDカ
メラ、画像メモリ3としてはフレームメモリを使用でき
る。
【0012】CPU4には、画像メモリ3、プログラム
用メモリ5、データ用メモリ6、インターフェース(I
/F)部13及びD/A変換部14が接続されている。
CPU4は、プログラム用メモリ5に予め入力された画
像処理プログラムにしたがい、画像メモリ3に記憶され
た画像データに対し画像処理(計測、解析など)を実行
する。データ用メモリ6には、画像処理により得られた
データ(計測データなど)が格納される。また、画像メ
モリ3はD/A変換部14を介してモニタ7に接続され
ているので、画像データをモニタ7上に表示することが
できる。さらに、インターフェース部13にはパソコン
15が接続されているので、必要に応じて、データ用メ
モリ6に記憶された画像処理結果をパソコン15で任意
に読み出すことができる。この場合、パソコン15上の
プログラムを用いて、画像処理結果に基づき、放電電極
11による放電融着の解析(融着接続条件の設定、許容
値の設定を含む。)を行うことができる。
【0013】次に、図2、図3を参照して、本実施例で
利用できる画像処理について説明する。図2は画像処理
系で得られたファイバ側方透過像およびその計測項目を
示し、図3は本実施例を用いて得られたデータをパソコ
ン15に出力した画像処理結果の一例を示す。
【0014】カメラ2で撮像されたファイバ透過像(図
2参照)を示す画像信号は、A/D変換された後、画像
メモリ3に格納される。この画像メモリ3に記憶された
ディジタルの画像データに基づき、CPU4はデータの
解析、計測などの画像処理を行う。この画像処理により
得られる計測値としては、例えば、融着接続前のファイ
バ軸ずれ量、切断端面角度、端面間隔、融着接続後のフ
ァイバ軸ずれ量などがある。
【0015】なお、これらの計測値が大きくなると融着
接続損失が増大するので、低接続損失の実現あるいは低
接続損失を保証する為に、これらの計測値に対して許容
値を設定してもよい。本実施例を用いれば、パソコン1
5を利用して、上記計測値に対する許容値を設定してお
き、実際の接続損失値を分析することができる。
【0016】また、本実施例の機能を用いて、画像計測
結果を詳細に分析することにより、接続損失を推定する
ことも可能である。図3における心線番号の下の数字
は、画像計測結果を基に推定した接続損失を表示するも
のである。
【0017】このように、本実施例に係る融着接続装置
では画像処理によって得られるファイバ相対軸ずれ量、
端面角度、端面間隔などのデータを随時、データ用メモ
リに入力し、パソコンに出力することができる。したが
って、これらのデータを用いて、ファイバの融着接続条
件の設定、あるいは許容値の設定などを検討する際にパ
ソコンを十分に活用することにより、省人化、作業時間
の短縮化が計れ、効果的である。
【0018】また、メモリとして電気的に容易に消去、
書き替えが可能な不揮発性記憶素子を使用しているの
で、フィールドの工事現場へ直接パソコンを持ち込む必
要がなく、工事終了後にパソコンと接続し、メモリデー
タを転送すればよい。したがって、接続作業に支障がな
く、フィールド接続におけるデータ解析に有効である。
【0019】本発明は上記実施例に限定されるものでは
ない。例えば、具体的な画像処理系の構造、使用する光
ファイバの本数、種類などは融着条件により変化するも
のであり、本発明を制限するものではない。
【0020】
【発明の効果】以上のように、本発明では複数回の融着
接続において画像処理系の処理により得られたデータ
は、消去されることなく不揮発性メモリに蓄積され、こ
れに基づき融着接続の結果が解析されて、画像処理によ
り得られる計測値の許容値もしくは融着接続条件が設定
される。これにより、融着接続損失の改善や接続作業性
の向上が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係る光ファイバの融着接続装
置を示す図である。
【図2】本発明の実施例に係る融着装置の画像処理系で
得られたファイバ側方透過像およびその計測項目例を示
す図である。
【図3】本発明の実施例に係る画像処理系を用いて得ら
れたデータをパソコンに出力した画像処理結果の一例を
示す図である。
【符号の説明】
1…顕微鏡、2…カメラ、3…画像メモリ、4…CP
U、5…プログラム用メモリ、6…データ用メモリ、7
…モニタ、8…テープ形光ファイバ、9…V溝基板、1
0…照明用光源、11…放電電極、12…A/D変換
部、13…インターフェース部、14…D/A変換部、
15…パソコン。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 6/255

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 端面同士を突き合わせた少なくとも1対
    の光ファイバを放電融着する光ファイバの融着接続方法
    であって、 前記1対の光ファイバの端部を融着する放電電極と、前
    記1対の光ファイバのファイバ像を撮像し、前記ファイ
    バ像に基づき画像処理を実行する画像処理系と、前記画
    像処理により得られたデータを記憶する不揮発性メモリ
    と、を備えた融着接続装置を用い、 複数回の融着接続により消去されることなく前記不揮発
    性メモリに蓄積された前記データに基づいて、前記放電
    電極による融着接続を解析し、画像処理により得られる
    計測値の許容値もしくは融着接続条件を設定することを
    特徴とする光ファイバの融着接続方法
JP31629791A 1991-11-29 1991-11-29 光ファイバの融着接続方法 Expired - Lifetime JP3259733B2 (ja)

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JP3065271B2 (ja) * 1997-04-10 2000-07-17 住友電気工業株式会社 融着接続装置
JP2005031439A (ja) * 2003-07-14 2005-02-03 Fujikura Ltd 光ファイバ端面処理方法及びその装置並びに光ファイバ融着接続方法及びその装置

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