JP3240709B2 - メモリ試験装置 - Google Patents
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- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
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- G11C29/52—Protection of memory contents; Detection of errors in memory contents
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はメモリ試験装置に関
し、特に複数のフラッシュＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒ
ｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａ
ｂｌｅ ＲＯＭ）を同時に試験するときに生ずる過剰書
込みや過剰消去の防止に関する。
し、特に複数のフラッシュＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒ
ｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａ
ｂｌｅ ＲＯＭ）を同時に試験するときに生ずる過剰書
込みや過剰消去の防止に関する。
【０００２】
【従来の技術】メモリ試験装置においては、複数個の被
試験メモリ（以下ＤＵＴと言う）を同時に試験すること
を前提としている。このため図４に示すように信号発生
部ＦＣのライトイネーブル信号ＷＥ、ｍ（ｍ≧１）ビッ
トのデータＤi1〜Ｄim及び複数ビットのアドレス信号Ａ
等は信号分配部ＶＤを通じてｎ（ｎ≧１）チャンネルに
分岐されて、対応するＤＵＴ1 ，ＤＵＴ2 ，…の同じピ
ンには同じ論理レベル（Ｈ／Ｌレベル）の信号が供給さ
れ、データの書き込みが行われる。各ＤＵＴi より読み
出されたデータは、論理比較部ＳＣＧの論理比較回路Ｓ
Ｃi に入力され、期待値と比較される。その比較結果に
基づいて、各論理比較回路ＳＣi から判定信号（ＰＡＳ
Ｓ／ＦＡＩＬ信号）Ｓi が外部に出力される。
試験メモリ（以下ＤＵＴと言う）を同時に試験すること
を前提としている。このため図４に示すように信号発生
部ＦＣのライトイネーブル信号ＷＥ、ｍ（ｍ≧１）ビッ
トのデータＤi1〜Ｄim及び複数ビットのアドレス信号Ａ
等は信号分配部ＶＤを通じてｎ（ｎ≧１）チャンネルに
分岐されて、対応するＤＵＴ1 ，ＤＵＴ2 ，…の同じピ
ンには同じ論理レベル（Ｈ／Ｌレベル）の信号が供給さ
れ、データの書き込みが行われる。各ＤＵＴi より読み
出されたデータは、論理比較部ＳＣＧの論理比較回路Ｓ
Ｃi に入力され、期待値と比較される。その比較結果に
基づいて、各論理比較回路ＳＣi から判定信号（ＰＡＳ
Ｓ／ＦＡＩＬ信号）Ｓi が外部に出力される。
【０００３】ＤＵＴが一般のメモリである場合には、論
理“１”（Ｈレベル）のデータを１回書き込み、その書
き込んだデータを読み出して期待値と比較すればよい。
また書き込んだ論理“１”データを消去する場合には消
去すべきメモリセルに論理“０”（Ｌレベル）のデータ
を１回書き込むことにより消去し、次にそのセルのデー
タを読み出して期待値と比較すればよい。
理“１”（Ｈレベル）のデータを１回書き込み、その書
き込んだデータを読み出して期待値と比較すればよい。
また書き込んだ論理“１”データを消去する場合には消
去すべきメモリセルに論理“０”（Ｌレベル）のデータ
を１回書き込むことにより消去し、次にそのセルのデー
タを読み出して期待値と比較すればよい。
【０００４】しかしながら、ＤＵＴがフラッシュＥＥＰ
ＲＯＭである場合には、普通１回の書き込み動作（又は
消去動作）では書き込み（又は消去）は不充分で、数回
行わねばならない。書き込み（或いは消去）が完了する
までに必要な書き込み／消去動作の回数はＤＵＴによっ
てバラツキがある。そのため、例えば１００個のメモリ
を同時に試験する場合には、共通のアドレスＮのセルに
対してＷ−Ｒ−Ｗ−Ｒ…Ｗ−Ｒ（Ｗは書き込み又は消去
動作、Ｒは読み出し動作）のように、Ｗ−Ｒを１組とし
て１回と数えると、例えば、２０回のＷ−Ｒ動作を行
い、判定信号ＳiがＰＡＳＳ（ＯＫ）になるまでに必要
とした動作回数が１〜９回の試料は不良品、１０〜２０
回の試料は良品、２０回行っても未だＰＡＳＳにならな
い、つまりＦＡＩＬである試料は不良品とされる。次に
アドレスをＮ＋１に進めて同様の試験が繰返し行われ
る。しかし、Ｗ−Ｒが２０回になる前に全てのＤＵＴが
ＰＡＳＳになれば、その時点でアドレスを＋１進めて同
様の試験が行われる。なお図４ではＤＵＴのデータ入力
端子とデータ出力端子を別々に表しているが、これらは
共通の端子が用いられる場合が多い。
ＲＯＭである場合には、普通１回の書き込み動作（又は
消去動作）では書き込み（又は消去）は不充分で、数回
行わねばならない。書き込み（或いは消去）が完了する
までに必要な書き込み／消去動作の回数はＤＵＴによっ
てバラツキがある。そのため、例えば１００個のメモリ
を同時に試験する場合には、共通のアドレスＮのセルに
対してＷ−Ｒ−Ｗ−Ｒ…Ｗ−Ｒ（Ｗは書き込み又は消去
動作、Ｒは読み出し動作）のように、Ｗ−Ｒを１組とし
て１回と数えると、例えば、２０回のＷ−Ｒ動作を行
い、判定信号ＳiがＰＡＳＳ（ＯＫ）になるまでに必要
とした動作回数が１〜９回の試料は不良品、１０〜２０
回の試料は良品、２０回行っても未だＰＡＳＳにならな
い、つまりＦＡＩＬである試料は不良品とされる。次に
アドレスをＮ＋１に進めて同様の試験が繰返し行われ
る。しかし、Ｗ−Ｒが２０回になる前に全てのＤＵＴが
ＰＡＳＳになれば、その時点でアドレスを＋１進めて同
様の試験が行われる。なお図４ではＤＵＴのデータ入力
端子とデータ出力端子を別々に表しているが、これらは
共通の端子が用いられる場合が多い。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来のメモリ試験装置
では、同時に試験する複数個のＤＵＴ（フラッシュＥＥ
ＰＲＯＭ）に印加する信号を各ＤＵＴ毎に可変する（コ
ントロールする）ことはできないため、全てのＤＵＴに
対して書き込み（又は消去）動作が、許容最大回数（例
えば従来例では良品として許容される範囲１０〜２０回
に対して２０回）だけ行われる。そのため、例えば１０
回で書き込み（又は消去）が完了しているＤＵＴにおい
ては過剰書き込み（又は過剰消去）となる。
では、同時に試験する複数個のＤＵＴ（フラッシュＥＥ
ＰＲＯＭ）に印加する信号を各ＤＵＴ毎に可変する（コ
ントロールする）ことはできないため、全てのＤＵＴに
対して書き込み（又は消去）動作が、許容最大回数（例
えば従来例では良品として許容される範囲１０〜２０回
に対して２０回）だけ行われる。そのため、例えば１０
回で書き込み（又は消去）が完了しているＤＵＴにおい
ては過剰書き込み（又は過剰消去）となる。
【０００６】ここで過剰書き込み又は過剰消去とは、書
き込みのための信号印加、つまりＷＥ（ライトイネーブ
ル）信号及び論理“１”の又は“０”の書き込みデータ
を必要回数以上入力したためにメモリセルに過剰な正又
は負のチャージを持つ現象のことである。“１”を過剰
書き込みすると、その後でその“１”を消去するために
“０”を書き込む回数がその分更に多くなる。この発明
の目的は、このような過剰書き込みや過剰消去を防止し
ようとするものである。
き込みのための信号印加、つまりＷＥ（ライトイネーブ
ル）信号及び論理“１”の又は“０”の書き込みデータ
を必要回数以上入力したためにメモリセルに過剰な正又
は負のチャージを持つ現象のことである。“１”を過剰
書き込みすると、その後でその“１”を消去するために
“０”を書き込む回数がその分更に多くなる。この発明
の目的は、このような過剰書き込みや過剰消去を防止し
ようとするものである。
【０００７】
（１）信号発生部より入力されるライトイネーブル信
号、論理“１”又は“０”のｍ（ｎ≧１）ビット構成の
データ及びアドレス信号を信号分配部によってｎ（ｎ≧
１）チャンネルに分配して、同時に試験すべき高々ｎ個
の被試験メモリ（フラッシュＥＥＰＲＯＭ）に供給し
て、書き込み動作を行い、それら各被試験メモリに書き
込まれたデータを読み出し、論理比較部の対応するチャ
ネルのｍ個の論理比較器にそれぞれ入力して、期待値と
比較し、それらの論理比較器より良／不良を示す利点信
号を出力し、これらの書き込み−読み出し−良否判定の
動作を同一被試験メモリの同一アドレスに対して所定サ
イクル繰返し行った後、アドレスを変更して同様の試験
を順次行うメモリ試験装置において、請求項１の発明で
は、次の手段が設けられる。
号、論理“１”又は“０”のｍ（ｎ≧１）ビット構成の
データ及びアドレス信号を信号分配部によってｎ（ｎ≧
１）チャンネルに分配して、同時に試験すべき高々ｎ個
の被試験メモリ（フラッシュＥＥＰＲＯＭ）に供給し
て、書き込み動作を行い、それら各被試験メモリに書き
込まれたデータを読み出し、論理比較部の対応するチャ
ネルのｍ個の論理比較器にそれぞれ入力して、期待値と
比較し、それらの論理比較器より良／不良を示す利点信
号を出力し、これらの書き込み−読み出し−良否判定の
動作を同一被試験メモリの同一アドレスに対して所定サ
イクル繰返し行った後、アドレスを変更して同様の試験
を順次行うメモリ試験装置において、請求項１の発明で
は、次の手段が設けられる。
【０００８】前記信号分配部では、２入力アンドゲート
がチャンネル毎に設けられ、ｎチャンネルに分岐された
ライトイネーブル信号をその２入力アンドゲートの第１
の入力端子に入力し、その２入力アンドゲートの出力を
対応する被試験メモリのライトイネーブル端子に入力す
る。前記データを構成するビット数ｍ＝１のとき、前記
各チャンネルの１個の前記論理比較器の前記判定信号
を、対応する前記２入力アンドゲートの第２の入力端子
に帰還させる。
がチャンネル毎に設けられ、ｎチャンネルに分岐された
ライトイネーブル信号をその２入力アンドゲートの第１
の入力端子に入力し、その２入力アンドゲートの出力を
対応する被試験メモリのライトイネーブル端子に入力す
る。前記データを構成するビット数ｍ＝１のとき、前記
各チャンネルの１個の前記論理比較器の前記判定信号
を、対応する前記２入力アンドゲートの第２の入力端子
に帰還させる。
【０００９】ｍ＞１のとき、ｍ入力アンドゲートがチャ
ンネル毎に前記論理比較部の出力側に設けられ、前記各
チャンネルのｍ個の前記論理比較器の判定信号を、その
ｍ入力アンドゲートへ入力し、そのｍ入力アンドゲート
の出力を、対応する前記２入力アンドゲートの第２の入
力端子に帰還させる。 （２）前記請求項２の発明は前記（１）項に記載のメモ
リ試験装置において、前記信号発生部は、１，４，８，
…，又はｍ（ｍ＝２k ；ｋ≧１の整数）ビット構成のデ
ータを出力可能とされ、前記信号分配部は、前記データ
の第１〜第ｍビットをそれぞれｎ（ｎ≧１）チャンネル
に分配して、対応する被試験メモリに供給可能とされ
る。
ンネル毎に前記論理比較部の出力側に設けられ、前記各
チャンネルのｍ個の前記論理比較器の判定信号を、その
ｍ入力アンドゲートへ入力し、そのｍ入力アンドゲート
の出力を、対応する前記２入力アンドゲートの第２の入
力端子に帰還させる。 （２）前記請求項２の発明は前記（１）項に記載のメモ
リ試験装置において、前記信号発生部は、１，４，８，
…，又はｍ（ｍ＝２k ；ｋ≧１の整数）ビット構成のデ
ータを出力可能とされ、前記信号分配部は、前記データ
の第１〜第ｍビットをそれぞれｎ（ｎ≧１）チャンネル
に分配して、対応する被試験メモリに供給可能とされ
る。
【００１０】また前記論理比較部は、被試験メモリに書
き込まれたデータを読み出したデータの第１乃至第ｍビ
ットにそれぞれ対応する第１乃至第ｍ論理比較器をチャ
ンネル毎に有し、各チャンネルの前記第１乃至第４論理
比較器の出力の論理積をとる４入力アンドゲートと、各
チャンネルの前記第１乃至第８論理比較器の出力の論理
積をとる８入力アンドゲートと、…、各チャンネルの前
記第１乃至第ｍ論理比較器の各出力の論理積をとる前記
ｍ入力アンドゲートとが前記論理比較部の出力側に設け
られる。
き込まれたデータを読み出したデータの第１乃至第ｍビ
ットにそれぞれ対応する第１乃至第ｍ論理比較器をチャ
ンネル毎に有し、各チャンネルの前記第１乃至第４論理
比較器の出力の論理積をとる４入力アンドゲートと、各
チャンネルの前記第１乃至第８論理比較器の出力の論理
積をとる８入力アンドゲートと、…、各チャンネルの前
記第１乃至第ｍ論理比較器の各出力の論理積をとる前記
ｍ入力アンドゲートとが前記論理比較部の出力側に設け
られる。
【００１１】また被試験メモリの入出力データを構成す
るビット数に応じて、各チャンネルの、前記第１論理比
較器の出力、前記４入力アンドゲートの出力、前記８入
力アンドゲートの出力…，又は前記ｍ入力アンドゲート
の出力のいずれかを選択して、前記信号分配部の対応す
る前記２入力アンドゲートに帰還させるセレクタが設け
られる。
るビット数に応じて、各チャンネルの、前記第１論理比
較器の出力、前記４入力アンドゲートの出力、前記８入
力アンドゲートの出力…，又は前記ｍ入力アンドゲート
の出力のいずれかを選択して、前記信号分配部の対応す
る前記２入力アンドゲートに帰還させるセレクタが設け
られる。
【００１２】
【実施例】この発明を図２の実施例に基づいて説明す
る。図２はＤＵＴの入出力データがｍ＝１ビットの場合
であり、図４と対応する部分に同じ符号を付してある。
なお信号分配部ＶＤのバッファＢは省略する場合もあ
る。図３はチャンネル数ｎ＝２の場合のタイムチャート
で、試料はＤＵＴ1 とＤＵＴ2 の２個である。テストサ
イクルＴ1 では、信号発生部ＦＣより供給されるライト
イネーブル信号ＷＥは、信号分配部ＶＤにおいてｎ分岐
された後、２入力アンドゲート（以下ＡＮＤと言う）の
第１の入力端子に入力される。なお、ＡＮＤの第２の入
力端子にはＬレベルの信号が与えられていて、ゲートは
開にされている。ＡＮＤの出力は対応するＤＵＴのライ
トイネーブル端子に入力される。信号発生部ＰＦＣより
供給される入力データＤi （１ビット）、Ｎ番地を表わ
す複数ビットのアドレス信号Ａ1 ，Ａ2 ，Ａ3 …は信号
分配部ＶＤでｎ分岐された後それぞれバッファＢを通し
て対応するＤＵＴのデータ入力端子、アドレス入力端子
にそれぞれ入力される。
る。図２はＤＵＴの入出力データがｍ＝１ビットの場合
であり、図４と対応する部分に同じ符号を付してある。
なお信号分配部ＶＤのバッファＢは省略する場合もあ
る。図３はチャンネル数ｎ＝２の場合のタイムチャート
で、試料はＤＵＴ1 とＤＵＴ2 の２個である。テストサ
イクルＴ1 では、信号発生部ＦＣより供給されるライト
イネーブル信号ＷＥは、信号分配部ＶＤにおいてｎ分岐
された後、２入力アンドゲート（以下ＡＮＤと言う）の
第１の入力端子に入力される。なお、ＡＮＤの第２の入
力端子にはＬレベルの信号が与えられていて、ゲートは
開にされている。ＡＮＤの出力は対応するＤＵＴのライ
トイネーブル端子に入力される。信号発生部ＰＦＣより
供給される入力データＤi （１ビット）、Ｎ番地を表わ
す複数ビットのアドレス信号Ａ1 ，Ａ2 ，Ａ3 …は信号
分配部ＶＤでｎ分岐された後それぞれバッファＢを通し
て対応するＤＵＴのデータ入力端子、アドレス入力端子
にそれぞれ入力される。
【００１３】各テストサイクルＴi において、最初のｔ
1 期間はプログラム・セットアップ期間とされ、データ
ＤＡ（論理“１”／“０”（Ｈ／Ｌ）のデータのみなら
ず、特別の電圧の場合もある）によってＤＵＴは書き込
みモードにされる。次のｔ2期間はプログラム期間とさ
れ、論理“１”／“０”のＨ／ＬレベルのデータＤＢが
アドレスＮのメモリセルに書き込まれる。次のｔ3 期間
はプログラム確認期間とされ、データＤＣ（Ｌ／Ｈレベ
ルの他、特別の電圧の場合もある）によって各ＤＵＴは
読み出しモードにされ、プログラム期間ｔ2 に書き込ま
れたデータＤＢが読み出される。
1 期間はプログラム・セットアップ期間とされ、データ
ＤＡ（論理“１”／“０”（Ｈ／Ｌ）のデータのみなら
ず、特別の電圧の場合もある）によってＤＵＴは書き込
みモードにされる。次のｔ2期間はプログラム期間とさ
れ、論理“１”／“０”のＨ／ＬレベルのデータＤＢが
アドレスＮのメモリセルに書き込まれる。次のｔ3 期間
はプログラム確認期間とされ、データＤＣ（Ｌ／Ｈレベ
ルの他、特別の電圧の場合もある）によって各ＤＵＴは
読み出しモードにされ、プログラム期間ｔ2 に書き込ま
れたデータＤＢが読み出される。
【００１４】そして出力されたデータＤo は論理比較部
ＳＣＧの論理比較器ＳＣ（以下単にＳＣと言う）に入力
され、期待値と比較されて、書き込み（消去）が完了し
たか否かがチェックされ、ＳＣよりＰＡＳＳのときＨレ
ベルに、ＦＡＩＬのときＬレベルの判定信号（ＰＡＳＳ
／ＦＡＩＬ信号）が外部に出力されると共に、信号分配
部ＶＤのＡＮＤの第２の入力端子に入力される。しか
し、テストサイクルＴ1のスタート時には各ＳＣの出力
はＦＡＩＬとされる。
ＳＣＧの論理比較器ＳＣ（以下単にＳＣと言う）に入力
され、期待値と比較されて、書き込み（消去）が完了し
たか否かがチェックされ、ＳＣよりＰＡＳＳのときＨレ
ベルに、ＦＡＩＬのときＬレベルの判定信号（ＰＡＳＳ
／ＦＡＩＬ信号）が外部に出力されると共に、信号分配
部ＶＤのＡＮＤの第２の入力端子に入力される。しか
し、テストサイクルＴ1のスタート時には各ＳＣの出力
はＦＡＩＬとされる。
【００１５】ここで、ＤＵＴに対する書き込み（消去）
の許容回数を２〜５回として説明する。図３の例では、
第１テストサイクルＴ1 ではＤＵＴ1 ，ＤＵＴ2 共判定
結果はＦＡＩＬであり、ＳＣの出力に変化はなく、第２
テストサイクルＴ2 でＤＵＴ 1 がＰＡＳＳ、ＤＵＴ2 が
ＦＡＩＬ、第３テストサイクルＴ3 でＤＵＴ2 がＰＡＳ
Ｓになった場合を示している。第２テストサイクルＴ2
でＤＵＴ1 がＰＡＳＳになると、Ｈレベルの信号がＡＮ
Ｄの第２の入力端子に帰還されるので、ゲートが閉にさ
れる。このため、ＡＮＤの出力は常にＬレベルとされ、
従って第３テストサイクルＴ3 ではＤＵＴ1 にはライト
イネーブル信号ＷＥは印加されない。よって、そのＮ番
地のメモリセルに再びデータＤＢを書き込むことはな
い。
の許容回数を２〜５回として説明する。図３の例では、
第１テストサイクルＴ1 ではＤＵＴ1 ，ＤＵＴ2 共判定
結果はＦＡＩＬであり、ＳＣの出力に変化はなく、第２
テストサイクルＴ2 でＤＵＴ 1 がＰＡＳＳ、ＤＵＴ2 が
ＦＡＩＬ、第３テストサイクルＴ3 でＤＵＴ2 がＰＡＳ
Ｓになった場合を示している。第２テストサイクルＴ2
でＤＵＴ1 がＰＡＳＳになると、Ｈレベルの信号がＡＮ
Ｄの第２の入力端子に帰還されるので、ゲートが閉にさ
れる。このため、ＡＮＤの出力は常にＬレベルとされ、
従って第３テストサイクルＴ3 ではＤＵＴ1 にはライト
イネーブル信号ＷＥは印加されない。よって、そのＮ番
地のメモリセルに再びデータＤＢを書き込むことはな
い。
【００１６】第３テストサイクルＴ3 で全部のＤＵＴの
Ｎ番地のセルがＰＡＳＳになったので、第４テストサイ
クルＴ4 のスタート時点に各チャンネルのアドレスはＮ
＋１に進められ、各チャンネルのＳＣ出力はＦＡＩＬ
（Ｌレベル）となり、前記と同様の書き込み、読み出し
及び良否判定の動作が繰返し行われる。この例ではＤＵ
Ｔ1 は２回目、ＤＵＴ2 は３回目の書き込みでＰＡＳＳ
になっているので許容範囲（２〜５回）内であり、良品
とされる。もし、５回書き込んでも、未だＰＡＳＳとな
らないものがあれば、それは不良品である。
Ｎ番地のセルがＰＡＳＳになったので、第４テストサイ
クルＴ4 のスタート時点に各チャンネルのアドレスはＮ
＋１に進められ、各チャンネルのＳＣ出力はＦＡＩＬ
（Ｌレベル）となり、前記と同様の書き込み、読み出し
及び良否判定の動作が繰返し行われる。この例ではＤＵ
Ｔ1 は２回目、ＤＵＴ2 は３回目の書き込みでＰＡＳＳ
になっているので許容範囲（２〜５回）内であり、良品
とされる。もし、５回書き込んでも、未だＰＡＳＳとな
らないものがあれば、それは不良品である。
【００１７】図１のメモリ試験装置では、ＤＵＴの入出
力データがｍ＝１，４，８ビットのいずれの場合でも対
応できるようにされている。しかし、この例ではＤＵＴ
自身は４ビット構成とされている。信号分配部ＶＤでは
各チャンネル毎にライトイネーブル信号ＷＥ、入力デー
タＤi1〜Ｄi8、アドレス信号Ａ1 ，Ａ2 、Ａ3 …等の各
出力端子をもっている。また、論理比較部ＳＣＧでは各
チャンネル毎に、ＳＣ1 〜ＳＣ8 をもっている。
力データがｍ＝１，４，８ビットのいずれの場合でも対
応できるようにされている。しかし、この例ではＤＵＴ
自身は４ビット構成とされている。信号分配部ＶＤでは
各チャンネル毎にライトイネーブル信号ＷＥ、入力デー
タＤi1〜Ｄi8、アドレス信号Ａ1 ，Ａ2 、Ａ3 …等の各
出力端子をもっている。また、論理比較部ＳＣＧでは各
チャンネル毎に、ＳＣ1 〜ＳＣ8 をもっている。
【００１８】それらの内ＳＣ1 〜ＳＣ4 の出力は４入力
アンドゲート（ＡＮＤ4 と言う）に入力されると共に、
ＳＣ1 〜ＳＣ8 の出力は８入力アンドゲート（ＡＮＤ8
と言う）に入力される。各チャンネルのＳＣ1 の出力
と、ＡＮＤ4 の出力と、ＡＮＤ 8 の出力とはセレクタＳ
ＥＬの第１、第２及び第３の入力端子にそれぞれ入力さ
れ、いずれかの出力が選択されて、信号分配部ＶＤの対
応するＡＮＤの第２入力端子に帰還される。このように
セレクタで選択することによって、ＤＵＴの入出力デー
タがｍ＝１，４，８のいずれのビット数であっても対応
することができる。
アンドゲート（ＡＮＤ4 と言う）に入力されると共に、
ＳＣ1 〜ＳＣ8 の出力は８入力アンドゲート（ＡＮＤ8
と言う）に入力される。各チャンネルのＳＣ1 の出力
と、ＡＮＤ4 の出力と、ＡＮＤ 8 の出力とはセレクタＳ
ＥＬの第１、第２及び第３の入力端子にそれぞれ入力さ
れ、いずれかの出力が選択されて、信号分配部ＶＤの対
応するＡＮＤの第２入力端子に帰還される。このように
セレクタで選択することによって、ＤＵＴの入出力デー
タがｍ＝１，４，８のいずれのビット数であっても対応
することができる。
【００１９】上述と同様にして、図１の装置を更にｍ＝
１６，３２…ビット構成に拡張できることは明らかであ
る。また、装置をｍ＝１，４，８，１６…のいずれかに
固定させてもよい。その場合は勿論セレクタは不要であ
る。
１６，３２…ビット構成に拡張できることは明らかであ
る。また、装置をｍ＝１，４，８，１６…のいずれかに
固定させてもよい。その場合は勿論セレクタは不要であ
る。
【００２０】
【発明の効果】以上述べたように、この発明によれば、
入出力データがｍビット構成のＤＵＴのＮ番地のメモリ
セル（ｍ個より成る）に対して論理“１”（又は
“０”）データの書き込み（又は消去）が全て完了する
と、ｍ入力アンドゲートの出力が信号分配回路ＶＤの対
応するＡＮＤに帰還されてゲートが閉じられるので、そ
れ以後同時に試験されるｎ個のＤＵＴに対する所定回数
の書き込み（又は消去）動作が完了するまでは、ライト
イネーブル信号ＷＥは書き込みの完了したＤＵＴには与
えられない。従ってそれ以上のデータの書き込み（又は
消去）は行われない。従って従来例で述べたような過剰
書き込み又は過剰消去が防止される。
入出力データがｍビット構成のＤＵＴのＮ番地のメモリ
セル（ｍ個より成る）に対して論理“１”（又は
“０”）データの書き込み（又は消去）が全て完了する
と、ｍ入力アンドゲートの出力が信号分配回路ＶＤの対
応するＡＮＤに帰還されてゲートが閉じられるので、そ
れ以後同時に試験されるｎ個のＤＵＴに対する所定回数
の書き込み（又は消去）動作が完了するまでは、ライト
イネーブル信号ＷＥは書き込みの完了したＤＵＴには与
えられない。従ってそれ以上のデータの書き込み（又は
消去）は行われない。従って従来例で述べたような過剰
書き込み又は過剰消去が防止される。
【００２１】信号発生部ＦＣ、信号分配部ＶＤ及び論理
比較部ＳＣＧを、ｍ（ｍ＝１，４，８，…）ビット構成
の入出力データに対応できるようにし、第１論理比較器
の出力と、４入力アンドゲートの出力と、８入力アンド
ゲートの出力と、…のいずれかをセレクタで選択して、
帰還させる請求項２の場合には、試験装置を汎用化でき
る。
比較部ＳＣＧを、ｍ（ｍ＝１，４，８，…）ビット構成
の入出力データに対応できるようにし、第１論理比較器
の出力と、４入力アンドゲートの出力と、８入力アンド
ゲートの出力と、…のいずれかをセレクタで選択して、
帰還させる請求項２の場合には、試験装置を汎用化でき
る。
【図１】この発明の実施例を示すブロック図。
【図２】この発明の他の実施例を示すブロック図。
【図３】図２のタイミングチャート。
【図４】従来のフラッシュＥＥＰＲＯＭ試験装置のブロ
ック図。
ック図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−109300（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−274900（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11C 29/00 G01R 31/28 G11C 16/02
Claims (1)
- 【請求項１】 信号発生部より入力されるライトイネー
ブル信号、論理“１”又は“０”のｍ（ｍは１以上の整
数）ビット構成のデータ及びアドレス信号を信号分配部
によってｎ（ｎは１以上の整数）チャンネルに分配し
て、同時に試験すべき高々ｎ個の被試験フラッシュＥＥ
ＰＲＯＭに供給して、書き込み動作を行い、それら各被
試験フラッシュＥＥＰＲＯＭに書き込まれたデータを読
み出し、論理比較部の対応するチャンネルのｍ個の論理
比較器にそれぞれ入力して、期待値と比較し、それらの
論理比較器より良／不良を示す判定信号を出力し、これ
らの書き込み−読み出し−良否判定の動作を同一被試験
フラッシュＥＥＰＲＯＭの同一アドレスに対して所定サ
イクル繰返し行った後、アドレスを変更して同様の試験
を順次行うメモリ試験装置において、前記信号発生部は、１，４，８，…，又はｍ（ｍ＝
２ k ；ｋ≧１の整数）ビット構成のデータを出力可能と
され、 前記信号分配部では、前記データの第１〜第ｍビットを
それぞれｎチャンネルに分配して、対応する被試験フラ
ッシュＥＥＰＲＯＭに供給可能とされ、かつ、２入力ア
ンドゲートがチャンネル毎に設けられ、ｎチャンネルに
分岐されたライトイネーブル信号をその２入力アンドゲ
ートの第１の入力端子に入力し、その２入力アンドゲー
トの出力を対応する被試験メモリのライトイネーブル端
子に入力し、前記論理比較部は、被試験フラッシュＥＥＰＲＯＭに書
き込まれたデータを読み出したデータの第１乃至第ｍビ
ットにそれぞれ対応する第１乃至第ｍ論理比較器をチャ
ンネル毎に有し、 各チャンネルの前記第１乃至第４論理比較器の出力の論
理積をとる４入力アンドゲートと、各チャンネルの前記
第１乃至第８論理比較器の出力の論理積をとる８入力ア
ンドゲートと、…、各チャンネルの前記第１乃至第ｍ論
理比較器の各出力の論理積をとる前記ｍ入力アンドゲー
トとが前記論理比較部の出力側に設けられ、 被試験フラッシュＥＥＰＲＯＭの入出力データを構成す
るビット数に応じて、各チャンネルの、前記第１論理比
較器の出力、前記４入力アンドゲートの出力、 前記８入
力アンドゲートの出力…，又は前記ｍ入力アンドゲート
の出力のいずれかを選択して、前記信号分配部の対応す
る前記２入力アンドゲートに帰還させるセレクタが設け
られ ることを特徴とするメモリ試験装置。
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Applications Claiming Priority (1)
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- 1992-10-30 JP JP29263892A patent/JP3240709B2/ja not_active Expired - Fee Related
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