JP3234834B2 - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JP3234834B2 JP3234834B2 JP20699492A JP20699492A JP3234834B2 JP 3234834 B2 JP3234834 B2 JP 3234834B2 JP 20699492 A JP20699492 A JP 20699492A JP 20699492 A JP20699492 A JP 20699492A JP 3234834 B2 JP3234834 B2 JP 3234834B2
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- Japan
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- signal
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- distance measuring
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、カメラに配置されるマ
クロ測距が可能な測距装置の改良に関するものである。
クロ測距が可能な測距装置の改良に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、通常の撮影範囲の他に、至近撮影
（以下、マクロ撮影と記す）が可能なカメラが製品化さ
れている。
（以下、マクロ撮影と記す）が可能なカメラが製品化さ
れている。
【０００３】この種のカメラに配置される測距装置にお
いて、本願出願人は、マクロ撮影モードが選択されてい
る際には、１回の測距で適正な測距情報が得られる確率
は低い事から、連続測距を自動的に行い、且つ、測距毎
の測距結果（合焦、非合焦等）を表示することを可能
し、マクロ撮影においてピントが合う範囲を素早く確認
できるようにしたものを先願（未公開）している。
いて、本願出願人は、マクロ撮影モードが選択されてい
る際には、１回の測距で適正な測距情報が得られる確率
は低い事から、連続測距を自動的に行い、且つ、測距毎
の測距結果（合焦、非合焦等）を表示することを可能
し、マクロ撮影においてピントが合う範囲を素早く確認
できるようにしたものを先願（未公開）している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
様な提案の測距装置においては、マクロ撮影モード時に
は、測距を連続して行う事になるため、測距用の投光素
子の劣化が早くなるといった問題点があった。
様な提案の測距装置においては、マクロ撮影モード時に
は、測距を連続して行う事になるため、測距用の投光素
子の劣化が早くなるといった問題点があった。
【０００５】さらに、測距装置における消費エネルギー
が増えてしまうといった問題点があった。
が増えてしまうといった問題点があった。
【０００６】（発明の目的）本発明の目的は、マクロ測
距時における省エネルギー化と投光手段の耐久性向上を
実現することのできる測距装置を提供することである。
距時における省エネルギー化と投光手段の耐久性向上を
実現することのできる測距装置を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】 上記目的を達成するた
めに、本発明は、測距対象へ向けて光を投光する投光手
段と、該投光光の測距対象での反射光を受光する受光手
段と、該受光手段からの受光信号を処理して測距データ
を算出する受光信号処理手段と、測距動作を開始させる
ための測距開始スイッチと、前記投光手段を発光させて
前記受光手段からの受光信号と所定の値とを比較する信
号判定手段とを備えた、マクロ測距が可能な測距装置に
おいて、マクロ測距を行うマクロ撮影モード時には、前
記測距開始スイッチが操作されている間、前記投光手段
をプリ発光させ、該プリ発光により前記受光手段にて得
られる受光信号と前記所定の値との比較を前記信号判定
手段に行わせ、前記プリ発光による受光信号が前記所定
の値よりも小さいことが前記信号判定手段にて判定され
ている場合は今回の測距開始操作に伴う本測距の動作を
禁止する動作、を繰り返し行う制御手段を設けたことを
特徴とするものである。
めに、本発明は、測距対象へ向けて光を投光する投光手
段と、該投光光の測距対象での反射光を受光する受光手
段と、該受光手段からの受光信号を処理して測距データ
を算出する受光信号処理手段と、測距動作を開始させる
ための測距開始スイッチと、前記投光手段を発光させて
前記受光手段からの受光信号と所定の値とを比較する信
号判定手段とを備えた、マクロ測距が可能な測距装置に
おいて、マクロ測距を行うマクロ撮影モード時には、前
記測距開始スイッチが操作されている間、前記投光手段
をプリ発光させ、該プリ発光により前記受光手段にて得
られる受光信号と前記所定の値との比較を前記信号判定
手段に行わせ、前記プリ発光による受光信号が前記所定
の値よりも小さいことが前記信号判定手段にて判定され
ている場合は今回の測距開始操作に伴う本測距の動作を
禁止する動作、を繰り返し行う制御手段を設けたことを
特徴とするものである。
【０００８】
【０００９】
【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。
に説明する。
【００１０】図１は本発明の第１の実施例の測距装置を
カメラに組み込んだ時の概略構成を示すブロック図であ
り、１０１は測距対象に向けて信号光を投光するｉＲＥ
Ｄ（赤外発光ダイオード）等の投光手段、１０２は前記
投光手段１０１によって投光された信号光の測距対象で
の反射光を受光するＳＰＤ（シリコンフォトダイオー
ド）やＰＳＤ（半導体位置検出器）等の受光手段、１０
３は前記受光手段１０２からの受光信号を公知の二重積
分回路等を用いて測距データを算出する受光信号処理手
段、１０４は前記受光手段１０２からの受光信号が所定
のレベルより“大”か“小”かを判定するコンパレータ
等より成る信号判定手段、１０５は前記の各手段を含ん
だカメラの各種手段を制御する制御する制御手段、１０
６は不図示のカメラのレリーズボタンの第１ストローク
に連動してＯＮするスイッチ（ＳＷ１）、１０７は上記
レリーズボタンの第２ストロークに連動してＯＮするレ
リーズスイッチ（ＳＷ２）である。
カメラに組み込んだ時の概略構成を示すブロック図であ
り、１０１は測距対象に向けて信号光を投光するｉＲＥ
Ｄ（赤外発光ダイオード）等の投光手段、１０２は前記
投光手段１０１によって投光された信号光の測距対象で
の反射光を受光するＳＰＤ（シリコンフォトダイオー
ド）やＰＳＤ（半導体位置検出器）等の受光手段、１０
３は前記受光手段１０２からの受光信号を公知の二重積
分回路等を用いて測距データを算出する受光信号処理手
段、１０４は前記受光手段１０２からの受光信号が所定
のレベルより“大”か“小”かを判定するコンパレータ
等より成る信号判定手段、１０５は前記の各手段を含ん
だカメラの各種手段を制御する制御する制御手段、１０
６は不図示のカメラのレリーズボタンの第１ストローク
に連動してＯＮするスイッチ（ＳＷ１）、１０７は上記
レリーズボタンの第２ストロークに連動してＯＮするレ
リーズスイッチ（ＳＷ２）である。
【００１１】次に、上記制御手段１０５におけるマクロ
撮影モード時における主要部分の動作について、図２の
フローチャートを用いて説明する。 ［ステップ１］ スイッチＳＷ１がＯＮされたか否かを
判別し、ＯＮされることによりステップ２へ進む。 ［ステップ２］ 投光手段１０１を駆動して測距対象へ
向けて仮の信号光を投光させる。つまり、プリ発光を行
う。これにより、その投光光の測距対象での反射光が受
光手段１０２にて受光され、受光信号が受光信号処理手
段１０３及び信号判定手段１０４へ入力される。 ［ステップ３］ 前記受光信号の発生により信号判定手
段１０４にてこの時の受光信号が所定レベルより“大”
であるか“小”であるかの判定がなされているが、制御
手段１０５はこの判定結果を入力し、もし“大”である
と判定されている場合にはステップ４へ進み、“小”で
あると判定されている場合には今回の本測距は中止して
ステップ１へ戻る。 ［ステップ４］ ここでは本測距を行う。つまり、受光
手段１０２にて得られた受光信号を受光信号処理手段１
０３において二重積分等を行って測距データを算出する
測距動作を行うが、この動作については既に公知である
のでこれ以上の説明は割愛する。 ［ステップ５］ レリーズスイッチＳＷ２がＯＮされた
か否かを判別し、ＯＦＦのままであれば測距を連続して
行うべくステップ１へ戻り、ＯＮされたことを確認する
とステップ６へ進む。 ［ステップ６］ ここでは上記の測距結果に基づいて図
示せぬ撮影レンズを駆動すると共に、上記のスイッチＳ
Ｗ１のＯＮ時に得られた測距情報に基づいたシャッタ制
御、及びフィルム給送を行う。つまり、公知の撮影動作
を行う。
撮影モード時における主要部分の動作について、図２の
フローチャートを用いて説明する。 ［ステップ１］ スイッチＳＷ１がＯＮされたか否かを
判別し、ＯＮされることによりステップ２へ進む。 ［ステップ２］ 投光手段１０１を駆動して測距対象へ
向けて仮の信号光を投光させる。つまり、プリ発光を行
う。これにより、その投光光の測距対象での反射光が受
光手段１０２にて受光され、受光信号が受光信号処理手
段１０３及び信号判定手段１０４へ入力される。 ［ステップ３］ 前記受光信号の発生により信号判定手
段１０４にてこの時の受光信号が所定レベルより“大”
であるか“小”であるかの判定がなされているが、制御
手段１０５はこの判定結果を入力し、もし“大”である
と判定されている場合にはステップ４へ進み、“小”で
あると判定されている場合には今回の本測距は中止して
ステップ１へ戻る。 ［ステップ４］ ここでは本測距を行う。つまり、受光
手段１０２にて得られた受光信号を受光信号処理手段１
０３において二重積分等を行って測距データを算出する
測距動作を行うが、この動作については既に公知である
のでこれ以上の説明は割愛する。 ［ステップ５］ レリーズスイッチＳＷ２がＯＮされた
か否かを判別し、ＯＦＦのままであれば測距を連続して
行うべくステップ１へ戻り、ＯＮされたことを確認する
とステップ６へ進む。 ［ステップ６］ ここでは上記の測距結果に基づいて図
示せぬ撮影レンズを駆動すると共に、上記のスイッチＳ
Ｗ１のＯＮ時に得られた測距情報に基づいたシャッタ制
御、及びフィルム給送を行う。つまり、公知の撮影動作
を行う。
【００１２】以上の第１の実施例によれば、プリ発光を
行い、この時の受光信号が所定のレベルよりも小さけれ
ば、この時の本測距は行わないようにしている。これ
は、マクロ測距での合焦距離は、非常に近いところにあ
る為、当然に大きい受光信号が得られる筈であるが、ス
イッチＳＷ１がＯＮされてマクロ測距動作が開始された
にも関わらず、受光信号が所定レベル以下ということ
は、カメラがまだ被写体に向けられていない場合等、遠
くの方を向いている可能性が高く、この様な状態時に本
測距を行うことは無意味であるためである。言換えれ
ば、受光信号が所定レベル以下ということで、容易に合
焦外であることが判別でき、この際に本測距を行うこと
は無駄であるからである。
行い、この時の受光信号が所定のレベルよりも小さけれ
ば、この時の本測距は行わないようにしている。これ
は、マクロ測距での合焦距離は、非常に近いところにあ
る為、当然に大きい受光信号が得られる筈であるが、ス
イッチＳＷ１がＯＮされてマクロ測距動作が開始された
にも関わらず、受光信号が所定レベル以下ということ
は、カメラがまだ被写体に向けられていない場合等、遠
くの方を向いている可能性が高く、この様な状態時に本
測距を行うことは無意味であるためである。言換えれ
ば、受光信号が所定レベル以下ということで、容易に合
焦外であることが判別でき、この際に本測距を行うこと
は無駄であるからである。
【００１３】したがって、この様な無意味な本測距は行
わないようにすることにより、測距装置の省エネルギー
と投光手段１０１の劣化を防ぐことができる。
わないようにすることにより、測距装置の省エネルギー
と投光手段１０１の劣化を防ぐことができる。
【００１４】（第２の実施例）図３は本発明の第２の実
施例の測距装置を備えたカメラの動作を示すフローチャ
ートである。なお、回路構成については、図１から信号
判定手段１０４を省いたものと同様であるため、ここで
は省略する。 ［ステップ１１］ 制御手段１０５内のタイマを「０」
にリセットし、ステップ１２へ進む。 ［ステップ１２］ スイッチＳＷ１がＯＮされたか否か
を判別し、ＯＦＦのままであればステップ１１へ戻り、
ＯＮされたことを確認するとステップ１３へ進む。 ［ステップ１３］ 公知の測距動作を行わせる。 ［ステップ１４］ ここでは前記タイマが「１sec 」未
満か否かを判別し、「１sec 」未満であればステップ１
６へ進み、「１sec 」以上であればステップ１５へ進
む。 ［ステップ１５］ ここでは「0.25sec 」だけ時間待ち
し、その後ステップ１７へ進む。 ［ステップ１６］ ここでは「１sec 」だけ時間待ち
し、その後ステップ１７へ進む。 ［ステップ１７］ レリーズスイッチＳＷ２がＯＮされ
たか否かを判別し、ＯＦＦのままであれば測距を連続し
て行うべくステップ１２へ戻り、ＯＮされたことを確認
するとステップ１８へ進む。 ［ステップ１８］ ここでは上記の測距結果に基づいて
図示せぬ撮影レンズを駆動すると共に、上記のスイッチ
ＳＷ１のＯＮ時に得られた測距情報に基づいたシャッタ
制御、及びフィルム給送を行う。つまり、公知の撮影動
作を行う。
施例の測距装置を備えたカメラの動作を示すフローチャ
ートである。なお、回路構成については、図１から信号
判定手段１０４を省いたものと同様であるため、ここで
は省略する。 ［ステップ１１］ 制御手段１０５内のタイマを「０」
にリセットし、ステップ１２へ進む。 ［ステップ１２］ スイッチＳＷ１がＯＮされたか否か
を判別し、ＯＦＦのままであればステップ１１へ戻り、
ＯＮされたことを確認するとステップ１３へ進む。 ［ステップ１３］ 公知の測距動作を行わせる。 ［ステップ１４］ ここでは前記タイマが「１sec 」未
満か否かを判別し、「１sec 」未満であればステップ１
６へ進み、「１sec 」以上であればステップ１５へ進
む。 ［ステップ１５］ ここでは「0.25sec 」だけ時間待ち
し、その後ステップ１７へ進む。 ［ステップ１６］ ここでは「１sec 」だけ時間待ち
し、その後ステップ１７へ進む。 ［ステップ１７］ レリーズスイッチＳＷ２がＯＮされ
たか否かを判別し、ＯＦＦのままであれば測距を連続し
て行うべくステップ１２へ戻り、ＯＮされたことを確認
するとステップ１８へ進む。 ［ステップ１８］ ここでは上記の測距結果に基づいて
図示せぬ撮影レンズを駆動すると共に、上記のスイッチ
ＳＷ１のＯＮ時に得られた測距情報に基づいたシャッタ
制御、及びフィルム給送を行う。つまり、公知の撮影動
作を行う。
【００１５】以上の第２の実施例によれば、マクロ測距
では、振れ易いため、カメラを被写体に向けてゆっくり
とレリーズして手振れ等を防ぐ操作が行われることが多
く、また、マクロ撮影時の被写体深度は狭いため、測距
開始後、直ちに被写体が被写体深度内に殆どない為、つ
まりレリーズボタンの第１ストロークがなされ、スイッ
チＳＷ１がＯＮして測距を開始して直ちにレリーズスイ
ッチＳＷ２が入れられることは殆ど無い。この点に着目
し、連続測距中において、所定時間内、つまり本実施例
ではスイッチＳＷ１がＯＮされてから「１sec」未満では
この連続測距間隔を広げるようにしているため、省エネ
ルギーと投光手段１０１の劣化を防ぐことが可能とな
る。
では、振れ易いため、カメラを被写体に向けてゆっくり
とレリーズして手振れ等を防ぐ操作が行われることが多
く、また、マクロ撮影時の被写体深度は狭いため、測距
開始後、直ちに被写体が被写体深度内に殆どない為、つ
まりレリーズボタンの第１ストロークがなされ、スイッ
チＳＷ１がＯＮして測距を開始して直ちにレリーズスイ
ッチＳＷ２が入れられることは殆ど無い。この点に着目
し、連続測距中において、所定時間内、つまり本実施例
ではスイッチＳＷ１がＯＮされてから「１sec」未満では
この連続測距間隔を広げるようにしているため、省エネ
ルギーと投光手段１０１の劣化を防ぐことが可能とな
る。
【００１６】なお、所定時間の後には、従来通りの連続
測距間隔に戻し、細かな時間間隔で測距する様にしてい
るため、先願の測距装置と同様、操作性の良いものとな
る。また、本実施例では、測距結果の表示に関しては特
に触れていないが、測距結果の表示を測距毎に図示せぬ
表示手段にて行うものである。
測距間隔に戻し、細かな時間間隔で測距する様にしてい
るため、先願の測距装置と同様、操作性の良いものとな
る。また、本実施例では、測距結果の表示に関しては特
に触れていないが、測距結果の表示を測距毎に図示せぬ
表示手段にて行うものである。
【００１７】
【発明の効果】 以上説明したように、本発明において
は、マクロ測距を行うマクロ撮影モード時には、測距開
始スイッチが操作されている間、投光手段をプリ発光さ
せ、該プリ発光により受光手段にて得られる受光信号と
所定の値との比較を信号判定手段に行わせ、前記プリ発
光による受光信号が前記所定の値よりも小さいことが前
記信号判定手段にて判定されている場合は今回の測距開
始操作に伴う本測距の動作を禁止する動作、を繰り返し
行うようにしている。
は、マクロ測距を行うマクロ撮影モード時には、測距開
始スイッチが操作されている間、投光手段をプリ発光さ
せ、該プリ発光により受光手段にて得られる受光信号と
所定の値との比較を信号判定手段に行わせ、前記プリ発
光による受光信号が前記所定の値よりも小さいことが前
記信号判定手段にて判定されている場合は今回の測距開
始操作に伴う本測距の動作を禁止する動作、を繰り返し
行うようにしている。
【００１８】
【００１９】よって、マクロ測距時における省エネルギ
ー化と投光手段の耐久性向上を実現することができる。
ー化と投光手段の耐久性向上を実現することができる。
【図１】本発明の第１の実施例の測距装置を備えたカメ
ラの概略構成を示すブロック図である。
ラの概略構成を示すブロック図である。
【図２】図１の制御手段の動作を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図３】本発明の第２の実施例の測距装置を備えたカメ
ラの動作を示すフローチャートである。
ラの動作を示すフローチャートである。
１０１ 投光手段 １０２ 受光手段 １０３ 受光信号処理手段 １０４ 信号判定手段 １０５ 制御手段 １０６ スイッチ（ＳＷ１） １０７ レリーズスイッチ（ＳＷ２）
Claims (1)
- 【請求項１】 測距対象へ向けて光を投光する投光手段
と、該投光光の測距対象での反射光を受光する受光手段
と、該受光手段からの受光信号を処理して測距データを
算出する受光信号処理手段と、測距動作を開始させるた
めの測距開始スイッチと、前記投光手段を発光させて前
記受光手段からの受光信号と所定の値とを比較する信号
判定手段とを備えた、マクロ測距が可能な測距装置にお
いて、マクロ測距を行うマクロ撮影モード時には、前記
測距開始スイッチが操作されている間、前記投光手段を
プリ発光させ、該プリ発光により前記受光手段にて得ら
れる受光信号と前記所定の値との比較を前記信号判定手
段に行わせ、前記プリ発光による受光信号が前記所定の
値よりも小さいことが前記信号判定手段にて判定されて
いる場合は今回の測距開始操作に伴う本測距の動作を禁
止する動作、を繰り返し行う制御手段を設けたことを特
徴とする測距装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20699492A JP3234834B2 (ja) | 1992-07-13 | 1992-07-13 | 測距装置 |
| US08/031,197 US5534991A (en) | 1992-03-13 | 1993-03-12 | Active distance measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20699492A JP3234834B2 (ja) | 1992-07-13 | 1992-07-13 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0634875A JPH0634875A (ja) | 1994-02-10 |
| JP3234834B2 true JP3234834B2 (ja) | 2001-12-04 |
Family
ID=16532430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20699492A Expired - Fee Related JP3234834B2 (ja) | 1992-03-13 | 1992-07-13 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3234834B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE69532278T2 (de) * | 1995-03-02 | 2004-06-09 | Nihon Velbon Seiki Kogyo K.K., Kodaira | Dreibeinstativ |
-
1992
- 1992-07-13 JP JP20699492A patent/JP3234834B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0634875A (ja) | 1994-02-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |