JP3221368B2 - 抵抗膜方式タブレット及びその制御方法並びにその方法を実現するためのプログラムを記録した記録媒体 - Google Patents
抵抗膜方式タブレット及びその制御方法並びにその方法を実現するためのプログラムを記録した記録媒体Info
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- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は抵抗膜方式タブレッ
ト及びその制御方法並びにその方法を実現するためのプ
ログラムを記録した記録媒体に関し、特に２枚の抵抗膜
を所定距離隔てて重ね合せてなる抵抗膜方式タブレット
及びその制御方法並びにその方法を実現するためのプロ
グラムを記録した記録媒体に関する。
ト及びその制御方法並びにその方法を実現するためのプ
ログラムを記録した記録媒体に関し、特に２枚の抵抗膜
を所定距離隔てて重ね合せてなる抵抗膜方式タブレット
及びその制御方法並びにその方法を実現するためのプロ
グラムを記録した記録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、抵抗膜方式のタブレットは、両
端に平行電極を付け、均一の抵抗値を持った２枚の抵抗
膜によって構成されている。そして２枚の抵抗膜は、向
きを９０度ずらし、所定距離隔てて向かい合わせる。そ
して、ペン先等の先の細いもので、このように向かい合
わされた２枚の抵抗膜を外側から押すと、その押された
点で２枚の抵抗膜同士が接触するようになっている。
端に平行電極を付け、均一の抵抗値を持った２枚の抵抗
膜によって構成されている。そして２枚の抵抗膜は、向
きを９０度ずらし、所定距離隔てて向かい合わせる。そ
して、ペン先等の先の細いもので、このように向かい合
わされた２枚の抵抗膜を外側から押すと、その押された
点で２枚の抵抗膜同士が接触するようになっている。
【０００３】このようなタブレットの４つの平行電極に
対しては、以下のようなスキャン方法を用いることによ
り２枚の抵抗膜の接触点の物理的位置を測定できること
が知られている。
対しては、以下のようなスキャン方法を用いることによ
り２枚の抵抗膜の接触点の物理的位置を測定できること
が知られている。
【０００４】基本的なスキャン方法には以下のものがあ
る。すなわち、２枚の抵抗膜同士が接触しているかどう
かを調べる「接触検出」と、接触点のＸ方向の位置を調
べる「Ｘ検出」と、接触点のＹ方向の位置を調べる「Ｙ
検出」とがある。そして、これらの検出を順に行い、
「接触検出」において２枚の抵抗膜同士が接触されてい
ないと判断されるまで繰返される。
る。すなわち、２枚の抵抗膜同士が接触しているかどう
かを調べる「接触検出」と、接触点のＸ方向の位置を調
べる「Ｘ検出」と、接触点のＹ方向の位置を調べる「Ｙ
検出」とがある。そして、これらの検出を順に行い、
「接触検出」において２枚の抵抗膜同士が接触されてい
ないと判断されるまで繰返される。
【０００５】各検出方式について、図５の概略ブロック
図と図６のタイミングチャートとを参照して説明する。
まず、構成から説明する。
図と図６のタイミングチャートとを参照して説明する。
まず、構成から説明する。
【０００６】図１のタブレット入力部１は、２枚の抵抗
膜１０及び１１を重ねあわせたものである。そして、抵
抗膜１０には平行電極１０１及び１０２が取付けられ、
抵抗膜１１には平行電極１１１及び１１２が取付けられ
ている。抵抗膜１０，１１は、外部からペンなどの細い
もので押すと点で接触する。これにより、その接点は通
電する。
膜１０及び１１を重ねあわせたものである。そして、抵
抗膜１０には平行電極１０１及び１０２が取付けられ、
抵抗膜１１には平行電極１１１及び１１２が取付けられ
ている。抵抗膜１０，１１は、外部からペンなどの細い
もので押すと点で接触する。これにより、その接点は通
電する。
【０００７】ところで、抵抗膜１０，１１の両端に取付
けられている平行電極１０１，１０２，１１１，１１２
は、電子スイッチ６１〜６７によって、接続先を変更で
きるようになっている。平行電極１０１は、電子スイッ
チ６３によって電源９２ｂと接続できるようになってい
る。平行電極１０２は、電子スイッチ６７によってグラ
ンド９１ａと、電子スイッチ６４によって電圧測定用の
Ａ／Ｄコンバータ（Ａ／Ｄ ＣＯＮ）２と、夫々独立し
て接続できるようになっている。
けられている平行電極１０１，１０２，１１１，１１２
は、電子スイッチ６１〜６７によって、接続先を変更で
きるようになっている。平行電極１０１は、電子スイッ
チ６３によって電源９２ｂと接続できるようになってい
る。平行電極１０２は、電子スイッチ６７によってグラ
ンド９１ａと、電子スイッチ６４によって電圧測定用の
Ａ／Ｄコンバータ（Ａ／Ｄ ＣＯＮ）２と、夫々独立し
て接続できるようになっている。
【０００８】平行電極１１１は、電子スイッチ６１によ
って電源９２ａと接続できるようになっている。平行電
極１１２は、電子スイッチ６２によってグランド９１ｂ
と、電子スイッチ６５によってＡ／Ｄコンバータ２と、
電子スイッチ６６によってプルダウン抵抗５と、夫々独
立して接続できるようになっている。
って電源９２ａと接続できるようになっている。平行電
極１１２は、電子スイッチ６２によってグランド９１ｂ
と、電子スイッチ６５によってＡ／Ｄコンバータ２と、
電子スイッチ６６によってプルダウン抵抗５と、夫々独
立して接続できるようになっている。
【０００９】電子スイッチ６１〜６７は信号処理部３に
より制御される。信号処理部３は、必要に応じて、各電
子スイッチの接続状態を制御すると共に、上述した検出
方式を変更し、また必要なタイミングでＡ／Ｄコンバー
タ２により平行電極間の電圧を測定し、その結果を測定
データ７として出力する。
より制御される。信号処理部３は、必要に応じて、各電
子スイッチの接続状態を制御すると共に、上述した検出
方式を変更し、また必要なタイミングでＡ／Ｄコンバー
タ２により平行電極間の電圧を測定し、その結果を測定
データ７として出力する。
【００１０】次に、各検出方式における平行電極の接続
状態について説明する。
状態について説明する。
【００１１】まず、接触検出の場合、平行電極１０１は
電源９２ｂと接続し、平行電極１０２及び１１１は無接
続、平行電極１１２はプルダウン抵抗５及びＡ／Ｄコン
バータ２と接続する。また、Ｘ検出の場合、平行電極１
０１は電源９２ｂと接続し、平行電極１０２はグランド
９１ａと接続し、平行電極１１１は無接続、平行電極１
１２はＡ／Ｄコンバータ２と接続する。さらに、Ｙ検出
の場合、平行電極１０１は無接続、平行電極１０２はＡ
／Ｄコンバータ２と接続し、平行電極１１１は電源９２
ａと接続、平行電極１１２はグランド９１ｂと接続す
る。
電源９２ｂと接続し、平行電極１０２及び１１１は無接
続、平行電極１１２はプルダウン抵抗５及びＡ／Ｄコン
バータ２と接続する。また、Ｘ検出の場合、平行電極１
０１は電源９２ｂと接続し、平行電極１０２はグランド
９１ａと接続し、平行電極１１１は無接続、平行電極１
１２はＡ／Ｄコンバータ２と接続する。さらに、Ｙ検出
の場合、平行電極１０１は無接続、平行電極１０２はＡ
／Ｄコンバータ２と接続し、平行電極１１１は電源９２
ａと接続、平行電極１１２はグランド９１ｂと接続す
る。
【００１２】以下、図６を参照して図５の各部の動作に
ついて説明する。この図６に示されている従来の抵抗膜
方式タブレットについてのスキャン方式においては、２
回目の接触検出で接触されていないと判断した例であ
る。
ついて説明する。この図６に示されている従来の抵抗膜
方式タブレットについてのスキャン方式においては、２
回目の接触検出で接触されていないと判断した例であ
る。
【００１３】まず、通常、信号処理部３は、接触検出状
態で待機している。この状態において、２枚の抵抗膜が
ペンなどでタッチされることによって接触すると、電極
１０１から給電されている抵抗膜１０から抵抗膜１１に
給電される。プルダウン抵抗とＡ／Ｄコンバータ２が接
続された抵抗膜１１の電圧値は抵抗膜１０からの給電に
より上昇する（図６中の点Ａ）。
態で待機している。この状態において、２枚の抵抗膜が
ペンなどでタッチされることによって接触すると、電極
１０１から給電されている抵抗膜１０から抵抗膜１１に
給電される。プルダウン抵抗とＡ／Ｄコンバータ２が接
続された抵抗膜１１の電圧値は抵抗膜１０からの給電に
より上昇する（図６中の点Ａ）。
【００１４】信号処理部３はＡ／Ｄコンバータ２を通し
て抵抗膜１０１の電圧値を監視している。そして、その
電圧値が一定値を超えると、タッチがあったと判断し
て、Ｘ検出に移る（図６中の点Ｂ）。
て抵抗膜１０１の電圧値を監視している。そして、その
電圧値が一定値を超えると、タッチがあったと判断し
て、Ｘ検出に移る（図６中の点Ｂ）。
【００１５】Ｘ検出においては、抵抗膜１０には電圧を
加えず、抵抗膜１０の両端の電極１０１と１０２との間
に電圧を加える。これにより抵抗膜１０は、図５中のｘ
軸方向に位置に比例した電圧値を持ち、Ａ／Ｄコンバー
タ２以外の負荷が接続されていない抵抗膜１１は、抵抗
膜１０との接触点における電圧を出力するようになる
（図６中の点Ｃ）。信号処理部３は、Ａ／Ｄコンバータ
２を通して電極１１２の電圧（接触点と同じ電位の電
圧）を知ることができる。信号処理部３は、この電圧を
接触点のｘ軸上の値として記憶し、次にＹ検出を行う
（図６中の点Ｄ）。
加えず、抵抗膜１０の両端の電極１０１と１０２との間
に電圧を加える。これにより抵抗膜１０は、図５中のｘ
軸方向に位置に比例した電圧値を持ち、Ａ／Ｄコンバー
タ２以外の負荷が接続されていない抵抗膜１１は、抵抗
膜１０との接触点における電圧を出力するようになる
（図６中の点Ｃ）。信号処理部３は、Ａ／Ｄコンバータ
２を通して電極１１２の電圧（接触点と同じ電位の電
圧）を知ることができる。信号処理部３は、この電圧を
接触点のｘ軸上の値として記憶し、次にＹ検出を行う
（図６中の点Ｄ）。
【００１６】Ｙ検出においては、抵抗膜の接続関係をＸ
検出時とは逆にする。すなわち、抵抗膜１１の両端の電
極１１１と１１２との間には電圧を加え、抵抗膜１０を
無接続にする。こうすることにより、接触点のｙ軸上の
値を知ることができる。信号処理部３はこの値を記憶し
て、再び接触検出を行う（図６中の点Ｅ）。この接触検
出で接触が確認されると、記憶していた測定値をタブレ
ットの測定データ７として外部に送出する。
検出時とは逆にする。すなわち、抵抗膜１１の両端の電
極１１１と１１２との間には電圧を加え、抵抗膜１０を
無接続にする。こうすることにより、接触点のｙ軸上の
値を知ることができる。信号処理部３はこの値を記憶し
て、再び接触検出を行う（図６中の点Ｅ）。この接触検
出で接触が確認されると、記憶していた測定値をタブレ
ットの測定データ７として外部に送出する。
【００１７】そして再びスキャンを始め、Ｘ検出、Ｙ検
出、接触検出と順に繰返し、その測定値を測定データ７
として送出し続ける。この測定データ７の送出は、接触
検出時に、接触が確認できなくなるまで行われる。そし
て、接触が確認できなければ（図６中の点Ｆ）、信号処
理部３は接触検出状態で待ち続ける。接触が確認されれ
ば再度スキャンを開始する。
出、接触検出と順に繰返し、その測定値を測定データ７
として送出し続ける。この測定データ７の送出は、接触
検出時に、接触が確認できなくなるまで行われる。そし
て、接触が確認できなければ（図６中の点Ｆ）、信号処
理部３は接触検出状態で待ち続ける。接触が確認されれ
ば再度スキャンを開始する。
【００１８】また、最近のタブレットにおいては、通常
の筆記スピードで文字認識させる等の要求により、より
高速なサンプリングが要求されている。
の筆記スピードで文字認識させる等の要求により、より
高速なサンプリングが要求されている。
【００１９】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のタブレ
ットにおいて、Ｘ検出，Ｙ検出で接触点の電圧を測定す
る際には、信号処理部３がモード設定してからある時間
を待たなければならない（図６中の点Ｂから点Ｃの矢
印）。この矢印で示されている待ち時間は、Ａ／Ｄコン
バータ側に接続された抵抗膜がもつ静電容量と電源供給
を行う抵抗膜の抵抗分とによりＣＲ時定数回路による遅
延回路で生成される。したがって、この遅延回路によ
り、検出モードに移る時間がかかり、サンプリングは大
きく制限されている。つまり、抵抗膜方式のタブレット
のスキャンに関して、Ｘ検出、Ｙ検出で接触点の電圧を
測定する際には、信号処理部がモード設定してからある
時間を待たなければならないという欠点がある。
ットにおいて、Ｘ検出，Ｙ検出で接触点の電圧を測定す
る際には、信号処理部３がモード設定してからある時間
を待たなければならない（図６中の点Ｂから点Ｃの矢
印）。この矢印で示されている待ち時間は、Ａ／Ｄコン
バータ側に接続された抵抗膜がもつ静電容量と電源供給
を行う抵抗膜の抵抗分とによりＣＲ時定数回路による遅
延回路で生成される。したがって、この遅延回路によ
り、検出モードに移る時間がかかり、サンプリングは大
きく制限されている。つまり、抵抗膜方式のタブレット
のスキャンに関して、Ｘ検出、Ｙ検出で接触点の電圧を
測定する際には、信号処理部がモード設定してからある
時間を待たなければならないという欠点がある。
【００２０】本発明は上述した従来技術の欠点を解決す
るためになされたものであり、その目的はこの待ち時間
を短縮して、より高速にサンプリングを行うことのでき
る抵抗膜方式タブレット及びその制御方法並びにその方
法を実現するためのプログラムを記録した記録媒体を提
供することである。
るためになされたものであり、その目的はこの待ち時間
を短縮して、より高速にサンプリングを行うことのでき
る抵抗膜方式タブレット及びその制御方法並びにその方
法を実現するためのプログラムを記録した記録媒体を提
供することである。
【００２１】
【課題を解決するための手段】本発明による抵抗膜方式
タブレットは、２枚の抵抗膜を所定距離隔てて重ね合せ
てなる抵抗膜方式タブレットであって、前記２枚の抵抗
膜同士が接触点で接触していることを検出する接触検出
手段と、この検出に応答して前記２枚の抵抗膜間に前回
の測定値電圧を与えて、この抵抗膜間の静電容量を充電
する充電手段と、この充電後の２枚の抵抗膜について前
記接触点についてのＸ方向の位置及び該方向と直交する
Ｙ方向の位置を検出する検出手段とを含むことを特徴と
する。
タブレットは、２枚の抵抗膜を所定距離隔てて重ね合せ
てなる抵抗膜方式タブレットであって、前記２枚の抵抗
膜同士が接触点で接触していることを検出する接触検出
手段と、この検出に応答して前記２枚の抵抗膜間に前回
の測定値電圧を与えて、この抵抗膜間の静電容量を充電
する充電手段と、この充電後の２枚の抵抗膜について前
記接触点についてのＸ方向の位置及び該方向と直交する
Ｙ方向の位置を検出する検出手段とを含むことを特徴と
する。
【００２２】本発明による抵抗膜方式タブレットの制御
方法は、２枚の抵抗膜を所定距離隔てて重ね合せてなる
抵抗膜方式のタブレットについての制御方法であって、
前記抵抗膜同士の接触状態を検出する接触状態検出ステ
ップと、その接触状態の検出に応答して前記２枚の抵抗
膜間に前回の測定値電圧を与えて、この抵抗膜間の静電
容量を充電する充電ステップと、この充電後の２枚の抵
抗膜について前記接触点についてのＸ方向の位置及び該
方向と直交するＹ方向の位置を検出する位置検出ステッ
プとを含むことを特徴とする。
方法は、２枚の抵抗膜を所定距離隔てて重ね合せてなる
抵抗膜方式のタブレットについての制御方法であって、
前記抵抗膜同士の接触状態を検出する接触状態検出ステ
ップと、その接触状態の検出に応答して前記２枚の抵抗
膜間に前回の測定値電圧を与えて、この抵抗膜間の静電
容量を充電する充電ステップと、この充電後の２枚の抵
抗膜について前記接触点についてのＸ方向の位置及び該
方向と直交するＹ方向の位置を検出する位置検出ステッ
プとを含むことを特徴とする。
【００２３】本発明による抵抗膜方式タブレットについ
ての制御方法を実現するためのプログラムを記録した記
録媒体は、コンピュータによって、２枚の抵抗膜を所定
距離隔てて重ね合せてなる抵抗膜方式のタブレットにつ
いての制御を行うためのプログラムを記録した記録媒体
であって、前記プログラムは、コンピュータに、前記抵
抗膜同士の接触状態を検出させ、その接触状態の検出に
応答して前記２枚の抵抗膜間に前回の測定値電圧を与え
て、この抵抗膜間の静電容量を充電させ、この充電後の
２枚の抵抗膜について前記接触点についての第１の方向
の位置及び該方向と直交する第２の方向の位置を検出さ
せることを特徴とする。
ての制御方法を実現するためのプログラムを記録した記
録媒体は、コンピュータによって、２枚の抵抗膜を所定
距離隔てて重ね合せてなる抵抗膜方式のタブレットにつ
いての制御を行うためのプログラムを記録した記録媒体
であって、前記プログラムは、コンピュータに、前記抵
抗膜同士の接触状態を検出させ、その接触状態の検出に
応答して前記２枚の抵抗膜間に前回の測定値電圧を与え
て、この抵抗膜間の静電容量を充電させ、この充電後の
２枚の抵抗膜について前記接触点についての第１の方向
の位置及び該方向と直交する第２の方向の位置を検出さ
せることを特徴とする。
【００２４】要するに本発明では、抵抗膜方式のタブレ
ットのスキャンに関して、Ｙ検出で接触点の電圧を測定
する際に必要なモード設定してからの待ち時間を短縮し
てより高速にサンプリングを行うため、静電容量分をも
つＡ／Ｄコンバータ側に接続された抵抗膜に前回の同モ
ードで測定された値をＤ／Ａコンバータから出力して静
電容量分をチャージしてより早く収束値に近づけるので
ある。このため、抵抗膜方式のスキャンにおいて、Ｘ検
出、Ｙ検出で接触点での電圧を測定する際に必要なモー
ド設定してからの待ち時間を短縮することができる。
ットのスキャンに関して、Ｙ検出で接触点の電圧を測定
する際に必要なモード設定してからの待ち時間を短縮し
てより高速にサンプリングを行うため、静電容量分をも
つＡ／Ｄコンバータ側に接続された抵抗膜に前回の同モ
ードで測定された値をＤ／Ａコンバータから出力して静
電容量分をチャージしてより早く収束値に近づけるので
ある。このため、抵抗膜方式のスキャンにおいて、Ｘ検
出、Ｙ検出で接触点での電圧を測定する際に必要なモー
ド設定してからの待ち時間を短縮することができる。
【００２５】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の一形態につ
いて図面を参照して説明する。
いて図面を参照して説明する。
【００２６】図１は本発明による抵抗膜方式タブレット
の実施の一形態を示すブロック図である。同図におい
て、図５と同等部分は同一符号により示されており、そ
の部分の詳細な説明は省略する。
の実施の一形態を示すブロック図である。同図におい
て、図５と同等部分は同一符号により示されており、そ
の部分の詳細な説明は省略する。
【００２７】図１において、使用者が実際に入力を行う
抵抗膜方式のタブレット入力部１は、平行電極１０１、
１０２をつけた抵抗膜１０と平行電極１１１，１１２を
つけた抵抗膜１１を２枚重ねあわせたものであり、これ
らの抵抗膜は、９０度ずらして向かい会っており、外部
からペンなどの細いもので押すと抵抗膜１０と１１とは
点で接触し、その接点は通電できる程度の隙間が空いて
いる。Ａ／Ｄコンバータ２は、タブレット入力部１から
電圧として出力される位置データを、電圧からディジタ
ルデータとして使用できるような形にするための変換を
行う。信号処理部３は、Ａ／Ｄコンバータ２から出力さ
れるデータを元に、電子スイッチ６１〜６９を個別にオ
ン／オフを制御する。そして、タブレット入力部１の動
作モードを変更し、その結果Ａ／Ｄコンバ一タ２から出
力されるデータを元にダブレット入力部１の接触位置デ
ータを計算し、測定データとして出力する。また、信号
処理部３は、タブレット入力部１に電圧供給できるＤ／
Ａコンバータ（Ｄ／Ａ ＣＯＮ）８も制御できる。
抵抗膜方式のタブレット入力部１は、平行電極１０１、
１０２をつけた抵抗膜１０と平行電極１１１，１１２を
つけた抵抗膜１１を２枚重ねあわせたものであり、これ
らの抵抗膜は、９０度ずらして向かい会っており、外部
からペンなどの細いもので押すと抵抗膜１０と１１とは
点で接触し、その接点は通電できる程度の隙間が空いて
いる。Ａ／Ｄコンバータ２は、タブレット入力部１から
電圧として出力される位置データを、電圧からディジタ
ルデータとして使用できるような形にするための変換を
行う。信号処理部３は、Ａ／Ｄコンバータ２から出力さ
れるデータを元に、電子スイッチ６１〜６９を個別にオ
ン／オフを制御する。そして、タブレット入力部１の動
作モードを変更し、その結果Ａ／Ｄコンバ一タ２から出
力されるデータを元にダブレット入力部１の接触位置デ
ータを計算し、測定データとして出力する。また、信号
処理部３は、タブレット入力部１に電圧供給できるＤ／
Ａコンバータ（Ｄ／Ａ ＣＯＮ）８も制御できる。
【００２８】接触検出抵抗５は、タブレット入力部の動
作モードを接触検出モードに変更した時に接触検出用に
Ａ／Ｄコンバータ２に接続される抵抗膜１１を接地用グ
ランドと同電位にするために使用される。電子スイッチ
６１〜６９は、信号処理部３により制御され、その両端
に接続された端子部分の接続をオン／オフすることがで
きる。
作モードを接触検出モードに変更した時に接触検出用に
Ａ／Ｄコンバータ２に接続される抵抗膜１１を接地用グ
ランドと同電位にするために使用される。電子スイッチ
６１〜６９は、信号処理部３により制御され、その両端
に接続された端子部分の接続をオン／オフすることがで
きる。
【００２９】各部の接続状態についてより詳細に説明す
る。
る。
【００３０】電子スイッチ６１は、タブレット入力部の
供給用電源９２ａと抵抗膜１１の平行電極１１１とを接
続することができる。電子スイッチ６２はタブレット入
力部１の接地用グランド９１ｂと抵抗膜１１の平行電極
１１２とを接続できる。
供給用電源９２ａと抵抗膜１１の平行電極１１１とを接
続することができる。電子スイッチ６２はタブレット入
力部１の接地用グランド９１ｂと抵抗膜１１の平行電極
１１２とを接続できる。
【００３１】電子スイッチ６３は、タブレット入力部の
供給用電源９２ｂと抵抗膜１０の平行電極１０１とを接
続できる。電子スイッチ６４は、抵抗膜１０の平行電極
１０２とＡ／Ｄコンバータ２の入力部に接続できる。
供給用電源９２ｂと抵抗膜１０の平行電極１０１とを接
続できる。電子スイッチ６４は、抵抗膜１０の平行電極
１０２とＡ／Ｄコンバータ２の入力部に接続できる。
【００３２】電子スイッチ６５は、抵抗膜１１の平行電
極１１２とＡ／Ｄコンバータ２とを接続することができ
る。電子スイッチ６６は、接触検出抵抗５と抵抗膜１１
の平行電極１１２とを接続することができる。
極１１２とＡ／Ｄコンバータ２とを接続することができ
る。電子スイッチ６６は、接触検出抵抗５と抵抗膜１１
の平行電極１１２とを接続することができる。
【００３３】電子スイッチ６７は、抵抗膜１０の平行電
極１０２とタブレット入力部１の接地用グランド９１ａ
とを接続できる。電子スイッチ６８は、Ｄ／Ａコンバー
タ８の出力と抵抗膜１０の平行電極１０２とを接続でき
る。電子スイッチ６９は、Ｄ／Ａコンバータ８の出力と
抵抗膜１１の平行電極１１２とを接続できる。
極１０２とタブレット入力部１の接地用グランド９１ａ
とを接続できる。電子スイッチ６８は、Ｄ／Ａコンバー
タ８の出力と抵抗膜１０の平行電極１０２とを接続でき
る。電子スイッチ６９は、Ｄ／Ａコンバータ８の出力と
抵抗膜１１の平行電極１１２とを接続できる。
【００３４】Ｄ／Ａコンバータ８は、信号処理部３から
指示されたディジタルデータをアナログ電圧として出力
する。グランド９１ａ及び９１ｂは、タブレット入力部
１の接地用グランドである。電源９２ａ及び９２ｂは、
タブレット入力部への供給電源である。
指示されたディジタルデータをアナログ電圧として出力
する。グランド９１ａ及び９１ｂは、タブレット入力部
１の接地用グランドである。電源９２ａ及び９２ｂは、
タブレット入力部への供給電源である。
【００３５】本発明においては、通常の抵抗膜方式のタ
ブレットに、前回の同モードで測定値を出力するＤ／Ａ
コンバータとＡ／Ｄコンバータと接続されるタブレット
の平行電極にそのＤ／Ａコンバータを接続するための電
子スイッチを追加し、スキャンモードに前回の測定値を
出力するモードである「Ｘ出力」「Ｙ出力」を追加した
ものとなる。従って、基本的なスキャン方法として、２
枚の抵抗膜が接触しているかどうかを調べる「接触検
出」、Ｘ方向の位置を調べる「Ｘ検出」，Ｙ方向の位置
を調べる「Ｙ検出」を順に行い「接触検出」において２
枚の抵抗膜が接触されていないと判断されたならばスキ
ャンを中止する。接触されたと判断したならば、前回の
Ｘ検出の測定値を出力する「Ｘ出力」を行い、「Ｘ検
出」を行い、前回の「Ｙ検出」の値を出力する「Ｙ出
力」を行い、「Ｙ検出」を行い、「接触検出」を行い接
触がなくなるまで繰返す。図２は、２回目の接触検出で
接触されていないと判断した例である。
ブレットに、前回の同モードで測定値を出力するＤ／Ａ
コンバータとＡ／Ｄコンバータと接続されるタブレット
の平行電極にそのＤ／Ａコンバータを接続するための電
子スイッチを追加し、スキャンモードに前回の測定値を
出力するモードである「Ｘ出力」「Ｙ出力」を追加した
ものとなる。従って、基本的なスキャン方法として、２
枚の抵抗膜が接触しているかどうかを調べる「接触検
出」、Ｘ方向の位置を調べる「Ｘ検出」，Ｙ方向の位置
を調べる「Ｙ検出」を順に行い「接触検出」において２
枚の抵抗膜が接触されていないと判断されたならばスキ
ャンを中止する。接触されたと判断したならば、前回の
Ｘ検出の測定値を出力する「Ｘ出力」を行い、「Ｘ検
出」を行い、前回の「Ｙ検出」の値を出力する「Ｙ出
力」を行い、「Ｙ検出」を行い、「接触検出」を行い接
触がなくなるまで繰返す。図２は、２回目の接触検出で
接触されていないと判断した例である。
【００３６】各検出方式を、概略ブロック図である図１
とタイミングチャートである図２により説明する。具体
的には、図１中のタブレット部入力部１は、平行電極１
０１，１０２をつけた抵抗膜１０と平行電極１１１，１
１２をつけた抵抗膜１１を２枚重ねあわせたものであ
り、外部からペンなどの細いもので押すと抵抗膜１０，
１１は点として接触し、その接点は通電できる。平行電
極は、電子スイッチ６１〜６９により、接続先を変更で
きる様になっている。平行電極１０１は、電子スイッチ
６３により、電源９２と接続できるようになっている。
平行電極１０２は、グランド９１ａとＡ／Ｄコンバータ
２の入力に加えてＤ／Ａコンバータ８の出力を独立して
接続できるようになっている。平行電極１１１は、電源
９２との接続できるようになっている。平行電極１１２
は、グランド９１ｂ、Ａ／Ｄコンバータ２、接触検出用
抵抗５とＤ／Ａコンバータ６の出力とを接続できるよう
になっている。
とタイミングチャートである図２により説明する。具体
的には、図１中のタブレット部入力部１は、平行電極１
０１，１０２をつけた抵抗膜１０と平行電極１１１，１
１２をつけた抵抗膜１１を２枚重ねあわせたものであ
り、外部からペンなどの細いもので押すと抵抗膜１０，
１１は点として接触し、その接点は通電できる。平行電
極は、電子スイッチ６１〜６９により、接続先を変更で
きる様になっている。平行電極１０１は、電子スイッチ
６３により、電源９２と接続できるようになっている。
平行電極１０２は、グランド９１ａとＡ／Ｄコンバータ
２の入力に加えてＤ／Ａコンバータ８の出力を独立して
接続できるようになっている。平行電極１１１は、電源
９２との接続できるようになっている。平行電極１１２
は、グランド９１ｂ、Ａ／Ｄコンバータ２、接触検出用
抵抗５とＤ／Ａコンバータ６の出力とを接続できるよう
になっている。
【００３７】次に各検出方式の平行電極の状態を説明す
る。接触検出の場合は、平行電極１０１は電源９２、平
行電極１０２，１１１は無接続、平行電極１１２は接触
検出用抵抗５とＡ／Ｄコンバータ２と接続する、Ｘ検出
の場合は、平行電極１０１は電源９２、平行電極１０２
はグランド６２、平行電極１１１は無接続、平行電極１
１２はＡ／Ｄコンバータ２へ接続する。Ｙ検出の場合
は、平行電極１０１は無接続、平行電極１０２はＡ／Ｄ
コンバータ２へ、平行電極１１１は電源９２に、平行電
極１１２はグランド９１に接続する。Ｘ出力は、平行電
極１０１は電源９２、平行電極１０２はグランド９１、
平行電極１１１は無接続、平行電極１１２はＡ／Ｄコン
バータ２とＤ／Ａコンバータ８へ接続する。Ｙ出力は、
平行電極１０１は無接続、平行電極１０２はＡ／Ｄコン
バータ２とＤ／Ａコンバータ８へ、平行電極１１１は電
源９２に、平行電極１１２はグランド９１に接続する。
る。接触検出の場合は、平行電極１０１は電源９２、平
行電極１０２，１１１は無接続、平行電極１１２は接触
検出用抵抗５とＡ／Ｄコンバータ２と接続する、Ｘ検出
の場合は、平行電極１０１は電源９２、平行電極１０２
はグランド６２、平行電極１１１は無接続、平行電極１
１２はＡ／Ｄコンバータ２へ接続する。Ｙ検出の場合
は、平行電極１０１は無接続、平行電極１０２はＡ／Ｄ
コンバータ２へ、平行電極１１１は電源９２に、平行電
極１１２はグランド９１に接続する。Ｘ出力は、平行電
極１０１は電源９２、平行電極１０２はグランド９１、
平行電極１１１は無接続、平行電極１１２はＡ／Ｄコン
バータ２とＤ／Ａコンバータ８へ接続する。Ｙ出力は、
平行電極１０１は無接続、平行電極１０２はＡ／Ｄコン
バータ２とＤ／Ａコンバータ８へ、平行電極１１１は電
源９２に、平行電極１１２はグランド９１に接続する。
【００３８】本発明に関係する動作を詳しく説明する。
【００３９】１回目の接触検出、Ｘ検出、Ｙ検出は従来
例と変わらない。２回目の接触検出において、接触が確
認されたならば、信号処理部３は、Ｘ出力モードに移り
（図２中の点Ｇ）、Ｄ／Ａコンバータ８が、静電容量を
もつＡ／Ｄコンバータ２側に接続された抵抗膜１１に前
回の測定値電圧を与え静電容量分をチャージする。次に
信号処理部３は、Ｘ検出を行い（図２中の点Ｈ）、抵抗
膜１１の電圧値が収束するのを待ってから（図２中の点
Ｉ）、抵抗膜１１の電圧値をＡ／Ｄコンバータ２で測定
する。この時、従来例とは異なり、前回の測定値から目
的の値に収束することになる。通常タブレットの応答速
度は、手で動くスピードであるため、前回の測定結果と
現在の測定結果に差分があまりない。このため、収束の
時間（図２中の矢印）が短くなる。その後信号処理部３
は、抵抗膜の接続を入替え、同様にＹ出力及びＹ検出を
行い、接触検出を行う。その接触検出により、接触が確
認されたならば、再度Ｘ出力よりスキャンを開始する。
例と変わらない。２回目の接触検出において、接触が確
認されたならば、信号処理部３は、Ｘ出力モードに移り
（図２中の点Ｇ）、Ｄ／Ａコンバータ８が、静電容量を
もつＡ／Ｄコンバータ２側に接続された抵抗膜１１に前
回の測定値電圧を与え静電容量分をチャージする。次に
信号処理部３は、Ｘ検出を行い（図２中の点Ｈ）、抵抗
膜１１の電圧値が収束するのを待ってから（図２中の点
Ｉ）、抵抗膜１１の電圧値をＡ／Ｄコンバータ２で測定
する。この時、従来例とは異なり、前回の測定値から目
的の値に収束することになる。通常タブレットの応答速
度は、手で動くスピードであるため、前回の測定結果と
現在の測定結果に差分があまりない。このため、収束の
時間（図２中の矢印）が短くなる。その後信号処理部３
は、抵抗膜の接続を入替え、同様にＹ出力及びＹ検出を
行い、接触検出を行う。その接触検出により、接触が確
認されたならば、再度Ｘ出力よりスキャンを開始する。
【００４０】更に図面を参照して説明する。図３は、本
発明の一実施例を示す抵抗膜方式タブレットのブロック
図である。特に、Ａ／Ｄコンバータ及びＤ／Ａコンバー
タ並びに信号処理部を１チップマイコンにて実現した例
が示されている。
発明の一実施例を示す抵抗膜方式タブレットのブロック
図である。特に、Ａ／Ｄコンバータ及びＤ／Ａコンバー
タ並びに信号処理部を１チップマイコンにて実現した例
が示されている。
【００４１】図３において、使用者が実際に入力を行う
抵抗膜方式のタブレット入力部１は、平行電極１０１，
１０２をつけた抵抗膜１０と平行電極１１１、１１２を
つけた抵抗膜１１を２枚重ねあわせたものであり、これ
らの抵抗膜は、９０度ずらして向かい会っており、外部
からペンなどの細いもので押すと抵抗膜１０，１１は点
として接触し、その接点は通電できる程度の隙間が空い
ている。
抵抗膜方式のタブレット入力部１は、平行電極１０１，
１０２をつけた抵抗膜１０と平行電極１１１、１１２を
つけた抵抗膜１１を２枚重ねあわせたものであり、これ
らの抵抗膜は、９０度ずらして向かい会っており、外部
からペンなどの細いもので押すと抵抗膜１０，１１は点
として接触し、その接点は通電できる程度の隙間が空い
ている。
【００４２】同図において１チップマイコン３１は、入
力切替器３０１と、Ａ／Ｄコンバータ３０２と、信号処
理部３０３と、Ｄ／Ａコンバータ３０８とを含んで構成
されている。
力切替器３０１と、Ａ／Ｄコンバータ３０２と、信号処
理部３０３と、Ｄ／Ａコンバータ３０８とを含んで構成
されている。
【００４３】入力切替器３０１は、タブレット入力部１
の抵抗膜１０，１１の電圧を切替えてＡ／Ｄコンバータ
に伝える。Ａ／Ｄコンバータ３０２は、タブレット入力
部１から電圧として出力されるアナログ電圧としての位
置データを、ディジタルデータとして使用できるような
形にするための変換を行う。
の抵抗膜１０，１１の電圧を切替えてＡ／Ｄコンバータ
に伝える。Ａ／Ｄコンバータ３０２は、タブレット入力
部１から電圧として出力されるアナログ電圧としての位
置データを、ディジタルデータとして使用できるような
形にするための変換を行う。
【００４４】信号処理部３０３は、ＣＰＵコア及びメモ
リを含んで構成されている。この信号処理部３０３は、
Ａ／Ｄコンバータ３０２から出力されるデータを元に、
電子スイッチ６１〜６３及び６６〜６９を個別にオン／
オフ制御すると共に、入力切替器３０１における選択制
御を適宜行う。また信号処理部３０３は、タブレット入
力部１の動作モードを変更して、その結果Ａ／Ｄコンバ
ータ３０２から出力されるデータを元にタブレット入力
部１の接触位置データを計算する。この計算されたデー
タは、測定データ７として出力される。
リを含んで構成されている。この信号処理部３０３は、
Ａ／Ｄコンバータ３０２から出力されるデータを元に、
電子スイッチ６１〜６３及び６６〜６９を個別にオン／
オフ制御すると共に、入力切替器３０１における選択制
御を適宜行う。また信号処理部３０３は、タブレット入
力部１の動作モードを変更して、その結果Ａ／Ｄコンバ
ータ３０２から出力されるデータを元にタブレット入力
部１の接触位置データを計算する。この計算されたデー
タは、測定データ７として出力される。
【００４５】また、タブレット入力部１に供給する電圧
を出力するＤ／Ａコンバータ３０８も制御できるように
なっている。Ｄ／Ａコンバータ３０８は、信号処理部３
０３から指示されたディジタルデータをアナログ電圧と
して出力する。バッファアンプ３２は、負荷抵抗が低く
くてもＤ／Ａコンバータ３０８の出力する電圧と同じ電
圧を出力する。
を出力するＤ／Ａコンバータ３０８も制御できるように
なっている。Ｄ／Ａコンバータ３０８は、信号処理部３
０３から指示されたディジタルデータをアナログ電圧と
して出力する。バッファアンプ３２は、負荷抵抗が低く
くてもＤ／Ａコンバータ３０８の出力する電圧と同じ電
圧を出力する。
【００４６】接触検出抵抗５は、タブレット入力部１の
動作モードを接触検出モードに変更した時に接触検出用
にＡ／Ｄコンバータ３０２に接続される抵抗膜１１を接
地用グランドと同電位にするために使用される。電子ス
イッチ６１〜６３及び６６〜６９は、信号処理部３０３
により制御され、その両端に接続された端子部分の接続
をオン／オフできる。
動作モードを接触検出モードに変更した時に接触検出用
にＡ／Ｄコンバータ３０２に接続される抵抗膜１１を接
地用グランドと同電位にするために使用される。電子ス
イッチ６１〜６３及び６６〜６９は、信号処理部３０３
により制御され、その両端に接続された端子部分の接続
をオン／オフできる。
【００４７】接続状態をより詳細に説明する。
【００４８】電子スイッチ６１は、タブレット入力部の
供給用電源９２と抵抗膜１１の平行電極１１１とを接続
できる。電子スイッチ６２はタブレット入力部の接地用
グランド９１と抵抗膜１１の平行電極１１２とを接続で
きる。
供給用電源９２と抵抗膜１１の平行電極１１１とを接続
できる。電子スイッチ６２はタブレット入力部の接地用
グランド９１と抵抗膜１１の平行電極１１２とを接続で
きる。
【００４９】電子スイッチ６３は、タブレット入力部１
の供給用電源９２ｂと抵抗膜１０の平行電極１０１とを
接続できる。電子スイッチ６６は、接触検出抵抗５と抵
抗膜１１の平行電極１１２とを接続することができる。
の供給用電源９２ｂと抵抗膜１０の平行電極１０１とを
接続できる。電子スイッチ６６は、接触検出抵抗５と抵
抗膜１１の平行電極１１２とを接続することができる。
【００５０】電子スイッチ６７は、抵抗膜１０の平行電
極１０２とタブレット入力部１の接地用グランド９１ａ
とを接続できる。電子スイッチ６８は、バッファアンプ
３２の出力と抵抗膜１０の平行電極１０２とを接続でき
る。電子スイッチ６９は、バッファアンプ３２の出力と
抵抗膜１１の平行電極１１２とを接続できる。
極１０２とタブレット入力部１の接地用グランド９１ａ
とを接続できる。電子スイッチ６８は、バッファアンプ
３２の出力と抵抗膜１０の平行電極１０２とを接続でき
る。電子スイッチ６９は、バッファアンプ３２の出力と
抵抗膜１１の平行電極１１２とを接続できる。
【００５１】グランド９１ａ及び９１ｂは、タブレット
入力部１の接地用グランドである。電源９２ａ及び９２
ｂは、タブレット入力部１へ供給される電源である。
入力部１の接地用グランドである。電源９２ａ及び９２
ｂは、タブレット入力部１へ供給される電源である。
【００５２】本実施形態は、通常の抵抗膜方式のタブレ
ットに、前回の同モードにおける測定値を出力するＤ／
Ａコンバータと、Ａ／Ｄコンバータと接続されるタブレ
ットの平行電極にそのＤ／Ａコンバータを接続するため
の電子スイッチとを追加した構成である。また、本実施
形態では、スキャンモードに前回の測定値を出力するモ
ードである「Ｘ出力」及び「Ｙ出力」を追加している。
ットに、前回の同モードにおける測定値を出力するＤ／
Ａコンバータと、Ａ／Ｄコンバータと接続されるタブレ
ットの平行電極にそのＤ／Ａコンバータを接続するため
の電子スイッチとを追加した構成である。また、本実施
形態では、スキャンモードに前回の測定値を出力するモ
ードである「Ｘ出力」及び「Ｙ出力」を追加している。
【００５３】従って、本実施形態においては、２枚の抵
抗膜が接触しているかどうかを調べる「接触検出」、Ｘ
方向の位置を調べる「Ｘ検出」、Ｙ方向の位置を調べる
「Ｙ検出」という基本的なスキャンを順に行う。そし
て、「接触検出」において２枚の抵抗膜が接触されてい
ないと判断されたならばスキャンを中止する。
抗膜が接触しているかどうかを調べる「接触検出」、Ｘ
方向の位置を調べる「Ｘ検出」、Ｙ方向の位置を調べる
「Ｙ検出」という基本的なスキャンを順に行う。そし
て、「接触検出」において２枚の抵抗膜が接触されてい
ないと判断されたならばスキャンを中止する。
【００５４】一方、接触されていると判断されたなら
ば、以下の動作となる。すなわち、前回のＸ検出の測定
値を出力する「Ｘ出力」、「Ｘ検出」、前回の「Ｙ検
出」の値を出力する「Ｙ出力」、「Ｙ検出」を順に行
う。その後、「接触検出」を行い、接触がなくなるまで
繰返す。なお、図２に示されている動作例は、２回目の
接触検出において接触されていないと判断した場合の動
作例である。
ば、以下の動作となる。すなわち、前回のＸ検出の測定
値を出力する「Ｘ出力」、「Ｘ検出」、前回の「Ｙ検
出」の値を出力する「Ｙ出力」、「Ｙ検出」を順に行
う。その後、「接触検出」を行い、接触がなくなるまで
繰返す。なお、図２に示されている動作例は、２回目の
接触検出において接触されていないと判断した場合の動
作例である。
【００５５】次に、本発明による抵抗膜方式タブレット
のより具体的な実施例について、ブロック図である図３
とタイミングチャートである図２とを参照して説明す
る。
のより具体的な実施例について、ブロック図である図３
とタイミングチャートである図２とを参照して説明す
る。
【００５６】図３中のタブレット入力部１は、具体的に
は、２枚の抵抗膜１０と抵抗膜１１とを所定間隔を空け
て重ねあわせたものである。そして、抵抗膜１０には平
行電極１０１及び１０２が取付けられている。また、抵
抗膜１１には平行電極１１１及び１１２が取付けられて
いる。このように重ねあわせた抵抗膜１０及び１１の表
面を外部からペンなどの細いもので押すと、抵抗膜同士
は点で接触する。すると、その抵抗膜同士の接点は通電
する。
は、２枚の抵抗膜１０と抵抗膜１１とを所定間隔を空け
て重ねあわせたものである。そして、抵抗膜１０には平
行電極１０１及び１０２が取付けられている。また、抵
抗膜１１には平行電極１１１及び１１２が取付けられて
いる。このように重ねあわせた抵抗膜１０及び１１の表
面を外部からペンなどの細いもので押すと、抵抗膜同士
は点で接触する。すると、その抵抗膜同士の接点は通電
する。
【００５７】同図中の各平行電極は、電子スイッチ６１
〜６３及び６６〜６９により、接続先を変更できる様に
なっている。平行電極１０１は、電子スイッチ６３によ
り、電源９２と接続できるようになっている。平行電極
１０２は、グランド９１ａや入力切替器３０１の入力側
と接続できる他、バッファアンプ３２の出力側を独立し
て接続できるようになっている。
〜６３及び６６〜６９により、接続先を変更できる様に
なっている。平行電極１０１は、電子スイッチ６３によ
り、電源９２と接続できるようになっている。平行電極
１０２は、グランド９１ａや入力切替器３０１の入力側
と接続できる他、バッファアンプ３２の出力側を独立し
て接続できるようになっている。
【００５８】平行電極１１１は、電源９２ａと接続でき
るようになっている。平行電極１１２は、グランド９１
ｂや入力切替器３０１の入力側と接続できる他、接触検
出用抵抗５やバッファアンプ３２の出力側と接続できる
ようになっている。
るようになっている。平行電極１１２は、グランド９１
ｂや入力切替器３０１の入力側と接続できる他、接触検
出用抵抗５やバッファアンプ３２の出力側と接続できる
ようになっている。
【００５９】次に、各検出方式における平行電極の状態
を説明する。
を説明する。
【００６０】接触検出の場合、平行電極１０１は電源９
２ｂと接続し、平行電極１０２，１１１は無接続、平行
電極１１２は接触検出用抵抗５と入力切替器３０１を通
してＡ／Ｄコンバータ３０２と接続する。
２ｂと接続し、平行電極１０２，１１１は無接続、平行
電極１１２は接触検出用抵抗５と入力切替器３０１を通
してＡ／Ｄコンバータ３０２と接続する。
【００６１】Ｘ検出の場合、平行電極１０１は電源９２
ｂと接続し、平行電極１０２はグランド９１ｂと接続
し、平行電極１１１は無接続、平行電極１１２は入力切
替器３０１を通してＡ／Ｄコンバータ３０２と接続す
る。
ｂと接続し、平行電極１０２はグランド９１ｂと接続
し、平行電極１１１は無接続、平行電極１１２は入力切
替器３０１を通してＡ／Ｄコンバータ３０２と接続す
る。
【００６２】Ｙ検出の場合、平行電極１０１は無接続、
平行電極１０２は入力切替器３０１を通してＡ／Ｄコン
バータ３０２と接続し、平行電極１１１は電源９２ａ
に、平行電極１１２はグランド９１ａと接続する。
平行電極１０２は入力切替器３０１を通してＡ／Ｄコン
バータ３０２と接続し、平行電極１１１は電源９２ａ
に、平行電極１１２はグランド９１ａと接続する。
【００６３】Ｘ出力の場合、平行電極１０１は電源９２
ｂと接続し、平行電極１０２はグランド９１ａと接続
し、平行電極１１１は無接続、平行電極１１２は入力切
替器３０１を通してＡ／Ｄコンバータ３０２とバッファ
アンプ３２と接続する。
ｂと接続し、平行電極１０２はグランド９１ａと接続
し、平行電極１１１は無接続、平行電極１１２は入力切
替器３０１を通してＡ／Ｄコンバータ３０２とバッファ
アンプ３２と接続する。
【００６４】Ｙ出力の場合、平行電極１０１は無接続、
平行電極１０２は入力切替器３０１を通してＡ／Ｄコン
バータ３０１及びバッファアンプ３０２と接続し、平行
電極１１１は電源９２ａと接続し、平行電極１１２はグ
ランド９１ａに接続する。
平行電極１０２は入力切替器３０１を通してＡ／Ｄコン
バータ３０１及びバッファアンプ３０２と接続し、平行
電極１１１は電源９２ａと接続し、平行電極１１２はグ
ランド９１ａに接続する。
【００６５】次に、本タブレットの動作について図２を
参照して説明する。
参照して説明する。
【００６６】同図において、１回目の接触検出、Ｘ検出
及びＹ検出は、上述した従来例の場合と変わらない。２
回目の接触検出において、接触が確認されたならば、信
号処理部３０３はＸ出力モードに移り（図２中の点
Ｇ）、Ｄ／Ａコンバータ３０８が、静電容量をもつＡ／
Ｄコンバータ３０２側に接続された抵抗膜１１に前回の
測定値電圧を与えて静電容量分をチャージする。
及びＹ検出は、上述した従来例の場合と変わらない。２
回目の接触検出において、接触が確認されたならば、信
号処理部３０３はＸ出力モードに移り（図２中の点
Ｇ）、Ｄ／Ａコンバータ３０８が、静電容量をもつＡ／
Ｄコンバータ３０２側に接続された抵抗膜１１に前回の
測定値電圧を与えて静電容量分をチャージする。
【００６７】次に、信号処理部３０３はＸ検出を行い
（図２中の点Ｈ）、抵抗膜１１の電圧値が収束するのを
待ってから（図２中の点Ｉ）、抵抗膜１１の電圧値をＡ
／Ｄコンバータ３０２で測定する。
（図２中の点Ｈ）、抵抗膜１１の電圧値が収束するのを
待ってから（図２中の点Ｉ）、抵抗膜１１の電圧値をＡ
／Ｄコンバータ３０２で測定する。
【００６８】このとき、従来例の場合とは異なり、前回
の測定値から開始して目的の収束値に到達することにな
る。ここで、通常タブレットで要求される応答速度は、
操作者の手が動くスピードである。よって、前回の測定
結果と現在の測定結果とに差があまりないので、図２中
の矢印で示されている収束時間が短くなるのである。
の測定値から開始して目的の収束値に到達することにな
る。ここで、通常タブレットで要求される応答速度は、
操作者の手が動くスピードである。よって、前回の測定
結果と現在の測定結果とに差があまりないので、図２中
の矢印で示されている収束時間が短くなるのである。
【００６９】その後信号処理部３０３は、抵抗膜の接続
を入れ替えて、同様にＹ出力を行った後にＹ検出を行い
接触検出を行う。その接触検出により、接触が確認され
たならば、再度Ｘ出力よりスキャンを開始する。
を入れ替えて、同様にＹ出力を行った後にＹ検出を行い
接触検出を行う。その接触検出により、接触が確認され
たならば、再度Ｘ出力よりスキャンを開始する。
【００７０】要するに、本発明による抵抗膜方式タブレ
ットにおいては、以下のような制御方法が採用されてい
る。すなわち、抵抗膜同士が接触しているかどうかを調
べる「接触検出」、この検出に応答して前回のＸ検出の
測定値を出力する「Ｘ出力」、この後にＸ方向の位置を
調べる「Ｘ検出」、この検出に応答して前回のＹ検出の
値を出力する「Ｙ出力」、この後にＹ方向の位置を調べ
る「Ｙ検出」、の順序でタブレットが制御されるのであ
る。そして、この制御方法を実現するためのプログラム
が信号処理部３０３に記憶されており、そのプログラム
が実行されるのである。
ットにおいては、以下のような制御方法が採用されてい
る。すなわち、抵抗膜同士が接触しているかどうかを調
べる「接触検出」、この検出に応答して前回のＸ検出の
測定値を出力する「Ｘ出力」、この後にＸ方向の位置を
調べる「Ｘ検出」、この検出に応答して前回のＹ検出の
値を出力する「Ｙ出力」、この後にＹ方向の位置を調べ
る「Ｙ検出」、の順序でタブレットが制御されるのであ
る。そして、この制御方法を実現するためのプログラム
が信号処理部３０３に記憶されており、そのプログラム
が実行されるのである。
【００７１】このプログラムについて図４を参照して説
明する。同図に示されているように、まず最初にタッチ
パネルを接触検出モードに設定する（ステップＳ１
１）。この設定後、抵抗膜同士が接触しているかどうか
を判断し、接触していなければ、処理を終了する（ステ
ップＳ１２→Ｓ２４）。一方、接触している場合は、１
回目のスキャンか、それ以降のスキャンかを判断し（ス
テップＳ１２→Ｓ１３）、その処理を変更する。
明する。同図に示されているように、まず最初にタッチ
パネルを接触検出モードに設定する（ステップＳ１
１）。この設定後、抵抗膜同士が接触しているかどうか
を判断し、接触していなければ、処理を終了する（ステ
ップＳ１２→Ｓ２４）。一方、接触している場合は、１
回目のスキャンか、それ以降のスキャンかを判断し（ス
テップＳ１２→Ｓ１３）、その処理を変更する。
【００７２】スキャンが１回目である場合、タッチパネ
ルをＸ検出モードに設定し（ステップＳ１４）、Ｘ方向
の位置を調べる（ステップＳ１５）。次に、タッチパネ
ルをＹ検出モードに設定し（ステップＳ１６）、Ｙ方向
の位置を調べる（ステップＳ１７）。その後、抵抗膜同
士が接触しているかどうかを判断するために、ステップ
Ｓ１１の処理に戻る（ステップＳ１７→Ｓ１１）。
ルをＸ検出モードに設定し（ステップＳ１４）、Ｘ方向
の位置を調べる（ステップＳ１５）。次に、タッチパネ
ルをＹ検出モードに設定し（ステップＳ１６）、Ｙ方向
の位置を調べる（ステップＳ１７）。その後、抵抗膜同
士が接触しているかどうかを判断するために、ステップ
Ｓ１１の処理に戻る（ステップＳ１７→Ｓ１１）。
【００７３】スキャンが２回目以降である場合、タッチ
パネルに前回のＸ検出の測定値を出力する（ステップＳ
１３→Ｓ１８）。そして、タッチパネルをＸ検出モード
に設定し（ステップＳ１９）、Ｘ方向の位置を調べる
（ステップＳ２０）。
パネルに前回のＸ検出の測定値を出力する（ステップＳ
１３→Ｓ１８）。そして、タッチパネルをＸ検出モード
に設定し（ステップＳ１９）、Ｘ方向の位置を調べる
（ステップＳ２０）。
【００７４】この後、タッチパネルに前回のＹ検出の値
を出力する（ステップＳ２１）。そして、タッチパネル
をＹ検出モードに設定し（ステップＳ２２）、Ｙ方向の
位置を調べる（ステップＳ２３）。その後、抵抗膜同士
が接触しているかどうかを判断するために、ステップＳ
１１の処理に戻る（ステップＳ２３→Ｓ１１）。以降、
以上の動作を繰返し、抵抗膜同士が接触していない場合
は、動作が終了となる（ステップＳ１２→Ｓ２４）。
を出力する（ステップＳ２１）。そして、タッチパネル
をＹ検出モードに設定し（ステップＳ２２）、Ｙ方向の
位置を調べる（ステップＳ２３）。その後、抵抗膜同士
が接触しているかどうかを判断するために、ステップＳ
１１の処理に戻る（ステップＳ２３→Ｓ１１）。以降、
以上の動作を繰返し、抵抗膜同士が接触していない場合
は、動作が終了となる（ステップＳ１２→Ｓ２４）。
【００７５】なお、以上説明した制御方法を実現するた
めのプログラムを記録した記録媒体を用意し、これを用
いて図１又は図３の各部を制御すれば、上述と同様の動
作を行うことができることは明白である。この記録媒体
には、両図中に示されていない半導体メモリ、磁気ディ
スク装置の他、種々の記録媒体を用いることができる。
めのプログラムを記録した記録媒体を用意し、これを用
いて図１又は図３の各部を制御すれば、上述と同様の動
作を行うことができることは明白である。この記録媒体
には、両図中に示されていない半導体メモリ、磁気ディ
スク装置の他、種々の記録媒体を用いることができる。
【００７６】また、同記録媒体に記録されているプログ
ラムによってコンピュータを制御すれば、上述と同様の
動作を行うことができることは明白である。この記録媒
体には、半導体メモリ、磁気ディスク装置の他、種々の
記録媒体を用いることができる。
ラムによってコンピュータを制御すれば、上述と同様の
動作を行うことができることは明白である。この記録媒
体には、半導体メモリ、磁気ディスク装置の他、種々の
記録媒体を用いることができる。
【００７７】請求項の記載に関連して本発明は更に次の
態様をとりうる。
態様をとりうる。
【００７８】（１）前記２枚の抵抗膜は共に均一の抵抗
値を持った矩形の抵抗膜であり、その矩形の対向する辺
に設けられた平行電極同士が互いに９０度ずれて重なり
合うように構成されていることを特徴とする請求項１〜
４のいずれかに記載の抵抗膜方式タブレット。
値を持った矩形の抵抗膜であり、その矩形の対向する辺
に設けられた平行電極同士が互いに９０度ずれて重なり
合うように構成されていることを特徴とする請求項１〜
４のいずれかに記載の抵抗膜方式タブレット。
【００７９】（２）前記２枚の抵抗膜は共に均一の抵抗
値を持った矩形の抵抗膜であり、前記第１の方向は前記
矩形の１辺に沿った方向であり、前記第２の方向は前記
矩形の他の辺に沿った方向であることを特徴とする請求
項１〜４のいずれかに記載の抵抗膜方式タブレット。
値を持った矩形の抵抗膜であり、前記第１の方向は前記
矩形の１辺に沿った方向であり、前記第２の方向は前記
矩形の他の辺に沿った方向であることを特徴とする請求
項１〜４のいずれかに記載の抵抗膜方式タブレット。
【００８０】（３）前記２枚の抵抗膜は共に均一の抵抗
値を持った矩形の抵抗膜であり、その矩形の対向する辺
に設けられた平行電極同士が互いに９０度ずれて重なり
合うように構成されていることを特徴とする請求項５又
は６記載の抵抗膜方式タブレットの制御方法。
値を持った矩形の抵抗膜であり、その矩形の対向する辺
に設けられた平行電極同士が互いに９０度ずれて重なり
合うように構成されていることを特徴とする請求項５又
は６記載の抵抗膜方式タブレットの制御方法。
【００８１】（４）前記２枚の抵抗膜は共に均一の抵抗
値を持った矩形の抵抗膜であり、前記第１の方向は前記
矩形の１辺に沿った方向であり、前記第２の方向は前記
矩形の他の辺に沿った方向であることを特徴とする請求
項５又は６記載の抵抗膜方式タブレットの制御方法。
値を持った矩形の抵抗膜であり、前記第１の方向は前記
矩形の１辺に沿った方向であり、前記第２の方向は前記
矩形の他の辺に沿った方向であることを特徴とする請求
項５又は６記載の抵抗膜方式タブレットの制御方法。
【００８２】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、抵抗膜の
静電容量分を前回の測定値でチャージし、より早く収束
値に近づけることにより、Ｘ検出、Ｙ検出で接触点での
電圧を測定する際には、信号処理部がモード設定してか
らの待ち時間を短縮して、より高速にサンプリングを行
うことができるという効果がある。
静電容量分を前回の測定値でチャージし、より早く収束
値に近づけることにより、Ｘ検出、Ｙ検出で接触点での
電圧を測定する際には、信号処理部がモード設定してか
らの待ち時間を短縮して、より高速にサンプリングを行
うことができるという効果がある。
【図１】本発明の実施の一形態による抵抗膜方式タブレ
ットの構成を示すブロック図である。
ットの構成を示すブロック図である。
【図２】図１の抵抗膜方式タブレットの動作を示すタイ
ムチャートである。
ムチャートである。
【図３】図１の抵抗膜方式タブレットのより具体的な構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
【図４】本発明の実施の一形態による抵抗膜方式タブレ
ットの制御方法を示すフローチャートである。
ットの制御方法を示すフローチャートである。
【図５】従来の抵抗膜方式タブレットの構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図６】図１の抵抗膜方式タブレットの動作を示すタイ
ムチャートである。
ムチャートである。
１ タブレット入力部 ２，３０２ Ａ／Ｄコンバータ ３，３０３ 信号処理部 ５ 接触検出抵抗 ８ Ｄ／Ａコンバータ １０，１１ 抵抗膜 ３２ バッファアンプ ６１〜６９ 電子スイッチ ９１ａ，９１ｂ グランド ９２ａ，９２ｂ 電源 １０１，１０２，１１１，１１２ 平行電極 ３０１ 入力切替器
Claims (7)
- 【請求項１】 ２枚の抵抗膜を所定距離隔てて重ね合せ
てなる抵抗膜方式タブレットであって、前記２枚の抵抗
膜同士が接触点で接触していることを検出する接触検出
手段と、この検出に応答して前記２枚の抵抗膜間に前回
の測定値電圧を与えて、この抵抗膜間の静電容量を充電
する充電手段と、この充電後の２枚の抵抗膜について前
記接触点についての第１の方向の位置及び該方向と直交
する第２の方向の位置を検出する検出手段とを含むこと
を特徴とする抵抗膜方式タブレット。 - 【請求項２】 前記充電手段は、前記検出手段により検
出された前記第１の方向の位置及び前記第２の方向の位
置についての位置データを記憶するメモリと、このメモ
リに記憶した位置データに対応する電圧を前記２枚の抵
抗膜間に印加する電圧印加手段とを含むことを特徴とす
る請求項１記載の抵抗膜方式タブレット。 - 【請求項３】 前記位置データをディジタルデータに変
換した後で前記メモリに記憶することを特徴とする請求
項２記載の抵抗膜方式タブレット。 - 【請求項４】 前記充電手段は、前記メモリから読出し
たデータをアナログデータに変換した後の信号によって
前記静電容量を充電することを特徴とする請求項２記載
の抵抗膜方式タブレット。 - 【請求項５】 ２枚の抵抗膜を所定距離隔てて重ね合せ
てなる抵抗膜方式のタブレットについての制御方法であ
って、前記抵抗膜同士の接触状態を検出する接触状態検
出ステップと、その接触状態の検出に応答して前記２枚
の抵抗膜間に前回の測定値電圧を与えて、この抵抗膜間
の静電容量を充電する充電ステップと、この充電後の２
枚の抵抗膜について前記接触点についての第１の方向の
位置及び該方向と直交する第２の方向の位置を検出する
位置検出ステップとを含むことを特徴とする抵抗膜方式
タブレットの制御方法。 - 【請求項６】 前記充電ステップは、前記位置検出ステ
ップにより検出された前記第１の方向の位置及び前記第
２の方向の位置についての位置データを記憶するメモリ
に記憶した位置データに対応する電圧を前記２枚の抵抗
膜間に印加することを特徴とする請求項５記載の抵抗膜
方式タブレットの制御方法。 - 【請求項７】 コンピュータによって、２枚の抵抗膜を
所定距離隔てて重ね合せてなる抵抗膜方式のタブレット
の制御方法を実現するためのプログラムを記録した記録
媒体であって、前記プログラムは、コンピュータに、前
記抵抗膜同士の接触状態を検出させ、その接触状態の検
出に応答して前記２枚の抵抗膜間に前回の測定値電圧を
与えて、この抵抗膜間の静電容量を充電させ、この充電
後の２枚の抵抗膜について前記接触点についての第１の
方向の位置及び該方向と直交する第２の方向の位置を検
出させることを特徴とする抵抗膜方式タブレットについ
ての制御を行うためのプログラムを記録した記録媒体。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25121297A JP3221368B2 (ja) | 1997-09-17 | 1997-09-17 | 抵抗膜方式タブレット及びその制御方法並びにその方法を実現するためのプログラムを記録した記録媒体 |
| US09/156,067 US6208332B1 (en) | 1997-09-17 | 1998-09-17 | Resistance film tablet system capable of rapidly detecting a position of contact and method of controlling the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25121297A JP3221368B2 (ja) | 1997-09-17 | 1997-09-17 | 抵抗膜方式タブレット及びその制御方法並びにその方法を実現するためのプログラムを記録した記録媒体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1195904A JPH1195904A (ja) | 1999-04-09 |
| JP3221368B2 true JP3221368B2 (ja) | 2001-10-22 |
Family
ID=17219375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25121297A Expired - Fee Related JP3221368B2 (ja) | 1997-09-17 | 1997-09-17 | 抵抗膜方式タブレット及びその制御方法並びにその方法を実現するためのプログラムを記録した記録媒体 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6208332B1 (ja) |
| JP (1) | JP3221368B2 (ja) |
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| KR100847813B1 (ko) * | 2001-12-27 | 2008-07-23 | 엘지디스플레이 주식회사 | 터치패널 구동장치 및 방법 |
| GB0319714D0 (en) * | 2003-08-21 | 2003-09-24 | Philipp Harald | Anisotropic touch screen element |
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| US8094135B2 (en) * | 2005-12-19 | 2012-01-10 | Mediatek Inc. | Touch screen measurement circuit and method |
| WO2008026280A1 (fr) * | 2006-08-31 | 2008-03-06 | Pioneer Corporation | Dispositif d'écran tactile matriciel |
| US7868877B2 (en) * | 2007-10-18 | 2011-01-11 | Freescale Semiconductor, Inc. | Touch panel detection circuitry and method of operation |
| JP5106268B2 (ja) * | 2008-06-24 | 2012-12-26 | 富士通コンポーネント株式会社 | タッチパネル |
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| US8305358B2 (en) * | 2009-02-10 | 2012-11-06 | Sony Ericsson Mobile Communications Ab | Sensor, display including a sensor, and method for using a sensor |
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| KR100933037B1 (ko) * | 2009-04-22 | 2009-12-21 | 에이디반도체(주) | 커패시터 충전시간을 통하여 다중터치좌표를 인식하는 다중터치인식 저항막방식 터치스크린 |
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| TWI400646B (zh) * | 2009-08-12 | 2013-07-01 | Htc Corp | 觸控感測元件之壓力偵測方法以及使用該方法之電子裝置 |
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| EP2799966B1 (de) * | 2013-05-02 | 2022-10-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Eingabevorrichtung, Kontrolleinheit und Verfahren zur Positionsbestimmung |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS6484325A (en) * | 1987-09-28 | 1989-03-29 | Oki Electric Ind Co Ltd | Multiplex input detecting system in pressure sensitive type input device |
| JP2975467B2 (ja) * | 1991-11-28 | 1999-11-10 | シャープ株式会社 | 表示一体型位置読取装置 |
| US5225636A (en) * | 1992-02-21 | 1993-07-06 | Ncr Corporation | Apparatus and method for digitizer point sampling and validation |
| JP2955149B2 (ja) * | 1993-05-11 | 1999-10-04 | グンゼ株式会社 | タッチパネルの座標検出装置 |
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| JP2987033B2 (ja) * | 1993-08-31 | 1999-12-06 | アルプス電気株式会社 | 座標入力装置 |
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| DE69615107T2 (de) * | 1995-02-21 | 2002-06-06 | Koninkl Philips Electronics Nv | Tiefpassfilter für eine graphische tafel mit einer grenzfrequenz, die niedriger ist als die abtastfrequenz |
| JP3305535B2 (ja) * | 1995-03-16 | 2002-07-22 | エスエムケイ株式会社 | 抵抗感圧型タブレット |
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- 1997-09-17 JP JP25121297A patent/JP3221368B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-09-17 US US09/156,067 patent/US6208332B1/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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