JP3194849B2 - 弾性表面波デバイス製造方法 - Google Patents
弾性表面波デバイス製造方法Info
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- electrode
- idt
- acoustic wave
- chip
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02818—Means for compensation or elimination of undesirable effects
- H03H9/02897—Means for compensation or elimination of undesirable effects of strain or mechanical damage, e.g. strain due to bending influence
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- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/08—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of resonators or networks using surface acoustic waves
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、弾性表面波(surface
acoustic wave:SAW)デバイスを製造する方法に関
し、更には、この方法を実施するための装置、この方法
により製造されたデバイス及び当該デバイスを使用した
通信装置に関する。
acoustic wave:SAW)デバイスを製造する方法に関
し、更には、この方法を実施するための装置、この方法
により製造されたデバイス及び当該デバイスを使用した
通信装置に関する。
【0002】
【従来の技術】SAWデバイスは、水晶、タンタル酸リ
チウム、ニオブ酸リチウムその他の基板の表面にてSA
Wを伝搬させることにより、共振、遅延、瀘波等を実現
するデバイスである。SAWデバイスは、一般的には、
ちょうど指が交叉したのと同じような構造及び配置を有
するトランスデューサ(interdigital transducer:ID
T)を用いて電気信号により基板表面を励振し(電気か
ら機械への変換)、基板表面又はその直下を伝搬してい
るSAWを他のIDTにより受信して電気信号に変換す
る(機械から電気への変換)、という原理を採用してい
る。その際に、IDTを構成し上述の“指”に相当する
電極、すなわち電極指の間隔等を適宜設定しておけば、
所定の周波数にて共振する共振器を実現できる。また、
IDT間のSAW伝搬遅延を利用することにより遅延線
を実現できる。そして、電気機械変換、伝搬遅延及び機
械電気変換の特性を重み付け等により適宜設定すること
により、フィルタを実現できる。
チウム、ニオブ酸リチウムその他の基板の表面にてSA
Wを伝搬させることにより、共振、遅延、瀘波等を実現
するデバイスである。SAWデバイスは、一般的には、
ちょうど指が交叉したのと同じような構造及び配置を有
するトランスデューサ(interdigital transducer:ID
T)を用いて電気信号により基板表面を励振し(電気か
ら機械への変換)、基板表面又はその直下を伝搬してい
るSAWを他のIDTにより受信して電気信号に変換す
る(機械から電気への変換)、という原理を採用してい
る。その際に、IDTを構成し上述の“指”に相当する
電極、すなわち電極指の間隔等を適宜設定しておけば、
所定の周波数にて共振する共振器を実現できる。また、
IDT間のSAW伝搬遅延を利用することにより遅延線
を実現できる。そして、電気機械変換、伝搬遅延及び機
械電気変換の特性を重み付け等により適宜設定すること
により、フィルタを実現できる。
【0003】このようなSAWデバイスは、高周波回路
を有する通信装置等において広く使用されている。例え
ば図4に示されるように、アンテナ共用器10により単
一のアンテナ12を共用している送信側RF段14及び
受信側RF段16には、通常、パワーアンプやローノイ
ズアンプ等と共に帯域制限用のBPF18及び20が用
いられる。使用するRFがVHFやUHF等の帯域に属
している場合、この種のBPF18及び20としては、
SAWフィルタを用いることができる。特に、近年で
は、移動無線等の普及・拡大に伴い、このようなSAW
フィルタの小形安価化及び高信頼化を達成することが重
要になっている。
を有する通信装置等において広く使用されている。例え
ば図4に示されるように、アンテナ共用器10により単
一のアンテナ12を共用している送信側RF段14及び
受信側RF段16には、通常、パワーアンプやローノイ
ズアンプ等と共に帯域制限用のBPF18及び20が用
いられる。使用するRFがVHFやUHF等の帯域に属
している場合、この種のBPF18及び20としては、
SAWフィルタを用いることができる。特に、近年で
は、移動無線等の普及・拡大に伴い、このようなSAW
フィルタの小形安価化及び高信頼化を達成することが重
要になっている。
【0004】SAWデバイスを小形かつ安価に製造可能
な方法としては、本願発明の発明者らが既に提案してい
るフリップチップ実装技術がある。その内容に関しては
下記論文[1]〜[3]等を参照されたい。図5には、
その概要が示されている。
な方法としては、本願発明の発明者らが既に提案してい
るフリップチップ実装技術がある。その内容に関しては
下記論文[1]〜[3]等を参照されたい。図5には、
その概要が示されている。
【0005】[1]「超小型(3.2*2.5*0.9
mm3)表面実装SAWフィルタ」、谷津田他、199
4年電子情報通信学会春季大会 [2]「フリップチップ実装技術を用いたSAWフィル
タ」、谷津田他、1994年電子情報通信学会秋季大会 [3]“Miniaturized SAW Filters Using a Flip-Chip
Technique”,Ystsuda et al ,Proceedings of 1994
IEEE Ultrasonic Symposium ,1-4 November 1994 図5に示される製造工程を実施するに際しては、まず、
例えば3インチのウエハ22を準備する(図5
(a))。このウエハ22のSAW伝搬面24上には、
フォトリソグラフィ等の技術にて、IDT等の電極が一
般に複数チップ分パターニングされる。このパターニン
グにより形成すべき電極としては、前述のIDTの他、
IDTに電気信号を供給するための入力電極、IDTか
ら電気信号を取り出すための出力電極、及びIDTを介
し入力電極又は出力電極と対を成し接地されるアース電
極がある。電極の材質としてはアルミニウム等が用いら
れる。
mm3)表面実装SAWフィルタ」、谷津田他、199
4年電子情報通信学会春季大会 [2]「フリップチップ実装技術を用いたSAWフィル
タ」、谷津田他、1994年電子情報通信学会秋季大会 [3]“Miniaturized SAW Filters Using a Flip-Chip
Technique”,Ystsuda et al ,Proceedings of 1994
IEEE Ultrasonic Symposium ,1-4 November 1994 図5に示される製造工程を実施するに際しては、まず、
例えば3インチのウエハ22を準備する(図5
(a))。このウエハ22のSAW伝搬面24上には、
フォトリソグラフィ等の技術にて、IDT等の電極が一
般に複数チップ分パターニングされる。このパターニン
グにより形成すべき電極としては、前述のIDTの他、
IDTに電気信号を供給するための入力電極、IDTか
ら電気信号を取り出すための出力電極、及びIDTを介
し入力電極又は出力電極と対を成し接地されるアース電
極がある。電極の材質としてはアルミニウム等が用いら
れる。
【0006】次に、パターニングにより得られる電極の
うち入力電極、出力電極及びアース電極の上に、図5
(b)に示されるようにキャピラリ26を介しボールボ
ンダ等によりバンプ28が載置される。その際には、ウ
エハ22がヒートステージ30にて加熱される。バンプ
28の材質としては、SAW伝搬面(以下、IDT形成
面ともいう)24の状態を維持すべく半田等ではなく金
が使用される。バンプ28を形成した後は、ウエハ22
から、SAWデバイスのチップ32が個別にダイシング
される。
うち入力電極、出力電極及びアース電極の上に、図5
(b)に示されるようにキャピラリ26を介しボールボ
ンダ等によりバンプ28が載置される。その際には、ウ
エハ22がヒートステージ30にて加熱される。バンプ
28の材質としては、SAW伝搬面(以下、IDT形成
面ともいう)24の状態を維持すべく半田等ではなく金
が使用される。バンプ28を形成した後は、ウエハ22
から、SAWデバイスのチップ32が個別にダイシング
される。
【0007】図6には、この状態におけるチップ32、
特にIDT形成面24の外観が示されている。この図に
おいては、IDT34が7個用いられている。そのうち
3個は入力電極36から供給される電気信号にてIDT
形成面24を励振するためのIDTであり、この3個の
IDT34の両脇に位置している残りの4個のIDT3
4は受信したSAWを電気信号に変換し出力電極38に
供給するためのIDTである。一般に、このように多数
の(3個以上の)IDT34を使用すると、特性上のメ
リットが生じる反面で、入力電極36や出力電極38、
アース電極40の配置が若干錯綜するというデメリット
も生じる。このデメリットは、後述するパッドとの位置
決めに当たって作業精度上の問題を発生させることがあ
る。そこで、この図においては、IDT34の並びから
みて図中下側及び上側各1か所に集中するよう入力電極
36又は出力電極38を設けると共に、後述するような
パッド配置を利用することにより、このデメリットを防
ぎ却って作業精度を緩和している。
特にIDT形成面24の外観が示されている。この図に
おいては、IDT34が7個用いられている。そのうち
3個は入力電極36から供給される電気信号にてIDT
形成面24を励振するためのIDTであり、この3個の
IDT34の両脇に位置している残りの4個のIDT3
4は受信したSAWを電気信号に変換し出力電極38に
供給するためのIDTである。一般に、このように多数
の(3個以上の)IDT34を使用すると、特性上のメ
リットが生じる反面で、入力電極36や出力電極38、
アース電極40の配置が若干錯綜するというデメリット
も生じる。このデメリットは、後述するパッドとの位置
決めに当たって作業精度上の問題を発生させることがあ
る。そこで、この図においては、IDT34の並びから
みて図中下側及び上側各1か所に集中するよう入力電極
36又は出力電極38を設けると共に、後述するような
パッド配置を利用することにより、このデメリットを防
ぎ却って作業精度を緩和している。
【0008】切り出されたチップ32は、図5(c)に
示されるように表面実装用のパッケージ42に収納され
る。パッケージ42は、チップ32を収納するためのチ
ップ収納孔44を有しており、その底面はチップ搭載面
46として使用される。チップ32をパッケージ42に
収納する際には、IDT形成面24がチップ搭載面46
を向くよう、図5(b)の状態からチップ32の上下を
反転する。また、収納作業に当たっては、チップ収納孔
44の内壁面を利用して、チップ32上の電極をチップ
搭載面46上の対応するパッドに位置決めする。
示されるように表面実装用のパッケージ42に収納され
る。パッケージ42は、チップ32を収納するためのチ
ップ収納孔44を有しており、その底面はチップ搭載面
46として使用される。チップ32をパッケージ42に
収納する際には、IDT形成面24がチップ搭載面46
を向くよう、図5(b)の状態からチップ32の上下を
反転する。また、収納作業に当たっては、チップ収納孔
44の内壁面を利用して、チップ32上の電極をチップ
搭載面46上の対応するパッドに位置決めする。
【0009】チップ32上の電極配置が図6のような多
電極配置である場合には、チップ搭載面46上に図7に
示されるようなパターンで金属のパッドを形成してお
く。図7においては、チップ収納孔44のチップ搭載面
46上に、入力パッド48、出力パッド50及びアース
パッド52が形成されている。これらのうち入力パッド
48及び出力パッド50はそれぞれ入力電極36又は出
力電極38と接続されるべきパッドであり、入力電極3
6又は出力電極38と対応して各1個ずつ設けられてい
る。また、アースパッド52はアース電極40と接続さ
れるべきパッドであり、入力パッド48及び出力パッド
50との間に所定の間隙を保ちながら、入力パッド48
及び出力パッド50を取り囲むように形成されている。
電極配置である場合には、チップ搭載面46上に図7に
示されるようなパターンで金属のパッドを形成してお
く。図7においては、チップ収納孔44のチップ搭載面
46上に、入力パッド48、出力パッド50及びアース
パッド52が形成されている。これらのうち入力パッド
48及び出力パッド50はそれぞれ入力電極36又は出
力電極38と接続されるべきパッドであり、入力電極3
6又は出力電極38と対応して各1個ずつ設けられてい
る。また、アースパッド52はアース電極40と接続さ
れるべきパッドであり、入力パッド48及び出力パッド
50との間に所定の間隙を保ちながら、入力パッド48
及び出力パッド50を取り囲むように形成されている。
【0010】前述のように、チップ32の各電極上にバ
ンプ28を載置する工程はボールボンディング等により
高精度で行われている。従って、図7のようなパッド配
置を用いることにより、チップ収納孔44の内壁面に沿
ってチップ32をチップ収納孔44内に落とし込む、と
いった手軽な作業にて、各電極を対応するパッドに対し
正確に位置決めすることができる。各パッドは、図8に
示されるようにパッケージ42の外部にある引出し電極
54に接続されているから、上述の位置決めの後各電極
と各パッドとを電気的に接続することにより、チップ3
2上の各電極に外部から信号を与えまた各電極から外部
に信号を引き出すことが可能になる。
ンプ28を載置する工程はボールボンディング等により
高精度で行われている。従って、図7のようなパッド配
置を用いることにより、チップ収納孔44の内壁面に沿
ってチップ32をチップ収納孔44内に落とし込む、と
いった手軽な作業にて、各電極を対応するパッドに対し
正確に位置決めすることができる。各パッドは、図8に
示されるようにパッケージ42の外部にある引出し電極
54に接続されているから、上述の位置決めの後各電極
と各パッドとを電気的に接続することにより、チップ3
2上の各電極に外部から信号を与えまた各電極から外部
に信号を引き出すことが可能になる。
【0011】各電極と各パッドを接続する際には、図5
(d)に示されるようなフェースダウンボンディングを
実行する。すなわち、パッケージ42に収納されたチッ
プ32をヒートステージ30上で加熱しながら、ツール
56にてIDT形成面の裏側の面から荷重を加えると、
各電極と各パッドがバンプ28にて電気的かつ機械的に
接続される。その際、ヒートステージ30による加熱と
ツール56による荷重のみでは、例えば350℃といっ
た高い温度を加えねばならない。このような高温を避け
るためには、図9に示されるように、IDT形成面と平
行な方向の超音波振動をツール56によってチップ32
に印加すればよい。このようにすると、ヒートステージ
30にて例えば200℃まで加熱するのみで十分な接続
を得ることができる。
(d)に示されるようなフェースダウンボンディングを
実行する。すなわち、パッケージ42に収納されたチッ
プ32をヒートステージ30上で加熱しながら、ツール
56にてIDT形成面の裏側の面から荷重を加えると、
各電極と各パッドがバンプ28にて電気的かつ機械的に
接続される。その際、ヒートステージ30による加熱と
ツール56による荷重のみでは、例えば350℃といっ
た高い温度を加えねばならない。このような高温を避け
るためには、図9に示されるように、IDT形成面と平
行な方向の超音波振動をツール56によってチップ32
に印加すればよい。このようにすると、ヒートステージ
30にて例えば200℃まで加熱するのみで十分な接続
を得ることができる。
【0012】このようにして各電極と各パッドを接続し
た後、チップ32はパッケージ42ごと上下反転され、
ヒートステージ30上に載置される。その際、パッケー
ジ42の下には金/錫離半田60を介し金属のカバー5
8を敷く(図5(e))。この状態でヒートステージ3
0により加熱すると、金/錫半田60によりカバー58
がパッケージ42と一体化する。これにより、図5
(f)に示されるような断面構造を有する表面実装型の
SAWデバイスが得られる。
た後、チップ32はパッケージ42ごと上下反転され、
ヒートステージ30上に載置される。その際、パッケー
ジ42の下には金/錫離半田60を介し金属のカバー5
8を敷く(図5(e))。この状態でヒートステージ3
0により加熱すると、金/錫半田60によりカバー58
がパッケージ42と一体化する。これにより、図5
(f)に示されるような断面構造を有する表面実装型の
SAWデバイスが得られる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】所望の特性を有するS
AWデバイスを実現するという面でバンプ接続に要求さ
れる条件としては、電気的な接続が良好であること、S
AWの伝搬等に影響を与えるような表面状態の変化を発
生させないこと、機械的な接続の強度が高いこと等があ
る。上述の構成のようにバンプとして金バンプを使用す
る等すれば、これらのうち良好な電気的接続や表面状態
変化防止等の条件を満たすことができる。一方、十分な
機械的接続強度を確保するという条件を満たすには、ど
の程度の荷重を加えればよいのか、どの程度の超音波振
動を加えればよいのか、といった検討が必要になる。
AWデバイスを実現するという面でバンプ接続に要求さ
れる条件としては、電気的な接続が良好であること、S
AWの伝搬等に影響を与えるような表面状態の変化を発
生させないこと、機械的な接続の強度が高いこと等があ
る。上述の構成のようにバンプとして金バンプを使用す
る等すれば、これらのうち良好な電気的接続や表面状態
変化防止等の条件を満たすことができる。一方、十分な
機械的接続強度を確保するという条件を満たすには、ど
の程度の荷重を加えればよいのか、どの程度の超音波振
動を加えればよいのか、といった検討が必要になる。
【0014】図10には、印加する超音波振動のパワー
を変化させた場合にバンプによる機械的な接続の強度
(ここではバンプ1個当たりシェア強度)がどの様に変
化するのかが示されている。この図から明らかなよう
に、シェア強度は超音波振動のパワーを大きくすると高
くなる。これは、大パワーの超音波振動を印加するとバ
ンプのつぶれかたが大きくなり、その結果バンプと電極
及びパッドとの機械的な接続強度が高まることを意味し
ている。つまり、機械的接続強度を向上させるには超音
波振動のパワーを大きくすればよい。しかし、超音波振
動のパワーを大きくすると同時にクラック発生率も高く
なる。すなわち、大パワーの超音波振動を印加するとチ
ップ上の電極に大きな力が加わり、その結果電極が破壊
する。
を変化させた場合にバンプによる機械的な接続の強度
(ここではバンプ1個当たりシェア強度)がどの様に変
化するのかが示されている。この図から明らかなよう
に、シェア強度は超音波振動のパワーを大きくすると高
くなる。これは、大パワーの超音波振動を印加するとバ
ンプのつぶれかたが大きくなり、その結果バンプと電極
及びパッドとの機械的な接続強度が高まることを意味し
ている。つまり、機械的接続強度を向上させるには超音
波振動のパワーを大きくすればよい。しかし、超音波振
動のパワーを大きくすると同時にクラック発生率も高く
なる。すなわち、大パワーの超音波振動を印加するとチ
ップ上の電極に大きな力が加わり、その結果電極が破壊
する。
【0015】このように、従来の製造方法には、シェア
強度を高めようとするとクラック発生率が高まってしま
い、またクラック発生率を低くしようとするとシェア強
度が低くなる、という問題点があった。すなわち、十分
な機械的接続強度を得ようとすると歩留まりが悪くな
り、逆に十分な歩留まりを得ようとする機械的接続強度
が悪くなるという問題が生じていた。従って、超音波振
動のパワーをどの程度にすればよいのかの決定も困難で
あった。
強度を高めようとするとクラック発生率が高まってしま
い、またクラック発生率を低くしようとするとシェア強
度が低くなる、という問題点があった。すなわち、十分
な機械的接続強度を得ようとすると歩留まりが悪くな
り、逆に十分な歩留まりを得ようとする機械的接続強度
が悪くなるという問題が生じていた。従って、超音波振
動のパワーをどの程度にすればよいのかの決定も困難で
あった。
【0016】本発明は、このような問題点を解決するこ
とを課題としてなされたものであり、チップ構造の改良
及び超音波振動方向の設定により、十分な接続強度を維
持しながらクラックの発生率を低減し、また特性への影
響を阻止することを目的とする。
とを課題としてなされたものであり、チップ構造の改良
及び超音波振動方向の設定により、十分な接続強度を維
持しながらクラックの発生率を低減し、また特性への影
響を阻止することを目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】本願発明の発明者は、上
述のクラック発生がどのような傾向で発生しているのか
を実験的に追及し、その結果、クラックが外周部よりの
部位に発生しやすい、との知見を得るに至った。発明者
は、この傾向がどの様な原理にて発生しているのかを検
討し、その結果、図11に示される原理によるものと推
定した。
述のクラック発生がどのような傾向で発生しているのか
を実験的に追及し、その結果、クラックが外周部よりの
部位に発生しやすい、との知見を得るに至った。発明者
は、この傾向がどの様な原理にて発生しているのかを検
討し、その結果、図11に示される原理によるものと推
定した。
【0018】すなわち、図11(a)に示されるように
荷重の方向がIDT形成面24に対して垂直な方向であ
り超音波振動の方向は平行な方向であることからみて、
瞬時的には図11(b)に示されるような荷重と超音波
振動の合力がチップ32に作用していると考えられる。
このような斜め方向の合力が作用すると、チップ32の
外周部よりの部分は中心部よりの部分に比べ大きく沈み
込む。すなわち、チップ32の外周部よりに位置するバ
ンプ28は中心部よりのそれよりも大きくつぶれる。そ
の結果、外周部よりでクラックが多数発生する、という
現象が発生する。
荷重の方向がIDT形成面24に対して垂直な方向であ
り超音波振動の方向は平行な方向であることからみて、
瞬時的には図11(b)に示されるような荷重と超音波
振動の合力がチップ32に作用していると考えられる。
このような斜め方向の合力が作用すると、チップ32の
外周部よりの部分は中心部よりの部分に比べ大きく沈み
込む。すなわち、チップ32の外周部よりに位置するバ
ンプ28は中心部よりのそれよりも大きくつぶれる。そ
の結果、外周部よりでクラックが多数発生する、という
現象が発生する。
【0019】発明者は、このような知見に基づき、かつ
実験的な検証を経て、次のような発明に想到した。すな
わち、本発明の第1の構成は、入力電極と出力電極を結
ぶ直線のほぼ直上で、入力電極及び出力電極からみてI
DT形成面の外周部よりにあり、かつその間に少なくと
も入力電極及び出力電極を挟んでいる複数の箇所に、加
重及び超音波振動の作用に起因する破壊から入力電極及
び出力電極を保護するためのダミー電極をそれぞれ形成
し、超音波振動を上記直線の方向とほぼ平行な方向に沿
い印加することを特徴とする。
実験的な検証を経て、次のような発明に想到した。すな
わち、本発明の第1の構成は、入力電極と出力電極を結
ぶ直線のほぼ直上で、入力電極及び出力電極からみてI
DT形成面の外周部よりにあり、かつその間に少なくと
も入力電極及び出力電極を挟んでいる複数の箇所に、加
重及び超音波振動の作用に起因する破壊から入力電極及
び出力電極を保護するためのダミー電極をそれぞれ形成
し、超音波振動を上記直線の方向とほぼ平行な方向に沿
い印加することを特徴とする。
【0020】本発明の第2の構成は、入力電極と出力電
極を結ぶ直線と直交する直線のほぼ直上で、他の電極か
らみてIDT形成面の外周部よりにあり、かつその間に
他の電極を挟んでいる複数の箇所に、加重及び超音波振
動の作用に起因する破壊から他の電極を保護するための
ダミー電極をそれぞれ形成し、超音波振動を上記直交す
る直線の方向とほぼ平行な方向に沿い印加することを特
徴とする。
極を結ぶ直線と直交する直線のほぼ直上で、他の電極か
らみてIDT形成面の外周部よりにあり、かつその間に
他の電極を挟んでいる複数の箇所に、加重及び超音波振
動の作用に起因する破壊から他の電極を保護するための
ダミー電極をそれぞれ形成し、超音波振動を上記直交す
る直線の方向とほぼ平行な方向に沿い印加することを特
徴とする。
【0021】本発明の第3の構成は、アース電極相互間
を短絡するアース間短絡電極がIDT形成面上に形成さ
れており、上記超音波振動を入力電極と出力電極を結ぶ
直線と直交する直線の方向とほぼ平行な方向に沿い印加
することを特徴とする。
を短絡するアース間短絡電極がIDT形成面上に形成さ
れており、上記超音波振動を入力電極と出力電極を結ぶ
直線と直交する直線の方向とほぼ平行な方向に沿い印加
することを特徴とする。
【0022】
【作用】本発明の第1の構成においては、入力電極と出
力電極を結ぶ直線のほぼ直上で、入力電極及び出力電極
からみてIDT形成面の外周部よりにあり、かつその間
に少なくとも入力電極及び出力電極を挟んでいる複数の
箇所に、ダミー電極がそれぞれ形成される。荷重及び超
音波振動は、入力電極、出力電極及びアース電極に加え
ダミー電極上にもバンプを配置した上で、チップに印加
される。その際の超音波振動印加方向は、入力電極と出
力電極を結ぶ直線とほぼ平行な方向とする。このように
すると、入力電極及び出力電極に先行してダミー電極に
大きな合力が加わる結果、バンプ接続工程における入力
電極及び出力電極の破壊が生じにくくなる。従って、本
構成においては、ダミー電極を犠牲にしているため、超
音波振動のパワーを従来より大きめに設定することが可
能になり、ひいては十分な機械的接続強度と十分な歩留
まりとを同時に達成できる。
力電極を結ぶ直線のほぼ直上で、入力電極及び出力電極
からみてIDT形成面の外周部よりにあり、かつその間
に少なくとも入力電極及び出力電極を挟んでいる複数の
箇所に、ダミー電極がそれぞれ形成される。荷重及び超
音波振動は、入力電極、出力電極及びアース電極に加え
ダミー電極上にもバンプを配置した上で、チップに印加
される。その際の超音波振動印加方向は、入力電極と出
力電極を結ぶ直線とほぼ平行な方向とする。このように
すると、入力電極及び出力電極に先行してダミー電極に
大きな合力が加わる結果、バンプ接続工程における入力
電極及び出力電極の破壊が生じにくくなる。従って、本
構成においては、ダミー電極を犠牲にしているため、超
音波振動のパワーを従来より大きめに設定することが可
能になり、ひいては十分な機械的接続強度と十分な歩留
まりとを同時に達成できる。
【0023】本発明の第2の構成においては、入力電極
と出力電極を結ぶ直線と直交する直線のほぼ直上で、他
の電極からみてIDT形成面の外周部よりにあり、かつ
その間に他の電極を挟んでいる複数の箇所に、ダミー電
極がそれぞれ形成される。荷重及び超音波振動は、入力
電極、出力電極及びアース電極に加えダミー電極上にも
バンプを配置した上で、チップに印加される。その際の
超音波振動印加方向は、当該直交する直線の方向とほぼ
平行な方向とする。このようにすると、入力電極、出力
電極及びアース電極に先行してダミー電極に大きな合力
が加わる結果、バンプ接続工程におけるこれらの電極の
破壊が生じにくくなる。従って、本構成においては、ダ
ミー電極を犠牲にしているため、超音波振動のパワーを
従来より大きめに設定することが可能になり、ひいては
十分な機械的接続強度と十分な歩留まりとを同時に達成
できる。
と出力電極を結ぶ直線と直交する直線のほぼ直上で、他
の電極からみてIDT形成面の外周部よりにあり、かつ
その間に他の電極を挟んでいる複数の箇所に、ダミー電
極がそれぞれ形成される。荷重及び超音波振動は、入力
電極、出力電極及びアース電極に加えダミー電極上にも
バンプを配置した上で、チップに印加される。その際の
超音波振動印加方向は、当該直交する直線の方向とほぼ
平行な方向とする。このようにすると、入力電極、出力
電極及びアース電極に先行してダミー電極に大きな合力
が加わる結果、バンプ接続工程におけるこれらの電極の
破壊が生じにくくなる。従って、本構成においては、ダ
ミー電極を犠牲にしているため、超音波振動のパワーを
従来より大きめに設定することが可能になり、ひいては
十分な機械的接続強度と十分な歩留まりとを同時に達成
できる。
【0024】本発明の第3の構成においては、アース電
極相互間を短絡するアース間短絡電極がIDT形成面上
に形成される。超音波振動は、入力電極と出力電極を結
ぶ直線と直交する直線の方向とほぼ平行な方向に沿い印
加される。このようにすると、超音波振動の方向が入力
電極と出力電極を結ぶ直線とほぼ直交する方向であるた
め、入力電極及び出力電極の破壊が生じにくくなる。ま
た、仮にいずれかのアース電極に関しバンプ接続が良好
でなかったとしても、他のアース電極を介し接地が確保
される結果、クラックが発生しても特性変化は生じな
い。なお、この構成は、第2の構成と組み合わせること
が可能であり、その場合電極破壊防止の作用がより顕著
になる。
極相互間を短絡するアース間短絡電極がIDT形成面上
に形成される。超音波振動は、入力電極と出力電極を結
ぶ直線と直交する直線の方向とほぼ平行な方向に沿い印
加される。このようにすると、超音波振動の方向が入力
電極と出力電極を結ぶ直線とほぼ直交する方向であるた
め、入力電極及び出力電極の破壊が生じにくくなる。ま
た、仮にいずれかのアース電極に関しバンプ接続が良好
でなかったとしても、他のアース電極を介し接地が確保
される結果、クラックが発生しても特性変化は生じな
い。なお、この構成は、第2の構成と組み合わせること
が可能であり、その場合電極破壊防止の作用がより顕著
になる。
【0025】
【実施例】以下、本発明の好適な実施例について図面に
基づき説明する。なお、図4〜図11に示される従来例
と同様の構成には同一の符号を付し説明を省略する。
基づき説明する。なお、図4〜図11に示される従来例
と同様の構成には同一の符号を付し説明を省略する。
【0026】図1には、本発明の第1実施例におけるチ
ップ32の構造、特にそのIDT形成面24上における
電極配置が示されている。この図に示されるように、本
実施例においては、入力電極36と出力電極38を結ぶ
直線上IDT形成面24の外周部寄りに、2個のダミー
電極66が設けられている。従って、これらのダミー電
極66は、その際に入力電極36及び出力電極38を挟
み込むような位置にある。本実施例の場合、図5(a)
に示されるパターニング工程において、IDT34、入
力電極36、出力電極38及びアース電極40と共に、
これらのダミー電極66が形成される。
ップ32の構造、特にそのIDT形成面24上における
電極配置が示されている。この図に示されるように、本
実施例においては、入力電極36と出力電極38を結ぶ
直線上IDT形成面24の外周部寄りに、2個のダミー
電極66が設けられている。従って、これらのダミー電
極66は、その際に入力電極36及び出力電極38を挟
み込むような位置にある。本実施例の場合、図5(a)
に示されるパターニング工程において、IDT34、入
力電極36、出力電極38及びアース電極40と共に、
これらのダミー電極66が形成される。
【0027】さらに、本実施例においては、図5(b)
に示されているボールボンディング工程において各ダミ
ー電極66上にダミーバンプ62が配置される。バンプ
28及びダミーバンプ62が配置されたチップ32は、
図5(c)に示される位置決め工程を経た上で、図5
(d)に示されるフェースダウンボンディングに供され
る。本実施例の場合、図5(d)における超音波振動の
印加方向は、図1中矢印で示されるように入力電極36
と出力電極38を結ぶ直線とほぼ平行な方向である。フ
ェースダウンボンディングが行われた後、図5(e)に
示されるカバー58の取り付け工程が実行され、図5
(f)に示されるようなSAWデバイスが得られる。
に示されているボールボンディング工程において各ダミ
ー電極66上にダミーバンプ62が配置される。バンプ
28及びダミーバンプ62が配置されたチップ32は、
図5(c)に示される位置決め工程を経た上で、図5
(d)に示されるフェースダウンボンディングに供され
る。本実施例の場合、図5(d)における超音波振動の
印加方向は、図1中矢印で示されるように入力電極36
と出力電極38を結ぶ直線とほぼ平行な方向である。フ
ェースダウンボンディングが行われた後、図5(e)に
示されるカバー58の取り付け工程が実行され、図5
(f)に示されるようなSAWデバイスが得られる。
【0028】従って、本実施例によれば、入力電極36
及び出力電極38を挟み込むような位置にダミー電極6
6を配置し、さらに入力電極36と出力電極38を結ぶ
直線とほぼ平行な方向に沿って超音波振動を印加するよ
うにしているため、チップ32の背面からツール56に
より加える加重と超音波振動の合力が図11に示される
ような原理にてクラックを発生させるとしても、このク
ラックはダミー電極66にて発生するのに止まり、入力
電極36や出力電極38が破壊されることはほとんどな
くなる。従って、本実施例によれば、超音波振動のパワ
ーを高めることができ、従ってシェア強度をさらに高め
ながらクラック発生率を抑制することができる。具体的
には、超音波振動のパワーを33%程度増大させこれに
ともないシェア強度を75%程度改善することができ
る。
及び出力電極38を挟み込むような位置にダミー電極6
6を配置し、さらに入力電極36と出力電極38を結ぶ
直線とほぼ平行な方向に沿って超音波振動を印加するよ
うにしているため、チップ32の背面からツール56に
より加える加重と超音波振動の合力が図11に示される
ような原理にてクラックを発生させるとしても、このク
ラックはダミー電極66にて発生するのに止まり、入力
電極36や出力電極38が破壊されることはほとんどな
くなる。従って、本実施例によれば、超音波振動のパワ
ーを高めることができ、従ってシェア強度をさらに高め
ながらクラック発生率を抑制することができる。具体的
には、超音波振動のパワーを33%程度増大させこれに
ともないシェア強度を75%程度改善することができ
る。
【0029】図2には、本発明の第2実施例におけるチ
ップ32の構造、特にそのIDT形成面24上の電極配
置が示されている。この実施例においては、IDT形成
面24の4個の隅部にダミー電極66が配置されてお
り、また、ボールボンディング工程においてこのダミー
電極66上にそれぞれダミーバンプ62が配置される。
さらに、フェースダウンボンディングの際の超音波振動
の印加方向は、図中矢印で示されるように、入力電極3
6と出力電極38を結ぶ直線とほぼ直交する方向であ
る。
ップ32の構造、特にそのIDT形成面24上の電極配
置が示されている。この実施例においては、IDT形成
面24の4個の隅部にダミー電極66が配置されてお
り、また、ボールボンディング工程においてこのダミー
電極66上にそれぞれダミーバンプ62が配置される。
さらに、フェースダウンボンディングの際の超音波振動
の印加方向は、図中矢印で示されるように、入力電極3
6と出力電極38を結ぶ直線とほぼ直交する方向であ
る。
【0030】従って、本実施例によれば、フェースダウ
ンボンディングの際、最も外側にあるダミー電極66に
てクラックが先行して発生し、その結果他の電極、すな
わち入力電極36、出力電極38及びアース電極40に
関してはクラックが発生しにくくなる。その結果、第1
実施例と同様、高いシェア強度及び低いクラック発生率
をともに実現可能になる。
ンボンディングの際、最も外側にあるダミー電極66に
てクラックが先行して発生し、その結果他の電極、すな
わち入力電極36、出力電極38及びアース電極40に
関してはクラックが発生しにくくなる。その結果、第1
実施例と同様、高いシェア強度及び低いクラック発生率
をともに実現可能になる。
【0031】図3には、本発明の第3実施例におけるチ
ップ32、特にそのIDT形成面24上における電極配
置が示されている。この図においては、IDT形成面2
4のうちIDT34周辺の構造が拡大して示されてい
る。この図に示されるように、本実施例においては、相
隣接するIDT34に係るアース電極40の間がアース
間短絡電極64によって短絡されている。従って、例え
ば図示されている2個のアース間短絡電極40のいずれ
かにおいてクラックが発生し対応するパッドとの接続が
良好とならなかった場合であっても、アース間短絡電極
64を介して接続されている他のアース電極40にてパ
ッドとの接続を確保することができるため、アース電極
40におけるクラック発生の如何にかかわらず、所望の
特性を得ることができる。なお、この実施例は、アース
電極40におけるクラック発生への対策であるから、特
に入力電極36及び出力電極38におけるクラック発生
防止を目的としている第1実施例の構成と組み合わせる
ことにより、大きな効果を得ることができる。従って、
第3実施例における超音波信号の印加方向は、入力電極
36と出力電極38とを結ぶ直線とほぼ平行な方向とす
るのが好ましい。
ップ32、特にそのIDT形成面24上における電極配
置が示されている。この図においては、IDT形成面2
4のうちIDT34周辺の構造が拡大して示されてい
る。この図に示されるように、本実施例においては、相
隣接するIDT34に係るアース電極40の間がアース
間短絡電極64によって短絡されている。従って、例え
ば図示されている2個のアース間短絡電極40のいずれ
かにおいてクラックが発生し対応するパッドとの接続が
良好とならなかった場合であっても、アース間短絡電極
64を介して接続されている他のアース電極40にてパ
ッドとの接続を確保することができるため、アース電極
40におけるクラック発生の如何にかかわらず、所望の
特性を得ることができる。なお、この実施例は、アース
電極40におけるクラック発生への対策であるから、特
に入力電極36及び出力電極38におけるクラック発生
防止を目的としている第1実施例の構成と組み合わせる
ことにより、大きな効果を得ることができる。従って、
第3実施例における超音波信号の印加方向は、入力電極
36と出力電極38とを結ぶ直線とほぼ平行な方向とす
るのが好ましい。
【0032】さらに、以上の実施例においては、入力電
極36及び出力電極38がIDT形成面24の上側の辺
又は下側の辺のほぼ中央に位置しているが、本発明は、
このような配置に限定されるものではない。例えば、入
力電極36を右寄りに、出力電極38を左寄りに設ける
ような配置にも、本発明は適用することが可能である。
但し、入力電極36及び出力電極38をできるだけID
T形成面24の中央に近付けたほうが、パンブ28を接
続する際や実使用時における熱膨張の影響を確実に避け
ることができるという点で、好ましい。また、第1実施
例においては、ダミー電極66が入力電極36及び出力
電極38とは別体に形成されているが、これは一体とし
ても構わない。さらに、フェースダウンボンディングに
よってダミーバンプ62を介しダミー電極66が接続さ
れるパッドは、入力パッド48、出力パッド50及びア
ースパッド52のいずれとしてもよく、またダミーバン
プ62との接続専用のパッドを設けるようにしても構わ
ない。
極36及び出力電極38がIDT形成面24の上側の辺
又は下側の辺のほぼ中央に位置しているが、本発明は、
このような配置に限定されるものではない。例えば、入
力電極36を右寄りに、出力電極38を左寄りに設ける
ような配置にも、本発明は適用することが可能である。
但し、入力電極36及び出力電極38をできるだけID
T形成面24の中央に近付けたほうが、パンブ28を接
続する際や実使用時における熱膨張の影響を確実に避け
ることができるという点で、好ましい。また、第1実施
例においては、ダミー電極66が入力電極36及び出力
電極38とは別体に形成されているが、これは一体とし
ても構わない。さらに、フェースダウンボンディングに
よってダミーバンプ62を介しダミー電極66が接続さ
れるパッドは、入力パッド48、出力パッド50及びア
ースパッド52のいずれとしてもよく、またダミーバン
プ62との接続専用のパッドを設けるようにしても構わ
ない。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の第1の構
成によれば、入力電極と出力電極を結ぶ直線のほぼ直上
で、入力電極及び出力電極からみてIDT形成面の外周
部よりにあり、かつその間に少なくとも入力電極及び出
力電極を挟んでいる複数の箇所に、ダミー電極をそれぞ
れ形成しておき、フェースダウンボンディングの際入力
電極と出力電極を結ぶ直線とほぼ平行な方向に沿って超
音波振動を印加するようにしたため、入力電極及び出力
電極の破壊が生じにくくなる。従って、超音波振動のパ
ワーを従来より大きめに設定することが可能になり、ひ
いては十分な機械的接続強度と十分な歩留まりとを同時
に達成できる。
成によれば、入力電極と出力電極を結ぶ直線のほぼ直上
で、入力電極及び出力電極からみてIDT形成面の外周
部よりにあり、かつその間に少なくとも入力電極及び出
力電極を挟んでいる複数の箇所に、ダミー電極をそれぞ
れ形成しておき、フェースダウンボンディングの際入力
電極と出力電極を結ぶ直線とほぼ平行な方向に沿って超
音波振動を印加するようにしたため、入力電極及び出力
電極の破壊が生じにくくなる。従って、超音波振動のパ
ワーを従来より大きめに設定することが可能になり、ひ
いては十分な機械的接続強度と十分な歩留まりとを同時
に達成できる。
【0034】本発明の第2の構成によれば、入力電極と
出力電極を結ぶ直線と直交する直線のほぼ直上で、他の
電極からみてIDT形成面の外周部よりにあり、かつそ
の間に他の電極を挟んでいる複数の箇所に、ダミー電極
をそれぞれ形成しておき、フェースダウンボンディング
の際当該直交する直線の方向とほぼ平行な方向に沿って
超音波振動を印加するようにしたため、入力電極、出力
電極及びアース電極の電極の破壊が生じにくくなる。特
に、超音波振動の方向が入力電極と出力電極を結ぶ直線
とほぼ直交する方向であるため、入力電極及び出力電極
の破壊は特に生じにくい。従って、本構成によれば、超
音波振動のパワーを従来より大きめに設定することが可
能になり、ひいては十分な機械的接続強度と十分な歩留
まりとを同時に達成できる。
出力電極を結ぶ直線と直交する直線のほぼ直上で、他の
電極からみてIDT形成面の外周部よりにあり、かつそ
の間に他の電極を挟んでいる複数の箇所に、ダミー電極
をそれぞれ形成しておき、フェースダウンボンディング
の際当該直交する直線の方向とほぼ平行な方向に沿って
超音波振動を印加するようにしたため、入力電極、出力
電極及びアース電極の電極の破壊が生じにくくなる。特
に、超音波振動の方向が入力電極と出力電極を結ぶ直線
とほぼ直交する方向であるため、入力電極及び出力電極
の破壊は特に生じにくい。従って、本構成によれば、超
音波振動のパワーを従来より大きめに設定することが可
能になり、ひいては十分な機械的接続強度と十分な歩留
まりとを同時に達成できる。
【0035】本発明の第3の構成によれば、アース電極
相互間を短絡するアース間短絡電極をIDT形成面上に
形成しておき、フェースダウンボンディングの際入力電
極と出力電極を結ぶ直線と直交する直線の方向とほぼ平
行な方向に沿って超音波振動を印加するようにしたた
め、超音波振動の方向が入力電極と出力電極を結ぶ直線
とほぼ直交する方向である結果入力電極及び出力電極の
破壊が生じにくくなる。また、仮にいずれかのアース電
極に関しバンプ接続が良好でなかったとしても、他のア
ース電極を介し接地が確保される結果、クラックが発生
しても特性変化は生じない。なお、この構成は、第2の
構成と組み合わせることが可能であり、その場合電極破
壊防止の効果がより顕著になる。
相互間を短絡するアース間短絡電極をIDT形成面上に
形成しておき、フェースダウンボンディングの際入力電
極と出力電極を結ぶ直線と直交する直線の方向とほぼ平
行な方向に沿って超音波振動を印加するようにしたた
め、超音波振動の方向が入力電極と出力電極を結ぶ直線
とほぼ直交する方向である結果入力電極及び出力電極の
破壊が生じにくくなる。また、仮にいずれかのアース電
極に関しバンプ接続が良好でなかったとしても、他のア
ース電極を介し接地が確保される結果、クラックが発生
しても特性変化は生じない。なお、この構成は、第2の
構成と組み合わせることが可能であり、その場合電極破
壊防止の効果がより顕著になる。
【図1】 本発明の第1実施例に係るSAWデバイスの
チップ構造を示す平面図である。
チップ構造を示す平面図である。
【図2】 本発明の第2実施例に係るSAWデバイスの
チップ構造を示す平面図である。
チップ構造を示す平面図である。
【図3】 本発明の第3実施例に係るSAWデバイスの
チップ構造を示す平面図である。
チップ構造を示す平面図である。
【図4】 SAWデバイスの使用環境の一例を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図5】 フリップチップ技術を用いてSAWデバイス
を製造する際の工程の流れを示す図である。
を製造する際の工程の流れを示す図である。
【図6】 従来例における電極配置の一例を示す平面図
である。
である。
【図7】 従来例におけるパッド配置の一例を示す平面
図である。
図である。
【図8】 パッケージの外観を示す分解斜視図である。
【図9】 従来例に係るフェースダウンボンディング方
法の概略を示す図である。
法の概略を示す図である。
【図10】 超音波振動のパワーを変化させた場合にバ
ンプ1個当りシェア強度やクラック発生率がどのように
変化するかを示す図である。
ンプ1個当りシェア強度やクラック発生率がどのように
変化するかを示す図である。
【図11】 チップの外周部寄りに比較的多数のクラッ
クが発生する原理を説明する図である。
クが発生する原理を説明する図である。
【符号の説明】 18,20 BPF、22 ウエハ、24 IDT形成
面、26 キャピラリ、28 バンプ、30 ヒートス
テージ、32 チップ、34 IDT、36入力電極、
38 出力電極、40 アース電極、42 パッケー
ジ、46 チップ搭載面、48 入力パッド、50 出
力パッド、52 アースパッド、56ツール、62 ダ
ミーバンプ、64 アース間短絡電極、66 ダミー電
極。
面、26 キャピラリ、28 バンプ、30 ヒートス
テージ、32 チップ、34 IDT、36入力電極、
38 出力電極、40 アース電極、42 パッケー
ジ、46 チップ搭載面、48 入力パッド、50 出
力パッド、52 アースパッド、56ツール、62 ダ
ミーバンプ、64 アース間短絡電極、66 ダミー電
極。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03H 3/08 H03H 9/145 H03H 9/25
Claims (7)
- 【請求項1】 そのIDT形成面上に複数の電極が形成
されている弾性表面波チップ及びそのチップ搭載面上に
複数のパッドが形成されている表面実装用パッケージを
準備しておき、上記複数の電極の上にバンプをそれぞれ
配置し、上記複数のパッドが上記複数の電極に対向する
よう弾性表面波チップを表面実装用パッケージに対し位
置決めした上で、電極とパッドがバンプにて電気的及び
機械的に接続されるよう、弾性表面波チップに対しその
IDT形成面の裏面から加重を加えると同時にIDT形
成面と平行な方向に沿って超音波振動を印加することに
より、弾性表面波チップを表面実装用パッケージにフェ
ースダウンボンディングする弾性表面波デバイス製造方
法において、 上記複数の電極が、IDTへの信号入力のための入力電
極、IDTからの信号出力のための出力電極、IDTを
介して入力電極又は出力電極と対をなす接地のための複
数のアース電極、並びに加重及び超音波振動の作用に起
因する破壊から入力電極及び出力電極を保護するための
複数のダミー電極を含み、 入力電極と出力電極を結ぶ直線のほぼ直上で、入力電極
及び出力電極からみてIDT形成面の外周部よりにあ
り、かつその間に少なくとも入力電極及び出力電極を挟
んでいる複数の箇所に、上記ダミー電極が形成されてお
り、 上記超音波振動を、上記直線の方向とほぼ平行な方向に
沿い印加することを特徴とする方法。 - 【請求項2】 請求項1記載の方法において、アース電
極相互間を短絡するアース間短絡電極がIDT形成面上
に形成されていることを特徴とする方法。 - 【請求項3】 そのIDT形成面上に複数の電極が形成
されている弾性表面波チップ及びそのチップ搭載面上に
複数のパッドが形成されている表面実装用パッケージを
準備しておき、上記複数の電極の上にバンプをそれぞれ
配置し、上記複数のパッドが上記複数の電極に対向する
よう弾性表面波チップを表面実装用パッケージに対し位
置決めした上で、電極とパッドがバンプにて電気的及び
機械的に接続されるよう、弾性表面波チップに対しその
IDT形成面の裏面から加重を加えると同時にIDT形
成面と平行な方向に沿って超音波振動を印加することに
より、弾性表面波チップを表面実装用パッケージにフェ
ースダウンボンディングする弾性表面波デバイス製造方
法において、 上記複数の電極が、IDTへの信号入力のための入力電
極、IDTからの信号出力のための出力電極、IDTを
介して入力電極又は出力電極と対をなす接地のための複
数のアース電極、並びに加重及び超音波振動の作用に起
因する破壊から他の電極を保護するための複数のダミー
電極を含み、 入力電極と出力電極を結ぶ直線と直交する直線のほぼ直
上で、他の電極からみてIDT形成面の外周部よりにあ
り、かつその間に他の電極を挟んでいる複数の箇所に、
上記ダミー電極が形成されており、 上記超音波振動を、上記直交する直線の方向とほぼ平行
な方向に沿い印加することを特徴とする方法。 - 【請求項4】 そのIDT形成面上に複数の電極が形成
されている弾性表面波チップ及びそのチップ搭載面上に
複数のパッドが形成されている表面実装用パッケージを
準備しておき、上記複数の電極の上にバンプをそれぞれ
配置し、上記複数のパッドが上記複数の電極に対向する
よう弾性表面波チップを表面実装用パッケージに対し位
置決めした上で、電極とパッドがバンプにて電気的及び
機械的に接続されるよう、弾性表面波チップに対しその
IDT形成面の裏面から加重を加えると同時にIDT形
成面と平行な方向に沿って超音波振動を印加することに
より、弾性表面波チップを表面実装用パッケージにフェ
ースダウンボンディングする弾性表面波デバイス製造方
法において、 上記複数の電極が、IDTへの信号入力のための入力電
極、IDTからの信号出力のための出力電極、及びID
Tを介して入力電極又は出力電極と対をなす接地のため
の複数のアース電極を含み、 アース電極相互間を短絡するアース間短絡電極がIDT
形成面上に形成されており、 上記超音波振動を、入力電極と出力電極を結ぶ直線と直
交する直線の方向とほぼ平行な方向に沿い印加すること
を特徴とする方法。 - 【請求項5】 弾性表面波チップのIDT形成面上に形
成されている複数の電極の上にバンプを配置する手段
と、表面実装用パッケージのチップ搭載面に形成されて
いる複数のパッドのうち対応するパッドと対向するよう
上記複数の電極が位置決めした後、電極とパッドがバン
プにて電気的及び機械的に接続されるよう、弾性表面波
チップに対しそのIDT形成面の裏面から加重を加える
と同時にIDT形成面と平行な方向に沿って超音波振動
を印加する手段と、を備え、弾性表面波チップを表面実
装用パッケージにフェースダウンボンディングする弾性
表面波デバイス製造装置において、 請求項1乃至4記載の方法を実施する手段を備えること
を特徴とする装置。 - 【請求項6】 所定個数のIDT、IDTへの信号入力
のための入力電極、IDTからの信号出力のための出力
電極、及びIDTを介して入力電極又は出力電極と対を
なす接地のための複数のアース電極を有する弾性表面波
チップと、そのチップ搭載面上に弾性表面波チップがフ
ェースダウンボンディングされる表面実装用パッケージ
と、を備える弾性表面波デバイスにおいて、 請求項1乃至4記載の方法により製造されることを特徴
とするデバイス。 - 【請求項7】 請求項6記載の弾性表面波デバイスを備
えることを特徴とする通信装置。
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---|---|---|---|
JP13228195A JP3194849B2 (ja) | 1995-05-30 | 1995-05-30 | 弾性表面波デバイス製造方法 |
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JP13228195A JP3194849B2 (ja) | 1995-05-30 | 1995-05-30 | 弾性表面波デバイス製造方法 |
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JPH08330880A JPH08330880A (ja) | 1996-12-13 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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1995
- 1995-05-30 JP JP13228195A patent/JP3194849B2/ja not_active Expired - Lifetime
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US6483230B1 (en) | 1999-05-28 | 2002-11-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | High pressure metallic vapor discharge lamp |
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