JP3175333B2 - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JP3175333B2
JP3175333B2 JP25000392A JP25000392A JP3175333B2 JP 3175333 B2 JP3175333 B2 JP 3175333B2 JP 25000392 A JP25000392 A JP 25000392A JP 25000392 A JP25000392 A JP 25000392A JP 3175333 B2 JP3175333 B2 JP 3175333B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は液晶表示装置、その他各
種半導体デバイス等の各種薄膜デバイスにおける基板に
所定の薄膜を形成したり、形成した薄膜をエッチングし
て所定パターンを形成する等の基板処理を行う装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】薄膜デバイスの基板に所定の薄膜を形成
するにあたっては、プラズマCVD法、スパッタリング
法等が採用され、また形成した薄膜から配線パターン等
を形成するにあたっては、プラズマエッチング等の各種
ドライエッチングが採用されている。このような基板処
理を行う従来の装置は、基板を1枚1枚処理するもの、
特開昭60−77971号公報に開示されているよう
に、複数枚をセットしておいてバッチ処理するもの、特
開昭62−161959号公報に開示され、或いは図1
8に示すように、被処理基板を順次供給して連続的に処
理を行うもの等、各種タイプのものが知られている。
【0003】特開昭60−77971号公報に記載の基
板処理装置では、基板支持トレイが垂直状に立てた姿勢
でプロセス室に設置され、基板は該トレイの両面に立て
て支持され、処理される。また、特開昭62−1619
59号公報記載の装置では、基板が平坦水平状の姿勢で
連続的に供給され、その姿勢で一方向に進められて処理
を受ける。
【0004】図18に例示する装置は、基板に窒化シリ
コン(SiN)膜、アモルファスシリコン(a−Si)
膜、n型アモルファスシリコン膜(又は窒化シリコン)
膜を順次形成するための、いわゆるインライン型の基板
処理装置で、被処理基板を装着するロード室901、処
理済基板を取り外すアンロード室902、それら両室の
間に順次配置された予備加熱室903、第1プロセス室
904、冷却室905、第2プロセス室906、第3プ
ロセス室907等を有するものである。基板はロード室
901においてトレイ移動手段上の基板支持トレイの両
面にそれぞれ1又は複数枚ずつ装着され、該トレイ移動
手段にて立てた姿勢でロード室901からアンロード室
902の方へ一方向に搬送され、途中、処理を受ける。
アンロード室902では処理済基板が基板支持トレイご
と取り出され、該トレイから取り外される。空になった
トレイはロード室901に戻される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、特開昭60−
77971号公報記載の装置では、基板はトレイの両面
に立てて支持され、その姿勢で処理を受けるので、複数
枚を一度にバッチ処理できるものの、同一の被処理基板
に対し、異なる処理を次々と能率良く行えない。また、
図18に示す装置や特開昭62−161959号公報記
載の装置では、バッチ処理に比べると、基板を次々に連
続的に処理できるものの、装置全体の中で、処理の遅い
部分があると、全体の処理進行がその部分に支配されて
遅れてしまうし、ある位置でトラブルが発生すると、そ
のために全体を停止させざるをえないといった問題があ
る。図18の装置の場合、このような問題の対策とし
て、基板支持トレイの両面のそれぞれに複数枚の基板を
装着し、できるだけ大量処理しようとすると、例えば成
膜処理において、各基板における各部の膜厚の均一性が
悪化する。
【0006】そこで本発明は、従来のバッチ処理型の基
板処理装置に比べると勿論のこと、インライン型等の被
処理基板を順次供給できる基板処理装置と比べても、能
率良く、所望の基板処理を実施できる基板処理装置を提
供することを課題とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決する本発
明に係る基板処理装置は、被処理基板を装着するための
ロード室と、前記基板に目的の処理を施すプロセス室
と、処理済基板を取り出すためのアンロード室と、前記
ロード室、プロセス室及びアンロード室を接続する基板
搬送室と、前記基板を支持する基板支持トレイと、前記
基板支持トレイを前記室間で移動させるトレイ移動手段
とを備え、前記基板搬送室は前記ロード室と前記プロセ
ス室相互、前記プロセス室相互及び前記プロセス室と前
記アンロード室相互をそれぞれ接続するように配置され
ている。前記基板搬送室は一つだけの場合も、複数の場
合も考えられる。
【0008】前記ロード室は前記目的とする処理前の基
板を予備加熱する予備加熱室を介して前記基板搬送室に
接続されてもよい。また、前記アンロード室は前記目的
とする処理終了後の基板を冷却する予備冷却室を介して
前記基板搬送室に接続されてもよい。さらに、前記予備
加熱室が予備冷却室を兼ねるように構成され、前記予備
冷却室が予備加熱室を兼ねるように構成されてもよい。
【0009】前記基板支持トレイ及びトレイ移動手段は
種々の態様のものが考えられるが、ここでは、前記基板
支持トレイはその両面に前記基板を支持できるように構
成されており、前記トレイ移動手段は該基板支持トレイ
を前記基板支持両面が立てて配置されるように立てた姿
勢で移動させるように構成されている。
【0010】前記ロード室、アンロード室については、
次の二つの態様を挙げることができる。 <第1の態様> 前記ロード室が、前記トレイ移動手段にて該ロード室に
配置されるトレイをその各基板支持面が基板装着位置に
配置されるように回動させるトレイ回動手段と、該ロー
ド室外に平坦水平状の姿勢で配置された被処理基板を取
り込み、立てた状態で前記基板装着位置に臨むチャック
位置へ搬送する基板取込み手段と、該チャック位置へ搬
送されてきた基板を保持して前記トレイの基板支持面へ
渡すチャック手段とを含んでおり、前記アンロード室
が、前記トレイ移動手段にて該アンロード室に配置され
るトレイをその各基板支持面が基板取出し位置に配置さ
れるように回動させるトレイ回動手段と、該トレイの基
板支持面から処理済基板を受け取るチャック手段と、該
チャック手段から処理済基板を受け取り、平坦水平状の
姿勢としてアンロード室外へ出す基板取出し手段とを含
んでいる態様である。
【0011】<第2の態様> 前記ロード室に、前記基板支持トレイを支持して該トレ
イをその各基板支持面が交互に所定方向に向くように回
動させる手段と、該トレイ回動手段に支持され、被処理
基板を装着された前記基板支持トレイを立て起こして前
記トレイ移動手段に装着する手段とを付設し、前記アン
ロード室に、処理済基板を支持している前記基板支持ト
レイを前記トレイ移動手段から横倒し状に取り出す手段
と、該取り出された基板支持トレイをその各基板支持面
が交互に所定方向に向くように回動させる手段とを付設
した態様である。
【0012】
【作用】本発明基板処理装置によると、基板はロード室
において基板支持トレイに支持されて装着され、該トレ
イがトレイ移動手段により搬送されることで基板搬送室
を経て一つのプロセス室へ導かれる。或いは、予備加熱
室が備わっているときは、予備加熱室内へ搬送され、こ
こで必要に応じ基板が予備加熱されたのち、基板搬送室
を経て一つのプロセス室へ導かれる。
【0013】ここで基板が目的の処理(プラズマCV
D、スパッタリング等による成膜やエッチング等の処
理)を受けたのち、トレイごと基板搬送室を経て直ち
に、或いはさらに1又は2以上のプロセス室で処理を受
けたのち、アンロード室へ搬送される。或いは、予備冷
却室が備わっているときは、該予備冷却室へ搬送され、
ここで必要に応じ、基板がその取り出し前の予備冷却を
受けたのち、アンロード室へ搬送される。アンロード室
では処理済基板が取り出される。
【0014】このようにして空になったトレイはロード
室側へ戻され、再び基板を装着され、これら基板もプロ
セス室へ送られ、目的とする処理を受ける。前記各室
は、それぞれ操作の各段階で、必要に応じ、適宜真空引
きされる。かくして、基板が順次連続的に処理を受け
る。なお、予備加熱室、予備冷却室が備わっていない場
合や、備わっていても使用しない場合には、アンロード
室側において空になったトレイに、このアンロード室側
において被処理基板を装着し、該トレイを逆の操作でロ
ード室側へ進め、その途中でこれら基板に目的とする処
理を施すこともできる。
【0015】また、予備加熱室や予備冷却室を使用する
場合でも、予備加熱室が予備冷却室を兼ねるように構成
され、予備冷却室が予備加熱室を兼ねるように構成され
ているときは、アンロード室側において空になったトレ
イに、このアンロード室側において被処理基板を装着
し、該トレイを逆の操作でロード室側へ進め、その途中
で基板の予備加熱、プロセス室における処理及び予備冷
却を実施し、ロード室において取り出すことができる。
【0016】いずれにしても、前記トレイ移動手段によ
るトレイ及び基板の搬送並びにプロセス室における基板
処理は、基板を立てた姿勢に維持して行われる。
【0017】前記ロード室、アンロード室について前記
第1の態様を採用する場合、例えば、基板支持カセット
等に平坦水平状に支持された基板がロード室の入口に配
置される。該基板は、ロード室の基板取込み手段にて1
枚ずつロード室内へ取り込まれるとともに立てられ、チ
ャック位置へ搬送される。チャック位置に置かれた基板
はチャック手段にて保持され、トレイの片面に渡され、
そこに装着される。このトレイは予めロード室内に配置
され、その片方の基板支持面が基板装着位置に配置され
ている。
【0018】1枚の基板装着のあと、トレイはトレイ回
動手段にて回され、もう一方の基板支持面が基板装着位
置に配置され、ここに前記と同様にしてもう1枚の基板
が装着される。かくして、両基板支持面に基板を装着さ
れたトレイは、必要に応じトレイ回動手段にて回されて
方向付けされ、トレイ移動手段にて搬送される。
【0019】また、アンロード室へ導かれたトレイは、
そこのトレイ回動手段にて必要に応じ回動され、トレイ
上の一方の基板が基板取外し位置に配置される。かくし
てチャック手段がトレイから該基板を受け取って保持
し、この保持された基板を基板取出し手段が受け取り、
平坦水平状の姿勢としてアンロード室外へ出し、そこに
待ち受ける基板支持カセット等に渡す。
【0020】トレイ上の一つの基板の取り出し終了後、
トレイ回動手段にてトレイが回され、もう一つの基板が
基板取外し位置に配置され、前記と同様にして該基板が
トレイから取り外され、アンロード室外へ出される。
た、前記ロード室、アンロード室について前記第2の態
様を採用する場合、例えば基板支持カセットに平坦水平
状に支持された基板がロード室の入口近傍に配置され、
適当な基板取り出し装置にて、該カセットから取り出さ
れ、次いで、予めトレイ回動手段に支持されて片方の基
板支持面を所定方向(例えば上方)へ向けられた基板支
持トレイの該支持面に装着される。しかるのち、該トレ
イがトレイ回動手段にて回され、もう一つの基板支持面
が所定方向へ向けられる。該支持面にも基板が装着され
たのち、該トレイはトレイ装着手段にて立て起こされ、
トレイ移動手段に装着される。かくして、該トレイは基
板と共に搬送される。
【0021】また、アンロード室へ導かれたトレイは、
そこのトレイ取り出し手段にてトレイ移動手段から取り
外されて横倒し状姿勢とされ、且つ、トレイ回動手段で
適宜回され、トレイの両支持面から処理済基板が取り外
される。
【0022】
【実施例】以下、本発明の1実施例を図1から図8を参
照して説明する。図1は全体の平面図、図2及び図3は
ロード室における基板取込み装置の側面図及び平面図、
図4はロード室に配置された基板支持トレイとこれを回
動させるトレイ回動装置の側面図、図5及び図6はロー
ド室のチャック装置の側面図及び背面図、図7は予備加
熱装置におけるローラコンベアの平面図、図8はプラズ
マCVD装置として構成した一つのプロセス室の概略断
面図である。
【0023】この基板処理装置は、図1に示すように、
ロード室1と、該ロード室に開閉可能のゲートバルブV
1を介して連設された予備加熱室2と、該予備加熱室に
開閉可能のゲートバルブV2を介して連設された第1の
基板搬送室3Aと、該搬送室3Aに開閉可能のゲートバ
ルブV3、V4及びV5を介してそれぞれ接続された第
1プロセス室P1、第2プロセス室P2及び第2の基板
搬送室3Bと、該搬送室3Bに開閉可能のゲートバルブ
V6、V7及びV8を介してそれぞれ接続された第3プ
ロセス室P3、第4プロセス室P4及び予備冷却室4
と、該予備冷却室に開閉可能のゲートバルブV9を介し
て接続されたアンロード室5とを備えている。
【0024】ロード室1の入口11には開閉可能のゲー
トバルブV11が、アンロード室5の出口51には開閉
可能のゲートバルブV51がそれぞれ設けてあり、これ
ら入口11、出口51はクリーンブースCB内にある。
前記各ゲートバルブは図示しないバルブ駆動装置にてそ
れぞれ独立して開閉されるようになっており、閉位置で
はゲート開口を気密にシールする。
【0025】また、前記各室には図示しない排気装置が
接続されており、該排気装置にて各室をそれぞれ独立し
て所定の真空度に維持できる。ロード室1は、その入口
11に臨む部分に基板取込み装置6を有するとともにゲ
ートバルブV1に臨む位置にチャック装置7及びトレイ
回動装置8を有している。
【0026】基板取込み装置6は、図2及び図3に示す
ように、基体フレーム61、この基体フレーム61を水
平面内で少なくとも90°回動させるモータ及びフレー
ム61を若干昇降させるモータを含む駆動部62、基体
フレーム61に搭載され、フレーム長手方向に往復動可
能の可動フレーム63、フレーム63を往復駆動する駆
動部63A、可動フレーム63上に搭載されたモータ6
4、及びモータ64の回転軸に固定された二股形の基板
支持部材65を含んでいる。
【0027】可動フレーム63の駆動部63Aは、フレ
ーム63内のモータ631、このモータにて回される雌
ネジ部材632、基体フレーム61に支持され、前記雌
ネジ部材632に螺合しているネジ棒633を備えてい
る。このモータ631の正転、逆転にて雌ネジ部材63
2を正転、逆転させることで可動フレーム63が基体フ
レーム61上をその長手方向に往復動する。
【0028】基板支持部材65は、全体が偏平に形成さ
れ、中空に形成された二股部652を有し、該二股部表
面に形成した複数の基板吸着孔651がこの中空部に連
通している。中空部は図示しない吸気装置に接続されて
いる。この基板支持部材65は、可動フレーム63の往
復動に伴って往復動でき、また、モータ64の正転、逆
転にて90°往復回動され、それによって、二股部65
2が水平面内に置かれる水平姿勢Q1、又は二股部65
2が垂直面内に置かれる垂直姿勢Q2のいずれかに選択
的に配置される。
【0029】チャック装置7は、図5及び図6に示すよ
うに、ロード室内に架設された基体フレーム71と、そ
の上に往復動可能に搭載された可動フレーム72とを含
む。基体フレーム71はロード室1の正面側の内壁から
後述するトレイ回動装置8の中央部近くまで長く延びて
いる。可動フレーム72はフレーム71の長手方向に沿
って駆動部72Aにて往復駆動される。
【0030】駆動部72Aは、基体フレーム71上のモ
ータ721、このモータにて回される雄ネジ部材72
2、可動フレーム72に支持され、前記雄ネジ部材72
2に螺合している雌ネジ部材723を備えている。この
モータ721の正転、逆転にて雄ネジ部材722を正
転、逆転させることで可動フレーム72が基体フレーム
71上を往復動する。
【0031】可動フレーム72は、上下一対の基板保持
ピン72aを左右に備えている。各ピンは可動フレーム
72に設けた縦方向の長孔720を正面側から背面側へ
貫通して背面側へ突出している。各上下一対のピン72
aは可動フレーム正面側に搭載したピン駆動部70によ
り互いに接近離反するように駆動される。
【0032】ピン駆動部70は、可動フレーム72に回
転可能に支持され、両端に左雌ネジ、右雌ネジを有する
雌ネジ部701と、該左雌ネジに螺合した左ネジ棒70
2及び右雌ネジに螺合した右ネジ棒703と、これらネ
ジ棒を回転不能に、しかし昇降可能に支持する部材70
4と、各ネジ棒の端に設けたスプリング705を備えて
おり、ピン72aは該スプリング705に支持されてい
る。雌ネジ部701は図示しないモータにより正転、逆
転され、それによって各上下一対のピン72aが互いに
接近離反するように駆動され、基板Sは、ピンの相互接
近により、また、スプリング705の緩衝作用で上下か
ら傷つかないように保持される。
【0033】トレイ回動装置8は、図4に示すように、
チャック装置7の基体フレーム71の下方に配置された
基体フレーム81と、この基体フレーム81を水平面内
で回動させるモータを含む駆動部82とを備えている。
フレーム81はその上面側に回転円81C(図1参照)
直径方向の溝811を備え、該溝には2列に並べた搬送
ローラ801からなるローラコンベア80を設けてあ
る。各列の搬送ローラ801はそのうち1又は2以上が
図示しない駆動部により正転、逆転運転される。該駆動
部はフレーム81に搭載されている。コンベア80は基
板支持トレイTを垂直の立った姿勢に維持し、そのロー
ラの正転、逆転運転にて該トレイを一方向またはその反
対方向に搬送できる。
【0034】トレイTは、図4に示すように、その両面
が基板支持面Tsとなっており、各支持面Tsには、前
記チャック装置7における基板保持ピン72aと同様の
基板保持ピンTpが備わっている。但し、左右の位置は
ピン72aとずれている。このピンの駆動部はチャック
装置7におけるピン駆動部と同様の構造のもので、図示
していないが、両基板支持面Tsの間に搭載されてい
る。トレイTはその下端に逆L字形の一対の部材Tmを
有し、これら部材にて前記トレイ回動装置8における
ーラコンベア80上に乗り、立ち姿勢で支持されて駆動
される。また、トレイTは、その両基板支持面Tsの間
にヒータユニットHを備えている。
【0035】図1に示すように、基板搬送室3Aもトレ
イ回動装置31を備えており、基板搬送装置3Bもトレ
イ回動装置32を備えている。これら回動装置31、3
2はいずれもロード室1におけるトレイ回動装置8と同
様の構造のものであり、トレイ搬送用のローラコンベア
311、321を含んでいる。予備加熱室2は、図1及
び図7に示すように、その長手方向に2列に並べた搬送
ローラ21からなるローラコンベア20を備えている。
各列のローラ21はそのうち1又は2以上が図示しない
駆動部により正転、逆転運転される。コンベア20は基
板支持トレイTを垂直の立った姿勢に維持し、その搬送
ローラの正転、逆転運転にて該トレイを一方向またはそ
の反対方向に搬送できる。
【0036】また、予備加熱室2は該コンベア20上に
支持されるトレイT上の基板を予備加熱するためのヒー
タ(本例では赤外線ランプ)22をトレイ軌道の両側に
備えている。予備冷却室4も、図1に示すように、予備
加熱室2におけるローラコンベア20と同様のローラコ
ンベア40を備えている。コンベア40は基板支持トレ
イTを垂直の立った姿勢に維持し、その搬送ローラの正
転、逆転運転にて該トレイを一方向またはその反対方向
に搬送できる。
【0037】また、予備冷却室4はコンベア40上に支
持されるトレイT上の基板を予備冷却するための窒素ガ
ス導入部41を備えている。図1に示すように、プロセ
ス室P1、P2、P3、P4のそれぞれも予備加熱室2
におけるコンベア20や予備冷却室4におけるコンベア
40と同様な構造のトレイ搬送用のローラコンベアCV
を備えている。
【0038】アンロード室5は、その出口51に臨む部
分に基板取出し装置6Aを有するとともにゲートバルブ
V9に臨む位置にチャック装置7A及びトレイ回動装置
8Aを有している。基板取出し装置6Aは、ロード室1
における基板取込み装置6と、配置の向きが反対になっ
ているだけで、同一構造のものである。また、チャック
装置7A及びトレイ回動装置8Aはロード室1における
チャック装置7及びトレイ回動装置8とそれぞれ同一構
造のものである。トレイ回動装置8Aはロード室1のト
レイ回動装置8におけるローラコンベア80と同様のト
レイ搬送用ローラコンベア80Aを備えている。
【0039】前述したロード室のトレイ回動装置におけ
るローラコンベア80、予備加熱室のローラコンベア2
0、基板搬送室のローラコンベア311、321、各プ
ロセス室のローラコンベアCV、予備冷却室のローラコ
ンベア40、及びアンロード室のトレイ回動装置のロー
ラコンベア80Aは、前記各隣合う室間で基板支持トレ
イTを移動させるトレイ移動装置を構成している。
【0040】プロセス室P1、P4は、本例では成膜用
のプラズマCVD装置として構成されている。その概略
断面を図8に示す。この装置は、ローラコンベアCVに
てここに配置されるトレイTの両面の基板Sのそれぞれ
に対する高周波電極EL及び原料ガスの導入部Gを備え
ており、この装置内に配置されるトレイTは接地され
る。また、成膜時は、既述のとおり、図示しない排気装
置により所定成膜真空度に維持される。プロセス室P
2、P3はそれぞれ2枚の基板Sについて同時にドライ
エッチングを行えるように構成されている。
【0041】以上説明した基板処理装置によると、例え
ば図9に示すような基板Sを支持したカセットCがロー
ド室1の入口11に臨設される一方、空のカセットCが
アンロード室5の出口51に臨設される。当初、ロード
室1のゲートバルブV11が開かれているとともに、ロ
ード室1における基板取込み装置6(図2、図3参照)
は、その基板支持部材65が水平姿勢Q1でカセットC
の方に向けられており、且つ、基体フレーム61がその
下降位置に置かれ、従って基板支持部材65もその下降
位置に置かれている。この状態で可動フレーム63にお
けるモータ631を正転させることにより、該フレーム
63がフレーム61上を前進し、それに伴って基板支持
部材65はカセット内の1枚の基板Sの下に挿入され
る。この状態で基体フレーム61が若干持ち上げられ、
従って基板支持部材65も若干持ち上げられ、基板Sが
該部材65にて下から支持される。また、支持部材65
の中空部は図示しない吸気装置にて吸気され、それによ
り、部材65の二股部652における吸着孔651が基
板Sを吸引保持する。
【0042】次いで可動フレーム63がモータ631の
逆転によりフレーム61上を後退し、そこで降ろされ、
当初の位置に戻る。これに伴って基板支持部材65に支
持された基板Sがロード室1内に取り込まれる。次いで
駆動部62により基体フレーム61が90°回され、そ
れに伴って基板支持部材65及びそれに支持された基板
Sも90°回動され、該基板がトレイ回動装置8の方へ
向けられる。
【0043】次いで可動フレーム63上のモータ64の
正転運転により、今まで水平姿勢Q1にあった基板支持
部材の二股部652が垂直姿勢Q2(図2参照)に置か
れ、その状態で再び可動フレームモータ631が正転運
転され、それに伴って可動フレーム63が基体フレーム
61上を前進し、基板Sも立てられた姿勢でチャック位
置へ向け進められる。
【0044】次いでチャック装置7(図5、図6参照)
における可動フレーム7がモータ721の正転運転によ
り基板Sに向け前進せしめられ、チャック位置に到達す
ると、そこでピン駆動部70の駆動によりチャック保持
ピン72aが駆動され、これらピン72aにより基板S
が上下から挾持される。次いで基板支持部材65におけ
る基板Sの真空吸着が解除され、その後、基板取込み装
置6における基板支持部材65が当初位置まで後退せし
められ、次いで垂直姿勢Q2から水平姿勢Q1に戻し回
動され、且つ、基体フレーム61の戻し回動により基板
支持部材65がカセットCに向けられ、次の基板取込み
を行える状態とされる。
【0045】一方、基板Sを保持したチャック装置7に
おける可動フレーム72は再びモータ721の正転運転
によりトレイTへの基板装着位置へ向け進められる。ト
レイTは予めトレイ回動装置8(図4参照)におけるロ
ーラコンベア80上に配置され、その片方の基板支持面
Tsが図4に示すように基板装着位置TPに配置され、
近づいてくる基板Sに向けられている。
【0046】チャック装置7における基板保持ピン72
aに支持された基板SがトレイTに対する基板装着位置
に到達すると、ここでトレイTにおける基板保持ピンT
pが図示しない駆動部により駆動され、該基板Sを上下
から挾持する。次いでチャック装置7における基板保持
ピン72aがその駆動部70により駆動され、基板Sを
解放する。しかるのち、可動フレーム72がモータ72
1の逆転運転により当初位置まで後退する。
【0047】このようにして1枚の基板SがトレイTに
支持され、且つ、チャック装置7が当初状態に復帰する
と、トレイ回動装置8において、駆動部82により該回
動装置の基体フレーム81が180°回され、まだ空の
トレイ基板支持面Tsがチャック装置7の方に向けられ
る。かくしてこの空の基板支持面Tsにも前記と同様に
してもう1枚の基板Sが装着される。
【0048】しかるのちロード室1におけるゲートバル
ブV11が閉じられ、ロード室1内が所定のロード室真
空度に維持される。その後、或いはそれに先立ってトレ
イ回動装置8における基体フレーム81が駆動部82に
より回動され、それによって装置8上のローラコンベア
80及びトレイTが90°回され、コンベア80が予備
加熱室2におけるローラコンベア20と同方向に一列に
揃えられる。
【0049】次いで予備加熱室2とロード室1の途中に
あるゲートバルブV1の開閉と、ローラコンベア80、
20の運転により、トレイ回動装置8上のトレイTが予
備加熱室2内へ搬送され、そこのコンベア20上に配置
される。基板搬入後、予備加熱室2内は所定の真空度に
維持され、そこでトレイTの両面に支持された2枚の基
板Sがヒータ22により基板処理前の予備加熱を受け
る。
【0050】一方、基板搬送室3Aは、所定の搬送室真
空度とされ、そこのトレイ回動装置31のコンベア31
1が予備加熱室内のコンベア20と一列になるように配
置される。かかる予備加熱後、ゲートバルブV2が開か
れ、コンベア20、311の運転により予備加熱室2内
のトレイTが搬送室3A内のコンベア311上に配置さ
れる。
【0051】しかるのちゲートバルブV2が閉じられ、
搬送室3Aにおいてはトレイ回動装置31によりトレイ
Tが90°回され、1つのプロセス室P1の方に向けら
れる。このようにして搬送室3A内のトレイTが1つの
プロセス室P1の方に向けられると、ゲートバルブV3
が開けられ、搬送室3A内のコンベア311とプロセス
室P1内のコンベアCVの運転により搬送室内のトレイ
Tがプロセス室P1内のコンベアCV上に搬送され、そ
こに配置される。
【0052】かくしてゲートバルブV3が閉じられ、ま
た、プロセス室P1内が所定の真空度に維持され、この
ようにして該プロセス室P1においてトレイT上の2枚
の基板Sが同時に所定のプラズマCVDによる成膜処理
を受ける。プロセス室P1において基板処理が終了する
と、バルブV3が開かれ、プロセス室P1内のトレイT
が再び搬送室3A内に搬入され、バルブV3が閉じられ
る。
【0053】搬送室3A内に搬入されたトレイTはゲー
トバルブV5の開閉により隣りの基板搬送室3Bに搬入
され、そこのローラコンベア321上に配置され、且
つ、トレイ回動装置32の運転により予備冷却室4に向
けられ、しかるのちゲートバルブV8の開閉と、トレイ
回動装置32上のローラコンベア321及び予備冷却室
4内のローラコンベア40の運転により、該トレイTは
予備冷却室4内のコンベア40上に配置される。
【0054】予備冷却室4内に配置されたトレイT上の
2枚の基板Sは、該冷却室4内に窒素ガス導入部41か
ら窒素ガスを、例えば数10リットル導入し、真空度を
約100Torr程度とすることにより、基板取り出し
に先立って冷却され、かかる冷却処理が終了すると、ゲ
ートバルブV9の開閉によってアンロード室5内へ送り
出される。このアンロード室5へのトレイTの送り出し
は、アンロード室5におけるトレイ回動装置8Aのロー
ラコンベア80Aを予め予備冷却室4内のコンベア40
に揃えておくことで行われる。
【0055】かくしてアンロード室5内に搬入されたト
レイTはトレイ回動装置8Aにより90°回され、トレ
イの片面に支持された基板Sが基板取出し位置に配置さ
れる。この状態でチャック装置7Aが運転され、該トレ
イから該基板Sが受け取られ、このようにチャック装置
7Aに保持された処理済基板Sは基板取出し装置6Aに
渡され、この装置6Aにより垂直姿勢から水平姿勢に回
され、かかる水平姿勢状態でゲートバルブV51の開閉
によりアンロード室外に待ち受ける空のカセットCに挿
入配置される。このように1枚の処理済基板Sが取り出
された後、トレイT上のもう1枚の基板Sも同様にして
カセットCへ送り出される。
【0056】予備冷却室4においては予備冷却を行うと
き、所定の真空度に維持される。さらにアンロード室5
は予備冷却室4からトレイTを受け取るに先立って所定
の真空度に維持される。かくしてアンロード室5におい
て空になったトレイTは前記とは逆の操作でロード室1
へ戻され、再び基板Sを装着され、これら基板もプロセ
ス室へ送られ、目的とする処理を受けたのち、アンロー
ド室5から搬出される。
【0057】前述の説明では、基板Sが1つのプロセス
室P1において処理を受けたのち直ちに基板搬送室3
A、3Bを経て予備冷却室4に搬入され、ここで予備冷
却されたのちアンロード室5からカセットCに搬出され
るが、1つのプロセス室P1において処理を受けた後、
1又は2以上のプロセス室P2、P3、P4によりさら
に処理を行ったのち予備冷却室4、アンロード室5を経
てカセットCへ搬出してもよい。
【0058】プロセス室P2を用いるときは、基板搬送
室3Aに配置されたトレイTをトレイ回動装置31によ
り回動させ、ローラコンベア311をプロセス室P2に
おけるローラコンベアCVに揃える。また、プロセス室
P3やP4を用いるときは、基板搬送室3Bにおけるト
レイ回動装置32によるトレイTの適宜の回動及び該ト
レイ回動装置におけるローラコンベア321とプロセス
室P3におけるローラコンベアCVの運転或いはコンベ
ア321とプロセス室P4におけるローラコンベアCV
の運転が行われる。
【0059】なお、前記実施例説明では、予備加熱室2
において処理前基板を加熱し、予備冷却室4において処
理後基板を予備冷却しているが、処理温度が低い場合に
は基板Sを予備加熱室2及び予備冷却室4に素通りさせ
てもよい。また、処理温度が低い場合には、かかる予備
加熱室2及び予備冷却室4を省略してもよい。また、予
備加熱室2にも予備冷却できる手段を設けるとともに予
備冷却室4にも予備加熱できる手段を設け、アンロード
室5において基板Sをアンロード室外に搬出した後、こ
のアンロード室5において被処理基板SをトレイTに装
着し、該トレイTを前記と逆の操作で移動させ、その途
中で必要な予備加熱、目的とする処理、必要な予備冷却
を行い、ロード室1側から処理済基板を搬出するように
してもよい。このように構成すると、基板処理のタクト
時間を短縮できる。
【0060】また、前記実施例では、予備冷却室4にお
ける基板の予備冷却手段は窒素ガス導入部41である
が、トレイTにおけるヒータユニットHを冷却水を流せ
る構造とし、該ユニットに冷却水を流すことでトレイの
冷却、延いては基板Sの冷却を可能にしてもよい。ま
た、窒素ガス冷却と水冷却を併用してもよく、このよう
にすれば急速冷却が可能となる。
【0061】次に、図1に示す基板処理装置による具体
的な成膜例について説明する。条件は以下の通りであ
る。 基板処理:プロセス室P1におけるa−Si膜の形成 基板:350mm×450mmの大型四角形ガラス基板
(コーニング7059) プロセス室P1における基板処理温度:280℃、面内
均一性 ±5℃ トレイTの基板支持面サイズ:一辺700mmの四角形 プロセス室P1における高周波電極ELサイズ:一辺7
00mmの四角形 高周波電力:200ワット 成膜真空度:0.5Torr 使用ガス:シラン 100ccm 水素 100ccm プロセス室P1における電極EL−基板間距離:35m
m 予備加熱室2のヒータ22:20KWの赤外線ランプ、
加熱速度500℃/min 以上の条件で各基板面にa−Si膜を形成したところ、
成膜速度350Å/min、 膜厚均一性 ±3%、
位置合わせ精度 ±2mm、 パーティクル密度 0.
3μm以上のものが0.05個/cm2 であった。ここ
で膜厚均一性とは、基板の四隅(各隅で直交する2辺か
らそれぞれ10mm内側に入った位置)及び基板中央に
おける膜厚のうち最大膜厚と最小膜厚との差を5で除し
て、その値の半値をプラス、マイナスに振って示したも
のである。
【0062】なお、後述する図17に示す基板処理装置
のように、基板Sを水平姿勢で処理した場合、パーティ
クル密度は0.2〜0.5個(0.3μm以上のもの)
/cm2 であった。従って、この実施例では、図17の
基板処理装置に比べ、パーティクル密度が1/4〜1/
10に改善されている。次に本発明の他の実施例を図1
0から図15を参照して説明する。図10は全体の概略
平面図、図11はロード室10と、該ロード室に付設し
た基板支持トレイ搬送コンベア101、トレイ着脱装置
102及びトレイ回動装置103を一部断面で示す図で
ある。図12はトレイ回動装置103の一部の構造説明
図、図13は被処理基板Sを支持したトレイT1をコン
ベア101に装着した状態の断面図、図14はロード室
10におけるトレイT1とコンベア101の側面図であ
る。図15は基板搬送室30A、30Bにおける基板支
持トレイ搬送コンベア30とその回動装置300の正面
図である。
【0063】この基板処理装置は、図10に示すよう
に、ロード室10と、該ロード室に開閉可能のゲートバ
ルブV1を介して連設された予備加熱室200と、該予
備加熱室に開閉可能のゲートバルブV2を介して連設さ
れた第1の基板搬送室30Aと、該搬送室30Aに開閉
可能のゲートバルブV3、V4及びV5を介してそれぞ
れ接続された第1プロセス室P1、第2プロセス室P2
及び第2の基板搬送室30Bと、該搬送室30Bに開閉
可能のゲートバルブV6、V7及びV8を介してそれぞ
れ接続された第3プロセス室P3、第4プロセス室P4
及び予備冷却室4と、該予備冷却室に開閉可能のゲート
バルブV9を介して接続されたアンロード室50とを備
えている。これら全体はクリーンルーム内に配置され
る。
【0064】前記各ゲートバルブは図示しないバルブ駆
動装置にてそれぞれ独立して開閉されるようになってお
り、閉位置ではゲート開口を気密にシールする。また、
前記各室には図示しない排気装置が接続されており、該
排気装置にて各室をそれぞれ独立して所定の真空度に維
持できる。ロード室10は、図11及び図13に示すよ
うに、その一側に開口100を有し、該開口はゲートバ
ルブを兼ねる扉100Aによって開閉される。
【0065】ロード室10には、基板支持トレイT1を
搬送するためのコンベア101を内部に設けてある。ま
た、開口100の隣にトレイT1をコンベア101に対
し着脱するトレイ着脱装置102及びトレイ着脱装置上
でトレイT1を水平状態に支持して回動させるトレイ回
動装置103を設けてある。トレイT1は、基部T11
に板状の基板支持体T12を一対立設したもので、基部
T11の中心部には、支持体T12とは反対方向に一本
の軸棒T13を突設してある。この軸棒には後述するプ
ッシャーロッドRDが嵌脱できる穴Taを形成してあ
る。
【0066】コンベア101は一対の水平に並行な断面
コの字形の固定レール1011と、両レール間を上下に
通るコンベアブロック1012と、該ブロックの両側に
回転自在に支持されてレール1011に転動可能に嵌ま
ったローラ1013と、ブロック下面に固定したラック
1014と、これに係合するピニオン1015と、該ピ
ニオンを駆動する正転逆転運転可能のモータ1016と
を含んでいる。モータ1016はロード室10の外壁面
に固定されている。
【0067】ブロック1012上部はトレイT1の基部
T11を嵌め込み支持する凹所1012aを有する。ま
た、該ブロックは上下に貫通する孔1012bを有す
る。トレイ着脱装置102は、レール1021上に搭載
されてロード室開口100に接近離反可能の台車102
2と、該台車上に立設された前柱1023及び後柱10
24と、これらに支持されるトレイ支持フレーム102
5を含んでいる。
【0068】フレーム1025はその前部aの下端a1
が前柱1023に回動可能に連結支持され、後部bの下
端b1が後柱1024に離反可能に載置される。トレイ
着脱装置102は、さらに、台車とトレイ支持フレーム
間に連結されたピストンシリンダ装置1026と、ロー
ド室10の下面に固定されたプッシャー1027とを有
する。プッシャー1027はロッドRDをコンベアブロ
ック1012の貫通孔1012bに対し挿脱できるもの
である。
【0069】トレイ支持フレーム1025は、図11及
び図12に示すように、その前部aの上端a2がトレイ
T1の軸棒T13を脱離可能に受け入れて、回動可能に
支持できる凹所a21を有するとともに、後部bの上端
b2にトレイ嵌合ブロック1031を有する。ブロック
1031はモータ1032により回転駆動される。ブロ
ック1031はトレイT1の一対の基板支持体T12の
自由端部を嵌合支持できるもので、該ブロックの一側壁
1031aは他の側壁より背が低く形成されている。
【0070】以上説明した各部のうち、トレイ支持フレ
ーム1025の前部aの上端凹所a21、トレイ嵌合ブ
ロック1031、これを駆動するモータ1032はトレ
イ回動装置103を構成している。以上説明したロード
室10においては、次のようにしてトレイT1に被処理
基板Sが装着され、次いで該トレイT1がコンベア10
1に装着される。
【0071】すなわち、準備段階として、トレイ着脱装
置102が、図11に二点鎖線で示す位置におかれる。
この状態では、ピストンシリンダ装置1026は縮めら
れ、支持フレーム1025が前柱1023と後柱102
4とに支持されて水平姿勢におかれる。また、台車10
22はロード室開口100から若干後退している。この
状態で、トレイT1の軸棒T13がトレイ支持フレーム
1025の前部上端凹所a21に嵌められるとともに、
該トレイの基板支持体T12の自由端部がブロック10
31に嵌め込まれ、かくして、一方の支持体T12の基
板支持面が上方へ向け平坦水平姿勢におかれる。ここ
で、この支持体T12に押さえ治具STを用いて被処理
基板Sがネジ止め固定される。次いで、ブロック103
1がモータ1032により回されることで、トレイT1
が回動され、もう一つの基板支持体T12の基板支持面
が上方へ向け平坦水平姿勢におかれる。そして、この支
持体にも、前記と同様にして被処理基板Sが固定され
る。
【0072】かくして基板Sの装着が終了すると、ピス
トンシリンダ装置1026のピストンロッドが伸ばさ
れ、それによって、トレイ支持フレーム1025が立ち
上げられ、また、台車1022がロード室開口100の
方へ前進せしめられる。このようにしてトレイT1は、
図11に実線で示すように、コンベア101のブロック
1012上方に配置される。この配置に至るまでのトレ
イ支持フレーム1025の回動途中で、トレイT1はそ
の自重で下方へずれ、トレイ基部T11が、フレーム前
部aに当接支持される。このとき、基板支持体T12は
ブロック1031の側壁に支持されつつ、該ブロックか
ら若干抜け出て、背の低いブロック側壁1031aから
は外れる。
【0073】次に、プッシャー1027のロッドRDが
突出せしめられ、該ロッドRDはコンベアブロック10
12の貫通孔1012bを貫通して、トレイT1の軸棒
T13に達し、その孔Taに嵌合し、トレイT1を若干
持ち上げる。このようにして、トレイT1がプッシャー
ロッドRDに支持されると、台車1022が後退せしめ
られるとともに、トレイ支持フレーム1025はピスト
ンシリンダ装置1026のロッドが後退することで、当
初位置へ戻され、次のトレイ及び基板の装着を待つ。
【0074】一方、プッシャーロッドRDに支持された
トレイT1は、トレイ着脱装置102が後退すると、該
ロッドRDが下降せしめられることで、トレイ基部T1
1がコンベアブロック1012の上部凹所1012aに
嵌まり込み、それによってコンベア101に立ち姿勢で
支持される。ロード室開口100は扉100Aにより気
密に閉じられる。図13はこの状態を示している。
【0075】かくして、コンベアモータ1016の運転
により、コンベアブロック1012が駆動され、トレイ
T1はゲートバルブV1の開閉にて予備加熱室200へ
搬送される。なお、前記基板支持体T12への治具ST
による基板Sの取り付けに代え、図5、図6に示すよう
な自動チャック装置7等を支持体T12に装備してもよ
い。
【0076】以上説明したロード室10の構造及びこれ
に付設したコンベア101、トレイ着脱装置102及び
トレイ回動装置103は、アンロード室50にも採用さ
れている。但し、向きは互いに反対向きとなっており、
また、アンロード室50では、ロード室50における操
作と逆の操作で、トレイT1がコンベア101から取り
外され、該トレイから処理済基板Sが取り外される。
【0077】図10に示すように、基板搬送室30A、
30Bもそれぞれトレイ搬送コンベア30を備えてい
る。各コンベア30は、図13に示すロード室10のコ
ンベア101と実質上同構造のものであり、図15に示
すように、基板Sを両側に立ち姿勢で保持したトレイT
1を立ち姿勢で支持する可動ブロック1012を走行さ
せるものである。但し、ブロック1012を駆動する正
転、逆転運転可能のモータ1016、ピニオン101
5、ブロック1012両側のローラ1013が転動する
一対のレール1011等は、回動可能水平盤301上に
搭載されており、該盤体301はモータ302にて回動
される。すなわち、盤体301及びモータ302はコン
ベア回動装置300を構成している。
【0078】モータ302の正転又は逆転運転により、
一対のレール1011が任意の室に方向付けされ得る。
従って、トレイT1を支持したコンベアブロック101
2を予備加熱室200から受け取り、方向転換して、任
意のプロセス室、或いは隣りの基板搬送室へ、さらに
は、予備冷却室4へ送り込んだり、逆にそれら室から受
けとることもできる。
【0079】なお、予備加熱室200、各プロセス室P
1、P2、P3、P4及び予備冷却室4にも、ロード室
10におけるトレイ搬送コンベア101と同様のコンベ
アがそれぞれ設けてあり、それによって、トレイT1を
隣合う室との間で出し入れできる。以上説明した各コン
ベアは前記各隣合う室間で基板支持トレイT1を相互に
移動させるトレイ移動装置を構成している。
【0080】また、予備加熱室200はトレイ搬送コン
ベア上に支持されるトレイT1上の基板Sを予備加熱す
るためのヒータ(本例では赤外線ランプ)22をトレイ
軌道の両側に備えている。また、予備冷却室4はトレイ
搬送コンベア上に支持されるトレイT1上の基板Sを予
備冷却するための窒素ガス導入部41を備えている。
【0081】プロセス室P1、P2、P3及びP4はト
レイ搬送コンベアの点を除き、図1に示す基板処理装置
におけるものと同様のものである。但し、基板加熱を要
するプロセス室では、例えばプラズマCVD処理を行う
プラズマ室P1等について、図1に例示するように、搬
入されてくるトレイT1の一対の基板支持体T12の間
に位置するように、予めヒータH1を配置してある。
【0082】かかる基板処理装置によると、被処理基板
Sは、ロード室10において平坦水平状姿勢で容易に基
板支持トレイT1の両面に装着され、しかるのち、立ち
姿勢で搬送される。その後は図1の装置と同様に操作さ
れる。すなわち、予備加熱室200で予備加熱されたの
ち、基板搬送室30Aを経て1又は2以上のプロセス室
で処理を受けたのち、基板搬送室30Bを経て、予備冷
却室4へ搬入され、ここで予備冷却されたのち、アンロ
ード室50へ搬入され、ここでトレイT1がコンベアか
ら外されて水平状姿勢とされ、さらに、トレイT1から
処理済基板Sが水平状姿勢で容易に取り外される。な
お、予備冷却室4における冷却条件は、例えば、図1に
示す装置におけるものと同様でよい。
【0083】かくして空になったトレイT1はロード室
10へ運ばれる。なお、以上の説明では、予備加熱室2
00において処理前基板を加熱し、予備冷却室4におい
て処理後基板を予備冷却しているが、処理温度が低い場
合には基板Sを予備加熱室200及び予備冷却室4に素
通りさせてもよい。また、処理温度が低い場合には、か
かる予備加熱室200及び予備冷却室4を省略してもよ
い。
【0084】また、予備加熱室200にも予備冷却でき
る手段を設けるとともに予備冷却室4にも予備加熱でき
る手段を設け、アンロード室50側において基板Sをア
ンロード室外に搬出した後、このアンロード室50側に
おいて被処理基板SをトレイT1に装着し、該トレイT
1を前記と逆の操作で移動させ、その途中で必要な予備
加熱、目的とする処理、必要な予備冷却を行い、ロード
室10側から処理済基板を搬出するようにしてもよい。
このように構成すると、基板処理のタクト時間を短縮で
きる。
【0085】また、前記実施例では、予備冷却室4にお
ける基板の予備冷却手段は窒素ガス導入部41である
が、搬入されてくる一対の基板支持体の間に位置するよ
うに配置した水冷クーラを採用してもよい。また、窒素
ガス冷却とクーラを併用してもよく、このようにすれば
急速冷却が可能となる。次に、図10に示す基板処理装
置による具体的な成膜例について説明する。条件は以下
の通りである。 基板処理:プロセス室P1におけるa−Si膜の形成 基板:500mm×500mmの大型四角形ガラス基板
(コーニング7059) プロセス室P1における基板処理温度:280℃、面内
均一性 ±5℃ トレイT1の基板支持面サイズ:一辺700mmの四角
形 プロセス室P1における高周波電極ELサイズ:一辺7
00mmの四角形 高周波電力:200ワット 成膜真空度:0.5Torr 使用ガス:シラン 100ccm 水素 200ccm プロセス室P1における電極EL−基板間距離:35m
m 予備加熱室200のヒータ22:20KWの赤外線ラン
プ、加熱速度500℃/min 以上の条件で各基板面にa−Si膜を形成したところ、
成膜速度350Å/min、 膜厚均一性 ±5% で
あった。
【0086】次に本発明のさらに他の実施例を図16を
参照して説明する。この基板処理装置は、図10に示す
装置において、さらに、プロセス室P5、P6を増やす
とともに基板搬送室30C、30Dを増やしたものであ
る。このように、プロセス室を必要に応じ増加連設する
ことができ、しかも装置全体をコンパクトにまとめるこ
とができる。
【0087】次に、図1等の基板処理装置に対し、基板
Sを水平姿勢で処理する基板処理装置例を図17を参照
して説明しておく。この基板処理装置は、被処理基板S
を基板支持トレイtに装着するロード室91と、前記基
板Sを予備加熱する予備加熱室92と、基板Sに目的の
処理を施す1又は2以上のプロセス室93と、目的とす
る処理終了後の基板Sを冷却する予備冷却室94と、基
板Sを取り出すアンロード室95と、予備加熱室92、
プロセス室93及び予備冷却室94を接続する基板搬送
室96と、基板支持トレイtを隣合う前記室間で移動さ
せる図示しないトレイ移動手段とを備えている。
【0088】この装置では、例えば図9に示すように、
被処理基板Sを平坦水平状の姿勢で上下方向に複数段に
支持した基板支持カセットCをロード室91の入口に臨
ませ、このカセットから基板Sを取り出してロード室9
1内へ取り込み、該室内に予め配置した基板支持トレイ
tの片面に平坦水平状の姿勢のまま装着する。基板を装
着されたトレイは予備加熱室へ搬送され、ここで必要に
応じ、基板が予備加熱されたのち、搬送室96を経てい
ずれかのプロセス室93へ入れられる。かくして目的の
処理(成膜、エッチング等)を受けた基板を支持するト
レイtは、再び搬送室96を経て予備冷却室94へ、或
いは、さらに1又は2以上のプロセス室93にて基板処
理を受けたのち予備冷却室へ搬送され、ここで必要に応
じ基板が予備冷却されたのちアンロード室95へ入れら
れ、そこからアンロード室外に待ち受ける基板支持カセ
ットC等に基板Sが渡される。
【0089】空になったトレイtはロード室91へ戻さ
れ、次の基板が装着され、再び前記と同様の工程が繰り
返される。前記いずれの実施例装置においても、基板搬
送室が他の室の仲立ちをする位置にあるので、同一の処
理を行うプロセス室を複数備えておくことにより、その
うち一つのプロセス室を使用中でも、次の基板をもう一
つ又は二つ以上のプロセス室に導入して同じ処理を並行
して行うことができ、該処理に時間を要する場合でもそ
れだけ能率良く処理を進めることができる。また、何ら
かのトラブルで使用できないプロセス室が生じても、他
のプロセス室を使用して処理を続行できる。さらに、異
なる処理を行う複数のプロセス室を設けておけば、それ
らのうち必要なプロセス室のみを用いて所望の処理を行
うこともできる。
【0090】
【発明の効果】以上説明したように本発明の基板処理装
置によると、従来のバッチ処理型の基板処理装置に比べ
ると勿論のこと、インライン型等の被処理基板を順次供
給できる基板処理装置と比べても、能率良く、所望の基
板処理を実施できる。また、基板は立てた状態で処理を
受けるので、基板へダストやパーティクルといった不純
物が付着したり、混入したりすることが抑制される。
らに、基板支持カセット等により水平状態で支持されて
いる被処理基板をそのまま取り出して容易に装着でき、
また、処理済基板の取り出しも容易である。ロード室が
目的とする処理前の基板を予備加熱する予備加熱室を介
して基板搬送装置に接続され、アンロード室が目的とす
る処理終了後の基板を冷却する予備冷却室を介して基板
搬送室に接続されているときは、基板処理温度が高温の
とき、この予備加熱室において処理前基板を加熱し、予
備冷却室において処理終了後基板を予備冷却することに
より、円滑な基板処理を行うことができる。
【0091】また、予備加熱室が予備冷却室を兼ねるよ
うに構成され、予備冷却室が予備加熱室を兼ねるように
構成されているときは、アンロード室においても被処理
基板を装着し、基板を支持した基板支持トレイをロード
室側へ向け移動させ、その途中で処理を行うことができ
るので、基板処理のタクト時間がそれだけ短縮される利
点がある。
【0092】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の全体の平面図である。
【図2】ロード室における基板取込み装置の側面図であ
る。
【図3】ロード室における基板取込み装置の平面図であ
る。
【図4】ロード室に配置された基板支持トレイとこれを
回動させるトレイ回動装置の側面図である。
【図5】ロード室のチャック装置の側面図である。
【図6】ロード室のチャック装置の正面図である。
【図7】予備加熱室内のローラコンベアの平面図であ
る。
【図8】プラズマCVD装置として構成した一つのプロ
セス室の断面図である。
【図9】基板支持カセットの斜視図である。
【図10】本発明の他の実施例の概略平面図である。
【図11】ロード室と、該ロード室に付設した基板支持
トレイ搬送コンベア、トレイ着脱装置及びトレイ回動装
置を一部断面で示す図である。
【図12】トレイ回動装置の一部の構造説明図である。
【図13】被処理基板を支持した基板支持トレイをトレ
イ搬送コンベアに装着した状態のロード室断面図であ
る。
【図14】ロード室における基板支持トレイTとトレイ
搬送コンベアの側面図である。
【図15】基板搬送室における基板支持トレイ搬送コン
ベアとその回動装置の正面図である。
【図16】本発明のさらに他の実施例の概略平面図であ
る。
【図17】基板を水平姿勢で処理する基板処理装置例の
概略平面図である。
【図18】従来例の概略側面図である。
【符号の説明】
図1から図9について 1 ロード室 11 ロード室入口 V11 ロード室入口のゲートバルブ 2 予備加熱室 20 ローラコンベア 22 ヒータ 3A、3B 搬送室 31、32 トレイ回動装置 311、321 ローラコンベア 4 予備冷却室 40 ローラコンベア 41 窒素ガス導入部 P1、P2、P3、P4 プロセス室 CV ローラコンベア 5 アンロード室 51 アンロード室出口 V51 アンロード室出口のゲートバルブ V1〜V9 室間のゲートバルブ 6 基板取込み装置 7 チャック装置 8 トレイ回動装置 80 ローラコンベア 6A 基板取出し装置 7A チャック装置 8A トレイ回動装置 80A ローラコンベア S 基板 T 基板支持トレイ C 基板支持カセット CB クリーンブース 図10から図15について 10 ロード室 100 ロード室開口 100A ロード室開口の扉 101 トレイ搬送コンベア 102 トレイ着脱装置 103 トレイ回動装置 200 予備加熱室 22 ヒータ 30A、30B 基板搬送室 30 トレイ搬送コンベア 300 コンベア回動装置 P1、P2、P3、P4 プロセス室 H1 ヒータ 4 予備冷却室 41 窒素ガス導入部 50 アンロード室 V1〜V9 室間のゲートバルブ S 基板 T1 基板支持トレイ 図16について P5 、P6 プロセス室 図17について 91 ロード室 92 予備加熱室 93 プロセス室 94 予備冷却室 95 アンロード室 96 基板搬送室 t 基板支持トレイ
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−163937(JP,A) 特開 昭63−144537(JP,A) 特開 平4−125222(JP,A) 特開 平3−287766(JP,A) 特開 平1−268870(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/68

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被処理基板を装着するためのロード室
    と、前記基板に目的の処理を施すプロセス室と、処理済
    基板を取り出すためのアンロード室と、前記ロード室、
    プロセス室及びアンロード室を接続する基板搬送室と、
    前記基板を支持する基板支持トレイと、前記基板支持ト
    レイを前記室間で移動させるトレイ移動手段とを備え、
    前記基板搬送室は前記ロード室と前記プロセス室相互、
    前記プロセス室相互及び前記プロセス室と前記アンロー
    ド室相互をそれぞれ接続するように配置されており、 前記基板支持トレイはその両面に前記基板を支持できる
    ように構成されており、 前記トレイ移動手段は該基板支持トレイを前記基板支持
    両面が立てて配置されるように立てた姿勢で支持して移
    動させるように構成されており、 前記ロード室は、前記トレイ移動手段にて該ロード室に
    配置されるトレイをその各基板支持面が基板装着位置に
    配置されるように回動させるトレイ回動手段と、該ロー
    ド室外に平坦水平状の姿勢で配置された被処理基板を取
    り込み、立てた状態で前記基板装着位置に臨むチャック
    位置へ搬送する基板取込み手段と、該チャック位置へ搬
    送されてきた基板を保持して前記トレイの基板支持面へ
    渡すチャック手段とを含んでおり、 前記アンロード室は、前記トレイ移動手段にて該アンロ
    ード室に配置されるトレイをその各基板支持面が基板取
    出し位置に配置されるように回動させるトレイ回動手段
    と、該トレイの基板支持面から処理済基板を受け取るチ
    ャック手段と、該チャック手段から処理済基板を受け取
    り、平坦水平状の姿勢としてアンロード室外へ出す基板
    取出し手段とを含んでいる ことを特徴とする基板処理装
    置。
  2. 【請求項2】 被処理基板を装着するためのロード室
    と、前記基板に目的の処理を施すプロセス室と、処理済
    基板を取り出すためのアンロード室と、前記ロード室、
    プロセス室及びアンロード室を接続する基板搬送室と、
    前記基板を支持する基板支持トレイと、前記基板支持ト
    レイを前記室間で移動させるトレイ移動手段とを備え、
    前記基板搬送室は前記ロード室と前記プロセス室相互、
    前記プロセス室相互及び前記プロセス室と前記アンロー
    ド室相互をそれぞれ接続するよう に配置されており、 前記基板支持トレイはその両面に前記基板を支持できる
    ように構成されており、 前記トレイ移動手段は該基板支持トレイを前記基板支持
    両面が立てて配置されるように立てた姿勢で移動させる
    ように構成されており、 前記ロード室に、前記基板支持トレイを支持して該トレ
    イをその各基板支持面が交互に所定方向に向くように回
    動させる手段と、該トレイ回動手段に支持され、被処理
    基板を装着された前記基板支持トレイを立て起こして前
    記トレイ移動手段に装着する手段とが付設され、前記ア
    ンロード室に、処理済基板を支持している前記基板支持
    トレイを前記トレイ移動手段から横倒し状に取り出す手
    段と、該取り出された基板支持トレイをその各基板支持
    面が交互に所定方向に向くように回動させる手段とが付
    設されていることを特徴とする 基板処理装置。
  3. 【請求項3】 前記ロード室が前記目的とする処理前の
    基板を予備加熱する予備加熱室を介して前記基板搬送室
    に接続され、前記アンロード室が前記目的とする処理終
    了後の基板を冷却する予備冷却室を介して前記基板搬送
    室に接続されている請求項1又は2記載の基板処理装
    置。
  4. 【請求項4】 前記予備加熱室が予備冷却室を兼ねるよ
    うに構成され、前記予備冷却室が予備加熱室を兼ねるよ
    うに構成されている請求項3記載の基板処理装置。
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