JP3133544B2 - 混成集積回路 - Google Patents

混成集積回路

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    • H01L2924/13091Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、混成集積回路に関し、
特にインバータ回路等のパワー回路を実装した大電流用
の混成集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、混成集積回路としては、セラミッ
クス基板をベースにしたものが多く使用されてきたが、
セラミックス基板上に形成される回路パターンは貴金属
ペーストによって形成されるためにそのシート抵抗が大
きいことおよびセラミックス基板の熱伝導性の悪いこと
から大電流タイプの混成集積回路としては不向きとなっ
ており、近年の大電流タイプの混成集積回路は金属基
板、例えばアルミニウム、銅ベースの基板上に絶縁樹脂
層を介して形成された銅箔パターン上にパワー回路を構
成する部品が実装されている。すなわち、パワー回路部
品は銅等の金属片(ヒートシンク)上に実装されて基板
上に実装され、外部回路と接続するための複数のパワー
用の外部リード端子は基板上の所定位置に半田付けされ
る構造となっている。かかる、大電流用の混成集積回路
としては特開昭63−302530号公報、特開昭64
−25554号公報および特開昭64−5092号公報
に記載されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来構造の大電流用混
成集積回路では上記したように外部回路と接続するため
の各リード端子が半田層を介して基板上に固着される構
造であるため、以下の不具合がある。すなわち、 半田層自体の電気抵抗値が大きいために電流損失を起
し発熱量が増加する。
【0004】電流出力径路の導電路上に半田層を介し
て外部リード端子が固着される場合、半田層表面が酸化
したとき経時変化に伴って半田層が劣化し、信頼性面で
著しく低下するという問題がある。 基板上に各リード端子を半田固着するための専用のラ
ンド(パッド)を形成しなければならず基板サイズを小
型化する場合の弊害となり、大電流用の混成集積回路自
体のサイズを小型化にすることができない。
【0005】また、金属基板上にインバータ回路を形成
し、そのインバータ回路の各スイッチング手段を図5に
示す如く、パラレルに接続し、電流量を例えば100A
以上のハイパワーインバータ用の混成集積回路では、各
スイッチング素子と導電路とを接続するワイヤ配線がパ
ターン設計上どうしても長くなるものが生じる。そのた
め、 ワイヤ配線が長くなったものは、ワイヤ配線自体の抵
抗およびインダクタンス成分が増加し、スイッチング素
子のスイッチングノイズを増加させてスイッチング素子
を誤動作させる問題があった。
【0006】ワイヤ配線の長さが異なることにより、
パラレルに接続された各スイッチング素子に流れる電流
量が異なるため、ワイヤ配線が短いスイッチング素子に
はスイッチング素子の定格以上の過電流が流れ、スイッ
チング素子が破壊するおそれがある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決し、
目的を達成するため、この発明に係わる混成集積回路
は、金属基板上に絶縁層を介してインバータ回路が形成
され、インバータ回路を構成する第1電源ラインは第1
の銅板、第2電源ラインは第2の銅板、負荷に接続され
且つ電流を供給する出力ラインは第3の銅板で形成さ
れ、第1の銅板上には複数のソース側のスイッチング素
子が、第3の銅板上には複数のシンク側のスイッチング
素子が固着されると共に、前記第2および第3の銅板上
には絶縁層を介して各スイッチング素子を制御するため
の第1および第2の制御パターンが形成されており、第
1の銅板および第3の銅板の一部は基板上に固着され、
且つ、スイッチング素子が固着された領域上で第3の銅
板の一部分と第1の銅板表面を、第2銅板と第3の銅板
表面をそれぞれ離間するように交差配置し、ソース側の
スイッチング素子の制御電極と第1の制御パターン、シ
ンク側のスイッチング素子の制御電極と第2制御パター
ンをそれぞれワイヤで接続したことを特徴としている。
【0008】また、この発明に係わる第2の混成集積回
路は、金属基板上に絶縁層を介してインバータ回路が形
成されインバータ回路を構成する第1電源ラインは第1
の銅板、第2電源ラインは第2の銅板、負荷に接続され
且つ電流を供給する出力ラインは第3の銅板で形成さ
れ、第1の銅板上には並列接続された複数のソース側の
スイッチング素子が、第3の銅板上には並列接続された
複数のシンク側のスイッチング素子が固着されると共に
第2および第3の銅板上には絶縁層を介して各スイッチ
ング素子を制御するための第1および第2の制御パター
ンが形成され、少なくとも前記第3の銅板の一部を折曲
げ外部リード端子として兼用した混成集積回路であっ
て、第1の銅板および第3の銅板の一部は基板上に固着
され、且つ、スイッチング素子が固着された領域上で第
3の銅板の一部分と、第1の銅板表面を、第2の銅板と
第3の銅板表面をそれぞれ離間するように交差配置し、
ソース側のスイッチング素子の制御電極と第1の制御パ
ターン、シンク側のスイッチング素子の制御電極と第2
の制御パターンをそれぞれワイヤで接続すると共にスイ
ッチング素子を駆動する駆動回路が形成された制御基板
と第1および第2の制御パターンをワイヤで接続したこ
とを特徴としている。
【0009】
【作用】以上のように構成される混成集積回路において
は、スイッチング素子が固着された第1および第3の銅
板の一部または全部を基板上に固着し、且つ、スイッチ
ング素子が固着された領域上で第3の銅板の一部を第1
の銅板表面と第2の銅板を第3の銅板表面とそれぞれ離
間して交差させることにより、スイッチング素子と第2
および第3の銅板を接続する各ワイヤ配線の長さを均一
にしかも最短で接続することができる。
【0010】また、第2および第3の銅板上には絶縁層
を介してスイッチング素子の制御電極と接続される制御
パターンが形成されることにより、第2あるいは第3の
銅板−絶縁層−制御パターン間に寄生容量が形成され、
且つ、その容量がスイッチング素子のゲート−ソース間
(あるいはベース−エミッタ間)に接続される構造とな
るためにノイズ除去用のコンデンサーを必要とせずにノ
イズ除去を行うことができる。
【0011】さらに、シンク側のスイッチング素子が固
着された第3の銅板の一部分を折曲げて外部リード端子
として兼用することにより、外部リード端子のみの半田
固着を不要とすることができる。その結果、リード端子
の半田層による電流損失を抑制することができる。さら
に、リード端子を固着する専用のランド(パッド)を基
板上に形成する必要がないことおよび第3の銅板が中空
に位置するために基板サイズを小型化にすることができ
る。
【0012】さらに、第3の銅板上に配置された制御基
板と第2および第3の銅板上に形成された制御パターン
がワイヤ配線により接続されているために駆動回路を有
した小型化されたインバータ用の混成集積回路を提供す
ることができる。
【0013】
【実施例】以下図1〜図4に示した実施例に基づいて本
発明の混成集積回路を詳細に説明する。図1は本発明の
混成集積回路の断面図、図2は本発明の混成集積回路の
平面図である。
【0014】図1および図2に示す如く、本発明の混成
集積回路は、金属基板(1)と、その基板(1)上に絶
縁層(2)を介して形成された導電路(3)と、その導
電路(3)の所定位置に固着された第1の銅板(4)、
第2の銅板(5)および第3の銅板(6)と、第1およ
び第3の銅板(4)(6)上に固着されたスイッチング
素子(7)(8)、ケース材(10)とスイッチング素
子(7)(8)を駆動するための制御基板(20)とか
ら構成される。
【0015】金属基板(1)は、放熱特性および加工性
を考慮して約2〜5mm厚のアルミニウム基板あるいは
銅基板が使用される。その金属基板(1)は所定サイズ
で矩形状に形成され、混成集積回路が完成する前あるい
は後に所望サイズに分割プレスされる。アルミニウム基
板を用いる場合には、そのアルミニウム基板の表面を薄
膜の酸化アルミニウムで被覆してもよい。また、銅基板
を用いる場合には、その銅基板の表面はニッケルあるい
はクロムメッキが行われ表面保護が行われている。
【0016】金属基板(1)の一主面上には、エポキシ
あるいはポリイミド樹脂等の接着性を有する熱硬化性絶
縁樹脂と約35〜105μm厚の銅箔とのクラッド材が
温度150〜180℃、1平方センチメートル当り50
〜100Kgの圧力でホットプレスされる。前記クラッ
ド材を基板(1)上にホットプレスすることにより前記
熱硬化性絶縁樹脂が絶縁層(2)となり、その絶縁層
(2)上の銅箔をホトエッチング等して所望形状の導電
路(3)が形成される。
【0017】金属基板(1)上に形成される導電路
(3)は、図5に示したインバータ回路を構成するよう
に、例えば図1および図2に示す如く、第1および第3
の銅板(4)(6)を固着するための導電路(3)のみ
が形成されている。尚、本発明では外部リード端子を固
着するための専用のランド(パッド)は形成されていな
い。導電路(3)上にはスクリーン印刷により印刷した
ソルダーペーストが付着されて半田層(9)が形成され
る。その半田層(9)上に第1および第3の銅板(4)
(6)が載置されて半田リフロー工程によりソルダーペ
ーストを溶解し導電路(3)と各銅板(4)(6)を固
着接続する。
【0018】図5に示したインバータ回路の第1電源ラ
イン(例えばVCCライン)は第1の銅板(4)、第2電
源ライン(例えばアースライン)は第2の銅板(5)お
よび電流を供給する出力ラインは第3の銅板(6)によ
り形成されている。第1〜第3の銅板(4)(5)
(6)は約50〜300Aの大電流に対応できるように
する必要からその厚みは約1〜5mm程度の肉厚を有し
ている。
【0019】第1の銅板(4)上にはインバータ回路の
ソース側のスイッチング素子(7A)(7B)(7C)
が半田層(11)によって固着されている。本発明の混
成集積回路では約100A以上の電流に対応できるもの
とするために各スイッチング素子は例えば図5に示す如
く、4並列接続されている。並列接続されたスイッチン
グ素子は3つのブロック毎にそれぞれ隣接するように固
着される。それらソース側のスイッチング素子(7A)
(7B)(7C)は第1の電源ラインにより共通接続さ
れるために本実施例では第1の銅板(4)を共通とし、
スイッチング素子(7A)(7B)(7C)を固着した
が、第1の銅板(4)を3つに分割し、分割された第1
の銅板上にそれぞれ並列接続されたスイッチング素子を
固着することも可能である。
【0020】金属基板(1)を銅基板とした場合には、
第1の銅板(4)を共通使用し、アルミニウム基板とし
た場合には、第1の銅板(4)を共通使用するとアルミ
ニウムと銅との熱膨張係数の差が大きいためにアルミニ
ウム基板に反りが生じるおそれがあるために第1の銅板
(4)を各スイッチング素子の数だけ分割するのが好ま
しい。
【0021】一方、第3の銅板(6)上には、インバー
タ回路のシンク側のスイッチング素子(8A)(8B)
(8C)が半田層(11)を介して固着されている。シ
ンク側のスイッチング素子もソース側のスイッチング素
子と同様に第3の銅板(6)上に隣接して固着されてい
る。第3の銅板(6)は出力ラインの数に対応して個別
に分割されている。
【0022】第1および第3の銅板(4)(6)上に半
田層(11)(11)を介して固着されたスイッチング
素子(7A)〜(7C)(8A)〜(8C)はパワート
ランジスタ、パワーMOSFET、あるいはIGBT等
の大電流タイプの半導体スイッチング素子が用いられて
いる。本発明の特徴とするところは、スイッチング素子
が固着される第1の銅板(4)および第3の銅板(6)
の一部分を基板(1)上に固着し、且つ、ソース側スイ
ッチング素子(7A)〜(7C)が固着された固着領域
上で第3の銅板(6)の一部分と第1の銅板(4)を、
シンク側のスイッチング素子(8A)〜(8C)が固着
された固着領域上で第2の銅板(5)と第3の銅板
(6)をそれぞれ離間させて交差配置させ、且つ、第2
および第3の銅板(5)(6)上に形成された第1およ
び第2の制御パターン(21)(22)とスイッチング
素子(7A)〜(7C)(8A)〜(8C)をワイヤで
接続することにある。
【0023】具体的に述べると、シンク側のスイッチン
グ素子(8A)〜(8C)が固着された第3の銅板
(6)の固着領域を基板(1)上に固着し、その延在さ
れる先端部を第1の銅板(4)上に固着されたソース側
のスイッチング素子(7A)〜(7C)の一部分を重畳
するように配置し、第2の銅板(5)をシンク側のスイ
ッチング素子(8A)〜(8C)と重畳するように離間
させ空間に配置させる。
【0024】上記したように、第3の銅板(6)はシン
ク側のスイッチング素子(8A)〜(8C)が固着され
る固着領域が基板(1)上に固着され、その固着領域よ
り延在される先端部が第1の銅板(4)と重畳離間する
ようにその中間部分で折曲げ加工されている。さらに、
その先端部は第1の銅板(4)上に固着された全てのソ
ース側のスイッチング素子(7A)〜(7C)の一部と
重畳するように配置されている。具体的には、各スイッ
チング素子のエミッタあるいはソース電極と第3の銅板
(6)とがワイヤで接続した際、各ワイヤ配線の長さが
均一にしかも最短の長さとなるように、第3の銅板
(6)の先端部は、各スイッチング素子のソースあるい
はエミッタ電極、ゲートあるいはベース電極と重畳され
ず、並列接続されたスイッチング素子の固着領域の略中
心線で線対象となるように重畳配置されている。
【0025】また、上記した第3の銅板(6)の先端部
にはスイッチング素子(7A)〜(7C)と接続される
第1の制御パターン(21)が形成されている。第1の
制御パターン(21)は第3の銅板(6)上にエポキシ
樹脂をベースにした絶縁層(23)を介して銅箔等の金
属箔により形成されている。第1の制御パターン(2
1)はソース側のスイッチング素子(7A)〜(7C)
のゲートあるいはベース電極とソースあるいはエミッタ
電極と接続されるための2種類のパターンが形成され
る。すなわち、第1の制御パターン(21A)はゲート
あるいはベース電極と、第1の制御パターン(21B)
はソースあるいはエミッタ電極と接続される。本実施例
では第1の制御パターン(21A)(21B)は第3の
銅板(6)の先端部を囲むようにコの字状に形成されて
いる。
【0026】第3の銅板(6)上に固着されたシンク側
のスイッチング素子(8A)〜(8C)と接続される第
2の銅板(5)は第3の銅板(6)と重畳するように離
間配置される。具体的には、第2の銅板(5)は後述す
るケース材(10)によって支持されており、基板
(1)とケース材(10)とを一体化した際、第3の銅
板(6)と離間重畳するように配置される。第2の銅板
(5)はシンク側のスイッチング素子(8A)〜(8
C)とワイヤで接続されるためにスイッチング素子(8
A)〜(8C)のベースあるいはゲート電極とエミッタ
あるいはソース電極を残した他の領域と重畳するように
配置される。
【0027】また、第2の銅板(5)上にはスイッチン
グ素子(8A)〜(8C)と接続される第2の制御パタ
ーン(22)が形成されている。第2の制御パターン
(22)はエポキシ樹脂をベースにした絶縁層(24)
を介して銅箔等の金属箔により形成されている。第2の
制御パターン(22)はシンク側のスイッチング素子
(8A)〜(8C)のゲートあるいはベース電極とソー
スあるいはエミッタ電極と接続されるための2種類のパ
ターンが形成される。すなわち、第2の制御パターン
(22A)はゲートあるいはベース電極と、第2の制御
パターン(22B)はソースあるいはエミッタ電極と接
続される。本実施例では、ベースあるいはゲート電極と
接続される第2の制御パターン(22A)は各スイッチ
ング数(出力数)に対応して形成され、ソースあるいは
エミッタ電極と接続される第2の制御パターン(22
B)は共通接続されるために第2の銅板(5)の長手方
向の全面に形成されている。
【0028】スイッチング素子の固着領域上で離間配置
された第1の銅板(4)と第3の銅板(6)および第3
の銅板(6)と第2の銅板(5)との離間距離は、図面
上では比較的にあるように見えるが、実際には約2〜5
mm程度の距離で離間配置される。ところで、第3の銅
板(6)の一部分は外部回路と接続するための外部リー
ド端子(6A)として兼用されている。すなわち、第3
の銅板(6)の一部分を上面方向に略90°の角度で折
曲げ加工し、折曲げ加工された先端部を外部リード端子
(6A)として用い、ヒートシンクとなる銅板(6)と
外部リード(6A)とを兼用させることである。第3の
銅板(6)の外部リード端子(6A)は後述するケース
材の上面部よりも突出するように延在され、本実施例で
は上述したように略90°の角度で折曲げ加工される
が、外部回路との接続状態に応じてその角度は任意に調
整することができる。
【0029】第3の銅板(6)の一部分を折曲げ加工し
その先端部を外部リード端子(6A)として兼用するこ
とにより、外部リード端子専用の固着パッドを基板
(1)上に形成する必要がないため基板(1)のサイズ
を小型化にすることができる。また、外部リード端子専
用の固着パッドが無くなるのに伴いリード端子を固着す
るための専用の半田層が無くなるために半田層による出
力電流の損失を抑制することができ信頼性の向上に寄与
することができる。
【0030】金属基板(1)上にソース側のスイッチン
グ素子が固着された第1の銅板(4)を固着し、その第
1の銅板(4)と交差するようにシンク側のスイッチン
グ素子が固着された第3の銅板(6)を隣接配置して基
板(1)上に固着した後、基板(1)はケース材(1
0)と一体化される。ケース材(10)はファイバグラ
ス・レインホースPET(FRPET)等の絶縁樹脂で
射出成形により略枠状に形成される。ケース材(10)
の射出成形時に第2の銅板(5)がインサート成形され
るようになっており、具体的にはケース材(10)内に
設けられた各バー(10A)によって第2の銅板(5)
が固定支持される構造となっている。すなわち、インサ
ート成形時に第2の銅板(5)は各バー(10A)に埋
没するように形成されるため、第2の銅板(5)は各バ
ー(10A)によって強固に固定支持されることにな
る。
【0031】ケース材(10)は基板(1)の周端辺と
略一致するようにエポキシ系あるいはシリコン系の接着
剤によって固着一体化される。金属基板(1)とケース
材(10)を一体化した後、図5に示したインバータ回
路に基づいて、ボンディングワイヤにより各銅板および
各スイッチング素子が相互接続されることになる。すな
わち、ソース側のスイッチング素子(7A)〜(7C)
のベースあるいはゲート電極は第3の銅板(6)上に形
成された第1の制御パターン(21A)と接続され、エ
ミッタあるいはソース電極は第1の制御パターン(21
B)および第3の銅板(6)と直接約200〜500μ
m径のAlワイヤでボンディング接続される。
【0032】また、シンク側のスイッチング素子(8
A)〜(8C)のベースあるいはゲート電極は第2の銅
板(5)上に形成された第2の制御パターン(22A)
と接続され、エミッタあるいはソース電極は第2の制御
パターン(22B)および第2の銅板(5)と直接約2
00〜500μm径のAlワイヤでボンディング接続さ
れる。
【0033】第1および第2の制御パターン(21A)
(21B)(22A)(22B)は銅板(4)(5)上
に絶縁層(23)(24)を介して形成されるために、
それら制御パターン(21A)(21B)(22A)
(22B)と銅板(4)(5)間には所定の寄生容量が
形成され、上述したように各スイッチング素子(7A)
〜(7C)(8A)〜(8C)のベースあるいはゲート
電極と第1の制御パターン(21A)および第2の制御
パターン(22A)、エミッタあるいはソース電極と第
1の制御パターン(21B)および第2の制御パターン
(22B)を接続すると、図3に示す如く、例えばMO
S型のスイッチング素子のゲート―ソース間に寄生容量
が接続される構造となる。従って、ノイズ除去を行うた
めの専用のコンデンサー部品を必要とせずにゲート―ソ
ース間のノイズを除去できスイッチング素子の信頼性を
向上することができる。
【0034】並列接続された各シンク側およびソース側
のスイッチング素子(7A)〜(7C)(8A)〜(8
C)のベースあるいはゲート電極、エミッタあるいはソ
ース電極と第1、第2の制御パターン(21A)(21
B)(22A)(22B)および第2、第3の銅板
(5)(6)をワイヤでボンディング接続する際、第
2、第3の銅板(5)(6)とスイッチング素子(7
A)〜(7C)(8A)〜(8C)との離間距離が約2
〜5mm程度であること、および第2および3の銅板
(5)(6)が線対象となるように重畳配置されている
ことにより、ボンディング時のワイヤを最短の長さで、
しかも各ワイヤ配線の長さを均一にできることになる。
一方、ボンディング時における応力も第2の銅板(5)
はケース材(10)のバー(10A)によって固定支持
されているために超音波ボンディング装置を用いても何
んら支障はない。
【0035】ところで、基板(1)とケース材(10)
を一体化し、各スイッチング素子と各銅板等を接続した
後、制御基板(20)と第1および第2の制御パターン
(21)(22)とがワイヤにより接続される。制御基
板(20)はエポキシ、セラミックスあるいは金属等の
ベース基板が用いられ、その一主面あるいは両主面には
銅箔によって所望形成のパターンが形成されている。本
実施例においては、制御基板(20)上にはソースおよ
びシンク側の各スイッチング素子(7A)〜(7C)
(8A)〜(8C)を駆動させるために必要なトランジ
スタ、チップ抵抗等の複数の回路素子から構成される駆
動回路(25A)〜(25C)(26A)〜(26C)
が形成され、その駆動回路(25A)〜(25C)(2
6A)〜(26C)からは各スイッチング素子のゲート
電極と接続するための専用のパッド(27A)〜(27
C)(28A)〜(28C)およびソース電極と接続す
るための専用パッド(29A)〜(29C)(30A)
〜(30C)が形成されている。また、制御基板(2
0)上には温度補償回路、電流検出回路等の各種の保護
回路が形成されている。さらに、制御基板(20)には
外部回路と相互接続するためのコネクタ(31)が所定
位置に固着接続される。
【0036】上記した制御基板(20)はケース材(1
0)と一体化されたバー(10B)上に載置された後、
制御基板(20)上に形成されたゲート電極用のパッド
(27A)〜(27C)(28A)〜(28C)と第1
および第2の制御パターン(21A)(22A)が、ソ
ース電極用のパッド(29A)〜(29C)(30A)
〜(30C)と第1および第2の制御パターン(21
B)(22B)とがAlワイヤで接続される。
【0037】スイッチング素子、第1〜第3の銅板およ
び制御基板をワイヤで相互接続した後、ケース材(1
0)内に囲まれた空間領域内にシリコンゲル(40)お
よびエポキシ樹脂(50)を順次充填しインバータ回路
に必要な各部品および素子を保護する。制御基板(2
0)と第1および第2の制御パターン(21)(22)
を接続するワイヤは約200〜500μmと比較的太い
配線であることおよびワイヤ配線時に余裕を持たせてい
るために、シリコンゲル(40)が膨張した場合であっ
てもワイヤ配線が膨張応力によって断線するような不具
合は発生しない。
【0038】また、本実施例ではインバータ回路の出力
端子は上部方向に導出形成されているが、VCCラインお
よびアースラインの第1および第2の銅板(4)(5)
は基板(1)の一周端辺に延在され折曲げ加工されネジ
止め出来るように設計されている。
【0039】
【発明の効果】以上に詳述した如く、本発明に依れば、
特に並列接続された複数のスイッチング素子が固着され
た第1および第3の銅板の一部または全部を基板上に固
着し、且つ、スイッチング素子が固着された領域上で第
3の銅板の一部を第1の銅板表面と第2の銅板を第3の
銅板表面とそれぞれ離間して交差させることにより、ス
イッチング素子と第2および第3の銅板を接続する各ワ
イヤ配線の長さを均一にしかも最短で接続することがで
きる。その結果、ワイヤ配線の抵抗およびインダクタン
ス成分を最小限にすることができスイッチングノイズに
よるスイッチング素子の誤動作のない信頼性の優れた混
成集積回路を提供することができる。また、ワイヤ配線
が各スイッチング素子において均一であるため安定した
電流を流すことができる。
【0040】また、本発明に依れば、第2および第3の
銅板上には絶縁層を介してスイッチング素子の制御電極
と接続される制御パターンが形成されることにより、第
2あるいは第3の銅板―絶縁層―制御パターン間に寄生
容量が形成され、且つ、その容量がスイッチング素子の
ゲート―ソース間(あるいはベース―エミッタ間)に接
続される構造となるためにその寄生容量でノイズ除去を
行うことができる。その結果、ノイズ除去専用のコンデ
ンサ部品を基板上に実装する必要がないため低コストで
しかも信頼性の高い混成集積回路を提供することができ
る。
【0041】さらに、本発明に依ればシンク側のスイッ
チング素子が固着された第3の銅板の一部分を折曲げて
外部リード端子として兼用することにより、外部リード
端子のみの半田固着を不要とすることができる。その結
果、リード端子の半田層による電流損失を抑制すること
ができ、発熱量を低減できる。さらに、本発明に依れば
リード端子を固着する専用のランド(パッド)を基板上
に形成する必要がないことおよび第3の銅板が中空に位
置するために基板サイズを小型化にすることができる。
【0042】さらに、本発明に依れば、第3の銅板上に
配置された制御基板と第2および第3の銅板上に形成さ
れた制御パターンがワイヤ配線により接続されているた
めに駆動回路を有した小型化されたインバータ用の混成
集積回路を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の混成集積回路を示す断面図である。
【図2】本発明の混成集積回路の平面図である。
【図3】スイッチング素子の等価回路図である。
【図4】制御基板の平面図である。
【図5】インバータ回路を示す回路図である。
【符号の説明】
(1) 金属基板 (2) 絶縁層 (3) 導電路 (4) 第1の銅板 (5) 第2の銅板 (6) 第3の銅板 (7)(8) スイッチング素子 (9)(11) 半田層 (10) ケース材 (10A)(10B)バー (20) 制御基板 (21)(22)制御パターン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−15453(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 25/04

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金属基板上に絶縁層を介してインバータ
    回路が形成される混成集積回路であり、 前記インバータ回路の第1電源ライン、第2の電源ライ
    ンおよび負荷に接続され且つ電流を供給する出力ライン
    を構成する第1の銅板、第2の銅板および第3の銅板
    と、 前記インバータ回路のソース側に位置し、前記第1の銅
    板上に固着された複数のスイッチング素子と、 前記インバータ回路のシンク側に位置し、前記第3の銅
    板上に固着された複数のスイッチング素子と、 前記第2の銅板および前記第3の銅板の上にそれぞれ形
    成された制御パターンとを有し、 前記第1の銅板は、前記金属基板の一側辺に沿って固着
    され、 前記一側辺と対向した前記金属基板の他側辺に前記第3
    銅板の一領域が固着され、且つ前記ソース側のスイッチ
    ング素子の上を交差し、前記ソース側のスイッチング素
    子の電極が露出するように前記第3の銅板が配置され、
    前記スイッチング素子の電極と前記制御パターンとを接
    続するワイヤが均一となように、前記第3の銅板と前記
    第2の銅板が配置されることを特徴とした混成集積回
    路。
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