JP3128802B2 - 遅延装置 - Google Patents

遅延装置

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JP3128802B2
JP3128802B2 JP02085866A JP8586690A JP3128802B2 JP 3128802 B2 JP3128802 B2 JP 3128802B2 JP 02085866 A JP02085866 A JP 02085866A JP 8586690 A JP8586690 A JP 8586690A JP 3128802 B2 JP3128802 B2 JP 3128802B2
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Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
この発明は、超音波診断装置などに用いられる遅延装
置に関し、とくに多数のタップを有するディレイライン
を利用し、そのタップを切り換えることにより任意のデ
ィレイタイムを得る遅延装置に関する。
【従来の技術】
ディレイラインを利用した遅延装置では、ディレイラ
インの精度が低いとディレイタイムエラーが生じる。こ
れを避けるためには、高精度なディレイラインを用いる
こと、測定器を用いてあらかじめディレイタイムエラー
を測定してそれに応じてコントロールすること、あるい
は測定器によりあらかじめディレイタイムエラーを測定
して補正データを得て、それをROMにメモリし、この補
正データをROMから読み出してコントロールすること、
などが考えられる。
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、遅延時間エラーの特別に小さいディレ
イラインを製造することは困難であり、製造コストがき
わめて高くなるとともに、寸法・形状も大きくなって実
現は不可能に近い、また、あらかじめディレイタイムエ
ラーを測定する場合、測定器を用いてディレイラインご
とにその度にディレイタイムエラー測定を行う必要があ
って面倒であるし、ROMに補正データメモリする場合に
はディレイラインの互換性がない、などの問題がある。 この発明は、簡単な構成で安価にディレイタイムエラ
ーを軽減することができる、遅延時間を提供することを
目的とする。
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、この発明による遅延装置
においては、多数のタップを有するディレイラインと、
該タップを切り換える切換器と、外部から入力される遅
延時間データにより指定されるアドレスに補正済遅延時
間データを格納すべきメモリと、該メモリから読み出さ
れた補正済遅延時間データに応じて上記切換器をコント
ロールするコントローラと、ディレイラインに信号が入
力されてから遅延して出力されるまでの間、カウントダ
ウンするカウンタと、外部からの遅延時間データを一時
的に直接コントローラに入力してタップ切り換えコント
ロールし、かつこの外部からの遅延時間データで表され
る遅延時間の2倍に相当する値にカウンタをセットし
て、この値から、ディレイラインへの信号入力時点から
出力時点までの間、カウントダウンするようにしたとき
に得られるカウント値を、上記メモリの、上記外部入力
遅延時間データで指定されるアドレスに、補正済遅延時
間データとして書き込む回路とを備えられることが特徴
となっている。
【作用】
遅延時間Tを表す外部からのデータを直接コントロー
ラに入力してタップ切り換えコントロールすると、誤差
を含んだ遅延時間T(1−ε)が得られることになる。
すなわち、このようにタップ切り換えコントロールされ
たディレイラインの信号を入力してそれから出力が生じ
るまでの間の遅延時間は、誤差を含んだT(1−ε)と
なる。 そこで、このような状態とした上で、カウンタに、そ
の外部からのデータで表される遅延時間Tの2倍に相当
する値2Tをセットして、この値2Tから上記の間、カウン
トダウンさせる。すると、このカウンタの値は、2T−T
(1−ε)=T(1+ε)となる。このカウント値を、
遅延時間Tを表すデータで指定される、メモリのアドレ
スに、補正済遅延時間データとして書き込んでおく。 すると、ディレイタイムTを得ようとしてそのディレ
イタイムTを示す遅延時間データを外部から与えたと
き、そのデータでメモリのアドレスが指定されてT(1
+ε)が読み出されて、それがコントローラに与えら
れ、T(1+ε)に対応するタップが切り換えられる。
すなわち、所望の遅延時間Tそのものに対応するタップ
でなく、遅延時間エラーを考慮してずらされた他のT
(1+ε)に対応するタップが選択される。 遅延時間Tを与えるタップと、遅延時間T(1−ε)
を与えるタップでは、遅延時間エラー率εは同じと考え
られる。そのため、実際に得られる遅延時間はT(1+
ε)×(1−ε)=T(1−ε)となって、誤差が軽
減される。
【実 施 例】
つぎにこの発明の一実施例について図面を参照しなが
ら詳細に説明する。第1図において、RAM1にはアドレス
入力端子11と、データ入出力端子12と、出力イネーブル
入力端子13と、ライト入力端子14とが備えられており、
アドレス入力端子11には、ディレイタイムを表すデータ
Aが送られ、このデータAでアドレス指定される。バッ
ファ21〜23は3ステートバッファであり、それぞれCOMP
信号で制御され、バッファ21、22はCOMP信号がHレベル
のときオン、Lレベルでオフ、バッファ23はCOMP信号が
Hレベルのときオフ、Lレベルでオンとなる。コントロ
ーラ3には、遅延時間に関するデータAがバッファ21を
介して送られ、あるいはRAM1のデータ入出力端子12に現
れるデータがバッファ23を介して送られてくる。コント
ローラ3は、これらの入力データに応じてディレイライ
ン4の多数のタップの各々を切り換えるためのスイッチ
5を制御する。ディレイライン4には、エコー信号ある
いは信号Sinがスイッチ5を介して入力され、その出力S
outはコンパレータ6に送られる。コンパレータ6の出
力はR−Sフリップフロップ7のリセット入力端子に送
られ、その反転出力がディレイパルス発生器8に入力さ
れるとともに、カウントイネーブル信号としてカウンタ
9に送られる。カウンタ9は、クロックパルスの入力端
子91と、ロード信号の入力端子92と、上記データAで表
されるディレイタイムの2倍の遅延時間を表すデータB
が入力されるデータ入力端子93と、カウンタイネーブル
信号の入力端子94と、カウント値を出力する出力端子95
とを備えている。クロックパルスはディレイライン4の
タップ間ディレイタイムに相当する周期、あるいはその
周期の整数分の1の周期を有するものとする。上記ディ
レイパルス発生器8から発生したパルスはライト信号と
してRAM1のライト入力端子14に送られる。 以上の構成において、第2図で示すように補正時には
COMP信号がHレベルとなるので、バッファ21、22がオン
となっている。そのため、データAはこのバッファ21を
通ってコントローラ3に入力され、対応するスイッチ5
がオンになる。ここで、データAが遅延時間Tnを表して
いるとすると、データBは2Tnを表していることにな
り、この2TnのデータBがデータ入力端子93からロード
信号に応じてカウンタ9にロードされる。したがってこ
のときカウンタ9の出力は2Tnとなっている(第2図参
照)。 つぎにスタート信号によりR−Sフリップフロップ7
がセットされ、その結果、その反転出力であるカウント
イネーブル信号がLレベルとなってカウンタ9がクロッ
クパルスのカウントダウン動作を開始する。同時に信号
Sinが加えられる。この信号Sinは上記のオンになってい
るスイッチ5を通ってディレイライン4の所定のタップ
に加えられ、遅延時間Tn(1+ε)後に出力Soutが得
られる(第2図参照)。ここでεは遅延時間Tnを与え
るタップにおける実際のディレイタイムエラー率であ
る。この出力Soutはコンパレータ6を経てR−Sフリッ
プフロップ7をリセットし、カウントイネーブル信号を
Hレベルとする。カウンタ9はカウントイネーブル信号
がLレベルとなっている間だけカウントダウンするの
で、カウントイネーブル信号がHレベルに戻ったとき
は、その出力端子95に現れるカウント値は、 2Tn−Tn(1+ε) =Tn(1−ε) となっている(第2図参照)。 このカウント値はバッファ22を通ってRAM1のデータ入
出力端子12に送られている。一方、上記の遅延時間Tnを
表すデータAは、このRAM1のアドレス入力端子11にも送
られてきている。そこで、その後、ディレイパルス発生
器8からのライト信号がLレベルとなったとき(第2図
参照)、遅延時間Tnを表すデータAで指定されるアドレ
スに、このカウント値が書き込まれることになる。 同様にして、他の遅延時間Tn+1についてカウンタ9で
Tn+1(1−ε)のカウント値を得てこれをRAM1のTn+1
に相当するアドレスに書き込む。なお、εは遅延時間
Tn+1を与えるタップにおける実際のディレイタイムエラ
ー率である。この動作を繰り返して、ディレイライン4
のすべてのタップについての補正後のデータ(カウント
値)を書き込む。 この補正動作が終了したとき、COMP信号がLレベルと
され、バッファ21、22がオフに、バッファ23がオンにさ
れる。その結果、ある遅延時間を表すデータAが与えら
れたとき、それが直接コントローラ3に入力されること
はなく、そのデータAでRAM1のアドレスの指定が行わ
れ、そのアドレスに格納されていたデータが読み出さ
れ、その読み出されたデータがデータ入出力端子12及び
バッファ23を介してコントローラ3に送られることにな
る。 そのため、たとえば遅延時間Tnを表すデータAが与え
られたときは、RAM1から遅延時間Tn(1−ε)を表す
データが読み出されてこれがコントローラ3に入力され
る。遅延時間Tn+1を表すデータAが与えられたときは、
RAM1から遅延時間Tn+1(1−ε)を表すデータが読み
出されてこれがコントローラ3に入力される。すなわ
ち、遅延時間Tnを得ようとすると、ディレイライン4の
遅延時間Tnのタップではなく遅延時間Tn(1−ε)の
タップに接続されているスイッチ5がオンになり、遅延
時間Tn+1を得ようとすると、ディレイライン4の遅延時
間Tn+1のタップではなく遅延時間Tn+1(1−ε)のタ
ップに接続されているスイッチ5がオンになる。 そこで、このディレイライン4に入力されるエコー信
号は、遅延時間TnのデータAを与えた場合に、 Tn′=Tn(1−ε)×(1+ε) =Tn(1−ε1 2) だけ遅延し、遅延時間Tn+1のデータAを与えたとき、 Tn+1′=Tn+1(1−ε)×(1+ε) =Tn+1(1−ε2 2) だけ遅延することになる。すなわち、遅延時間Tnを与え
るタップと遅延時間Tn(1−ε)を与えるタップ、及
び遅延時間Tn+1を与えるタップと遅延時間Tn+1(1−ε
)を与えるタップでは、それぞれ遅延時間エラー率が
略同じと考えられるからである。遅延時間エラー率
ε、εは一般に2〜5%と小さく、そのため、 Tn′≒Tn Tn+1′≒Tn+1 となり、ディレイタイムエラーを軽減することができ
る。
【発明の効果】
この発明の遅延装置によれば、簡単な構成によって安
価にディレイラインの遅延時間エラー補正を行うことが
できる。したがって、ディレイタイムエラーの小さい高
価な特別のディレイラインを要することもなく、また、
事前にディレイラインごとに測定器で実際のディレイタ
イムエラーを測定する必要もなくなる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例のブロック図、第2図は動
作説明のためのタイムチャートである。 1……RAM、21〜23……3ステートバッファ、3……コ
ントローラ、4……ディレイライン、5……タップ切換
用スイッチ、6……コンパレータ、7……R−Sフリッ
プフロップ、8……ディレイパルス発生器、9……カウ
ンタ。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】多数のタップを有するディレイラインと、
    該タップを切り換える切換器と、外部から入力される遅
    延時間データにより指定されるアドレスに補正済遅延時
    間データを格納すべきメモリと、該メモリから読み出さ
    れた補正済遅延時間データに応じて上記切換器をコント
    ロールするコントローラと、ディレイラインに信号が入
    力されてから遅延して出力されるまでの間、カウントダ
    ウンするカウンタと、外部からの遅延時間データを一時
    的に直接コントローラに入力してタップ切り換えコント
    ロールし、かつこの外部からの遅延時間データで表され
    る遅延時間の2倍に相当する値にカウンタをセットし
    て、この値から、ディレイラインへの信号入力時点から
    出力時点までの間、カウントダウンするようにしたとき
    に得られるカウント値を、上記メモリの、上記外部入力
    遅延時間データで指定されるアドレスに、補正済遅延時
    間データとして書き込む回路とを備えることを特徴とす
    る遅延装置。
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