JP3117232B2 - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JP3117232B2 JP3117232B2 JP4537891A JP4537891A JP3117232B2 JP 3117232 B2 JP3117232 B2 JP 3117232B2 JP 4537891 A JP4537891 A JP 4537891A JP 4537891 A JP4537891 A JP 4537891A JP 3117232 B2 JP3117232 B2 JP 3117232B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は投光スポットが被写体に
半可に当たり、スポット欠けが起きた場合にも誤差なく
測距できる測距装置に関する。
半可に当たり、スポット欠けが起きた場合にも誤差なく
測距できる測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】被写体に光を投光し、その反射光を受光
し、その受光位置を検出することで被写体距離を測定す
る、いわゆる、図２２（ａ）に示されるアクティブ型三
角測距装置は、通常発光素子である赤外発光ダイオ−ド
（以下、ＩＲＥＤと呼ぶ）の発光点は一定の大きさを有
するので、投光レンズによって被写体上に拡大投影され
ることになる。
し、その受光位置を検出することで被写体距離を測定す
る、いわゆる、図２２（ａ）に示されるアクティブ型三
角測距装置は、通常発光素子である赤外発光ダイオ−ド
（以下、ＩＲＥＤと呼ぶ）の発光点は一定の大きさを有
するので、投光レンズによって被写体上に拡大投影され
ることになる。
【０００３】図２２（ａ）の被写体の様に投光スポット
像が欠ける場合は、図２２（ｂ）のような受光スポット
像の光量の重心移動が発生する。
像が欠ける場合は、図２２（ｂ）のような受光スポット
像の光量の重心移動が発生する。
【０００４】この為に測距結果が遠距離側にずれたり
（（Ｂ）の位置）、近距離側にずれたり（（Ａ）の位
置）して正確な距離測定ができなくなる。この様なこと
は被写体にスポット光全体が当たっていても被写体に甚
しい反射率差がある場合において起きる。すなわち、ス
ポット欠けは、欠けた所の被写体側の反射率が０％にな
ったと考えれば良い。
（（Ｂ）の位置）、近距離側にずれたり（（Ａ）の位
置）して正確な距離測定ができなくなる。この様なこと
は被写体にスポット光全体が当たっていても被写体に甚
しい反射率差がある場合において起きる。すなわち、ス
ポット欠けは、欠けた所の被写体側の反射率が０％にな
ったと考えれば良い。
【０００５】このような視点から以後、上記測距誤差を
コントラスト誤差と呼ぶことにする。上記コントラスト
誤差は、概して、実際の写真場面では被写体が遠距離に
いる場合や、草花のように被写体が非常に小さい場合に
よく起きる。
コントラスト誤差と呼ぶことにする。上記コントラスト
誤差は、概して、実際の写真場面では被写体が遠距離に
いる場合や、草花のように被写体が非常に小さい場合に
よく起きる。
【０００６】これに対処すべく、特開昭６３−１３１０
２０号公報は、スポット光を走査し、反射光量のピーク
を検出し、その時の測距結果を選択する方法を開示して
いる。
２０号公報は、スポット光を走査し、反射光量のピーク
を検出し、その時の測距結果を選択する方法を開示して
いる。
【０００７】しかしながら、この方法では投光スポット
を精度よく被写体を挟んでその左右に走査する為の機械
的可動部が必要なので、装置の構成が複雑となり、信頼
性に乏しいという問題点があった。
を精度よく被写体を挟んでその左右に走査する為の機械
的可動部が必要なので、装置の構成が複雑となり、信頼
性に乏しいという問題点があった。
【０００８】又、特願平２−１５３５６６号公報は、発
光部を少なくとも３つ設け、中央の発光に対して光量測
定と光量比測定を行ない、その差からスポットはずれを
判断する方法を開示している。
光部を少なくとも３つ設け、中央の発光に対して光量測
定と光量比測定を行ない、その差からスポットはずれを
判断する方法を開示している。
【０００９】しかしながら、この方法では高価な発光素
子が少くとも３つ必要であり、また、上記判定は被写体
の反射率に大きく影響され実効をなさない可能性が高
い。例えば反射率の低い近距離被写体、逆に反射率の高
い遠距離被写体等をコントラスト誤差が発生したと誤認
する可能性がある為、適切な判定レベルを決定すること
が困難であるという問題があった。
子が少くとも３つ必要であり、また、上記判定は被写体
の反射率に大きく影響され実効をなさない可能性が高
い。例えば反射率の低い近距離被写体、逆に反射率の高
い遠距離被写体等をコントラスト誤差が発生したと誤認
する可能性がある為、適切な判定レベルを決定すること
が困難であるという問題があった。
【００１０】さらに、上記コントラスト誤差の問題を解
決すべく、特開昭５５−１１９００６号公報、特開平１
−２１７４２５号公報は３眼式の測距装置を開示してい
る。これは、位置検出器を照射光ビームに対し対称に２
つ設置し、上記２つの位置検出器の出力の平均値を出力
するものである。このような光学的配置をすることによ
って、照射ビームが欠けるようなことがあっても２つの
位置検出器は互いに逆方向に変化するので、コントラス
ト誤差が打ち消し合い正確な測距ができる。
決すべく、特開昭５５−１１９００６号公報、特開平１
−２１７４２５号公報は３眼式の測距装置を開示してい
る。これは、位置検出器を照射光ビームに対し対称に２
つ設置し、上記２つの位置検出器の出力の平均値を出力
するものである。このような光学的配置をすることによ
って、照射ビームが欠けるようなことがあっても２つの
位置検出器は互いに逆方向に変化するので、コントラス
ト誤差が打ち消し合い正確な測距ができる。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
成では測距光学系の配置が一律に決定されてしまい、フ
ァインダー、ストロボ等の他のユニット配置によるスペ
ース制約上、小型カメラに搭載することができないこと
が多かった。
成では測距光学系の配置が一律に決定されてしまい、フ
ァインダー、ストロボ等の他のユニット配置によるスペ
ース制約上、小型カメラに搭載することができないこと
が多かった。
【００１２】本発明はこのような問題に着目してなされ
たもので、その目的とするところは、光学系配置に大き
な自由度を有し、かつ、小型カメラに搭載可能な測距装
置を提供することにある。
たもので、その目的とするところは、光学系配置に大き
な自由度を有し、かつ、小型カメラに搭載可能な測距装
置を提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、第１の発明に係る測距装置は、測距対象物に向け
て投光する投光手段と、この投光手段から基線長Ｌ１離
れて配置され、上記測距対象物からの反射光を受光して
受光位置に応じた第１信号を出力する第１の受光手段
と、上記投光手段を挟んで上記第１の受光手段と反対側
に、基線長Ｌ２離れて配置され、かつ、上記第１の受光
手段とは異なる光学配置条件を有しており、上記測距対
象物からの反射光を受光して受光位置に応じた第２信号
を出力する第２の受光手段と、上記第１の受光手段と第
２の受光手段の光学配置条件の差に基づいて、上記第１
信号と第２信号の関係を電気的に処理した後、上記２つ
の信号を用いて上記測距対象物までの距離を演算する演
算手段とを具備する。また、第２の発明に係る測距装置
は、第１の発明において、上記演算手段は、上記測距対
象物の距離変化に対応する上記第１の受光手段の出力変
化率と、上記第２の受光手段の出力変化率の比が、上記
基線長Ｌ１とＬ２の比と等しくなるように電気的に処理
した後、上記２つの信号の合成和演算を行って上記測距
対象物までの距離を演算する。
めに、第１の発明に係る測距装置は、測距対象物に向け
て投光する投光手段と、この投光手段から基線長Ｌ１離
れて配置され、上記測距対象物からの反射光を受光して
受光位置に応じた第１信号を出力する第１の受光手段
と、上記投光手段を挟んで上記第１の受光手段と反対側
に、基線長Ｌ２離れて配置され、かつ、上記第１の受光
手段とは異なる光学配置条件を有しており、上記測距対
象物からの反射光を受光して受光位置に応じた第２信号
を出力する第２の受光手段と、上記第１の受光手段と第
２の受光手段の光学配置条件の差に基づいて、上記第１
信号と第２信号の関係を電気的に処理した後、上記２つ
の信号を用いて上記測距対象物までの距離を演算する演
算手段とを具備する。また、第２の発明に係る測距装置
は、第１の発明において、上記演算手段は、上記測距対
象物の距離変化に対応する上記第１の受光手段の出力変
化率と、上記第２の受光手段の出力変化率の比が、上記
基線長Ｌ１とＬ２の比と等しくなるように電気的に処理
した後、上記２つの信号の合成和演算を行って上記測距
対象物までの距離を演算する。
【００１４】
【作用】すなわち、第１の発明においては、測距対象物
からの反射光を受光して受光位置に応じた第１信号を出
力する第１の受光手段を、投光手段から基線長Ｌ１離し
て配置し、上記第１の受光手段とは異なる光学配置条件
を有し、上記測距対象物からの反射光を受光して受光位
置に応じた第２信号を出力する第２の受光手段を、上記
投光手段を挟んで上記第１の受光手段と反対側に、基線
長Ｌ２離して配置し、上記第１の受光手段と第２の受光
手段の光学配置条件の差に基づいて、上記第１信号と第
２信号の関係を電気的に処理した後、上記２つの信号を
用いて上記測距対象物までの距離を演算するようにす
る。また、第２の発明は、第１の発明において、上記測
距対象物の距離変化に対応する上記第１の受光手段の出
力変化率と、上記第２の受光手段の出力変化率の比が、
上記基線長Ｌ１とＬ２の比と等しくなるように電気的に
処理した後、上記２つの信号の合成和演算を行って上記
測距対象物までの距離を演算するようにする。
からの反射光を受光して受光位置に応じた第１信号を出
力する第１の受光手段を、投光手段から基線長Ｌ１離し
て配置し、上記第１の受光手段とは異なる光学配置条件
を有し、上記測距対象物からの反射光を受光して受光位
置に応じた第２信号を出力する第２の受光手段を、上記
投光手段を挟んで上記第１の受光手段と反対側に、基線
長Ｌ２離して配置し、上記第１の受光手段と第２の受光
手段の光学配置条件の差に基づいて、上記第１信号と第
２信号の関係を電気的に処理した後、上記２つの信号を
用いて上記測距対象物までの距離を演算するようにす
る。また、第２の発明は、第１の発明において、上記測
距対象物の距離変化に対応する上記第１の受光手段の出
力変化率と、上記第２の受光手段の出力変化率の比が、
上記基線長Ｌ１とＬ２の比と等しくなるように電気的に
処理した後、上記２つの信号の合成和演算を行って上記
測距対象物までの距離を演算するようにする。
【００１５】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の測距装置の一
実施例を説明する。
実施例を説明する。
【００１６】図１は本発明の一実施例の基本的な構成を
説明するブロック図である。
説明するブロック図である。
【００１７】図１において、投光レンズの焦点距離ｆr
だけ離れた位置に配設された、チップサイズがｔ0 の発
光素子は、同素子で発光された光束が、投光レンズで集
光されて、測距対象物に向け投射される。同測距対象物
で反射された光は、投光レンズから基線長Ｌ1 ：Ｌ2 離
れて配置された受光レンズで集光されて、同レンズから
その焦点距離ｆJ1，ｆJ2だけ離れた位置に配設された第
１、第２の半導体位置検出素子（以下、ＰＳＤ１，ＰＳ
Ｄ２と呼ぶ）に入射する。すると、各ＰＳＤには、それ
ぞれ光電流Ｉ1 ，Ｉ2 ，Ｉ3 ，Ｉ4が発生し、これが各
演算手段１００，１０１に供給され、同手段で測距演算
されるようになっている。
だけ離れた位置に配設された、チップサイズがｔ0 の発
光素子は、同素子で発光された光束が、投光レンズで集
光されて、測距対象物に向け投射される。同測距対象物
で反射された光は、投光レンズから基線長Ｌ1 ：Ｌ2 離
れて配置された受光レンズで集光されて、同レンズから
その焦点距離ｆJ1，ｆJ2だけ離れた位置に配設された第
１、第２の半導体位置検出素子（以下、ＰＳＤ１，ＰＳ
Ｄ２と呼ぶ）に入射する。すると、各ＰＳＤには、それ
ぞれ光電流Ｉ1 ，Ｉ2 ，Ｉ3 ，Ｉ4が発生し、これが各
演算手段１００，１０１に供給され、同手段で測距演算
されるようになっている。
【００１８】以下に、図１を参照して本発明を理論的に
説明する。
説明する。
【００１９】まず、各演算手段１００，１０１からなる
距離演算回路は、例えば、図１９（ａ），図２０
（ａ），図２１（ａ）に示すような構成が考えられる
が、ここでは図１９（ａ）の距離演算回路を使用するこ
ととする。なお、演算回路の詳細は本願人が先に出願し
た特開平１−２２４６１７号に開示されている。
距離演算回路は、例えば、図１９（ａ），図２０
（ａ），図２１（ａ）に示すような構成が考えられる
が、ここでは図１９（ａ）の距離演算回路を使用するこ
ととする。なお、演算回路の詳細は本願人が先に出願し
た特開平１−２２４６１７号に開示されている。
【００２０】 まず、第１の距離演算出力は、 Ａ１＝（ｔ１／２＋ｘ１−ｘＳＨＦ１）／ｔ１＝１／２＋（ｘ１−ｘＳＨＦ１） ／ｔ１ … （１） 同様に第２距離演算出力は Ａ２＝（ｔ２／２＋ｘ２−ｘ ＳＨＦ２ ）／ｔ２＝１／２＋（ｘ２−ｘＳＨＦ２） ／ｔ２ … （２） ここで、コントラスト誤差が生じ、ＰＳＤ１上で△ｘ１
だけの重心移動が発生したとすると、 Ａ１＝１／２＋（ｘ１−ｘＳＨＦ１）／ｔ１＋△ｘ１／ｔ１ … （３） ＰＳＤ２上の重心移動は、（ｆＪ２／ＦＪ１）・△ｘ１
で逆方向におこるので Ａ２＝１／２＋（ｘ２−ｘＳＨＦ１）／ｔ２＋△ｘ１／ｔ２（ｆＪ２／ｆＪ１） … （４） 一方、 ｘ１＝Ｌ１・ｆＪ１・（１／１） … （５） ｘ２＝Ｌ２・ｆＪ２・（１／１） （１は被写体距離） … （６） であるから（３）（４）式は（５）（６）式に代入して
まとめると Ａ１＝（１／２−ｘＳＨＦ１／ｔ１）＋（Ｌ１・ｆＪ１／ｔ１）（１／１）＋△ ｘ１／ｔ１ … （７） ここで、（１／２−ｘＳＨＦ１／ｔ１）は固定値である
ので、Ｋ１とおいてＡ１ ＝Ｋ１＋（Ｌ１・ｆＪ１／ｔ１）（１／１）＋△ｘ１／ｔ１ … （８） 同様にＫ２＝（１／２−ｘＳＨＦ２）／ｔ２）とおい
て、 Ａ２＝Ｋ２＋（Ｌ２・ＦＪ２／ｔ２）（１／１）− （△ｘ１／ｔ２）（ｆＪ２／ｆＪ１） … （９） （８），（９）式より、Ａ１では被写体距離１の逆数に
対する変化率は（Ｌ１・ｆＪ１／ｔ１）、Ａ２では、
（Ｌ２・ｆＪ２／ｔ２）であることがわかる。
だけの重心移動が発生したとすると、 Ａ１＝１／２＋（ｘ１−ｘＳＨＦ１）／ｔ１＋△ｘ１／ｔ１ … （３） ＰＳＤ２上の重心移動は、（ｆＪ２／ＦＪ１）・△ｘ１
で逆方向におこるので Ａ２＝１／２＋（ｘ２−ｘＳＨＦ１）／ｔ２＋△ｘ１／ｔ２（ｆＪ２／ｆＪ１） … （４） 一方、 ｘ１＝Ｌ１・ｆＪ１・（１／１） … （５） ｘ２＝Ｌ２・ｆＪ２・（１／１） （１は被写体距離） … （６） であるから（３）（４）式は（５）（６）式に代入して
まとめると Ａ１＝（１／２−ｘＳＨＦ１／ｔ１）＋（Ｌ１・ｆＪ１／ｔ１）（１／１）＋△ ｘ１／ｔ１ … （７） ここで、（１／２−ｘＳＨＦ１／ｔ１）は固定値である
ので、Ｋ１とおいてＡ１ ＝Ｋ１＋（Ｌ１・ｆＪ１／ｔ１）（１／１）＋△ｘ１／ｔ１ … （８） 同様にＫ２＝（１／２−ｘＳＨＦ２）／ｔ２）とおい
て、 Ａ２＝Ｋ２＋（Ｌ２・ＦＪ２／ｔ２）（１／１）− （△ｘ１／ｔ２）（ｆＪ２／ｆＪ１） … （９） （８），（９）式より、Ａ１では被写体距離１の逆数に
対する変化率は（Ｌ１・ｆＪ１／ｔ１）、Ａ２では、
（Ｌ２・ｆＪ２／ｔ２）であることがわかる。
【００２１】ここで上記変化率の比をＬ1 ／Ｌ2 となる
ようにＡ1 ，Ａ2 にある係数をかけると、例えばＡ1 に
（ｆJ2／ｔ2 ）、Ａ2 に（ｆJ1／ｔ1 ）をかけると、 （ｆJ2／ｔ2 ）Ａ1 ＝（ｆJ2／ｔ2 ）Ｋ1 ＋（Ｌ1 ・ｆJ1・ｆJ2／ｔ1 ・ｔ2 ）（１／ｌ）＋Δｘ1 （ｆJ2／ｔ1 ・ｔ2 ） …（10） （ｆJ1／ｔ1 ）Ａ2 ＝（ｆJ1／ｔ1 ）Ｋ2 ＋（Ｌ2 ・ｆJ1・ｆJ2／ｔ1 ・ｔ2 ） （ｌ／１）−Δｘ1 （ｆJ2／ｔ1 ・ｔ2 ） …（11） （１０），（１１）式の和をとると （ｆJ2／ｔ2 ）Ａ1 ＋（ｆJ1／ｔ1 ）Ａ2 ＝Ｋ3 ＋ ｛ｆJ1・ｆJ2・（Ｌ1 ＋Ｌ2 ）／ｔ1 ・ｔ2 ｝（１／ｌ） …（12） （ここで、Ｋ3 ＝（ｆJ2／ｔ2 ）Ｋ1 ＋（ｆJ1／ｔ1 ）Ｋ2 となり、変化率ｆJ1・ｆJ2・（Ｌ1 ＋Ｌ2 ）／ｔ1 ・ｔ
2 のコントラスト誤差のない距離演算出力が得られる。
ようにＡ1 ，Ａ2 にある係数をかけると、例えばＡ1 に
（ｆJ2／ｔ2 ）、Ａ2 に（ｆJ1／ｔ1 ）をかけると、 （ｆJ2／ｔ2 ）Ａ1 ＝（ｆJ2／ｔ2 ）Ｋ1 ＋（Ｌ1 ・ｆJ1・ｆJ2／ｔ1 ・ｔ2 ）（１／ｌ）＋Δｘ1 （ｆJ2／ｔ1 ・ｔ2 ） …（10） （ｆJ1／ｔ1 ）Ａ2 ＝（ｆJ1／ｔ1 ）Ｋ2 ＋（Ｌ2 ・ｆJ1・ｆJ2／ｔ1 ・ｔ2 ） （ｌ／１）−Δｘ1 （ｆJ2／ｔ1 ・ｔ2 ） …（11） （１０），（１１）式の和をとると （ｆJ2／ｔ2 ）Ａ1 ＋（ｆJ1／ｔ1 ）Ａ2 ＝Ｋ3 ＋ ｛ｆJ1・ｆJ2・（Ｌ1 ＋Ｌ2 ）／ｔ1 ・ｔ2 ｝（１／ｌ） …（12） （ここで、Ｋ3 ＝（ｆJ2／ｔ2 ）Ｋ1 ＋（ｆJ1／ｔ1 ）Ｋ2 となり、変化率ｆJ1・ｆJ2・（Ｌ1 ＋Ｌ2 ）／ｔ1 ・ｔ
2 のコントラスト誤差のない距離演算出力が得られる。
【００２２】Ａ1 に１、Ａ2 にｆJ1・ｔ2／ｆJ2・ｔ1
をかけると、（９）式は Ａ2 （ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 ）＝Ｋ2 （ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 ）＋ （ｆJ1・Ｌ2 ／ｔ1 ）（１／ｌ）−Δｘ／ｔ1 …(13) よって、 Ａ1 ＋Ａ2 （ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 ）＝Ｋ4 ＋｛ｆJ1・（Ｌ1 ＋Ｌ2 ）／ ｔ1 ｝（１／ｌ） …(14) （ここで、Ｋ4 ＝Ｋ1 ＋Ｋ2 （ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 ） となり、変化率ｆJ1・（Ｌ1 ＋Ｌ2 ）／ｔ1 となり変化
率のコントラスト誤差のない距離演算出力が得られる。
をかけると、（９）式は Ａ2 （ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 ）＝Ｋ2 （ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 ）＋ （ｆJ1・Ｌ2 ／ｔ1 ）（１／ｌ）−Δｘ／ｔ1 …(13) よって、 Ａ1 ＋Ａ2 （ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 ）＝Ｋ4 ＋｛ｆJ1・（Ｌ1 ＋Ｌ2 ）／ ｔ1 ｝（１／ｌ） …(14) （ここで、Ｋ4 ＝Ｋ1 ＋Ｋ2 （ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 ） となり、変化率ｆJ1・（Ｌ1 ＋Ｌ2 ）／ｔ1 となり変化
率のコントラスト誤差のない距離演算出力が得られる。
【００２３】このように電気的処理をかけると光学配置
条件にわずらわせられることなくコントラスト誤差をキ
ャンセルすることができる。
条件にわずらわせられることなくコントラスト誤差をキ
ャンセルすることができる。
【００２４】図２，３，４は、本実施例の測距装置の電
気回路図であり、図１３は、図４中の制御回路部２５か
ら供給される信号のタイミングチャートである。
気回路図であり、図１３は、図４中の制御回路部２５か
ら供給される信号のタイミングチャートである。
【００２５】この電気回路は、図に示す様に測距対象物
に光パルスを投射する投光回路部２１と、測距対象物か
らの反射光を受光して信号パルス光電流成分を検出し、
増幅する光電流検出回路部２２，２２Ａ，２２Ｂ，２２
Ｃと、前記検出された光電流から被写体の距離情報を求
める演算出力回路部２３，２３Ａと、この演算出力回路
部２３，２３Ａの出力をＡ／Ｄ変換するカウント回路部
２４と、上記各回路部に制御信号を送出する制御回路部
２５とから構成されている。
に光パルスを投射する投光回路部２１と、測距対象物か
らの反射光を受光して信号パルス光電流成分を検出し、
増幅する光電流検出回路部２２，２２Ａ，２２Ｂ，２２
Ｃと、前記検出された光電流から被写体の距離情報を求
める演算出力回路部２３，２３Ａと、この演算出力回路
部２３，２３Ａの出力をＡ／Ｄ変換するカウント回路部
２４と、上記各回路部に制御信号を送出する制御回路部
２５とから構成されている。
【００２６】上記光電流検出回路部２２，２２Ａ，２２
Ｂ，２２Ｃは、それぞれ同一構成部材を用い、且つ同様
の構成をとっているので、回路部２２についてのみ説明
し、２２Ａ，２２Ｂ，２２Ｃの回路の構成部材には同一
部材にＡ〜Ｃを付すに止め、重ねての説明は省略する。
Ｂ，２２Ｃは、それぞれ同一構成部材を用い、且つ同様
の構成をとっているので、回路部２２についてのみ説明
し、２２Ａ，２２Ｂ，２２Ｃの回路の構成部材には同一
部材にＡ〜Ｃを付すに止め、重ねての説明は省略する。
【００２７】図３において、投光回路部２１のＩＲＥＤ
６８は、トランジスタ６７、抵抗６６，６９およびオペ
アンプ６５で構成されている定電流駆動回路により定電
流ドライブされる。この定電流駆動回路のオン・オフを
制御するトランジスタ７０のベースが抵抗７１を介して
制御回路部２５の端子Ｔ1 に接続されており、このＩＲ
ＥＤ６８から第３図に示されるパルス波形で投射される
赤外光のオン・オフ制御は制御回路部２５の端子Ｔ1 の
出力信号（図１３参照）により行なわれる。
６８は、トランジスタ６７、抵抗６６，６９およびオペ
アンプ６５で構成されている定電流駆動回路により定電
流ドライブされる。この定電流駆動回路のオン・オフを
制御するトランジスタ７０のベースが抵抗７１を介して
制御回路部２５の端子Ｔ1 に接続されており、このＩＲ
ＥＤ６８から第３図に示されるパルス波形で投射される
赤外光のオン・オフ制御は制御回路部２５の端子Ｔ1 の
出力信号（図１３参照）により行なわれる。
【００２８】図２の光電流検出回路部２２は、オペアン
プ３、トランジスタ２からなるプリアンプ回路部とオペ
アンプ５、トランジスタ４とその周辺回路からなる背景
光除去回路部と、トランジスタ８，９からなるカレント
ミラー回路とで構成されている。
プ３、トランジスタ２からなるプリアンプ回路部とオペ
アンプ５、トランジスタ４とその周辺回路からなる背景
光除去回路部と、トランジスタ８，９からなるカレント
ミラー回路とで構成されている。
【００２９】ＰＳＤ１の片チャンネルから得られる信号
パルス光電流Ｉ1 は、プリアンプ回路部を構成するオペ
アンプ３に供給される。このオペアンプ３は、トランジ
スタ２によって帰還がかけられるように、その出力端を
トランジスタ２のエミッタに、反転入力端をベースに、
非反転入力端を基準電源Ｖref に、それぞれ接続されて
いるので、トランジスタ２のベース入力抵抗は等価的に
数１０ＫΩ程度に下げられている。
パルス光電流Ｉ1 は、プリアンプ回路部を構成するオペ
アンプ３に供給される。このオペアンプ３は、トランジ
スタ２によって帰還がかけられるように、その出力端を
トランジスタ２のエミッタに、反転入力端をベースに、
非反転入力端を基準電源Ｖref に、それぞれ接続されて
いるので、トランジスタ２のベース入力抵抗は等価的に
数１０ＫΩ程度に下げられている。
【００３０】背景光除去回路部を構成するオペアンプ５
は、非投光時に制御回路部２５の端子Ｔ1 の出力信号の
“Ｈ”レベルが抵抗７３を通じてトランジスタ６のベー
スに与えられることにより、このトランジスタがオンす
るとアクティブとなり、その出力端に接続されたコンデ
ンサ７に、この背景光の明るさに応じた電荷を蓄積する
と共に、同コンデンサ７とトランジスタ４とで構成され
たフィードバックループによって背景光による光電流成
分と、オペアンプ３のバイアス電流成分をトランジスタ
４のコレクタ電流としてグランドラインに排出する。そ
の結果として、トランジスタ２のコレクタ電流は、背景
光の大きさによらず、略パルス信号光電流に応じた値と
なる。投光時には、トランジスタ６がオフするからオペ
アンプ５がノンアクティブとなるが、コンデンサ７に蓄
積された電荷によりトランジスタ４が背景光による光電
流をグランドラインに排出し続けるので、ＰＳＤ１の片
チャンネルから得られる光電流から背景光による光電流
を除いたパルス光成分はトランジスタ２でβN 倍されて
カレントミラー回路８，９によって折り返され、図３の
演算出力回路部２３の圧縮ダイオード４７に信号パスル
光電流βN Ｉ1 として注入される。
は、非投光時に制御回路部２５の端子Ｔ1 の出力信号の
“Ｈ”レベルが抵抗７３を通じてトランジスタ６のベー
スに与えられることにより、このトランジスタがオンす
るとアクティブとなり、その出力端に接続されたコンデ
ンサ７に、この背景光の明るさに応じた電荷を蓄積する
と共に、同コンデンサ７とトランジスタ４とで構成され
たフィードバックループによって背景光による光電流成
分と、オペアンプ３のバイアス電流成分をトランジスタ
４のコレクタ電流としてグランドラインに排出する。そ
の結果として、トランジスタ２のコレクタ電流は、背景
光の大きさによらず、略パルス信号光電流に応じた値と
なる。投光時には、トランジスタ６がオフするからオペ
アンプ５がノンアクティブとなるが、コンデンサ７に蓄
積された電荷によりトランジスタ４が背景光による光電
流をグランドラインに排出し続けるので、ＰＳＤ１の片
チャンネルから得られる光電流から背景光による光電流
を除いたパルス光成分はトランジスタ２でβN 倍されて
カレントミラー回路８，９によって折り返され、図３の
演算出力回路部２３の圧縮ダイオード４７に信号パスル
光電流βN Ｉ1 として注入される。
【００３１】また、他のチャンネルから得られた光電流
Ｉ2 も上記回路部２２と同様の動作をする光電流検出回
路部２２Ａでそれぞれ処理されて信号パルス光電流βN
Ｉ2 として演算出力回路部２３の圧縮ダイオード４６に
供給される。
Ｉ2 も上記回路部２２と同様の動作をする光電流検出回
路部２２Ａでそれぞれ処理されて信号パルス光電流βN
Ｉ2 として演算出力回路部２３の圧縮ダイオード４６に
供給される。
【００３２】演算出力回路部２３は、トランジスタ４
１，４２，４４，４５と圧縮ダイオード４６，４７と定
電流源４３と、バッファー回路ＢＵＦ1 、ＢＵＦ2 とか
らなり、測距演算出力を得るための対数伸張回路を構成
している。差動増幅器を形成しているトランジスタ４
１，４２の各ベースは、上記圧縮ダイオード４６と４７
の各アノードに緩衝増幅器ＢＵＦ1 、ＢＵＦ2 を介して
接続され、各エミッタは定電流源４３に共通に接続され
ている。トランジスタ４２のコレクタは、カレントミラ
ー回路を形成しているトランジスタ４４，４５の各ベー
スとトランジスタ４４のコレクタとに接続されている。
１，４２，４４，４５と圧縮ダイオード４６，４７と定
電流源４３と、バッファー回路ＢＵＦ1 、ＢＵＦ2 とか
らなり、測距演算出力を得るための対数伸張回路を構成
している。差動増幅器を形成しているトランジスタ４
１，４２の各ベースは、上記圧縮ダイオード４６と４７
の各アノードに緩衝増幅器ＢＵＦ1 、ＢＵＦ2 を介して
接続され、各エミッタは定電流源４３に共通に接続され
ている。トランジスタ４２のコレクタは、カレントミラ
ー回路を形成しているトランジスタ４４，４５の各ベー
スとトランジスタ４４のコレクタとに接続されている。
【００３３】ところで、上記ダイオード４６，４７にそ
れぞれ流れる電流Ｉ1b、Ｉ2bは、光電流検出回路部２２
から出力された信号パルス光電流βN Ｉ1 、βN Ｉ2 が
流れるように回路接続されている。従って、演算出力回
路部２３では上記した電流Ｉ1bは光電流検出回路部２２
からの信号パルス光電流βN Ｉ1 、電流Ｉ2bは光電流検
出回路部２２Ａからの信号パルス光電流βN Ｉ2 となる
から、 Ｉ1b＝βN Ｉ1 …(15) Ｉ2b＝βN Ｉ2 …(15)′ である。
れぞれ流れる電流Ｉ1b、Ｉ2bは、光電流検出回路部２２
から出力された信号パルス光電流βN Ｉ1 、βN Ｉ2 が
流れるように回路接続されている。従って、演算出力回
路部２３では上記した電流Ｉ1bは光電流検出回路部２２
からの信号パルス光電流βN Ｉ1 、電流Ｉ2bは光電流検
出回路部２２Ａからの信号パルス光電流βN Ｉ2 となる
から、 Ｉ1b＝βN Ｉ1 …(15) Ｉ2b＝βN Ｉ2 …(15)′ である。
【００３４】従って、トランジスタ４２のコレクタ電流
Ｉｃは、定電流源４３の定電流をＩE1とすると、 Ｉｃ＝ＩE1・Ｉ2b／（Ｉ1b＋Ｉ2b） (16) となる。よって、演算出力回路部２３の出力であるトラ
ンジスタ４５のコレクタ電流Ｉout1は上記１５，１５′
式を（１６）式に代入して、 Ｉout1＝ＩE1・Ｉ2 ／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ） (17) となる。
Ｉｃは、定電流源４３の定電流をＩE1とすると、 Ｉｃ＝ＩE1・Ｉ2b／（Ｉ1b＋Ｉ2b） (16) となる。よって、演算出力回路部２３の出力であるトラ
ンジスタ４５のコレクタ電流Ｉout1は上記１５，１５′
式を（１６）式に代入して、 Ｉout1＝ＩE1・Ｉ2 ／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ） (17) となる。
【００３５】同様にＩout2は、Ｉout2＝ＩE2・Ｉ4 ／
（Ｉ3 ＋Ｉ4 ）となる。さて、Ａ１＝Ｉ2 ／（Ｉ1 ＋Ｉ
2 ）、Ａ2 ＝Ｉ4 ／（Ｉ3 ＋Ｉ4 ）であるから、ＩE1、
ＩE2の比を、 ＩE1：ＩE2＝ｆJ2／ｔ2 ：ｆJ1／ｔ2 ＝１：ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 とすると、 Ｉout1＋Ｉout2＝｛Ａ1 ＋Ａ2 ・（ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 ）・ＩE1 となって、（１４）式と同じとなりコントラスト誤差が
キャンセルされる。
（Ｉ3 ＋Ｉ4 ）となる。さて、Ａ１＝Ｉ2 ／（Ｉ1 ＋Ｉ
2 ）、Ａ2 ＝Ｉ4 ／（Ｉ3 ＋Ｉ4 ）であるから、ＩE1、
ＩE2の比を、 ＩE1：ＩE2＝ｆJ2／ｔ2 ：ｆJ1／ｔ2 ＝１：ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 とすると、 Ｉout1＋Ｉout2＝｛Ａ1 ＋Ａ2 ・（ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 ）・ＩE1 となって、（１４）式と同じとなりコントラスト誤差が
キャンセルされる。
【００３６】ＩE1とＩE2の比の設定は図３のＲ1 とＲ2
によって決定される。すなわちＩE1：ＩE2＝１／Ｒ1 ：
１／Ｒ2 である。
によって決定される。すなわちＩE1：ＩE2＝１／Ｒ1 ：
１／Ｒ2 である。
【００３７】一方、図４の上記カウント回路部２４は、
上記演算出力回路部２３，２３Ａのトランジスタ４５，
４５Ａのコレクタ電流の積分値を計測して制御回路部２
５に内蔵されているカウンタ機構（図示せず）でディジ
タル計測するものである。
上記演算出力回路部２３，２３Ａのトランジスタ４５，
４５Ａのコレクタ電流の積分値を計測して制御回路部２
５に内蔵されているカウンタ機構（図示せず）でディジ
タル計測するものである。
【００３８】なお、上記演算出力回路部２３，２３Ａの
出力電流は次のようにして求められる。すなわち、投光
に同期して定電流源４３，４３Ａがアクティブになりコ
ンデンサ５２には、投光ごとに演算出力回路部の出力電
流が流れて電荷が蓄積されていくことになる。オペアン
プ５３は上記コンデンサ５２のリセットをするためのも
ので、その制御用のトランジスタ５４のベースは抵抗７
６を介して制御回路部２５の端子Ｔ3 に接続されてい
る。従って、この端子Ｔ3 の出力信号（図１３参照）に
より、トランジスタ５４がオンしてコンデンサ５２の電
位を基準電圧Ｖref にセットし、投光開始の直前にオフ
してオペアンプ５３を動作不能とする。その後はコンデ
ンサ５２の電位は、同コンデンサ５２への注入電流によ
って増加していく。
出力電流は次のようにして求められる。すなわち、投光
に同期して定電流源４３，４３Ａがアクティブになりコ
ンデンサ５２には、投光ごとに演算出力回路部の出力電
流が流れて電荷が蓄積されていくことになる。オペアン
プ５３は上記コンデンサ５２のリセットをするためのも
ので、その制御用のトランジスタ５４のベースは抵抗７
６を介して制御回路部２５の端子Ｔ3 に接続されてい
る。従って、この端子Ｔ3 の出力信号（図１３参照）に
より、トランジスタ５４がオンしてコンデンサ５２の電
位を基準電圧Ｖref にセットし、投光開始の直前にオフ
してオペアンプ５３を動作不能とする。その後はコンデ
ンサ５２の電位は、同コンデンサ５２への注入電流によ
って増加していく。
【００３９】所定回数の投光が終ると、図１３のタイミ
ングチャートに示すように、その端子Ｔ4 がＨ→Ｌとな
るので抵抗７７を介してトランジスタ６３がオフし、ト
ランジスタ５５でコンデンサ５２を放電していく。同時
に制御回路部２５に内蔵されたカウンタが働き、コンパ
レータ６２の出力がＨになるまでカウントを続ける。コ
ンパレータ６２は、コンデンサ５２の両端電圧が基準電
圧Ｖref より小さくなると、ＬからＨに変化する。コン
デンサ５２の放電速度は、定電流源６１とこれに直列に
接続されたトランジスタ５６，５５からなるカレントミ
ラー回路によって決定される。このようにして被写体距
離に応じた出力を制御回路２５内のカウンタのカウント
値として得ることができる。
ングチャートに示すように、その端子Ｔ4 がＨ→Ｌとな
るので抵抗７７を介してトランジスタ６３がオフし、ト
ランジスタ５５でコンデンサ５２を放電していく。同時
に制御回路部２５に内蔵されたカウンタが働き、コンパ
レータ６２の出力がＨになるまでカウントを続ける。コ
ンパレータ６２は、コンデンサ５２の両端電圧が基準電
圧Ｖref より小さくなると、ＬからＨに変化する。コン
デンサ５２の放電速度は、定電流源６１とこれに直列に
接続されたトランジスタ５６，５５からなるカレントミ
ラー回路によって決定される。このようにして被写体距
離に応じた出力を制御回路２５内のカウンタのカウント
値として得ることができる。
【００４０】以下、図５乃至図１２を参照して他の実施
例を説明するが、光電流検出回路部の構成は図２の構成
と同様であるので省略する。
例を説明するが、光電流検出回路部の構成は図２の構成
と同様であるので省略する。
【００４１】図５，図６は上記距離演算回路を図２０
（ａ）の構成に変更した実施例であり、この場合の演算
式は、Ｉ0 ＝ＩE ・（Ｉ2 −Ｉ1 ）／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）と
なる。なお、図２０（ｂ）はこの場合におけるＩ0 の被
写体距離に対する特性線図である。
（ａ）の構成に変更した実施例であり、この場合の演算
式は、Ｉ0 ＝ＩE ・（Ｉ2 −Ｉ1 ）／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）と
なる。なお、図２０（ｂ）はこの場合におけるＩ0 の被
写体距離に対する特性線図である。
【００４２】図７，図８図は電流値の代わりに積分時間
比を制御した実施例であり、Ｒ1 ＝Ｒ2 と設定される。
この場合、第１、第２の距離演算出力の積分時間を
Ｔ1 ′，Ｔ2 ′とすると、 Ｔ1 ′：Ｔ2 ′＝ｆJ2／Ｔ2 ：ｆJ1／ｔ1 ＝１：ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 となり、コントラスト誤差が同様にキャンセルされる。
この時の制御回路部のタイミングチャートを図１４に示
す。さらに、この実施例においては投光回数を制御して
も良い。すなわち、第１、第２の距離演算出力の積算回
数をＮ1 ，Ｎ2 とすると、 Ｎ1 ：Ｎ2 ＝ｆJ2／ｔ2 ：ｆJ1／ｔ1 ＝１：ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 となるように積算回数を制御しても良い。この時の制御
回路部のタイミングチャートを図１５に示す。ここでは
積算をコンデンサにておこなっているが、図９，図１０
のように構成し、第１、第２の距離演算値を１回ごとに
Ａ／Ｄ変換し、それを、Ｎ1 ，Ｎ2 回分ディジタルメモ
リ内で加算して積算しても良い。このタイミングチャー
トを図１６，１７に示す。
比を制御した実施例であり、Ｒ1 ＝Ｒ2 と設定される。
この場合、第１、第２の距離演算出力の積分時間を
Ｔ1 ′，Ｔ2 ′とすると、 Ｔ1 ′：Ｔ2 ′＝ｆJ2／Ｔ2 ：ｆJ1／ｔ1 ＝１：ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 となり、コントラスト誤差が同様にキャンセルされる。
この時の制御回路部のタイミングチャートを図１４に示
す。さらに、この実施例においては投光回数を制御して
も良い。すなわち、第１、第２の距離演算出力の積算回
数をＮ1 ，Ｎ2 とすると、 Ｎ1 ：Ｎ2 ＝ｆJ2／ｔ2 ：ｆJ1／ｔ1 ＝１：ｆJ1・ｔ2 ／ｆJ2・ｔ1 となるように積算回数を制御しても良い。この時の制御
回路部のタイミングチャートを図１５に示す。ここでは
積算をコンデンサにておこなっているが、図９，図１０
のように構成し、第１、第２の距離演算値を１回ごとに
Ａ／Ｄ変換し、それを、Ｎ1 ，Ｎ2 回分ディジタルメモ
リ内で加算して積算しても良い。このタイミングチャー
トを図１６，１７に示す。
【００４３】図１１，１２は第１の演算手段と第２の演
算手段の出力を時系列で積分し、Ａ／Ｄ変換はそれぞ
れ、第１、第２の定電流源によって行ない、その結果得
られたディジタル出力の和から被写体距離を求める実施
例であり、この場合、Ｉc1：Ｉc2＝ｆJ1／ｔ1 ：ｆJ2／
ｔ2 と設定される。このタイミングチャートは図１８で
ある。
算手段の出力を時系列で積分し、Ａ／Ｄ変換はそれぞ
れ、第１、第２の定電流源によって行ない、その結果得
られたディジタル出力の和から被写体距離を求める実施
例であり、この場合、Ｉc1：Ｉc2＝ｆJ1／ｔ1 ：ｆJ2／
ｔ2 と設定される。このタイミングチャートは図１８で
ある。
【００４４】さらに、距離演算回路として、図２１
（ａ）に示すような回路を用いることも可能であり、こ
の場合の演算式は、Ｖ0 ＝ＶT ・ｌｎ（Ｉ2 ／Ｉ1 ）と
なる。なお、半導体位置検出素子としてはＰＳＤを用い
て説明したが、これは説明が平易になる為であってＰＳ
Ｄに限ったことではなく、分割ＳＰＤ（シリコンフォト
ダイオ−ド）でも良い。この場合は有効長さｔ1 ，ｔ2
が投光チップｔ0 に変換されるだけで基本的考え方は変
わらない。
（ａ）に示すような回路を用いることも可能であり、こ
の場合の演算式は、Ｖ0 ＝ＶT ・ｌｎ（Ｉ2 ／Ｉ1 ）と
なる。なお、半導体位置検出素子としてはＰＳＤを用い
て説明したが、これは説明が平易になる為であってＰＳ
Ｄに限ったことではなく、分割ＳＰＤ（シリコンフォト
ダイオ−ド）でも良い。この場合は有効長さｔ1 ，ｔ2
が投光チップｔ0 に変換されるだけで基本的考え方は変
わらない。
【００４５】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、簡単な回路構成にて光学系配置に大きな自由度
を有し、かつ小型カメラに搭載可能な測距装置を提供す
ることができる。
よれば、簡単な回路構成にて光学系配置に大きな自由度
を有し、かつ小型カメラに搭載可能な測距装置を提供す
ることができる。
【図１】本発明の一実施例に係る測距装置の構成を示す
ブロック図。
ブロック図。
【図２】本発明の一実施例の電気回路図の一部。
【図３】本発明の一実施例の電気回路図の一部。
【図４】本発明の一実施例の電気回路図の一部。
【図５】本発明の他の実施例に係る電気回路図の一部。
【図６】本発明の他の実施例に係る電気回路図の一部。
【図７】本発明の他の実施例に係る電気回路図の一部。
【図８】本発明の他の実施例に係る電気回路図の一部。
【図９】本発明の他の実施例に係る電気回路図の一部。
【図１０】本発明の他の実施例に係る電気回路図の一
部。
部。
【図１１】本発明の他の実施例に係る電気回路図の一
部。
部。
【図１２】本発明の測距装置の他の電気回路図の一部。
【図１３】図４の制御回路部から供給される信号のタイ
ミングチャ−ト。
ミングチャ−ト。
【図１４】他の実施例において制御回路部から供給され
る信号のタイミングチャ−ト。
る信号のタイミングチャ−ト。
【図１５】電気回路図の制御部回路から供給される信号
のタイミングチャ−ト。
のタイミングチャ−ト。
【図１６】他の実施例において制御回路部から供給され
る信号のタイミングチャ−ト。
る信号のタイミングチャ−ト。
【図１７】他の実施例において制御回路部から供給され
る信号のタイミングチャ−ト。
る信号のタイミングチャ−ト。
【図１８】他の実施例において制御回路部から供給され
る信号のタイミングチャ−ト。
る信号のタイミングチャ−ト。
【図１９】図１９（ａ）は距離演算回路の一回路構成例
を示す図であり、図１９（ｂ）はその特性線図。
を示す図であり、図１９（ｂ）はその特性線図。
【図２０】図２０（ａ）は距離演算回路の他の回路構成
例を示す図であり、図２０（ｂ）はその特性線図。
例を示す図であり、図２０（ｂ）はその特性線図。
【図２１】図２１（ａ）は距離演算回路の他の回路構成
例を示す図であり、図２１（ｂ）はその特性線図。
例を示す図であり、図２１（ｂ）はその特性線図。
【図２２】図２２（ａ）は従来の測距装置の構成を示す
ブロック図であり、図２２（ｂ）は受光スポット像の光
量の重心移動を説明するための図。
ブロック図であり、図２２（ｂ）は受光スポット像の光
量の重心移動を説明するための図。
２１…投光回路部、２２，２２Ａ，２２Ｂ，２２Ｃ…光
電流検出回路部、２３，２３Ａ…演算出力回路部、２４
…カウント回路部、４３，４３Ａ…定電流源、１００…
第１の距離演算手段、１０１…第２の距離演算手段、１
０２…合成手段。
電流検出回路部、２３，２３Ａ…演算出力回路部、２４
…カウント回路部、４３，４３Ａ…定電流源、１００…
第１の距離演算手段、１０１…第２の距離演算手段、１
０２…合成手段。
Claims (2)
- 【請求項１】 測距対象物に向けて投光する投光手段
と、 この投光手段から基線長Ｌ１離れて配置され、上記測距
対象物からの反射光を受光して受光位置に応じた第１信
号を出力する第１の受光手段と、 上記投光手段を挟んで上記第１の受光手段と反対側に、
基線長Ｌ２離れて配置され、かつ、上記第１の受光手段
とは異なる光学配置条件を有しており、上記測距対象物
からの反射光を受光して受光位置に応じた第２信号を出
力する第２の受光手段と、上記第１の受光手段と第２の受光手段の光学配置条件の
差に基づいて、上記第１信号と第２信号の関係を電気的
に処理した後、上記２つの信号を 用いて上記測距対象物
までの距離を演算する演算手段と、 を具備したことを特徴とする測距装置。 - 【請求項２】 上記演算手段は、上記測距対象物の距離
変化に対応する上記第１の受光手段の出力変化率と、上
記第２の受光手段の出力変化率の比が、上記基線長Ｌ１
とＬ２の比と等しくなるように電気的に処理した後、上
記２つの信号の合成和演算を行って上記測距対象物まで
の距離を演算することを特徴とする請求項１に記載の測
距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4537891A JP3117232B2 (ja) | 1991-02-19 | 1991-02-19 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4537891A JP3117232B2 (ja) | 1991-02-19 | 1991-02-19 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05126567A JPH05126567A (ja) | 1993-05-21 |
| JP3117232B2 true JP3117232B2 (ja) | 2000-12-11 |
Family
ID=12717610
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4537891A Expired - Fee Related JP3117232B2 (ja) | 1991-02-19 | 1991-02-19 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3117232B2 (ja) |
-
1991
- 1991-02-19 JP JP4537891A patent/JP3117232B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05126567A (ja) | 1993-05-21 |
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Legal Events
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