JPH03107709A - 光学的測定装置 - Google Patents

光学的測定装置

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JPH03107709A
JPH03107709A JP24351789A JP24351789A JPH03107709A JP H03107709 A JPH03107709 A JP H03107709A JP 24351789 A JP24351789 A JP 24351789A JP 24351789 A JP24351789 A JP 24351789A JP H03107709 A JPH03107709 A JP H03107709A
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Hirokazu Tanaka
宏和 田中
Kiyomitsu Ishikawa
清光 石川
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Stanley Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 r産業上の利用分野」 この発明は、被測定物の反射光を利用した測定装置で、
例えば、自動車の車高測定、スプリングの撓み量測定、
カメラの距離測定などに利用するところの光学的測定装
置に関する。
「従来の技術」 被測定物の反射光を利用した測定装置として様々な構成
のものがあるが、その−例を第9図に訴す。
この従来例は、写真撮影用カメラに採用されている距離
測定装置で、図示するように三角測量の原理となってい
る。この測定装置では1発光ダイオードなどの光源1の
光を投光レンズ2で集光して被写体3に投光する。
また、被写体3の反射光は受光レンズ4で集光されてP
SD (ポジション センシング デバイス)或いはC
ODなどの受光素子5の特定部に結像する。この結果、
被写体3の位置にしたがって受光角θ1が定まり、この
受光角θ□と予め設定されている投光角θ2及びレンズ
間距離Qによって被写体3までの距111Dを求める構
成となっている。
「発明が解決しようとする課題」 上記した距離測定装置の場合、受光素子5に結像させる
光点を可能なるかぎり小さくすることが好ましく、その
ため、光源1、投光レンズ2、受光レンズ4などの各部
品に高い光学性能が要求される。
また、近距離から測定するためには受光角θ、を大きく
変えるため、この受光角θ1が小さくなるが、この場合
にも被写体3の光像を受光素子5上に良好に結像させる
必要があるので、受光レンズ4としてイメージサークル
の大きい広角レンズを備えなければならず、コスト高の
要因となり、その上、受光角θ1と、投光角θ2.レン
ズ間距離Ωなどに高い機械的精度が必要となる。
さらに、光源1の光像を被写体3に良好に結像させるた
めに光源1と投光レンズ2との間隔を調整し、同様に、
被写体3の光像を受光素子5に良好に結像させるために
受光レンズ4と受光素子5との間隔を調整するが、この
ような調整の構成が複雑となる。
本発明は上記した実情にかんがみ、高い光学性能の部品
や高い機械的精度を要せずに構成簡単にして測定可能な
光学的測定装置を開発することを目的とする。
[課題を解決するための手段」 上記した目的を達成するため1本発明では、投光距離に
したがって変化する光特性が各々異なる2つの光源と、
これら光源の光による被測定物の反射光を各光源の光電
に受光する光電変換部材と、2つの光源の光による上記
光電変換部材の出力信号を受光面照度に対する対数とし
てその出力信号差を算出し測定情報を出力する信号処理
回路とから構成したことを特徴とする光学的測定装置を
提案する。
「作  用」 2つの光源から被測定物に投光され、被測定物の反射光
が光電変換部材により電気信号に変換される。この光電
変換部材は各光源の光による反射光を別々に光量変換し
て出力信号を発生する。
このように発生した出力信号は信号処理回路によって対
数信号として2つの光源の光に対応する出力信号差が算
出され、この算出結果が測定情報として出力される。
[実施例」 欣に、本発明の実施例について図面に沿って説明する。
第1図は測定装置の原理を示した説明図であり、11は
面光源12の一角に配置した点光源である。
点光源11の光は距離の二乗に反比例して減少するため
、第2図にEpをもって示した光特性となる。
面光源の光は二乗則にしたがわず、面積の大きさによっ
て距離に対する光の減少率が様々に変り、この実施例の
面光源12の場合は第2図にEsをもって示す光特性と
なる。
なお1面光源12はaXbが500mmX100mmの
正方形をなした拡散面光源である。
一方、面光源12の一角より垂直方向にd、am離れた
位置にある被測定物13は点光源11と面光源12との
投光により、その照度E P i、 E ’ 1となる
から、被測定物13の反射率をKとすると、被測定物1
3の面輝度にット)がKEpいKEs、に対応したもの
となる。
ここで、これら面輝度の比を求めると、Epx/Es□
となり被測定物13の反射率に無関係な値となる。
第3図はこのように求めた面輝度の比を表わした特性を
示し、この特性図より分かる如く、この面輝度の比は距
離の関数となり、この比を求めることにより被測定物1
3の距離情報を得ることができる。
上記した距離情報は、被測定物13の面輝度を測定し、
その測定値をデジタル変換し計算機によって数値計算す
ることができるが、装置構成が複雑になる他、アナログ
情報として求めることができない等の不便さがある。
そこで1本発明では半導体光電変換素子の短絡電流が受
光面の入射光に対し直線的な特性を示すことに看目し、
次の如く構成する。
すなわち、被測定物13の反射光をフォトダイオードな
どの光電変換素子によって受光し、点光源11の投光に
よる反射光の光電変換電流rpと。
面光源12の投光による反射光の光電変換素子工Sとを
出力させる。
そして、これら2系統の光電変換電流Ip、Isを適当
な手段で電圧に変換することによって、被測定物13の
面輝度に相応した電圧Vp、Vsとなる。
つまり、Ep/E sa:Vp/Vsの関係が成立する
ので、Vp/Vs=Rとして両辺の対数をとり、Qog
Vp/Vs=12ogR。
flogVp−QogVs−FlogRの式に変形して
ΩogRを算出する。
fiogRは距離の関数であるから、これより、被測定
物13までの距離d1をアナログ情報として求めること
ができる。
第4図及び第5図は上記した原理にもとすく本発明の一
実施例を示した簡略的な光学系図と回路図である。
この実施例では、発光ダイオードなどの点光源11より
850nmの発光波長の光を投光する。
面光源12からは950nmの発光波長の光を投光する
。なお、面光源12は回路基板に多数の発光ダイオード
をマトリクス状に設けて広い発光面として楕成しである
。また、この面光源12は電気ルミネセンス(EL)、
フロアルーセント(FL)などを使用して構成すること
もできる。
点光源11と面光源12によって投光された被測定物1
3の反射光は受光レンズ14で集光された後、ダイクロ
イックミラー15によって分離され、850nm波長の
反射光が直進して充電変換素子16によって、950n
m波長の反射光は反射されて光電変換素子17によって
各々受光される。
光電変換素子16.17は第5図に示す信号処理回路よ
り分かる如くフォトダイオードによって構成し、これら
光電変換素子16.17の出力電流Ip、Isが対数変
換口s18.19に入力される。
対数変換回路18.19は上記出力電流Ip、ISを電
圧Vp、Vsに変換した後、これら電圧Vp、Vsを対
数変換する。
対数変換された電圧vp、Vsは差動増幅器20に入力
されて電圧差が算出され、この差動増幅器20がnog
Vp−fiogVs=QogI1.ニーしたがって被測
定物13までの距離に関するアナログ情報を出力する。
第6図は上記した対数変換回路18の一例を示す回路図
であり、定電流電源21よりダイオード22に電流Ik
を流し、このダイオード22に発生する電圧をオペアン
プ23を介してログダイオード24に印加し、ログダイ
オード24の順方向電圧の温度特性を補償している。
ログダイオード24に流れる電流が光電変換素子16に
よって制御されるため、ログダイオード24に発生する
電圧が対数変換され、この対数変換電圧がオペアンプ2
5に入力される。
オペアンプ25は抵抗26.27による電圧利得のちと
に対数変換電圧を出力して差動増幅器2゜に送る。
なお、対数変換回路19は同構成となっている。
上記した対数変換口N118.19の場合、光電変換素
子16.17の出力電流Ip、Isを変換した電圧VP
、V!Iに対して対数圧縮したものとなるが、この対数
圧縮電圧は受光面照度の対数に対して直線的な電圧特性
のものとなる。
この電圧特性は光電変換素子16.17を開放電圧とし
て使用した場合と同じとなるから、光電変換素子16.
17の開放電圧を利用するときには対数変換回路18.
19を備えなくともよい。
以上、一実施例について説明したが、本発明を実施する
に際しては、2つの光源の光特性が投光距離に対して変
化する構成とすればよいから、第7図に示すように点光
源11.12とを被測定物13に対して異なった距離に
配置したり、第8図に示す如く光源12を被測定物13
の近くに一体的に配置することができる。
また、2つの光源を交互に投光して時系列方式で測定し
たり、或いは、2つの光源の光を変調したり、変調しな
かったりするようなことは必要に応じて任意に構成し得
る。
「発明の効果」 上記した通り、本発明の測定装置によれば、2つの光源
によって被測定物を投光し、被測定物の反射光を光源別
に受光する光電変換部材の出力信号から対数信号差を算
出して測定情報を得る構成としたので、高精度の光学部
品、精密な光学構成を要せずして構成簡単な測定装置と
なると共に。
故障の少ないローコスト化に適する測定装置となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理を示した説明図、第2図は点光源
と面光源の投光距離に対する照度を表わした光特性図、
第3図は点光源の照度と面光源の照度の比を示す特性図
、第4図及び第5図は本発明の一実施例を示し、第4図
は簡略的に示した光学系図、第5図は信号処理回路図、
第6図は対数変換回路図、第7図及び第8図は上記実施
例の変形例を示す簡略的な光学系図、第9図は従来例と
して示したカメラの距離測定装置の光学系図である。 11・・・点光源 12・・・面光源 13・・・被測定物 14・・・受光レンズ 15・・・ダイクロイックミラー 16.17・・・光電変換素子 18. 19・・・対数変換回路 20・・・差動増幅器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 投光距離にしたがって変化する光特性が各々異なる2つ
    の光源と、これら光源の光による被測定物の反射光を各
    光源の光別に受光する光電変換部材と、2つの光源の光
    による上記光電変換部材の出力信号を受光面照度に対す
    る対数としてその出力信号差を算出し測定情報を出力す
    る信号処理回路とから構成したことを特徴とする光学的
    測定装置。
JP24351789A 1989-09-21 1989-09-21 光学的測定装置 Expired - Lifetime JPH0660818B2 (ja)

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JP24351789A JPH0660818B2 (ja) 1989-09-21 1989-09-21 光学的測定装置
EP90309625A EP0419082B1 (en) 1989-09-21 1990-09-03 Optical distance gauging apparatus
US07/578,083 US5056913A (en) 1989-09-21 1990-09-05 Optical gauging apparatus
CA002025887A CA2025887C (en) 1989-09-21 1990-09-20 Optical gauging apparatus

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0560551A (ja) * 1991-08-30 1993-03-09 Stanley Electric Co Ltd 光学式距離計測装置
JP2008231508A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Tech Taiyo Kogyo Co Ltd 防食鋼管

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0560551A (ja) * 1991-08-30 1993-03-09 Stanley Electric Co Ltd 光学式距離計測装置
JP2008231508A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Tech Taiyo Kogyo Co Ltd 防食鋼管

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