JPH0457962B2 - - Google Patents

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JPH0457962B2
JPH0457962B2 JP1614083A JP1614083A JPH0457962B2 JP H0457962 B2 JPH0457962 B2 JP H0457962B2 JP 1614083 A JP1614083 A JP 1614083A JP 1614083 A JP1614083 A JP 1614083A JP H0457962 B2 JPH0457962 B2 JP H0457962B2
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JP
Japan
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transistor
current
base
collector
light
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JP1614083A
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English (en)
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Toshitatsu Suzuki
Satoshi Yamane
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Ricoh Co Ltd
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Ricoh Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C3/00Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
    • G01C3/02Details
    • G01C3/06Use of electric means to obtain final indication

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 技術分野 本発明は、カメラ等に用いる距離検出装置に関
するものである。
(b) 従来技術 いわゆるコンパクトカメラ等におけるオートフ
オーカス(自動焦点調整)の測距方式としては外
光を利用するバツシブ方式による二重像合致方式
が主流となつている。しかしながら、このパツシ
ブ方式による二重像合致方式は、一方の像の他方
の像に対する相対位置を変化させるための可動ミ
ラーを用いることが不可欠な要素となつており、
この可動ミラーを用いることによる耐久性の低
さ、および二重像合致方式であるため被写体(測
距対象)のコントラスト情報により測距を行なつ
ているので被写体依存性が強く、コントラストの
悪い被写体の測距や暗いときの測距能力の低さと
いつた問題点があつた。また、このような可動部
をもつ方式は調整が複雑化し調整に多くの手間を
要するという欠点をもつている。
また、測距側の装置自体から光等を発するアク
テイブ方式による三角測量方式を用いたものは、
上述した被写体依存性については改善されるもの
の、赤外光等の発光部または受光部を回動させる
などの可動部を有するものはやはり上述の耐久性
の低さ、調整の複雑化等の問題は避けられない。
一方、アクテイブ方式の一種として超音波を発
射し測距対象による反射波を受信し送受に要する
時間から測距対象の距離を測定する超音波方式が
あり、これは純電気的な処理のみによつて測定す
るため処理は容易であるが、高出力の発信が必要
で大きな電源を必要とし、例えばコンパクトカメ
ラ等に用いられる電流では有効な超音波の発信が
困難である。また、超音波が測距対象以外の物体
にあたつて測距精度が低下するのを防止するため
には指向性をよくする必要があるが、そのために
は超音波の送受信面の面積を大きくしなければな
らず、この点もコンパクトカメラ等には大きな問
題となる。
これに対して、上述のアクテイブ方式による三
角測量方式を採用したものの一種であつて、その
上可動部をなくし、さほど大きな電力を要せず調
整も容易、耐久性も良好でしかも高い距離分解能
が得られるものとして、次に述べるような距離検
出装置が考えられている。
すなわち、この距離検出装置は、測距対象にパ
ルス光を投射する光源と、前記測距対象による前
記パルス光の反射光スポツトが結像される個所に
設けられ前記光源との視差に基づく前記測距対象
の距離に応じた入射スポツトの位置を前記距離の
変化による位置変化方向について連続的に検出し
検出位置に応じた相互電流比を有する第1および
第2の電流出力を得る半導体光位置検出器(以下
「PSD」と略称する)と、このPSDの前記第1の
電流出力を受け前記パルス光による前記第1の電
流出力の変動分を対数変換して出力する第1の検
出回路と、前記PSDの前記第2の電流出力を受
け前記パルス光による前記第2の電流出力の変動
分を対数変換して出力する第2の検出回路と、こ
れら第1および第2の検出回路から出力された対
数変換された前記第1および第2の電流出力の変
動分の差をとつて距離検出信号を得る差分検出回
路とを具備したものである。
このような距離検出装置の一例について第1
図、第2図を参照してその概略を説明する。
第1図において、1は例えば、発光ダイオード
等を用いて構成したパルス発光器である。このパ
ルス発生器1としては眼に見えないこととPSD
2の感度の点から赤外光を発生するものが望まし
い。パルス発光器1から発したパルス光は投光レ
ンズ3を通して測距対象である被写体4(4a,
4b,4c等)に投射される。被写体4で反射さ
れたパルス光すなわち反射光は受光レンズ5を介
して前記PSD2に入射結像される。このPSD2
はイオン注入技術を用いて製造された一次元の連
続的な位置分解能を有するプレナー型のPINフオ
トダイオードであり“position sensitive
detectors”と称されるものである。この場合、
図示のように被写体4の位置4aに対してPSD
2の2a,4bに対して2b,…無限遠に対して
2dの位置にそれぞれ反射光スポツトが結像され
る。このPSD2は光スポツトの入射位置を2つ
の電流出力の割合から知ることができるものであ
り、例えば第2図aのようにPSD2の受光面の
中央位置S1に光スポツトが入射した場合2つの
電流出力IL1とIL2の割合はIL1/IL2=1となり、同
図bのような位置S2に入射した場合はIL1/IL2
=1/2、同図cのような位置S3に入射した場
合IL1/IL2=2となる。このようにPSD2に結像
された光スポツトの位置がPSD2から得られる
2つの電流出力の割合に対応していることから、
これら2つの電流出力より被写体距離の情報を得
ることができる。この場合真暗な場所における測
距であれば問題はないが、一般の写真撮影時等に
はパルス発光器1によるパルス光よりもはるかに
高い光量の定常光が存在するため前記パルス光の
反射光の抽出ができなくなつてしまう。そこでこ
の場合PSD2の第1の電流出力を受ける第1の
検出回路6およびPSD2の第2の電流出力を受
ける第2の検出回路7により定常光の影響を除去
し、パルス光の反射光による光電流の変動分のみ
をそれぞれ対数変換して抽出し差分検出回路8で
これらの差を取つてPSD2の第1と第2の電流
出力の電流比に対応する距離検出信号を出力する
ようにしている。この出力が例えばA/D変換さ
れるなどして表示、焦点調整等に供される。
第3図は第1図に示した第1の検出回路6を詳
細に示すものである。赤外発光ダイオード等を用
いたパルス発光器1のビーム光は例えば数msの
幅でパルス状に放射されるので、定常光を記憶し
微弱な反射光によるPSD2のパルス電流のみを
増幅し取り出すのがこの第1の検出回路6であ
る。
定常光によるPSD2の光電流IL1はFET(電界効
果形トランジスタ)Q1を通してトランジスタQ
2に流れる。演算増幅器A1はPSD2の端子電
圧を一定に保つヘツドアンプとして機能する。こ
の状態では演算増幅器A2の出力側のスイツチ
SWは閉じており、トランジスタQ2のベース電
位は0.5V(コレクタ電流Ic=60nAの時のベース−
エミツタ間電圧VBEに相当する)に保持されてい
る。この結果トランジスタQ3に60nAの電流が
流れ、ダイオードD1、トランジスタQ4を用い
て構成したカレントミラー回路によりダイオード
D2,D3にも60nAの電流が流れる。これが定
常状態である。定常光が白熱灯、蛍光灯等の場合
は光電流IL1が交流成分を含むので60nAの電流値
が変動し誤差を生ずるがメモリコンデンサCの容
量を小さくすることにつて誤差を小さくできる。
次にパルス発光器1が点灯したときは、それに
同期してスイツチSWがオフとなり、直前の光電
流IL1の値に対応するトランジスタQ2のベース
電位がメモリコンデンサCによりホールドされ
る。反射光による光電流IL1の増加成分ΔIL1はト
ランジスタQ3のベースに流れ込みhFE(電流増幅
率)倍されてダイオードD2,D3に流れる。
従つて、このときの出力電圧VO1は次式であら
わされる。
VO1=2kT/qlo hFE・ΔIL1+60〔nA〕/IS〔V〕 (1) (但し、q:電子電荷、k:ボルツマン定数、
T:絶対温度、IS:ダイオードD2,D3の飽和
電流) PSD2の他方の端子に接続された第2の検出
回路7もこの第1の検出回路6と全く同様に構成
され、これら両検出回路6,7によりPSD2の
各端子から出力される光電流を処理している。
差分検出回路8で両チヤンネルの検出回路6,
7の出力の差をとると距離に対応した電圧が得ら
れる。この電圧は次式であらわされる。
VOD=2kT/qlo hFE・ΔIL2+60〔nA〕/hFE・ΔIL1+60〔nA〕〔
V〕(2) 通常hFE・ΔIL≫60nAであるので VOD≒2kT/qloΔIL2/ΔIL1 (3) が成り立つ。
第4図に示すように被写体距離をl、受光レン
ズ5からPSD2までの距離(受光レンズ5の焦
点距離)をf、PSD2の全長をC、基線長をs
とし、PSD2の中央位置が受光レンズ5の光軸
に対応しているとすると、ΔIL1、ΔIL2と距離lの
関係は次のようになる。
ΔIL1∝C/2−fs/l ΔIL2∝C/2+fs/l (4) したがつて電圧VODは次式であらわすことがで
きる。
VOD=2・kT/qloC/2+f・s/l/C/2
−f・s/l〔V〕(5) この電圧VODは例えばサンプルホールド回路を
通してリニア出力端子に導かれ、あるいは同時に
A/D変換回路に入力されてデイジタル出力に変
換されラツチ回路でホールドされるなどして距離
表示等に供される。
ところで、第3図に示した回路における上述の
動作はあくまでも理想状態についてのものであつ
て、実際にはスイツチSWが閉じているときに演
算増幅器A2から供給されていたトランジスタQ
2のベース電流はスイツチSWが開くとどこから
も供給されなくなる。このため、このベース電流
はメモリコンデンサCに蓄えられた電荷で補うこ
とになるが、メモリコンデンサCの電荷が放電さ
れることにより、該コンデンサCの端子電圧が下
がり、トランジスタQ2には定常光光電流ILを流
せなくなる。したがつて、トランジスタQ2のベ
ース電位が低くなつた分に相当する誤差電流I′L1
がトランジスタQ3に流れ込み、最終的にはI′L1
×hFEの誤差信号となり、問題となる(第5図参
照)。
(c) 目的 本発明は、前述した問題に対処するもので、そ
の目的とするところは、ベース電流供給によるメ
モリコンデンサの端子電圧低下を防止して、誤差
を低減し得る距離検出装置を提供することにあ
る。
(d) 構成 本発明は、上記の目的を達成するために、測距
対象にパルス光を投射する光源と、前記測距対象
による前記パルス光の反射光スポツトが結像され
る個所に設けられ前記光源との視差に基づく前記
測距対象の距離に応じた入射スポツトの位置を前
記距離の変化による位置変化方向について連続的
に検出し検出位置に応じた相互電流比を有する第
1および第2の電流出力を得る半導体光位置検出
器と、この半導体光位置検出器の前記第1の電流
出力を受け前記パルス光による前記第1の電流出
力の変動分を対数変換して出力する第1の検出回
路と、前記半導体光位置検出器の前記第2の電流
出力を受け前記パルス光による前記第2の電流出
力の変動分を対数変換して出力する第2の検出回
路と、これら第1および第2の検出回路から出力
された対数変換された前記第1および第2の電流
出力の変動分の差をとつて距離検出信号を得る差
分検出回路とを具備した距離検出位置において、
前記第1および第2の検出回路をそれぞれ、入力
電流信号がエミツタまたはソースに供給される第
1のトランジスタと、この第1のトランジスタの
エミツタまたはソースが反転入力端に接続されベ
ースまたはゲートが出力端に接続された第1の演
算増幅器と、第記第1のトランジスタのコレクタ
またはドレインにコレクタが接続された第2のト
ランジスタと、この第2のトランジスタのコレク
タが非反転入力端に接続され反転入力端に予定の
電圧が与えられた第2の演算増幅器と、この第2
の演算増幅器と前記第2のトランジスタとの間に
挿入され前記光源の発光時にのみオフ制御される
スイツチと、前記第2のトランジスタのベース−
エミツタ間に接続されたコンデンサと、前記第2
のトランジスタのコレクタにベースが接続された
第3のトランジスタと、この第3のトランジスタ
のコレクタ電流を検出し前記差分検出回路に与え
る電流検出回路と、前記第2のトランジスタと同
様の特性を有し該第2のトランジスタとベース、
エミツタが共通接続された第4のトランジスタ
と、やはり前記第2のトランジスタと同様の特性
を有し前記第4のトランジスタのコレクタにエミ
ツタが接続された第5のトランジスタと、この第
5のトランジスタのベースをカレントミラー回路
の入力端に接続し、前記カレントミラー回路の出
力端を前記第2および第4のトランジスタのベー
スと前記コンデンサとの接続点に接続することに
より前記第5のトランジスタのベース電流の2倍
の電流を前記第2のトランジスタのベースに供給
する前記カレントミラー回路を用いた電流供給回
路とを備えた構成としたことを特徴としたもので
ある。
本発明の構成について、以下一実施例に基づい
て説明する。
第6図は本発明の一実施例の要部を示すもの
で、同図において、第3図と同様の部分には同符
号を付している。Q5,Q6は共にトランジスタ
Q2と同特性、すなわち一般的には同様の材料で
同一寸法、同一形状に形成したトランジスタであ
り、トランジスタQ5はベース、エミツタがトラ
ンジスタQ2と共通接続され、トランジスタQ6
はエミツタが前記トランジスタQ5のコレクタに
接続され且つコレクタが電源VCCに接続されてい
る。これら両トランジスタQ5,Q6はトランジ
スタQ2とVBEが同じであるから、これらトラン
ジスタQ5,Q6にはトランジスタQ2と等しい
電流IL1が流れる。よつてトランジスタQ6のベ
ース電流IB1はトランジスタQ2,Q5のベース
電流IB1と等しい。トランジスタQ7はコレクタ
の一つがベースと接続されていわゆるダイオード
接続されたマルチコレクタトランジスタで、該ダ
イオード接続された、カレントミラー回路の入力
端としてのコレクタがトランジスタQ6のベース
に接続され、他の一つのコレクタがアースに接続
されるとともにエミツタが電源VCCに接続されて
いる。このトランジスタQ7とベース、エミツタ
が共通接続されてトランジスタQ8が設けられこ
のトランジスタQ8のコレクタは、カレントミラ
ー回路の出力端であり、トランジスタQ2,Q5
の共通接続されたベースに接続されている。マル
チコレクタトランジスタQ7のダイオード接続さ
れたコレクタに流れる電流は接地されたコレクタ
に流れる電流と同じである。したがつて、このト
ランジスタQ7とカレントミラー回路を構成する
トランジスタQ8のコレクタ電流はトランジスタ
Q6のベース電流IB1の2倍すなわち2IB1となり、
トランジスタQ2,Q5の各ベース電流IB1の和
に等しくなる。この電流によつてトランジスタQ
2,Q5にはベース電流IB1が、スイツチSWをオ
フにしたときも供給され、メモリコンデンサCの
端子電圧は安定に保持される。
このようにして、スイツチSWのオフ時にもト
ランジスタQ2のベース電流はトランジスタQ8
から供給されることになり、メモリコンデンサC
からは電荷の流出がなくなり、安定に電圧を保持
する。したがつて、誤差の発生も殆んどなくな
る。
もちろん、第6図に示した回路は、第3図の場
合と同様第1図の第2の検出回路7にも適用す
る。
なお、本発明は上述の構成に限らずその要旨に
含まれる範囲内での種々の変形実施が可能であ
る。
例えば、第7図に示すように、第6図のトラン
ジスタQ7に代えてトランジスタQ9,Q10に
よる構成を用い、トランジスタQ8に代えてトラ
ンジスタQ11,Q12による構成を用いれば、
トランジスタQ7のベース電流に起因する誤差の
発生もなくなり、さらに高精度化が可能となる。
(e) 効果 本発明によれば、メモリコンデンサの電荷が流
出することに起因する誤差の発生が効果的に防止
でき、高精度の検出の可能な距離検出装置を提供
することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第4図は本発明の適用される距離検出
装置の一例の概略を説明するための図、第5図は
同例における問題を説明するための図、第6図は
本発明の一実施例の要部構成を示す回路構成図、
第7図は本発明の他の実施例の要部構成を示す図
である。 Q1〜Q12……トランジスタ、D1〜D3…
…ダイオード、C……メモリコンデンサ、SW…
…スイツチ、A1,A2……演算増幅器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 測距対象にパルス光を投射する光源と、前記
    測距対象による前記パルス光の反射光スポツトが
    結像される個所に設けられた前記光源との視差に
    基づく前記測距対象の距離に応じた入射スポツト
    の位置を前記距離の変化による位置変化方向につ
    いて連続的に検出し検出位置に応じた相互電流比
    を有する第1および第2の電流出力を得る半導体
    光位置検出器と、この半導体光位置検出器の前記
    第1の電流出力を受け前記パルス光による前記第
    1の電流出力の変動分を対数変換して出力する第
    1の検出回路と、前記半導体光位置検出器の前記
    第2の電流出力を受け前記パルス光による前記第
    2の電流出力の変動分を対数変換して出力する第
    2の検出回路と、これら第1および第2の検出回
    路から出力された対数変換された前記第1および
    第2の電流出力の変動分の差をとつて距離検出信
    号を得る差分検出回路とを具備した距離検出位置
    において、前記第1および第2の検出回路をそれ
    ぞれ、入力電流信号がエミツタまたはソースに供
    給される第1のトランジスタと、この第1のトラ
    ンジスタのエミツタまたはソースが反転入力端に
    接続されベースまたはゲートが出力端に接続され
    た第1の演算増幅器と、第記第1のトランジスタ
    のコレクタまたはドレインにコレクタが接続され
    た第2のトランジスタと、この第2のトランジス
    タのコレクタが非反転入力端に接続され反転入力
    端に予定の電圧が与えられた第2の演算増幅器
    と、この第2の演算増幅器と前記第2のトランジ
    スタとの間に挿入され前記光源の発光時にのみオ
    フ制御されるスイツチと、前記第2のトランジス
    タのベース−エミツタ間に接続されたコンデンサ
    と、前記第2のトランジスタのコレクタにベース
    が接続された第3のトランジスタと、この第3の
    トランジスタのコレクタ電流を検出し前記差分検
    出回路に与える電流検出回路と、前記第2のトラ
    ンジスタと同様の特性を有し該第2のトランジス
    タとベース、エミツタが共通接続された第4のト
    ランジスタと、やはり前記第2のトランジスタと
    同様の特性を有し前記第4のトランジスタのコレ
    クタにエミツタが接続された第5のトランジスタ
    と、この第5のトランジスタのベースをカレント
    ミラー回路の入力端に接続し、前記カレントミラ
    ー回路の出力端を前記第2および第4のトランジ
    スタのベースと前記コンデンサとの接続点に接続
    することにより前記第5のトランジスタのベース
    電流の2倍の電流を前記第2のトランジスタのベ
    ースに供給する前記カレントミラー回路を用いた
    電流供給回路とを備えた構成としたことを特徴と
    する距離検出装置。
JP1614083A 1983-02-04 1983-02-04 距離検出装置 Granted JPS59142412A (ja)

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JP2738899B2 (ja) * 1993-03-19 1998-04-08 浜松ホトニクス株式会社 固体撮像装置
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