JPS59142412A - 距離検出装置 - Google Patents
距離検出装置Info
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- JPS59142412A JPS59142412A JP1614083A JP1614083A JPS59142412A JP S59142412 A JPS59142412 A JP S59142412A JP 1614083 A JP1614083 A JP 1614083A JP 1614083 A JP1614083 A JP 1614083A JP S59142412 A JPS59142412 A JP S59142412A
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- collector
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
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- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（、） 技術分野
本発明は、カメラ等に用いる距離検出装置に関するもの
である。
である。
＜ｂ） 従来技術
いわゆるコンパクトカメラ等におけるオートフォーカス
（自動焦点調整）の測距方式としては外光を利用するパ
ッシブ方式による二重像合致方式が主流となっている。
（自動焦点調整）の測距方式としては外光を利用するパ
ッシブ方式による二重像合致方式が主流となっている。
しかしながら、このパッシブ方式による二重像合致方式
は、一方の像の他方の像に対する相対位置を変化させる
ための可動ミラーを用いることが不可欠な要素となって
おり、この可動ミラーを用いることによる耐久性の低さ
、および二重像合致方式であるため被写体（測距対象）
のコントラスト情報により測距を行なっているので被写
体依存性が強く、コントラストの悪い被写体の測距や暗
いときの測距能力の低さといった問題点があった。
は、一方の像の他方の像に対する相対位置を変化させる
ための可動ミラーを用いることが不可欠な要素となって
おり、この可動ミラーを用いることによる耐久性の低さ
、および二重像合致方式であるため被写体（測距対象）
のコントラスト情報により測距を行なっているので被写
体依存性が強く、コントラストの悪い被写体の測距や暗
いときの測距能力の低さといった問題点があった。
また、このような可動部をもつ方式は調整が複雑化し調
整に多くの手間を要するという欠点をもっている。
整に多くの手間を要するという欠点をもっている。
また、測距側の装置自体から光等を発するアクティブ方
式による二角測板方式を用いたものは、上述した被写体
依存性については改善されるものの、赤外光等の発光部
または受光部を回動させるなどの可動部を有するものは
やはり上述の耐久性の低さ、調整の複雑化等の問題は避
けられない。
式による二角測板方式を用いたものは、上述した被写体
依存性については改善されるものの、赤外光等の発光部
または受光部を回動させるなどの可動部を有するものは
やはり上述の耐久性の低さ、調整の複雑化等の問題は避
けられない。
一方、アクティブ方式の一種として超音波を発射し測距
対象による反射波を受信し送受に要する時間から測距対
象の距離を測定する超音波方式があり、これは純電気的
な処理のみによって測定するため処理は容易であるが、
高出力の発信が必要で大きな電源を必要とし、例えばコ
ンパクトカメラ等に用いられる電源では有効な超音波の
発信が困難である。また、超音波が測距対象以外の物体
にあたって測距精度が低下するのを防止するためには指
向性をよくする必要があるが、そのためには超音波の送
受信面の面積を大きくしなければならず、この点もコン
パクトカメラ等には大きな問題となる。
対象による反射波を受信し送受に要する時間から測距対
象の距離を測定する超音波方式があり、これは純電気的
な処理のみによって測定するため処理は容易であるが、
高出力の発信が必要で大きな電源を必要とし、例えばコ
ンパクトカメラ等に用いられる電源では有効な超音波の
発信が困難である。また、超音波が測距対象以外の物体
にあたって測距精度が低下するのを防止するためには指
向性をよくする必要があるが、そのためには超音波の送
受信面の面積を大きくしなければならず、この点もコン
パクトカメラ等には大きな問題となる。
これに対して、上述のアクティブ方式による三角測量方
式を採用したものの一種であって、その上可動部をなく
し、さほど大きな電力を要せず調整も容易、耐久性も良
好でしかも高い距離分解能が得られるものとして、次に
述べるような距離検出装置が考えられている。
式を採用したものの一種であって、その上可動部をなく
し、さほど大きな電力を要せず調整も容易、耐久性も良
好でしかも高い距離分解能が得られるものとして、次に
述べるような距離検出装置が考えられている。
すなわち、この距離検出装置は、測距対象にパルス光を
投射する光源と、前記測距対象による前記パルス光の反
射光スポットが結像される個所に設けられ前記光源との
視差に基づく前記測距対象の距離に応じた入射スポット
の位置を前記距離の変化による位置変化方向について連
続的に検出し検出位置に応じた相互電流比を有する第１
および第２の電流出力を得る半導体装置検出器（以下ｒ
ＰＳＤＪと略称する）と、このＰＳＤの前記第１の電流
出力を受は前記パルス光による前記第１の電流出力の変
動分を対数変換して出力する第１の検出回路と、前記Ｐ
ＳＤの前記第２の電流出力を受は前記パルス光による前
記第２の電流出力の変動分を対数変換して出力する第２
の検出回路と、これら第１および第２の検出回路から出
力された対数変換された前記第１および第２の電流出力
の変動分の差をとって距離検出信号を得る差分検出回路
とを具備したものである。
投射する光源と、前記測距対象による前記パルス光の反
射光スポットが結像される個所に設けられ前記光源との
視差に基づく前記測距対象の距離に応じた入射スポット
の位置を前記距離の変化による位置変化方向について連
続的に検出し検出位置に応じた相互電流比を有する第１
および第２の電流出力を得る半導体装置検出器（以下ｒ
ＰＳＤＪと略称する）と、このＰＳＤの前記第１の電流
出力を受は前記パルス光による前記第１の電流出力の変
動分を対数変換して出力する第１の検出回路と、前記Ｐ
ＳＤの前記第２の電流出力を受は前記パルス光による前
記第２の電流出力の変動分を対数変換して出力する第２
の検出回路と、これら第１および第２の検出回路から出
力された対数変換された前記第１および第２の電流出力
の変動分の差をとって距離検出信号を得る差分検出回路
とを具備したものである。
このような距離検出装置の一例について第１図、第２図
を参照してその概略を説明する。
を参照してその概略を説明する。
第１図において、■は例えば、発光ダイオード等を用い
て構成したパルス発光器である。このパルス発光器１と
しては眼に見えないこととＰＳＤ２の感度の点から赤外
光を発生するものが望ましい。パルス発光器１から発し
たパルス光は投光レンズ３を通して測距対象である被写
体４ （４ａ、４ｂ、４ｃ等）に投射される。被写体４
で反射されたパルス光すなわち反射光は受光レンズ５を
介して前記ＰＳＤ２に入射結像される。このＰＳＤ２は
イオン注入技術を用いて製造された一次元の連続的な位
置分解能を有するプレナー型のＰＩＮフォトダイオード
であり”ｐｏｓｉｔｉｏｎ ５ｅｎｓｉｔｉｖｅｄ
ｅｔｅｃｔｏｒｓ”と称されるものである。
て構成したパルス発光器である。このパルス発光器１と
しては眼に見えないこととＰＳＤ２の感度の点から赤外
光を発生するものが望ましい。パルス発光器１から発し
たパルス光は投光レンズ３を通して測距対象である被写
体４ （４ａ、４ｂ、４ｃ等）に投射される。被写体４
で反射されたパルス光すなわち反射光は受光レンズ５を
介して前記ＰＳＤ２に入射結像される。このＰＳＤ２は
イオン注入技術を用いて製造された一次元の連続的な位
置分解能を有するプレナー型のＰＩＮフォトダイオード
であり”ｐｏｓｉｔｉｏｎ ５ｅｎｓｉｔｉｖｅｄ
ｅｔｅｃｔｏｒｓ”と称されるものである。
この場合、図示のように被写体４の位置４ａに対してＰ
ＳＤ２の２ａ、４ｂに対して２ ｂ 、 −・・・・・
無限遠に対して２ｄの位置にそれぞれ反射光スポットが
結像される。このＰＳＤ２は光スポットの入射位置を２
つの電流出力の割合から知ることができるものであり、
例えば第２図（ａ）のようにＰＳＤ２の受光面の中央位
置Ｓｌに光スポットが入射した場合２つの電流出力■
と■、２の割合は■Ｌ１／１，２＝１となり、同図（ｂ
）のような位置Ｓ２に入射した場合は ｉｔｊ ／ Ｉｔ２ ＝ １ ／ ２ 、同図（ｃ）の
ような位置Ｓ３に入射した場合ＩＩ、１ ／ Ｉｔ、２
” ２となる。このようにＰＳＤ２に結像された光ス
ポットの位置がＰＳＤ２から得られる２つの電流出力の
割合に対応していることから、これら２つの電流出力よ
り被写体距離の情報を得ることができる。
ＳＤ２の２ａ、４ｂに対して２ ｂ 、 −・・・・・
無限遠に対して２ｄの位置にそれぞれ反射光スポットが
結像される。このＰＳＤ２は光スポットの入射位置を２
つの電流出力の割合から知ることができるものであり、
例えば第２図（ａ）のようにＰＳＤ２の受光面の中央位
置Ｓｌに光スポットが入射した場合２つの電流出力■
と■、２の割合は■Ｌ１／１，２＝１となり、同図（ｂ
）のような位置Ｓ２に入射した場合は ｉｔｊ ／ Ｉｔ２ ＝ １ ／ ２ 、同図（ｃ）の
ような位置Ｓ３に入射した場合ＩＩ、１ ／ Ｉｔ、２
” ２となる。このようにＰＳＤ２に結像された光ス
ポットの位置がＰＳＤ２から得られる２つの電流出力の
割合に対応していることから、これら２つの電流出力よ
り被写体距離の情報を得ることができる。
この場合真暗な場所における測距であれば問題はないが
、一般の写真撮影時等にはパルス発光器１によるパルス
光よりもはるかに高い光量の定常光が存在するため前記
パルス光の反射光の抽出ができなくなってしまう。そこ
でこの場合ＰＳＤ２の第１の電流出力を受ける第１の検
出回路６およびＰＳＤ２の第２の電流出力を受ける第２
の検出回路７により定常光の影響を除去し、パルス光の
反射光による光電流の変動分のみをそれぞれ対数変換し
て抽出し差分検出回路８でこれらの差を取ってＰＳＤ２
の第１と第２の電流出力の電流比に対応する距離検出信
号を出力するようにしている。この出力が例えばＡ／Ｄ
変換されるなどして表示、焦点調整等に供される。
、一般の写真撮影時等にはパルス発光器１によるパルス
光よりもはるかに高い光量の定常光が存在するため前記
パルス光の反射光の抽出ができなくなってしまう。そこ
でこの場合ＰＳＤ２の第１の電流出力を受ける第１の検
出回路６およびＰＳＤ２の第２の電流出力を受ける第２
の検出回路７により定常光の影響を除去し、パルス光の
反射光による光電流の変動分のみをそれぞれ対数変換し
て抽出し差分検出回路８でこれらの差を取ってＰＳＤ２
の第１と第２の電流出力の電流比に対応する距離検出信
号を出力するようにしている。この出力が例えばＡ／Ｄ
変換されるなどして表示、焦点調整等に供される。
第３図は第１図に示した第１の検出回路６を詳細に示す
ものである。赤外発光ダイオード等を用いたパルス発光
器１のビーム光は例えば数ｍｓの幅でパルス状に放射さ
れるので、定常光を記憶し微弱な反射光によるＰＳＤ２
のパルス電流のみを増幅し取り出すのがこの第１の検出
回路６である。
ものである。赤外発光ダイオード等を用いたパルス発光
器１のビーム光は例えば数ｍｓの幅でパルス状に放射さ
れるので、定常光を記憶し微弱な反射光によるＰＳＤ２
のパルス電流のみを増幅し取り出すのがこの第１の検出
回路６である。
定常光によるＰＳＤ２の光電流Ｉｔ、１はＦＥＴ（電界
効果形トランジスタ）Ｑｌを通してトランジスタＱ２に
流れる。演算増幅器Ａ１はＰＳＤ２の端子電圧を一定に
保つヘッドアンプとして機能する。この状態では演算増
幅器Ａ２の出力側のスイッチＳＷは閉じており、トラン
ジスタＱ２のベース電位は０．５Ｖ （コレクタ電流Ｉ
ｃ＝ ６０ ｎ Ａの時のベース−エミッタ間電圧ＶＢ
Ｅに相当する）に保持されている。この結果トランジス
タＱ３に６０ｎＡの電流が流れ、ダイオードＤ１．トラ
ンジスタＱ４を用いて構成したカレントミラー回路によ
りダイオードＤ２゜Ｄ３にも６０ｎＡの電流が流れる。
効果形トランジスタ）Ｑｌを通してトランジスタＱ２に
流れる。演算増幅器Ａ１はＰＳＤ２の端子電圧を一定に
保つヘッドアンプとして機能する。この状態では演算増
幅器Ａ２の出力側のスイッチＳＷは閉じており、トラン
ジスタＱ２のベース電位は０．５Ｖ （コレクタ電流Ｉ
ｃ＝ ６０ ｎ Ａの時のベース−エミッタ間電圧ＶＢ
Ｅに相当する）に保持されている。この結果トランジス
タＱ３に６０ｎＡの電流が流れ、ダイオードＤ１．トラ
ンジスタＱ４を用いて構成したカレントミラー回路によ
りダイオードＤ２゜Ｄ３にも６０ｎＡの電流が流れる。
これが定常状態である。定常光が白熱灯、蛍光灯等の場
合は光電流ＩＬ１が交流成分を含むので６０ｎＡの電流
値が変動し誤差を生ずるがメモリコンデンサＣの容量を
小さくすることによって誤差を小さくできる。
合は光電流ＩＬ１が交流成分を含むので６０ｎＡの電流
値が変動し誤差を生ずるがメモリコンデンサＣの容量を
小さくすることによって誤差を小さくできる。
次にパルス発光器１が点灯したときは、それに同期して
スイッチＳＷがオフとなり、直前の光電流ＩＬ１の値に
対応するトランジスタＱ２のベース電位がメモリコンデ
ンサＣによりホールドされる５反射光による光電流ＩＬ
１の増加成分ΔＩＬ１はトランジスタＱ３のベースに流
れ込みｈＦＥ（電流増幅率）倍されてダイオードＤ２゜
Ｄ３に流れる。
スイッチＳＷがオフとなり、直前の光電流ＩＬ１の値に
対応するトランジスタＱ２のベース電位がメモリコンデ
ンサＣによりホールドされる５反射光による光電流ＩＬ
１の増加成分ΔＩＬ１はトランジスタＱ３のベースに流
れ込みｈＦＥ（電流増幅率）倍されてダイオードＤ２゜
Ｄ３に流れる。
従って、このときの出力電圧ｖｏ１は次式であられされ
る。
る。
（但し、ｑ：電子電荷、ｋ：ボルツマン定数、Ｔ：絶対
温度、Ｉ８：ダイオードＤ２．Ｄ３の飽和電流） ＰＳＤ２の他方の端子に接続された第２の検出回路７も
この第１の検出回路６と全く同様に構成され、これら面
検出回路６，７によりＰｓＤ２の各端子から出力される
光電流を処理している。
温度、Ｉ８：ダイオードＤ２．Ｄ３の飽和電流） ＰＳＤ２の他方の端子に接続された第２の検出回路７も
この第１の検出回路６と全く同様に構成され、これら面
検出回路６，７によりＰｓＤ２の各端子から出力される
光電流を処理している。
差分検出回路８で両チャンネルの検出回路６゜７の出力
の差をとると距離に対応した電圧が得られる。この電圧
は次式であられされる。
の差をとると距離に対応した電圧が得られる。この電圧
は次式であられされる。
第４図に示すように被写体距離をＱ、受光レンズ５から
ＰＳＤ２までの距離（受光レンズ５の焦点距離）をｆ、
ＰＳＤ２の全長をＣ２基線長をＳとし、ＰＳＤ２の中央
位置が受光レンズ５の光軸に対応しているとすると、Δ
ＩＬ１ 。
ＰＳＤ２までの距離（受光レンズ５の焦点距離）をｆ、
ＰＳＤ２の全長をＣ２基線長をＳとし、ＰＳＤ２の中央
位置が受光レンズ５の光軸に対応しているとすると、Δ
ＩＬ１ 。
ΔＩＬ２と距離Ｑの関係は次のようになる。
ΔＩｔ、 ＋ ｏｃＣ／ ２ ｆ ｓ ／ Ｑ（４）
ΔＩＬ２ｃｘ： Ｃ／ ２ ＋ ｆ ｓ ／ Ｑしたが
って電圧ＶＯＤは次式であらゎすことができる。
って電圧ＶＯＤは次式であらゎすことができる。
この電圧ＶＯＤは例えばサンプルホールド回路を通して
リニア出力端子に導がれ、あるいは同時にＡ／Ｄ変換回
路に入力されてディジタル出力に変換されラッチ回路で
ホールドされるなどして距離表示等に供される。
リニア出力端子に導がれ、あるいは同時にＡ／Ｄ変換回
路に入力されてディジタル出力に変換されラッチ回路で
ホールドされるなどして距離表示等に供される。
ところで、第３図に示した回路における上述の動作はあ
くまでも理想状態についてのものであって、実際にはス
イッチｓｗが閉じているときに演算増幅器Ａ２がら供給
されていたトランジスタＱ２のベース電流はスイッチｓ
ｗが開くとどこからも供給されなくなる。このため、こ
のベース電流はメモリコンデンサＣに蓄えられた電荷で
補うことになるが、メモリコンデンサＣの電荷が放電さ
れることにより、該コンデンサＣの端子電圧が下がり、
トランジスタＱ２には定常光光電流■５ を流せなく
なる。したがって、トランジスタＱ２のベース電位が低
くなった分に相当する誤差電流１１．ｉがトランジスタ
Ｑ３に流れ込み、最終的にはに１ Ｘｈｐｇの誤差信号
となり、問題となる（第５図参照）。
くまでも理想状態についてのものであって、実際にはス
イッチｓｗが閉じているときに演算増幅器Ａ２がら供給
されていたトランジスタＱ２のベース電流はスイッチｓ
ｗが開くとどこからも供給されなくなる。このため、こ
のベース電流はメモリコンデンサＣに蓄えられた電荷で
補うことになるが、メモリコンデンサＣの電荷が放電さ
れることにより、該コンデンサＣの端子電圧が下がり、
トランジスタＱ２には定常光光電流■５ を流せなく
なる。したがって、トランジスタＱ２のベース電位が低
くなった分に相当する誤差電流１１．ｉがトランジスタ
Ｑ３に流れ込み、最終的にはに１ Ｘｈｐｇの誤差信号
となり、問題となる（第５図参照）。
（ｃ） 目的
本発明は、前述した問題に対処するもので、その目的と
するところは、ベース電流供給によるメモリコンデンサ
の端子電圧低下を防止して、誤差を低減し得る距離検出
装置を提供することにある。
するところは、ベース電流供給によるメモリコンデンサ
の端子電圧低下を防止して、誤差を低減し得る距離検出
装置を提供することにある。
（ｄ） 構成
本発明の構成について、以下一実施例に基づいて説明す
る。
る。
第６図は本発明の一実施例の要部を示すもので、同図に
おいて、第３図と同様の部分には同符号を付している。
おいて、第３図と同様の部分には同符号を付している。
Ｑ５．Ｑ６は共にトランジスタＱ２と同特性、すなわち
一般的には同様の材料で同一寸法、同一形状に形成した
トランジスタであり、トランジスタＱ５はベース、エミ
ッタがトランジスタＱ２と共通接続され、トランジスタ
Ｑ６はエミッタが前記トランジスタＱ５のコレクタに接
続され且つコレクタが電源ＶＣａに接続されている。こ
れら両トランジスタＱ５゜Ｑ６はトランジスタＱ２とＶ
ＢＩｎが同じであるから、これらトランジスタＱ５．Ｑ
６にはトランジスタＱ２と等しい電流ＩＬ１が流れる。
一般的には同様の材料で同一寸法、同一形状に形成した
トランジスタであり、トランジスタＱ５はベース、エミ
ッタがトランジスタＱ２と共通接続され、トランジスタ
Ｑ６はエミッタが前記トランジスタＱ５のコレクタに接
続され且つコレクタが電源ＶＣａに接続されている。こ
れら両トランジスタＱ５゜Ｑ６はトランジスタＱ２とＶ
ＢＩｎが同じであるから、これらトランジスタＱ５．Ｑ
６にはトランジスタＱ２と等しい電流ＩＬ１が流れる。
よってトランジスタＱ６のベース電流はトランジスタＱ
２．Ｑ５のベース電流ＩＢ＋と等しい。トランジスタＱ
７はコレクタの一つがベースと接続されていわゆるダイ
オード接続されたマルチコレクタトランジスタで、該ダ
イオード接続されたコレクタがトランジスタＱ６のベー
スに接続され、他の一つのコレクタがアースに接続され
るとともにエミッタが電源ＶＣＣに接続されている。
２．Ｑ５のベース電流ＩＢ＋と等しい。トランジスタＱ
７はコレクタの一つがベースと接続されていわゆるダイ
オード接続されたマルチコレクタトランジスタで、該ダ
イオード接続されたコレクタがトランジスタＱ６のベー
スに接続され、他の一つのコレクタがアースに接続され
るとともにエミッタが電源ＶＣＣに接続されている。
このトランジスタＱ７とベース、エミッタが共通接続さ
れてトランジスタＱ８が設けられこのトランジスタＱ８
のコレクタはトランジスタＱ２、Ｑ５の共通接続された
ベースに接続されている。マルチコレクタトランジスタ
Ｑ７のダイオード接続されたコレ′クタに流れる電流は
接地されたコレクタに流れる電流と同じである。したが
って、このトランジスタＱ７とカレントミラー回路を構
成するトランジスタＱ８のコレクタ電流はトランジスタ
Ｑ６のベース電流ＩＢ１の２倍すなわち２１Ｂ１となり
、トランジスタＱ２゜Ｑ４の各ベース電流ＩＢ１の和に
等しくなる。この電流によってトランジスタＱ２．Ｑ４
にはベース電流ＩＢ１が、スイッチＳＷをオフにしたと
きも供給され、メモリコンデンサＣの端子電圧は安定に
保持される。
れてトランジスタＱ８が設けられこのトランジスタＱ８
のコレクタはトランジスタＱ２、Ｑ５の共通接続された
ベースに接続されている。マルチコレクタトランジスタ
Ｑ７のダイオード接続されたコレ′クタに流れる電流は
接地されたコレクタに流れる電流と同じである。したが
って、このトランジスタＱ７とカレントミラー回路を構
成するトランジスタＱ８のコレクタ電流はトランジスタ
Ｑ６のベース電流ＩＢ１の２倍すなわち２１Ｂ１となり
、トランジスタＱ２゜Ｑ４の各ベース電流ＩＢ１の和に
等しくなる。この電流によってトランジスタＱ２．Ｑ４
にはベース電流ＩＢ１が、スイッチＳＷをオフにしたと
きも供給され、メモリコンデンサＣの端子電圧は安定に
保持される。
このようにして、スイッチＳＷのオフ時にもトランジス
タＱ２のベース電流はトランジスタＱ８から供給される
ことになり、メモリコンデンサＣからは電荷の流出がな
くなり、安定に電圧を保持する。したがって、誤差の発
生も殆ん ４どなくなる。
タＱ２のベース電流はトランジスタＱ８から供給される
ことになり、メモリコンデンサＣからは電荷の流出がな
くなり、安定に電圧を保持する。したがって、誤差の発
生も殆ん ４どなくなる。
もちろん、第６図に示した回路は、第３図の場合と同様
第１図の第２の検出回路７にも適用する。
第１図の第２の検出回路７にも適用する。
なお、本発明は上述の構成に限らずその要旨に含まれる
範囲内での種々の変形実施が可能である。
範囲内での種々の変形実施が可能である。
例えば、第７図に示すように、第６図のトランジスタＱ
７に代えてトランジスタＱ９．ＱｌＯによる構成を用い
、トランジスタＱ８に代えてトランジスタＱｌｌ、Ｑ１
２による構成を用いれば、トランジスタＱ７のベース電
流に起因する誤差の発生もなくなり、さらに高精度化が
可能となる。
７に代えてトランジスタＱ９．ＱｌＯによる構成を用い
、トランジスタＱ８に代えてトランジスタＱｌｌ、Ｑ１
２による構成を用いれば、トランジスタＱ７のベース電
流に起因する誤差の発生もなくなり、さらに高精度化が
可能となる。
（ｅ） 効果
本発明によれば、メモリコンデンサの電荷が流出するこ
とに起因する誤差の発生が効果的に防止でき、高精度の
検出の可能な距離検出装置を提供することができる。
とに起因する誤差の発生が効果的に防止でき、高精度の
検出の可能な距離検出装置を提供することができる。
第１図〜第４図は本発明の適用される距離検出装置の一
例の概略を説明するための図、第５図は同側における問
題を説明するための図、第６図は本発明の一実施例の要
部構成を示す回路構成図、第７図は本発明の他の実施例
の要部構成を示す図である。 Ｑ１〜Ｑ１２・・・・・・トランジスタ。 Ｄ１〜Ｄ３・・・・・・タイオード。 Ｃ・・・・・・メモリコンデンサ。 ＳＷ・・・・・・スイッチ。 Ａｌ、Ａ２・・・・・・演算増幅器。 第 霞 図 ム （ａ） （ｂ） （Ｃ） 第 ３ 図 第 ４ 図 第 ５ 図 （ａ） （ｂ）
例の概略を説明するための図、第５図は同側における問
題を説明するための図、第６図は本発明の一実施例の要
部構成を示す回路構成図、第７図は本発明の他の実施例
の要部構成を示す図である。 Ｑ１〜Ｑ１２・・・・・・トランジスタ。 Ｄ１〜Ｄ３・・・・・・タイオード。 Ｃ・・・・・・メモリコンデンサ。 ＳＷ・・・・・・スイッチ。 Ａｌ、Ａ２・・・・・・演算増幅器。 第 霞 図 ム （ａ） （ｂ） （Ｃ） 第 ３ 図 第 ４ 図 第 ５ 図 （ａ） （ｂ）
Claims (1)
- 測距対象にパルス光を投射する光源と、前記測距対象に
よる前記パルス光の反射光スポットが結像される個所に
設けられ前記光源との視差に基づく前記測距対象の距離
に応じた入射スポットの位置を前記距離の変化による位
置変化方向について連続的に検出し検出位置に応じた相
互電流比を有する第１および第２の電流出力を得る半導
体装置検出器と、この半導体装置検出器の前記第１の電
流出力を受は前記パルス光による前記第１の電流出力の
変動分を対数変換して出力する第１の検出回路と、前記
半導体装置検出器の前記第２の電流出力を受は前記パル
ス光による前記第２の電流出力の変動分を対数変換して
出力する第２の検出回路と、これら第１および第２の検
出回路から出力された対数変換された前記第１および第
２の電流出力の変動分の差をとって距離検出信号を得る
差分検出回路とを具備した距離検出装置において、前記
第１および第２の検出回路をそれぞれ、入力電流信号が
エミッタまたはソースに供給される第１のトランジスタ
と、この第１のトランジスタのエミッタまたはソースが
反転入力端に接続されベースまたはゲートが出力端に接
続された第１の演算増幅器と、前記第１のトランジスタ
のコレクタまたはドレインにコレクタが接続された第２
のトランジスタと、この第２のトランジスタのコレクタ
が非反転入力端に接続され反転入力端に予定の電圧が与
えられた第２の演算増幅器と、この第２の演算増幅器と
前記第２のトランジスタとの間に挿入され前記光源の発
光時にのみオフ制御されるスイッチと、前記第２のトラ
ンジスタのベース−エミッタ間に接続されたコンデンサ
と、前記第２のトランジスタのコレクタにベースが接続
された第３のトランジスタと、この第３のトランジスタ
のコレクタ電流を検出し前記差分検出回路に与える電流
検出回路と、前記第２のトランジスタと同様の特性を有
し該第２のトランジスタとベース、エミッタが共通接続
された第４のトランジスタと、やはり前記第２のトラン
ジスタと同様の特性を有し前記第４のトランジスタのコ
レクタにエミッタが接続された第５のトランジスタと、
この第５のトランジスタのベース電流の２倍の電流を前
記第２トランジスタのベースに供給するカレントミラー
回路を用いた電流供給回路とを備えた構成としたことを
特徴とする距離検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1614083A JPS59142412A (ja) | 1983-02-04 | 1983-02-04 | 距離検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1614083A JPS59142412A (ja) | 1983-02-04 | 1983-02-04 | 距離検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59142412A true JPS59142412A (ja) | 1984-08-15 |
| JPH0457962B2 JPH0457962B2 (ja) | 1992-09-16 |
Family
ID=11908189
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1614083A Granted JPS59142412A (ja) | 1983-02-04 | 1983-02-04 | 距離検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59142412A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61210980A (ja) * | 1985-03-15 | 1986-09-19 | Hamamatsu Photonics Kk | パルス信号抜き取り回路 |
| US5424530A (en) * | 1993-03-19 | 1995-06-13 | Hamamatsu Photonics K.K. | Solid image pickup device having dual integrator |
| EP0679869A2 (en) * | 1994-04-28 | 1995-11-02 | Hamamatsu Photonics K.K. | Distance measuring device |
-
1983
- 1983-02-04 JP JP1614083A patent/JPS59142412A/ja active Granted
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61210980A (ja) * | 1985-03-15 | 1986-09-19 | Hamamatsu Photonics Kk | パルス信号抜き取り回路 |
| JPH0516555B2 (ja) * | 1985-03-15 | 1993-03-04 | Hamamatsu Hotonikusu Kk | |
| US5424530A (en) * | 1993-03-19 | 1995-06-13 | Hamamatsu Photonics K.K. | Solid image pickup device having dual integrator |
| US5684295A (en) * | 1993-03-19 | 1997-11-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | Solid state image pickup device having dual integrator |
| EP0679869A2 (en) * | 1994-04-28 | 1995-11-02 | Hamamatsu Photonics K.K. | Distance measuring device |
| EP0679869A3 (en) * | 1994-04-28 | 1996-10-23 | Hamamatsu Photonics Kk | Distance measuring device. |
| US5644385A (en) * | 1994-04-28 | 1997-07-01 | Hamamatsu Photonics K.K. | Distance measuring device using position sensitive light detector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0457962B2 (ja) | 1992-09-16 |
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