JP3116600B2 - タイミングジェネレータ - Google Patents

タイミングジェネレータ

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JP3116600B2
JP3116600B2 JP04284418A JP28441892A JP3116600B2 JP 3116600 B2 JP3116600 B2 JP 3116600B2 JP 04284418 A JP04284418 A JP 04284418A JP 28441892 A JP28441892 A JP 28441892A JP 3116600 B2 JP3116600 B2 JP 3116600B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、LSI試験装置におい
て被検査対象のクロックなどの外部クロックを受けてタ
イミング信号を出力するタイミングジェネレータに関
し、回路の簡素化とともにタイミング信号の低ジッタ化
を実現するタイミングジェネレータに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】LSIテスタのタイミングジェネレータ
は、以下のタイミング信号を出力する。 被検査対象(以下DUTと略す)に入力するテストパ
ターンを発生するパターン発生器などの発生タイミング
である内部タイミング信号。 パターン発生器から発生されたテストパターンを波形
成形するためのフォーマットコントローラに与えるフォ
ーマットクロック信号。 DUTからの出力信号を期待値パターンと比較するパ
ターン比較器の比較タイミングであるストローブ信号。
【0003】以上のタイミング信号を発生する場合、D
UTが出力するクロックなどの外部クロックと同期を図
って、タイミング信号を発生する場合がある。この場合
のタイミングジェネレータの従来例を以下に示す。従来
のタイミングジェネレータの概略的構成図を図4に示
す。図において、6は同期部で、外部クロックを入力
し、リタイミングクロックと位相を同期させる。7はパ
ルス幅調整部で、同期部6が出力するパルス信号を入力
し、パルス信号のパルス幅の調整を行い、テストレート
信号を出力する。8は遅延部で、リタイミングクロック
をクロックとし、パルス幅調整部7が出力するテストレ
ート信号を遅延する。9はプログラマブルディレイライ
ンで、遅延部8でリタイミングクロックの間隔で遅延さ
れたテストレート信号を任意に遅延部8の遅延時間の補
間を行うように遅延を行う。
【0004】図5は図4の装置の具体的構成を示した図
である。図において、60は同期部であるラッチで、D
UTが出力する外部クロックをリタイミングクロックで
保持する。パルス幅調整部7において、71はフリップ
フロップ(以下FFと略す)で、D端子がハイレベル電
位に接続されている。そして、出力にディレイライン7
2,73を接続し、ディレイライン72をリセットに接
続する。ディレイライン73の出力をテストレート信号
とする。80は遅延部であるカウンタで、テストレート
信号を、カウント開始時のカウント値の読込信号である
LOADとし、リタイミングクロックをクロックとす
る。そして、カウント動作を行い、カウント値が最大値
のとき、出力をハイレベルとする。91はディレイライ
ンで、パルス幅調整部7の出力を遅延させ、内部タイミ
ング信号とする。そして、プログラムディレイライン9
の出力は、フォーマットクロック信号あるいはストロー
ブ信号とする。
【0005】以上の装置の動作を以下で説明する。図6
は図5の装置の各信号のタイムチャートである。図にお
いて、(a)は外部クロック、(b)はリタイミングク
ロック、(c)はパルス幅調整部7からの出力であるテ
ストレート信号、(d)はカウンタ80のカウント値、
(e)はカウンタ80の出力であるカウンタ出力、
(f)はプログラムディレイライン9の出力で、フォー
マットクロック信号あるいはストローブ信号のタイミン
グ信号である。
【0006】A時点において、外部クロックは、リタイ
ミングクロックの立ち上がりにラッチ60に保持され
る。そして、パルス幅調整部7で調整されたテストレー
ト信号はハイレベルであり、リタイミングクロックが立
ち下がるとき、カウンタ80はカウント値FE(16進
数)をセットする。そして、次のリタイミングクロック
の立ち下がり時にカウントアップする。そして、カウン
ト値がFFとなり、カウンタ80はカウンタ出力をハイ
レベルとする。そして、その次のリタイミングクロック
の立ち下がりで、カウント値を0とする。このとき、カ
ウント出力はローレベルとなる。
【0007】B,C時点も、A時点と同様な動作を行
う。この結果、カウンタ出力を得る。このカウンタ出力
をプログラマブルディレイライン9を通すことにより、
次のリタイミングクロックで、カウンタ出力を得る設定
までの間の補間的な遅延を行い、外部クロックに対して
任意の位相差を持ったタイミング信号となる。
【0008】ここで、タイミング信号の周期AnsとB
nsは同じではない。この原因はリタイミングクロック
により外部クロックを保持するとき、外部クロックの立
ち上がりから保持するときの時間はA,B,C時点にお
いて、それぞれt1,t2,t3と同じでない。したが
って、周期ジッタを低減させる方法として、リタイミン
グクロックの周波数を上げることが考えられる。しか
し、リタイミングクロックの周波数が上がると、カウン
タの動作周波数が上がり、カウンタとその周辺回路を高
速動作させなければならない。そのため、カウンタのワ
ードとクロックのスキューをより正確に合わせなければ
ならないなどの対策が必要になり、回路が複雑になると
いう問題点があった。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、回路
の簡素化とともにタイミング信号の低ジッタ化を実現す
るタイミングジェネレータを実現することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、外部クロック
を受けてタイミング信号を出力するタイミングジェネレ
ータにおいて、前記外部クロックを入力し、周波数が外
部クロックに比べて十分大きいリタイミングクロックと
位相を同期させる同期部と、この同期部が出力するパル
ス信号を入力し、パルス信号のパルス幅の調整を行うパ
ルス幅調整部と、このパルス幅調整部が出力するテスト
レート信号により設定値の設定を行い、リタイミングク
ロックごとにシフトして、設定値を出力し、リタイミン
グクロックの分周を行うシフトレジスタからなる分周部
と、前記パルス幅調整部が出力するテストレート信号に
よりカウント値をロードし、カウント値に基づいて、前
記分周部の出力信号をクロックとして、カウントを行
い、テストレート信号を遅延したカウンタ出力を出力す
るカウンタと、を有することを特徴とするである。
【0011】
【作用】このような本発明では、シフトレジスタからな
る分周部がリタイミングクロックの周波数を分周するこ
とにより、カウンタの動作周波数を落とす
【0012】
【実施例】以下図面を用いて本発明を説明する。図1は
本発明の一実施例の概略的構成図である。図において、
1は同期部で、外部クロックを入力し、周波数が外部ク
ロックに比べて十分大きいリタイミングクロックと位相
を同期させる。2はパルス幅調整部で、同期部1が出力
するパルス信号を入力し、パルス信号のパルス幅の調整
を行う。3は分周部で、パルス幅調整部2が出力するテ
ストレート信号と同期を図り、リタイミングクロックを
分周する。4は遅延部で、分周部3の出力信号をクロッ
クとし、パルス幅調整部2が出力するテストレート信号
を遅延する。5はプログラマブルディレイラインで、遅
延部8で遅延されたテストレート信号を補間する形で任
意に遅延する。分周部3において、31はパルス幅調整
部2の出力信号と同期を図り、リタイミングクロックを
分周する分周器、32は分周器31が分周した信号を成
形する成形部である。
【0013】図2は図1の装置の具体的構成を示した図
である。図において、10,2,40,51は、それぞ
れラッチ60、パルス幅調整部7,カウンタ80、ディ
レイライン91に対応する。そして、21,22,23
はそれぞれFF71、ディレイライン72,73に対応
する。分周器31は、シフトレジスタ310により構成
されている。シフトレジスタ310の入力D4,D3,D
2,D1,D0にそれぞれL,H,H,L,Lと設定し、
出力Q4をシリアル入力(S−IN)に入力し、LOA
D入力にテストレート信号が入力される。
【0014】成形部32において、FF321,324
はシフトレジスタ310の出力Q4をクロックとする。
FF321がディレイライン323を介してFF324
に接続されている。そして、FF321,324はそれ
ぞれディレイライン322,325がリセットに接続さ
れている。ORゲート326はディレイライン323の
出力とFF324の出力のオアを取っている。ORゲー
ト326の出力をカウンタ40のクロックとしている。
【0015】このような装置の動作を以下で説明する。
図3は図2の装置の各信号のタイムチャートである。図
において、(a)は外部クロック、(b)はリタイミン
グクロック、(c)はラッチ10の出力であるリタイミ
ング出力、(d)はパルス幅調整部2からのカウンタ4
0への入力であるテストレートを決めるテストレート信
号である。そして、(e)はシフトレジスタ310の出
力であるシフトレジスタ出力、(f)は1次クロック
で、FF321とディレイライン322,323とによ
る出力である。(g)は2次クロックで、1次クロック
修正するための信号である。(h)は1次クロックと
2次クロックのOR出力であるカウンタクロックある。
(i)はカウンタ40のカウント値、(j)はカウンタ
40の出力であるカウンタ出力、(k)はプログラムデ
ィレイライン5の出力で、フォーマットクロック信号あ
るいはストローブ信号となるタイミング信号である。
【0016】A時点において、外部クロックは、リタイ
ミングクロックの立ち上がりにラッチ10に保持され
る。そして、ラッチ10から保持値であるリタイミング
出力が出力される。リタイミング出力をパルス幅調整部
2でパルス幅の調整を行い、テストレート信号を出力す
る。テストレート信号をシフトレジスタ310にLOA
Dとして入力する。シフトレジスタ310は、LOAD
時、設定(L,H,H,L,L)を取り込み、シフトレ
ジスタ310の出力Q4がS−INに接続されているの
で、5クロック入力ごとに出力Q4がハイレベルとな
る。つまり、シフトレジスタ310は、LOAD直後、
出力Q0〜Q4はそれぞれL,L,H,H,Lを出力す
る。このとき、S−INには、出力Q4のLが入力され
ている。そして、シフトレジスタ310にリタイミング
クロックが入力されると、出力Q0はS−INの入力で
あるLを出力し、出力Q1〜Q4は、出力Q0〜Q3の
出力値が1つずつ移動し、それぞれ、L,L,H,Hに
なる。さらに、リタイミングクロックが入力されると、
出力Q0〜Q4は、それぞれH,L,L,L,Hとな
る。このような動作を繰返し、出力Q4は、L→H→H
→L→L→L→H→H→L→L→Lというように信号を
出力する。
【0017】B,C時点においても、A時点と同様な動
作を行う。シフトレジスタ出力において、C時点のテス
トレート信号の立ち上がりにより、再びシフトレジスタ
310は設定値を読み込み、再シフトを行う。しかし、
C時点からの再シフト開始前に、B時点からの再シフト
によるクロックが不正クロックCLK1として残ってし
まう。この不正クロックCLK1は、パルス幅が狭いの
で、直接、カウンタ40に入力すると、カウンタ40
が、パルス幅の狭いものに対応できなければ、誤動作を
起こしてしまう。
【0018】そこで、成形部32で波形の成形を行い、
不正クロックCLK1と再シフトのクロックを合わせる
ことにより、不正クロックCLK1のパルス幅を広く
し、パルス幅が狭い不正クロックCLK1によるカウン
タ40の誤動作を防止する。
【0019】成形部32はシフトレジスタ出力をFF3
21とディレイライン322,323とによりパルス幅
を調整し1次クロックを出力する。そして、FF324
とディレイライン325により、1次クロックをウイン
ドウ波形、つまり、1次クロックがハイレベルの間に、
不正クロックCLK1の立ち上がりエッジが検出される
と、パルス幅を調整し、パルスを出力し、これを2次ク
ロックとする。OR326により、1次クロックと2次
クロックを合成して、カウンタクロックとする。
【0020】このように、不正クロックを、シフトレジ
スタ310が再シフトを開始することにより出力される
正規の最初のクロックである2次クロックと合成するこ
とにより、1つのパルス幅の長いクロックとして、不正
クロックをなくす。
【0021】次にカウンタ40の動作を説明する。テス
トレート信号のハイレベルで、カウンタ40のカウンタ
クロックが立ち下がるとき、カウンタ40はカウント値
FE(16進数)をセットする。そして、次のカウンタ
クロックの立ち下がり時にカウントアップする。カウン
ト値がFFとなり、カウンタ40はカウンタ出力をハイ
レベルとする。そして、その次のカウンタクロックの立
ち下がりで、カウント値を0とする。このとき、カウン
タ出力はローレベルとなる。以上の動作を繰り返すこと
により、カウンタ出力を得る。このカウンタ出力をプロ
グラマブルディレイライン5を通すことにより、次のカ
ウンタクロックでカウンタ出力を得る設定までの間を補
間する遅延を行う。そして、外部クロックに対して任意
の位相差を持ったタイミング信号となる。
【0022】以上のように、リタイミングクロックを高
周波にすることにより、t1,t2,t3が小さくな
り、低ジッタ化が図られるとともに、リタイミングクロ
ックを分周して、カウンタの動作周波数を落とすので、
カウンタや周辺回路を簡素にすることができる。
【0023】なお、本発明は外部クロックと同期する構
成とともに内部クロックを用いてテストレート信号とカ
ウンタクロックとを作りだし、タイミング信号を出力す
るタイミングジェネレータも含む。
【0024】
【発明の効果】本発明によれば、以下のような効果があ
る。請求項1によれば、高周波リタイミングクロックの
周波数を落とすシフトレジスタからなる分周部を設けた
ので、カウンタが低周波の回路で使用できる。そのた
め、回路の簡素化とともに高周波のリタイミングクロッ
クによるタイミング信号の低ジッタが行える。請求項
2,3によれば、シフトレジスタで分周された信号の
ルス幅の狭い不正信号をなくす成形部を設けたので、カ
ウンタの誤動作を防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の概略構成図である。
【図2】図1の装置の具体的構成を示した図である。
【図3】図2の装置の各信号のタイムチャートである。
【図4】従来のタイミングジェネレータの概略構成図で
ある。
【図5】図4の装置の具体的構成を示した図である。
【図6】図5の装置の各信号のタイムチャートである。
【符号の説明】
1 同期部 2 パルス幅調整部 3 分周部 4 遅延部 31 分周器 32 成形部

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部クロックを受けてタイミング信号を
    出力するタイミングジェネレータにおいて、 前記外部クロックを入力し、周波数が外部クロックに比
    べて十分大きいリタイミングクロックと位相を同期させ
    る同期部と、 この同期部が出力するパルス信号を入力し、パルス信号
    のパルス幅の調整を行うパルス幅調整部と、 このパルス幅調整部が出力するテストレート信号により
    設定値の設定を行い、リタイミングクロックごとにシフ
    トして、設定値を出力し、リタイミングクロックの分周
    を行うシフトレジスタからなる分周部と、前記パルス幅調整部が出力するテストレート信号により
    カウント値をロードし、カウント値に基づいて、前記分
    周部の出力信号をクロックとして、カウントを行い、テ
    ストレート信号を遅延したカウンタ出力を出力するカウ
    ンタ と、 を有することを特徴とするタイミングジェンレータ。
  2. 【請求項2】 分周部は、シフトレジスタが出力する出力信号を、カウンタが動作
    可能なパルス幅に調整する成形部を設けた ことを特徴と
    する請求項1記載のタイミングジェンレータ。
  3. 【請求項3】 成形部は、 シフトレジスタの出力をクロックとし、出力とリセット
    との間に第1のディレイラインが設けられ、D端子にハ
    イレベルが接続し、パルス幅の調整を行う第1のフリッ
    プフロップと、 この第1のフリップフロップの出力を入力し、遅延を行
    う第2のディレイラインと、 シフトレジスタの出力をクロックとし、出力とリセット
    との間に第3のディレイラインとが設けられ、前記第2
    のディレイラインの出力をD端子に接続し、第2のディ
    レイラインの出力がハイレベルの間に、クロックの立ち
    上がりエッジが検出されたら、パルス幅を調整し、パル
    スを出力する第2のフリップフロップと、 前記第2のディレイラインの出力と前記第2のフリップ
    フロップの出力とを入 力し、合成するORゲートとを設
    けたことを特徴とする請求項2記載のタイミングジェン
    レータ。
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