JP3109573B2 - 障害ｌｓｉ検出方式 - Google Patents
障害ｌｓｉ検出方式Info
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- JP3109573B2 JP3109573B2 JP08285479A JP28547996A JP3109573B2 JP 3109573 B2 JP3109573 B2 JP 3109573B2 JP 08285479 A JP08285479 A JP 08285479A JP 28547996 A JP28547996 A JP 28547996A JP 3109573 B2 JP3109573 B2 JP 3109573B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は障害ＬＳＩ検出方式
に関し、特に複数のＬＳＩを使用するシステムにおける
故障時の障害ＬＳＩ検出方式に関する。
に関し、特に複数のＬＳＩを使用するシステムにおける
故障時の障害ＬＳＩ検出方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、多数のＬＳＩが実装されてい
るシステムにおいては、障害が発生するとＬＳＩに内蔵
されているエラー検出機能が障害を検出し、当該ＬＳＩ
に障害が発生したことを示すＥＩＦ（エラーインジケー
トフラグ）を点灯させるように構成されている。この結
果、障害でシステムが停止した後に、スキャンパスによ
り各ＬＳＩのレジスタの内容を出力させると、障害を検
出したＬＳＩにおいてはＥＩＦが点灯したことを示す情
報がレジスタに保持されているので、これを確認するこ
とにより障害が発生したＬＳＩを特定することができ
る。
るシステムにおいては、障害が発生するとＬＳＩに内蔵
されているエラー検出機能が障害を検出し、当該ＬＳＩ
に障害が発生したことを示すＥＩＦ（エラーインジケー
トフラグ）を点灯させるように構成されている。この結
果、障害でシステムが停止した後に、スキャンパスによ
り各ＬＳＩのレジスタの内容を出力させると、障害を検
出したＬＳＩにおいてはＥＩＦが点灯したことを示す情
報がレジスタに保持されているので、これを確認するこ
とにより障害が発生したＬＳＩを特定することができ
る。
【０００３】しかしながら、一般的に障害が発生してか
らシステムが停止するまでにはかなりの時間が経過する
ため、障害が発生したＬＳＩから異常データが他のＬＳ
Ｉに送出される場合が少なからず存在する。障害ＬＳＩ
からの異常データを入力したＬＳＩは、自分のチェック
回路でデータが異常であることを認識してＥＩＦを点灯
させるので、システム停止後のスキャンパスデータでは
複数のＬＳＩにＥＩＦが点灯していることがある。この
ような場合、すべてのＬＳＩの入出力にチェック回路が
設けられていなければ、内部で発生したエラーか外部か
ら入力された異常データのために発生したエラーかを完
全に分離して解析することは不可能であり、通常の場合
には障害原因のＬＳＩを特定することは困難である。
らシステムが停止するまでにはかなりの時間が経過する
ため、障害が発生したＬＳＩから異常データが他のＬＳ
Ｉに送出される場合が少なからず存在する。障害ＬＳＩ
からの異常データを入力したＬＳＩは、自分のチェック
回路でデータが異常であることを認識してＥＩＦを点灯
させるので、システム停止後のスキャンパスデータでは
複数のＬＳＩにＥＩＦが点灯していることがある。この
ような場合、すべてのＬＳＩの入出力にチェック回路が
設けられていなければ、内部で発生したエラーか外部か
ら入力された異常データのために発生したエラーかを完
全に分離して解析することは不可能であり、通常の場合
には障害原因のＬＳＩを特定することは困難である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、複数
のＬＳＩが実装されているシステムの従来の障害ＬＳＩ
検出方式では、複数のＬＳＩのＥＩＦが点灯することが
あり、この場合に障害原因となったＬＳＩを特定するこ
とは一般に困難である。システムの構成やＬＳＩの特性
を熟知した専門家がＥＩＦの点灯状況を見て詳細に解析
すれば、障害原因となったＬＳＩを特定するこができる
場合もあるが、この場合でも判定にはかなりの時間がか
かる。詳細に解析しても特定できない場合もあり、一般
的な障害処理としてはＥＩＦの点灯したＬＳＩをすべて
交換することになる。
のＬＳＩが実装されているシステムの従来の障害ＬＳＩ
検出方式では、複数のＬＳＩのＥＩＦが点灯することが
あり、この場合に障害原因となったＬＳＩを特定するこ
とは一般に困難である。システムの構成やＬＳＩの特性
を熟知した専門家がＥＩＦの点灯状況を見て詳細に解析
すれば、障害原因となったＬＳＩを特定するこができる
場合もあるが、この場合でも判定にはかなりの時間がか
かる。詳細に解析しても特定できない場合もあり、一般
的な障害処理としてはＥＩＦの点灯したＬＳＩをすべて
交換することになる。
【０００５】又、規模の大きなＬＳＩにおいては、障害
原因の調査解析を容易とするため、ＬＳＩを複数に分割
したブロック又はサブユニットごとにエラー検出用のチ
ェック回路を備えており、当該ＬＳＩの障害を示すため
の代表ＥＩＦのみならず、ブロック又はサブユニット単
位の障害を表示する詳細ＥＩＦを点灯させるように構成
されたものがある。このようなＬＳＩにおいても、障害
時に複数の詳細ＥＩＦが点灯し、スキャンパスデータか
ら障害原因となったブロック又はサブユットを容易に特
定できないという同様な問題がある。
原因の調査解析を容易とするため、ＬＳＩを複数に分割
したブロック又はサブユニットごとにエラー検出用のチ
ェック回路を備えており、当該ＬＳＩの障害を示すため
の代表ＥＩＦのみならず、ブロック又はサブユニット単
位の障害を表示する詳細ＥＩＦを点灯させるように構成
されたものがある。このようなＬＳＩにおいても、障害
時に複数の詳細ＥＩＦが点灯し、スキャンパスデータか
ら障害原因となったブロック又はサブユットを容易に特
定できないという同様な問題がある。
【０００６】本発明の第１の目的は、複数のＬＳＩを実
装したシステムにおいて、スキャンパスデータに複数の
ＬＳＩのＥＩＦが点灯している場合でも、障害原因とな
ったＬＳＩを専門家でなくても容易に特定することが可
能な簡易な構成の障害ＬＳＩ検出方式を提供することで
ある。
装したシステムにおいて、スキャンパスデータに複数の
ＬＳＩのＥＩＦが点灯している場合でも、障害原因とな
ったＬＳＩを専門家でなくても容易に特定することが可
能な簡易な構成の障害ＬＳＩ検出方式を提供することで
ある。
【０００７】本発明の第２の目的は、一つのＬＳＩに詳
細ＥＩＦを点灯する複数のブロックが存在し、スキャン
パスデータに複数のブロックの詳細ＥＩＦが点灯してい
る場合に、障害原因となったブロックを容易に特定でき
る障害ＬＳＩ検出方式を提供することである。
細ＥＩＦを点灯する複数のブロックが存在し、スキャン
パスデータに複数のブロックの詳細ＥＩＦが点灯してい
る場合に、障害原因となったブロックを容易に特定でき
る障害ＬＳＩ検出方式を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】請求項１の障害ＬＳＩ検
出方式は、共通のクロック信号により動作する複数のＬ
ＳＩを含むシステムの障害ＬＳＩ検出方式において、前
記各ＬＳＩに、システム制御部からのリセット信号でリ
セットされスタート信号で前記クロックの計数を開始す
るタイマと、前記リセット信号でリセットされ障害によ
り当該ＬＳＩにエラーが発生したことを示す代表エラー
インジケートフラグが点灯したとき前記タイマのタイマ
値を記憶し保持する保持レジスタとを備え、前記システ
ム制御部には、前記リセット信号およびスタート信号を
それぞれ前記各ＬＳＩに対し同時に送信する同期制御手
段と、システム停止後に前記各保持レジスタのタイマ値
をスキャンパスにより読み出す読み出し手段とを備えて
構成されている。
出方式は、共通のクロック信号により動作する複数のＬ
ＳＩを含むシステムの障害ＬＳＩ検出方式において、前
記各ＬＳＩに、システム制御部からのリセット信号でリ
セットされスタート信号で前記クロックの計数を開始す
るタイマと、前記リセット信号でリセットされ障害によ
り当該ＬＳＩにエラーが発生したことを示す代表エラー
インジケートフラグが点灯したとき前記タイマのタイマ
値を記憶し保持する保持レジスタとを備え、前記システ
ム制御部には、前記リセット信号およびスタート信号を
それぞれ前記各ＬＳＩに対し同時に送信する同期制御手
段と、システム停止後に前記各保持レジスタのタイマ値
をスキャンパスにより読み出す読み出し手段とを備えて
構成されている。
【０００９】請求項２の障害ＬＳＩ検出方式は、請求項
１記載の障害ＬＳＩ検出方式において、前記各ＬＳＩ
に、代表エラーインジケートフラグの点灯時点のタイマ
値を保持する前記保持レジスタに加え、当該ＬＳＩ内の
各ブロックでエラーが発生したことを示す詳細エラーイ
ンジケートフラグが点灯したとき前記タイマのタイマ値
を記憶保持してスキャンパスにより出力できる詳細保持
レジスタを備えたことを特徴としている。
１記載の障害ＬＳＩ検出方式において、前記各ＬＳＩ
に、代表エラーインジケートフラグの点灯時点のタイマ
値を保持する前記保持レジスタに加え、当該ＬＳＩ内の
各ブロックでエラーが発生したことを示す詳細エラーイ
ンジケートフラグが点灯したとき前記タイマのタイマ値
を記憶保持してスキャンパスにより出力できる詳細保持
レジスタを備えたことを特徴としている。
【００１０】請求項３の障害ＬＳＩ検出方式は、請求項
２記載の障害ＬＳＩ検出方式において、前記各ＬＳＩに
設けられる前記詳細保持レジスタの数が当該ＬＳＩ内の
詳細エラーインジケートフラグを点灯するブロック数と
等しく設定されていることを特徴としている。
２記載の障害ＬＳＩ検出方式において、前記各ＬＳＩに
設けられる前記詳細保持レジスタの数が当該ＬＳＩ内の
詳細エラーインジケートフラグを点灯するブロック数と
等しく設定されていることを特徴としている。
【００１１】請求項４の障害ＬＳＩ検出方式は、請求項
２記載の障害ＬＳＩ検出方式において、前記各ＬＳＩに
設けられる前記詳細保持レジスタの数が当該ＬＳＩ内の
詳細エラーインジケートフラグを点灯するブロック数よ
りも少なく、前記各詳細保持レジスタと前記各ブロック
との接続を変更する選択手段を備えたことを特徴として
いる。
２記載の障害ＬＳＩ検出方式において、前記各ＬＳＩに
設けられる前記詳細保持レジスタの数が当該ＬＳＩ内の
詳細エラーインジケートフラグを点灯するブロック数よ
りも少なく、前記各詳細保持レジスタと前記各ブロック
との接続を変更する選択手段を備えたことを特徴として
いる。
【００１２】請求項５の障害ＬＳＩ検出方式は、請求項
４記載の障害ＬＳＩ検出方式において、前記選択手段
が、詳細エラーインジケートフラグが点灯した順番と、
複数の詳細保持レジスタのあらかじめ指定した順番とが
対応するように接続変更する機能を備え、前記各詳細保
持レジスタにはタイマ値の代わりに接続されたブロック
の識別情報を記憶保持するように構成したことを特徴と
している。
４記載の障害ＬＳＩ検出方式において、前記選択手段
が、詳細エラーインジケートフラグが点灯した順番と、
複数の詳細保持レジスタのあらかじめ指定した順番とが
対応するように接続変更する機能を備え、前記各詳細保
持レジスタにはタイマ値の代わりに接続されたブロック
の識別情報を記憶保持するように構成したことを特徴と
している。
【００１３】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
て図面を参照して説明する。
【００１４】図１は、本発明の第１の実施形態の構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【００１５】本実施形態の障害ＬＳＩ検出方式は、図１
に示すように、バス３０に接続され共通クロック信号で
動作するＬＳＩ１０ａ，１０ｂ……１０ｎに、リセット
信号Ｒでリセットされスタート信号Ｓでクロック信号の
計数を開始するタイマ１ａ，１ｂ……１ｎと、リセット
信号Ｒでリセットされフェッチ信号Ｆによりタイマ値を
記憶保持する保持レジスタ２ａ，２ｂ……２ｎとを備
え、システム制御部２０には、リセット信号Ｒ及びスタ
ート信号Ｓをそれぞれ各ＬＳＩに対し同時に送信する同
期制御手段２１と、システム停止後に各保持レジスタの
タイマ値をスキャンパスデータＤとして読み出すための
読み出し手段２２とを備えている。
に示すように、バス３０に接続され共通クロック信号で
動作するＬＳＩ１０ａ，１０ｂ……１０ｎに、リセット
信号Ｒでリセットされスタート信号Ｓでクロック信号の
計数を開始するタイマ１ａ，１ｂ……１ｎと、リセット
信号Ｒでリセットされフェッチ信号Ｆによりタイマ値を
記憶保持する保持レジスタ２ａ，２ｂ……２ｎとを備
え、システム制御部２０には、リセット信号Ｒ及びスタ
ート信号Ｓをそれぞれ各ＬＳＩに対し同時に送信する同
期制御手段２１と、システム停止後に各保持レジスタの
タイマ値をスキャンパスデータＤとして読み出すための
読み出し手段２２とを備えている。
【００１６】まず、システムが立ち上がるとき、システ
ム制御部（診断プロセッサ）２０はリセット信号Ｒを送
信し、各ＬＳＩのタイマ１ａ，１ｂ……１ｎ及び保持レ
ジスタ２ａ，２ｂ……２ｎを同時に０リセットする。シ
ステムが立ち上がり運用を開始すると、スタート信号Ｓ
を送信して各ＬＳＩのタイマ１ａ，１ｂ……１ｎを同期
してスタートさせる。運用を開始した後に、いずれかの
ＬＳＩに障害が発生すると、そのＬＳＩに設けられてい
るチェック回路が異常を検出して代表ＥＩＦを点灯させ
る。この点灯情報をフェッチ信号Ｆとして、障害が発生
したＬＳＩの保持レジスタ２ｉ（ｉはａ，ｂ……ｎ）は
タイマ１ｉのタイマ値を取り込み記憶する。システムの
停止後、読み出し手段２２の指示により各ＬＳＩの代表
ＥＩＦの情報と共に保持レジスタ２ａ，２ｂ……２ｎの
内容をスキャンパスデータＤとして読み出す。これによ
り、複数のＬＳＩにおいて同時に代表ＥＩＦが点灯して
いた場合でも、保持レジスタを参照することによりどの
ＬＳＩが最も先に点灯したかが簡単に判明する。最も先
に点灯したＬＳＩが障害原因のＬＳＩであり、後から点
灯したＬＳＩは外部からの異常データ入力による誘発点
灯であると考えられるので、障害原因のＬＳＩの特定が
短時間で簡単に行えることになる。
ム制御部（診断プロセッサ）２０はリセット信号Ｒを送
信し、各ＬＳＩのタイマ１ａ，１ｂ……１ｎ及び保持レ
ジスタ２ａ，２ｂ……２ｎを同時に０リセットする。シ
ステムが立ち上がり運用を開始すると、スタート信号Ｓ
を送信して各ＬＳＩのタイマ１ａ，１ｂ……１ｎを同期
してスタートさせる。運用を開始した後に、いずれかの
ＬＳＩに障害が発生すると、そのＬＳＩに設けられてい
るチェック回路が異常を検出して代表ＥＩＦを点灯させ
る。この点灯情報をフェッチ信号Ｆとして、障害が発生
したＬＳＩの保持レジスタ２ｉ（ｉはａ，ｂ……ｎ）は
タイマ１ｉのタイマ値を取り込み記憶する。システムの
停止後、読み出し手段２２の指示により各ＬＳＩの代表
ＥＩＦの情報と共に保持レジスタ２ａ，２ｂ……２ｎの
内容をスキャンパスデータＤとして読み出す。これによ
り、複数のＬＳＩにおいて同時に代表ＥＩＦが点灯して
いた場合でも、保持レジスタを参照することによりどの
ＬＳＩが最も先に点灯したかが簡単に判明する。最も先
に点灯したＬＳＩが障害原因のＬＳＩであり、後から点
灯したＬＳＩは外部からの異常データ入力による誘発点
灯であると考えられるので、障害原因のＬＳＩの特定が
短時間で簡単に行えることになる。
【００１７】なお、タイマ１ａ，１ｂ……１ｎは障害が
発生してからシステムが停止するまでの間に発生する複
数の事象の間の時間差を求めるためのものであり、計数
可能な上限値は障害発生からシステム停止までの必要時
間に対して余裕を持たせておけば、上限値に達すると０
に戻り循環計数してよく、保持レジスタと共に簡単なハ
ードウェアによりＬＳＩ内部に構成できる。
発生してからシステムが停止するまでの間に発生する複
数の事象の間の時間差を求めるためのものであり、計数
可能な上限値は障害発生からシステム停止までの必要時
間に対して余裕を持たせておけば、上限値に達すると０
に戻り循環計数してよく、保持レジスタと共に簡単なハ
ードウェアによりＬＳＩ内部に構成できる。
【００１８】図２は、本発明の第２の実施形態における
一つのＬＳＩ内部の障害検出に関連する部分の構成を示
したブロック図である。第２の実施形態は、ＬＳＩ内を
複数のサブユニット及びＩ／Ｏブロックに分割し、サブ
ユニット及びＩ／Ｏブロックごとにチェック回路を設け
て詳細ＥＩＦを点灯させるように構成されたＬＳＩに対
して本発明の技術思想を適用した一例であり、障害原因
のＬＳＩの特定のみならず、障害ＬＳＩ内部の原因ブロ
ック（以下、サブユニット又はブロックを総称して単に
ブロックという）の特定も行える。
一つのＬＳＩ内部の障害検出に関連する部分の構成を示
したブロック図である。第２の実施形態は、ＬＳＩ内を
複数のサブユニット及びＩ／Ｏブロックに分割し、サブ
ユニット及びＩ／Ｏブロックごとにチェック回路を設け
て詳細ＥＩＦを点灯させるように構成されたＬＳＩに対
して本発明の技術思想を適用した一例であり、障害原因
のＬＳＩの特定のみならず、障害ＬＳＩ内部の原因ブロ
ック（以下、サブユニット又はブロックを総称して単に
ブロックという）の特定も行える。
【００１９】この実施形態においては、図２に示すよう
に、各ＬＳＩには、図１の場合と同様な機能を持つタイ
マ１と保持レジスタ２に加え、各ブロックの詳細ＥＩＦ
の点灯時刻を保持するための詳細保持レジスタ３ａ……
３ｋと、各詳細保持レジスタと各ブロックとの接続を変
更するエラーフラグ信号選択回路４とが追加されてい
る。図２の右側に記載されている回路は、詳細ＥＩＦ及
び代表ＥＩＦを点灯させるための従来から用いられてい
る通常の回路である。
に、各ＬＳＩには、図１の場合と同様な機能を持つタイ
マ１と保持レジスタ２に加え、各ブロックの詳細ＥＩＦ
の点灯時刻を保持するための詳細保持レジスタ３ａ……
３ｋと、各詳細保持レジスタと各ブロックとの接続を変
更するエラーフラグ信号選択回路４とが追加されてい
る。図２の右側に記載されている回路は、詳細ＥＩＦ及
び代表ＥＩＦを点灯させるための従来から用いられてい
る通常の回路である。
【００２０】運用中に障害が発生すると、各ブロックの
チェック回路５ａ，５ｂ……５ｍにより検出され、詳細
ＥＩＦが点灯して詳細ＥＩＦ用フリップフロップ６ａ，
６ｂ……６ｍに保持される。詳細ＥＩＦに対してマスク
がかかっていなければ、いずれかの詳細ＥＩＦが有効と
なるとＯＲゲート８を介して代表ＥＩＦ用フリップフロ
ップ７にフラグが点灯し、マスクがされていない限り障
害通知信号としてシステム制御部へ報告される。又、代
表ＥＩＦ用フリップフロップ７の出力は保持レジスタ２
のフェッチ信号となり、代表ＥＩＦが点灯した時点のタ
イマ１のタイマ値を保持レジスタ２に格納する。
チェック回路５ａ，５ｂ……５ｍにより検出され、詳細
ＥＩＦが点灯して詳細ＥＩＦ用フリップフロップ６ａ，
６ｂ……６ｍに保持される。詳細ＥＩＦに対してマスク
がかかっていなければ、いずれかの詳細ＥＩＦが有効と
なるとＯＲゲート８を介して代表ＥＩＦ用フリップフロ
ップ７にフラグが点灯し、マスクがされていない限り障
害通知信号としてシステム制御部へ報告される。又、代
表ＥＩＦ用フリップフロップ７の出力は保持レジスタ２
のフェッチ信号となり、代表ＥＩＦが点灯した時点のタ
イマ１のタイマ値を保持レジスタ２に格納する。
【００２１】一方、詳細ＥＩＦ用フリップフロップ６
ａ，６ｂ……６ｍの出力はエラーフラグ信号選択回路４
に入力されており、詳細保持レジスタ３ａ……３ｋのフ
ェッチ信号となる。これにより、詳細保持レジスタ３ａ
……３ｋには、それぞれエラーフラグ信号選択回路４の
設定に従った詳細ＥＩＦの点灯時点のタイマ値が格納保
持される。詳細保持レジスタの数ｋが詳細ＥＩＦを点灯
するブロック数ｍよりも少ない場合、すべての詳細ＥＩ
Ｆの点灯タイミングを記録させることはできないが、ｋ
個の重点ブロックを決めてエラーフラグ信号選択回路４
をあらかじめ設定しておくことにより、同一ＬＳＩ内で
複数の詳細ＥＩＦが点灯したとき、障害原因ブロックの
特定に有効である。又、保持レジスタ２のタイマ値と詳
細ＥＩＦが点灯しているブロックの詳細保持レジスタ３
ｊ（ｊはａ〜ｋ）のタイマ値とを比較することにより、
障害原因ブロックか否かの判定に有効な情報を得ること
ができる。
ａ，６ｂ……６ｍの出力はエラーフラグ信号選択回路４
に入力されており、詳細保持レジスタ３ａ……３ｋのフ
ェッチ信号となる。これにより、詳細保持レジスタ３ａ
……３ｋには、それぞれエラーフラグ信号選択回路４の
設定に従った詳細ＥＩＦの点灯時点のタイマ値が格納保
持される。詳細保持レジスタの数ｋが詳細ＥＩＦを点灯
するブロック数ｍよりも少ない場合、すべての詳細ＥＩ
Ｆの点灯タイミングを記録させることはできないが、ｋ
個の重点ブロックを決めてエラーフラグ信号選択回路４
をあらかじめ設定しておくことにより、同一ＬＳＩ内で
複数の詳細ＥＩＦが点灯したとき、障害原因ブロックの
特定に有効である。又、保持レジスタ２のタイマ値と詳
細ＥＩＦが点灯しているブロックの詳細保持レジスタ３
ｊ（ｊはａ〜ｋ）のタイマ値とを比較することにより、
障害原因ブロックか否かの判定に有効な情報を得ること
ができる。
【００２２】システム制御部が障害通知信号を受け取り
システムを停止させた後、スキャンパスによりフラグを
保持する各フリップフロップと保持レジスタ２及び各詳
細保持レジスタの内容を読み出す。これにより、複数の
ＬＳＩの代表ＥＩＦが点灯した場合に、各ＬＳＩの保持
レジスタ２のタイマ値を相互に比較することによりどの
ＬＳＩが障害原因であるかを判定できると共に、一つの
ＬＳＩ内で複数の詳細ＥＩＦが点灯した場合に、詳細保
持レジスタ３ａ……３ｋのタイマ値を比較することによ
り、どのブロックが障害原因となったかの解析が容易と
なる。
システムを停止させた後、スキャンパスによりフラグを
保持する各フリップフロップと保持レジスタ２及び各詳
細保持レジスタの内容を読み出す。これにより、複数の
ＬＳＩの代表ＥＩＦが点灯した場合に、各ＬＳＩの保持
レジスタ２のタイマ値を相互に比較することによりどの
ＬＳＩが障害原因であるかを判定できると共に、一つの
ＬＳＩ内で複数の詳細ＥＩＦが点灯した場合に、詳細保
持レジスタ３ａ……３ｋのタイマ値を比較することによ
り、どのブロックが障害原因となったかの解析が容易と
なる。
【００２３】なお、図２は、詳細保持レジスタ数ｋがブ
ロック数ｍよりも少なく、エラーフラグ信号選択回路４
を設け両者の対応関係を変更可能とした例であるが、ブ
ロック数と同数の詳細保持レジスタを設けた場合には、
エラーフラグ信号選択回路４を設ける必要はなく、すべ
てのブロックについて確実な解析が可能となる。
ロック数ｍよりも少なく、エラーフラグ信号選択回路４
を設け両者の対応関係を変更可能とした例であるが、ブ
ロック数と同数の詳細保持レジスタを設けた場合には、
エラーフラグ信号選択回路４を設ける必要はなく、すべ
てのブロックについて確実な解析が可能となる。
【００２４】次に、図２と同様な構成で、詳細保持レジ
スタ数ｋがブロック数ｍよりも少ない場合でも、すべて
のブロックを調査対象にして障害原因の特定が行える第
３の実施形態について説明する。図３は、第３の実施形
態に使用するエラーフラグ信号選択回路の詳細を示した
ブロック図である。
スタ数ｋがブロック数ｍよりも少ない場合でも、すべて
のブロックを調査対象にして障害原因の特定が行える第
３の実施形態について説明する。図３は、第３の実施形
態に使用するエラーフラグ信号選択回路の詳細を示した
ブロック図である。
【００２５】図３に示すエラーフラグ信号選択回路は、
図示しない３個の詳細保持レジスタのフェッチ信号Ｆ
１，Ｆ２，Ｆ３を出力するセレクタ４１，４２，４３
と、セレクタ４１，４２，４３を制御するためのエンコ
ーダ・デコーダ４４とから構成されている。各セレクタ
の入力およびエンコーダ・デコーダ４４には、各ブロッ
クの詳細ＥＩＦ信号Ｅ１，Ｅ２……Ｅｍが入力されてい
る。
図示しない３個の詳細保持レジスタのフェッチ信号Ｆ
１，Ｆ２，Ｆ３を出力するセレクタ４１，４２，４３
と、セレクタ４１，４２，４３を制御するためのエンコ
ーダ・デコーダ４４とから構成されている。各セレクタ
の入力およびエンコーダ・デコーダ４４には、各ブロッ
クの詳細ＥＩＦ信号Ｅ１，Ｅ２……Ｅｍが入力されてい
る。
【００２６】このエラーフラグ信号選択回路は、最初に
点灯した詳細ＥＩＦの信号をセレクタ４１から、２番目
に点灯した詳細ＥＩＦの信号をセレクタ４２から、３番
目に点灯した詳細ＥＩＦの信号をセレクタ４３からそれ
ぞれ出力するように構成されている。このため、エンコ
ーダ・デコーダ４４は、入力の詳細ＥＩＦ信号Ｅ１，Ｅ
２……Ｅｍがすべて無効（０）のときセレクタ４１に対
して選択制御信号を出力する状態で待機しており、詳細
ＥＩＦ信号が入力されると、その詳細ＥＩＦ信号を出力
するような選択制御信号をセレクタ４１に出力する。そ
の後、セレクタ４２に対して選択制御信号を出力する状
態で待機する。この状態で２番目の詳細ＥＩＦ信号が入
力されると、変化のあった信号線に対応する選択制御信
号をセレクタ４２に出力した後、セレクタ４３に対して
選択制御信号を出力する状態で待機する。このようにし
て、先頭の詳細保持レジスタから順番に使用することが
できるので、少数の詳細保持レジスタで多数のブロック
に効率的に対応できる。
点灯した詳細ＥＩＦの信号をセレクタ４１から、２番目
に点灯した詳細ＥＩＦの信号をセレクタ４２から、３番
目に点灯した詳細ＥＩＦの信号をセレクタ４３からそれ
ぞれ出力するように構成されている。このため、エンコ
ーダ・デコーダ４４は、入力の詳細ＥＩＦ信号Ｅ１，Ｅ
２……Ｅｍがすべて無効（０）のときセレクタ４１に対
して選択制御信号を出力する状態で待機しており、詳細
ＥＩＦ信号が入力されると、その詳細ＥＩＦ信号を出力
するような選択制御信号をセレクタ４１に出力する。そ
の後、セレクタ４２に対して選択制御信号を出力する状
態で待機する。この状態で２番目の詳細ＥＩＦ信号が入
力されると、変化のあった信号線に対応する選択制御信
号をセレクタ４２に出力した後、セレクタ４３に対して
選択制御信号を出力する状態で待機する。このようにし
て、先頭の詳細保持レジスタから順番に使用することが
できるので、少数の詳細保持レジスタで多数のブロック
に効率的に対応できる。
【００２７】このような機能を有するエラーフラグ信号
選択回路を用いても、詳細保持レジスタにタイマ値を格
納しただけでは、詳細保持レジスタと格納されているタ
イマ値の時点に詳細ＥＩＦが点灯したブロックとの対応
が残らないので、有効な情報とならない。これを有効な
情報とするためには、タイマ値と同時にブロックの識別
情報を記憶させればよく、詳細保持レジスタと同数の別
のレジスタを設けて同じ順番に識別情報を記憶させ、ス
キャンパスに接続して出力させるようにすればよい。な
お、レジスタの数を増加させない方法として、点灯の順
番さえ分かればよいので、詳細保持レジスタにタイマ値
でなくブロックの識別情報を記憶保持させるようにして
もよい。ブロックの識別情報としては、例えば、エンコ
ーダ・デコーダ４４の入力の詳細ＥＩＦ信号Ｅ１，Ｅ２
……Ｅｍの情報をビット列として記憶させればよい。
選択回路を用いても、詳細保持レジスタにタイマ値を格
納しただけでは、詳細保持レジスタと格納されているタ
イマ値の時点に詳細ＥＩＦが点灯したブロックとの対応
が残らないので、有効な情報とならない。これを有効な
情報とするためには、タイマ値と同時にブロックの識別
情報を記憶させればよく、詳細保持レジスタと同数の別
のレジスタを設けて同じ順番に識別情報を記憶させ、ス
キャンパスに接続して出力させるようにすればよい。な
お、レジスタの数を増加させない方法として、点灯の順
番さえ分かればよいので、詳細保持レジスタにタイマ値
でなくブロックの識別情報を記憶保持させるようにして
もよい。ブロックの識別情報としては、例えば、エンコ
ーダ・デコーダ４４の入力の詳細ＥＩＦ信号Ｅ１，Ｅ２
……Ｅｍの情報をビット列として記憶させればよい。
【００２８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の障害ＬＳ
Ｉ検出方式によれば、各ＬＳＩに同期して動作するタイ
マと、障害発生時にタマ値を記憶保持する保持レジスタ
を設けたので、システム停止後のスキャンパスデータの
調査時に、複数のＬＳＩに障害フラグが点灯していて
も、保持レジスタのタイマ値を比較することにより、ど
のＬＳＩが先に点灯したかを容易に知ることができ、障
害原因のＬＳＩの探索を効率的に行える効果がある。
Ｉ検出方式によれば、各ＬＳＩに同期して動作するタイ
マと、障害発生時にタマ値を記憶保持する保持レジスタ
を設けたので、システム停止後のスキャンパスデータの
調査時に、複数のＬＳＩに障害フラグが点灯していて
も、保持レジスタのタイマ値を比較することにより、ど
のＬＳＩが先に点灯したかを容易に知ることができ、障
害原因のＬＳＩの探索を効率的に行える効果がある。
【００２９】なお、タイマは障害が発生してからシステ
ムが停止するまでの間に発生する複数のフラグ点灯の相
対的な時間差を知るためのものであり、保持レジスタと
共に簡単なハードウェアによりＬＳＩ内部に構成できる
ため、外部とのインタフェースも少なく、システム全体
として負担が少なく効率的な障害ＬＳＩの検出が可能と
なる。
ムが停止するまでの間に発生する複数のフラグ点灯の相
対的な時間差を知るためのものであり、保持レジスタと
共に簡単なハードウェアによりＬＳＩ内部に構成できる
ため、外部とのインタフェースも少なく、システム全体
として負担が少なく効率的な障害ＬＳＩの検出が可能と
なる。
【００３０】又、請求項２から請求項５まで各請求項の
発明によれば、上述したＬＳＩ単位での検出に加え、一
つのＬＳＩの内部でブロックごとにチェック回路を備え
ている場合に、複数のブロックの障害フラグが同時に点
灯していても、どのブロックの障害フラグが先に点灯し
たかの判断が容易に行えるため、障害状況の調査分析や
障害原因の究明が効率的となる効果がある。
発明によれば、上述したＬＳＩ単位での検出に加え、一
つのＬＳＩの内部でブロックごとにチェック回路を備え
ている場合に、複数のブロックの障害フラグが同時に点
灯していても、どのブロックの障害フラグが先に点灯し
たかの判断が容易に行えるため、障害状況の調査分析や
障害原因の究明が効率的となる効果がある。
【図１】本発明の第１の実施形態の構成を示すブロック
図である。
図である。
【図２】本発明の第２の実施形態におけるＬＳＩ内の障
害検出関連部分の構成を示すブロック図である。
害検出関連部分の構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の第３の実施形態におけるＬＳＩ内のエ
ラーフラグ選択回路の詳細を示すブロック図である。
ラーフラグ選択回路の詳細を示すブロック図である。
１，１ａ，１ｂ……１ｎ タイマ ２，２ａ，２ｂ……２ｎ 保持レジスタ ３ａ……３ｋ 詳細保持レジスタ ４ エラーフラグ信号選択回路 ５ａ，５ｂ……５ｍ チェック回路 ６ａ，６ｂ……６ｍ 詳細ＥＩＦ用フリップフロップ ７ 代表ＥＩＦ用フリップフロップ ８ ＯＲゲート ９ ＥＩＦマスク回路 １０ａ，１０ｂ……１０ｎ ＬＳＩ ２０ システム制御部 ２１ 同期制御手段 ２２ 読み出し手段 ３０ バス ４１，４２，４３ セレクタ ４４ エンコーダ・デコーダ Ｄ スキャンパスデータ Ｅ１，Ｅ２……Ｅｍ 詳細ＥＩＦ信号 Ｆ，Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３ フェッチ信号 Ｒ リセット信号 Ｓ スタート信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G06F 11/22 - 11/26 G01R 31/28 - 31/30
Claims (5)
- 【請求項１】 共通のクロック信号により動作する複数
のＬＳＩを含むシステムの障害ＬＳＩ検出方式におい
て、前記各ＬＳＩに、システム制御部からのリセット信
号でリセットされスタート信号で前記クロックの計数を
開始するタイマと、前記リセット信号でリセットされ障
害により当該ＬＳＩにエラーが発生したことを示す代表
エラーインジケートフラグが点灯したとき前記タイマの
タイマ値を記憶し保持する保持レジスタとを備え、前記
システム制御部には、前記リセット信号およびスタート
信号をそれぞれ前記各ＬＳＩに対し同時に送信する同期
制御手段と、システム停止後に前記各保持レジスタのタ
イマ値をスキャンパスにより読み出す読み出し手段とを
備えたことを特徴とする障害ＬＳＩ検出方式。 - 【請求項２】 前記各ＬＳＩに、代表エラーインジケー
トフラグの点灯時点のタイマ値を保持する前記保持レジ
スタに加え、当該ＬＳＩ内の各ブロックでエラーが発生
したことを示す詳細エラーインジケートフラグが点灯し
たとき前記タイマのタイマ値を記憶保持してスキャンパ
スにより出力できる詳細保持レジスタを備えたことを特
徴とする請求項１記載の障害ＬＳＩ検出方式。 - 【請求項３】 前記各ＬＳＩに設けられる前記詳細保持
レジスタの数が当該ＬＳＩ内の詳細エラーインジケート
フラグを点灯するブロック数と等しく設定されているこ
とを特徴とする請求項２記載の障害ＬＳＩ検出方式。 - 【請求項４】 前記各ＬＳＩに設けられる前記詳細保持
レジスタの数が当該ＬＳＩ内の詳細エラーインジケート
フラグを点灯するブロック数よりも少なく、前記各詳細
保持レジスタと前記各ブロックとの接続を変更する選択
手段を備えたことを特徴とする請求項２記載の障害ＬＳ
Ｉ検出方式。 - 【請求項５】 前記選択手段が、詳細エラーインジケー
トフラグが点灯した順番と、複数の詳細保持レジスタの
あらかじめ指定した順番とが対応するように接続変更す
る機能を備え、前記各詳細保持レジスタにはタイマ値の
代わりに接続されたブロックの識別情報を記憶保持する
ように構成したことを特徴とする請求項４記載の障害Ｌ
ＳＩ検出方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08285479A JP3109573B2 (ja) | 1996-10-28 | 1996-10-28 | 障害ｌｓｉ検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08285479A JP3109573B2 (ja) | 1996-10-28 | 1996-10-28 | 障害ｌｓｉ検出方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10133909A JPH10133909A (ja) | 1998-05-22 |
| JP3109573B2 true JP3109573B2 (ja) | 2000-11-20 |
Family
ID=17692059
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08285479A Expired - Fee Related JP3109573B2 (ja) | 1996-10-28 | 1996-10-28 | 障害ｌｓｉ検出方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3109573B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8407851B2 (en) | 2005-03-09 | 2013-04-02 | Bissell Homecare, Inc. | Vacuum cleaner with hair collection element |
| CN109002375A (zh) * | 2018-07-24 | 2018-12-14 | 广东浪潮大数据研究有限公司 | 一种应用于服务器的上电时序信号监测系统及方法 |
-
1996
- 1996-10-28 JP JP08285479A patent/JP3109573B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8407851B2 (en) | 2005-03-09 | 2013-04-02 | Bissell Homecare, Inc. | Vacuum cleaner with hair collection element |
| US9072417B2 (en) | 2005-03-09 | 2015-07-07 | Bissell Homecare, Inc. | Vacuum cleaner with hair collection element |
| US9713408B2 (en) | 2005-03-09 | 2017-07-25 | Bissell Homecare, Inc. | Vacuum cleaner with hair collection element |
| US10398271B2 (en) | 2005-03-09 | 2019-09-03 | Bissell Homecare, Inc. | Vacuum cleaner with hair collection element |
| CN109002375A (zh) * | 2018-07-24 | 2018-12-14 | 广东浪潮大数据研究有限公司 | 一种应用于服务器的上电时序信号监测系统及方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10133909A (ja) | 1998-05-22 |
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