JP3080760B2 - X線リソグラフィ装置 - Google Patents

X線リソグラフィ装置

Info

Publication number
JP3080760B2
JP3080760B2 JP04080025A JP8002592A JP3080760B2 JP 3080760 B2 JP3080760 B2 JP 3080760B2 JP 04080025 A JP04080025 A JP 04080025A JP 8002592 A JP8002592 A JP 8002592A JP 3080760 B2 JP3080760 B2 JP 3080760B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sor
toroidal
light
ray mirror
beam line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP04080025A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH05283319A (ja
Inventor
一幸 古瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP04080025A priority Critical patent/JP3080760B2/ja
Publication of JPH05283319A publication Critical patent/JPH05283319A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3080760B2 publication Critical patent/JP3080760B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70808Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、SOR(シンクロトロ
ン放射X線)光を用いてパターン転写をなすX線リソグ
ラフィ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】SOR(シンクロトロン放射X線)光
は、高速に近い速さをもった電子(一般には荷電粒子)
が円軌道のような加速度を受ける運動を行う際に放出す
る電磁波である。
【0003】このようなSOR光は、はじめ、原子核実
験用のシンクロトロンにおいて観測された。その後、電
子を数時間安定に周回させることができる電子蓄積リン
グが作られて、物性実験用の極端紫外線や軟X線領域の
光源として利用されている。そして、近時、X線リソグ
ラフィ装置の線源としても注目されるようになってい
る。
【0004】この種の露光装置では、高強度のSOR光
発生源としてのSORリングから取出したSOR光をミ
ラーで集光し、かつ反射してマスクされたウエハを露光
しなければならない。
【0005】上記ミラーは平面ミラーである場合と、X
−Y方向に湾曲するトロイダルX線ミラーの場合があ
る。上記平面ミラーにおいては、反射したSOR光が拡
大されるため、反射形状が歪むことがないが、強度には
限界がある。上記トロイダルX線ミラーにおいては、S
OR光の集光による強度増大の効果がある反面、SOR
光形状が湾曲することが知られている。
【0006】さらにまた、SORリングからマスク・ウ
エハまでの距離を10mとした場合において、取出され
たSOR光は格段に緩いものとなる。この場合、SOR
光は上下方向に5mm程度のスリット状にしかならないの
で、広い面積を露光するには、上記ミラーもしくは、マ
スクとウエハとを一体に揺動させるか、電子軌道の揺動
を利用してビームを振らなければならない。
【0007】普通、機構的に簡素ですむところから、上
記ミラー側を揺動駆動するのが一般的である。ただし、
平面ミラーを用いると、トロイダルX線ミラーのような
SOR光の集光による強度増大の効果がないので、スル
ープットが低くなり、高密度化した露光装置には不適で
ある。
【0008】このような理由から、トロイダルX線ミラ
ーを用いてSOR光を集光、反射し、強度増大の効果と
スループットの向上の効果を得るのが常識である。ただ
し、上述したように、このトロイダルX線ミラーの場合
は、SOR光形状が湾曲してしまうことと、ミラーを揺
動させると、入射角度の変化により、上記湾曲形状が順
次変化することが避けられない。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上記SORリングから
ビームラインに取出したSOR光を、トロイダルX線ミ
ラーで集光、反射すると、SOR光形状が湾曲したスリ
ット状になる。さらに、露光面積拡大のためミラーを一
様な速度で揺動させて露光を行うと、湾曲したスリット
状の形状が順次変化することによるSOR光の集光度に
差異が生じ、それによって露光面内でのSOR光強度が
不均一となり、露光ムラ現象が生じるという不具合があ
る。
【0010】本発明は、このような事情によりなされた
ものであり、その目的とするところは、SORリングよ
りビームラインに取出したSOR光を、トロイダルX線
ミラーで集光反射し、かつ露光面積拡大のため揺動した
際に、湾曲したSOR光の形状変化にともなう露光ムラ
を補正して、露光精度の向上化を図ったX線リソグラフ
ィ装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に第1の発明は、高強度のSOR(シンクロトロン放射
X線)光発生源としてのSORリングと、このSORリ
ングよりSOR光を取出す超高真空のビームラインと、
このビームライン中に設置されSOR光を集光反射し、
かつ露光面積拡大のため揺動するトロイダルX線ミラー
と、上記ビームライン終端部に配置され上記トロイダル
X線ミラーの揺動と同期して揺動しX線を取出してマス
クされたウエハを露光するBe(ベリリウム)窓と、こ
のBe窓と上記トロイダルX線ミラーの揺動速度を見積
もられたSOR光強度変化率の逆数、すなわち上記トロ
イダルX線ミラーの所定角度における上記SOR光の反
射率に対する変化率の逆数を乗じて同時に速度制御し露
光ムラを補正する制御手段とを具備したことを特徴とす
るX線リソグラフィ装置である。第2の発明は、高強度
のSOR(シンクロトロン放射X線)光発生源としての
SORリングと、このSORリングよりSOR光を取出
す超高真空のビームラインと、このビームライン中に設
置されSOR光を集光反射し、かつ露光面積拡大のため
揺動するトロイダルX線ミラーと、上記ビームライン終
端部に配置されX線を取出してマスクされたウエハを露
光するBe(ベリリウム)窓と、上記トロイダルX線ミ
ラーの揺動速度を見積もられたSOR光強度変化率の逆
数、すなわち上記トロイダルX線ミラーの所定角度にお
ける上記SOR光の反射率に対する変化率の逆数を乗じ
て制御し露光ムラを補正する制御手段とを具備したこと
を特徴とするX線リソグラフィ装置である。
【0012】第3の発明は、SOR光を発生するSOR
リングと、このSORリングから取り出されたSOR光
が通る真空部を形成可能なビームラインと、上記SOR
光を反射するこのビームライン中に揺動可能に設けられ
るトロイダルX線ミラーと、上記ビームラインに設けら
れる上記SOR光が透過可能なBe窓と、上記トロイダ
ルX線ミラーの所定角度における上記SOR光の反射率
に対する変化率の逆数を、揺動する上記トロイダルX線
ミラーの揺動速度に乗じた速度に対応させるように、上
記トロイダルX線ミラーを揺動制御する制御手段とを具
備したことを特徴とするX線リソグラフィ装置である。
第4の発明は、SOR光を発生するSORリングと、こ
のSORリングから取り出されたSOR光が通る真空部
を形成可能なビームラインと、上記SOR光を反射する
このビームライン中に揺動可能に設けられるトロイダル
X線ミラーと、上記ビームラインに設けられる上記SO
R光が透過可能なBe窓と、上記トロイダルX線ミラー
の所定角度での上記SOR光の反射率に対する被加工物
表面における変化率の逆数を揺動する上記トロイダルX
線ミラーの揺動速度に乗じた速度に対応させるように上
記トロイダルX線ミラーを揺動制御するミラー揺動制御
手段と、このミラー揺動制御手段の揺動によるSOR光
の反射の移動にあわせて前記Be窓を揺動駆動する窓駆
動手段とを具備したことを特徴とするX線リソグラフィ
装置である。
【0013】
【作用】第1の発明では、トロイダルX線ミラーで集光
反射し、かつ露光面積拡大のため、トロイダルX線ミラ
ーおよびBe窓を同時に揺動した際に、Be窓とトロイ
ダルX線ミラーの揺動速度を見積もられたSOR光強度
変化率の逆数を乗じて同時に速度制御する。第2の発明
では、トロイダルX線ミラーで集光反射し、かつ露光面
積拡大のため、トロイダルX線ミラーを揺動した際に、
この揺動速度を見積もられたSOR光強度変化率の逆数
を乗じて速度制御する。
【0014】第3の発明では、トロイダルX線ミラーで
集光反射し、かつ露光面積拡大のため、トロイダルX線
ミラーを揺動した際に、トロイダルX線ミラーの揺動速
度を、トロイダルX線ミラーの所定角度におけるSOR
光の反射率に対する変化率の逆数を乗じて揺動制御す
る。第4の発明では、トロイダルX線ミラーで集光反射
し、かつ露光面積拡大のため、トロイダルX線ミラーを
揺動した際に、トロイダルX線ミラーの揺動速度をトロ
イダルX線ミラーの所定角度でのSOR光の反射率に対
する被加工物表面における変化率の逆数を乗じて揺動制
御し、かつSOR光の反射光の移動にあわせてBe窓を
揺動駆動する。いずれの発明であっても、SOR光形状
変化にともなう露光ムラを補正することができる。
【0015】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面にもとづいて
説明する。図1に示すように、X線リソグラフィ装置が
構成される。
【0016】すなわち、図中1はSORリングであり、
高強度のSOR(シンクロトロン放射X線)光の光発生
源である。これは、図示しない加速器から入射される電
子を、偏向電磁石で軌跡を曲げながら真空パイプ内を周
回させ、電子の1周期に同期してここに備えられる加速
器で所定のエネルギに加速維持する。
【0017】さらに、電子ビームを収束させるための四
重極電磁石を経て、偏向電磁石で電子軌跡が曲げられる
部分から接線方向に、ビームライン2に沿ってSOR光
を取出すようになっている。
【0018】上記ビームライン2に取出されたSOR光
は、軌道面垂直方向には1mrad程度の広がりを持
ち、軌道面内ではちょうどカーブを曲る自動車のヘッド
ライトが掃くように、曲りの角に等しい頂角を持つ扇形
の範囲に広がる。実際に利用される光の軌道面内の広が
りは、放射光を取出すビームダクトの内径またはビーム
ダクト内のスリット幅で決定される。
【0019】上記ビームライン2は、SORリング1よ
りSOR光を取出すため超高真空に形成されていて、こ
の中途にトロイダルX線ミラー3が配置される。このミ
ラー3は、ビームライン2を導かれるSOR光を集光反
射する。さらには、図示しない揺動駆動源に機械的に連
結されていて、露光面積拡大のため揺動するようになっ
ている。
【0020】このトロイダルX線ミラー3のSOR光反
射側で、かつビームライン2の終端部には、Be(ベリ
リウム)窓4が配置される。これは、超高真空に形成さ
れるビームライン2に導かれるSOR光のX線を透過さ
せるものである。ここでは、上記トロイダルX線ミラー
3の揺動と同期して揺動するよう、図示しない駆動源に
機械的に連結される。上記Be窓4のX線取出側には、
所定のパターンを備えたマスク5およびレジストが塗布
されたウエハ6が配置される。
【0021】なお、上記トロイダルX線ミラー3の揺動
駆動源と、Be窓4の揺動駆動源とは、制御手段である
制御回路7と電気的に接続される。この制御回路7は、
各揺動駆動源の速度制御を同時になすものである。
【0022】すなわち、単に、X線取出し用のBe窓4
をトロイダルX線ミラー3と同期して揺動させてSOR
光を取出すと、Be窓4から取出した部分のロスおよび
集光度の違いにより、上下方向で露光のムラが生じる。
【0023】この原因となるBe窓4からはみ出したS
OR光のロスおよび集光度の変化については光線追跡計
算により求めることができるため、一様速度で揺動した
場合に上下方向に生じるSOR光強度変化率を見積れ
る。上記制御回路7は、トロイダルX線ミラー3および
Be窓4の揺動速度を、見積もられたSOR光の強度変
化率の逆数を乗じて、すなわちトロイダルX線ミラーの
所定角度でのSOR光の反射率に対する被加工物表面に
おける変化率の逆数を乗じて、同時に速度制御するよう
になっている。
【0024】しかして、SORリング1において、高強
度のSOR光が発生し、このSORリング1から超高真
空のビームライン2にSOR光を取出す。ビームライン
2に取出されたSOR光は、この途中に設置されるトロ
イダルX線ミラー3で集光され、かつ反射される。
【0025】ここで反射されるSOR光は垂直方向にわ
ずかな幅しかないので、露光面積を拡大するため揺動駆
動する。SOR光は揺動しながらビームライン2終端部
に配置されるBe窓4を透過し、マスク5およびウエハ
6に到達する。
【0026】上記Be窓4は、トロイダルX線ミラー3
の揺動と同期して揺動駆動されており、透過したX線に
よりマスク5に形成されるパターンを介してウエハ6が
露光される。
【0027】ここで図2に示すように、Be窓4は矩形
状をなし、トロイダルX線ミラー3で集光反射されて湾
曲したスリット形状のSOR光8の形状に対応する。す
なわち、SOR光8の透過に支障のない程度の矩形状面
積である。
【0028】上記トロイダルX線ミラー3と同期してB
e窓4は揺動する。たとえば、図示するように、ウエハ
6の上端部から下端部に亘って、透過するSOR光8と
Be窓4が同期して移動し、パターンを走査する。
【0029】上記Be窓4は単に下方へ移動するだけで
あるから形状の変化がない。しかるに、ここを透過する
SOR光8の形状は、ウエハの上端部対応位置ではBe
窓4一杯の大きさであるのに、走査移動とともに徐々に
その面積形状が縮小し、下端部対向位置ではウエハ露光
に支障のない図示程度に面積形状が縮小する。
【0030】SOR光8の水平方向の集光度を基準に考
えると、上端部対応位置ではSOR光8の面積形状が大
きいので、その分集光度が小さく、ウエハ6に対する露
光量も小さい。下端部対応位置では、SOR光8の面積
形状が小さくなり、その分水平方向の集光度が大きくな
り、ウエハ6に対する露光量は大きい。
【0031】再び図1に示すように、制御回路8はトロ
イダルX線ミラー3およびBe窓4の揺動駆動源に同時
に制御信号を発して、同時に速度制御をなす。すなわ
ち、これらの揺動速度を、見積もられたSOR光の強度
変化率の逆数を乗じて、トロイダルX線ミラーの所定角
度でのSOR光の反射率に対する被加工物表面における
変化率の逆数を乗じる制御である。それによって、トロ
イダルX線ミラー3の形状構造からくるBe窓4透過の
SOR光8は、ウエハ6に対して露光面内強度が均一化
し、露光ムラを補正することができる。この装置の特性
は、概念的には、図5(A),(B),(C)に示すよ
うになる。
【0032】すなわち、同図(A)に示すように、Be
窓4の垂直位置が低い位置から高い位置に変化するにし
たがって、ここを透過するX線に対する水平方向の集光
度が上昇傾向になる。
【0033】同図(B)に示すように、Be窓4の垂直
位置に対する、トロイダルX線ミラー3とBe窓4の揺
動速度は、従来のように一定(a)の場合と、上記実施
例のように補正する(b)の場合がある。ここでは、垂
直位置を上げていくにしたがって、揺動速度を遅める。
【0034】同図(c)に示すように、従来のように揺
動速度を一定(a)にしたままであると、露光量が垂直
方向の低い位置から高い位置になるにしたがって変化
し、その結果露光ムラを招く。これに対して上記実施例
のように揺動速度を制御することにより、垂直位置の変
化に係わらず露光量を一定に保持することができる。
【0035】なお、トロイダルX線ミラー3を用いたこ
とによるSOR光8の形状変化と、それにともなう露光
ムラの除去については、計算によることばかりでなく、
実際に、一様速度揺動などの露光実験を行って、その結
果より制御条件を求めても、同等ないしは、それ以上の
補正を行うことができる。
【0036】また、上記実施例においては、矩形状のB
e窓4にして、ここを透過するSOR光8の湾曲形状に
対応させたが、これに限定されるものではなく、図3に
示すように、最大形状のSOR光8に合せた湾曲形状の
Be窓4Aにしてもよい。なお、トロイダルX線ミラー
3と同期して揺動駆動し、かつ同時に速度制御すること
は、上記実施例と同様である。
【0037】さらにまた、図4に示すように、SOR光
8の走査範囲に亘って充分な形状面積のBe窓4Bを用
いてもよい。このときは、当然、Be窓4Bの揺動駆動
の必要がない。ただし、上記トロイダルX線ミラー3に
ついては制御回路7から制御信号を発して、所定の条件
で速度制御をなす揺動駆動の必要は変りがない。この
他、本発明の要旨を越えない範囲内で種々の変形実施が
可能である。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように第1の発明によれ
ば、SORリングよりビームラインにSOR光を取出
し、このビームライン中に露光面積拡大のため揺動する
トロイダルX線ミラーを設置し、上記ビームライン終端
部に上記トロイダルX線ミラーの揺動と同期して揺動す
るBe(ベリリウム)窓を配置し、このBe窓と上記ト
ロイダルX線ミラーの揺動速度を見積もられたSOR光
強度変化率の逆数を乗じて同時に速度制御する制御手段
を備えた。また、第2の発明によれば、SORリングよ
りビームラインにSOR光を取出し、ビームライン中に
露光面積拡大のため揺動するトロイダルX線ミラーを設
置し、上記ビームライン終端部にBe(ベリリウム)窓
を配置し、上記トロイダルX線ミラーの揺動速度を見積
もられたSOR光強度変化率の逆数を乗じて制御する制
御手段を備えた。
【0039】また、第3の発明によれば、SORリング
よりビームラインにSOR光を取出し、このビームライ
ン中に揺動するトロイダルX線ミラーを設置し、上記ビ
ームラインにSOR光が透過可能なBe窓を配置し、ト
ロイダルX線ミラーの揺動速度をSOR光の反射率に対
する変化率の逆数を乗じて揺動制御する制御手段を備え
た。また、第4の発明によれば、SORリングよりビー
ムラインにSOR光を取出し、このビームライン中に揺
動するトロイダルX線ミラーを設置し、上記ビームライ
ンにSOR光が透過可能なBe窓を配置し、トロイダル
X線ミラーの揺動速度を、トロイダルX線ミラーの所定
角度でのSOR光の反射率に対する被加工物表面におけ
る変化率の逆数を乗じて揺動制御するミラー揺動制御手
段を備え、SOR光の反射光の移動にあわせてBe窓を
揺動駆動する窓駆動手段を備えた。
【0040】いずれの発明においても、SORリングよ
りビームラインに取出したSOR光を、トロイダルX線
ミラーで集光反射し、かつ露光面積拡大のため揺動した
際に、SOR光形状変化にともなう露光ムラを補正し
て、露光精度の向上化を図れるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す、X線リソグラフィ装
置の概略構成図。
【図2】同実施例の、互いに揺動するトロイダルX線ミ
ラーとBe窓との視野範囲変化説明図。
【図3】他の実施例を示す、互いに揺動するトロイダル
X線ミラーとBe窓との視野範囲変化説明図。
【図4】さらに他の実施例を示す、トロイダルX線ミラ
ーのみ揺動する視野範囲変化説明図。
【図5】(A),(B),(C)は、X線リソグラフィ
装置の露光特性図。
【符号の説明】
1…SORリング、2…ビームライン、3…トロイダル
X線ミラー、5…マスク、6…ウエハ、4…Be(ベリ
リウム)窓、7…制御手段(制御回路)。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/027 G03F 7/20 503

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】高強度のSOR(シンクロトロン放射X
    線)光発生源としてのSORリングと、このSORリン
    グよりSOR光を取出す超高真空のビームラインと、こ
    のビームライン中に設置されSOR光を集光反射し、か
    つ露光面積拡大のため揺動するトロイダルX線ミラー
    と、上記ビームライン終端部に配置され上記トロイダル
    X線ミラーの揺動と同期して揺動しX線を取出してマス
    クされたウエハを露光するBe(ベリリウム)窓と、こ
    のBe窓と上記トロイダルX線ミラーの揺動速度を見積
    もられたSOR光強度変化率の逆数、すなわち上記トロ
    イダルX線ミラーの所定角度における上記SOR光の反
    射率に対する変化率の逆数を乗じて同時に速度制御し露
    光ムラを補正する制御手段とを具備したことを特徴とす
    るX線リソグラフィ装置。
  2. 【請求項2】高強度のSOR(シンクロトロン放射X
    線)光発生源としてのSORリングと、このSORリン
    グよりSOR光を取出す超高真空のビームラインと、こ
    のビームライン中に設置されSOR光を集光反射し、か
    つ露光面積拡大のため揺動するトロイダルX線ミラー
    と、上記ビームライン終端部に配置されX線を取出して
    マスクされたウエハを露光するBe(ベリリウム)窓
    と、上記トロイダルX線ミラーの揺動速度を見積もられ
    たSOR光強度変化率の逆数、すなわち上記トロイダル
    X線ミラーの所定角度における上記SOR光の反射率に
    対する変化率の逆数を乗じて制御し露光ムラを補正する
    制御手段とを具備したことを特徴とするX線リソグラフ
    ィ装置。
  3. 【請求項3】SOR光を発生するSORリングと、 このSORリングから取り出されたSOR光が通る真空
    部を形成可能なビームラインと、 上記SOR光を反射するこのビームライン中に揺動可能
    に設けられるトロイダルX線ミラーと、 上記ビームラインに設けられる上記SOR光が透過可能
    なBe窓と、 上記トロイダルX線ミラーの所定角度における上記SO
    R光の反射率に対する変化率の逆数を、揺動する上記ト
    ロイダルX線ミラーの揺動速度に乗じた速度に対応させ
    るように、上記トロイダルX線ミラーを揺動制御する制
    御手段と、を具備したことを特徴とするX線リソグラフ
    ィ装置。
  4. 【請求項4】SOR光を発生するSORリングと、 このSORリングから取り出されたSOR光が通る真空
    部を形成可能なビームラインと、 上記SOR光を反射するこのビームライン中に揺動可能
    に設けられるトロイダルX線ミラーと、 上記ビームラインに設けられる上記SOR光が透過可能
    なBe窓と、 上記トロイダルX線ミラーの所定角度での上記SOR光
    の反射率に対する被加工物表面における変化率の逆数
    を、揺動する上記トロイダルX線ミラーの揺動速度に乗
    じた速度に対応させるように、上記トロイダルX線ミラ
    ーを揺動制御するミラー揺動制御手段と、 このミラー揺動制御手段の揺動によるSOR光の反射の
    移動にあわせて前記Be窓を揺動駆動する窓駆動手段
    と、 を具備したことを特徴とするX線リソグラフィ装置。
JP04080025A 1992-04-01 1992-04-01 X線リソグラフィ装置 Expired - Fee Related JP3080760B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04080025A JP3080760B2 (ja) 1992-04-01 1992-04-01 X線リソグラフィ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04080025A JP3080760B2 (ja) 1992-04-01 1992-04-01 X線リソグラフィ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05283319A JPH05283319A (ja) 1993-10-29
JP3080760B2 true JP3080760B2 (ja) 2000-08-28

Family

ID=13706745

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP04080025A Expired - Fee Related JP3080760B2 (ja) 1992-04-01 1992-04-01 X線リソグラフィ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3080760B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH05283319A (ja) 1993-10-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20060132747A1 (en) Optical element for an illumination system
US4887282A (en) Method and apparatus for changing the imaging scale in X-ray lithograph
US4631743A (en) X-ray generating apparatus
Kaneko et al. High efficiency beamline for synchrotron radiation lithography
JP3080760B2 (ja) X線リソグラフィ装置
JP3255849B2 (ja) 露光装置
JPH0527080B2 (ja)
JPH09203799A (ja) 放射光ビームライン装置
JP2584490Y2 (ja) シンクロトロンにおけるsor光出射用窓装置
JP2868028B2 (ja) X線照射装置
Hirose et al. Performance of a compact beamline with high brightness for x-ray lithography
JP3733209B2 (ja) 露光装置
JPH0372172B2 (ja)
JP2003124099A (ja) パターン描画方法、マスクおよびマスク製造方法
JPH01244400A (ja) 露光装置
JP3330896B2 (ja) シンクロトロン放射光伝搬装置
JP3256773B2 (ja) X線縮小投影露光装置
JPH034200A (ja) 放射光露光装置
JP2731959B2 (ja) X線露光装置
JPH04344500A (ja) 放射光取り出し装置
JPH0445417A (ja) 光線反射鏡
JPH04239717A (ja) X線露光装置
JPH0821480B2 (ja) シンクロトロン放射光発生装置
JPH1138193A (ja) X線照明光学系とx線露光装置
JPH1126350A (ja) 露光装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees