JP3056574U - 導電パターン検査装置 - Google Patents

導電パターン検査装置

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JP3056574U
JP3056574U JP1997010447U JP1044797U JP3056574U JP 3056574 U JP3056574 U JP 3056574U JP 1997010447 U JP1997010447 U JP 1997010447U JP 1044797 U JP1044797 U JP 1044797U JP 3056574 U JP3056574 U JP 3056574U
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Japan
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conductor pattern
electrode
conductor
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detecting
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JP1997010447U
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English (en)
Inventor
典男 前角
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COPER ELECTRONICS CO., LTD.
Original Assignee
COPER ELECTRONICS CO., LTD.
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】 導電体パターンの断線や短絡などの不良検出法 【目的】 絶縁体に精密かつ複雑に形成された導電体の
断線や短絡などの不良を検査する方法に於いて、電気的
な手段により導電体パターンに直接に接触しないで、こ
れまでになく正確に、早く、容易に不良を検出できる方
法を提供する。 【構成】 導電体パターンの面に沿って近接しながら自
在に移動できる移動電極を設け、この近接する両者の間
に検査に効果的に変化させた電圧を印加できる可変電圧
発生器を設け、この導電体パターンと移動電極間に生じ
る電流の変化を検出できるよう変化電流検出器を設け
る。 そこで、検査に供する導電体パターン面に移動電
極を近接させながら移動させ、それに応じて検出される
変化電流値で導電体パターンの断線や短絡などの異常を
検出できる構成とする。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
主としてコンピューターやテレビなどで利用される表示器に於いて、絶縁体に 銅箔などを張りつけたり、印刷や蒸着で必要な形状に導電物を精密に形成した導 電体パターンを使用するが、この導電体のパターン間の短絡や断線などの不良を 検査する装置として利用する。
【0002】
【従来の技術】
従来、導電体パターンの短絡や断線などの検査は、人が拡大鏡で目視検査を行 ったり画像処理による方法などが用いられてきた。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
従来の方法では次のような欠点があった。 (イ)これまで、導電体パターンの良,不良の検査は人による目視検査や画像処 理によるのが一般的で、大量に生産される製品に対応するには、時間や費 用を要するなどの問題があった。 (ロ)また、従来導電体パターンに直接電気的に接触し電流を流して、その状態 でその機能を検査する方法も用いられることがあったが、導電体パターン を絶縁材で覆うことが多くなったことから、この方法が利用できなくなく なった。
【0004】
【課題を解決するための手段】
検査しようとする導電体パターンの端子部に一時的に通電できるよう、通電端 子を設ける。 また、パターン面に近接しながら面上を自在に平行移動できる移 動電極を設け、この移動電極と通電端子を通して導電体パターンとの間に検査に 効果的に変化させた電圧を印加できる可変電圧発生器と、この電流を検出する電 流検出器を設け、移動電極と通電端子との間に可変電圧を加えながら導電体パタ ーン面上を一定の間隔を保って移動できる構成にする。
【0005】
【作用】
本構成により、導電体パターンと移動電極の間に印加された可変電圧発生器の 電圧が、移動電極をパターン面に近接して移動させることによりパターンの形状 に応じて電流検出器に電流変化として現れる。 したがって、導電体パターンに断線や短絡などの不良があれば、この電流の変 化の状態で判別できる。
【0006】
【実施例】
以下、本案の実施例について説明する。 (イ)(図 1)によるように検査しようとする導電体パターンが例えば1のよ うな形状の場合、一本おきに検査のときだけに接触接続させる検査用の 通電端子2 および3 を設ける。 (ロ)(図 2)によるように、導電体パターン1 の面上を、移動電極4を常 に適切な間隔に保つ近接機構5 を設け、近接させながら自在に平行移動 させ、任意の位置で設定できるように〔X〕方向の機構6 と、〔Y〕方 向の機構7 のそれぞれに移動させる機構を設ける。 (ハ)(図 2)に示すように、移動電極4 を介して導電体パターン1 との 間に、変化電圧を印加するための可変電圧発生器10 を設ける。 (ニ)前記(ロ)、(ハ)により導電体パターン1 と移動電極4 の間に生じ る電流変化を検出する、変化電流検出器11 を設ける。 (ホ)電流検出器11 が検出した電流の値により導電体パターン1 の良,不 良を判定するための表示器付制御装置12 を設ける。 本案は、以上のような構造で、これを使用するときは通電端子を接続した導電体 パターン1 の面に移動電極4 を近接機構5 により近接させ、この両者の間 に可変電圧発生器10 で変化電圧を印加しながら、〔X〕 〔Y〕方向移動装 置6,7 で導電パターン面を平行移動させ、それぞれの位置に於ける電流値を 可変電流検出器11 と表示器付制御装置12 で算出して(図 3)に示す1 4 や15 のような電流の検出結果により、導電体パターン1 の良,不良を 判定する。 この場合、表示器付制御装置12 で処理した導電体パターン1 の情報や良 ,不良の判定結果を、他の、例えば良品と不良品を自動的に選別する自動選別装 置などの制御信号として容易に利用できる。
【0007】
【考案の効果】
精密、かつ複雑に作られた導電体パターンの良,不良の検査に於いて、無接触 で短時間に正確に判定できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の実施例で、通電端子を接触させた導電
体パターンとこの上面を近接しながら移動させる移動電
極との間に可変電圧を印加し、この電流を検出するため
の接続を示す図で、導電体パターンの検査の状態例をわ
かりやすく拡大して描いたものである。
【図2】本考案の実施例の全体を示した斜視図である。
【図3】本考案の装置で、可変電圧発生器から正弦波を
導電体パターンと移動電極との間に印加したときの電流
変化検出器の検出電流波形例で、この結果により導電体
パターンの良,不良を判定する。
【符号の説明】
1…導電体バターン 2…通電電極(a) 3…
通電電極(b) 4…移動電極 5…近接機構 6…〔X〕
方向移動機構 7…〔Y〕方向移動機構 8…端子部 9…ケ
ーブル 10…可変電圧発生器 11…変化電流検出器 1
2…表示制御器 13…導電体パターンが正常の変化電流例 14…導電体パターンが断線している場合の変化電流例 15…導電体パターンが短絡している場合の変化電流例
【手続補正書】
【提出日】平成10年2月23日
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項 1
【補正方法】変更
【補正内容】
【請求項 1】主としてガラスなどの絶縁体の表面に、
銅箔などの導電体で形成された導電体パターンの不良を
検出する方法に於いて、導電体パターンに近接させる電
極と、導電体パターンの不良部分を検出するのに効果的
な変化電圧を発生させる装置を設け、これによる発生変
化電圧を導電体パターンに近接した電極に印加して、こ
の間に流れる変化電流を測定解析して不良を検出し表示
させる、導電体パターンの不良検出機構。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項 2
【補正方法】変更
【補正内容】
【請求項 2】請求項 1に記載の、主としてガラスな
どの絶縁体の表面に、銅箔などの導電体パターンの不良
を検出する方法に於いて、導電体パターンに近接させる
電極に印加した変化電圧に流れる変化電流の検出による
不良検出を導電体パターンの全面について検出できるよ
うに、変化電圧を印加した電極を導電体パターンに近接
させながら、任意に、自在に位置できるようにした、導
電体パターンの不良検出機構。 ─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成10年7月31日
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項2
【補正方法】変更
【補正内容】
【請求項 2】請求項 1に記載の、導電体パターンの
不良検出機構に於いて、導電体パターンの不良を検出す
るための電極を導電体パターンの全ての面について不良
を検出できるように、電極を導電体パターンに近接させ
ながら自在に、任意に位置できるようにした、導電体パ
ターンの不良検出機構。

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 主としてガラスなどの絶縁体の表面に銅
    箔などの導電体で形成された導電体パターンの不良を検
    出する方法に於いて、導電体パターンに近接しながらパ
    ターン面上を自在に移動できる電極を設け、この間に電
    圧をかけ、その電流の変化で導電体パターンの不良を検
    出するように設けた、導電体パターンに電極を位置させ
    る機構。
  2. 【請求項2】 請求項1による不良箇所検出に効果的な
    変化電圧発生器とこれにより導電体パターンと近接する
    電極との間に流れる変化電流の検出器からなる、導電体
    パターンの不良検出機構。
JP1997010447U 1997-10-20 1997-10-20 導電パターン検査装置 Expired - Lifetime JP3056574U (ja)

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JP1997010447U JP3056574U (ja) 1997-10-20 1997-10-20 導電パターン検査装置

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ID=43190538

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