JP3024095B2 - サンドブラスト表面処理方法 - Google Patents
サンドブラスト表面処理方法Info
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Description
ラスト加工に関し、特に半導体等の製造装置チャンバー
内の部品から生ずるパーティクルの発生を少なくしたサ
ンドブラスチングによるサンドブラスト表面処理方法に
関するものである。
装置を稼働させると装置内のチャンバー内部品の表面に
成膜材が飛散して付着し、次第に堆積し、それが剥離し
て脱落し、装置のチャンバー内のパーティクル(塵の微
分子)の大きな原因となり、製造される半導体やLCD
に製品不良を引き起こす大きな原因となっている。成膜
材はチャンバー内の部品の表面に堆積し、温度変化等や
物理的な衝撃若しくは自己崩壊して剥離しパーティクル
となることが多い。製品の精度を担保し不良を回避する
為にも一定期間で製造装置の部品を交換する必要に迫ら
れている。使用済の装置部品は、新規の部品または再生
処理された部品と交換される。使用済の部品はリサイク
ルの為に再生される。再生に当たっては、成膜材の剥離
と再コーティング作業が必要とされる。再生処理に時間
を要すると、半導体等の製造装置の稼働率が悪くなる結
果となり、一方、装置の稼働率だけを考慮すると製品の
歩留が悪くなる結果となる。従って、長期の使用に耐え
る表面処理が要求されていると同時に、稼働中に剥離し
てパーティクル(塵の微分子)を生じない表面処理であ
りかつ、部品の短期での再生が可能な処理方法の実現が
要望されていた。
ー内にパーティクル(塵の微分子)を発生させる原因を
除去する方策としては、まず(イ)装置の稼働の初めに
空運転をしてチャンバー内の部品の表面に成膜材を付着
させてパーティクル(塵の微分子)を予め抑えること
(ロ)チャンバー内の部品を有機溶剤で払拭するか、純
水や超音波で精密洗浄して表面に付着するパーティクル
の原因を取り除く。(ハ)部品の表面を加工して粗くし
て表面積を大きくして密着性を増し、堆積した成膜材が
熱衝撃やその他の物理的衝撃によって剥離する可能性を
より少なくする方法、(ニ)部品の上に堆積した成膜材
が剥離し難いように加工を施した防着板(銅製)を部品
の上に溶接により溶着する方法や(ホ)成膜材との密着
性を増す方法として、図3aで示すように部品の表面に
表面積が大きくなる効果を出す物質(アルミナが多く使
用されている)を溶射する方法がある。
工した銅製の防着板(PG板)を部品の表面に溶接して
成膜材との密着性を増す方法である。図3bで示す防着
板(例えばジャパンエナジー社のパーティクル・ゲッタ
ーノ "PG板" 登録商標)は、表面の粗い、又は、ポー
ラス状に加工した銅製であり、部品の上に溶接する為、
表面を直接加工するサンドブラスト加工品より優れた結
着効果を生む。防着板(PG板)は銅製であるので、膨
張係数はアルミよりかなり低く、高融点物質とも馴染む
利点がある。しかしながら、防着板は高価な上に、スポ
ット溶接作業が必要であるのでコストがかかる上に、剥
離作業をして再生する際に部品を劣化させる欠点があっ
た。一方、溶射する方法では、アルミナ溶射が使用され
ているが、ポーラスである為、熱変化を吸収するので低
膨張である高融点物質にも耐える点では利点があるが、
これも再生利用する際、剥離作業により部品を劣化させ
る点があり、またコスト高でもある。そこで、リサイク
ル(再生)に当たって溶射部分の剥離や防着板の剥離に
よる部品の表面の損傷の少ない加工方法が待望されてい
た。
げるには、部品の表面積をより大きくする事が必要とな
る。一方部品の形状(外形の幅)は限定されているの
で、限定された幅(面積)の中で表面積だけを大きくす
る方法が必要となり、表面に凸凹を付ける方法が考えら
れている。しかしながら従来のサンドブラスト工法で表
面に凸凹処理を施した場合、部品に変形が発生する事
と、部品の材質としてアルミからSUS、SUSから
チタンというように硬いものが選択使用されるようにな
った為、粗さの大きさには限界があった。従って、より
密着性の高い溶射や特殊加工の銅製の防着板またはPG
板が高価ではあるが現実には多く使用されていた。
が大きくなる為に図2aのように変形することになるの
で、これを矯正する為に、従来は、裏面にもサンドブラ
スト加工を施して対処していた。これによれば変形はあ
る程度矯正されるが、図2bで示すように複雑な局面を
形成する結果となっていた。部品の厚さや材質にもよる
が、特別な場合(20m/m 程度の厚い部品にSiC#2
4程度の粗い研掃材を7kgの高圧で吹きつけた場合、ア
ルミで100μ、SUSで60μのRmaxが得られ
る)を除いてRmax 40μ程度の表面粗度が限度と
思われる。
US、チタン等が多く用いられている。各々硬度が違う
為、同条件(例えば、条件:6kg圧、SiC#100)
でサンドブラスト加工した場合、(a)アルミ(Al #10
0-6K) でRmax24.2μm、(b)SUS (SUS #1
00-6K)でRmax16.4μm、(c)チタン (Ti #10
0-6K) でRmax13.8μmのように計測結果に差異
が生じている。アルミの厚めの部品(20m/m 程度以
上)のものなら現行の方法でもRmax100μ程度の
表面粗度になり溶射や防着板(PG板)に匹敵するがS
US、チタンになると同様の条件で加工してもRmax
60μ前後の粗度であり、その密着性は高融点、高密度
で低熱膨張率の成膜材には対応できない。又、アルミの
場合、面粗度は溶射のそれと匹敵するが熱膨張率が高い
為、熱膨張率の低いCr,W,Mo,Ta等の成膜材に
は不向きである。
ンドブラスト加工より密着性が良く、単位当たりの表面
積を大きくする事ができる。図3aで示す通り溶射の場
合は、部品の上に溶射剤の粒を吹きつける為その粒度を
調整する事によりサンドブラスト加工より表面を粗くし
て表面積を大きくすることが出来る。防着板(PG板)
の場合は、図3bで示す通り部品の上に表面を粗くポー
ラス状にした銅製の板を溶接により接合するので密着性
を増すことができる。また、熱膨張率も比較的低く、高
融点、高密度、低膨張率の成膜材に適用されるが、いづ
れも欠点としては再生利用の際に部品を劣化させるおそ
れがあるとともに高価であった。
ブラスト表面加工方法であって、サンドブラスト加工だ
けで高融点、高密度、低膨張用の部品材質として多く用
いられるチタンやSUSの表面を粗く密着性をより大き
くすることの出来るサンドブラスト表面処理方法を提供
することにある。
ために、この発明に係るサンドブラスト表面処方法は、
半導体又はLCDの製造装置のチャンバー内部品の表面
加工処理方法で、装置チャンバー内のパーティクルの発
生源であるチャンバー内部品表面に付着した成膜材の剥
離脱落を抑える為に、ブラスト圧を低圧にして大流量の
空気流で、大粒度の固い研削材を用いて、対象部品表面
を噴射処理する構成である。本発明のサンドブラスト表
面処理方法はSUS製、チタン製、アルミ製またはモリ
ブデン製等の素材からなる部品の表面をRmax 75μ〜
Rmax 120μ程度の粗に形成するために、ブラスト圧
が低圧の1.5Kg〜0.5Kg程度であり、空気流が
高速、大流量であり、固い研削材がSiC(炭化ケイ
素)であり、研削材の粒度が#11前後程度に設定され
ている。また、本発明にかかる別の実施例であるサンド
ブラスト表面処理方法はSUS製やチタン製及びその他
の素材からなる部品の表面を、Rmax 40μ〜75μ程
度の粗に形成するために、ブラスト圧が低圧の1.5K
g〜0.5Kg程度であり、空気流が高速、大流量であ
り、固い研削材がSiC(炭化ケイ素)であり、該研削
材の粒度が#20程度に設定されている。
対象成膜材はMo、W、MoSi2、WSi2 、Ta、
Cr、等の熱膨張係数が低く、比較的高融点で高密度の
成膜材、又はアルミ等の熱膨張係数が高く比較的低融点
で低密度の成膜材の堆積を厚くできる構成である。ま
た、噴射処理は、低圧、大流量のエアーを噴射すること
により部品の表面の変形を抑えることと、表面の凸凹の
密度を従来よりもずっと高く密にして密着性を向上させ
たものである。さらに表面噴射処理の施された部品の表
面に食い込んで残存する炭化ケイ素や表面突起部の尖端
が欠損脱落して発生するパーティクルを除去するスクラ
ブを主にした強化精密洗浄を施すことも可能である。
は、上記詳述したような構成であるので、半導体または
LCDの製造装置のチャンバー内部品の表面を加工処理
する場合、通常より低い圧でサンドブラスチング加工を
施す。この際に、最終的に表面の粗度をRmax75μ
〜120μ程度にすることを目標とする場合には、ブラ
スト圧を低圧の1.5Kg〜0.5Kg程度に設定し、
空気流が高速、大流量で、SiC(炭化ケイ素)からな
る固い研削材で粒の径が大きい粒度#11程度の研削材
を使用して噴射コーティング加工を施した。その結果目
標となる程度の面粗度を得ることができた。また、サン
ドブラスト表面処理としては、通常品と比較して凸凹が
極めて密であるため密着効果を大幅に向上させることが
できた。また、硬い研削材であるがゆえに部品に食い込
み、装置稼働時に食い込んだ研削材が脱落する虞がある
こと、また部品表面の突起部の尖端が脱落してパーティ
クルとなること、等の問題を解決する為にスクラブを主
にした強化精密洗浄を施す。
方法を実施例に基づいて詳細に説明する。この発明にか
かるサンドブラスト表面処理10は、大粒度(粒子の径
が大きいもの)で材質が固い研削材を用いて、低圧のブ
ラスト圧で、大流量の空気流で対象部品の表面を処理し
ている。
表面処理が施される半導体製造装置のチャンバー内の部
品はアルミ製またはSUS製やチタン製やモリブデン製
等の素材からなるものであり、その表面の面粗度をRm
ax75μ〜120μ程度以上の粗に形成する。この為
に、本発明の処理方法では従来の装置と異なり、ブラス
ト圧を1.5Kg〜0.5Kg程度の低圧として、空気
流を高速、大流量に設定している。ただし、研削材とし
ては硬度の高い固い研削材を使用している。この実施例
では研削材としてSiC(炭化ケイ素)の粒度#11が
使用されている。粒径は比較的大きくかつ硬度の高い研
削材が使用されているのが特徴であり、従来の処理装置
との大きな違いである。また、対象となる成膜材は、M
o、W、MoSi2 、WSi2 、Ta、Cr、等の熱膨
張係数が低く、比較的高融点で高密度の成膜材を対象と
している。
くする技術 図2で説明した通り、サンドブラスト加工とグラインダ
ー加工とを比較すると、図4a,図4bで示した通り、
横方向のモーメントを小さくして下方向のモーメントを
大きくすることがポイントとなる。従って、ぶつけて表
面を粗くするよりは引っ掻いて粗くする方が部品の変形
が少なく抑えられる。そこで、サンドブラスト加工だけ
で「引っ掻き効果」を持たせるような加工方法の条件が
模索された。この発明の実施例ではブラスト圧を低圧と
して大流量の空気流で固い大きな粒度の研削材で行って
いる。図に示す実施例では、ブラスト圧を低圧の1.5
Kg〜0.5Kg位に設定しており、大流量の空気流を
通常以上に設定し、研削材としてSiCを使用し、粒度
の#11程度のものが選択された。これにより、SUS
製やチタン製やアルミ製またはモリブデン製等の素材か
らなるの部品の表面をRmax75μ〜120μ程度以
上の粗に形成することにより、溶射や特殊加工銅製防着
板(PG板)と並ぶ効果があり、低コストとなった。
る技術 部品表面に付着した成膜材が脱落すると、パーティクル
の原因になり、チャンバー内に悪影響を及ぼす。そこ
で、付着した成膜材を脱落させない方法が色々講じられ
てきた。部品と成膜材との接着面積が大きければ大きい
ほど密着性は増す。つまり部品正面に凸凹を付ければ単
位面積当たりの表面積は大きくなり密着性は向上する。
同じ振幅の深さであれば、図5の(a)と(b)の違い
のように凸凹の密度が大きい方が表面積が増し密着性も
向上する。硬い研削材に加えて、低圧、大流量のエア−
を使用する事により、部品表面に高密度の深い凸凹を造
ることが可能になった。
処理はAl(アルミニウム)、Mg(マグネシウム)、
MgF(フッ化マグネシウム)、ITO(インジウム・
ティン・オキサイド)等を対象成膜材としており、適合
する母材の材質としてはAl(アルミニウム)やSUS
304、SUS316等を対象としている。 サンドブラスト表面処理方法(2)特殊処理は前述のサ
ンドブラスト表面処理方法を長時間運転するか、若しく
は後述の強化特殊処理を施すもので、適合する母材の材
質としてはAl(アルミニウム)やチタン、SUS30
4、SUS316、SUS631等を対象としている。 サンドブラスト表面処理方法(3)強化特殊処理は、比
較的高融点である場合や、高密度の成膜材の場合、熱膨
張係数が低めの場合に使用され、Mo,W,MoS
i2 ,WSi2 ,Ta,Cr等を対象成膜材としてお
り、適合する母材の材質としてはチタンやSUS31
6、SUS631等を対象としている。
方法は、上記詳述したような構成であるので、以下のよ
うな効果を有する。 (1) サンドブラスチングと強化精密洗浄だけで、溶射や
スポット溶接の必要な銅製防着板(PG板)と同様に、
付着成膜材の剥離脱落を抑えることが出来る。また、部
品の磨耗や変形も少なく、損傷や劣化も抑えられるので
低コストで部品の使用耐用寿命を長くする効果が得られ
る。また工程数が少なくなるので、再生にかかる時間が
短縮され、納期が短縮される効果がある他に、付着成膜
材の剥離作業も簡単で予備パーツも少なくて済みかつ、
部品の母材の劣化を防ぐことができる利点がある。 (2) この設定では、SUS製やチタン製やアルミ製また
はモリブデン製等の素材からなるの部品の表面をRma
x75μ〜120μ程度の粗に形成しているので、予定
以上の耐用期間も実現出来るので、低コストでありなが
ら溶射や防着板(PG板)と遜色のない効果を奏するこ
とができた。 (3) サンドブラスト表面処理方法を施す対象成膜材は、
Mo、W、MoSi2 、WSi2 、Ta、Cr、等の熱
膨張係数が低く、比較的高融点で高密度の成膜材であ
り、従前の溶射や,防着板(PG板)を溶接した場合と
ローコストで遜色のない結果が得られた。 (4) サンドブラスト表面処理は、研削材に炭化ケイ素を
使用することと、低圧、大流量のエアーにより凸凹が密
になり密着性を向上させることが可能になった。 (5) 噴射処理に下方向のベクトルを大きくする効果があ
るので、変形を抑えることができる。 (6) さらに、強化精密洗浄する事により部品の表面に食
い込んで残存する炭化ケイ素や、突起部尖端が欠けて発
生するパーティクルを取り除く事が可能になるため、製
品の精度を上げることが出来る。
面図
示す断面図
ンダ加工した場合の比較断面図
度の差による表面積の差を示す断面図
Claims (5)
- 【請求項1】 半導体又はLCDの製造装置のチャンバ
ー内部品の表面加工処理方法であって、装置チャンバー
内のパーティクルの発生源であるチャンバー内部品表面
に付着した成膜材の剥離脱落を抑える為に、ブラスト圧
を低圧にして大流量の空気流で、大粒度の固い研削材を
用いて、対象部品表面を噴射処理することを特徴とする
サンドブラスト表面処理方法 - 【請求項2】 前記サンドブラスト表面処理方法はSU
S製、チタン製、アルミ製またはモリブデン製等の素材
からなる部品の表面を、Rmax 75μ〜Rmax 120μ
程度の粗に形成するために、ブラスト圧が低圧の1.5
Kg〜0.5Kg程度であり、空気流が高速、大流量で
あり、固い研削材がSiC(炭化ケイ素)であり、該研
削材の粒度が#11程度であることを特徴とする請求項
1記載のサンドブラスト表面処理方法 - 【請求項3】 前記サンドブラスト表面処理方法はSU
S製やチタン製及びその他の素材からなる部品の表面
を、Rmax 40μ〜75μ程度の粗に形成するために、
ブラスト圧が低圧の1.5Kg〜0.5Kg程度であ
り、空気流が高速、大流量であり、固い研削材がSiC
(炭化ケイ素)であり、該研削材の粒度が#20程度で
あることを特徴とする請求項1記載のサンドブラスト表
面処理方法 - 【請求項4】 前記サンドブラスト表面処理方法を施す
対象成膜材はMo、W、MoSi2 、WSi2 、Ta、
Cr、等の熱膨張係数が低く比較的高融点で高密度の成
膜材または、アルミ等の熱膨張係数が高く比較的低融点
で低密度の成膜材の堆積を厚くできることを特徴とする
請求項1記載のサンドブラスト表面処理方法 - 【請求項5】 前記表面の噴射処理は、低圧、大流量の
エアーを噴射することにより部品の表面の変形を抑える
ことと、表面の凸凹の密度を高くして密着性を向上させ
ることを特徴とする請求項1記載のサンドブラスト表面
処理方法
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP10089543A JP3024095B2 (ja) | 1997-05-13 | 1998-03-19 | サンドブラスト表面処理方法 |
Applications Claiming Priority (3)
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---|---|---|---|
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JP9-137433 | 1997-05-13 | ||
JP10089543A JP3024095B2 (ja) | 1997-05-13 | 1998-03-19 | サンドブラスト表面処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH1128666A JPH1128666A (ja) | 1999-02-02 |
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ID=26430960
Family Applications (1)
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JP10089543A Expired - Fee Related JP3024095B2 (ja) | 1997-05-13 | 1998-03-19 | サンドブラスト表面処理方法 |
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1998
- 1998-03-19 JP JP10089543A patent/JP3024095B2/ja not_active Expired - Fee Related
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