JP3022229B2 - プラスチックス材料からなる立体形状の容器に均一の膜厚の珪素酸化物被膜を形成する方法 - Google Patents
プラスチックス材料からなる立体形状の容器に均一の膜厚の珪素酸化物被膜を形成する方法Info
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Description
ラスチックス材料からなる容器にガス遮断性に優れた透
明な珪素化合物の薄膜を被覆する方法に関する。
の透過を防ぐ必要があり、従来種々の試みがなされてい
る。例えば、珪素酸化物やアルミニウム酸化物等の無機
の被覆層を設けたり、ポリ塩化ビニリデン等のガス遮断
性樹脂層を積層したり、アルミ箔の金属フイルムを積層
することが試みられて来た。この他特開平3−1837
59号公報にはプラスチックスフイルムにそのプラスチ
ックスと同じ合成樹脂を真空蒸着や、スパッタリングに
よって薄膜状で被覆して有機物層を形成し、その上に無
機物を蒸着して有機物と無機物の混合層を形成し、さら
にその上に無機物層を形成した積層フイルムが示されて
いる。このプラスチックスは、被覆層の無機物とは全く
異なる物質であって親和性が乏しいためプラスチックス
に同じ合成樹脂を薄膜状に被覆し、無機被覆の定着性を
良くするために中間に合成樹脂と無機物のブレンド層を
形成したものであるが、ブレンド層の表面は無機物のみ
の面ではなく合成樹脂の面も存在するので無機物層の定
着性は期待した程には向上しない。また、合成樹脂と無
機物を2工程で蒸着することはシート状物以外例えば成
形体には適用出来ない。さらに合成樹脂は蒸着すると分
子量が低下するのでこのプラスチックス材料からなる容
器は加工性が劣化する。本発明者は先に特開平5−34
5383号発明と特願平5−224903号発明を出願
した。これ等の発明は従来の包装材とは全く異なる画期
的な発明であり、従来の包装材の欠点は解決された。し
かしながら、立体的構造を有する容器については均一の
膜厚の被膜を形成することは出来るが、超精密な均一の
膜厚の被膜を形成することにはやや不充分な点があっ
た。そして特殊な用途、例えば特殊な薬品等の包装には
超精密な膜厚が要求される。
容器に、例えば膜厚の差が200Å以下の超精密な膜厚
の被膜を形成し、前述の膜厚不均一の問題を解決しガス
遮断性を著るしく向上するものである。
プラスチックス材料からなる立体形状の容器の被膜を形
成しない表面側に容器の被膜を形成する表面と電極表面
との距離が10mm以下でほぼ一定である容器被覆面と
ほぼ同一形状の対向表面を有する1ケの高周波電極を配
置し、被膜を形成する表面側に容器の表面と電極表面と
の距離が高周波電極と被膜を形成する容器表面との距離
より大きくほぼ一定であるアース電極を設置し、CVD
法により生成した珪素酸化物のプラズマを容器とアース
電極の間に導入して放電ガス圧0.0005〜0.05
torrで容器のアース電極と対向した表面に珪素酸化
物薄膜を均一の膜厚に付着させることを特徴とするプラ
スチックス材料からなる立体形状の容器にガス遮断性に
優れた珪素酸化物薄膜を被覆する方法。 2. 容器表面とアース電極の距離が11〜100mm
でほぼ一定である、1項に記載されたプラスチックス材
料からなる立体形状の容器にガス遮断性に優れた珪素酸
化物薄膜を被覆する方法。 3. アース電極が容器被覆面とほぼ同一形状の対向表
面を有する1ケの電極である、1項または2項に記載さ
れたプラスチックス材料からなる立体形状の容器にガス
遮断性に優れた珪素酸化物薄膜を被覆する方法。4 . プラスチックス材料からなる立体形状の容器の表
面に形成した珪素酸化物薄膜が屈折率1.4〜1.5で
膜厚が300〜2000Åである、1項ないし3項のい
ずれか1項に記載されたプラスチックス材料からなる立
体形状の容器にガス遮断性に優れた珪素酸化物薄膜を被
覆する方法。5 . 珪素酸化物薄膜の製膜温度よりT.g.が高いプ
ラスチックス材料からなる立体形状の容器の被膜を形成
しない表面側に容器の被覆を形成する表面と電極表面と
の距離が10mm以下でほぼ一定である容器被覆面とほ
ぼ同一形状の対向表面を有する1ケの高周波電極を配置
し、被膜を形成する表面側に容器の表面と電極表面との
距離が高周波電極と被膜を形成する容器表面との距離よ
り大きくほぼ一定であるアース電極を設置し、低温プラ
ズマ法により少くとも珪素、酸素、炭素からなる有機シ
リコン化合物をプラズマとなし、該プラズマを容器とア
ース電極の間に導入して放電ガス圧3×10−3〜3×
10−2torrで重合して容器内面に珪素化合物重合
体薄膜を形成し、ついでCVD法により生成した珪素酸
化物のプラズマを供給して放電ガス圧0.0005〜
0.05torrで珪素化合物薄膜上に珪素酸化物の被
膜を形成することを特徴とするプラスチックス材料から
なる立体形状の容器にガス遮断性に優れた珪素酸化物薄
膜を被覆する方法。6 . 珪素化合物被膜が、屈折率2.0〜2.3で膜厚
が0.005μm〜0.05μmあり、珪素酸化物被膜
が屈折率1.4〜1.5で膜厚が300〜2000Åで
ある、5項に記載されたプラスチックス材料からなる立
体形状の容器にガス遮断性に優れた珪素酸化物薄膜を被
覆する方法。」に関する。
体形状の容器の外部に容器を包囲した外部電極を配置
し、容器の外面と外部電極表面との距離がほぼ一定であ
り、また容器の内部には容器の内面と電極表面との距離
がほぼ一定である内部電極を配置したことである。更に
容器の内面に薄膜を被覆する場合は外部電極の表面と容
器内面との距離が10mm以下であり、また容器の外面
に薄膜を被覆する場合は内部電極の表面と容器外面との
距離が10mm以下であることが特徴である。電極と容
器表面の距離を一定に保つのは電界強度分布を一定とす
るためである。高周波電極は容器の被覆を設ける表面と
ほぼ同一形状の対向表面を有し被覆を設ける表面との距
離は10mm以下でなければならない。10mm以上と
なると急激に被膜のガス遮断性が低下する問題が生ずる
からである。またアース電極と容器の被覆表面との距離
は被覆を設ける面と高周波電極との距離より大きくなけ
ればならない。容器の被覆を設ける表面と高周波電極の
距離と、容器の被覆を設ける表面とアース電極の距離が
等しいと安定した放電が得られない。そして本発明の放
電条件では放電は電極と容器表面の距離の大きい方で放
電する。それ故本発明では容器表面とアース電極の距離
を大きくしてこの間で放電させて被膜を形成するのであ
る。アース電極と容器表面の距離は好ましくは11〜1
00mmであり、好ましくは11〜70mmである。
と一ケの高周波電極を使用することである。このような
両電極を併用することにより電界の強度分布は精密に一
定となり形成される被膜の厚さは均一となる。
素酸化物のプラズマを生成させて放電ガス圧が0.00
05torr以下では製膜速度が極端に低下し、実質製
膜できない状態であり、またガス圧が0.05torr
以上では被膜のガス遮断性が急激に低下する問題が生ず
る。
て珪素酸化物薄脹の製膜温度よりT.g.が高いプラス
チックス材料で形成した容器を使用することである。超
精密な薄膜を形成するためには製膜時には容器の変形を
避けなければならないからである。このような第1の特
徴〜第4の特徴が組合されて、珪素酸化物のプラズマは
電極表面と器壁の間に導入される。この間の電界強度分
布が一定であるのでプラズマ濃度が一定となり珪素酸化
物は均一な厚みで器壁上に析出し被覆される。こうして
一定の厚みの珪素酸化物被膜が形成されるのである。
ならず、電極を複数個使用することは避けなければなら
ない。複数個の電極を用いると、CVD法を用いても均
一な被膜を形成することができない。何故均一な被膜が
形成されないのか本発明者は種々研究した。例えば図3
に示すように複数の電極を容器の外面との距離が一定と
なるように配置し、CVD法により珪素酸化物を被覆し
たところ後の比較例で示すように被膜の厚さは一定にな
らなかった。さらに容器を一定の速度で回転させつつ被
覆を行った場合、膜厚は均一になるが、被覆された膜の
ガス遮断性は向上しなかった。本発明者は複数本の電極
を用いたため、夫々の電極の有する電界強度分布が互い
に干渉して影響し、プラズマの濃度が変化するため膜厚
が均一にならず、また容器を回転させた場合、異なる電
界強度により形成された膜の混合体であることからガス
遮断性に優れた膜が形成されないのであると考えてい
る。
流そして直流を用いたCVD法等が使用される。本発明
により形成される珪素酸化物被膜は屈折率が1.4〜
1.5で膜厚が300〜2000Åである。膜厚が30
0Å以下では連続膜が得られず、ガス遮断性が向上せ
ず、また2000Å以上被覆してもあまりガス遮断性の
向上がみられず、逆に膜が内部応力によって破壊する問
題が生ずる。本発明でCVD法で珪素酸化物プラズマを
形成するために使用する材料は、SiH4とNOxガス
や酸素ガスまたTEOS(テトラエトキシシラン)及び
HMDSO(ヘキサメチルジシロキサン)等有機珪素化
合物とNOxや酸素ガス又プラズマ補助ガスとしてHe
やArガスなども使用される。このようにして形成され
た珪素酸化物被膜は優れたガス遮断効果を奏し、通常の
用途には非常に優れた容器である。
内面側に配置するか外面側に配置するかを選択すること
によりどちらの面にも被覆することが出来る。またアー
ス電極の位置を変えて複数回行うことにより内外両面を
被覆することもできる。
される珪素化合物は、シランやビニルエトキシシラン、
フェニルトリメトキシシラン等の液状のモノマーであ
る。
度よりT.g.の高いプラスチックス材料からなる立体
形状の容器の被膜を形成しない側に、容器の被覆を設け
る表面と電極表面との距離が10mm以下でほぼ一定で
あり、被覆を設ける表面とほぼ同一形状の対向表面を有
する高周波電極を設置し、また容器の被膜を形成する側
には容器表面と電極表面の距離が高周波電極と容器表面
の距離より大きくほぼ一定であるアース電極を配置し
て、低温プラズマ法により少くとも珪素、酸素、炭素か
らなる有機シリコン化合物をプラズマとなし、該プラズ
マを容器表面とアース電極の間に供給し、ガス圧3×1
0−3〜3×10−2torrで重合して容器内面に珪
素化合物重合体薄膜を形成し、ついでCVD法により生
成した珪素酸化物のプラズマを供給して放電がガス圧
0.0005〜0.05torrで珪素化合物薄膜上に
珪素酸化物の被膜を形成することを特徴とするプラスチ
ックス材料からなる容器に均一の膜厚の珪素酸化物被膜
を形成する方法も包含する。この二層からなる被膜はガ
ス遮断性が優れるとともに水蒸気透過量が0.1g/m
2day以下の非常に高い水蒸気遮断効果を奏する。こ
の珪素化合物重合体被膜と珪素酸化物被膜を、アース電
極と高周波電極を配設して形成すると両被膜とも均一な
被膜が形成されるので、ガス遮断性が著しく向上する。
とこのような特別の効果が奏されるのかその学問的解明
は必ずしも充分ではないが、本発明は反復再現する作用
効果を奏する。本発明者は、珪素酸化物層のガス遮断効
果は、被覆基体上に供給される珪素酸化物微粒子の安定
定着性によるとことろが大きいと考える。即ち供給され
た粒子はプラスチックス基体上を移動し最も安定な場所
で安定化し定着する。この場合プラスチックス基体の上
に珪素、炭素、酸素を含む珪素化合物の重合体被膜が形
成されていると珪素酸化物微粒子は良好に安定化し定着
する。そしてその分布は均一となり、安定化した珪素酸
化物粒子の上にさらに珪素酸化物微粒子が積み重なって
珪素酸化物被覆が形成されるので緊密な被覆となるから
であると考えている。
層の珪素酸化物被膜が夫々特定の屈折率の範囲内にある
と0.1g/m2day以下の超水蒸気ガス遮断性を示
すことについてはより定着性の高い、欠陥の少い緊密な
被膜となるからであると考えている。
層中の珪素、炭素、酸素の組成において、珪素15%以
上、炭素20%以上そして残りが酸素を含有し、0.0
05μm〜0.05μmの薄い層である。被覆層の厚み
がこれより厚くなるとガス遮断性が悪くなる。
重合体被覆は例えば、ヘキサメチルジシロキサン等の有
機珪素化合物モノマーをプラズマ化し、プラスチックス
基体上で重合することによって形成することが出来る。
この重合時のガス圧を3×10−3から3×10−2t
orrに調節することによって形成される被膜の屈折率
を2.0〜2.3にすることが出来る。従来、他の用途
ではあるが知られているプラズマCVD法は放電ガス圧
が0.数torrから数+torrの範囲であるから本
発明で用いるプラズマCVD法が特殊であることがわか
る。
マーとしてはビニルトリエトキシシラン、ビニルトリメ
トキシシラン、テトラメトキシシラン、テトラエトキシ
シラン、フェニルトリメトキシシラン、オクタメチルシ
クロテトラシロキサン、メチルトリメトキシシラン、メ
チルトリエトキシシラン、1133−テトラメチルジシ
ロキサン、ヘキサンメチルジシロキサン等である。これ
等の化合物は珪秦酸化物被膜の形成にも使用される。
明する。
する高周波プラズマCVD装置である。この装置はシラ
ンや常温液体モノマーを気体状態で導入する導入口6及
び酸素ガス導入口7を備えた直径60cmのステンレス
製ベルジャー型真空チャンバー1と日本電子株式会社
製、高周波電源5、(13.56MHz、1.5KW、
JEH−01B)及びマッチングボックス4そして直径
13cmの円盤状高周波電極3、直径20cm、高さ
1.5cmの円筒状アース電極2、両電極間に設置した
試料用治具8等からなっている。この図1の装置は、有
機珪素化合物被覆とガス遮断層であるシリコン酸化物膜
の被覆の両方を行なうことが出来る。真空ポンプは油回
転ポンプと油拡散ポンプを使用し、前処理及び成膜中は
常にポンプを引き続け、前処理及び薄膜被覆試験を行な
った。常温液体モノマーとしてはヘキサメチルジシロキ
サン(以下HMDSOと記す)、反応ガスとしては、酸
素ガスを使用した。これらのガスはそれぞれ別ルートで
チャンバー内に導入され、アース電極内で混合されチャ
ンバー内に放出される。アース電極と高周波電極は平行
(距離70mm)に配置し、試料として100μのポリ
カーボネート(以下PCと記す)シートを絶縁性試料治
具によって、高周波電極とアース電極(高周波電極より
5mm)に設置した。油回転ポンプと油拡散ポンプによ
りチャンバー内真空度を2〜3×10−5torr(電
離真空計)まで真空に引き、チャンバー内真空度が1×
10−3torrになるまで酸素ガスを導入し、続いて
チャンバー内真空度が2×10−3torrになるまで
HMDSO蒸気を導入した。高周波電源より入射電力2
00Wをマッチングボックスを経由し、チャンバー内に
導入し、酸素とHMDSOの混合プラズマを発生させ、
10分間保持し、PC試料上に酸化珪素物膜を形成し
た。この積層体の水蒸気透過量をMocon社製水蒸気
透過量測定器で測定し、表1に示した。
周波基板上、3、7、9、23、そして40mmに設置
したこと以外は実施例1と同じ条件で、PC試料上に酸
化珪素物膜を形成し、水蒸気透過量を測定し、表1に実
施例1と共に示した。
下Tgと記す)が−15℃から105℃のプラスチック
シートを使用した以外は実施例1と同じ条件で、試料上
に酸化珪素物膜を形成し、水蒸気透過量を測定し、表2
に示した。光ファイバー式温度計により試料表面の温度
を測定した結果、この条件では45℃であった。
説明図である。図中の9はポリエチレンテレフタレート
(以下PET)製有底円筒形状容器である。10は内部
高周波電極であって、その外表面は有底円筒形状容器の
外面と同様な形状となっている。そして電極10の外表
面と容器外表面の距離は約5mmで一定となっている。
11は外部アース電極で、電極11の内面は有底円筒状
容器9の外面とほぼ同じ形状であって、両者の距離は約
12mmでほぼ一定である。アース電極11と高周波電
極10は絶縁体12を介して配置されており、アース電
極11の上部にはガス導入口13が又容器外面被覆用電
極の下部にはガス排気口14が設置されている。反応ガ
ス及びモノマーガスはガス導入口13より電極内に導入
され、プラズマ化され、有底円筒形状容器9の外面に沿
って流れ、ガス排気口14より電極外に排気される。こ
の電極では珪素酸化物被膜は有底円筒形状容器9の外表
面に形成される。有底円筒形状容器9を配置した容器外
面被覆用電極により、図1に示す装置を使用して、容器
外表面に珪素酸化物被膜を形成した。酸化珪素物被膜の
形成は、図1中の試料用治具8を取り外し、図2の容器
外面被覆用電極を図1中の高周波電極3アース電極2間
に配置し、円筒状アース電極2と容器外面被覆用電極の
アース電極11を接続し、又円盤状高周波電極3と容器
外面被覆用高周波電極10を接続した。油回転ポンプと
油拡散ポンプによりチャンバー内真空度を2〜3×10
−5torr(電離真空計)まで真空に引き、チャンバ
ー内真空度が1×10−3torrになるまで酸素ガス
を導入し、続いてチャンバー内真空度が2×10−3t
orrになるまでHMDSO蒸気を導入した。高周波電
源より入射電力200Wをマッチングボックスを経由
し、チャンバー内に導入し、酸素とHMDSOの混合プ
ラズマを発生させ、10分間保持し、有底円筒形状容器
の外面に酸化珪素物膜を形成した。有底円筒形状容器の
胴部の酸化珪素物膜厚分布と水蒸気透過量を測定し、表
3に示した。
の外側に円筒形状容器外面から等距離に4本の外部高周
波電極15を円筒中心より90度の等角度となる位置に
配置した以外は実施例4と同じ条件として被覆を行っ
た。その有底円筒形状容器9の胴部の酸化珪素物膜厚分
布と水蒸気透過量を測定し、実施例4と共に表3に示し
た。図4は図3の被覆装置を上方からみた説明図であっ
て、測定位置0D、45D、90Dが明示されている。
は比較例3と同じ条件として被覆を行った。その有底円
筒形状容器の胴部の酸化珪素物膜厚分布と水蒸気透過量
を測定し、実施例4、比較例3と共に表3に示した。
説明図である。図中の9は環状オレフィンコポリマー
(以下COC)製のカップ形状容器である。15は外部
高周波電極であって、その内表面はカップ形状容器の内
面と同様な形状となっている。そして電極15の内表面
と容器内表面の距離は約5mmで一定となっている。1
6は内部アース電極で、電極16の外面はカップ形状容
器9の内面とほぼ同じ形状であって、両者の距離は約2
0mmでほぼ一定である。アース電極16と高周波電極
15は絶縁体12を介して配置されており、アース電極
16の下部にはガス導入口13が又アース電極の上部に
はガス排気口14が設置されている。反応ガス及びモノ
マーガスはガス導入口13より電極内に導入され、プラ
ズマ化され、カップ形状容器1の内面に沿って流れ、ガ
ス排気口14より電極外に排気される。この電極では珪
素酸化物被膜はカップ形状容器9の内表面に形成され
る。カップ形状電極を配置した容器内面被覆用電極によ
り、図1に示す装置を使用して、容器内表面に珪素酸化
物被膜を形成した。酸化珪素物被膜の形成は、図中の試
料用治具8を取り外し、図5の容器内面被覆用電極を図
1中の高周波電極3とアース電極2間に配置し、円筒状
アース電極2と容器内面被覆用電極のアース電極16を
接続し、又円盤状高周波電極3と容器内面被覆用高周波
電極15を接続し、SiH4ガスをモノマー導入口から
導入し、酸素を酸素ガス導入口から導入して、これらの
混合ガスプラズマを形成し、放電圧力を3×10−3t
orrでカップ剛状容器の内面に酸化珪素膜を析出させ
て行った。酸化珪素膜を被覆したカップ上容器の水蒸気
透過量を測定した結果、0.02g/m2day(40
℃90%RH)であった。
円筒形状容器を使用し、容器外面被覆用電極により、図
2に示す装置を使用して、容器外表面にHMDSO重合
体被膜と珪素酸化物被膜を形成した。被膜方法は有底円
筒形状容器と以下に記す条件以外は実施例4と同じ条件
として被覆を行った。油回転ポンプと油拡散ポンプによ
りチャンバー内真空度を2〜3×10−5torr(電
離真空計)まで真空に引き、チャンバー内真空度が3×
10−3torr〜10×10−3torrになるまで
HMDSO蒸気を導入した。高周波電源より入射電力4
00Wをチャンバーに導入し、HMDSOのプラズマを
発生させ、1分間保持し、有底円筒形状容器の外面にH
MDSO重合体被膜を形成した。続いて油回転ポンプと
油拡散ポンプによりチャンバー内真空度を2〜3×10
−5torrまで真空に引き、実施例5と同様にして、
HMDSO重合膜の上に珪素酸化物の被膜を形成した。
これら被膜を被覆した有底円筒形状容器の膜の屈折率、
膜厚をエリプソメーターで、そして重量法により、水蒸
気透過量を測定し、表4に示した。
−3torr、 膜厚の単位;オングストローム、 水蒸気透過量の単位;g/m2day、at 40℃9
0%RH、
×10−3torrそしてHMDSO膜の被覆時間が
0.2及び5分であること以外は実施例6に同じ有底円
筒形状PEN容器の外面に被覆したHMDSO膜の屈折
率及び膜厚をエリプソメーターで測定し、又HMDSO
膜と珪素酸化積層膜の水蒸気透過量を重量法で測定し、
表5にした。
−3torr、 HMDSO膜の膜厚;オングストローム、 二層膜の水蒸気透過量の単位;g/m2day、at
40℃90%RH、
円筒形状容器を使用し、容器外面被覆用電極により、図
2に示す装置を使用して、容器外表面にHMDSO重合
体被膜と珪素酸化物被膜を形成した。被膜方法は有底円
筒形状容器と以下に記す条件以外は実施例4と同じ条件
として被覆を行った。油回転ポンプと油拡散ポンプによ
りチャンバー内真空度を2〜3×10−5torr(電
離真空計)まで真空に引き、チャンバー内真空度が4×
10−3torrになるまでHMDSO蒸気を導入し
た。高周波電源より入射電力400Wをチャンバー内に
導入し、HMDSOのプラズマを発生させ、1分間保持
し、有底円筒形状容器の外面にHMDSO重合体被膜を
形成した。続いて油回転ポンプと油拡散ポンプによりチ
ャンバー内真空度を2〜3×10−5torrまで真空
に引き、HMDSO蒸気と酸素の濃度比(電離真空計に
よるチャンバー内真空度の比率;HMDSO/酸素)を
0.5〜2.5の範囲で、かつ酸化珪素膜の被覆時間を
5〜20分以外は実施例5と同様にして、HMDSO重
合膜の上に珪素酸化物の被膜を形成した。これら被膜を
被覆した有底円筒形状容器の膜の屈折率、膜厚をエリプ
ソメーターで、そして重量法により、水蒸気透過量を測
定し、表6に示した。
分、 酸化珪素膜の膜厚の単位;オングストローム、 二層膜の水蒸気透過量の単位;g/m2day、at
40℃90%RH、
ンバー内真空度の比率;HMDSO/酸素)を0.5と
5で、かつ酸化珪素膜の被覆時間を2分及び25分以外
は実施例7と同様にして、HMDSO重合膜の上に珪素
酸化物の被膜を形成した。これら被膜を被覆した有底円
筒形状容器の膜の屈折率、膜厚をエリプソメーターで、
そして重量法により、水蒸気透過量を測定し、表7に示
した。
ストローム、 二層膜の水蒸気透過量の単位;9/m2day、at
40℃90%RH、
に均一の膜厚で一定範囲の屈折率の珪素酸化物薄膜を形
成するので、ガスバリヤ性の優れた容器を提供すること
が出来る。
説明図である。
ある。
である。
Claims (6)
- 【請求項1】 珪素酸化物薄膜の製膜温度よりT.g.
が高いプラスチックス材料からなる立体形状の容器の被
膜を形成しない表面側に容器の被膜を形成する表面と電
極表面との距離が10mm以下でほぼ一定である容器被
覆面とほぼ同一形状の対向表面を有する1ケの高周波電
極を配置し、被膜を形成する表面側に容器の表面と電極
表面との距離が高周波電極と被膜を形成する容器表面と
の距離より大きくほぼ一定であるアース電極を設置し、
CVD法により生成した珪素酸化物のプラズマを容器と
アース電極の間に導入して放電ガス圧0.0005〜
0.05torrで容器のアース電極と対向した表面に
珪素酸化物薄膜を均一の膜厚に付着させることを特徴と
するプラスチックス材料からなる立体形状の容器にガス
遮断性に優れた珪素酸化物薄膜を被覆する方法。 - 【請求項2】 容器表面とアース電極の距離が11〜1
00mmでほぼ一定である、請求項1に記載されたプラ
スチックス材料からなる立体形状の容器にガス遮断性に
優れた珪素酸化物薄膜を被覆する方法。 - 【請求項3】 アース電極が容器被覆面とほぼ同一形状
の対向表面を有する1ケの電極である、請求項1または
2に記載されたプラスチックス材料からなる立体形状の
容器にガス遮断性に優れた珪素酸化物薄膜を被覆する方
法。 - 【請求項4】 プラスチックス材料からなる立体形状の
容器の表面に形成した珪素酸化物薄膜が屈折率1.4〜
1.5で膜厚が300〜2000Åである、請求項1な
いし3のいずれか1項に記載されたプラスチックス材料
からなる立体形状の容器にガス遮断性に優れた珪素酸化
物薄膜を被覆する方法。 - 【請求項5】 珪素酸化物薄膜の製膜温度よりT.g.
が高いプラスチックス材料からなる立体形状の容器の被
膜を形成しない表面側に容器の被覆を形成する表面と電
極表面との距離が10mm以下でほぼ一定である容器被
覆面とほぼ同一形状の対向表面を有する1ケの高周波電
極を配置し、被膜を形成する表面側に容器の表面と電極
表面との距離が高周波電極と被膜を形成する容器表面と
の距離より大きくほぼ一定であるアース電極を設置し、
低温プラズマ法により少くとも珪素、酸素、炭素からな
る有機シリコン化合物をプラズマとなし、該プラズマを
容器とアース電極の間に導入して放電ガス圧3×10
−3〜3×10−2torrで重合して容器内面に珪素
化合物重合体薄膜を形成し、ついでCVD法により生成
した珪素酸化物のプラズマを供給して放電ガス圧0.0
005〜0.05torrで珪素化合物薄膜上に珪素酸
化物の被膜を形成することを特徴とするプラスチックス
材料からなる立体形状の容器にガス遮断性に優れた珪素
酸化物薄膜を被覆する方法。 - 【請求項6】 珪素化合物被膜が、屈折率2.0〜2.
3で膜厚が0.005μm〜0.05μmあり、珪素酸
化物被膜が屈折率1.4〜1.5で膜厚が300〜20
00Åである、請求項5に記載されたプラスチックス材
料からなる立体形状の容器にガス遮断性に優れた珪素酸
化物薄膜を被覆する方法。
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