JP3010843B2 - 導電性樹脂ペースト組成物およびこの組成物を用いた半導体装置 - Google Patents

導電性樹脂ペースト組成物およびこの組成物を用いた半導体装置

Info

Publication number
JP3010843B2
JP3010843B2 JP28134291A JP28134291A JP3010843B2 JP 3010843 B2 JP3010843 B2 JP 3010843B2 JP 28134291 A JP28134291 A JP 28134291A JP 28134291 A JP28134291 A JP 28134291A JP 3010843 B2 JP3010843 B2 JP 3010843B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductive resin
resin paste
composition
paste composition
manufactured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP28134291A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH05121465A (ja
Inventor
充夫 山崎
雅夫 川澄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
Showa Denko Materials Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=17637775&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP3010843(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd, Showa Denko Materials Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
Priority to JP28134291A priority Critical patent/JP3010843B2/ja
Publication of JPH05121465A publication Critical patent/JPH05121465A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3010843B2 publication Critical patent/JP3010843B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L24/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/0132Binary Alloys
    • H01L2924/01322Eutectic Alloys, i.e. obtained by a liquid transforming into two solid phases
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/102Material of the semiconductor or solid state bodies
    • H01L2924/1025Semiconducting materials
    • H01L2924/10251Elemental semiconductors, i.e. Group IV
    • H01L2924/10253Silicon [Si]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Epoxy Resins (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、耐湿信頼性にすぐれ
る、半導体のダイボンディング用導電性樹脂ペースト組
成物およびこの組成物を用いた半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体のダイボンディング材とし
て、Au−Si共晶、半田、導電性樹脂ペースト組成物
等が知られているが、作業性及び低コスト化の点から、
導電性樹脂ペーストが広く使用されるようになった。更
に、近年の半導体産業の進歩に伴い、高スループット、
高生産性を実現するため短時間で硬化できることが、導
電性樹脂ペースト組成物に要求されるようになってき
た。
【0003】一方、エポキシ樹脂の潜在性硬化材として
は、酸無水物、フェノール樹脂、ジシアンジアミド等の
主硬化剤に硬化促進剤としてイミダゾール等のアミン系
化合物を添加する手法が用いられるが、短時間硬化を実
現するためには硬化促進剤の添加量を多くする必要があ
る。このようにアミン系硬化促進剤を多く添加して調製
した導電性樹脂ペースト組成物は、その硬化物の熱水抽
出後の抽出水中のイオン性不純物が増加し、半導体装置
の耐湿信頼性を劣化させる原因となる欠点を有する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記した欠
点がなく、短時間硬化が可能であり、なおかつ、熱水抽
出水中のイオン性不純物が少ない、高信頼性の半導体の
ダイボンディング用導電性樹脂ペースト組成物およびこ
の組成物を用いた半導体装置を提供するものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、(1)エポキ
シ樹脂、(2)硬化剤、(3)導電性金属粉体および
(4)無機イオン交換体を含有してなる導電性樹脂ペー
スト組成物ならびにこの組成物を用いた半導体装置に関
する。
【0006】本発明で、使用される無機イオン交換体
は、導電性樹脂ペースト硬化物を熱水中で抽出したと
き、水溶液中に抽出されるイオン、例えば、
【化1】 などのイオンの捕捉作用の認められるものが有効であ
り、また、ペースト組成物の硬化及び半導体装置の組立
て工程で加えられる熱に耐えられる耐熱性を有すること
が必要である。このようなイオン交換体としては、天然
に産出されるゼオライト、沸石類、酸性白土、白雲石、
ハイドロタルサイト類などの天然鉱物、人工的に合成さ
れた合成ゼオライト、特開平2−294354号広報に
開示されている次の一般式(I)で示されるオキシ酸ビ
スマス系化合物等が用いられる。 Bix(M)yOz(OH)p(X)q(Y)r・nH20 (I) 式においてMは、Sb、Siなどの金属、X、Yは炭酸
基、硝酸基、スルホン酸基、ケイ酸基などのオキシ酸残
基、z、y、z、p、q、r、nは0以上の小数を含む
数を表す。これらの無機イオン交換体は、イオン捕捉効
果から導電性樹脂ペースト組成物に対し0.05〜5重
量%の範囲で添加するのが好ましい。
【0007】本発明で用いるエポキシ樹脂としては、特
に制限はないが、1分子中に2個以上のエポキシ基を有
する化合物が、硬化性の点から好ましい。このようなエ
ポキシ樹脂としては、たとえば、フェノールノボラツク
型エポキシ樹脂 N−730S(大日本インキ化学社
製)、Quatrex−2010(ダウ・ケミカル社
製)、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂 YDCN
−702(東都化成社製)、EOCN−100(日本化
薬社製)、ビスフェノールA型エポキシ樹脂 AER−
X8501(旭化成工業社製)、YL−980(油化シ
ェルエポキシ社製)、ビスフェノールF型エポキシ樹脂
YDF−170(東都化成社製)、ビスフェノールA
D型エポキシ樹脂 R−1710(三井石油化学社
製)、多官能エポキシ樹脂 EPPN−501(日本化
薬社製)、TACTIX−742(ダウ・ケミカル社
製)、VG−3101(三井石油化学工業社製)、10
32S(油化シェルエポキシ社製)、ナフタレン骨格を
有するエポキシ樹脂 HP−4032(大日本インキ化
学社製)、脂環式エポキシ樹脂 EHPE−3150
(ダイセル化学工業社製)、アミン型エポキシ樹脂 E
LM−100(住友化学社製)、YH−434L(東都
化成社製)などがある。またこれらのエポキシ樹脂を適
宜組み合わせて用いてもよい。
【0008】本発明で用いる硬化剤としては、特に制限
はないが、例えばフェノール樹脂H−1(明和化成社
製)、フェノールアラルキル樹脂 XL−225(三井
東圧化学社製)、ジシアンジアミドSP−10(日本カ
ーバイド社製)、二塩酸ジヒドラジド、ADH、PD
H、SDH(日本ヒドラジン工業社製)、イミダゾール
類、キュアゾール(四国化成社製)などが挙げられる。
【0009】更に、これらの硬化剤に必要に応じて硬化
促進剤を添加してもよい。このような、硬化促進剤とし
ては、有機ボロン塩、EMZ・K、TPPK(北興化学
社製)、三級アミン類及びその塩、DBU、U−CAT
102、106、830、340、5002(サンアプ
ロ社製)イミダゾール類、キュアゾール(四国化成社
製)などが挙げられる。これら硬化剤及び必要に応じて
添加される硬化促進剤は単独で用いてもよく、数種類の
硬化剤及び硬化促進剤を適宜組み合わせて用いてもよ
い。
【0010】本発明で用いる導電性金属粉体としては、
たとえば金、銀、銅、ニッケル、鉄、アルミニウム、ス
テンレス等の粉体が挙げられる。これらの中で、導電性
に優れ、イオン性不純物の少ない銀が好ましい。これら
導電性金属粉体の形状としては、フレーク状、樹枝状、
球状、不定形等あるが、これら種々の形状のものを組合
せて用いることもできる。
【0011】本発明になる導電性樹脂ペースト組成物
は、ペースト組成物作成時の作業性及び使用時の塗布作
業性をより良好ならしめるため、必要に応じて、希釈剤
を添加することができる。これらの希釈剤としては、ブ
チルセロソルブ、カルビトール、酢酸ブチルセロソル
ブ、酢酸カルビトール、エチレングリコールジエチルエ
ーテル、α−テルピネオールなどの比較的沸点の高い有
機溶剤、PGE(日本化薬社製)、PP−101(東都
化成社製)、ED−502、503(旭電化社製)、Y
ED−122(油化シェルエポキシ社製)、KBM−4
03、LS−7970(信越化学工業社製)、TSL−
8350、TSL−8355、TSL−9905(東芝
シリコーン社製)などの1分子中に1〜2個のエポキシ
基を有する反応性を有する希釈剤が挙げられる。
【0012】本発明による導電性樹脂ペーストには、更
に必要に応じてシランカップリング剤、チタンカップリ
ング剤等の接着力向上剤、ノニオン系界面活性剤、フッ
素系界面活性剤などの濡れ向上剤、シリコーン油などの
消泡剤等も適宜添加することができる。
【0013】本発明による導電性樹脂ペーストは、
(1)エポキシ樹脂、(2)硬化剤、(3)導電性金属
粉体および(4)無機イオン交換体に必要に応じて添加
される希釈剤、各種添加剤の存在下、一括または分割し
て、撹拌器、らいかい器、三本ロール、ボールミル、プ
ラネタリーミキサなどの分散、溶解装置を適宜組合せ、
必要に応じて加熱して、混合、溶解、解粒混練又は分散
して、均一なペースト状とすることができる。
【0014】本発明の導電性樹脂ペースト組成物を用い
て半導体素子をリードフレーム等の基板に接着させるに
は、まず基板上に導電性樹脂ペースト組成物をディスペ
ンス法、スクリーン印刷法、スタンピング法などにより
塗布したのち、半導体素子を圧着し、その後オーブンま
たはヒートブロックなどの加熱装置を用いて加熱硬化す
ることにより行うことができる。さらに、ワイヤボンド
工程を経たのち、通常の方法により封止することによ
り、完成された半導体装置とすることができる。
【0015】
【作用】本発明になる導電性樹脂ペースト組成物は、硬
化物からの熱水へのイオン性不純物の溶出を押さえるこ
とができ、この導電性樹脂ペースト組成物を半導体のダ
イボンディング材として使用した場合に、半導体の耐湿
信頼性を向上させることができる。
【0016】
【実施例】以下、本発明を実施例により説明する。 実施例1〜5 YDF−170(東都化成製商品名、ビスフェノールF
型エポキシ樹脂、エポキシ当量=170)10重量部、
YL−980(油化シェルエポキシ製商品名、ビスフェ
ノールA型エポキシ樹脂、エポキシ当量=185)10
重量部を80℃に加熱し1時間撹拌を続け均一なエポキ
シ樹脂溶液を得る。H−1(明和化成製商品名、フェノ
ールノボラック樹脂、OH当量=106)1重量部、P
P−101(東都化成製商品名、アルキルフェニルグリ
シジルエーテル、エポキシ当量=230)2重量部を1
00℃に加熱し、1時間撹拌を続け均一なフェノール樹
脂溶液を得る。こうして得た、エポキシ樹脂溶液及びフ
ェノール樹脂溶液に、PP−101、2P4MHZ(四
国化成製商品名、イミダゾール類)、オキシ酸ビスマス
系化合物(合成物)、ハイドロタルサイト(天然鉱
物)、TCG−1(徳力化学研究所製商品名、銀粉)を
表1に示す配合比に従って配合し、三本ロールを用いて
混練したのち、5Torrで10分間脱泡処理を行い、
導電性樹脂ペースト組成物を得た。ここで、オキシ酸ビ
スマス系化合物は、硝酸ビスマス5水和物(Bi(NO
33・5H2O)50重量%水溶液200gに、水酸化
ナトリウム(NaOH)15重量%水溶液23g及びメ
タケイ酸ナトリウム(Na2SiO3・9H2O)15重
量%水溶液500gを10ml/minの速度で添加
し、得られたスラリーを24時間室温で放置後、脱イオ
ン水で洗浄、テカンテーションを行い、No.2のろ紙
でろ過後、110℃で10時間乾燥させて得た。更に、
これをクラッシャーミルで粉砕したのち、更に自動乳鉢
で粉砕後、120℃で24時間乾燥して用いた。組成分
析の結果Bi66(OH)5(NO30.4(HSiO3
0.6・H2Oであった。この導電性樹脂ペースト組成物の
特性を調べた結果、表1に示すように、オキシ酸ビスマ
ス系化合物の添加量を多くするに従って抽出液中のCl
- 濃度が減少する傾向が認められた。
【0017】実施例6 実施例1〜5と同様にして、YDF−170、15重量
部に、Quatrex2010(ダウ・ケミカル社製商
品名、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、エポキシ
当量=180)5重量部を加え、100℃に加熱して1
時間撹拌してエポキシ樹脂溶液を得る。表1に示す配合
となるように各材料を配合して、実施例1〜5と同様に
して導電性樹脂ペースト組成物を作成し、特性を調べ
た。表1に示すように実施例1〜5と同様に、抽出水中
のCl- 濃度は低い値を示した。
【0018】実施例7 実施例3のエポキシ樹脂をYL−980単独にして実施
例3と同様にして導電性樹脂ペースト組成物を作成し、
特性を調べた。表1に示すように、抽出水中のCl-
度は低い値を示した。
【0019】比較例1および2 実施例1のオキシ酸ビスマス系化合物を添加しない系及
び2P4MHZの添加量を少なくしたものについて、表
1に示す配合の導電性樹脂ペースト組成物を実施例1と
同様にして作成し、特性を調べた。表1に示すように、
2P4MHZの添加量の多い比較例1では、抽出水中の
Cl- 濃度は高い値を示し、2P4MHZの添加量を少
なくすると、抽出水中のCl- 濃度は低いが、硬化性も
劣り、十分な接着強さが得られなくなる。
【0020】実施例3、比較例1及び比較例3の接着強
さ及び抽出水Cl- 濃度を硬化剤2P4MHZの添加量
に対してプロットしたものを図1に示す。
【0021】
【表1】
【0022】特性評価方法 (1)粘 度 EHD型回転粘度計(東京計器製)を用いて、25℃に
おける粘度(Pa・s)を測定した。
【0023】(2)接着強さ 導電性樹脂ペースト組成物をAgメッキ付銅フレーム上
に約200μg塗布し、この上に2×2mmのSiチッ
プ(厚さ、約0.4mm)を圧着し、更に200℃に設
定したヒートブロック上にのせ、60秒加熱した。これ
を自動接着力試験器(Dege製、マイクロテスター)
を用い、室温におけるせん断接着強さ(kg/chi
p)を測定した。
【0024】(3)抽出水Cl- 濃度 導電性樹脂ペースト組成物を清浄なテフロン板上に塗り
広げ、これを180℃に設定した熱風循環式の通常のオ
ーブンに1時間放置して硬化させ、100メッシュ程度
にクラッシャミルを用いて粉砕し、この粉砕物10gに
対し、脱イオン水50gを60mlの耐圧テフロンジャ
ーに入れて密封し、120℃に設定した熱風循環式の通
常のオーブンに20時間放置して得た抽出水から、ろか
により、導電性樹脂ペースト組成物の硬化物を除去し、
イオンクロマトグラフ法により抽出水中のCl- 濃度
(ppm)を測定した。
【0025】
【発明の効果】図1に示すように、十分な接着強さを得
るためには、単純に硬化剤の添加量を多くすると、熱水
で抽出されるイオン性不純物、特にCl- 濃度が高くな
る傾向があるが、本発明になる導電性樹脂ペースト組成
物は、熱水で抽出されるCl-濃度が低く、半導体の耐
湿信頼性において、Al配線腐食に対する耐性が向上さ
れる。また、本発明になる導電性樹脂ペースト組成物
は、短時間硬化が可能であり、半導体装置の生産性向上
に寄与できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例3、比較例1及び比較例2の接着強さ及
び抽出水Cl-濃度を、硬化剤2P4MHZの添加量に
対してプロットしたものである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01L 21/58 H01L 21/58 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/52 C08L 63/00 C09D 5/24 C09J 163/00

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (1)エポキシ樹脂、(2)硬化剤、
    (3)導電性金属粉体および(4)無機イオン交換体を
    含有してなる導電性樹脂ペースト組成物。
  2. 【請求項2】 無機イオン交換体が、オキシ酸ビスマス
    系化合物である請求項1記載の導電性樹脂ペースト組成
    物。
  3. 【請求項3】 半導体素子と基板とを請求項1又は請求
    項2に記載の導電性樹脂ペースト組成物で接着した後、
    封止してなる半導体装置。
JP28134291A 1991-10-28 1991-10-28 導電性樹脂ペースト組成物およびこの組成物を用いた半導体装置 Expired - Lifetime JP3010843B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28134291A JP3010843B2 (ja) 1991-10-28 1991-10-28 導電性樹脂ペースト組成物およびこの組成物を用いた半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28134291A JP3010843B2 (ja) 1991-10-28 1991-10-28 導電性樹脂ペースト組成物およびこの組成物を用いた半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05121465A JPH05121465A (ja) 1993-05-18
JP3010843B2 true JP3010843B2 (ja) 2000-02-21

Family

ID=17637775

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28134291A Expired - Lifetime JP3010843B2 (ja) 1991-10-28 1991-10-28 導電性樹脂ペースト組成物およびこの組成物を用いた半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3010843B2 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0790239A (ja) * 1993-09-27 1995-04-04 Sumitomo Bakelite Co Ltd 導電性樹脂ペースト
JPH0790238A (ja) * 1993-09-27 1995-04-04 Sumitomo Bakelite Co Ltd 導電性樹脂ペースト
JP3449290B2 (ja) * 1999-04-05 2003-09-22 株式会社村田製作所 ペースト組成物、グリーンシート、並びに、多層回路基板
JP2001106873A (ja) * 1999-10-07 2001-04-17 Sumitomo Bakelite Co Ltd 半導体用樹脂ペースト及びそれを用いた半導体装置
JP2001106874A (ja) * 1999-10-07 2001-04-17 Sumitomo Bakelite Co Ltd 半導体用樹脂ペースト及びそれを用いた半導体装置
JP4734687B2 (ja) * 2000-01-26 2011-07-27 住友ベークライト株式会社 半導体用樹脂ペースト及びそれを用いた半導体装置
JP3633422B2 (ja) * 2000-02-22 2005-03-30 ソニーケミカル株式会社 接続材料
JP2002241473A (ja) * 2001-02-16 2002-08-28 Taiyo Ink Mfg Ltd 熱硬化性エポキシ樹脂組成物とその成形体および多層プリント配線板
US7094843B2 (en) * 2002-08-19 2006-08-22 3M Innovative Properties Company Epoxy compositions having improved shelf life and articles containing the same
JP4593123B2 (ja) 2004-02-13 2010-12-08 ハリマ化成株式会社 導電性接着剤
JP5126960B2 (ja) * 2007-11-28 2013-01-23 リンテック株式会社 粘接着剤組成物、粘接着シートおよび半導体装置の製造方法
EP2487215B1 (en) 2011-02-11 2013-07-24 Henkel AG & Co. KGaA Electrically conductive adhesives comprising at least one metal precursor
JP6259270B2 (ja) * 2013-12-04 2018-01-10 京都エレックス株式会社 熱硬化型導電性ペースト組成物

Also Published As

Publication number Publication date
JPH05121465A (ja) 1993-05-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3010843B2 (ja) 導電性樹脂ペースト組成物およびこの組成物を用いた半導体装置
KR19980042885A (ko) 열전도성 페이스트
JPH0668091B2 (ja) 熱硬化性絶縁樹脂ペースト
JP3461023B2 (ja) 接着剤および半導体装置
JPH10237157A (ja) 液状樹脂組成物および該液状樹脂組成物を使用して作製した半導体装置
JP3259501B2 (ja) 導電性樹脂ペースト組成物及び半導体装置
JPH1192740A (ja) 樹脂ペースト組成物および半導体装置
JPH07238268A (ja) 接着剤及び半導体装置
JPH11228787A (ja) 樹脂ペースト組成物及びこれを用いた半導体装置
JP3511126B2 (ja) 非導電性樹脂ペーストおよび半導体装置
JPH1050142A (ja) 導電性樹脂ペースト組成物および半導体装置
JPH0536738A (ja) 導電性樹脂ペーストおよび半導体装置
JPH09194813A (ja) 導電性樹脂ペースト組成物及び半導体装置
JPH10316838A (ja) 半導体封止用エポキシ樹脂組成物
JPH06196513A (ja) 接着剤および半導体装置
JPH10195408A (ja) 導電性樹脂ペースト組成物及びこれを用いた半導体装置
JPH10152664A (ja) 樹脂ペースト組成物及びこれを用いた半導体装置
JP2003147317A (ja) 接着用樹脂ペースト組成物及びこれを用いた半導体装置
JPH08165410A (ja) 導電性樹脂ペースト組成物および半導体装置
JP4816835B2 (ja) 非導電性樹脂ペースト組成物及びこれを用いた半導体装置
JP3310446B2 (ja) エポキシ樹脂組成物
JPH0881669A (ja) 導電性樹脂ペースト組成物および半導体装置
JP2000226432A (ja) 樹脂ペースト組成物及びこれを用いた半導体装置
JP3982344B2 (ja) 半導体封止用エポキシ樹脂組成物及び半導体装置
JPH07258618A (ja) 導電性樹脂ペースト

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071210

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081210

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091210

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101210

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101210

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111210

Year of fee payment: 12

EXPY Cancellation because of completion of term