JP3007796B2 - 液晶表示パネルの端子構造 - Google Patents
液晶表示パネルの端子構造Info
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- JP3007796B2 JP3007796B2 JP6143531A JP14353194A JP3007796B2 JP 3007796 B2 JP3007796 B2 JP 3007796B2 JP 6143531 A JP6143531 A JP 6143531A JP 14353194 A JP14353194 A JP 14353194A JP 3007796 B2 JP3007796 B2 JP 3007796B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は液晶表示パネルに駆動信
号を入力する入力端子部の端子構造に関し、とくに検査
工程において液晶表示パネルに検査信号を入力して検査
を行うことが容易な端子構造に関するものである。
号を入力する入力端子部の端子構造に関し、とくに検査
工程において液晶表示パネルに検査信号を入力して検査
を行うことが容易な端子構造に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、液晶表示パネルの検査工程におけ
る検査信号の入力方法は、図６に示すように、液晶表示
パネル１０の入力端子部１１に、ＰＷＢ（プリント基
板）２０にＦＰＣ（フレキシブル基板）２１を組み合わ
せたものを使用し、入力端子部１１の先端から１〜２．
５ｍｍ内側の端子領域１２にＦＰＣ２１を重ね、ＦＰＣ
２１の上部から６０〜２００℃の温度で熱圧着ヘッドを
数ｋｇの力Ｆで押さえ、熱硬化樹脂によりコンタクトを
行う方式が採用されている。この場合、端子領域１２は
液晶表示パネル１０をモジュール化するための実装工程
で駆動信号を生成するＴＡＢ（Tape Automated Bondin
g）を圧着する端子領域と共通になっている。
る検査信号の入力方法は、図６に示すように、液晶表示
パネル１０の入力端子部１１に、ＰＷＢ（プリント基
板）２０にＦＰＣ（フレキシブル基板）２１を組み合わ
せたものを使用し、入力端子部１１の先端から１〜２．
５ｍｍ内側の端子領域１２にＦＰＣ２１を重ね、ＦＰＣ
２１の上部から６０〜２００℃の温度で熱圧着ヘッドを
数ｋｇの力Ｆで押さえ、熱硬化樹脂によりコンタクトを
行う方式が採用されている。この場合、端子領域１２は
液晶表示パネル１０をモジュール化するための実装工程
で駆動信号を生成するＴＡＢ（Tape Automated Bondin
g）を圧着する端子領域と共通になっている。
【０００３】また、最近では、液晶表示パネルの高精細
化に伴い端子ピッチが狭くなってきており、従来のＦＰ
Ｃ方式ではコンタクトが難しくなってきている。このた
め、検査工程における検査信号の入力方法として、新た
にプローブで端子領域１２にコンタクトする方式が主流
となりつつある。
化に伴い端子ピッチが狭くなってきており、従来のＦＰ
Ｃ方式ではコンタクトが難しくなってきている。このた
め、検査工程における検査信号の入力方法として、新た
にプローブで端子領域１２にコンタクトする方式が主流
となりつつある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、プローブに
よる端子領域へのコンタクトは、プローブで端子表面を
直接擦ってコンタクトするため、プローブが劣化してピ
ッチ精度が保てなくなり、対応する端子にコンタクトで
きないといった不都合が生じる。
よる端子領域へのコンタクトは、プローブで端子表面を
直接擦ってコンタクトするため、プローブが劣化してピ
ッチ精度が保てなくなり、対応する端子にコンタクトで
きないといった不都合が生じる。
【０００５】また、プローブが劣化すると特定の端子へ
のコンタクト圧力が設定値以上にかかり、端子領域のパ
ターンの導電膜が剥がれ、その金属クズが端子領域に残
り、次の実装工程におけるＴＡＢ圧着時に隣接端子とシ
ョートしてＴＡＢ圧着不良の原因となる。
のコンタクト圧力が設定値以上にかかり、端子領域のパ
ターンの導電膜が剥がれ、その金属クズが端子領域に残
り、次の実装工程におけるＴＡＢ圧着時に隣接端子とシ
ョートしてＴＡＢ圧着不良の原因となる。
【０００６】このように端子領域に検査用プローブをコ
ンタクトさせる検査方法では、３カ月に平均２本のプロ
ーブ異常が発生している。この異常とは明らかにプロー
ブのオーバドライブによりプローブが端子面導電膜を削
り検査信号が液晶表示パネルに入力されなくなったため
である。
ンタクトさせる検査方法では、３カ月に平均２本のプロ
ーブ異常が発生している。この異常とは明らかにプロー
ブのオーバドライブによりプローブが端子面導電膜を削
り検査信号が液晶表示パネルに入力されなくなったため
である。
【０００７】そこで、この異常発生前に相当数のパネル
が端子面の導電膜剥離によって実装工程でＴＡＢ圧着不
良が発生していると考えられ、追跡調査を実施した。そ
の結果、調査した１０ロット中でＴＡＢ圧着不良による
リワークが１．８％発生しており、そのうちの６５％が
端子面導電膜剥離による隣接端子とのショートであるこ
とがＴＡＢ剥離前の導通チェックとＴＡＢ剥離後の目視
チェックとで確認できた。
が端子面の導電膜剥離によって実装工程でＴＡＢ圧着不
良が発生していると考えられ、追跡調査を実施した。そ
の結果、調査した１０ロット中でＴＡＢ圧着不良による
リワークが１．８％発生しており、そのうちの６５％が
端子面導電膜剥離による隣接端子とのショートであるこ
とがＴＡＢ剥離前の導通チェックとＴＡＢ剥離後の目視
チェックとで確認できた。
【０００８】また、端子領域に検査用プローブをコンタ
クトして検査信号を入力する従来の方法では、現在のと
ころプローブの精度は１００μｍピッチ程度までしか実
現されていないため、入力端子部の端子ピッチがそれ以
下のピッチを有する場合は使用することができない。し
かし、液晶モジュールの表示部以外のサイズの縮小化を
実現するには、入力端子部の削減が必要であり、現在３
辺ある入力端子部を２辺または１辺にまとめた場合、端
子ピッチは１００μｍ以下となり、現在のプローブ技術
ではパネル検査を実施することはできない。
クトして検査信号を入力する従来の方法では、現在のと
ころプローブの精度は１００μｍピッチ程度までしか実
現されていないため、入力端子部の端子ピッチがそれ以
下のピッチを有する場合は使用することができない。し
かし、液晶モジュールの表示部以外のサイズの縮小化を
実現するには、入力端子部の削減が必要であり、現在３
辺ある入力端子部を２辺または１辺にまとめた場合、端
子ピッチは１００μｍ以下となり、現在のプローブ技術
ではパネル検査を実施することはできない。
【０００９】本発明の目的は、実装工程におけるＴＡＢ
圧着不良の低減を図るとともに、端子ピッチがプローブ
作成の限界ピッチ以下であってもプローブによるパネル
検査が可能な液晶表示パネルの端子構造を提供すること
にある。
圧着不良の低減を図るとともに、端子ピッチがプローブ
作成の限界ピッチ以下であってもプローブによるパネル
検査が可能な液晶表示パネルの端子構造を提供すること
にある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明による液晶表示パ
ネルの端子構造は、液晶表示パネルの外周に配置され複
数本の端子が併置されてなる入力端子部において、複数
本の各端子は、実装工程で駆動信号を入力するためのＴ
ＡＢを圧着する圧着端子領域と、検査工程で検査信号を
入力するための検査プローブを接触させる検査端子領域
とを備え、この２つの領域は各端子上のそれぞれ別の位
置に設定されている。
ネルの端子構造は、液晶表示パネルの外周に配置され複
数本の端子が併置されてなる入力端子部において、複数
本の各端子は、実装工程で駆動信号を入力するためのＴ
ＡＢを圧着する圧着端子領域と、検査工程で検査信号を
入力するための検査プローブを接触させる検査端子領域
とを備え、この２つの領域は各端子上のそれぞれ別の位
置に設定されている。
【００１１】この場合、検査端子領域は、複数本の端子
のうち奇数番目の端子と偶数番目の端子とで端子長手方
向にずれた位置に設定され、奇数番目の端子の検査端子
領域は端子配列方向の一方側に突出した形状を有し、偶
数番目の端子の検査端子領域は端子配列方向の他方側に
突出した形状を有する。
のうち奇数番目の端子と偶数番目の端子とで端子長手方
向にずれた位置に設定され、奇数番目の端子の検査端子
領域は端子配列方向の一方側に突出した形状を有し、偶
数番目の端子の検査端子領域は端子配列方向の他方側に
突出した形状を有する。
【００１２】
【作用】本発明の構成において、液晶表示パネルは検査
工程で各端子の検査端子領域に検査プローブが接触して
検査信号が入力され、点灯検査が実施される。検査の結
果、良品と判定されると、液晶表示パネルは実装工程で
各端子の圧着端子領域にＴＡＢが厚着される。
工程で各端子の検査端子領域に検査プローブが接触して
検査信号が入力され、点灯検査が実施される。検査の結
果、良品と判定されると、液晶表示パネルは実装工程で
各端子の圧着端子領域にＴＡＢが厚着される。
【００１３】この場合、検査工程で検査プローブの平行
にずれが発生し、端子に部分的に設定値以上の圧力がか
かり、端子面が削られて金属クズが残った場合でも、実
装工程でＴＡＢを圧着する部分は金属クズの残っている
場所とは異なるため、隣接端子とショートした状態でＴ
ＡＢが固定されることはなく、削られた金属クズはＴＡ
Ｂ圧着後の洗浄工程で除去される。
にずれが発生し、端子に部分的に設定値以上の圧力がか
かり、端子面が削られて金属クズが残った場合でも、実
装工程でＴＡＢを圧着する部分は金属クズの残っている
場所とは異なるため、隣接端子とショートした状態でＴ
ＡＢが固定されることはなく、削られた金属クズはＴＡ
Ｂ圧着後の洗浄工程で除去される。
【００１４】また、検査プローブが接触する検査端子領
域を奇数端子と偶数端子とで端子長手方向に距離をもた
せて二重化することで、端子ピッチがプローブ作成の限
界ピッチ以下であっても、現在のプローブ製作技術で液
晶表示パネルの検査が実施できる。このため、現在３辺
にある入力端子部の低減が実現できることにより、液晶
モジュールの外周部分の縮小が可能となる。
域を奇数端子と偶数端子とで端子長手方向に距離をもた
せて二重化することで、端子ピッチがプローブ作成の限
界ピッチ以下であっても、現在のプローブ製作技術で液
晶表示パネルの検査が実施できる。このため、現在３辺
にある入力端子部の低減が実現できることにより、液晶
モジュールの外周部分の縮小が可能となる。
【００１５】
【実施例】図１は、本発明が適用される液晶表示パネル
１の概略的平面図で、周辺の４辺には、それぞれ複数本
の端子が併置されてなる入力端子部２（２ａ，２ｂ，２
ｃ，２ｄ）が形成されている。図２は、図１に円形破線
Ａで示す部分を拡大して示した図で、本発明による液晶
表示パネルの端子構造の一実施例を示す構成図である。
１の概略的平面図で、周辺の４辺には、それぞれ複数本
の端子が併置されてなる入力端子部２（２ａ，２ｂ，２
ｃ，２ｄ）が形成されている。図２は、図１に円形破線
Ａで示す部分を拡大して示した図で、本発明による液晶
表示パネルの端子構造の一実施例を示す構成図である。
【００１６】本実施例による液晶表示パネルの端子構造
は、図２に示すように、入力端子部２（２ａ）に互いに
平行に併置された複数本の短冊状の端子Ｔ１，Ｔ２，…
を備え、各端子Ｔｉ（ｉ＝１，２，…）はその先端（図
の上端）から内方（図の下方）へ約２ｍｍの部分に、実
装工程で駆動信号発生用のＴＡＢを圧着する圧着端子領
域３が形成され、この圧着端子領域３からされに内方へ
約２〜４ｍｍの部分に検査用駆動信号を入力する検査端
子領域４が形成されている。
は、図２に示すように、入力端子部２（２ａ）に互いに
平行に併置された複数本の短冊状の端子Ｔ１，Ｔ２，…
を備え、各端子Ｔｉ（ｉ＝１，２，…）はその先端（図
の上端）から内方（図の下方）へ約２ｍｍの部分に、実
装工程で駆動信号発生用のＴＡＢを圧着する圧着端子領
域３が形成され、この圧着端子領域３からされに内方へ
約２〜４ｍｍの部分に検査用駆動信号を入力する検査端
子領域４が形成されている。
【００１７】この端子構造を有する液晶表示パネルで
は、生産段階の最終パネル検査時に、図３に示すよう
に、プローブ５を検査端子領域４にコンタクトして検査
用信号を液晶表示パネルに入力して点灯検査を実施す
る。この最終パネル検査で良品と判定された液晶表示パ
ネルは、液晶表示パネルをモジュール化する実装工程に
移され、図４に示すように、圧着端子領域３にＴＡＢ６
を熱硬化樹脂７等を使用して熱圧着する。
は、生産段階の最終パネル検査時に、図３に示すよう
に、プローブ５を検査端子領域４にコンタクトして検査
用信号を液晶表示パネルに入力して点灯検査を実施す
る。この最終パネル検査で良品と判定された液晶表示パ
ネルは、液晶表示パネルをモジュール化する実装工程に
移され、図４に示すように、圧着端子領域３にＴＡＢ６
を熱硬化樹脂７等を使用して熱圧着する。
【００１８】このように、圧着端子領域３の位置と検査
端子領域４の位置とが端子Ｔｉ上で異なることにより、
パネル検査時にパネルの反りやプローブ５の平行に狂い
が生じて検査端子領域４に設定値以上の圧力がかかり、
検査端子領域４の表面の導電材料が剥離して金属クズに
なっても、ＴＡＢ６はそれとは異なる位置にある圧着端
子領域３に熱圧着されるので、金属クズが隣接端子にシ
ョートしたまま熱硬化樹脂７で固定されることはなく、
実装工程で発生するパネル起因によるＴＡＢ圧着不良が
なくなることで、実装工程における不良率が低減し、Ｔ
ＡＢ圧着作業のリワーク数が低減される。
端子領域４の位置とが端子Ｔｉ上で異なることにより、
パネル検査時にパネルの反りやプローブ５の平行に狂い
が生じて検査端子領域４に設定値以上の圧力がかかり、
検査端子領域４の表面の導電材料が剥離して金属クズに
なっても、ＴＡＢ６はそれとは異なる位置にある圧着端
子領域３に熱圧着されるので、金属クズが隣接端子にシ
ョートしたまま熱硬化樹脂７で固定されることはなく、
実装工程で発生するパネル起因によるＴＡＢ圧着不良が
なくなることで、実装工程における不良率が低減し、Ｔ
ＡＢ圧着作業のリワーク数が低減される。
【００１９】次に、本発明の他の実施例について説明す
る。現在、大型液晶表示パネルが使用されているのは、
殆どがノートタイプのパーソナルコンピュータである。
現在の液晶表示パネル１の入力端子部２は、図１に示す
ように、左辺の入力端子部２ｂにゲート端子、上下辺の
入力端子部２ａ，２ｃにソース端子をもつ３辺信号入力
となっている。
る。現在、大型液晶表示パネルが使用されているのは、
殆どがノートタイプのパーソナルコンピュータである。
現在の液晶表示パネル１の入力端子部２は、図１に示す
ように、左辺の入力端子部２ｂにゲート端子、上下辺の
入力端子部２ａ，２ｃにソース端子をもつ３辺信号入力
となっている。
【００２０】しかし、コンピュータメーカからは液晶モ
ジュールサイズの縮小、すなわち表示部以外の外周占有
率の削減が要望されている。外周占有率の削減の方法と
しては、現在の３辺信号入力方式から下辺の入力端子部
２ｃからソース信号およびゲート信号を入力する１辺信
号入力方式が提案されている。
ジュールサイズの縮小、すなわち表示部以外の外周占有
率の削減が要望されている。外周占有率の削減の方法と
しては、現在の３辺信号入力方式から下辺の入力端子部
２ｃからソース信号およびゲート信号を入力する１辺信
号入力方式が提案されている。
【００２１】この１辺信号入力方式によると、端子ピッ
チは５５〜７５μｍ間隔で設計されるので、この端子ピ
ッチの液晶表示パネルに検査信号を入力するプローブ技
術が求められている。しかし、現在の技術では前述して
ように１００μｍ程度の端子ピッチでのプローブコンタ
クトは可能であるが、生産で安定に適用するまでには至
っていない。
チは５５〜７５μｍ間隔で設計されるので、この端子ピ
ッチの液晶表示パネルに検査信号を入力するプローブ技
術が求められている。しかし、現在の技術では前述して
ように１００μｍ程度の端子ピッチでのプローブコンタ
クトは可能であるが、生産で安定に適用するまでには至
っていない。
【００２２】そこで、本実施例では、図５に示すよう
に、検査端子領域４の位置を、奇数端子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ
５，…と、偶数端子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，…とで異なら
せ、例えば奇数端子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５，…は、図で右辺
側に端子幅の１／２の幅を持つ凸部８ａを設けてプロー
ブ接触用パッド４ａとし、その右に隣接する偶数端子の
対向辺に凹部８ｂを設けて両端子間の間隔を保ってい
る。
に、検査端子領域４の位置を、奇数端子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ
５，…と、偶数端子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，…とで異なら
せ、例えば奇数端子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５，…は、図で右辺
側に端子幅の１／２の幅を持つ凸部８ａを設けてプロー
ブ接触用パッド４ａとし、その右に隣接する偶数端子の
対向辺に凹部８ｂを設けて両端子間の間隔を保ってい
る。
【００２３】これに対し、偶数端子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，
…は、凹部８ｂの内方（図の下方）の左辺側に端子幅の
１／２の幅を持つ凸部９ａを設けてプローブ接触用パッ
ド４ｂとし、その左に隣接する奇数端子の対向辺に凹部
９ｂを設けて両端子間の間隔を保っている。
…は、凹部８ｂの内方（図の下方）の左辺側に端子幅の
１／２の幅を持つ凸部９ａを設けてプローブ接触用パッ
ド４ｂとし、その左に隣接する奇数端子の対向辺に凹部
９ｂを設けて両端子間の間隔を保っている。
【００２４】こうして検査端子部４の位置を奇数端子と
偶数端子とで異ならせることによって、プローブも奇数
端子用とは偶数端子用とで別々に作成し、完成後に２段
重ねなどの手法で一体化する。一体化前の奇数用および
偶数用の各プローブは、完成後の端子ピッチの２倍の端
子ピッチでよく現在のプローブ技術で十分目的の端子ピ
ッチを持つプローブを作製することができ、液晶表示パ
ネルのパネル検査が可能となる。
偶数端子とで異ならせることによって、プローブも奇数
端子用とは偶数端子用とで別々に作成し、完成後に２段
重ねなどの手法で一体化する。一体化前の奇数用および
偶数用の各プローブは、完成後の端子ピッチの２倍の端
子ピッチでよく現在のプローブ技術で十分目的の端子ピ
ッチを持つプローブを作製することができ、液晶表示パ
ネルのパネル検査が可能となる。
【００２５】具体的なパターン設計例を示すと、端子ピ
ッチｐが５５μｍである場合、パネル端から１０００μ
ｍの位置を圧着端子領域３とし、パネル端から１１００
μｍ〜１６００μｍの位置を検査端子領域４とする。そ
して、奇数端子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５，…のプローブ接触用
パッド４ａとしてパネル端から１２００μｍ〜１４００
μｍの間に端子幅の１／２の幅を持つ凸部８ａを設け、
偶数端子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，…のプローブ接触用パッド
４ｂとしてはパネル端から１４００μｍ〜１６００μｍ
の間に端子幅の１／２の幅の持つ凸部９ａを設ける。
ッチｐが５５μｍである場合、パネル端から１０００μ
ｍの位置を圧着端子領域３とし、パネル端から１１００
μｍ〜１６００μｍの位置を検査端子領域４とする。そ
して、奇数端子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５，…のプローブ接触用
パッド４ａとしてパネル端から１２００μｍ〜１４００
μｍの間に端子幅の１／２の幅を持つ凸部８ａを設け、
偶数端子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，…のプローブ接触用パッド
４ｂとしてはパネル端から１４００μｍ〜１６００μｍ
の間に端子幅の１／２の幅の持つ凸部９ａを設ける。
【００２６】このように奇数端子のプローブコンタクト
位置はパネル端から１３００μｍとなり、偶数端子のプ
ローブコンタクト位置はパネル端から１５００μｍとな
るので、奇数端子のコンタクト位置と偶数端子のコンタ
クト位置とでは２００μｍの間隔を設けられる。また、
隣り合う奇数または偶数端子ピッチ２ｐは１１０μｍと
なる。
位置はパネル端から１３００μｍとなり、偶数端子のプ
ローブコンタクト位置はパネル端から１５００μｍとな
るので、奇数端子のコンタクト位置と偶数端子のコンタ
クト位置とでは２００μｍの間隔を設けられる。また、
隣り合う奇数または偶数端子ピッチ２ｐは１１０μｍと
なる。
【００２７】
【発明の効果】本発明によれば、圧着端子領域と検査端
子領域とを別領域とするようにしたので、検査プローブ
のコンタクトにより検査端子領域に劣化が発生しても、
ＴＡＢ圧着時の隣接端子間のショートを防ぐことがで
き、液晶表示パネルをモジュール化する実装工程のリワ
ーク率を低減することができ、生産効率の向上を図るこ
とができる。
子領域とを別領域とするようにしたので、検査プローブ
のコンタクトにより検査端子領域に劣化が発生しても、
ＴＡＢ圧着時の隣接端子間のショートを防ぐことがで
き、液晶表示パネルをモジュール化する実装工程のリワ
ーク率を低減することができ、生産効率の向上を図るこ
とができる。
【００２８】また、本発明によれば、奇数端子と偶数端
子とで異なる位置にプローブ接触用パッドを設けるよう
にしたので、今後さらに微細化される液晶表示パネルの
パネル検査が可能となり、コンピュータメーカの要望す
る外周占有率の少ない液晶モジュールを提供することが
可能となる。
子とで異なる位置にプローブ接触用パッドを設けるよう
にしたので、今後さらに微細化される液晶表示パネルの
パネル検査が可能となり、コンピュータメーカの要望す
る外周占有率の少ない液晶モジュールを提供することが
可能となる。
【００２９】さらに、検査プローブと接触するプローブ
接触用パッドに端子幅の１／２のふくらみを持たせるこ
とで、プローブの平行が多少ずれても対応する端子に接
触するころができ、さらにパネル端子領域との接触時に
設定値以上の圧力がかかるオーバドライブの影響で劣化
するプローブを修理するための検査装置停止間隔を延長
させることができる。
接触用パッドに端子幅の１／２のふくらみを持たせるこ
とで、プローブの平行が多少ずれても対応する端子に接
触するころができ、さらにパネル端子領域との接触時に
設定値以上の圧力がかかるオーバドライブの影響で劣化
するプローブを修理するための検査装置停止間隔を延長
させることができる。
【図１】本発明が適用される液晶表示パネルの概略的平
面図である。
面図である。
【図２】本発明による端子構造の一実施例を示す構成図
である。
である。
【図３】検査工程のプローブによるコンタクトの概略図
である。
である。
【図４】実装工程のＴＡＢ圧着の概略図である。
【図５】本発明による端子構造の他の実施例を示す構成
図である。
図である。
【図６】従来のパネル検査方法を示す概略図である。
１ 液晶表示パネル ２ 入力端子部 ３ 圧着端子領域 ４ 検査端子領域 ４ａ プローブ接触用パッド（奇数端子側） ４ｂ プローブ接触用パッド（偶数端子側） ５ プローブ ６ ＴＡＢ ７ 熱硬化樹脂 ８ａ，９ａ 凸部 ８ｂ，９ｂ 凹部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平６−110072（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−313126（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−333360（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−301046（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G02F 1/1345
Claims (2)
- 【請求項１】 液晶表示パネルの外周に複数本の端子が
併置されてなる入力端子部において、 前記複数本の各端子は、実装工程で駆動信号を入力する
ためのＴＡＢを圧着する圧着端子領域と、検査工程で検
査信号を入力するための検査プローブを接触させる検査
端子領域とを備え、前記２つの領域は前記各端子上のそ
れぞれ別の位置に設定され、 前記検査端子領域は、前記複数本の端子のうち奇数番目
の端子と偶数番目の端子とで端子長手方向にずれた位置
に設定され、前記奇数番目の端子の前記検査端子領域は
端子配列方向の一方側に突出した形状を有し、前記偶数
番目の端子の前記検査端子領域は端子配列方向の他方側
に突出した形状を有する ことを特徴とする液晶表示パネ
ルの端子構造。 - 【請求項２】 前記突出形状は、端子幅の１／２の幅を
持つことを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの
端子構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6143531A JP3007796B2 (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 液晶表示パネルの端子構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6143531A JP3007796B2 (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 液晶表示パネルの端子構造 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH086057A JPH086057A (ja) | 1996-01-12 |
| JP3007796B2 true JP3007796B2 (ja) | 2000-02-07 |
Family
ID=15340915
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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