JPH086057A - 液晶表示パネルの端子構造 - Google Patents
液晶表示パネルの端子構造Info
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- JPH086057A JPH086057A JP14353194A JP14353194A JPH086057A JP H086057 A JPH086057 A JP H086057A JP 14353194 A JP14353194 A JP 14353194A JP 14353194 A JP14353194 A JP 14353194A JP H086057 A JPH086057 A JP H086057A
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Abstract
子部の端子構造に関し、実装工程におけるTAB圧着不
良の低減を図るとともに、端子ピッチがプローブ作成の
限界ピッチ以下であってもプローブによるパネル検査が
可能な液晶表示パネルの端子構造を提供する。 【構成】 液晶表示パネルの外周に配置され複数本の端
子が併置されてなる入力端子部において、複数本の各端
子は、実装工程で駆動信号を入力するためのTABを圧
着する圧着端子領域と、検査工程で検査信号を入力する
ための検査プローブを接触させる検査端子領域とを備
え、この2つの領域は各端子上のそれぞれ別の位置に設
定されている。
Description
号を入力する入力端子部の端子構造に関し、とくに検査
工程において液晶表示パネルに検査信号を入力して検査
を行うことが容易な端子構造に関するものである。
る検査信号の入力方法は、図6に示すように、液晶表示
パネル10の入力端子部11に、PWB(プリント基
板)20にFPC(フレキシブル基板)21を組み合わ
せたものを使用し、入力端子部11の先端から1〜2.
5mm内側の端子領域12にFPC21を重ね、FPC
21の上部から60〜200℃の温度で熱圧着ヘッドを
数kgの力Fで押さえ、熱硬化樹脂によりコンタクトを
行う方式が採用されている。この場合、端子領域12は
液晶表示パネル10をモジュール化するための実装工程
で駆動信号を生成するTAB(Tape Automated Bondin
g)を圧着する端子領域と共通になっている。
化に伴い端子ピッチが狭くなってきており、従来のFP
C方式ではコンタクトが難しくなってきている。このた
め、検査工程における検査信号の入力方法として、新た
にプローブで端子領域12にコンタクトする方式が主流
となりつつある。
よる端子領域へのコンタクトは、プローブで端子表面を
直接擦ってコンタクトするため、プローブが劣化してピ
ッチ精度が保てなくなり、対応する端子にコンタクトで
きないといった不都合が生じる。
のコンタクト圧力が設定値以上にかかり、端子領域のパ
ターンの導電膜が剥がれ、その金属クズが端子領域に残
り、次の実装工程におけるTAB圧着時に隣接端子とシ
ョートしてTAB圧着不良の原因となる。
ンタクトさせる検査方法では、3カ月に平均2本のプロ
ーブ異常が発生している。この異常とは明らかにプロー
ブのオーバドライブによりプローブが端子面導電膜を削
り検査信号が液晶表示パネルに入力されなくなったため
である。
が端子面の導電膜剥離によって実装工程でTAB圧着不
良が発生していると考えられ、追跡調査を実施した。そ
の結果、調査した10ロット中でTAB圧着不良による
リワークが1.8%発生しており、そのうちの65%が
端子面導電膜剥離による隣接端子とのショートであるこ
とがTAB剥離前の導通チェックとTAB剥離後の目視
チェックとで確認できた。
クトして検査信号を入力する従来の方法では、現在のと
ころプローブの精度は100μmピッチ程度までしか実
現されていないため、入力端子部の端子ピッチがそれ以
下のピッチを有する場合は使用することができない。し
かし、液晶モジュールの表示部以外のサイズの縮小化を
実現するには、入力端子部の削減が必要であり、現在3
辺ある入力端子部を2辺または1辺にまとめた場合、端
子ピッチは100μm以下となり、現在のプローブ技術
ではパネル検査を実施することはできない。
圧着不良の低減を図るとともに、端子ピッチがプローブ
作成の限界ピッチ以下であってもプローブによるパネル
検査が可能な液晶表示パネルの端子構造を提供すること
にある。
ネルの端子構造は、液晶表示パネルの外周に配置され複
数本の端子が併置されてなる入力端子部において、複数
本の各端子は、実装工程で駆動信号を入力するためのT
ABを圧着する圧着端子領域と、検査工程で検査信号を
入力するための検査プローブを接触させる検査端子領域
とを備え、この2つの領域は各端子上のそれぞれ別の位
置に設定されている。
のうち奇数番目の端子と偶数番目の端子とで端子長手方
向にずれた位置に設定され、奇数番目の端子の検査端子
領域は端子配列方向の一方側に突出した形状を有し、偶
数番目の端子の検査端子領域は端子配列方向の他方側に
突出した形状を有する。
工程で各端子の検査端子領域に検査プローブが接触して
検査信号が入力され、点灯検査が実施される。検査の結
果、良品と判定されると、液晶表示パネルは実装工程で
各端子の圧着端子領域にTABが厚着される。
にずれが発生し、端子に部分的に設定値以上の圧力がか
かり、端子面が削られて金属クズが残った場合でも、実
装工程でTABを圧着する部分は金属クズの残っている
場所とは異なるため、隣接端子とショートした状態でT
ABが固定されることはなく、削られた金属クズはTA
B圧着後の洗浄工程で除去される。
域を奇数端子と偶数端子とで端子長手方向に距離をもた
せて二重化することで、端子ピッチがプローブ作成の限
界ピッチ以下であっても、現在のプローブ製作技術で液
晶表示パネルの検査が実施できる。このため、現在3辺
にある入力端子部の低減が実現できることにより、液晶
モジュールの外周部分の縮小が可能となる。
1の概略的平面図で、周辺の4辺には、それぞれ複数本
の端子が併置されてなる入力端子部2(2a,2b,2
c,2d)が形成されている。図2は、図1に円形破線
Aで示す部分を拡大して示した図で、本発明による液晶
表示パネルの端子構造の一実施例を示す構成図である。
は、図2に示すように、入力端子部2(2a)に互いに
平行に併置された複数本の短冊状の端子T1,T2,…
を備え、各端子Ti(i=1,2,…)はその先端(図
の上端)から内方(図の下方)へ約2mmの部分に、実
装工程で駆動信号発生用のTABを圧着する圧着端子領
域3が形成され、この圧着端子領域3からされに内方へ
約2〜4mmの部分に検査用駆動信号を入力する検査端
子領域4が形成されている。
は、生産段階の最終パネル検査時に、図3に示すよう
に、プローブ5を検査端子領域4にコンタクトして検査
用信号を液晶表示パネルに入力して点灯検査を実施す
る。この最終パネル検査で良品と判定された液晶表示パ
ネルは、液晶表示パネルをモジュール化する実装工程に
移され、図4に示すように、圧着端子領域3にTAB6
を熱硬化樹脂7等を使用して熱圧着する。
端子領域4の位置とが端子Ti上で異なることにより、
パネル検査時にパネルの反りやプローブ5の平行に狂い
が生じて検査端子領域4に設定値以上の圧力がかかり、
検査端子領域4の表面の導電材料が剥離して金属クズに
なっても、TAB6はそれとは異なる位置にある圧着端
子領域3に熱圧着されるので、金属クズが隣接端子にシ
ョートしたまま熱硬化樹脂7で固定されることはなく、
実装工程で発生するパネル起因によるTAB圧着不良が
なくなることで、実装工程における不良率が低減し、T
AB圧着作業のリワーク数が低減される。
る。現在、大型液晶表示パネルが使用されているのは、
殆どがノートタイプのパーソナルコンピュータである。
現在の液晶表示パネル1の入力端子部2は、図1に示す
ように、左辺の入力端子部2bにゲート端子、上下辺の
入力端子部2a,2cにソース端子をもつ3辺信号入力
となっている。
ジュールサイズの縮小、すなわち表示部以外の外周占有
率の削減が要望されている。外周占有率の削減の方法と
しては、現在の3辺信号入力方式から下辺の入力端子部
2cからソース信号およびゲート信号を入力する1辺信
号入力方式が提案されている。
チは55〜75μm間隔で設計されるので、この端子ピ
ッチの液晶表示パネルに検査信号を入力するプローブ技
術が求められている。しかし、現在の技術では前述して
ように100μm程度の端子ピッチでのプローブコンタ
クトは可能であるが、生産で安定に適用するまでには至
っていない。
に、検査端子領域4の位置を、奇数端子T1,T3,T
5,…と、偶数端子T2,T4,T6,…とで異なら
せ、例えば奇数端子T1,T3,T5,…は、図で右辺
側に端子幅の1/2の幅を持つ凸部8aを設けてプロー
ブ接触用パッド4aとし、その右に隣接する偶数端子の
対向辺に凹部8bを設けて両端子間の間隔を保ってい
る。
…は、凹部8bの内方(図の下方)の左辺側に端子幅の
1/2の幅を持つ凸部9aを設けてプローブ接触用パッ
ド4bとし、その左に隣接する奇数端子の対向辺に凹部
9bを設けて両端子間の間隔を保っている。
偶数端子とで異ならせることによって、プローブも奇数
端子用とは偶数端子用とで別々に作成し、完成後に2段
重ねなどの手法で一体化する。一体化前の奇数用および
偶数用の各プローブは、完成後の端子ピッチの2倍の端
子ピッチでよく現在のプローブ技術で十分目的の端子ピ
ッチを持つプローブを作製することができ、液晶表示パ
ネルのパネル検査が可能となる。
ッチpが55μmである場合、パネル端から1000μ
mの位置を圧着端子領域3とし、パネル端から1100
μm〜1600μmの位置を検査端子領域4とする。そ
して、奇数端子T1,T3,T5,…のプローブ接触用
パッド4aとしてパネル端から1200μm〜1400
μmの間に端子幅の1/2の幅を持つ凸部8aを設け、
偶数端子T2,T4,T6,…のプローブ接触用パッド
4bとしてはパネル端から1400μm〜1600μm
の間に端子幅の1/2の幅の持つ凸部9aを設ける。
位置はパネル端から1300μmとなり、偶数端子のプ
ローブコンタクト位置はパネル端から1500μmとな
るので、奇数端子のコンタクト位置と偶数端子のコンタ
クト位置とでは200μmの間隔を設けられる。また、
隣り合う奇数または偶数端子ピッチ2pは110μmと
なる。
領域と検査端子領域とを別領域とするようにしたので、
検査プローブのコンタクトにより検査端子領域に劣化が
発生しても、TAB圧着時の隣接端子間のショートを防
ぐことができ、液晶表示パネルをモジュール化する実装
工程のリワーク率を低減することができ、生産効率の向
上を図ることができる。
偶数端子とで異なる位置にプローブ接触用パッドを設け
るようにしたので、今後さらに微細化される液晶表示パ
ネルのパネル検査が可能となり、コンピュータメーカの
要望する外周占有率の少ない液晶モジュールを提供する
ことが可能となる。
接触用パッドに端子幅の1/2のふくらみを持たせるこ
とで、プローブの平行が多少ずれても対応する端子に接
触するころができ、さらにパネル端子領域との接触時に
設定値以上の圧力がかかるオーバドライブの影響で劣化
するプローブを修理するための検査装置停止間隔を延長
させることができる。
面図である。
である。
である。
図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 液晶表示パネルの外周に複数本の端子が
併置されてなる入力端子部において、 前記複数本の各端子は、実装工程で駆動信号を入力する
ためのTABを圧着する圧着端子領域と、検査工程で検
査信号を入力するための検査プローブを接触させる検査
端子領域とを備え、前記2つの領域は前記各端子上のそ
れぞれ別の位置に設定されていることを特徴とする液晶
表示パネルの端子構造。 - 【請求項2】 前記検査端子領域は、前記複数本の端子
のうち奇数番目の端子と偶数番目の端子とで端子長手方
向にずれた位置に設定され、前記奇数番目の端子の前記
検査端子領域は端子配列方向の一方側に突出した形状を
有し、前記偶数番目の端子の前記検査端子領域は端子配
列方向の他方側に突出した形状を有することを特徴とす
る請求項1記載の液晶表示パネルの端子構造。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6143531A JP3007796B2 (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 液晶表示パネルの端子構造 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6143531A JP3007796B2 (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 液晶表示パネルの端子構造 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH086057A true JPH086057A (ja) | 1996-01-12 |
JP3007796B2 JP3007796B2 (ja) | 2000-02-07 |
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ID=15340915
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6143531A Expired - Fee Related JP3007796B2 (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 液晶表示パネルの端子構造 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3007796B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6391440B1 (en) | 1999-02-23 | 2002-05-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording medium and image formation and print employing the medium |
US6485552B2 (en) | 2000-02-29 | 2002-11-26 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Ink composition for thermal ink jet printer or thermal ink permeation printer |
US8760611B2 (en) | 2009-04-03 | 2014-06-24 | Panasonic Liquid Crystal Display Co., Ltd. | Display device comprising a plurality of upper-layer lines with exposed upper surfaces which are not covered, a plurality of lower-layer lines, and a plurality of adjustment layers |
JP2015163941A (ja) * | 2014-01-29 | 2015-09-10 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置、電子機器 |
-
1994
- 1994-06-24 JP JP6143531A patent/JP3007796B2/ja not_active Expired - Fee Related
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US6391440B1 (en) | 1999-02-23 | 2002-05-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording medium and image formation and print employing the medium |
US6485552B2 (en) | 2000-02-29 | 2002-11-26 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Ink composition for thermal ink jet printer or thermal ink permeation printer |
US8760611B2 (en) | 2009-04-03 | 2014-06-24 | Panasonic Liquid Crystal Display Co., Ltd. | Display device comprising a plurality of upper-layer lines with exposed upper surfaces which are not covered, a plurality of lower-layer lines, and a plurality of adjustment layers |
JP2015163941A (ja) * | 2014-01-29 | 2015-09-10 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置、電子機器 |
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