JP3007207B2 - Snスラッジ発生の少ない酸性Snめっき浴 - Google Patents

Snスラッジ発生の少ない酸性Snめっき浴

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【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は鋼板に高速でSnめっき
を行う電気ぶりきの製造に使用するSnめっき浴にかわ
り、特に不溶性陽極を使用する電気Snめっき法に適し
たSnめっき浴に関するものである。
【0002】
【従来の技術】鋼板に高速Snめっきする際に使用する
Snめっき浴としては、従来からフェノールスルホン酸
を使用するフェロスタンめっき浴、ホウフッ化浴及びハ
ロゲン浴等が良く知られている。特にフェノールスルホ
ン酸を使用したフェロスタンめっき浴は広く使用されて
いる。
【0003】又、近年フェノールスルホン酸浴、ホウフ
ッ化浴等は廃液処理の問題があることから、アルカンス
ルホン酸及びアルカノールスルホン酸を使用したSnめ
っき浴が提案されている(特開昭62−196391
号、特開昭59−182986号、特開昭63−161
183号公報)。しかし、これらはいずれも金属錫を陽
極に使用した溶性陽極でのSnめっき法に関するもの
で、不溶性陽極めっき法は難しいとされていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】通常の溶性陽極(金属
錫を陽極として使用し、Sn2+イオンは電気化学的に、
陽極錫の溶解で補給される。)を使用したSnめっきで
は、上記したいずれのめっき浴でも問題無いが、不溶性
陽極(一般的には、チタンに白金めっきした電極が陽極
として使用され、Sn2+イオンは、別に設けたSn2+
オン補給装置により、金属錫の化学溶解で補給され
る。)を使用した場合、フェノールスルホン酸浴のみが
使用可能で、アルカンスルホン酸浴、アルカノールスル
ホン酸浴等ではSnスラッジの発生が多く、全不溶性陽
極を使用したSnめっきには不適当であった。又、ハロ
ゲン浴及びホウフッ化浴等では不溶性陽極の腐食の問題
等から全不溶性陽極でのSnめっきは難しかった。
【0005】本発明は、廃水処理がフェノールスルホン
酸浴に対して容易なアルカンスルホン酸、又はアルカノ
ールスルホン酸浴での電気Snめっきを全不溶性陽極で
実施するための最適浴組成を見出したものである。
【0006】アルカンスルホン酸浴、アルカノールスル
ホン酸浴は、上記引用例で言われる如く廃液処理が容易
なことから、全不溶性陽極Snめっき法においても、是
非とも採用したいめっき浴系であり、全不溶性陽極Sn
めっき法が適用可能なアルカンスルホン酸浴、又はアル
カノールスルホン酸浴の開発が望まれていた。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、錫スラッ
ジの発生する機構について鋭意検討した結果、特に限ら
れたアルカノールスルホン酸を、ごく限られた濃度範囲
で使用することで、Snスラッジの発生を抑制でき、全
不溶性陽極Snめっきが可能なことを見出した。
【0008】不溶性陽極を使用する電気Snめっきにお
いて、錫スラッジが発生する理由は、主に二つの要因が
考えられる。先ず、錫を化学溶解するために使用する酸
素によって、Sn2+が下記式(4)によりSn4+に酸化
され、水酸化物として沈澱する。又、同様に陽極で発生
する酸素によっても同式(4)により、Sn2+イオンが
酸化され、水酸化物として沈澱し、錫スラッジとなると
考えられる。 Sn2++O2 +2H2 O→Sn(OH)4 〔沈澱〕 ……………(4) (4)式から明らかなように、Sn2+の酸化を防止する
ためには、Snめっき浴中の溶存酸素濃度を極力少なく
することが必要であるが、逆に、溶存酸素濃度が低い場
合は、金属錫の溶解速度が減少し、Sn2+の供給量が不
足する。何故なら、金属錫の溶解(下式の反応(5))
には酸素が必要であり、溶存酸素濃度が低い場合は、金
属錫の溶解に必要な酸素量が不足するからである。
【0009】従って、全不溶性陽極Snめっき法におい
ては、金属錫の溶解に必要な酸素量を確保した状態で、
且つ、(4)式のSn2+の酸化を抑制できるように溶存
酸素濃度を極力少なくして操業することが必要となる。 Sn+1/2O2 +H2 O→Sn2++2OH- ……………(5) 実際に、現在操業されているフェノールスルホン酸浴を
使用した全不溶性陽極Snめっき法においては、極めて
厳しい溶存酸素濃度の管理が実施されている。本発明者
らは、アルカンスルホン酸並びにアルカノールスルホン
酸系浴でも、フェノールスルホン酸浴と同様に、溶存酸
素濃度を管理することで、全不溶性陽極法での電気錫め
っきの製造について鋭意検討した結果、極く限られたア
ルカノールスルホン酸を、限られた条件で使用すれば、
錫スラッジの発生が抑制できることを見出した。
【0010】以下本発明の内容を詳しく説明する。先
ず、本発明に使用するアルカノールスルホン酸である
が、β位置に水酸基を有するアルカノールスルホン酸の
みが、Snスラッジ発生に対して抑制作用があり、それ
以外の位置に水酸基が存在した場合、Snスラッジの発
生に対して抑制効果を持たないことが判明した。このた
め、本発明では、β位置に水酸基を有するβアルカノー
ルスルホン酸を使用したSnめっき浴に限定した。β位
置に水酸基を有するβアルカノールスルホン酸の一般式
(Rはアルキル基)
【化2】 β位置に水酸基を有するβアルカノールスルホン酸が、
Snスラッジ発生の抑制に効果的である理由について本
発明者らは、鋭意検討した結果、アルカノールスルホン
酸のSn2+に対する錯形成能が大きく影響しており、β
位置の水酸基を持ったアルカノールスルホン酸のみが、
Sn2+との錯形成能が大きく、めっき浴中のSn2+を安
定化しているとの結論に到った。
【化3】 即ち、式(7)に示した如く、β位置に水酸基が存在す
る場合、β位置の水酸基とスルホン基との間で、アルカ
ノールスルホン酸とSn2+との錯化合物を形成し、Sn
2+を安定化していると考えられる。β位置に水酸基を有
するβアルカノールスルホン酸では、上記の錯化合物が
六員環を形成するために、錯化合物が非常に安定化し、
結果としてSn2+が安定となり、(4)式のSn2+の酸
化が抑制され、Snスラッジの発生が減少すると考えら
れる。
【0011】一方、β位置以外に水酸基がある場合、例
えばα位置に水酸基を持つアルカノールスルホン酸でも
同様に、α位置の水酸基とスルホン基との間でSn2+
錯化合物を形成するが、形成する錯化合物が五員環とな
るため、六員環となるβ位置に水酸基を持ったβアルカ
ノールスルホン酸に比べ錯化合物が不安定となり、Sn
2+が酸化し易いと考えられる。同様にγ位置、δ位置の
場合は、形成される錯化合物が、それぞれ七員環、八員
環となり、六員環の錯化合物に比べ不安定でSn2+の酸
化が抑制できないと考えられる。
【0012】本発明の目的に適合したβアルカノールス
ルホン酸としては、2ヒドロキシエタン−1−スルホン
酸、2ヒドロキシプロパン−1−スルホン酸、2ヒドロ
キシブタン−1−スルホン酸、2ヒドロキシペンタン−
1−スルホン酸等があり、これらのβアルカノールスル
ホン酸を単独で又は2種以上の混合物で使用できる。そ
の時のモル濃度は、(2種以上で使用する場合は、各々
のモル濃度の総和)下記の濃度範囲にあることが必要で
ある。
【0013】本発明は、全不溶性陽極で電気Snめっき
可能なアルカンスルホン酸系及びアルカノールスルホン
酸系錫めっき浴を提供するものであるが、以上の理由か
ら先ず、アルカンスルホン酸は不適当で、全不溶性陽極
で電気Snめっきが可能なのは、アルカノールスルホン
酸を使用した錫めっき浴であり、使用するアルカノール
スルホン酸は、β位置に水酸基を有するβアルカノール
スルホン酸であることが必須条件である。
【0014】次に、錫めっき浴中のSn2+イオン濃度、
並びにβアルカノールスルホン酸の濃度の限定理由につ
いて述べる。上記した通り、本発明の目的(全不溶性陽
極での電気錫めっきにおいてスラッジ発生を抑制する)
を達成するには、βアルカノールスルホン酸を使用し、
且つβアルカノールスルホン酸の濃度を、Sn2+イオン
濃度とのモル濃度比で1.4〜2.3とする必要があ
る。又、Sn2+イオンの濃度については、本発明では鋼
板に高速電気Snめっきが可能な15〜60g/lとし
た。
【0015】又、Sn2+イオン濃度が、15〜60g/
l(0.12〜0.50モル/l)であるのでβアルカ
ノールスルホン酸濃度は、0.16〜1.15モル/l
とする必要がある。Sn2+の濃度を15〜60g/lと
限定した理由は、従来のフェロスタン浴、並びにアルカ
ノールスルホン酸、アルカンスルホン酸系浴でのSn2+
の濃度限定理由とほぼ同じである。
【0016】即ち、Sn2+イオン濃度を15g/l以上
としたのは、この濃度未満では、20A/dm2 以上での
高電流密度での電気Snめっきが難しいためである。
又、上限を60g/lとしたのは、この濃度を超える
と、高電流密度操業の効果が飽和し、実用可能な高電流
密度の上限であり、これ以上のSn2+イオン濃度の上昇
は、鋼板によるめっき液の持ち出しによりSn2+イオン
の利用効率が悪化し、経済的に不利となるからである。
【0017】βアルカノールスルホン酸濃度とSn2+
オンとのモル濃度比率を1.4未満とした場合は、1.
4未満ではβアルカノールスルホン酸の錯形成が不十分
で、Snスラッジの発生が多い。図1に、βアルカノー
ルスルホン酸とSn2+イオンのモル濃度比率とSnスラ
ッジ発生量との関係を示したが、1.2程度から急速に
Snスラッジの発生は減少するが、本発明では、Snス
ラッジの発生が十分に抑制される濃度比1.4以上とし
た。
【0018】図1は、βアルカノールスルホン酸とし
て、2ヒドロキシプロパン−1−スルホン酸を用いたも
のであるが、2−ヒドロキシエタン−1−スルホン酸、
2−ヒドロキシブタン−1−スルホン酸、2−ヒドロキ
シペンタン−1−スルホン酸のときも、ほぼ同じSnス
ラッジ発生状況を示した。
【0019】尚、図1のSnスラッジ発生量は、1lビ
ーカー中で、50℃の1lのSnめっき浴に、空気(2
00ml/分,1.2気圧)をバブリングし、空気飽和の
状態で2時間経過した後に、発生したSnスラッジを濾
過し、100℃で24時間乾燥してSnスラッジ量を測
定したものである。
【0020】次に、βアルカノールスルホン酸とSn2+
イオンとのモル濃度比率の上限を、2.3とした理由に
ついて述べる。βアルカノールスルホン酸濃度が、Sn
2+イオン濃度に対して高くなると、浴の水素イオン濃度
が大きくなり、Snめっきの電流効率が低下する。この
傾向が顕著になるのが上記の濃度比が2.3を超えると
きであり、本発明では、実用性の上限と考えられるSn
めっき効率・85%以上が確保されるモル濃度比2.3
以下とした。
【0021】次に、光沢剤についてであるが、上記のβ
アルカノールスルホン酸のみでは、電気Snめっきのめ
っき状態は析出する結晶が粗大であり好ましくない。従
って、本めっき浴についても、一般的に電気Snめっき
と同様に、光沢剤を使用する必要がある。
【0022】光沢剤としては、種々界面活性剤が考えら
れるが、本発明では、(1),(2),(3)式に示し
たエトキシ・ナフトールスルホン酸、エトキシ・ナフト
ール、ポリエチレングリコールの1種又は2種以上が使
用でき、光沢剤濃度についても、通常のフェロスタン浴
で使用される濃度範囲である0.5〜10g/lでよ
い。
【0023】0.5g/l未満では、光沢剤としての効
果が得られず、めっきされたSnの粒子が粗大であり、
溶融処理しても美麗な電気ぶりきの鏡面光沢が得られな
いからであり、10g/lを超えても、その効果が飽和
するためである。
【0024】以上、本発明の骨子を再度整理すると、近
年、廃水処理が難しいことから高濃度のフェノールスル
ホン酸を使用するフェロスタン浴に代わって、廃水処理
の容易なアルカノールスルホン酸、又はアルカンスルホ
ン酸浴での電気Snめっきが多く使用されるようになっ
ている。しかし、これらのSnめっきはいずれも、金属
錫を陽極に使用する溶性陽極電気めっき法であり、種々
のアルカンスルホン酸、アルカノールスルホン酸浴が開
発され実用化されている。
【0025】しかし、これまでアルカノールスルホン
酸、又はアルカンスルホン酸系浴での全不溶性Snめっ
きは、従来のフェロスタン浴に対してSnスラッジの発
生が多く、従って、全不溶性陽極電気Snめっきができ
るアルカンスルホン酸、アルカノールスルホン酸系のS
nめっき浴は難しいとされていた。
【0026】本発明者らは、鋭意検討した結果、βアル
カノールスルホン酸を使用し、Sn2+イオン濃度に対し
てβアルカノールスルホン酸濃度を1.4〜2.3にす
ることで、全不溶性陽極で問題となるSnスラッジ発生
を抑制することが可能になり、アルカノールスルホン酸
浴での全不溶性陽極Snめっきが可能であることを見出
した。
【0027】以下、実施例に基づいて本発明の内容を詳
しく説明するが、本発明はこれら数例に限定されるもの
ではなく、前記した主旨、限定理由に沿ってめっき浴の
組成及びめっき条件は適宜変更できる。
【0028】
【実施例】通常の低炭素冷延鋼板、通常の脱脂(NaO
H 20g/l中で、10A/dm2 で1秒電解処理す
る)、酸洗処理(H2 SO4 50g/l中に1秒浸漬
する)した後、表1,表2に示した本発明例、並びに比
較例のSnめっき浴組成、並びにめっき条件でSnめっ
きする。Snめっき量は、5.0g/m2 とした。Sn
めっきは、全て流速2m/秒の循環セルめっき装置で行
った。
【0029】表3に、めっき品の品質並びにSnスラッ
ジの発生量について調査した結果を示した。めっき外観
光沢は、Snめっき後の鋼板を抵抗加熱装置により、2
50℃で2秒間溶融処理した後の光沢で判断した。評価
の基準は、現行のフェロスタン浴で製造した電気ぶりき
と同等以上の光沢を○とし、それ以外は×とした。
【0030】Snスラッジの発生の評価は、1lビーカ
ー中で、50℃のSnめっき浴に、空気(200l/
分,1.2気圧)をバブリングし空気飽和の条件で2時
間経過した後に、発生したSnスラッジを濾過し、10
0℃で24時間乾燥してSnスラッジ量を測定した。S
nスラッジ量の評価としては、同様の試験をした時の、
現行フェロスタン浴から発生するSnスラッジ量が、1
20〜150mg/lであったので、これ以下であれば全
不溶性陽極用のSnめっき浴として適当であると判断し
た。
【0031】
【表1】
【表2】
【表3】
【表4】
【表5】
【0032】
【発明の効果】本発明はSnスラッジ発生の少ないSn
めっき浴を使用することで、Snスラッジ発生によるS
nロスを削減できる他、浴撹拌の激しい高流速セルが使
用でき、高電流密度めっきが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】Snスラッジ発生量と、βアルカノールスルホ
ン酸(2ヒドロキシプロパノール−1−スルホン酸)と
Sn2+との濃度比との関係を示した図表である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C25D 1/00 - 7/08

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 β位置に水酸基を有するβアルカノール
    スルホン酸、及びSn2+とを含み、Sn2+の濃度を15
    〜60g/l、且つβアルカノールスルホン酸とSn2+
    とのモル濃度比率を1.4〜2.3とし、更に、光沢剤
    として下記式(1),(2),(3)で示される界面活
    性剤の1種又は2種以上を0.5〜10g/lを添加し
    たことを特徴とする不溶性陽極めっき法に適したSnス
    ラッジの発生が少ない酸性Snめっき浴。 【化1】
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