JP2955174B2 - 光磁気記録媒体用カートリッジ - Google Patents

光磁気記録媒体用カートリッジ

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JP2955174B2 JP5319898A JP31989893A JP2955174B2 JP 2955174 B2 JP2955174 B2 JP 2955174B2 JP 5319898 A JP5319898 A JP 5319898A JP 31989893 A JP31989893 A JP 31989893A JP 2955174 B2 JP2955174 B2 JP 2955174B2
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magnet
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    • G11B11/105Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
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    • G11B23/03Containers for flat record carriers

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光学的に情報の記録、再
生、消去の少なくとも一つを行う光磁気記録媒体用のカ
ートリッジに関し、特に、薄型のカートリッジに関す
【0002】
【従来の技術】光磁気記録方式とは、基板上に磁性体か
らなる垂直磁化膜を形成させたものを記録媒体とし、以
下の方法で記録、再生するものである。記録する際に
は、記録媒体をまず、強力な外部磁場等によって初期化
し、磁化の方向を1方向(上向き、または下向き)に揃
えておく。その後、記録したいエリアにレーザビームを
照射して、媒体部分の温度をキュリー点近傍以上、もし
くは補償点近傍以上に加熱し、その部分の保磁力
(Hc)をゼロ、又はほとんどゼロとした上で、初期化
の磁化の方向と逆向きの外部磁場(バイアス磁場)を印
加して磁化の向きを反転させる。レーザビームの照射を
止めると、記録媒体は常温に戻るので反転した磁化は固
定される。つまり、熱磁気的に情報が記録される。
【0003】再生の際には、直線偏光したレーザビーム
を記録媒体に照射し、その反射光や透過光の偏光面の回
転が磁化の向きに応じて回転する現象(磁気カー効果、
磁気ファラデー効果)を利用して光学的に情報の読み出
しを行う。
【0004】光磁気記録方式は、書き換え可能な大容量
記憶素子として注目されているが、その記録媒体を再使
用(書き換え)をするためには、次のいずれかの方法を
採る必要がある。 (a)何らかの方法で初期化する。 (b)外部磁場発生装置を工夫してオーバーライト(消
去が不要な書き換え)を可能にする。 (c)記録媒体を工夫してオーバーライトを可能にす
る。
【0005】しかし(a)の方法では、初期化装置、あ
るいは、ヘッドが2個必要になるので、コスト高を招
く。また、1個のヘッドで書き換えを行おうとすると、
消去してから記録するので時間がかかる。このため、
(c)の方法が最も有力である。例えば、Jap.Jo
ur.Appl.Phys.,Vol.28(198
9)Suppl.28−3,pp.367−370に
は、記録層を交換結合2層膜にすれば、オーバーライト
可能な記録媒体を実現できると記載されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】交換結合2層膜あるい
は交換結合3層膜を用いた光変調オーバーライトの場
合、垂直方向の初期化磁界が必要であり、従来の光磁気
記録装置で記録、消去を行うためには、カートリッジ内
に初期化磁界を発生する磁石を備える必要があった。
【0007】カートリッジ内に備える磁石は薄くする必
要があるが、垂直方向に磁化された磁石は、(垂直方向
に)薄くすると発生磁界が小さくなるため、特開平5−
120746号に開示されているように、2個の磁石を
媒体を挟んで対峙させ、カートリッジ全体あるいはカー
トリッジの一部を磁性体にしてヨークとして利用するこ
とにより、垂直方向の大きな初期化磁界を得ていた。こ
のため、光磁気記録媒体用カートリッジを薄くすること
が不可能であった。
【0008】さらに、初期化磁界の方向が一方向である
ため、両面ディスクには使えないという問題点があっ
た。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の光磁気記録媒
体用カートリッジは、初期化磁界と記録磁界とが印加さ
れることで情報が光変調オーバライト記録される光磁気
記録媒体を、搭載する光磁気記録媒体用カートリッジに
おいて、前記光磁気記録媒体に磁界を印加する、磁化の
方向が前記光磁気記録媒体と略平行な磁石を備えてお
り、該磁石は、前記光磁気記録媒体に集光されるレーザ
ービームスポット位置から離れて設置され、前記磁石の
真上において前記初期化磁界を、前記レーザビームスポ
ット位置において前記記録磁界を印加することを特徴と
する
【0010】請求項2の光磁気記録媒体用カートリッジ
は、初期化磁界と記録磁界とが印加されることで情報が
光変調オーバライト記録される光磁気記録媒体を、搭載
する光磁気記録媒体用カートリッジにおいて、前記光磁
気記録媒体を挟んで対向する位置に設けられた前記光磁
気記録媒体に磁界を印加する2個の磁石を備えており、
該2個の磁石は、磁化の方向が両方とも前記光磁気記録
媒体と略平行で、且つ、互いに反対を向いており、さら
に、該2個の磁石は、前記光磁気記録媒体に集光される
レーザービームスポット位置から離れて設置され、前記
磁石の真上において前記初期化磁界を、前記レーザビー
ムスポット位置において前記記録磁界を印加することを
特徴とする
【0011】請求項3の光磁気記録媒体用カートリッジ
は、光磁気記録媒体を搭載する光磁気記録媒体用カート
リッジにおいて、 前記光磁気記録媒体に磁界を印加す
る、磁化の方向が前記光磁気記録媒体と略平行な磁石
と、前記光磁気記録媒体を挟んで前記磁石と対向する位
置に設けられたヨークと、を備えたことを特徴とする
【0012】請求項4の光磁気記録媒体用カートリッジ
は、初期化磁界と記録磁界とが印加されることで情報が
光変調オーバライト記録される光磁気記録媒体を、搭載
する光磁気記録媒体用カートリッジにおいて、前記光磁
気記録媒体に対して同一側の位置に第1の方向に並んで
配置された、前記光磁気記録媒体に磁界を印加する2個
の磁石を備えており、該2個の磁石は、磁化の方向が両
方とも前記光磁気記録媒体と略平行で、且つ、第1の方
向に垂直な方向から見て互いに反対を向いており、さら
に、該2個の磁石は、前記光磁気記録媒体に集光される
レーザービームスポット位置から離れて設置され、前記
磁石の真上において前記初期化磁界を、前記レーザビー
ムスポット位置において前記記録磁界を印加することを
特徴とする
【0013】
【作用】請求項1の構成によれば、磁石を薄くしても発
生磁界は小さくならず、光磁気記録媒体用カートリッジ
を薄くすることが可能となる。また、磁石の位置を工夫
することにより、光磁気記録装置に記録磁界発生装置が
不要になる
【0014】請求項2の構成によれば、磁石をさらに薄
くしても発生磁界は小さくならない上に、光磁気記録媒
体用カートリッジからの漏れ磁界を小さくすることが可
能となる。また、磁石の位置を工夫することにより、光
磁気記録装置に記録磁界発生装置が不要になる。さら
に、両面タイプの光磁気記録媒体に対しても有用であ
【0015】請求項3の構成によれば、垂直磁界が得ら
れ易い上に、光磁気記録媒体用カートリッジからの漏れ
磁界を小さくすることができる
【0016】請求項4の構成によれば、磁石をさらに薄
くしても発生磁界は小さくならず、光磁気記録媒体用カ
ートリッジをさらに薄くすることが可能となる
【0017】
【実施例】まず、本発明の前提となる参考例1(第1実
施例)について図1〜図9に基づいて説明すれば、以下
のとおりである。本実施例に用いられる光磁気記録媒体
8は、図1に示すように、透光性基板1上に、透光性を
有する誘電体層2と、磁性層3(第1磁性層)と、磁性
層4(第2磁性層)と、保護層5と、オーバーコート層
6とを順次形成した構成になっている。上記磁性層3、
4は、希土類−遷移金属合金からなっている。
【0018】上記磁性層3は、図2に示すように、上記
磁性層4と比較して、低いキュリー点(Tc1)と、室温
で高い保磁力(Hc1)を有しており、室温からTc1まで
垂直磁気異方性が優位となる特性を示す。上記磁性層4
は、磁性層3のTc1よりも高いキュリー点(Tc2)と、
室温で磁性層3のHc1よりも低い保磁力(Hc2)を有し
ており、室温からTcまで垂直磁気異方性が優位となる
特性を示し、補償点(Tcomp2)を有する。
【0019】上記の構成において、記録を行う場合、ま
ず、初期化が行われる。すなわち、図3に示すように、
上向きの初期化磁界(Hinit)を印加することにより、
磁性層4の磁化だけを一方向に揃える。なお、図3で
は、希土類金属の副格子磁化が遷移金属の副格子磁化よ
りも大きい、いわゆる希土類金属リッチの磁性層4にお
ける、遷移金属の副格子磁化が矢印で示されている。上
記初期化は常時、あるいは、記録時にのみに行われる。
磁性層3のHc1はHinitより大きいため、磁性層3の磁
化の反転は生じない。
【0020】記録は、Hinitよりかなり小さくHinit
同一方向の記録磁界(Hw)を印加しながら、図4に示
すような高レベルIと低レベルIIに強度変調されたレー
ザ光を照射することにより行う。高レベルIのレーザ光
が照射されると、磁性層3・4がともにTc2付近または
それ以上となる温度(TH)まで昇温し、低レベルIIの
レーザ光が照射されると、Tc1付近またはそれ以上とな
る温度(TL)まで昇温するように、高レベルIと低レベ
ルIIとが設定されている。
【0021】従って、高レベルIのレーザ光が照射され
ると、磁性層4の磁化は、Hwにより上向きに反転し、
冷却の過程では、界面に作用する交換力により磁性層4
の向きが磁性層3に転写されることにより、磁性層3の
磁化の向きと磁性層4の向きが一致する。従って、磁性
層3の向きは上向きになる。一方、低レベルIのレーザ
光が照射されると、磁性層4の磁化は、Hw により反転
することはない。冷却の過程では、上記と同様に、界面
に作用する交換力により磁性層4の磁化の向きが、磁性
層3に転写されることにより、磁性層3の磁化の向きと
磁性層4の向きが一致する。従って、磁性層3の磁化の
向きは下向きになる。
【0022】つまり、高レベルIと低レベルIIのレーザ
光でオーバーライトが可能になる。情報を再生する場
合、記録時よりもかなり低いレベルIIIのレーザ光を照
射し、その反射光における偏光面の回転を検出してい
る。
【0023】以下、光磁気記録媒体の一例として、光磁
気ディスクのサンプルを示す。サンプル#1では、透光
性の基板1は、外径86mm、内径15mm、厚さ1.
2mmの円盤状のガラスからなっている。基板1の片側
の表面には、光ビーム案内用の凹凸状のガイドトラック
が反応性イオンエッチング法により直接形成されてい
る。トラックピッチは、1.6μm、グルーブ(凹部)
の幅は0.8μm、ランド(凸部)の幅は0.8μmで
あり、反応性イオンエッチング法により、ガラスに直接
形成された。
【0024】#1は、基板1のガイドトラック側の面上
に、反応性スパッタリングにより、膜厚70nmのAl
Nからなる誘電体層2と、Dy、Fe、Coターゲット
の同時スパッタリングにより膜厚50nmのDyFeC
oからなる磁性層3と、Gd、Dy、Fe、Coターゲ
ットの同時スパッタリングにより膜厚50nmのGdD
yFeCoからなる磁性層4と、膜厚70nmのAlN
からなる保護層5とを積層した。
【0025】磁性層3、4の成膜時のスパッタリング条
件は、到達真空度2.0×10-4Pa以下、Arガス圧
6.5×10-1Pa、放電電力300Wであり、誘電体
層2及び保護層5の成膜時のスパッタリング条件は、到
達真空度2.0×10-4Pa以下、N2ガス圧3.0×
10-1Pa、放電電力800Wである。更に、保護層5
の上にアクリレート系紫外線硬化樹脂をコーティング
し、紫外線照射により硬化させてオーバーコート層6を
形成した。磁性層3は、Dy0.19(Fe0.86Co0.14
0.81、遷移金属リッチ、TC1=170℃、室温でのHC1
=12kOe、磁性層4は、(Gd0.50Dy0.500.32
(Fe0.68Co0.320.68、希土類金属リッチ、TC2
250℃、室温でのHC2=1.5kOeである。
【0026】図9は、本発明の光磁気ディスク用カート
リッジの概要を説明するための図であるが、光磁気ディ
スク用カートリッジ9は、以上のような少なくとも2層
の磁性層から構成される光磁気ディスク8を収容する。
磁石10は、光磁気ディスク用カートリッジに内蔵され
ている磁石であり、光磁気記録媒体に対して水平に磁化
されている。
【0027】サンプル#1の光磁気ディスクに対して、
図9に示す光磁気ディスク用カートリッジを用いて、高
レベルIのレーザパワー(PH)=10mW、低レベルII
のレーザパワー(PL)=2mW、レベルIIIの再生レー
ザパワー(PR)=1mW、記録ビット長=0.65μ
m、記録磁界Hw=400Oeにて記録、再生を行ったと
ころ、消し残りのない光変調オーバーライトができ、信
号対雑音比(C/N)=46dBが得られた。
【0028】磁石10は、1.21T(テスラー)のN
d系永久磁石であり、その大きさが、幅(光磁気記録媒
体の半径方向)24mm×高さ2mm×長さ(光磁気記
録媒体の回転方向)10mmであり、光磁気記録媒体と
の実質距離(以下Gap)は1mmである。磁石10直
上で初期化され、対物レンズにより集光されたレーザビ
ームスポット位置で記録される。磁石10直上の発生磁
界は、Hinit=2.5kOe以上であった。
【0029】1.21Tの永久磁石を用いて、光磁気記
録媒体と光磁気ディスク用カートリッジの距離を1.8
mmに固定し、[磁石10の高さ]=[1.8mm]−
[Gap]にした場合の、発生磁界のGap依存性を図
8に示す。サンプル#1の初期化磁界が、Hinit=2.
5kOe以上であるので、高さ1.3mm以上の時、消
し残りのない光変調オーバーライトができ、信号対雑音
比(C/N)=46dBが得られた。
【0030】また、1.21Tの永久磁石を用いた場
合、磁石10が、表1に示すような大きさ(幅×高さ×
長さ)、Gapである場合、消し残りのない光変調オー
バーライトができ、信号対雑音比(C/N)=46dB
が得られた。
【0031】
【表1】
【0032】以下に他の光磁気ディスクのサンプルにつ
いて説明する。サンプル#2〜#5は、磁性層3を除い
て、サンプル#1と同一である。サンプル#2の磁性層
3は、Dy0.21(Fe0.84Co0.160.79、遷移金属リ
ッチ、TC1=170℃、室温でのHC1=15kOeであ
る。サンプル#3の磁性層3は、Dy0.23(Fe0.84
0.160.77、補償組成、TC1=150℃、室温でのH
C1≧20kOeである。サンプル#4の磁性層3は、D
0.23(Fe0.80Co0.200.77、補償組成、TC1=1
65℃、室温でのHC1≧20kOeである。サンプル#
5の磁性層3は、Dy0.19(Fe0.84Co0.160.81
遷移金属リッチ、TC1=200℃、室温でのHC1=8k
Oeである。サンプル#6〜#9は、磁性層4を除い
て、サンプル#1と同一である。
【0033】サンプル#6の磁性層4は、(Gd0.50
0.500.33(Fe0.68Co0.320.67、希土類金属リ
ッチ、TC2=240℃、室温でのHC2=1.2kOeで
ある。サンプル#7の磁性層4は、(Gd0.50
0.500.34(Fe0.68Co0.320.66、希土類金属リ
ッチ、TC2=220℃、室温でのHC2=1.1kOeで
ある。サンプル#8の磁性層4は、(Gd0.60
0.400.32(Fe0.70Co0.300. 68、希土類金属リ
ッチ、TC2=250℃、室温でのHC2=1.4kOeで
ある。サンプル#9の磁性層4は、(Gd0.70
0.300.32(Fe0.75Co0.250.68、希土類金属リ
ッチ、TC2=250℃、室温でのHC2=1.2kOeで
ある。
【0034】また、本実施例に用いられる光磁気記録媒
体8は、図5に示すように、透光性基板1上に、透光性
を有する誘電体層2と、磁性層3(第1磁性層)と、磁
性層7(第3磁性層)と、磁性層4(第2磁性層)と、
保護層5と、オーバーコート層6とを順次形成した構成
になっている。磁性層3、7、4は、希土類金属−遷移
金属合金からなっている。
【0035】磁性層7は、図6に示すように、磁性層3
のTc1よりも高いキュリー点(Tc3)と、室温で面内磁
気異方性と垂直磁気異方性がほぼ等しい特性を示し、ほ
ぼゼロの保磁力(Hc3 )を有しており、所定温度以上で
垂直磁気異方性が優位となる特性を示す。上記の構成に
おいて、記録を行う場合、まず、初期化が行われる。す
なわち、図7に示すように、上向きの初期化磁界(H
init)を印加することにより、磁性層4の磁化だけを一
方向に揃える。
【0036】上記初期化は常時、あるいは、記録時にの
みに行われる。磁性層3のHc1はHinitより大きく、磁
性層7は面内磁気異方性と垂直磁気異方性がほぼ等しい
特性を示すため、磁性層4の磁化の向きが磁性層7を通
して磁性層3に転写されることはなく、磁性層3の磁化
の反転は生じない。記録は、Hinitよりかなり小さくH
initと同一方向の記録磁界(Hw)を印加しながら、図
4に示すような高レベルIと低レベルIIに強度変調され
たレーザ光を照射することにより行う。
【0037】高レベルIのレーザ光が照射されると、磁
性層3、7、4がともにTc2付近またはそれ以上となる
温度(TH)まで昇温し、低レベルIIのレーザ光が照射
されると、Tc1付近またはそれ以上となる温度(TL
まで昇温するように、高レベルIと低レベルIIとが設定
されている。従って、図7に示すように、高レベルIの
レーザ光が照射されると、磁性層4の磁化は、Hwによ
り上向きに反転し、冷却の過程では、磁性層7も垂直磁
気異方性を示すので、界面に作用する交換力により磁性
層4の向きが磁性層7に転写され、さらに磁性層7の磁
化の向きが、磁性層3に転写されることにより、磁性層
3の磁化の向きと磁性層4の向きが一致する。従って、
磁性層3の向きは上向きになる。
【0038】一方、低レベルIIのレーザ光が照射される
と、磁性層4の磁化は、Hw により反転することはな
い。冷却の過程では、磁性層7は垂直磁気異方性を示す
ので、上記と同様に、界面に作用する交換力により磁性
層4の向きが磁性層7に転写され、さらに磁性層7の磁
化の向きが、磁性層3に転写されることにより、磁性層
3の磁化の向きと磁性層4の向きが一致する。従って、
磁性層3の磁化の向きは下向きになる。つまり、高レベ
ルIと低レベルIIのレーザ光でオーバーライトが可能に
なる。情報を再生する場合、記録時よりもかなり低いレ
ベルIIIのレーザ光を照射し、その反射光における偏光
面の回転を検出している。
【0039】以下、光磁気記録媒体の一例として、光磁
気ディスクのサンプルを示す。サンプル#10は、その
作成方法はサンプル#1と同じであり、磁性層3は、D
0.19(Fe0.86Co0.140.81、遷移金属リッチ、T
C1=170℃、室温でのHC1=12kOe、磁性層7
は、Gd0.28(Fe0.61Co0.390.72、希土類金属リ
ッチ、TC3≧300℃、TCOMP3=150℃、室温での
C3〜0kOe、約80℃で垂直磁気異方性が優位とな
る特性を示し、磁性層4は、(Gd0.50Dy0.500.32
(Fe0.68Co0.320.68、希土類金属リッチ、TC2
250℃、室温でのHC2=1.5kOeである。
【0040】サンプル#11〜#17は、磁性層7を除
いて、サンプル#10と同一である。サンプル#11の
磁性層7は、Gd0.26(Fe0.80Co0.200.74、希土
類金属リッチ、TC3≧300℃、TCOMP3=130℃、
室温でのHC3〜0kOe、約60℃で垂直磁気異方性を
示す。サンプル#12の磁性層7は、Gd0.27(Fe
0.80Co0.200.73、希土類金属リッチ、TC3=290
℃、TCOMP3=140℃、室温でのHC3〜0kOe、約
75℃で垂直磁気異方性を示す。
【0041】サンプル#13の磁性層7は、Gd
0.27(Fe0.60Co0.400.73、希土類金属リッチ、T
C3≧300℃、TCOMP3=140℃、室温でのHC3〜0
kOe、約80℃で垂直磁気異方性を示す。サンプル#
14の磁性層7は、Gd0.28(Fe0.80
0.200.72、希土類金属リッチ、TC3=280℃、T
COMP3=150℃、室温でのHC3〜0kOe、約80℃
で垂直磁気異方性を示す。サンプル#15の磁性層7
は、Gd0.28(Fe0.90Co0.100.72、希土類金属リ
ッチ、TC3=260℃、TCOMP3=150℃、室温での
C3〜0kOe、約80℃で垂直磁気異方性を示す。
【0042】サンプル#16の磁性層7は、Gd
0.28(Fe0.65Co0.350.72、希土類金属リッチ、T
C3≧300℃、TCOMP3=150℃、室温でのHC3〜0
kOe、約80℃で垂直磁気異方性を示す。サンプル#
17の磁性層7は、Gd0.29(Fe0.80
0.200.71、希土類金属リッチ、TC3=280℃、T
COMP3=170℃、室温でのHC3〜0kOe、約120
℃で垂直磁気異方性を示す。サンプル#18は、磁性層
7の膜厚が30nmである点を除いて、サンプル#11
と同一である。
【0043】上記サンプル#18に対しても、消し残り
のない光変調オーバーライトができた。また、磁性層7
の膜厚をサンプル#11の磁性層7の膜厚50nmより
薄くしたので、記録パルスのデューティーを40%にし
ても充分記録できた。サンプル#11の記録パルスのデ
ューティーが60%であったことを考慮すると、サンプ
ル#11よりも記録感度が向上した。さらに本実施例に
用いられる光磁気記録媒体8は、誘電体層2と磁性層3
との間に磁性層(第0磁性層)を設けた構造になってい
る。第0磁性層は、磁性層3よりも高いキュリー点(T
C0)を有し、室温での保磁力(HC0)がほぼゼロであ
り、室温で面内磁気異方性を示し、所定温度以上で垂直
磁気異方性を示す。
【0044】以下、光磁気記録媒体の一例として、光磁
気ディスクのサンプルを示す。光磁気ディスクのサンプ
ル#19は、前記サンプル#11の誘電体層2と磁性層
3との間に第0磁性層を50nm有しており、前記実施
例のサンプル#11の製法と同じ製法で作製された。
【0045】サンプル#19の第0磁性層は、Gd0.25
(Fe0.80Co0.200.75、希土類金属リッチ、TC0
300℃、補償点無し、室温でのHC0〜0kOe、約1
00℃で垂直磁気異方性を示す。上記サンプル#19の
光磁気ディスクに対しても、記録ビット長=0.65μ
mにて記録、再生を行ったところ、消し残りのない光変
調オーバーライトができ、信号対雑音比(C/N)=4
8dBが得られた。
【0046】サンプル#11の信号対雑音比(C/N)
=46dBであったことを考慮すると、サンプル#11
よりも信号品質が向上した。これは、TC0>TC1に設定
したので、カー回転角が大きくなったためと考えられ
る。また、記録ビット長が短くなると、サンプル#11
ではC/Nが急激に低下したが、サンプル#19ではC
/Nがあまり低下しなかった。これは、第0磁性層が室
温で面内磁気異方性を示し、レベルIIIの再生レーザパ
ワーのレーザ光を照射すると垂直磁気異方性を示すよう
になるので、短い記録ビットであっても、隣接記録ビッ
トからの影響を受けずに再生できるためと考えられる。
【0047】以上のサンプル#1〜#19の基板1とし
て、ガラスを用いたが、これ以外にも、化学強化された
ガラス、これらのガラス基板上に紫外線硬化型樹脂層を
形成した、いわゆる2P層付きガラス基板、ポリカーボ
ネート(PC)、ポリメチルメタクリレート(PMM
A)、アモルファスポリオレフィン(APO)、ポリス
チレン(PS)、ポリ塩化ビフェニール(PVC)、エ
ポキシ等の基板1を使用することが可能である。上記透
明誘電体層2のAlNの膜厚は、80nmに限定される
ものではない。
【0048】透明誘電体層2の膜厚は、光磁気ディスク
を再生する際、磁性層3あるいは第0磁性層からの極カ
ー回転角を光の干渉効果を利用して増大させる、いわゆ
るカー効果エンハンスメントを考慮して決定される。再
生時のC/Nをできるだけ大きくさせるには、極カー回
転角を大きくさせることが必要であり、このため透明誘
電体層2の膜厚は、極カー回転角が最も大きくなるよう
に設定される。
【0049】この膜厚は、再生光の波長、透明誘電体層
2の屈折率により変化する。 本実施例の場合は、AlN
の屈折率は2.0であるので、再生光の波長が680n
mの場合、透明誘電体層2のAlNの膜厚を30〜12
0nm程度にすると、カー効果エンハンスメントの効果
が大きくなる。尚、好ましくは透明誘電体層2のAlN
の膜厚は、70〜100nmであり、この範囲であれば
極カー回転角がほぼ最大になる。
【0050】また、再生光の波長が400nmの場合、
上記透明誘電体層2の膜厚を半分(=400/780)
にすれば良い。更に、材料の違い、あるいは、製法によ
り透明誘電体層2の屈折率が上記とは異なる場合、屈折
率と膜厚を乗じた値(光路長)が同じになるように、透明
誘電体層2の膜厚を設定すれば良い。上記の説明からわ
かるように、透明誘電体層2の屈折率は大きいほど、そ
の膜厚は少なくて済む。また屈折率が大きいほど、極カ
ー回転角のエンハンス効果も大きくなる。
【0051】AlNは、スパッタ時のスパッタガスであ
るArとN2の比率、ガス圧力等を変えることにより、
その屈折率が変わるが、おおむね1.8〜2.1程度と
屈折率が比較的大きな材料であり、透明誘電体層2の材
料として好適である。また、透明誘電体層2は上記のカ
ー効果エンハンスメントだけでなく、保護層6ととも
に、希土類金属−遷移金属合金磁性層3、4、7、8の
酸化を防止する役割がある。
【0052】希土類金属−遷移金属合金からなる磁性膜
は、非常に酸化されやすく、特に希土類金属が酸化され
やすい。このため外部からの酸素、水分侵入を極力防止
しなければ、酸化によりその特性が著しく劣化してしま
う。そのため、サンプル#1〜#19においては、磁性
層の両側をAlNで挟み込む形の構成を取っている。
AlNは、その成分に酸素を含まない窒化膜であり、非
常に耐湿性に優れた材料である。
【0053】更に、AlNは、Alターゲットを用い
て、N2ガスもしくはArとN2の混合ガスを導入して反
応性DC(直流電源)スパッタリングを行うことが可能
であり、RF(高周波)スパッタに比べて成膜速度が大き
い点でも有利である。磁性層のDyFeCoの組成、G
dFeCoの組成、GdDyFeCoの組成は、上記の
組成に限定されるものではない。磁性層の材料として、
Gd、Tb、Dy、Ho、Ndから選ばれた少なくとも
1種の希土類金属とFe、Coから選ばれた少なくとも
1種の遷移金属からなる合金を使用しても、同様の効果
が得られる。
【0054】上記材料に、Cr、V、Nb、Mn、B
e、Ni、Ti、Pt、Rh、Cuのうち少なくとも1
種類の元素を添加すると、磁性層自体の耐環境性が向上
する。すなわち、水分、酸素侵入による磁性層の酸化に
よる特性の劣化を少なくし、長期信頼性に優れた光磁気
ディスクを提供することができる。磁性層の膜厚は、磁
性層の材料、組成、膜厚との兼ね合いで決まるものであ
る。磁性層3の膜厚は、20nm以上、より好ましくは
30nm以上であり、あまり厚すぎると磁性層4の情報
が転写されなくなるので、100nm以下が好適であ
る。磁性層7の膜厚は、5nm以上、より好ましくは1
0〜50nmであり、あまり厚すぎると磁性層4の情報
が転写されなくなるので、100nm以下が好適であ
る。磁性層の膜厚は、20nm以上、より好ましくは3
0〜100nmであり、200nm以下が好適である。
【0055】なお、磁性層3のTC1が100℃未満の場
合、C/Nがデジタル記録再生で最低限必要とされてい
る45dBを下まわる。また、TC1が250℃を越える
場合、記録感度が悪くなる。このため、磁性層3のTC1
は100℃〜250℃が適当である。さらに、磁性層3
の室温でのHC1が5kOe未満の場合、Hinitにより一
部が初期化される恐れがある。このため、磁性層3の室
温でのHC1は5kOe以上が適当である。
【0056】さらに、磁性層7のTC3が磁性層3のTC1
未満の場合、光変調オーバーライト時に磁化の転写がう
まく行われない。このため、磁性層7のTC3はTC1以上
が適当である。磁性層4のTC2が150℃未満の場合、
LとPRとの差が小さくなるので、うまく光変調オーバ
ーライトが行われない。また、TC2が400℃を越える
場合、記録感度が悪くなる。このため、磁性層4のTC2
は150℃〜400℃が適当である。さらに、磁性層5
の室温でのHC2が3kOeを越える場合、Hinitの発生
装置が大型になり、好ましくない。このため、磁性層4
の室温でのHC2は3kOe以下が適当である。
【0057】保護層6のAlNの膜厚は、本実施例では
80nmとしたが、これに限定するものではない。保護
層6の膜厚の範囲としては、1〜200nmが好適であ
る。
【0058】本実施例においては、磁性層の総膜厚は1
00nm以上であり、この膜厚になると光ピックアップ
から入射した光はほとんど磁性層を透過しない。したが
って、保護層6の膜厚に特に制限はなく、磁性層の酸化
を長期に渡って防止するに必要な膜厚であれば良い。酸
化防止能力が低い材料であれば膜厚を厚く、高ければ薄
くすれば良い。
【0059】保護層6は、透明誘電体層2とともにその
熱伝導率が、光磁気ディスクの記録感度特性に影響を及
ぼす。記録感度特性とは、記録、あるいは消去に必要な
レーザパワーがどの程度必要かを意味する。光磁気ディ
スクに入射された光はそのほとんどが、透明誘電体層2
を通過し、吸収膜である磁性層に吸収されて、熱に変わ
る。このとき、磁性層の熱が透明誘電体層2、保護層6
に熱伝導により移動する。従って、透明誘電体層2、保
護層6の熱伝導率および熱容量(比熱)が記録感度に影
響を及ぼす。
【0060】このことは、光磁気ディスクの記録感度を
保護層6の膜厚である程度制御できるということを意味
し、例えば、記録感度を上げる(低いレーザパワーで記
録消去が行える)目的であれば保護層6の膜厚を薄くす
れば良い。通常は、レーザ寿命を延ばすため、記録感度
はある程度高い方が有利であり、保護層6の膜厚は薄い
方が良い。AlNはこの意味でも好適で、耐湿性に優れ
るので、保護層6として用いた場合、膜厚を薄くするこ
とができ、記録感度の高い光磁気ディスクを提供するこ
とができる。
【0061】本実施例では、保護層6を透明誘電体層2
と同じAlNとすることで、耐湿性に優れた光磁気ディ
スクを提供でき、かつ保護層6と透明誘電体層2を同じ
材料で形成することで、生産性も向上させることができ
る。
【0062】また透明誘電体層2、保護層6の材料とし
ては、AlN以外に、前述の目的、効果を考慮すれば、
SiN、AlSiN、AlTaN、SiAlON、Ti
N、TiON、BN、ZnS、TiO2、BaTiO3
SrTiO3が好適である。このうち特にSiN、Al
SiN、AlTaN、TiN、BN、ZnSは、その成
分に酸素を含まず、耐湿性に優れた光磁気ディスクを提
供することができる。またカートリッジ9の材料として
は、ポリカーボネイト樹脂、ABS樹脂等のプラスチッ
ク樹脂が使われるが、本発明の光磁気記録媒体用カート
リッジには、その内部に磁石が設置されているため、外
部に対して磁界が漏れないように、磁気シールドとなる
ような材料が添加されたり、磁気シールドとなるような
構造である方がより好ましい。
【0063】本発明の第2実施例について図10に基づ
いて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜
上、前記の実施例の図面に示した部材と同一の機能を有
する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略す
る。本実施例に用いられる光磁気記録媒体8は、前記実
施例のサンプル#1〜#19に示すような少なくとも2
層の磁性層から構成されている。
【0064】図10は、本発明の光磁気ディスク用カー
トリッジの概要を説明するための図であるが、光磁気デ
ィスク用カートリッジ9は、以上のような光磁気ディス
ク8を収容し、磁石10は、光磁気ディスク用カートリ
ッジに内蔵されている磁石であり、光磁気記録媒体に対
して水平に磁化されており、磁石10が、レーザビーム
スポットからある距離(以下Distance)離れて
設置されている。
【0065】サンプル#1の光磁気ディスクに対して、
図10に示す光磁気ディスク用カートリッジを用いて、
高レベルIのレーザパワー(PH)=10mW、低レベル
IIのレーザパワー(PL)=2mW、レベルIIIの再生レ
ーザパワー(PR)=1mW、記録ビット長=0.65
μmにて記録、再生を行ったところ、消し残りのない光
変調オーバーライトができ、信号対雑音比(C/N)=
46dBが得られた。磁石10は、1.21T(テスラ
ー)のNd系永久磁石であり、その大きさが、幅(光磁
気記録媒体の半径方向)24mm×高さ2mm×長さ
(光磁気記録媒体の回転方向)10mmであり、光磁気
記録媒体との実質距離(以下Gap)は1mmである。
磁石10直上で磁石10の磁界により初期化され、対物
レンズにより集光されたレーザビームスポット位置で磁
石10の磁界により記録される。磁石10直上の発生磁
界は、Hinit=2.5kOe以上であり、レーザビーム
スポット位置の発生磁界は、Hw=400Oeであっ
た。
【0066】なお、図10は、磁性層3が室温からキュ
リー点まで遷移金属リッチとなる特性を示し、磁性層4
が補償点をもち、室温から補償点まで希土類金属リッ
チ、補償点からキュリー点まで遷移金属リッチとなる特
性を示す場合を示しており、初期化磁界と記録磁界の方
向が同一であるため、光磁気ディスクの磁石10通過直
後(Distance離れた位置)で記録することで光
変調オーバーライトができる。
【0067】磁性層3が室温からキュリー点まで遷移金
属リッチとなる特性を示し、磁性層4が補償点をもた
ず、室温からキュリー点まで希土類金属リッチとなる特
性を示す場合には、初期化磁界と記録磁界の方向が異な
るため、光磁気ディスクの磁石10通過直前(Dist
ance離れた位置)記録することで光変調オーバーラ
イトができる。また、1.21Tの永久磁石を用いた場
合、磁石10が、表2に示すような大きさ(幅×高さ×
長さ)、Gap、Distanceである場合、消し残
りのない光変調オーバーライトができ、信号対雑音比
(C/N)=46dBが得られた。
【0068】さらに、第2実施例の場合、光磁気記録装
置に記録磁界発生装置が不要になるというメリットが生
じる。
【0069】
【表2】
【0070】本発明の前提となる参考例2(第3実施
例)について図11に基づいて説明すれば、以下の通り
である。なお、説明の便宜上、前記の実施例の図面に示
した部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を
付記し、その説明を省略する。本実施例に用いられる光
磁気記録媒体8は、前記実施例のサンプル#1〜#19
に示すような少なくとも2層の磁性層から構成されてい
る。
【0071】図11は、本発明の光磁気ディスク用カー
トリッジの概要を説明するための図であるが、光磁気デ
ィスク用カートリッジ9は、以上のような光磁気ディス
ク8を収容し、磁石10、11は、光磁気ディスク用カ
ートリッジに内蔵されている磁石であり、光磁気記録媒
体に対して水平に磁化され、対抗した位置に設置され
る。さらに磁石10と磁石11の磁化の向きは断面方向
から見ると逆方向になっている。
【0072】サンプル#1の光磁気ディスクに対して、
図11に示す光磁気ディスク用カートリッジを用いて、
高レベルIのレーザパワー(PH)=10mW、低レベル
IIのレーザパワー(PL)=2mW、レベルIIIの再生レ
ーザパワー(PR)=1mW、記録ビット長=0.65
μm、記録磁界Hw=400Oeにて記録、再生を行っ
たところ、消し残りのない光変調オーバーライトがで
き、信号対雑音比(C/N)=46dBが得られた。ま
た、サンプル#1〜#19の光磁気ディスクは、一般に
片面タイプと呼ばれる。透明誘電体層、磁性層、保護層
の薄膜部分を総じて記録媒体層と称することにすると、
片面タイプの光磁気ディスクは、基板1、記録媒体層、
オーバーコート層6の構造となる。
【0073】これに対して、基板1の上に記録媒体層を
形成したものを2枚、記録媒体層が対向するように接着
層で接着した光磁気ディスクは、両面タイプと呼ばれて
いる。接着層の材料はポリウレタンアクリレート系接着
剤が特に良い。この接着剤は紫外線、熱及び嫌気性の3
タイプの硬化機能が組み合わされたものであり、紫外線
が透過しない記録媒体の影になる部分の硬化が、熱及び
嫌気性硬化機能により硬化されるという利点を持ってお
り、極めて高い耐湿性を有し長期安定性に極めて優れた
光磁気ディスクを提供することができる。片面タイプ
は、両面タイプと比べて素子の厚みが半分で済むため、
例えば小型化が要求される記録再生装置に有利である。
両面タイプは、両面再生が可能なため、例えば大容量を
要求される記録再生装置に有利である。第3実施例はこ
のような両面タイプの光磁気ディスクに対しても有用で
ある。
【0074】磁石10、11は、1.21T(テスラ
ー)のNd系永久磁石であり、その大きさが、幅(光磁
気記録媒体の半径方向)24mm×高さ1mm×長さ
(光磁気記録媒体の回転方向)10mmであり、光磁気
記録媒体との実質距離(以下Gap)は1mmである。
磁石10、11直上で磁石10、11の磁界により初期
化される。磁石10、11直上の発生磁界は、Hinit
2.5kOe以上であった。第1実施例、第2実施例に
比べ、各磁石が薄くなっているのは、2個の磁石を備
え、それらの磁化の向きが断面方向から見ると逆方向で
あるために、図11に示すように磁力線がループ12を
描き、発生磁界が大きくなるためである。また、1.2
1Tの永久磁石を用いた場合、磁石10が、表3に示す
ような大きさ(幅×高さ×長さ)、Gapである場合、
消し残りのない光変調オーバーライトができ、信号対雑
音比(C/N)=46dBが得られた。
【0075】
【表3】
【0076】本発明の第4実施例について図12に基づ
いて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜
上、前記の実施例の図面に示した部材と同一の機能を有
する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略す
る。本実施例に用いられる光磁気記録媒体8は、前記実
施例のサンプル#1〜#19に示すような少なくとも2
層の磁性層から構成されている。
【0077】図12は、本発明の光磁気ディスク用カー
トリッジの概要を説明するための図であるが、光磁気デ
ィスク用カートリッジ9は、以上のような光磁気ディス
ク8を収容し、磁石10、11は、光磁気ディスク用カ
ートリッジに内蔵されている磁石であり、光磁気記録媒
体に対して水平に磁化され、対抗した位置に設置され
る。さらに磁石10と磁石11の磁化の向きは断面方向
から見ると逆方向になっており、レーザビームスポット
からある距離(以下Distance)離れて設置され
ている。
【0078】サンプル#1の光磁気ディスクに対して、
図12に示す光磁気ディスク用カートリッジを用いて、
高レベルIのレーザパワー(PH)=10mW、低レベル
IIのレーザパワー(PL)=2mW、レベルIIIの再生レ
ーザパワー(PR)=1mW、記録ビット長=0.65
μmにて記録、再生を行ったところ、消し残りのない光
変調オーバーライトができ、信号対雑音比(C/N)=
46dBが得られた。磁石10、11は、1.21T
(テスラー)のNd系永久磁石であり、その大きさが、
幅(光磁気記録媒体の半径方向)24mm×高さ1mm
×長さ(光磁気記録媒体の回転方向)10mmであり、
光磁気記録媒体との実質距離(以下Gap)は1mmで
ある。磁石10直上で磁石10の磁界により初期化さ
れ、対物レンズにより集光されたレーザビームスポット
位置で磁石10の磁界により記録される。磁石10直上
の発生磁界は、Hinit=2.5kOe以上であり、レー
ザビームスポット位置の発生磁界は、Hw=400Oe
であった。第1実施例、第2実施例に比べ、各磁石が薄
くなっているのは、2個の磁石を備え、それらの磁化の
向きが断面方向から見ると逆方向であるために、図12
に示すように磁力線がループ12を描き、発生磁界が大
きくなるためである。
【0079】なお、図12は、磁性層3が室温からキュ
リー点まで遷移金属リッチとなる特性を示し、磁性層4
が補償点をもち、室温から補償点まで希土類金属リッ
チ、補償点からキュリー点まで遷移金属リッチとなる特
性を示す場合を示しており、初期化磁界と記録磁界の方
向が同一であるため、光磁気ディスクの磁石10通過直
後(Distance離れた位置)で記録することで光
変調オーバーライトができる。
【0080】磁性層3が室温からキュリー点まで遷移金
属リッチとなる特性を示し、磁性層4が補償点をもた
ず、室温からキュリー点まで希土類金属リッチとなる特
性を示す場合には、初期化磁界と記録磁界の方向が異な
るため、光磁気ディスクの磁石10通過直前(Dist
ance離れた位置)記録することで光変調オーバーラ
イトができる。また、1.21Tの永久磁石を用いた場
合、磁石10が、表4に示すような大きさ(幅×高さ×
長さ)、Gap、Distanceである場合、消し残
りのない光変調オーバーライトができ、信号対雑音比
(C/N)=46dBが得られた。さらに、第4実施例
の場合、光磁気記録装置に記録磁界発生装置が不要にな
るというメリットが生じる。
【0081】
【表4】
【0082】本発明の第5実施例について図13に基づ
いて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜
上、前記の実施例の図面に示した部材と同一の機能を有
する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略す
る。本実施例に用いられる光磁気記録媒体8は、前記実
施例のサンプル#1〜#19に示すような少なくとも2
層の磁性層から構成されている。
【0083】図13は、本発明の光磁気ディスク用カー
トリッジの概要を説明するための図であるが、光磁気デ
ィスク用カートリッジ9は、以上のような光磁気ディス
ク8を収容し、磁石10は、光磁気ディスク用カートリ
ッジに内蔵されている磁石であり、光磁気記録媒体に対
して水平に磁化されている。13は軟磁性材料からなる
ヨークであり、磁石10と対抗した位置に設置される。
【0084】サンプル#1の光磁気ディスクに対して、
図13に示す光磁気ディスク用カートリッジを用いて、
高レベルIのレーザパワー(PH)=10mW、低レベル
IIのレーザパワー(PL)=2mW、レベルIIIの再生レ
ーザパワー(PR)=1mW、記録ビット長=0.65
μm、記録磁界Hw=400Oeにて記録、再生を行っ
たところ、消し残りのない光変調オーバーライトがで
き、信号対雑音比(C/N)=46dBが得られた。
【0085】磁石10は、1.21T(テスラー)のN
d系永久磁石であり、その大きさが、幅(光磁気記録媒
体の半径方向)24mm×高さ1.6mm×長さ(光磁
気記録媒体の回転方向)10mmであり、光磁気記録媒
体との実質距離(以下Gap)は1mmである。ヨーク
13は、センダストからなる軟磁性材料であり、その大
きさが、幅(光磁気記録媒体の半径方向)24mm×高
さ1mm×長さ(光磁気記録媒体の回転方向)10mm
である。磁石10、11直上で磁石10、11の磁界に
より初期化される。磁石10直上の発生磁界は、Hinit
=2.5kOe以上であった。第1実施例、第2実施例
に比べ、図13に示すように磁力線がループ12を描く
ため、発生磁界の垂直成分が得られやすく、光変調オー
バーライトがスムーズに行われる。
【0086】また、1.21Tの永久磁石を用いた場
合、磁石10が、表5に示すような大きさ(幅×高さ×
長さ)、Gapである場合、消し残りのない光変調オー
バーライトができ、信号対雑音比(C/N)=46dB
が得られた。さらに、磁石10、ヨーク13を、第2実
施例、第4実施例のように配置すれば、光磁気記録装置
に記録磁界発生装置が不要になるというメリットが生じ
る。
【0087】
【表5】
【0088】本発明の第6実施例について図14に基づ
いて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜
上、前記の実施例の図面に示した部材と同一の機能を有
する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略す
る。本実施例に用いられる光磁気記録媒体8は、前記実
施例のサンプル#1〜#19に示すような少なくとも2
層の磁性層から構成されている。
【0089】図14は、本発明の光磁気ディスク用カー
トリッジの概要を説明するための図であるが、光磁気デ
ィスク用カートリッジ9は、以上のような光磁気ディス
ク8を収容し、磁石10、14は、光磁気ディスク用カ
ートリッジに内蔵されている磁石であり、光磁気記録媒
体に対して水平に磁化され、光磁気ディスクに対して同
一側の位置に第1の方向に並んで設置される。さらに磁
石10と磁石14の磁化の向きは断面方向から見ると
(第1の方向に垂直な方向から見ると)逆方向になって
おり、レーザビームスポットからある距離(以下Dis
tance)離れて設置されている。
【0090】サンプル#1の光磁気ディスクに対して、
図14に示す光磁気ディスク用カートリッジを用いて、
高レベルIのレーザパワー(PH)=10mW、低レベル
IIのレーザパワー(PL)=2mW、レベルIIIの再生レ
ーザパワー(PR)=1mW、記録ビット長=0.65
μmにて記録、再生を行ったところ、消し残りのない光
変調オーバーライトができ、信号対雑音比(C/N)=
46dBが得られた。
【0091】磁石10、14は、1.21T(テスラ
ー)のNd系永久磁石であり、その大きさが、幅(光磁
気記録媒体の半径方向)24mm×高さ1mm×長さ
(光磁気記録媒体の回転方向)10mmであり、光磁気
記録媒体との実質距離(以下Gap)は1mmである。
磁石10直上で磁石10の磁界により初期化され、対物
レンズにより集光されたレーザビームスポット位置で磁
石10の磁界により記録される。磁石10直上の発生磁
界は、Hinit=2.5kOe以上であり、レーザビーム
スポット位置の発生磁界は、Hw=400Oeであっ
た。第1実施例、第2実施例に比べ、各磁石が薄くなっ
ているのは、2個の磁石を備え、それらの磁化の向きが
断面方向から見ると逆方向であるために、図12に示す
ように磁力線がループ12を描き、発生磁界が大きくな
るためである。
【0092】なお、図14は、磁性層3が室温からキュ
リー点まで遷移金属リッチとなる特性を示し、磁性層4
が補償点をもち、室温から補償点まで希土類金属リッ
チ、補償点からキュリー点まで遷移金属リッチとなる特
性を示す場合を示しており、初期化磁界と記録磁界の方
向が同一であるため、光変調オーバーライトができる。
また、1.21Tの永久磁石を用いた場合、磁石10
が、表6に示すような大きさ(幅×高さ×長さ)、Ga
p、Distanceである場合、消し残りのない光変
調オーバーライトができ、信号対雑音比(C/N)=4
6dBが得られた。さらに、図には示していないが、第
3実施例、第4実施例のように、光磁気ディスクを挟ん
で対抗した位置に2個の磁石(合計4個の磁石)を配置
してもよい。第6実施例は、光磁気記録装置に記録磁界
発生装置が不要になるというメリットが生じる。
【0093】
【表6】
【0094】以上の実施例に用いられる光磁気記録媒体
8は、少なくとも2層の磁性層から構成された光変調オ
ーバーライト媒体を説明したが、第2実施例、第4実施
例、6実施例のように、光磁気ディスク用カートリッジ
に内蔵されている磁石が、光磁気記録媒体に対して水平
に磁化され、さらにレーザビームスポットからある距離
(以下Distance)離れて設置されている場合に
は、光磁気記録装置に記録磁界発生装置が不要になり、
室温での保磁力の大きい磁性層をもった単層媒体にも有
用である。
【0095】
【発明の効果】請求項1の構成によれば、磁石を薄くし
ても発生磁界は小さくならず、光磁気記録媒体用カート
リッジを薄くすることが可能となるという効果を奏す
る。また、磁石の位置を工夫することにより、光磁気記
録装置に記録磁界発生装置が不要になるという効果を奏
する
【0096】請求項2の構成によれば、磁石をさらに薄
くしても発生磁界は小さくならない上に、光磁気記録媒
体用カートリッジからの漏れ磁界を小さくすることが可
能となるという効果を奏する。また、磁石の位置を工夫
することにより、光磁気記録装置に記録磁界発生装置が
不要になる。さらに、両面タイプの光磁気記録媒体に対
しても有用であるという効果を奏する
【0097】請求項3の構成によれば、垂直磁界が得ら
れ易い上に、光磁気記録媒体用カートリッジからの漏れ
磁界を小さくすることが可能となるという効果を奏す
【0098】請求項4の構成によれば、磁石をさらに薄
くしても発生磁界は小さくならず、光磁気記録媒体用カ
ートリッジをさらに薄くすることが可能となるという効
果を奏する
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に用いられる光磁気ディス
クの概略の構成を示す断面図である。
【図2】図1の光磁気ディスクにおける各磁性層の保磁
力の温度依存性を示す説明図である。
【図3】図1の光磁気ディスクにおける記録プロセスを
示す説明図である。
【図4】本発明の光磁気ディスクに照射されるレーザ光
の強度を示す説明図である。
【図5】本発明の第1実施例に用いられる別の光磁気デ
ィスクの概略の構成を示す断面図である。
【図6】図5の光磁気ディスクにおける各磁性層の保磁
力の温度依存性を示す説明図である。
【図7】図5の光磁気ディスクにおける記録プロセスを
示す説明図である。
【図8】本発明の第1実施例に用いられる磁石の発生磁
界とGapの関係を示す図である。
【図9】本発明の第1実施例の光磁気ディスク用カート
リッジの概略の構成を示す説明図である。
【図10】本発明の第2実施例の光磁気ディスク用カー
トリッジの概略の構成を示す説明図である。
【図11】本発明の第3実施例の光磁気ディスク用カー
トリッジの概略の構成を示す説明図である。
【図12】本発明の第4実施例の光磁気ディスク用カー
トリッジの概略の構成を示す説明図である。
【図13】本発明の第5実施例の光磁気ディスク用カー
トリッジの概略の構成を示す説明図である。
【図14】本発明の第6実施例の光磁気ディスク用カー
トリッジの概略の構成を示す説明図である。
【図15】従来の光磁気ディスク用カートリッジの概略
の構成を示す説明図である。
【符号の説明】
1 基板 2 誘電体層 3 第1磁性層 4 第2磁性層 5 保護層 6 オーバーコート層 7 第3磁性層 8 光磁気ディスク 9 光磁気ディスク用カートリッジ 10、11、14 磁石 12 磁力線 13 ヨーク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 明 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (72)発明者 太田 賢司 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (56)参考文献 特開 昭64−46247(JP,A) 特開 平3−19102(JP,A) 特開 平4−255948(JP,A) 特開 昭60−98503(JP,A) 特開 平7−130027(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G11B 11/10

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】初期化磁界と記録磁界とが印加されること
    で情報が光変調オーバライト記録される光磁気記録媒体
    を、搭載する光磁気記録媒体用カートリッジにおいて、 前記光磁気記録媒体に磁界を印加する、磁化の方向が前
    記光磁気記録媒体と略平行な磁石を備えており、 該磁石は、前記光磁気記録媒体に集光されるレーザービ
    ームスポット位置から離れて設置され、前記磁石の真上
    において前記初期化磁界を、前記レーザビームスポット
    位置において前記記録磁界を印加することを特徴とする
    光磁気記録媒体用カートリッジ
  2. 【請求項2】初期化磁界と記録磁界とが印加されること
    で情報が光変調オーバライト記録される光磁気記録媒体
    を、搭載する光磁気記録媒体用カートリッジにおいて、 前記光磁気記録媒体を挟んで対向する位置に設けられた
    前記光磁気記録媒体に磁界を印加する2個の磁石を備え
    ており該2個の磁石は、磁化の方向が両方とも前記光磁気記録
    媒体と略平行で、且つ、互いに反対を向いており、さら
    に、該2個の磁石は、前記光磁気記録媒体に集光される
    レーザービームスポット位置から離れて設置され、前記
    磁石の真上において前記初期化磁界を、前記レーザビー
    ムスポット位置において前記記録磁界を印加することを
    特徴とする光磁気記録媒体用カートリッジ
  3. 【請求項3】光磁気記録媒体を搭載する光磁気記録媒体
    用カートリッジにおいて、 前記光磁気記録媒体に磁界を印加する、磁化の方向が前
    記光磁気記録媒体と略平行な磁石と、 前記光磁気記録媒体を挟んで前記磁石と対向する位置に
    設けられたヨークと、を備えたことを特徴とする光磁気
    記録媒体用カートリッジ。
  4. 【請求項4】初期化磁界と記録磁界とが印加されること
    で情報が光変調オーバライト記録される光磁気記録媒体
    を、搭載する光磁気記録媒体用カートリッジにおいて、 前記光磁気記録媒体に対して同一側の位置に第1の方向
    に並んで配置された、前記光磁気記録媒体に磁界を印加
    する2個の磁石を備えており該2個の磁石は、磁化の方向が両方とも前記光磁気記録
    媒体と略平行で、且つ、第1の方向に垂直な方向から見
    て互いに反対を向いており、さらに、該2個の磁石は、
    前記光磁気記録媒体に集光されるレーザービームスポッ
    ト位置から離れて設置され、前記磁石の真上において前
    記初期化磁界を、前記レーザビームスポット位置におい
    て前記記録磁界を印加することを特徴とする光磁気記録
    媒体用カートリッジ
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JPH07176091A (ja) 1995-07-14
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DE4445430C2 (de) 1996-08-14

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