JP2912128B2 - キャピラリおよびリードフレームならびにそれらを用いたワイヤボンディング方法 - Google Patents

キャピラリおよびリードフレームならびにそれらを用いたワイヤボンディング方法

Info

Publication number
JP2912128B2
JP2912128B2 JP5199836A JP19983693A JP2912128B2 JP 2912128 B2 JP2912128 B2 JP 2912128B2 JP 5199836 A JP5199836 A JP 5199836A JP 19983693 A JP19983693 A JP 19983693A JP 2912128 B2 JP2912128 B2 JP 2912128B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wire
capillary
lead frame
bonding
lead
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP5199836A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0758140A (ja
Inventor
善宏 小野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP5199836A priority Critical patent/JP2912128B2/ja
Publication of JPH0758140A publication Critical patent/JPH0758140A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2912128B2 publication Critical patent/JP2912128B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/7825Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/783Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/78301Capillary
    • H01L2224/78302Shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/8512Aligning
    • H01L2224/85148Aligning involving movement of a part of the bonding apparatus
    • H01L2224/85169Aligning involving movement of a part of the bonding apparatus being the upper part of the bonding apparatus, i.e. bonding head, e.g. capillary or wedge
    • H01L2224/8518Translational movements
    • H01L2224/85181Translational movements connecting first on the semiconductor or solid-state body, i.e. on-chip, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/852Applying energy for connecting
    • H01L2224/85201Compression bonding
    • H01L2224/85205Ultrasonic bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はワイヤボンディング技
術、特に、金ワイヤに絶縁性の樹脂を施した被覆ワイヤ
を用いたワイヤボンディング技術に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体素子の高密度化に伴い、従来のワ
イヤボンディングに使用されてきた金ワイヤに代わり、
金ワイヤに絶縁性の樹脂を施した被覆ワイヤが開発され
ている。被覆ワイヤを用いたワイヤボンディングは、隣
接するワイヤ間のショート,ワイヤと半導体素子あるい
はタブとのショート等のボンディング不良が避けられる
ので、クロスボンディング,オーバーリード,長ルー
プ,低ループ等の適用が容易となり高密度実装に有利で
ある。
【0003】この種の技術について記載されている例と
しては、特開平2−112249号公報がある。上記公
報に記載された技術によれば、第2ボンディング地点近
傍に形成された凹凸面によって被覆膜を破壊・除去した
後に第2ボンディングを行うことによって、第2ボンデ
ィングにおけるボンディング安定性の向上を図ってい
る。 従来のキャピラリの形状について図面を参照して
詳細に説明する。従来のキャピラリの先端面のワイヤ導
出孔の形状は三種類に大別される。
【0004】図6(a) 〜(c) は、従来のキャピラリの先
端面のワイヤ導出孔の形状を示す断面図である。図6
(a) 〜(c) に示すキャピラリ4,キャピラリ5,キャピ
ラリ6の材質はセラミクスあるいはルビーであり、先端
面のワイヤ導出孔の形状は次に示す通りである。図6
(a) に示すキャピラリ4はワイヤ導出孔4aが面取りさ
れている。図6(b) に示すキャピラリ5はワイヤ導出孔
5aが二段面取りされている。図6(c) に示すキャピラ
リ6はワイヤ導出孔6aがR面取りされている。続い
て、従来のリードフレームについて図面を参照して詳細
に説明する。
【0005】図7は従来のリードフレームの一例を示す
斜視図である。図7に示すリードフレーム7は、半導体
素子8を搭載するアイランド7aと、半導体素子8の入
出力端子と接続するインナーリード7bと、外部と接続
するアウターリード7cおよびインナーリード7bとア
ウターリード7cを接続するタイバ7dとを含んでい
る。
【0006】図8は図7のインナーリード7bの先端部
の詳細を示す斜視図であり、インナーリード7bの先端
部は表面が滑らかである。
【0007】次に、上記キャピラリ4およびリードフレ
ーム7を用いた従来のワイヤボンディング方法による被
覆ワイヤ1を用いたワイヤボンディングついて図面を参
照して詳細に説明する。
【0008】図9(a) 〜(f) は、従来のワイヤボンディ
ング方法による被覆ワイヤ1を用いたワイヤボンディン
グの一動作例を説明するための動作工程図である。第1
に、キャピラリ4先端に送り出された被覆ワイヤ1に対
してトーチロッド10より電気火花を飛ばして被覆ワイ
ヤ1先端にボールを形成する。〔(図9(a)〕 第2に、ワイヤカットクランパ9を開いた後キャピラリ
4を下降させ、半導体素子8上の入出力端子端子に超音
波振動の印加とともに形成ボールを押圧することにより
第1ボンディングを行う。〔(図9(b)〕 第3に、キャピラリ4先端より被覆ワイヤ1を導出させ
ながら、被覆ワイヤ1がループ形状を描くようにしてイ
ンナーリード7b上の第2ボンディング地点まで移動さ
せる。〔(図9(c)〕 第4に、キャピラリ4をインナーリード7b上の第2ボ
ンディング地点に着地させ、超音波の印加および押圧力
によりインナーリード7bの表面と接する部分の被覆膜
を破壊・除去して金属線の露出ならびに第2ボンディン
グを行う。〔(図9(d)〕 第5に、キャピラリ4をワイヤ送り出し量まで上昇させ
たところでワイヤカットクランパ9を閉じる。〔(図9
(e)〕 第6に、更にキャピラリ4を上昇させて被覆ワイヤ1を
接合部分から切断し、被覆ワイヤ1をキャピラリ4先端
に送り出す。 以上の動作を繰り返すことによりワイヤ
ボンディングを行う。〔(図9(f)〕
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のワイヤ
ボンディング方法による被覆ワイヤを用いたワイヤボン
ディングは、第2ボンディングにおいてワイヤとインナ
ーリードの接合面の間に残留した被覆により、電気的お
よび機械的接合強度が損なわれるという問題があった。
また、接合面積を増して残留被覆の影響を弱めるため
超音波出力を高めると、接合部分におけるワイヤ強度が
損なわれてワイヤ切断が不正確となり、これによってワ
イヤ送り出し量不安定によるボール形成不良に起因した
ボンディング不良を引き起こすという問題点があった。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、本発明のワイヤボンディング方法は、半導体素子
上の外部端子とリードフレームのインナーリードとを被
覆ワイヤで接続するワイヤボンディング方法において、
被覆ワイヤが導出される先端面に該被覆ワイヤの導出孔
を中心に円周状の凹面を備えたキャピラリあるいはイン
ナーリード上の被覆ワイヤとの接続位置に円形の凹部を
備えたリードフレームによって、被覆ワイヤをリードフ
レームのインナーリードに接続するものである。本発明
のワイヤボンディング方法において使用されるキャピラ
リは、ワイヤが導出される先端面にワイヤの導出孔を中
心に円周状の凹部を備えものである。また、本発明のワ
イヤボンディング方法において使用されるリードフレー
ムは、ワイヤが接続されるリードフレームのインナーリ
ード上の接続位置に円形の凹部を備えるものである。
【0010】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して詳細に
説明する。
【0011】図1は本発明の第1の実施例を示すキャピ
ラリ先端部斜視図である。図1に示すキャピラリ2はセ
ラミクスあるいはルビーにて形成され、ワイヤが導出さ
れる先端面にワイヤ導出孔2aを中心に円周状の凹型形
状2bを有する。凹型形状2bにおける寸法は、ワイヤ
直径に対して15%〜30%の深さを有しキャピラリ2
のワイヤ導出孔2a直径に対して115%〜130%の
直径を有する。次に、図1に示すキャピラリ2による被
覆ワイヤ1を用いたワイヤボンディング方法について図
面を参照して詳細に説明する。
【0012】図2は第1の実施例のキャピラリ2による
第2ボンディング接合時における接合部断面図である。
図2に示す第2ボンディングの接合部は、キャピラリ2
の先端面における凹型形状2bにより、接合部の内部側
のワイヤ厚さが厚くなってワイヤ強度を確保することが
出来る。このため、超音波出力を高めても接合部のワイ
ヤ強度を確保することが出来るため、接合強度を確保す
ることが出来ると共に、ワイヤ送り出し量を安定化出来
るためボール形成に起因したボンディング不良を防ぐこ
とが出来る。
【0013】図3は本発明の第2の実施例であるリード
フレームを示す斜視図である。図3に示すリードフレー
ム3は、半導体素子8を搭載するアイランド3aと、半
導体素子8の入出力端子と接続するインナーリード3b
と、インナーリード3b先端の第2ボンディング地点に
形成された円形の凹型形状3eと、外部と接続するアウ
ターリード3cおよびインナーリード3bとアウターリ
ード3cを接続するタイバ3dとを含んでいる。凹型形
状3eにおける寸法は、ワイヤ直径に対して15%〜3
0%の深さを有しキャピラリ4のワイヤ導出孔4a直径
に対して115%〜130%の直径を有することを含ん
でいる。
【0014】図4は図3のインナーリード3bの先端部
の詳細を示す斜視図である。インナーリード3b先端の
第2ボンディング地点は円形の凹型形状3eを含んでい
る。凹型形状3eは、凹凸を有する型を押し付けるか、
あるいはエッチング処理によって形成する。次に、図3
に示すリードフレーム3による被覆ワイヤ1を用いたワ
イヤボンディング方法について図面を参照して詳細に説
明する。
【0015】図5は本発明のリードフレーム3による第
2ボンディング接合時における接合部断面図である。図
5に示す第2ボンディングの接合部は、リードフレーム
3のインナーリード3b先端の第2ボンディング地点に
おける凹型形状3eにより、接合部の内部側のワイヤ厚
さが厚くなってワイヤ強度を確保することが出来る。こ
のため、超音波出力を高めても接合部のワイヤ強度を確
保することが出来るため、接合強度を確保することが出
来ると共に、ワイヤ送り出し量を安定化出来るためボー
ル形成に起因したボンディング不良を防ぐことが出来
る。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のワイヤボ
ンディング方法は、被覆ワイヤをリードフレームのイン
ナーリードに接続する第2ボンディングの際に、接続面
に対して凹面を備えたキャピラリまたはリードフレーム
によって接続するため、超音波出力を高めても凹面部分
においてワイヤ強度を確保することが出来るため、接合
強度を確保することが出来ると共に、ワイヤ送り出し量
を安定化出来るためボール形成に起因したボンディング
不良を防ぐことが出来るという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す斜視図である。
【図2】図1に示すキャピラリによる第2ボンディング
接合時における接合部断面図である。
【図3】本発明の第2の実施例であるリードフレームを
示す斜視図である。
【図4】図3のインナーリードの先端部の詳細を示す斜
視図である。
【図5】図3に示すリードフレームによる第2ボンディ
ング接合時における接合部断面図である。
【図6】(a)〜(c)は従来のキャピラリの先端面の
ワイヤ導出孔の形状を示す断面図である。
【図7】従来のリードフレームの一例を示す斜視図であ
る。
【図8】図7のインナーリードの先端部の詳細を示す斜
視図である。
【図9】(a)〜(f)は従来のワイヤボンディング方
法による被覆ワイヤを用いたワイヤボンディングの一動
作例を説明するための動作工程図である。
【符号の説明】
1 被覆ワイヤ 2 キャピラリ 2a ワイヤ導出孔 2b 凹型形状 3 リードフレーム 3a アイランド 3b インナーリード 3c アウターリード 3d タイバ 3e 凹型形状 4 キャピラリ 4a ワイヤ導出孔 5 キャピラリ 5a ワイヤ導出孔 6 キャピラリ 6a ワイヤ導出孔 7 リードフレーム 7a アイランド 7b インナーリード 7c アウターリード 7d タイバ 8 半導体素子 9 ワイヤカットクランパ 10 トーチロッド

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体素子上の外部端子とリードフレー
    ムのインナーリードを被覆ワイヤで接続するワイヤボン
    ディング方法において、被覆ワイヤが導出される先端面
    に該被覆ワイヤの導出孔を中心に円周状の凹面を備えた
    キャピラリあるいは前記インナーリード上の前記被覆ワ
    イヤとの接続位置に円形の凹部を備えたリードフレーム
    によって、被覆ワイヤをリードフレームのインナーリー
    ドに接続することを特徴とするワイヤボンディング方
    法。
  2. 【請求項2】 半導体素子上の外部端子とリードフレー
    ムのインナーリードとをワイヤで接続するワイヤボンデ
    ィングにおいて使用されるキャピラリにおいて、ワイヤ
    が導出される先端面にワイヤの導出孔を中心に円周状の
    凹部を備えることを特徴とするキャピラリ。
  3. 【請求項3】 ワイヤボンディングにて半導体素子と接
    続されるリードフレームにおいて、ワイヤが接続される
    リードフレームのインナーリード上の接続位置に円形の
    凹部を備えることを特徴とするリードフレーム。
  4. 【請求項4】 前記凹部は、ワイヤの直径に対して15
    %〜30%の深さを有しキャピラリのワイヤ導出孔直径
    に対して115%〜130%の直径を有する円形孔であ
    ることを特徴とする請求項2記載のキャピラリ。
  5. 【請求項5】 前記凹部は、ワイヤ直径に対して15%
    〜30%の深さを有しキャピラリのワイヤ導出孔直径に
    対して115%〜130%の直径を有する円形孔である
    ことを特徴とする請求項3記載のリードフレーム。
JP5199836A 1993-08-12 1993-08-12 キャピラリおよびリードフレームならびにそれらを用いたワイヤボンディング方法 Expired - Lifetime JP2912128B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5199836A JP2912128B2 (ja) 1993-08-12 1993-08-12 キャピラリおよびリードフレームならびにそれらを用いたワイヤボンディング方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5199836A JP2912128B2 (ja) 1993-08-12 1993-08-12 キャピラリおよびリードフレームならびにそれらを用いたワイヤボンディング方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0758140A JPH0758140A (ja) 1995-03-03
JP2912128B2 true JP2912128B2 (ja) 1999-06-28

Family

ID=16414456

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5199836A Expired - Lifetime JP2912128B2 (ja) 1993-08-12 1993-08-12 キャピラリおよびリードフレームならびにそれらを用いたワイヤボンディング方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2912128B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11297450A (ja) * 1998-04-08 1999-10-29 Nippon Abs Ltd 端子のボンディング面の保護方法および電子機器ハウジング
JP6126144B2 (ja) * 2014-06-30 2017-05-10 Toto株式会社 ボンディングキャピラリ

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02137342A (ja) * 1988-11-18 1990-05-25 Hitachi Ltd キャピラリおよびそれを用いたワイヤボンディング方法およびワイヤボンディング装置ならびにそれによって製造される樹脂モールド形半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0758140A (ja) 1995-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3440190B2 (ja) ワイヤボンディング方法
JP3418385B2 (ja) 半導体集積回路パッケージの形成方法およびその製造方法
JP2912128B2 (ja) キャピラリおよびリードフレームならびにそれらを用いたワイヤボンディング方法
JP3129169B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP3128718B2 (ja) ワイヤボンデイング方法
JP2531099B2 (ja) ワイヤ―ボンディング方法
JP2934372B2 (ja) 面実装型半導体装置の製造方法
JPH05267385A (ja) ワイヤーボンディング装置
JP2789395B2 (ja) ワイヤボンデイング方法
JP2954066B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPS5826176B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP2944591B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP3007806B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法とそれに用いるリードフレーム
JP2848344B2 (ja) 半導体装置および半導体装置の製造方法
JPS5923419Y2 (ja) ワイヤボンデイング用キヤピラリ−
JPH11168119A (ja) ワイヤボンディング方法とそれに用いる押圧ツール
JP2582534B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JPH02144955A (ja) リードフレーム
JPS6254500A (ja) ワイヤ接続方法
JPS61166035A (ja) ワイヤボンデイング方法
JPH04256330A (ja) ワイヤーボンディング方法及びワイヤーボンディング装置
JPS6016437A (ja) 半導体装置のボンデイング方法
JPS61125029A (ja) ワイヤボンダのキヤピラリ
JPH08167685A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH10284674A (ja) 半導体装置及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19960702