JP2904695B2 - 車両のエアバッグシステムにおけるスクイブ検査回路 - Google Patents
車両のエアバッグシステムにおけるスクイブ検査回路Info
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【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、車両のエアバッグシス
テムに係り、より詳細には、かかるエアバッグシステム
におけるスクイブ検査回路の改良に関する。
テムに係り、より詳細には、かかるエアバッグシステム
におけるスクイブ検査回路の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】車両の衝突時における乗員保護を目的と
して、エアバッグシステムが採用されている。該エアバ
ッグシステムは、例えば、車両のヘッドライトの後部等
に衝突検出のためのセンサを有し、そして、ハンドル内
部に運転者を衝突時の衝撃から保護するためのエアバッ
グを装着する。該センサが衝突を検出すると、エアバッ
グ内に配置されたスクイブ（ｓｑｕｉｂ，雷管）に大電
流が流れ、その発熱によって隣接する起爆剤が点火され
る。そして、その爆発熱を使った化学物質反応によって
瞬時に該エアバッグ内に窒素ガスを大量発生させてエア
バッグを膨張させるものである。エアバッグシステムを
使用する際には、そのシステムの正常性及び安全性を常
に監視する必要がある。さもなければ、その誤動作によ
って重大事故を誘発する恐れがある。
して、エアバッグシステムが採用されている。該エアバ
ッグシステムは、例えば、車両のヘッドライトの後部等
に衝突検出のためのセンサを有し、そして、ハンドル内
部に運転者を衝突時の衝撃から保護するためのエアバッ
グを装着する。該センサが衝突を検出すると、エアバッ
グ内に配置されたスクイブ（ｓｑｕｉｂ，雷管）に大電
流が流れ、その発熱によって隣接する起爆剤が点火され
る。そして、その爆発熱を使った化学物質反応によって
瞬時に該エアバッグ内に窒素ガスを大量発生させてエア
バッグを膨張させるものである。エアバッグシステムを
使用する際には、そのシステムの正常性及び安全性を常
に監視する必要がある。さもなければ、その誤動作によ
って重大事故を誘発する恐れがある。
【０００３】図２は、そのようなエアバッグシステムに
おける従来のスクイブ検査回路の一例を示す回路図であ
る。図２において、符号１はＡ／Ｄ（アナログ／ディジ
タル）変換回路を内蔵したマイクロコンピュータ（マイ
コン）、符号１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄはマイコ
ン１のＡ／Ｄ変換入力端子、符号１１はマイコン１の出
力端子、符号２はＤＣ／ＤＣコンバータ、符号３は５Ｖ
電源回路、符号４ａ，４ｂ，４ｃはマイコン１のための
保護回路、符号ＢＡＴはバッテリ、符号ＳＱはスクイ
ブ、符号Ｄ＋，Ｄ−は検査回路とスクイブとの接続エッ
ジ、符号ＤＡＭＰは差動アンプ、符号ＴＲ１，ＴＲ２は
トランジスタ、符号Ｒ３，Ｒ４は抵抗、符号Ｉはスクイ
ブ抵抗を測定するための試験電流、をそれぞれ示す。以
下、スクイブ検査の処理動作について説明する。
おける従来のスクイブ検査回路の一例を示す回路図であ
る。図２において、符号１はＡ／Ｄ（アナログ／ディジ
タル）変換回路を内蔵したマイクロコンピュータ（マイ
コン）、符号１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄはマイコ
ン１のＡ／Ｄ変換入力端子、符号１１はマイコン１の出
力端子、符号２はＤＣ／ＤＣコンバータ、符号３は５Ｖ
電源回路、符号４ａ，４ｂ，４ｃはマイコン１のための
保護回路、符号ＢＡＴはバッテリ、符号ＳＱはスクイ
ブ、符号Ｄ＋，Ｄ−は検査回路とスクイブとの接続エッ
ジ、符号ＤＡＭＰは差動アンプ、符号ＴＲ１，ＴＲ２は
トランジスタ、符号Ｒ３，Ｒ４は抵抗、符号Ｉはスクイ
ブ抵抗を測定するための試験電流、をそれぞれ示す。以
下、スクイブ検査の処理動作について説明する。
【０００４】まず、マイコン１は、出力端子１１を介し
てトランジスタＴＲ２をオン、したがってトランジスタ
ＴＲ１をオンさせる。すると、ＤＣ／ＤＣコンバータ２
から、抵抗Ｒ４、トランジスタＴＲ１、スクイブＳＱ、
抵抗Ｒ３へと試験電流Ｉが流れる。次いで、マイコン１
は、Ａ／Ｄ入力端子１０ｄを介して抵抗Ｒ３の上端の電
位を求め、その値と抵抗Ｒ３の抵抗値とから試験電流Ｉ
の電流値を算出する。次いで、マイコン１は、差動アン
プＤＡＭＰ、Ａ／Ｄ入力端子１０ｂを介してスクイブＳ
Ｑの両端電圧を求める。そして、その両端電圧と先に求
めた試験電流とに基づいてスクイブ抵抗を求め、正常か
否かを判断している。
てトランジスタＴＲ２をオン、したがってトランジスタ
ＴＲ１をオンさせる。すると、ＤＣ／ＤＣコンバータ２
から、抵抗Ｒ４、トランジスタＴＲ１、スクイブＳＱ、
抵抗Ｒ３へと試験電流Ｉが流れる。次いで、マイコン１
は、Ａ／Ｄ入力端子１０ｄを介して抵抗Ｒ３の上端の電
位を求め、その値と抵抗Ｒ３の抵抗値とから試験電流Ｉ
の電流値を算出する。次いで、マイコン１は、差動アン
プＤＡＭＰ、Ａ／Ｄ入力端子１０ｂを介してスクイブＳ
Ｑの両端電圧を求める。そして、その両端電圧と先に求
めた試験電流とに基づいてスクイブ抵抗を求め、正常か
否かを判断している。
【０００５】このとき、試験電流Ｉの増加は、別途、エ
ッジＤ＋の電位を、Ａ／Ｄ入力端子１０ｃを介して検出
している。この電位は、最大、ＤＣ／ＤＣコンバータの
出力値（約２４Ｖ）まで達する可能性があるため、その
検出ラインには、図２に示すように保護回路４ｃが必要
である。このように、従来のスクイブ検査回路は、複雑
なものであった。
ッジＤ＋の電位を、Ａ／Ｄ入力端子１０ｃを介して検出
している。この電位は、最大、ＤＣ／ＤＣコンバータの
出力値（約２４Ｖ）まで達する可能性があるため、その
検出ラインには、図２に示すように保護回路４ｃが必要
である。このように、従来のスクイブ検査回路は、複雑
なものであった。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】かかる実情に鑑み、本
発明の目的は、回路を簡素化することにより、コストダ
ウンを図った、車両のエアバッグシステムにおけるスク
イブ検査回路を提供することにある。
発明の目的は、回路を簡素化することにより、コストダ
ウンを図った、車両のエアバッグシステムにおけるスク
イブ検査回路を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく、
本発明によれば、バッテリ電源を所定の定電圧まで昇圧
するＤＣ／ＤＣコンバータと、一端が前記ＤＣ／ＤＣコ
ンバータの出力に接続され、他端がスクイブの一端に接
続される第１の抵抗と、コレクタが前記スクイブの他端
に接続される第１のトランジスタと、一端が前記第１の
トランジスタのエミッタに接続され、他端が接地される
第２の抵抗と、前記ＤＣ／ＤＣコンバータの出力を分圧
して前記第１のトランジスタのベースに与える第３の抵
抗及び第４の抵抗と、コレクタが前記第３の抵抗と前記
第４の抵抗との接続点に接続され、エミッタが接地され
る第２のトランジスタと、前記スクイブの両端に発生す
るスクイブ電圧を測定するための差動アンプと、前記第
２のトランジスタのベースを介して前記第２のトランジ
スタをオフにすることにより、前記第１のトランジスタ
をオンにし、前記ＤＣ／ＤＣコンバータから前記第１の
抵抗、前記スクイブ、前記第１のトランジスタ及び前記
第２の抵抗を介してグランドへと試験電流を流し、前記
差動アンプを介して測定されるスクイブ電圧値と、前記
第２の抵抗の両端電圧及び抵抗値から得られる試験電流
値とに基づいて、スクイブ抵抗を算出するマイクロコン
ピュータと、を具備し、該試験電流が過大となるときに
は、前記第２の抵抗の両端電圧が増大し、前記第１のト
ランジスタのベース・エミッタ間電圧が小さくなる結
果、前記第１のトランジスタがオフになるようにされて
いる、車両のエアバッグシステムにおけるスクイブ検査
回路が提供される。
本発明によれば、バッテリ電源を所定の定電圧まで昇圧
するＤＣ／ＤＣコンバータと、一端が前記ＤＣ／ＤＣコ
ンバータの出力に接続され、他端がスクイブの一端に接
続される第１の抵抗と、コレクタが前記スクイブの他端
に接続される第１のトランジスタと、一端が前記第１の
トランジスタのエミッタに接続され、他端が接地される
第２の抵抗と、前記ＤＣ／ＤＣコンバータの出力を分圧
して前記第１のトランジスタのベースに与える第３の抵
抗及び第４の抵抗と、コレクタが前記第３の抵抗と前記
第４の抵抗との接続点に接続され、エミッタが接地され
る第２のトランジスタと、前記スクイブの両端に発生す
るスクイブ電圧を測定するための差動アンプと、前記第
２のトランジスタのベースを介して前記第２のトランジ
スタをオフにすることにより、前記第１のトランジスタ
をオンにし、前記ＤＣ／ＤＣコンバータから前記第１の
抵抗、前記スクイブ、前記第１のトランジスタ及び前記
第２の抵抗を介してグランドへと試験電流を流し、前記
差動アンプを介して測定されるスクイブ電圧値と、前記
第２の抵抗の両端電圧及び抵抗値から得られる試験電流
値とに基づいて、スクイブ抵抗を算出するマイクロコン
ピュータと、を具備し、該試験電流が過大となるときに
は、前記第２の抵抗の両端電圧が増大し、前記第１のト
ランジスタのベース・エミッタ間電圧が小さくなる結
果、前記第１のトランジスタがオフになるようにされて
いる、車両のエアバッグシステムにおけるスクイブ検査
回路が提供される。
【０００８】
【０００９】
【作用】上述の如く構成されたスクイブ検査回路におい
ては、試験電流が過大となったときには、試験電流を測
定するための第２の抵抗の両端電圧が増大し、第１のト
ランジスタのベース・エミッタ間電圧が小さくなる結
果、第１のトランジスタがオフになるため、電流が遮断
される。すなわち、電流が一定電流以下に制限される。
したがって、その検出ラインに対するマイコン保護回路
は不要である。かくして、従来のスクイブ検査回路にお
ける試験電流測定回路と過電流検出回路とが兼用されて
いることとなり、回路が簡素化される。
ては、試験電流が過大となったときには、試験電流を測
定するための第２の抵抗の両端電圧が増大し、第１のト
ランジスタのベース・エミッタ間電圧が小さくなる結
果、第１のトランジスタがオフになるため、電流が遮断
される。すなわち、電流が一定電流以下に制限される。
したがって、その検出ラインに対するマイコン保護回路
は不要である。かくして、従来のスクイブ検査回路にお
ける試験電流測定回路と過電流検出回路とが兼用されて
いることとなり、回路が簡素化される。
【００１０】
【実施例】以下、添付図面の図１を参照して本発明の実
施例を説明する。
施例を説明する。
【００１１】図１は、本発明の一実施例に係るスクイブ
検査回路を示す回路図である。図２と同様、図１におい
て、符号１はＡ／Ｄ変換回路を内蔵したマイクロコンピ
ュータ（マイコン）、符号１０ａ，１０ｂ，１０ｃはマ
イコン１のＡ／Ｄ変換入力端子、符号１１はマイコン１
の出力端子、符号２はＤＣ／ＤＣコンバータ、符号３は
５Ｖ電源回路、符号４ａ，４ｂはマイコン１のための保
護回路、符号ＢＡＴはバッテリ、符号ＳＱはスクイブ、
符号Ｄ＋，Ｄ−は検査回路とスクイブとの接続エッジ、
符号ＤＡＭＰは差動アンプ、符号ＴＲ１，ＴＲ２はトラ
ンジスタ、符号Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４は抵抗、符号Ｉ
はスクイブ抵抗を測定するための試験電流、をそれぞれ
示す。以下、そのスクイブ検査回路の動作について説明
する。
検査回路を示す回路図である。図２と同様、図１におい
て、符号１はＡ／Ｄ変換回路を内蔵したマイクロコンピ
ュータ（マイコン）、符号１０ａ，１０ｂ，１０ｃはマ
イコン１のＡ／Ｄ変換入力端子、符号１１はマイコン１
の出力端子、符号２はＤＣ／ＤＣコンバータ、符号３は
５Ｖ電源回路、符号４ａ，４ｂはマイコン１のための保
護回路、符号ＢＡＴはバッテリ、符号ＳＱはスクイブ、
符号Ｄ＋，Ｄ−は検査回路とスクイブとの接続エッジ、
符号ＤＡＭＰは差動アンプ、符号ＴＲ１，ＴＲ２はトラ
ンジスタ、符号Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４は抵抗、符号Ｉ
はスクイブ抵抗を測定するための試験電流、をそれぞれ
示す。以下、そのスクイブ検査回路の動作について説明
する。
【００１２】まず、マイコン１は、ＤＣ／ＤＣコンバー
タ２の出力電圧を、Ａ／Ｄ入力端子１０ａを介して読み
取り、その正常性を確認する。次いで、出力端子１１を
介してトランジスタＴＲ２をオフ、したがってトランジ
スタＴＲ１をオンさせる。すると、ＤＣ／ＤＣコンバー
タ２から、抵抗Ｒ４、スクイブＳＱ、トランジスタＴＲ
１、抵抗Ｒ３へと試験電流Ｉが流れる。次いで、マイコ
ン１は、Ａ／Ｄ入力端子１０ｃを介して抵抗Ｒ３の上端
の電位Ｖ２を求める。そのＶ２が所定の値よりも大きけ
れば、試験電流が過大であるとして所定のエラー処理を
する。そして、Ｖ２の値と抵抗Ｒ３の抵抗値とから試験
電流Ｉの電流値を算出する。次いで、マイコン１は、差
動アンプＤＡＭＰ、Ａ／Ｄ入力端子１０ｂを介してスク
イブＳＱの両端電圧を求める。そして、その両端電圧と
先に求めた試験電流とに基づいてスクイブ抵抗を求め、
正常か否かを判断する。
タ２の出力電圧を、Ａ／Ｄ入力端子１０ａを介して読み
取り、その正常性を確認する。次いで、出力端子１１を
介してトランジスタＴＲ２をオフ、したがってトランジ
スタＴＲ１をオンさせる。すると、ＤＣ／ＤＣコンバー
タ２から、抵抗Ｒ４、スクイブＳＱ、トランジスタＴＲ
１、抵抗Ｒ３へと試験電流Ｉが流れる。次いで、マイコ
ン１は、Ａ／Ｄ入力端子１０ｃを介して抵抗Ｒ３の上端
の電位Ｖ２を求める。そのＶ２が所定の値よりも大きけ
れば、試験電流が過大であるとして所定のエラー処理を
する。そして、Ｖ２の値と抵抗Ｒ３の抵抗値とから試験
電流Ｉの電流値を算出する。次いで、マイコン１は、差
動アンプＤＡＭＰ、Ａ／Ｄ入力端子１０ｂを介してスク
イブＳＱの両端電圧を求める。そして、その両端電圧と
先に求めた試験電流とに基づいてスクイブ抵抗を求め、
正常か否かを判断する。
【００１３】このように、抵抗Ｒ３の上端で試験電流を
検出するとともに、同じポイントで試験電流の増加を検
出することで、従来のスクイブ検査回路と比較して回路
の簡素化が図られている。
検出するとともに、同じポイントで試験電流の増加を検
出することで、従来のスクイブ検査回路と比較して回路
の簡素化が図られている。
【００１４】また、抵抗Ｒ４のショートやスクイブＤ＋
ラインのバッテリラインとのショートを要因として、試
験電流Ｉが増加する可能性がある。そのため、トランジ
スタＴＲ１の駆動電圧Ｖ１を抵抗Ｒ１，Ｒ２により調整
し、抵抗Ｒ３に流れる電流Ｉによる発生電圧Ｖ２が大き
くなるとトランジスタＴＲ１がオフするように、すなわ
ち、電圧Ｖ２が５Ｖ以下になるように電流制限されてい
る。そうすることによって、抵抗Ｒ３の上端電位Ｖ２
を、図１における４ｃのような保護回路なしで、マイコ
ン１のＡ／Ｄ入力１０ｃに取り込むことが可能となる。
ラインのバッテリラインとのショートを要因として、試
験電流Ｉが増加する可能性がある。そのため、トランジ
スタＴＲ１の駆動電圧Ｖ１を抵抗Ｒ１，Ｒ２により調整
し、抵抗Ｒ３に流れる電流Ｉによる発生電圧Ｖ２が大き
くなるとトランジスタＴＲ１がオフするように、すなわ
ち、電圧Ｖ２が５Ｖ以下になるように電流制限されてい
る。そうすることによって、抵抗Ｒ３の上端電位Ｖ２
を、図１における４ｃのような保護回路なしで、マイコ
ン１のＡ／Ｄ入力１０ｃに取り込むことが可能となる。
【００１５】以上、本発明の一実施例について述べてき
たが、もちろん本発明はこれに限定されるものではな
く、様々な実施例を案出することは当業者にとって容易
なことであろう。
たが、もちろん本発明はこれに限定されるものではな
く、様々な実施例を案出することは当業者にとって容易
なことであろう。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
スクイブ抵抗検出用電流の測定回路と、その過電流検出
回路とが兼用されるので、スクイブ検査回路が簡素化さ
れ、コストダウンを達成できる、という効果がある。
スクイブ抵抗検出用電流の測定回路と、その過電流検出
回路とが兼用されるので、スクイブ検査回路が簡素化さ
れ、コストダウンを達成できる、という効果がある。
【００１７】また、そのスクイブ抵抗検出用試験電流が
過大となったときには、電流制限がされるので、マイク
ロコンピュータ保護回路が省略可能となる、という効果
がある。
過大となったときには、電流制限がされるので、マイク
ロコンピュータ保護回路が省略可能となる、という効果
がある。
【図１】本発明の一実施例に係る、車両のエアバッグシ
ステムにおけるスクイブ検査回路を示す回路図である。
ステムにおけるスクイブ検査回路を示す回路図である。
【図２】車両のエアバッグシステムにおける従来のスク
イブ検査回路の一例を示す回路図である。
イブ検査回路の一例を示す回路図である。
１…マイクロコンピュータ（マイコン） １０ａ，１０ｂ，１０ｃ…マイコン１のＡ／Ｄ変換入力
端子 １１…マイコン１の出力端子 ２…ＤＣ／ＤＣコンバータ ３…５Ｖ電源回路 ４ａ，４ｂ…マイコン１のための保護回路 ＢＡＴ…バッテリ ＳＱ…スクイブ Ｄ＋，Ｄ−…接続エッジ ＤＡＭＰ…差動アンプ ＴＲ１，ＴＲ２…トランジスタ Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４…抵抗 Ｉ…試験電流
端子 １１…マイコン１の出力端子 ２…ＤＣ／ＤＣコンバータ ３…５Ｖ電源回路 ４ａ，４ｂ…マイコン１のための保護回路 ＢＡＴ…バッテリ ＳＱ…スクイブ Ｄ＋，Ｄ−…接続エッジ ＤＡＭＰ…差動アンプ ＴＲ１，ＴＲ２…トランジスタ Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４…抵抗 Ｉ…試験電流
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−262202（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−72933（ＪＰ，Ａ) 実開 平２−18755（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) B60R 21/32
Claims (1)
- 【請求項１】 バッテリ電源を所定の定電圧まで昇圧す
るＤＣ／ＤＣコンバータ（２）と、 一端が前記ＤＣ／ＤＣコンバータ（２）の出力に接続さ
れ、他端がスクイブ（ＳＱ）の一端に接続される第１の
抵抗（Ｒ４）と、 コレクタが前記スクイブ（ＳＱ）の他端に接続される第
１のトランジスタ（ＴＲ１）と、 一端が前記第１のトランジスタ（ＴＲ１）のエミッタに
接続され、他端が接地される第２の抵抗（Ｒ３）と、 前記ＤＣ／ＤＣコンバータ（２）の出力を分圧して前記
第１のトランジスタ（ＴＲ１）のベースに与える第３の
抵抗（Ｒ１）及び第４の抵抗（Ｒ２）と、 コレクタが前記第３の抵抗（Ｒ１）と前記第４の抵抗
（Ｒ２）との接続点に接続され、エミッタが接地される
第２のトランジスタ（ＴＲ２）と、 前記スクイブ（ＳＱ）の両端に発生するスクイブ電圧を
測定するための差動アンプ（ＤＡＭＰ）と、 前記第２のトランジスタ（ＴＲ２）のベースを介して前
記第２のトランジスタ（ＴＲ２）をオフにすることによ
り、前記第１のトランジスタ（ＴＲ１）をオンにし、前
記ＤＣ／ＤＣコンバータ（２）から前記第１の抵抗（Ｒ
４）、前記スクイブ（ＳＱ）、前記第１のトランジスタ
（ＴＲ１）及び前記第２の抵抗（Ｒ３）を介してグラン
ドへと試験電流を流し、前記差動アンプ（ＤＡＭＰ）を
介して測定されるスクイブ電圧値と、前記第２の抵抗
（Ｒ３）の両端電圧及び抵抗値から得られる試験電流値
とに基づいて、スクイブ抵抗を算出するマイクロコンピ
ュータと、 を具備し、該試験電流が過大となるときには、前記第２
の抵抗（Ｒ３）の両端電圧が増大し、前記第１のトラン
ジスタ（ＴＲ１）のベース・エミッタ間電圧が小さくな
る結果、前記第１のトランジスタ（ＴＲ１）がオフにな
るようにされている、車両のエアバッグシステムにおけ
るスクイブ検査回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5301707A JP2904695B2 (ja) | 1993-12-01 | 1993-12-01 | 車両のエアバッグシステムにおけるスクイブ検査回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5301707A JP2904695B2 (ja) | 1993-12-01 | 1993-12-01 | 車両のエアバッグシステムにおけるスクイブ検査回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07156744A JPH07156744A (ja) | 1995-06-20 |
| JP2904695B2 true JP2904695B2 (ja) | 1999-06-14 |
Family
ID=17900194
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5301707A Expired - Fee Related JP2904695B2 (ja) | 1993-12-01 | 1993-12-01 | 車両のエアバッグシステムにおけるスクイブ検査回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2904695B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3331109B2 (ja) * | 1996-01-23 | 2002-10-07 | 株式会社アドバンテスト | 半導体試験装置の比較器 |
-
1993
- 1993-12-01 JP JP5301707A patent/JP2904695B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07156744A (ja) | 1995-06-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990216 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |