JP2882588B2 - 評価用光ディスクおよび評価用光ディスクの製造方法 - Google Patents
評価用光ディスクおよび評価用光ディスクの製造方法Info
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- JP2882588B2 JP2882588B2 JP1142322A JP14232289A JP2882588B2 JP 2882588 B2 JP2882588 B2 JP 2882588B2 JP 1142322 A JP1142322 A JP 1142322A JP 14232289 A JP14232289 A JP 14232289A JP 2882588 B2 JP2882588 B2 JP 2882588B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、コンパクトディスクプレーヤ等のプレイ
アビリティー確認用の評価用ディスクに関する。
アビリティー確認用の評価用ディスクに関する。
この発明は、評価用光ディスクにおいて、読み取り面
側の所定の位置に、複数箇所半透明の被膜を設けること
により、読み取り面に細かい擦り傷が生じたような欠陥
についても、評価可能とするようにしたものである。
側の所定の位置に、複数箇所半透明の被膜を設けること
により、読み取り面に細かい擦り傷が生じたような欠陥
についても、評価可能とするようにしたものである。
コンパクトディスクの読み取り面には、ディスク成形
時の異物、ディスクの読み取り面に付着した指紋、ディ
スクの読み取り面の傷等、種々の物理的欠陥が生じる可
能性がある。ディスクの読み取り面にこのような欠陥が
生じた場合、プレーヤの動作状態がどのようになるかの
シュミレーションを行う際に、評価用ディスクが用いら
れる。
時の異物、ディスクの読み取り面に付着した指紋、ディ
スクの読み取り面の傷等、種々の物理的欠陥が生じる可
能性がある。ディスクの読み取り面にこのような欠陥が
生じた場合、プレーヤの動作状態がどのようになるかの
シュミレーションを行う際に、評価用ディスクが用いら
れる。
つまり、従来の評価用ディスクの読み取り面には、デ
ィスク成形時の異物を想定したブラックドット、ディス
クの読み取り面に付着した指紋を想定した微細なドット
からなるフィンガープリント、ディスクの読み取り面の
傷を想定して光を乱発射させるようにしたインターラプ
ション等の擬似欠陥が設けられる。このような従来の評
価用ディスクをプレーヤに装着してみることで、ディス
ク成形時の異物、ディスクの読み取り面に付着した指
紋、ディスクの読み取り面の傷に対するプレーヤの動作
状態のシュミレーションを行うことができる。
ィスク成形時の異物を想定したブラックドット、ディス
クの読み取り面に付着した指紋を想定した微細なドット
からなるフィンガープリント、ディスクの読み取り面の
傷を想定して光を乱発射させるようにしたインターラプ
ション等の擬似欠陥が設けられる。このような従来の評
価用ディスクをプレーヤに装着してみることで、ディス
ク成形時の異物、ディスクの読み取り面に付着した指
紋、ディスクの読み取り面の傷に対するプレーヤの動作
状態のシュミレーションを行うことができる。
ところが、近年、従来の評価用ディスクではシュミレ
ーションされない種類の欠陥の発生が問題となってい
る。
ーションされない種類の欠陥の発生が問題となってい
る。
このような欠陥とは、粗雑な取扱いを繰り返している
うちに生じるディスクの読み取り面の細かい擦り傷や、
ディスクの読み取り面に例えば帯電防止スプレーを繰り
返しかけていくことにより生じる汚れである。特に、レ
ンタル用のディスクは、使用頻度が高く、その取扱いが
粗雑であることが多いため、このような欠陥が生じやす
い。
うちに生じるディスクの読み取り面の細かい擦り傷や、
ディスクの読み取り面に例えば帯電防止スプレーを繰り
返しかけていくことにより生じる汚れである。特に、レ
ンタル用のディスクは、使用頻度が高く、その取扱いが
粗雑であることが多いため、このような欠陥が生じやす
い。
したがって、この発明の目的は、ディスクの読み取り
面の細かい擦り傷による欠陥や、ディスクの全体的な汚
れによる欠陥についてもシュミレーションすることがで
きる評価用ディスクを提供することにある。
面の細かい擦り傷による欠陥や、ディスクの全体的な汚
れによる欠陥についてもシュミレーションすることがで
きる評価用ディスクを提供することにある。
この発明は、読み取り面側の所定の位置に、複数箇所
半透明の被膜を設けるようにした評価用ディスクであ
る。
半透明の被膜を設けるようにした評価用ディスクであ
る。
ディスク上に擦り傷が生じた場合と非常に似かよった
特性が得られる半透明バンド3A〜3Gが設けられている。
この半透明バンド3A〜3Gにより、ディスクの読み取り面
の細かい擦り傷による欠陥や、ディスクの全体的な汚れ
による欠陥が生じた場合のプレーヤの再生状態のシュミ
レーションを行うことができる。
特性が得られる半透明バンド3A〜3Gが設けられている。
この半透明バンド3A〜3Gにより、ディスクの読み取り面
の細かい擦り傷による欠陥や、ディスクの全体的な汚れ
による欠陥が生じた場合のプレーヤの再生状態のシュミ
レーションを行うことができる。
以下、この発明の一実施例について図面を参照して説
明する。
明する。
第1図は、この発明が適用された評価用ディスクの読
み取り面を示すものである。第1図に示すように、この
評価用ディスク1は例えば外径12cm或いは8cmのコンパ
クトディスクと同様の形状とされており、評価用ディス
ク1には評価用の信号がコンパクトディスクと同様にピ
ット列として記録されている。そして、この評価用ディ
スク1の読み取り面には、起こり得る物理的欠陥を想定
して、種々の擬似欠陥が設けられている。
み取り面を示すものである。第1図に示すように、この
評価用ディスク1は例えば外径12cm或いは8cmのコンパ
クトディスクと同様の形状とされており、評価用ディス
ク1には評価用の信号がコンパクトディスクと同様にピ
ット列として記録されている。そして、この評価用ディ
スク1の読み取り面には、起こり得る物理的欠陥を想定
して、種々の擬似欠陥が設けられている。
つまり、第2図及び第3図は評価用ディスク1の各ト
ラックナンバーに記録されている信号と、各トラックナ
ンバーの位置に設けられている擬似欠陥を示すものであ
る。評価用ディスク1には、第2図及び第3図に示すよ
うに、トラックナンバーTN2、TN4、TN6…TN30のそれぞ
れに音楽信号Mが記録されており、その後のトラックナ
ンバーTN3、TN5、TN7、…TN31に例えば周波数400Hzの単
一周波数信号fが記録されている。
ラックナンバーに記録されている信号と、各トラックナ
ンバーの位置に設けられている擬似欠陥を示すものであ
る。評価用ディスク1には、第2図及び第3図に示すよ
うに、トラックナンバーTN2、TN4、TN6…TN30のそれぞ
れに音楽信号Mが記録されており、その後のトラックナ
ンバーTN3、TN5、TN7、…TN31に例えば周波数400Hzの単
一周波数信号fが記録されている。
そして、評価用ディスク1の読み取り面には、トラッ
クナンバーTN2〜TN15に対応する位置に互いに幅の異な
るブラックバンド2A〜2Gが設けられ、トラックナンバー
TN16〜TN29に対応する位置に互いに幅の異なる半透明バ
ンド3A〜3Gが設けられ、トラックナンバーTN30、TN31に
対応する位置にフィンガープリント4が設けられる。
クナンバーTN2〜TN15に対応する位置に互いに幅の異な
るブラックバンド2A〜2Gが設けられ、トラックナンバー
TN16〜TN29に対応する位置に互いに幅の異なる半透明バ
ンド3A〜3Gが設けられ、トラックナンバーTN30、TN31に
対応する位置にフィンガープリント4が設けられる。
ブラットバンド2A〜2Gは黒色の被膜からなる擬似欠陥
で、このブラットバンド2A〜2Gは、ディスク成形時の異
物の欠陥を想定したものである。第3図に示すように、
このブラットバンド2A〜2Gの幅は、最内周のトラックナ
ンバーTN2及びTN3にあるブラックバンド2Aでは0.3mmと
され、その次のトラックナンバーTN4及びTN5にあるブラ
ックバンド2Bでは0.4mmとされ、以下、外周に行く毎に
0.5mm、0.6mm、0.7mm、0.9mm、1.1mmとブラックバンド2
C〜2Fの幅が順次広くされ、トラックナンバーTN14及びT
N15にあるブラックバンド2Gの幅は1.1mmとされる。
で、このブラットバンド2A〜2Gは、ディスク成形時の異
物の欠陥を想定したものである。第3図に示すように、
このブラットバンド2A〜2Gの幅は、最内周のトラックナ
ンバーTN2及びTN3にあるブラックバンド2Aでは0.3mmと
され、その次のトラックナンバーTN4及びTN5にあるブラ
ックバンド2Bでは0.4mmとされ、以下、外周に行く毎に
0.5mm、0.6mm、0.7mm、0.9mm、1.1mmとブラックバンド2
C〜2Fの幅が順次広くされ、トラックナンバーTN14及びT
N15にあるブラックバンド2Gの幅は1.1mmとされる。
半透明バンド3A〜3Gは例えば赤色等の半透明被膜から
なる擬似欠陥で、この半透明バンド3A〜3Gは、ディスク
の読み取り面の細かい擦り傷による欠陥や、ディスクの
全体的な汚れによる欠陥を想定したものである。第3図
に示すように、この半透明バンド3A〜3Gの幅は、トラッ
クナンバーTN16及びTN17にある半透明バンド3Aでは0.3m
mとされ、その次の半透明バンド3Bでは0.4mmとされ、以
下、外周に行く毎に0.5mm、0.6mm、0.7mm、0.9mm、1.1m
mと半透明バンド3C〜3Fの幅が順次広くされ、トラック
ナンバーTN28及びTN29の半透明バンド3Gの幅は1.1mmと
される。
なる擬似欠陥で、この半透明バンド3A〜3Gは、ディスク
の読み取り面の細かい擦り傷による欠陥や、ディスクの
全体的な汚れによる欠陥を想定したものである。第3図
に示すように、この半透明バンド3A〜3Gの幅は、トラッ
クナンバーTN16及びTN17にある半透明バンド3Aでは0.3m
mとされ、その次の半透明バンド3Bでは0.4mmとされ、以
下、外周に行く毎に0.5mm、0.6mm、0.7mm、0.9mm、1.1m
mと半透明バンド3C〜3Fの幅が順次広くされ、トラック
ナンバーTN28及びTN29の半透明バンド3Gの幅は1.1mmと
される。
フィンガープリント4は、ディスクの読み取り面に付
着した指紋を想定した擬似欠陥である。
着した指紋を想定した擬似欠陥である。
半透明バンド3A〜3Gは、第4図に示すように、例えば
軟硬質塩化ビニルやポリカーボネート等の侵触、変色、
変形等の変質を起こさせ、遅乾メジウム等を含ませた半
透明インクでディスクの読み取り面の表面に印刷するこ
とにより形成される。なお、第4図は評価用ディスク1
の断面を示し、第4図において、11は保護膜、12はアル
ミニウム反射膜、13はポリカーボネート基板である。こ
の半透明バンド3A〜3Gを形成するための半透明インクの
透過率は、レーザー光A1をアルミニウム反射膜12で反射
した時の反射光A2で、45%を中心として30%〜60%の範
囲内に設定される。このような透過率の半透明インクで
半透明バンド3A〜3Gを形成すると、ディスクの表面の擦
り傷が生じた場合の状態と類似してくる。すなわち、第
5図Aはこのような透過率のインクで幅0.6mmの半透明
バンドをディスク上に形成した時の再生RF信号を示し、
第5図Bは実際にディスク上に擦り傷が生じた場合の再
生RF信号を示すものである。第5図Aと第5図Bとを比
較すればわかるように、このような半透明バンドをディ
スク上に形成すると、実際にディスク上に擦り傷か生じ
た場合と非常に似かよった特性が得られる。
軟硬質塩化ビニルやポリカーボネート等の侵触、変色、
変形等の変質を起こさせ、遅乾メジウム等を含ませた半
透明インクでディスクの読み取り面の表面に印刷するこ
とにより形成される。なお、第4図は評価用ディスク1
の断面を示し、第4図において、11は保護膜、12はアル
ミニウム反射膜、13はポリカーボネート基板である。こ
の半透明バンド3A〜3Gを形成するための半透明インクの
透過率は、レーザー光A1をアルミニウム反射膜12で反射
した時の反射光A2で、45%を中心として30%〜60%の範
囲内に設定される。このような透過率の半透明インクで
半透明バンド3A〜3Gを形成すると、ディスクの表面の擦
り傷が生じた場合の状態と類似してくる。すなわち、第
5図Aはこのような透過率のインクで幅0.6mmの半透明
バンドをディスク上に形成した時の再生RF信号を示し、
第5図Bは実際にディスク上に擦り傷が生じた場合の再
生RF信号を示すものである。第5図Aと第5図Bとを比
較すればわかるように、このような半透明バンドをディ
スク上に形成すると、実際にディスク上に擦り傷か生じ
た場合と非常に似かよった特性が得られる。
なお、この半透明バンド3A〜3Gを溶着、蒸着、或いは
接着により形成するようにしても良い。
接着により形成するようにしても良い。
この評価用ディスク1には、このようにディスク上に
擦り傷が生じた場合と非常に似かよった特性が得られる
半透明バンド3A〜3Gが設けられている。このため、ディ
スクの読み取り面の細かい擦り傷による欠陥や、ディス
クの全体的な汚れによる欠陥についてもシュミレーショ
ンすることができる。
擦り傷が生じた場合と非常に似かよった特性が得られる
半透明バンド3A〜3Gが設けられている。このため、ディ
スクの読み取り面の細かい擦り傷による欠陥や、ディス
クの全体的な汚れによる欠陥についてもシュミレーショ
ンすることができる。
そして、この評価用ディスク1には、トラックナンバ
ーTN2、TN4、TN6…TN30のそれぞれに音楽信号Mが記録
されており、その後のトラックナンバーTN3、TN5、TN
7、…TN31に例えば周波数400Hzの単一周波数信号fが記
録されている。このため、欠陥により生じるノイズの状
態が確認し易い。また、互いに幅の異なるブラックバン
ド2A〜2G及び半透明バイド3A〜3Gに対して同様な単一周
波数信号が記録されているので、ノイズの状態が比較易
い。
ーTN2、TN4、TN6…TN30のそれぞれに音楽信号Mが記録
されており、その後のトラックナンバーTN3、TN5、TN
7、…TN31に例えば周波数400Hzの単一周波数信号fが記
録されている。このため、欠陥により生じるノイズの状
態が確認し易い。また、互いに幅の異なるブラックバン
ド2A〜2G及び半透明バイド3A〜3Gに対して同様な単一周
波数信号が記録されているので、ノイズの状態が比較易
い。
更に、1つのトラックナンバーに1種類づつの擬似欠
陥が設けられているので、トラックナンバーを指定して
再生を行えば、対応するトラックナンバーの位置にある
ような種類の欠陥が生じた場合のプレーヤの動作状態の
シュミレーションを直ちに行なえる。
陥が設けられているので、トラックナンバーを指定して
再生を行えば、対応するトラックナンバーの位置にある
ような種類の欠陥が生じた場合のプレーヤの動作状態の
シュミレーションを直ちに行なえる。
なお、この発明は、音楽用のコンパクトディスクの評
価用ディスクに限定されるものではなく、他のディス
ク、例えばディジタルデータが記録されるCD−ROMの評
価用ディスクにも同様に適用できる。
価用ディスクに限定されるものではなく、他のディス
ク、例えばディジタルデータが記録されるCD−ROMの評
価用ディスクにも同様に適用できる。
この発明によれば、ディスク上に擦り傷が生じた場合
と非常に似かよった特性が得られる半透明バンド3A〜3G
が設けられている。このため、ディスクの読み取り面の
細かい擦り傷による欠陥や、ディスクの全体的な汚れに
よる欠陥が生じた場合のプレーヤの再生状態のシュミレ
ーションを行うことができる。
と非常に似かよった特性が得られる半透明バンド3A〜3G
が設けられている。このため、ディスクの読み取り面の
細かい擦り傷による欠陥や、ディスクの全体的な汚れに
よる欠陥が生じた場合のプレーヤの再生状態のシュミレ
ーションを行うことができる。
第1図はこの発明の平面図,第2図及び第3図はこの発
明の一実施例の説明に用いる略線図,第4図はこの発明
の一実施例の断面図,第5図A及び第5図Bはこの発明
の一実施例の説明に用いる波形図である。 図面における主要な符号の説明 1:評価用ディスク,2A〜2G:ブラックバンド,3A〜3G:半透
明バンド,4:フィンガープリント。
明の一実施例の説明に用いる略線図,第4図はこの発明
の一実施例の断面図,第5図A及び第5図Bはこの発明
の一実施例の説明に用いる波形図である。 図面における主要な符号の説明 1:評価用ディスク,2A〜2G:ブラックバンド,3A〜3G:半透
明バンド,4:フィンガープリント。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−295234(JP,A) 特開 昭57−141035(JP,A) 特開 昭63−261551(JP,A) 特開 昭62−150538(JP,A)
Claims (4)
- 【請求項1】合成樹脂材料から形成された基板と、 当該基板の一方の面に設けられた反射膜と、 上記基板の他方の面側に上記基板に変質を生じさせる材
料を含有する半透明インクを用いて印刷により形成され
た複数の疑似欠陥と を備えることを特徴とする評価用光ディスク。 - 【請求項2】上記基板は、ポリカーボネートから形成さ
れているとともに上記半透明インクは遅乾メジウムを含
有するものである請求項1に記載の評価用光ディスク。 - 【請求項3】上記評価用光ディスクは、 音楽情報が記録されている複数の音楽情報記録用トラッ
クと、 当該複数の音楽情報記録用トラックに各々続き、且つ単
一の周波数信号が記録された複数の単一周波数信号記録
用トラックとを有するとともに、 ディスクの信号読み取り面に印刷により設けられた複数
の種類の複数の疑似欠陥とを設け、 上記疑似欠陥は、上記音楽情報記録用トラックの各々及
び上記単一周波数信号記録用トラックの各々で、欠陥の
種類又は大きさが異なり、 ひとつの上記音楽情報記録用トラックと、当該音楽情報
記録用トラックに連続する単一周波数信号記録用トラッ
クとで、欠陥の種類及び大きさが同一となる 請求項1に記載の評価用光ディスク。 - 【請求項4】一方の面に反射膜が設けられた合成樹脂材
料から形成された基板の他方の面側に、上記基板に変質
を生じさせる材料を含有する半透明インクで印刷するこ
とによって複数の疑似欠陥を形成する評価用光ディスク
製造方法。
Priority Applications (10)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1142322A JP2882588B2 (ja) | 1989-06-05 | 1989-06-05 | 評価用光ディスクおよび評価用光ディスクの製造方法 |
AU55199/90A AU640928B2 (en) | 1989-06-05 | 1990-05-21 | Check disc |
AT90305551T ATE122814T1 (de) | 1989-06-05 | 1990-05-22 | Testscheiben. |
ES90305551T ES2072391T3 (es) | 1989-06-05 | 1990-05-22 | Discos de comprobacion. |
EP90305551A EP0402002B1 (en) | 1989-06-05 | 1990-05-22 | Check discs |
DE69019419T DE69019419T2 (de) | 1989-06-05 | 1990-05-22 | Testscheiben. |
US07/527,383 US5258974A (en) | 1989-06-05 | 1990-05-23 | Optical read-out audio check disc with semitransparent defects or with single recorded tone |
KR1019900007925A KR100233413B1 (ko) | 1989-06-05 | 1990-05-31 | 평가용 디스크 |
BR909002641A BR9002641A (pt) | 1989-06-05 | 1990-06-04 | Disco de verificacao |
CA002018168A CA2018168C (en) | 1989-06-05 | 1990-06-04 | Optical read-out audio check disc with semitransparent defects or with single recorded tone |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1142322A JP2882588B2 (ja) | 1989-06-05 | 1989-06-05 | 評価用光ディスクおよび評価用光ディスクの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH038140A JPH038140A (ja) | 1991-01-16 |
JP2882588B2 true JP2882588B2 (ja) | 1999-04-12 |
Family
ID=15312658
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1142322A Expired - Fee Related JP2882588B2 (ja) | 1989-06-05 | 1989-06-05 | 評価用光ディスクおよび評価用光ディスクの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2882588B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62150538A (ja) * | 1985-12-24 | 1987-07-04 | Eebetsukusu Kenkyusho:Kk | テストデイスク |
-
1989
- 1989-06-05 JP JP1142322A patent/JP2882588B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH038140A (ja) | 1991-01-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |