JP2882300B2 - アクティブマトリクスパネルの製造方法 - Google Patents

アクティブマトリクスパネルの製造方法

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JP2882300B2 JP1255495A JP1255495A JP2882300B2 JP 2882300 B2 JP2882300 B2 JP 2882300B2 JP 1255495 A JP1255495 A JP 1255495A JP 1255495 A JP1255495 A JP 1255495A JP 2882300 B2 JP2882300 B2 JP 2882300B2
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  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明は、アクティブマトリクス
パネルの製造方法に関するものである。 【0002】 【従来の技術】液晶等による画素への信号の書き込みを
行うスイッチングトランジスタアレイを具備したアクテ
ィブマトリクスパネルにおいて、該アクティブマトリク
スパネルにおいて同一の基板内に前記スイッチングトラ
ンジスタと同一の製造プロセスにてドライバー回路を作
り込む試みは1981年項より行なわれ始め、その結果
はSID(Society on Informati
on Display)等において発表されている。ア
クティブマトリクスパネルは通常ゲート線及びデータ線
をそれぞれ百数十本以上有しているため、それらを駆動
するドライバー回路をパネル外に外付するのは、ドライ
バー集積回路(以下、ドライバーICと略記)の製造コ
スト等のため、コスト上での不利な点が多々ある。 【0003】従って、パネル内へのドライバー回路内蔵
を可能ならしめることは大変意義が大きい。しかしなが
ら、シフトレジスタより成るドライバー回路は、画素へ
の信号書き込みを行なうスイッチングトランジスタに比
べて構造が複雑でかつトランジスタの集積密度が高いた
め、欠陥が発生しやすく、アクティブマトリクスパネル
の歩留りを低下させる恐れがある。 【0004】このようなドライバー回路の欠陥ととも
に、画素に生じる欠陥も問題がある。すなわち、1つの
画素に欠陥が生じていると、マトリクス状に配置された
画素の1列及び/又は1行に配置されているすべての画
素に表示不良が生じるという問題がある。 【0005】 【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、アク
ティブマトリクスパネルの画素アレイ内に存在する欠陥
画素を切り離すようにしたアクティブマトリクスパネル
の製造方法を提供するものである。 【0006】 【課題を解決するための手段】本発明は、液晶パネルを
構成する一方の基板上にマトリクス状に配列された複数
の画素を有し、該画素を駆動する信号を供給するゲート
線群及びデータ線群のうち少なくとも一方の信号線群を
同一の動作を行なう少なくとも2系列の信号線駆動回路
により並列的に駆動するようにしたアクティブマトリク
スパネルの製造方法において、前記複数の画素に対して
欠陥の有無の検査を行ない、前記複数の画素の中の欠陥
画素に入力される前記並列的に駆動された信号線の両側
を切り離すことによって該欠陥画素を前記信号線から切
り離すことを特徴とするものである。 【0007】 【実施例】ドライバー内蔵アクティブマトリクスパネル
の構造の概要を図1(a)に示す。同図において、10
1及び102はゲート線駆動用ドライバーで、全く同一
に構成されており、それぞれの出力端子は同一の信号を
出力してM本のゲート線105,106,107,・・
・を駆動している。同様に、データ線駆動用ドライバー
103,104も、全く同一に構成されており、それぞ
れの出力端子は同一の信号を出力してN本のデータ線1
08,109,110,・・・を駆動している。また、
111,112,113,114,115,・・・はス
イッチング素子を含む画素であり、各画素は、例えば図
1(b)のごとく構成されている。すなわち、図1
(b)において、121はゲート線、122はデータ
線、123はスイッチングトランジスタ、124は液晶
等の表示素子である。 【0008】以下、ゲート線駆動回路を例にとって本発
明を説明する。図2にドライバー回路内のシフトレジス
タセルに欠陥が存在する場合を示す。図2において、2
系列のゲート線ドライバー回路241及び251によっ
て、ゲート線221,222,223,・・・・が並列
的に駆動されている。また、ゲート線ドライバー回路2
41はシフトレジスタセル201,202,203,・
・・より成り、各シフトレジスタセルの出力信号によっ
て各ゲート線221,222,223,・・・を順次駆
動する。シフトレジスタセルの走査順序は、201,2
02,203,・・・の順である。ゲート線ドライバー
回路251もゲート線ドライバー回路241と全く同一
に構成されており同様の動作をする。図2において、シ
フトレジスタセル204に欠陥が存在し、他のシフトレ
ジスタセルは全く正常である場合を考える。このとき、
パネル内のゲート線221〜223は正常な信号によっ
て駆動されるものの、それより後のゲート線224,2
25,226,・・は異常な信号によって駆動され、パ
ネルは誤動作状態となる。このとき、外観検査、シフト
レジスタ内の信号チェック等の手段によりシフトレジス
タ204に欠陥が存在することを確認した後、ゲート線
ドライバー回路241内において、シフトレジスタセル
204を231及び232の箇所で切断する。切断はレ
ーザートリミング装置等によって行なう。 【0009】以上の操作を施した結果、ゲート線224
はシフトレジスタセル214の出力信号によって正常に
駆動され、225以降のゲート線225,226,・・
・も正常に駆動される。従って、同一位置に設けられた
シフトレジスタセル、例えば、図2におけるセル204
と214とが同時に欠陥を持たない限り、欠陥救済が可
能である。 【0010】図3に、アクティブマトリクスパネルの画
素アレイ内に存在する画素欠陥がある場合の本発明によ
る救済方法を示す。シフトレジスタセル301,30
2,303,・・・より成るゲート線ドライバー回路3
41及びシフトレジスタセル311,312,313,
・・・・より成るドライバー回路351は共に正常動作
しており、一本のゲート線322により駆動されている
ある画素331に欠陥が存在した場合を考える。このと
き、外観検査,信号チェック等の手段により、画素33
1に欠陥が存在することを確認した後、ゲート線322
において、欠陥が存在する画素331に入力されている
ゲート線322を両側の二箇所332及び333におい
てレーザートリミング装置等によって切断する。この結
果、欠陥を持つ331の1画素がゲート線322から切
り離されてアクティブマトリクスパネルは正常に動作す
る。 【0011】図4は、複数箇所に存在する欠陥について
の画素欠陥の救済方法の一例を説明するものである。同
図において、シフトレジスタセル403,416,40
7は欠陥を持っているが、それぞれ、432と433、
436と437、及び438と439の箇所において切
断されることにより欠陥救済が成されている。また、欠
陥を持つ画素431も両側の434と435とでゲート
線424が切断されることによってゲート線424から
切り離されて欠陥救済がなされる。 【0012】 【発明の効果】本発明によると、画素に欠陥が存在する
場合、欠陥画素に入力される信号線の両側を切り離すこ
とにより1画素を信号線から取り除いて他の画素を正常
に動作させることができる。また、ゲート線(又はデー
タ線)が少なくとも2系列の駆動回路によって並列駆動
されるため、ゲート線(又はデータ線)の容量性負荷を
駆動する能力に余裕が出来、より理想に近い信号波形で
アクティブマトリクスパネルを駆動することが可能とな
る。 【0013】以上述べた如く、本発明を適用することに
よって、アクティブマトリクスパネル、特に、駆動回路
を内蔵したアクティブマトリクスパネルの製造歩留まり
が向上させられ、製造コストが低減されると同時に高品
質のパネルが製造可能となる。
【図面の簡単な説明】 【図1】 第1図(a),(b)は、ドライバー内蔵ア
クティブマトリクスパネルの構造の概要を説明するため
の図である。 【図2】 駆動回路のシフトレジスタセルの欠陥を救済
する説明図である。 【図3】 本発明の実施例を示す図である。 【図4】 複数箇所に存在する欠陥についての画素欠陥
の救済方法の一例を説明する説明図である。 【符号の説明】 322,422…ゲート線、331,431…欠陥画
素、332,333,434,435…切り離し点。

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 1.液晶パネルを構成する一方の基板上にマトリクス状
    に配列された複数の画素を有し、該画素を駆動する信号
    を供給するゲート線群及びデータ線群のうち少なくとも
    一方の信号線群を同一の動作を行なう少なくとも2系列
    の信号線駆動回路により並列的に駆動するようにしたア
    クティブマトリクスパネルの製造方法において、 前記複数の画素に対して欠陥の有無の検査を行ない、 前記複数の画素の中の欠陥画素に入力される前記並列的
    に駆動された信号線の両側を切り離すことによって該欠
    陥画素を前記信号線から切り離すことを特徴とするアク
    ティブマトリクスパネルの製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5552091A (en) * 1978-10-13 1980-04-16 Suwa Seikosha Kk Correcting substrate for liquid crystal panel
JPS57100467A (en) * 1980-12-15 1982-06-22 Suwa Seikosha Kk Ic substrate for active matrix display body

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