JP2877071B2 - 遅延エラー改善方式 - Google Patents
遅延エラー改善方式Info
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- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/327—Logic synthesis; Behaviour synthesis, e.g. mapping logic, HDL to netlist, high-level language to RTL or netlist
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、遅延エラー改善方
式に関し、特にLSIやプリント基板の回路レイアウト
の遅延エラー改善方式に関する。
式に関し、特にLSIやプリント基板の回路レイアウト
の遅延エラー改善方式に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の遅延エラー改善方式は、
LSIやプリント基板のレイアウトにおいて、遅延制限
を満たさないパスの遅延性能を改善するために用いられ
ている。
LSIやプリント基板のレイアウトにおいて、遅延制限
を満たさないパスの遅延性能を改善するために用いられ
ている。
【0003】なお、従来技術としては、例えば特開平6
−140514号公報、及び文献(石岡尚、村方正美、
室伏眞佐子、「タイミング最新化ECOの実験と評
価」、6−85、6−86(論文番号7K−8)、社団
法人情報処理学会、第45回(平成4年後期)全国大会
論文集)等の記載が参照される。
−140514号公報、及び文献(石岡尚、村方正美、
室伏眞佐子、「タイミング最新化ECOの実験と評
価」、6−85、6−86(論文番号7K−8)、社団
法人情報処理学会、第45回(平成4年後期)全国大会
論文集)等の記載が参照される。
【0004】従来の方式においては、配置処理の後に仮
想配線長(確定した配線ではなく、あくまで仮に定めて
配線の長さ)または実配線長(経路まで確定した配線)
をもとに遅延値を算出して、クリティカルパス(遅延性
能が要求値を満たさない、又は要求値に近いパス)を抽
出し、クリティカルパス上に存在する回路セル(単に
「セル」ともいう)を、同じ機能を持ち遅延性能の異な
るセルに置き換えて、論理接続情報を変更し、その後に
配置配線処理をやり直すことによって、クリティカルパ
スの遅延性能を改善する手法が用いられいる。
想配線長(確定した配線ではなく、あくまで仮に定めて
配線の長さ)または実配線長(経路まで確定した配線)
をもとに遅延値を算出して、クリティカルパス(遅延性
能が要求値を満たさない、又は要求値に近いパス)を抽
出し、クリティカルパス上に存在する回路セル(単に
「セル」ともいう)を、同じ機能を持ち遅延性能の異な
るセルに置き換えて、論理接続情報を変更し、その後に
配置配線処理をやり直すことによって、クリティカルパ
スの遅延性能を改善する手法が用いられいる。
【0005】また、遅延時間が大きくてセルの置き換え
だけでは遅延性能を満たすことが困難である場合には、
アーキテクチュアの設計にまで戻って遅延性能を改善す
る手法も取られている。
だけでは遅延性能を満たすことが困難である場合には、
アーキテクチュアの設計にまで戻って遅延性能を改善す
る手法も取られている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の方式に
おいては、本来セルの置き換えだけで遅延性能が改善で
きる場合でも、遅延性能が改善されない可能性が存在す
るという問題点を有している。
おいては、本来セルの置き換えだけで遅延性能が改善で
きる場合でも、遅延性能が改善されない可能性が存在す
るという問題点を有している。
【0007】これは、遅延性能の異なるセルに変更した
後、全ての配置配線処理を最初からやり直しており、配
置位置及び配線長がセル変更前と同一である保証がない
からである。
後、全ての配置配線処理を最初からやり直しており、配
置位置及び配線長がセル変更前と同一である保証がない
からである。
【0008】従って、本発明は、上記事情に鑑みて為さ
れたものであって、その目的は、配置配線後の配置位置
及び配線経路を継承して遅延性能を確実に改善する方式
及び方法を提供することにある。
れたものであって、その目的は、配置配線後の配置位置
及び配線経路を継承して遅延性能を確実に改善する方式
及び方法を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明は、回路レイアウト後に遅延性能を改善する
遅延エラー改善方式であって、配線処理後の実配線情報
を用いて遅延解析を行う手段と、クリティカルパス上の
回路セルを遅延性能の異なる別の回路セルに置き換えて
配置位置を変更する手段と、置き換えた回路セルに重な
る回路セルの配置位置を変更する手段と、これらの回路
セルの端子に繋がる配線について、配線全てを引き剥が
さずに回路セルの属する部分配線領域内で配線の引き剥
がし及び再配線を行う手段と、を含み、回路セル変更前
の配置位置及び配線経路を可及的に継承して遅延性能の
改善を行うことを特徴とする。
め、本発明は、回路レイアウト後に遅延性能を改善する
遅延エラー改善方式であって、配線処理後の実配線情報
を用いて遅延解析を行う手段と、クリティカルパス上の
回路セルを遅延性能の異なる別の回路セルに置き換えて
配置位置を変更する手段と、置き換えた回路セルに重な
る回路セルの配置位置を変更する手段と、これらの回路
セルの端子に繋がる配線について、配線全てを引き剥が
さずに回路セルの属する部分配線領域内で配線の引き剥
がし及び再配線を行う手段と、を含み、回路セル変更前
の配置位置及び配線経路を可及的に継承して遅延性能の
改善を行うことを特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を参照して以下に説明する。図1は、本発明の実施の形
態の構成を示すブロック図である。図1を参照すると、
本発明の実施の形態は、配線処理後の実配線情報を用い
て遅延解析を行う回路遅延時間算出手段6と、回路遅延
時間算出手段6によって算出された全パスについてクリ
ティカルパスを抽出するクリティカルパス抽出手段7
と、クリティカルパス内のセルを抽出するクリティカル
パス内セル抽出手段8と、パスの遅延性能を上げること
が可能なセルが存在すれば、当該セルを交換対象セルと
して抽出する交換セル抽出手段9と、クリティカルパス
上の回路セルを遅延性能の異なる別の回路セルに置き換
えて配置位置を変更するセル交換手段10と、置き換え
たセルに重なるセルの配置位置を変更する重なりほぐし
手段11と、それらセルの端子に繋がる配線を、部分配
線領域内で配線の引きはがし及び再配線を行う部分再配
線手段12と、を含んでいる。
を参照して以下に説明する。図1は、本発明の実施の形
態の構成を示すブロック図である。図1を参照すると、
本発明の実施の形態は、配線処理後の実配線情報を用い
て遅延解析を行う回路遅延時間算出手段6と、回路遅延
時間算出手段6によって算出された全パスについてクリ
ティカルパスを抽出するクリティカルパス抽出手段7
と、クリティカルパス内のセルを抽出するクリティカル
パス内セル抽出手段8と、パスの遅延性能を上げること
が可能なセルが存在すれば、当該セルを交換対象セルと
して抽出する交換セル抽出手段9と、クリティカルパス
上の回路セルを遅延性能の異なる別の回路セルに置き換
えて配置位置を変更するセル交換手段10と、置き換え
たセルに重なるセルの配置位置を変更する重なりほぐし
手段11と、それらセルの端子に繋がる配線を、部分配
線領域内で配線の引きはがし及び再配線を行う部分再配
線手段12と、を含んでいる。
【0011】本発明の実施の形態においては、遅延改善
処理の際に、セルの交換による配置変更を最初からやり
直すのではなく、交換したセル及び交換によって重なり
が生ずるセルにのみ行い、他のセルの配置位置の移動を
防いでいる。さらに、移動したセルの端子に繋がる配線
の再配線を部分配線領域単位で行い、移動しないセルの
配線及び修正を行った部分配線領域以外の配線を保存す
る事により、実配線長の変更を抑えてクリティカルパス
の遅延を改善する。
処理の際に、セルの交換による配置変更を最初からやり
直すのではなく、交換したセル及び交換によって重なり
が生ずるセルにのみ行い、他のセルの配置位置の移動を
防いでいる。さらに、移動したセルの端子に繋がる配線
の再配線を部分配線領域単位で行い、移動しないセルの
配線及び修正を行った部分配線領域以外の配線を保存す
る事により、実配線長の変更を抑えてクリティカルパス
の遅延を改善する。
【0012】上記した本発明の実施の形態を以下に更に
詳細に説明すべく、本発明の実施例を以下に説明する。
詳細に説明すべく、本発明の実施例を以下に説明する。
【0013】図1を参照して、論理回路情報記憶手段1
は論理回路の接続情報を記憶し、配置配線情報記憶手段
2は回路の配置配線後のレイアウトを記憶する。遅延計
算規則記憶手段3は回路遅延時間の算出に必要なパラメ
ータを記憶し、遅延制限値記憶手段4は回路の遅延制限
値を記憶している。
は論理回路の接続情報を記憶し、配置配線情報記憶手段
2は回路の配置配線後のレイアウトを記憶する。遅延計
算規則記憶手段3は回路遅延時間の算出に必要なパラメ
ータを記憶し、遅延制限値記憶手段4は回路の遅延制限
値を記憶している。
【0014】遅延性能改善用セル記憶手段5は、あるセ
ルと同一の機能で、遅延性能の異なるセルの組合せを記
憶している。
ルと同一の機能で、遅延性能の異なるセルの組合せを記
憶している。
【0015】回路遅延時間算出手段6は、論理接続情
報、配置配線情報、及び遅延計算規則をもとに、実配線
長を用いて回路の遅延時間算出を行う。また回路遅延時
間算出手段6は、全パス又は特定パスについての遅延時
間算出を行う。
報、配置配線情報、及び遅延計算規則をもとに、実配線
長を用いて回路の遅延時間算出を行う。また回路遅延時
間算出手段6は、全パス又は特定パスについての遅延時
間算出を行う。
【0016】クリティカルパス抽出手段7は、回路遅延
時間算出手段6によって算出された全パスについての回
路遅延時間、論理接続情報、及び遅延制限値をもとにし
て遅延制限値を満たさない信号パスをクリティカルパス
として抽出する。
時間算出手段6によって算出された全パスについての回
路遅延時間、論理接続情報、及び遅延制限値をもとにし
て遅延制限値を満たさない信号パスをクリティカルパス
として抽出する。
【0017】クリティカルパス内セル抽出手段8は、ク
リティカルパス抽出手段7によって抽出されたクリティ
カルパス毎にパス内のセルを抽出する。
リティカルパス抽出手段7によって抽出されたクリティ
カルパス毎にパス内のセルを抽出する。
【0018】交換セル抽出手段9は、クリティカルパス
内セル抽出手段8によって抽出されたセルが、遅延改善
用セルの中に含まれているか否かを検索し、当該セルが
遅延改善用セルの中に含まれ、且つその中にパスの遅延
性能を上げることが可能なセルが存在すれば、当該セル
を交換対象セルとする。
内セル抽出手段8によって抽出されたセルが、遅延改善
用セルの中に含まれているか否かを検索し、当該セルが
遅延改善用セルの中に含まれ、且つその中にパスの遅延
性能を上げることが可能なセルが存在すれば、当該セル
を交換対象セルとする。
【0019】セル交換手段10は、交換セル抽出手段9
によって抽出された交換対象セルと遅延改善用セルを入
れ換えて論理接続情報を更新し、さらに交換対象セルが
配置されていた位置に、遅延改善用セルを置き直して、
配置配線情報を変更する。
によって抽出された交換対象セルと遅延改善用セルを入
れ換えて論理接続情報を更新し、さらに交換対象セルが
配置されていた位置に、遅延改善用セルを置き直して、
配置配線情報を変更する。
【0020】重なりほぐし手段11は、セル交換手段1
0での配置配線情報の変更において、遅延を改善するセ
ルの交換により、他のセルとの重なりが生じる場合は、
重なりが起こらない位置に、他のセルの配置位置を変更
し、配置配線情報を更新する。
0での配置配線情報の変更において、遅延を改善するセ
ルの交換により、他のセルとの重なりが生じる場合は、
重なりが起こらない位置に、他のセルの配置位置を変更
し、配置配線情報を更新する。
【0021】部分再配線手段12は、セル交換手段10
により置き換えられたセル及び重なりほぐし手段11で
配置位置が変更されたセルの端子に繋がる配線につい
て、部分配線領域単位で配線の引きはがし及び再配線を
行い、配置配線情報を更新する。
により置き換えられたセル及び重なりほぐし手段11で
配置位置が変更されたセルの端子に繋がる配線につい
て、部分配線領域単位で配線の引きはがし及び再配線を
行い、配置配線情報を更新する。
【0022】この重なりほぐし手段11と部分再配線手
段12について、図2〜図9を参考に以下に説明する。
段12について、図2〜図9を参考に以下に説明する。
【0023】LSIの配線経路の決定においては、まず
配線領域に縦横の境界線を引き、境界線で区切られた部
分配線領域(以下「チャネル」という)を定義する。
配線領域に縦横の境界線を引き、境界線で区切られた部
分配線領域(以下「チャネル」という)を定義する。
【0024】各セル間の配線を行う場合、セルの端子か
ら端子までいきなり配線経路を決定するのではなく、一
旦全ての配線について、まずどのチャネルを通すかだけ
を決定する操作(概略配線処理)を行い、その後、個々
のチャネル単位で詳細な配線経路を決定する操作(詳細
配線処理)を行う手法が広く用いられている。概略配線
処理と詳細配線処理等については、例えば刊行物(樹下
行三著、「論理回路のCAD」、情報処理学会、昭和5
6年3月20日発行、第49頁)等が参照される。
ら端子までいきなり配線経路を決定するのではなく、一
旦全ての配線について、まずどのチャネルを通すかだけ
を決定する操作(概略配線処理)を行い、その後、個々
のチャネル単位で詳細な配線経路を決定する操作(詳細
配線処理)を行う手法が広く用いられている。概略配線
処理と詳細配線処理等については、例えば刊行物(樹下
行三著、「論理回路のCAD」、情報処理学会、昭和5
6年3月20日発行、第49頁)等が参照される。
【0025】図2〜図9を参照して、本発明の実施例の
動作を重なりほぐし処理と部分再配線処理について具体
的に説明する。
動作を重なりほぐし処理と部分再配線処理について具体
的に説明する。
【0026】図2は、単一層LSIにおける詳細配線後
の配置配線図の一部分を表しており、図2に示した配置
配線情報は、配置配線情報記憶手段2に記憶されてい
る。
の配置配線図の一部分を表しており、図2に示した配置
配線情報は、配置配線情報記憶手段2に記憶されてい
る。
【0027】図2に示すように、チャネル境界線16、
17、18、19で区切られたチャネル50の中にセル
20、21、22が配置されている。実端子23、2
4、25、26、27、28、29、30はセル20、
21、22の端子である。仮想端子31、32、33、
34、35、36、37、38、39、40は概略配線
処理において、ネットの概略配線がチャネル境界線を通
過する場合にチャネル境界上に設定される。
17、18、19で区切られたチャネル50の中にセル
20、21、22が配置されている。実端子23、2
4、25、26、27、28、29、30はセル20、
21、22の端子である。仮想端子31、32、33、
34、35、36、37、38、39、40は概略配線
処理において、ネットの概略配線がチャネル境界線を通
過する場合にチャネル境界上に設定される。
【0028】チャネル間を通過する概略配線は仮想端子
によって各チャネル内の配線として分割され、各チャネ
ル単位で分割された概略配線について詳細配線処理が行
われる。
によって各チャネル内の配線として分割され、各チャネ
ル単位で分割された概略配線について詳細配線処理が行
われる。
【0029】配線41、42、43、44、45、4
6、47、48、49は仮想端子から実端子及び他の仮
想端子までの実配線(形状まで決定した配線)であり、
詳細配線処理後に決定される。
6、47、48、49は仮想端子から実端子及び他の仮
想端子までの実配線(形状まで決定した配線)であり、
詳細配線処理後に決定される。
【0030】ここで、交換セル抽出手段9によって選択
されたセル21と、遅延改善セル51を交換するものと
する。
されたセル21と、遅延改善セル51を交換するものと
する。
【0031】図3に示すように、それまで交換対象セル
21が配置されていた位置に、遅延改善セル51を配置
しようとすると、遅延改善セル51とセル22との間、
及び遅延改善セル51と配線41との間に重なりが生ず
る。
21が配置されていた位置に、遅延改善セル51を配置
しようとすると、遅延改善セル51とセル22との間、
及び遅延改善セル51と配線41との間に重なりが生ず
る。
【0032】このような場合において、重なりほぐし手
段11は、図4に示すように、セル22を、セル51と
は重ならない場所に移動する。
段11は、図4に示すように、セル22を、セル51と
は重ならない場所に移動する。
【0033】その際、移動したセルが、また別のセルと
重なってしまうような場合には、さらに別のセルを移動
する。
重なってしまうような場合には、さらに別のセルを移動
する。
【0034】移動については、配置した遅延改善セルや
既に移動対象となったセルに重ならないように行い、セ
ル21と移動したセル22に繋っていた配線41、4
3、44、45、46、47、48を図4に示すように
引きはがす。
既に移動対象となったセルに重ならないように行い、セ
ル21と移動したセル22に繋っていた配線41、4
3、44、45、46、47、48を図4に示すように
引きはがす。
【0035】部分再配線手段12は、重なりほぐし手段
11によって引きはがした配線41、43、44、4
5、46、47、48を図5に示すように、配線55、
56、57、58、59、60、61として再配線す
る。
11によって引きはがした配線41、43、44、4
5、46、47、48を図5に示すように、配線55、
56、57、58、59、60、61として再配線す
る。
【0036】チャネル外の配線及びセルの交換によって
移動しない他のセルに繋がる配線はそのまま保存され
る。
移動しない他のセルに繋がる配線はそのまま保存され
る。
【0037】このようにセル交換又は重なりほぐしによ
って、交換対象セルの実端子や移動したセルの実端子が
それまで置かれていたチャネル領域を越えてしまうよう
な場合は、上記処理に加える処理として、チャネル境界
線上に存在する仮想端子の追加、削除を行い、越えた先
のチャネル内について配線の引きはがしと再配線を行
う。
って、交換対象セルの実端子や移動したセルの実端子が
それまで置かれていたチャネル領域を越えてしまうよう
な場合は、上記処理に加える処理として、チャネル境界
線上に存在する仮想端子の追加、削除を行い、越えた先
のチャネル内について配線の引きはがしと再配線を行
う。
【0038】次に、図6に示すように、遅延改善セル6
7が配置されることにより、セル68との重なりが生じ
てセル68がチャネル65からチャネル66に移動する
場合を例として説明する。
7が配置されることにより、セル68との重なりが生じ
てセル68がチャネル65からチャネル66に移動する
場合を例として説明する。
【0039】重なりによって、図6に示したような移動
がされる場合には、図7に示すように、それまでセル6
8の実端子71、72、73に繋がっていた配線77、
78、79を削除し、チャネル65、66の境界線であ
るチャネル境界線63上に存在していて配線78、79
に接続していた仮想端子75、76も削除する。さらに
仮想端子75、76につながっていたチャネル66内の
配線81、82も削除する。
がされる場合には、図7に示すように、それまでセル6
8の実端子71、72、73に繋がっていた配線77、
78、79を削除し、チャネル65、66の境界線であ
るチャネル境界線63上に存在していて配線78、79
に接続していた仮想端子75、76も削除する。さらに
仮想端子75、76につながっていたチャネル66内の
配線81、82も削除する。
【0040】図8に示すように、セル68の実端子7
1、72、73について再配線しようとすると、実端子
71に接続するべき配線はチャネル境界線63を通過す
る。この場合、図9に示すように、チャネル境界線上の
配線が通過する位置に仮想端子83を新たに追加し、チ
ャネル境界線63を通過する配線についてチャネル毎に
分割する。
1、72、73について再配線しようとすると、実端子
71に接続するべき配線はチャネル境界線63を通過す
る。この場合、図9に示すように、チャネル境界線上の
配線が通過する位置に仮想端子83を新たに追加し、チ
ャネル境界線63を通過する配線についてチャネル毎に
分割する。
【0041】次に、チャネル毎に分割された配線につい
て再配線を行い、チャネル65内で配線86を仮想端子
83まで配線する。チャネル66内で仮想端子83から
実端子71まで配線87を再配線して、配線88、89
をそれぞれ実端子72、73に接続するように再配線す
る。
て再配線を行い、チャネル65内で配線86を仮想端子
83まで配線する。チャネル66内で仮想端子83から
実端子71まで配線87を再配線して、配線88、89
をそれぞれ実端子72、73に接続するように再配線す
る。
【0042】以上の規則に従って、重なりが生じないよ
うに交換した遅延改善用セルが配置され、交換したセル
及び交換によって移動したセルのみについて再配線が行
われる。
うに交換した遅延改善用セルが配置され、交換したセル
及び交換によって移動したセルのみについて再配線が行
われる。
【0043】次に、再び図1を参照して、回路遅延時間
算出手段6により、交換したセル上のパスについてパス
遅延の再計算を行う。再計算した結果、そのパスが遅延
制限値を満たす場合は改善パス表示手段13により信号
パスと遅延値の表示を行う。遅延制限値を満たさない場
合には、前述のクリティカルパス内セル抽出手段8で抽
出されたセルの内、まだ置き換えの対象となっていない
クリティカルパス内セルに対して、上記した各手段9〜
12の処理を繰り返えす。
算出手段6により、交換したセル上のパスについてパス
遅延の再計算を行う。再計算した結果、そのパスが遅延
制限値を満たす場合は改善パス表示手段13により信号
パスと遅延値の表示を行う。遅延制限値を満たさない場
合には、前述のクリティカルパス内セル抽出手段8で抽
出されたセルの内、まだ置き換えの対象となっていない
クリティカルパス内セルに対して、上記した各手段9〜
12の処理を繰り返えす。
【0044】それでもバス遅延値が遅延制限値を満たさ
ない場合には、改善見達パス表示手段14により、パス
名と遅延値を表示する。上記6、8〜14の手段の全て
のクリティカルパスについて行なわれる。制御手段15
は上述したこれ等全ての手段1〜14を制御するもので
ある。
ない場合には、改善見達パス表示手段14により、パス
名と遅延値を表示する。上記6、8〜14の手段の全て
のクリティカルパスについて行なわれる。制御手段15
は上述したこれ等全ての手段1〜14を制御するもので
ある。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
セル交換による遅延性能の改善を保証し、クリティカル
パスの遅延を確実に改善するという効果を有する。
セル交換による遅延性能の改善を保証し、クリティカル
パスの遅延を確実に改善するという効果を有する。
【0046】これは、本発明においては、遅延改善処理
において、セルの交換により行う配置変更を、最初から
やり直すのではなく、交換したセル及び交換によって影
響されるセルにのみ行い、他のセルの配置位置の移動を
防いでいるからである。さらに、本発明においては、移
動したセルの端子に繋がる配線の再配線を、部分配線領
域単位で行い、移動しないセルの配線及び修正を行った
部分配線領域以外の配線を保存しているからである。
において、セルの交換により行う配置変更を、最初から
やり直すのではなく、交換したセル及び交換によって影
響されるセルにのみ行い、他のセルの配置位置の移動を
防いでいるからである。さらに、本発明においては、移
動したセルの端子に繋がる配線の再配線を、部分配線領
域単位で行い、移動しないセルの配線及び修正を行った
部分配線領域以外の配線を保存しているからである。
【図1】本発明の実施の形態の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図2】本発明の実施例を説明するための図であり、単
一層LSIにおける回路の詳細配線後の配置配線状態を
表す図である。
一層LSIにおける回路の詳細配線後の配置配線状態を
表す図である。
【図3】本発明の実施例を説明するための図であり、図
2についてセル交換手段を適用した場合の配置配線図で
ある。
2についてセル交換手段を適用した場合の配置配線図で
ある。
【図4】本発明の実施例を説明するための図であり、図
3について重なりほぐし手段を適用した場合の配置配線
図である。
3について重なりほぐし手段を適用した場合の配置配線
図である。
【図5】本発明の実施例を説明するための図であり、図
4について部分再配線手段を適用した場合の配置配線図
である。
4について部分再配線手段を適用した場合の配置配線図
である。
【図6】本発明の実施例を説明するための図であり、単
一層LSIにおける詳細配線後の回路について、セル交
換手段を適用した別の例を示す回路の配線図である。
一層LSIにおける詳細配線後の回路について、セル交
換手段を適用した別の例を示す回路の配線図である。
【図7】本発明の実施例を説明するための図であり、図
6について重なりほぐし手段を適用した場合の配置配線
図である。
6について重なりほぐし手段を適用した場合の配置配線
図である。
【図8】本発明の実施例を説明するための図であり、図
6について重なりほぐし手段を適用した場合の配置配線
図である。
6について重なりほぐし手段を適用した場合の配置配線
図である。
【図9】本発明の実施例を説明するための図であり、図
8について部分再配線手段を適用した場合の配置配線図
である。
8について部分再配線手段を適用した場合の配置配線図
である。
1 論理回路情報記憶手段1 2 配置配線情報記憶手段 3 遅延計算規則記憶手段 4 遅延制限値記憶手段 5 遅延性能改善用セル記憶手段 6 回路遅延時間算出手段 7 クリティカルパス抽出手段 8 クリティカルパス内セル抽出手段 9 交換セル抽出手段 10 セル交換手段 11 重なりほぐし手段 12 部分再配線手段 13 改善パス表示手段 14 改善見達パス表示手段 16〜19 チャネル境界線 20〜22 セル 23〜30 実端子 31〜40 仮想端子 50 チャネル 41〜49 仮想端子から実端子及び他の仮想端子まで
の実配線
の実配線
Claims (2)
- 【請求項1】回路レイアウト後に遅延性能を改善する遅
延エラー改善方式であって、 配線処理後の実配線情報を用いて遅延解析を行う手段
と、 クリティカルパス上の回路セルを遅延性能の異なる別の
回路セルに置き換えて配置位置を変更する手段と、 置き換えた回路セルに重なる回路セルの配置位置を変更
する手段と、 これらの回路セルの端子に繋がる配線について、配線全
てを引き剥がさずに回路セルの属する部分配線領域内で
配線の引き剥がし及び再配線を行う手段と、 を含み、回路セル変更前の 配置位置及び配線経路を可及的に継承
して遅延性能の改善を行うことを特徴とする遅延エラー
改善方式。 - 【請求項2】回路レイアウト後に遅延改善処理方法にお
いて、 クリティカルパス上のセルを、該パスの遅延性能を上げ
ることが可能な別のセルと交換して遅延改善を行う際
に、交換したセル及び交換によって重なりが生ずるセル
のみについて配置位置の移動を行い、その他セルの配置
位置の移動を防ぎ、且つ、 前記移動したセルの端子に繋がる配線の再配線を、該配
線全てを引き剥がさずに移動したセルの端子が属する部
分配線領域内で行い、前記移動しないセルの配線及び修
正を行った部分配線領域以外の配線を保存することによ
り、セル交換前のレイアウト結果を可及的に保存し、実
配線長の変更量を抑えてクリティカルパスの遅延時間の
改善を行うようにしたことを特徴とする遅延エラー改善
方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8115537A JP2877071B2 (ja) | 1996-04-12 | 1996-04-12 | 遅延エラー改善方式 |
US08/834,160 US6209121B1 (en) | 1996-04-12 | 1997-04-14 | Method and system for improving delay error |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8115537A JP2877071B2 (ja) | 1996-04-12 | 1996-04-12 | 遅延エラー改善方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09282354A JPH09282354A (ja) | 1997-10-31 |
JP2877071B2 true JP2877071B2 (ja) | 1999-03-31 |
Family
ID=14664994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8115537A Expired - Fee Related JP2877071B2 (ja) | 1996-04-12 | 1996-04-12 | 遅延エラー改善方式 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6209121B1 (ja) |
JP (1) | JP2877071B2 (ja) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002163324A (ja) * | 2000-11-28 | 2002-06-07 | Hitachi Ltd | 遅延時間計算方法及びそれを用いた半導体集積回路の設計方法 |
US6502224B2 (en) * | 2001-04-12 | 2002-12-31 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for synthesizing levelized logic |
US6954909B2 (en) * | 2003-02-12 | 2005-10-11 | Stmicroelectronics, Inc. | Method for synthesizing domino logic circuits |
US6922817B2 (en) * | 2003-04-04 | 2005-07-26 | Lsi Logic Corporation | System and method for achieving timing closure in fixed placed designs after implementing logic changes |
US6931614B2 (en) * | 2003-04-30 | 2005-08-16 | Sun Microsystems, Inc. | Method and apparatus for placing repeating flip-flop stations on signal lines within an integrated circuit |
US7879538B2 (en) * | 2003-09-24 | 2011-02-01 | Cadence Design Systems, Inc. | Frequency division multiplexing (FDM) lithography |
EP1683188A4 (en) * | 2003-11-06 | 2008-08-06 | Clear Shape Technologies Inc | DELTA INFORMATION DESIGN CLOSURE IN THE MANUFACTURE OF INTEGRATED CIRCUITS |
US7360191B2 (en) * | 2003-11-06 | 2008-04-15 | Clear Shape Technologies, Inc. | Delta information design closure integrated circuit fabrication |
US7245157B2 (en) * | 2004-12-17 | 2007-07-17 | Stmicroelectronics, Inc. | Dynamic phase assignment optimization using skewed static buffers in place of dynamic buffers |
US7331030B2 (en) * | 2004-12-17 | 2008-02-12 | Stmicroelectronics, Inc. | Method to unate a design for improved synthesizable domino logic flow |
US7233639B2 (en) * | 2004-12-17 | 2007-06-19 | Stmicroelectronics, Inc. | Unfooted domino logic circuit and method |
US7370301B2 (en) * | 2004-12-17 | 2008-05-06 | Stmicroelectronics, Inc. | Method and apparatus for mixing static logic with domino logic |
US20060242618A1 (en) * | 2005-02-14 | 2006-10-26 | Yao-Ting Wang | Lithographic simulations using graphical processing units |
US7385988B2 (en) * | 2005-02-28 | 2008-06-10 | Cisco Technology, Inc. | Method and apparatus for limiting VPNv4 prefixes per VPN in an inter-autonomous system environment |
CN101506810B (zh) * | 2005-10-24 | 2013-06-05 | 卡德思设计规划公司 | 集成电路的时序、噪声和功率分析 |
JP4759419B2 (ja) * | 2006-03-23 | 2011-08-31 | 富士通株式会社 | 遅延解析プログラム、記録媒体、遅延解析方法、および遅延解析装置 |
US7669161B2 (en) * | 2007-06-22 | 2010-02-23 | Synopsys, Inc. | Minimizing effects of interconnect variations in integrated circuit designs |
JP4993362B2 (ja) * | 2007-06-26 | 2012-08-08 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路の自動遅延調整方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01173168A (ja) | 1987-12-28 | 1989-07-07 | Dainippon Printing Co Ltd | 半導体集積回路のマスクレイアウト方法 |
US5555201A (en) * | 1990-04-06 | 1996-09-10 | Lsi Logic Corporation | Method and system for creating and validating low level description of electronic design from higher level, behavior-oriented description, including interactive system for hierarchical display of control and dataflow information |
JP3076410B2 (ja) * | 1991-07-08 | 2000-08-14 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路の設計方法 |
JP3256597B2 (ja) | 1993-06-21 | 2002-02-12 | 株式会社東芝 | 自動配置設計方法および自動配置設計装置 |
JP3335250B2 (ja) * | 1994-05-27 | 2002-10-15 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路の配線方法 |
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-
1996
- 1996-04-12 JP JP8115537A patent/JP2877071B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-04-14 US US08/834,160 patent/US6209121B1/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH09282354A (ja) | 1997-10-31 |
US6209121B1 (en) | 2001-03-27 |
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