JP2874374B2 - 電子部品の移載ヘッド - Google Patents

電子部品の移載ヘッド

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JP2874374B2
JP2874374B2 JP3076231A JP7623191A JP2874374B2 JP 2874374 B2 JP2874374 B2 JP 2874374B2 JP 3076231 A JP3076231 A JP 3076231A JP 7623191 A JP7623191 A JP 7623191A JP 2874374 B2 JP2874374 B2 JP 2874374B2
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mirror
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博幸 坂口
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電子部品の移載ヘッドに
係り、ノズルに電子部品を吸着してこの電子部品を基板
へ移送しながら、この電子部品をカメラにより観察する
ようにしたものである。
【0002】
【従来の技術】ICチップ、LSIチップ、抵抗チッ
プ、コンデンサチップのような電子部品を基板に実装す
る電子部品実装装置は、トレイやテープフィーダ等の電
子部品を移載ヘッドのノズルに吸着してテイクアップ
し、次いでこの電子部品のXYθ方向の位置ずれを観察
し、且つこれを補正したうえで、位置決め部に位置決め
された基板に搭載するようになっている。
【0003】従来、電子部品を観察する手段としては、
図3(平面図)に示すように、トレイなどの電子部品供
給部101と基板102の位置決め部103の間に、電
子部品Pの位置ずれ観察ステージ104を設けたものが
知られている。
【0004】その動作を説明すると、まずサブ移載ヘッ
ド105が電子部品供給部101の電子部品Pをテイク
アップして観察ステージ104に移載し、この観察ステ
ージ104に設けられたCCDカメラ106により、電
子部品PのXYθ方向の位置ずれを検出する。
【0005】次いで移載ヘッド107のノズル108が
電子部品Pを吸着してテイクアップする。そして電子部
品PのXY方向の位置ずれは、移載ヘッド107のXY
方向ストロークに、XY方向の位置ずれに基づく補正値
を加えることにより補正し、またθ方向の位置ずれは、
移載ヘッド107に装備されたモータ109により、ノ
ズル108をθ方向(ノズル108の軸心を中心とする
回転方向)に回転させることにより補正する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
手段では、サブ移載ヘッド105により電子部品Pを観
察ステージ104に一旦載置したうえで、カメラ106
により観察し、次いで移載ヘッド107によりテイクア
ップして、基板102へ移送しなければならなかったた
め、観察に要する時間が丸々ロスタイムとなって実装能
率があがらないものであった。
【0007】したがって本発明は、カメラによる電子部
品の観察に要するロスタイムを無くし、高速にて電子部
品を基板に移送搭載できる電子部品の移載ヘッドを提供
することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、支持部材に揺
動自在に装着されたノズル部と、このノズル部の側方に
設けられたミラーと、このミラーの光軸上に設けられた
カメラと、上記ノズル部のノズルに吸着された電子部品
上記カメラで観察するために、この電子部品をこのミ
ラーの光軸上に位置させるべくこのノズル部を揺動させ
る揺動手段とから電子部品の移載ヘッドを構成してい
る。
【0009】
【作用】上記構成において、ノズルに電子部品を吸着し
て基板に移送する途中において、ノズル部を揺動させ
て、電子部品をミラーの光軸上に位置させ、この電子部
品をカメラにより観察して、その位置ずれを検出する。
【0010】
【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。
【0011】図1は移載ヘッドの斜視図、図2は要部の
側面図である。1は本体フレームであり、その側部にモ
ータ2が装着されている。モータ2の回転は、タイミン
グベルト3を介して垂直なボールねじ4に伝達される。
このボールねじ4にはナット5が装着されている。
【0012】6は支持部材であって、その前面にはノズ
ル部7が揺動自在に装着されている。このノズル部7の
下部には、電子部品Pを吸着するノズル8と、この電子
部品Pに光を照射する照射体9が設けられている。また
ノズル部7の側方には、ミラー20が斜設されている。
【0013】支持部材6は上記ナット5に結合されてい
る。また支持部材6の背面にはスライダ11が装着され
ており、このスライダ11は、上記本体フレーム1の前
面に設けられた垂直なガイド12に係合している。した
がってモータ2が駆動すると、支持部材6はガイド12
に沿って昇降する。
【0014】ノズル部7の側部にはローラ13が装着さ
れている。このローラ13は、ノズル部7の側方に設け
られたガイド板14に形成されたへの字状のガイド孔1
5に嵌合している。したがって、モータ2を駆動して支
持部材6を上昇させると、ローラ13はガイド孔15に
沿って転動し、ノズル部7は図2においてA位置からB
位置へ矢印方向へ揺動して、ノズル8に吸着された電子
部品Pを、ミラー20の光軸NA上に位置させる。すな
わち、上記ローラ13、ガイド板14、ガイド孔15
は、ノズル部7を揺動させるための揺動手段を構成して
いる。
【0015】ミラー20の上方には、複数個のカメラ2
1,22が設けられている。23は鏡筒である。カメラ
21とカメラ22は倍率が異なっており、光路を切り換
えることにより、カメラ21とカメラ22により、選択
的に電子部品Pを観察する。
【0016】この移載ヘッドは上記のような構成より成
り、ノズル8に電子部品Pを吸着した移載ヘッドは、こ
の電子部品Pを基板(図外)へ向かって移送する。その
途中において、モータ2が駆動し、支持部材6はガイド
12に沿って上昇する。するとローラ13はガイド孔1
5に沿って転動し、ノズル部7はA位置からB位置へ揺
動して、ノズル8に吸着された電子部品Pをミラー20
の光軸NA上に位置させる(図2参照)。またこれと同
時に照射体9が点灯し、カメラ21又はカメラ22によ
り電子部品Pのシルエットが観察され、そのXYθ方向
の位置ずれが検出される。次いでこの位置ずれを補正し
たうえで、この電子部品Pを基板に搭載する。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、支持部材
に揺動自在に装着されたノズル部と、このノズル部の側
方に設けられたミラーと、このミラーの光軸上に設けら
れたカメラと、上記ノズル部のノズルに吸着された電子
部品を上記カメラで観察するために、この電子部品を
のミラーの光軸上に位置させるべくこのノズル部を揺動
させる揺動手段とから電子部品の移載ヘッドを構成して
いるので、電子部品を基板へ移送しながら位置ずれを検
出でき、したがって電子部品を観察する時間がデッドタ
イムとなることはなく、それだけサイクルタイムを短縮
して、作業性よく電子部品を基板に移送搭載できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る移載ヘッドの斜視図
【図2】本発明に係る観察中の要部側面図
【図3】従来手段の平面図
【符号の説明】 6 支持部材 7 ノズル部 8 ノズル 13 ローラ 14 ガイド板 15 ガイド孔 20 ミラー 21 カメラ 22 カメラ

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】支持部材に揺動自在に装着されたノズル部
    と、このノズル部の側方に設けられたミラーと、このミ
    ラーの光軸上に設けられたカメラと、上記ノズル部のノ
    ズルに吸着された電子部品を上記カメラで観察するため
    に、この電子部品をこのミラーの光軸上に位置させるべ
    くこのノズル部を揺動させる揺動手段とから成ることを
    特徴とする電子部品の移載ヘッド。
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