JP2832693B2 - 出力制御回路を備えたdram - Google Patents
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Description
ので、詳しくは、リード動作の際、カラムアドレススト
ローブ信号のラッチ以前にアドレスが遷移すると、不必
要なデータのDRAM外部への出力を防止し、該カラム
アドレスストローブ信号のラッチ後にグローバルデータ
バスがプリチャージされると、所望のデータがDRAM
外部に出力されるように構成した出力制御回路を備えた
DRAMに関するものである。
ように、DRAMの外部から印加するローアドレススト
ローブ(row address strobe)信号/RAS及びアドレ
ス信号ADSによりローアドレス信号RADSを出力す
るローアドレスバッファー10と、前記アドレス信号A
DS、ローアドレスストローブ信号/RAS及びカラム
アドレスストローブ信号/CASによりカラムアドレス
信号CADS及びアドレス遷移検出信号ATDを出力す
るカラムアドレスバッファー20と、前記アドレスバッ
ファー10から出力するローアドレス信号RADSをデ
ィコーディングしワードライン選択信号WO0 −WLn
を出力するローディコーダー30と、前記カラムアドレ
スバッファー20から出力するカラムアドレス信号CA
DS及びアドレス遷移検出信号ATDによりカラム選択
信号YSEL0 −YSELm を出力するカラムディコー
ダー40と、前記ワードライン選択信号WO0 −WLn
により貯蔵データを出力するメモリセルアレイ50と、
該メモリセルアレイ50から出力するデータを増幅し該
増幅されたデータを前記カラムディコーダー40からの
出力カラム選択信号YSEL0 −YSELm により出力
する第1及び第2センスアンプ51、52と、それら第
1及び第2センスアンプ51、52から出力するデータ
を増幅し該増幅されたデータの第1及び第2グローバル
入出力データ信号GI0−GI0*を出力するデータバ
スセンスアンプ60と、該データバスセンスアンプ60
から出力する第1及び第2グローバル入出力データ信号
GIO、GIO*をラッチし前記DRAMの外部から印
加するカラムアドレスストローブ信号/CAS及び出力
イネーブル信号/OEにより該DRAMの外部に出力す
る出力バッファー70と、から構成されていた。ここ
で、該DRAMは前記メモリセルアレイ50の貯蔵デー
タの出力される場合のみを説明したが、該メモリセルア
レイ50にはディジタルデータの貯蔵される複数個のセ
ルが備えられていた。
Mの作用を説明すると次のようであった。先ず、図5
(A)に示したようなアドレス信号ADSがローアドレ
スバッファー10及びカラムアドレスバッファー20に
夫々印加してローアドレスストローブされ、第1叉は第
2センスアンプ51、52で増幅されたデータがデータ
バスセンスアンプ60に出力される。次いで、該データ
バスセンスアンプ60で入力データが増幅され、図5
(F)に示したローレベルの第1叉は第2グローバルデ
ータバス信号GI0、GI*が出力バッファー70に出
力される。この場合、それら第1及び第2グローバルデ
ータバス信号GI0,GI*は、ハイレベルにプリチャ
ージ(precharge)された状態で前記データバスセンス
アンプ60からの出力データが’1’であると、該第グ
ローバルデータバス信号GI0はローレベルに遷移さ
れ、該データバスセンスアンプ60からの出力データ
が’0’であると、第2グローバルデータバス信号GI
*はローレベルに遷移される。次いで、出力イネーブル
信号/OEが図5(G)に示したようにローレベルに遷
移されると、出力バッファー70にラッチされた不必要
なデータ信号Dout1は図5(H)に示したようにD
RAM外部に出力される。
に示したように再び遷移され、カラムアドレスストロー
ブ信号/CASが図5(B)に示したようにローレベル
に遷移してアクチーブされると、カラムアドレスバッフ
ァー20によりラッチされたカラムアドレス信号CAD
Sとハイレベルのパルス信号のアドレス遷移検出信号A
TDとがカラムディコーダー30に夫々出力される。次
いで、該アドレス遷移検出信号ATDがローレベルに遷
移すると、前記カラムアドレス信号CADSのディコー
ディングされる値に該当するカラム選択信号YSELi
(i=0、1、−−−m)が図5(E)に示したよう
に、第1叉は第2センスアンプ51、52に出力され、
それら第1叉は第2センスアンプ51、52で増幅され
たデータが前記データバスセンスアンプ60に出力され
る。その後、該データバスセンスアンプ60でデータが
増幅され、図5(F)に示したローレベルの第1叉は第
2グローバルデータバス信号GI0、GI0*が出力バ
ッファー70に出力される。次いで、出力イネーブル信
号/OEは図5(G)に示したように、ローレベルに維
持されているため、該出力バッファー70にラッチされ
た不必要なデータ信号Dout2は図5(H)に示した
ように、DRAM外部に出力される。この場合、前記ロ
ーアドレスストローブ信号/RASと前記カラムアドレ
スストローブ信号/CASが全てハイレベルに遷移され
ると、前記アドレス遷移検出信号ATDはハイレベルに
遷移される。
従来DRAMにおいては、カラムアドレスストローブ信
号がアクチーブしない状態でアドレス信号が遷移する
と、アドレス遷移検出信号が発生して不必要なデータが
該DRAMの外部に出力されるため、該不必要なデータ
の出力に所要するだけの無駄な電力消費が発生するとい
う不都合な点があった。
Mのリード動作時に、不必要なアドレスに該当するデー
タの出力を防止し、省エネルギー化を図り得るDRAM
を提供しようとするものである。
AMにおけるカラムアドレス信号がラッチされる以前に
アドレス信号が遷移すると、ディスエーブルされた出力
制御信号が出力制御回路により出力して、不必要なデー
タのDRAM外部への出力を防止し、カラムアドレス信
号がラッチされた後にアドレス信号が遷移すると、イネ
ーブルされた出力信号が出力制御回路により出力バッフ
ァーに出力され、該出力バッファーにラッチされた所望
のデータ信号が前記DRAM外部に出力されるように、
出力制御回路を備えたDRAMを構成することにより達
成される。
し、図面を用いて説明する。図1に示したように、本発
明に係る出力制御回路を備えたDRAMにおいては、ロ
ーアドレスバッファー11と、データバスセンスアンプ
61と、データバスセンスアンプ制御装置62と、出力
制御回路80と、出力バッファー90と、を備え、その
外図4に示した従来と同様に、カラムアドレスバッファ
ー20と、ローディコーダー30と、メモリセルアレイ
50と、第1及び第2センスアンプ51、52と、カラ
ムディコーダー40と、データバスセンスアンプ60
と、出力バッファー70と、を備えて構成される。
は、遅延信号RASを前記出力制御回路80に出力する
ことを除き、図4に示した従来アドレスバッファー10
と同様に構成される。且つ、前記データバスセンスアン
プ61においては、第1及び第2グローバルデータバス
信号GI0−GI0*を前記出力バッファー90及びデ
ータバスセンスアンプ制御装置62に夫々出力するよう
になっている。叉、該データバスセンスアンプ制御装置
62においては、グローバルデータバスプリチャージ信
号GIOPを前記データバスセンスアンプ61に出力
し、該データバスセンスアンプ61はグローバルデータ
バスプリチャージパルス信号GIOPPLSを前記出力
制御回路80に出力するようになっている。
2に示したように、前記ローアドレスバッファー11か
ら出力する遅延信号RAS*と前記データバスセンスア
ンプ61から出力するグローバルデータバスプリチャー
ジパルス信号GIOP PLSとを論理演算する第1論
理演算部81と、該第1論理演算部81から出力する信
号がクリア端子CLEARに印加し、電源電圧Vccが
データ端子Dに印加し、前記カラムアドレスバッファー
20からの出力アドレス遷移検出信号ATDがクロック
端子CLKに印加し、出力端子Qから出力イネーブルラ
ッチ信号OEN*を出力するディフリップフロップ84
と、前記DRAM外部から出力する出力イネーブル信号
OEを反転する第1インバーター85と、該第1インバ
ーター85で反転された出力イネーブル信号OEと前記
ディフリップフロップ84から出力するイネーブルラッ
チ信号OEN*とを論理演算し、出力制御信号DOEN
を前記出力バッファー90に出力する第2論理演算部8
6と、を備えている。
は、前記遅延信号RAS*と前記グローバルデータバス
プリチャージパルス信号GIOP PLSとを否定論理
和するNORゲート82と、該NORゲート82から出
力した信号を反転し前記ディフリップフロップ84のク
リア端子に出力する第2インバーター83と、を備えて
いる。ここで、前記第1論理演算部81は、前記遅延信
号RAS*とグローバルデータバスプリチャージパルス
信号GIOP PLSとを論理和し、前記ディフリップ
フロップ84のクリア端子に出力するORゲート(図示
されず)により構成することもできる。
は、前記ディフリップフロップ84から出力する遅延信
号OEN*を反転する第3インバーター87と、該第3
インバーター87の出力信号と前記第1インバーター8
5から出力するイネーブル信号OEとを否定積す NA
NDゲート88と、該NANDゲート88から出力する
信号を反転し前記出力バッファー90に制御信号DOE
Nとして出力する第4インバーター89と、を備えてい
る。ここで、前記第2論理演算部86は、前記ディフリ
ップフロップ84から出力する出力イネーブルラッチ信
号OEN*を反転する第3インバーター87と、該第3
インバーター87の出力信号と前記第1インバーター8
5から出力するイネーブル信号OEとを論理積し、前記
出力バッファー90に制御信号DOENとして出力する
ANDゲート(図示されず)により構成することもでき
る。
前記データバスセンスアンプ61から出力する第1及び
第2グローバル入出力データ信号GIO、GIO*をラ
ッチし、前記出力制御回路80から出力する制御信号D
OENにより前記DRAM外部に出力するようになって
いる。
御回路を備えたDRAMの作用を説明すると次のようで
ある。先ず、図3(A)(B)に示したようなローアド
レス信号/RAS及びカラムアドレスストローブ信号/
CASと、図3(C)−(G)に示したアドレス信号A
DS及び遷移検出信号ATDとカラム選択信号YSEL
iと、が前述した従来と同様な過程を経て処理され、第
1叉は第2センスアンプ51、52で増幅されたデータ
がデータバスセンスアンプ61に出力される。且つ、前
記図3(C)に示したローアドレスストローブ信号/R
ASは所定時間tRAD以上遅延された信号として、ロ
ーアドレスバッファー11により出力制御回路80に出
力される。次いで、前記データバスセンスアンプ61は
第1及び第2グローバル入出力データ信号GIO、GI
O*をデータバスセンスアンプ制御装置62及び出力バ
ッファー90に夫々出力する。従って、該データバスセ
ンスアンプ制御装置62は、それら第1及び第2グロー
バル信号GIO、GIO*がローレベルに遷移するとロ
ーレベルに維持され、ハイレベルにプリチャージされる
とハイレベルに遷移するグローバルデータバスプリチャ
ージ信号GIOPを図3(H)に示したように、前記デ
ータバスセンスアップ61に出力する。次いで、該デー
タバスセンスアンプ61は前記グローバルデータバスプ
リチャージ信号GIOPがローレベルからハイレベルに
遷移するとき発生するハイレベルのパルス信号であるグ
ローバルデータバスプリチャージパルス信号GIOP
PLSを図3(I)に示したように、前記出力制御回路
80に出力する。
プフロップ84は、図2に示したように、アドレス遷移
検出信号ATDがハイレベルに遷移するとき、データ端
子Dに印加する5Vの電源電圧Vccをラッチするた
め、図3(J)に示したような出力イネーブルラッチ信
号OEN*を第2論理演算部86に出力する。この場
合、前記データバスセンスアンプ61から出力したグロ
ーバルデータバスプリチャージパルス信号GIOP P
LSがハイレベルに遷移すると、該ハイレベルのグロー
バルデータバスプリチャージパルス信号GIOP PL
S及びローレベルの遅延信号RAS*が第1論理演算部
81のNORゲート82及び第2インバーター83で順
次演算され、ローレベルの信号がディフリップフロップ
84のクリア端子に印加される。従って、該ディフリッ
プフロップ84はクリアされ、図3(J)に示したロー
レベルの出力イネーブルラッチ信号OEN*が第2論理
演算部86に出力される。次いで、図3(K)に示した
ように、前記出力イネーブル信号OEがローレベルに遷
移すると、該ローレベルの信号は第1インバーター85
により反転され、該反転した出力イネーブル信号OEは
図3(L)に示したように第2論路演算部86に印加さ
れる。次いで、該第2論理演算部86の第3インバータ
ー87で反転され、該反転した信号が前記反転された出
力イネーブル信号OEとNANDゲート88で否定論理
積され、第4インバーター89で反転された後、図3
(M)に示したハイレベルの出力制御信号DOENが出
力バッファー90に出力される。従って、該出力バッフ
ァー90は、図3(N)に示した所望のデータ信号Do
utを前記DRAM外部に出力する。
制御回路を備えたDRAMにおいては、データバスセン
スアンプ及びデータバスセンスアンプ制御装置と出力制
御回路とを備え、カラムアドレスストローブ信号がアク
チーブされる前にアドレス信号が遷移しても不必要なデ
ータは出力されないようになっているため、該不必要な
データの出力の際消費される電力の消費を防止し、省エ
ネルギーを図り得るという効果がある。
(A)はローアドレスストローブ信号波形図、(B)は
カラムアドレスストローブ信号波形図、(C)は遅延信
号波形図、(D)はアドレス信号波形図、(E)はアド
レス遷移検出信号波形図、(F)はカラム選択信号波形
図、(G)は第1及び第2グローバルデータバス信号波
形図、(H)はグローバルデータバスプリチャージ信号
波形図、(I)はグローバルデータバスプリチャージパ
ルス信号波形図、(J)は出力イネーブルラッチ信号波
形図、(K)は出力イネーブル信号波形図、(L)は反
転された出力イネーブル信号波形図、(M)は出力制御
信号波形図、(N)は出力バッファーからの出力データ
信号波形である。
ーアドレスストローブ信号波形図、(B)はカラムアド
レスストローブ信号波形図、(C)はアドレス信号波形
図、(D)はアドレス遷移検出信号波形図、(E)はカ
ラム選択信号波形図、(F)は第1及び第2グローバル
データバス信号波形図、(G)はイネーブル信号波形
図、(H)は出力バッファーの出力データ信号波形図で
ある。
Claims (6)
- 【請求項1】出力制御回路を備えたDRAMであって、 ローアドレスストローブ信号及びアドレス信号によりロ
ーアドレス信号及び遅延信号を出力するローアドレスバ
ッファーと、 前記アドレス信号と前記ローアドレスストローブ信号及
びカラムアドレスストローブ信号とによりカラムアドレ
ス信号及びアドレス遷移検出信号を出力するカラムアド
レスバッファーと、 前記ローアドレス信号をディコーディングしワードライ
ン選択信号を出力するローディコーダーと、 前記カラムアドレス信号及び前記アドレス遷移検出信号
によりカラム選択信号を出力するカラムディコーダー
と、 前記ワードライン選択信号により貯蔵されたデータを出
力するメモリセルアレイと、 該メモリセルアレイから出力したデータの信号を増幅
し、該増幅されたデータの信号を前記カラムディコーダ
ーからの出力カラム選択信号により出力する第1センス
アンプ及び第2センスアンプと、 それら第1センスアンプ及び第2センスアンプからの出
力データ信号を増幅し、該増幅されたデータ信号である
第1及び第2グローバル入出力データ信号とグローバル
データバスプリチャージパルス信号とを夫々出力するデ
ータバスセンスアンプと、 該データバスセンスアンプから出力した第1及び第2グ
ローバル入出力データ信号がプリチャージの状態である
とき、ハイレベルに維持されるグローバルデータバスプ
リチャージ信号を前記データバスセンスアンプに出力す
るデータバスセンスアンプ制御装置と、 出力イネーブル信号及び前記ローアドレスバッファーか
ら出力した遅延信号と前記カラムアドレスバッファーか
ら出力したアドレス遷移検出信号と前記グローバルデー
タバスプリチャージパルス信号とが夫々印加され、不必
要なデータの出力防止用の制御信号を出力する出力制御
回路と、 該出力制御信号がイネーブルされるとき、所望のデータ
をDRAMの外部に出力する出力バッファーと、 から構成され、 前記出力制御回路は、前記遅延信号と前記グローバルデ
ータバスプリチャージパルス信号とを論理演算する第1
論理演算部と、 該第1論理演算部から出力した信号によりクリアされ、
前記アドレス遷移検出信号により同期されて出力イネー
ブルラッチ信号をラッチするフリップフロップと、 前記出力イネーブル信号を反転する第1インバーター
と、 該第1インバーターから出力したイネーブル信号と前記
出力イネーブルラッチ信号とを論理演算し、出力制御信
号を前記出力バッファーに出力する第2論理演算部と、 からなる、出力制御回路を備えたDRAM。 - 【請求項2】前記グローバルデータバスプリチャージパ
ルス信号は、前記グローバルデータバスプリチャージ信
号がローレベルからハイレベルに遷移するとき、ローレ
ベルからハイレベルに遷移した後所定時間の間ハイレベ
ルに維持されるパルス信号である請求項1記載の出力制
御回路を備えたDRAM。 - 【請求項3】前記フリップフロップは、前記第1論理演
算部から出力する信号がクリア端子に印加し、前記アド
レス遷移検出信号がクロック端子に印加し、ハイレベル
の電源電圧がデータ端子に印加し、前記出力イネーブル
ラッチ信号が出力端子から前記第2論理演算部に出力す
るディフリップフロップである請求項1記載の出力制御
回路を備えたDRAM。 - 【請求項4】前記第1論理演算部は、前記遅延信号と前
記グローバルデータバスプリチャージパルス信号とを否
定論理和するNORゲートと、該NORゲートから出力
した信号を反転し該反転された信号を前記プリップフロ
ップに出力する第2インバーターと、からなる請求項1
記載の出力制御回路を備えたDRAM。 - 【請求項5】前記第1論理演算部は、前記遅延信号と前
記グローバルデータバスプリチャージパルス信号とを論
理和し、該論理和された信号を前記フリップフロップに
出力するORゲートから構成された請求項1記載の出力
制御回路を備えたDRAM。 - 【請求項6】前記第2論理演算部は、前記出力イネーブ
ルラッチ信号を反転する第3インバーターと、該第3イ
ンバーターの出力信号と前記反転された出力イネーブル
信号とを否定論理積するNANDゲートと、該NAND
ゲートの出力信号を反転し該反転された信号の出力制御
信号を前記出力バッファーに出力する第4インバーター
と、からなる請求項1記載の出力制御回路を備えたDR
AM。
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JP (1) | JP2832693B2 (ja) |
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Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07326191A (ja) * | 1994-05-31 | 1995-12-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JPH0916468A (ja) * | 1995-06-30 | 1997-01-17 | Nec Corp | メモリアクセス方式 |
KR100231431B1 (ko) * | 1996-06-29 | 1999-11-15 | 김주용 | 입력 버퍼 회로 |
KR100253565B1 (ko) * | 1997-04-25 | 2000-05-01 | 김영환 | 동기식 기억소자의 양방향 데이타 입출력 회로 및 그 제어방법 |
KR19990050493A (ko) * | 1997-12-17 | 1999-07-05 | 전주범 | 반도체 메모리 장치용 프리차지 회로 |
KR100265599B1 (ko) * | 1997-12-31 | 2000-10-02 | 김영환 | 데이터 윈도우 제어장치 및 그 방법 |
JP4334038B2 (ja) * | 1998-08-28 | 2009-09-16 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
JP3762558B2 (ja) * | 1998-12-28 | 2006-04-05 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置及び半導体記憶装置における出力信号の制御方法並びに出力信号制御回路 |
KR100333728B1 (ko) * | 1999-06-30 | 2002-04-25 | 박종섭 | 반도체메모리장치의 글로벌데이터버스 프리차지 방법 및 장치 |
US6108266A (en) * | 1999-10-28 | 2000-08-22 | Motorola, Inc. | Memory utilizing a programmable delay to control address buffers |
US7239581B2 (en) * | 2004-08-24 | 2007-07-03 | Symantec Operating Corporation | Systems and methods for synchronizing the internal clocks of a plurality of processor modules |
KR100576505B1 (ko) * | 2005-01-28 | 2006-05-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | N비트 프리페치 방식을 갖는 반도체 메모리 장치 및그것의 데이터 전송 방법 |
KR100862314B1 (ko) * | 2006-09-28 | 2008-10-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자 |
US8441885B2 (en) * | 2011-03-18 | 2013-05-14 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Methods and apparatus for memory word line driver |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04259997A (ja) * | 1991-02-15 | 1992-09-16 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 半導体集積回路 |
JP3085413B2 (ja) * | 1991-06-28 | 2000-09-11 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置及び半導体集積回路装置 |
JPH05234366A (ja) * | 1992-02-25 | 1993-09-10 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JPH06150661A (ja) * | 1992-11-09 | 1994-05-31 | Kawasaki Steel Corp | 半導体記憶装置 |
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