JP2827637B2 - 薄膜トランジスタ素子及びその製造方法 - Google Patents
薄膜トランジスタ素子及びその製造方法Info
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Description
液晶ディスプレイに使用する薄膜トランジスタ素子と、
それに用いる窒化シリコン膜の製造方法に関するもので
ある。
デバイスとして使われる薄膜トランジスタ素子の研究開
発が盛んに行われている。現在一般的に用いられている
薄膜トランジスタ素子の断面図を図8に示す。まず、絶
縁性基板上10にゲート金属を形成し所望の形状にパタ
ーンニングしゲート電極11を形成する。この上にゲー
ト絶縁膜である窒化シリコン膜12、非晶質半導体膜1
3、ソース・ドレイン領域を形成するためにp型あるい
はn型化したドーピング層14を順次形成し、ドーピン
グ層及び非晶質シリコン膜を所望の形状にパターンニン
グする。引き続きソース・ドレイン金属を形成し所望の
形状にパターンニングし、ソース・ドレイン電極15を
形成する。最後にチャネル上のドーピング層をエッチン
グ除去し薄膜トランジスタ素子が完成する。
膜トランジスタ素子において、通常の成膜条件で成膜し
た窒化シリコン膜をゲート絶縁膜に用いると薄膜トラン
ジスタの移動度は0.3〜0.5cm2 /V・secで
あった。これはゲート絶縁膜である窒化シリコン膜と非
晶質半導体膜との界面を形成する窒化シリコン膜の表面
凹凸の制御がなされておらず十分な特性が得られていな
いものと考えられる。今後、大画面、高精細液晶ディス
プレイの実現に向けて大面積に高密度画素を形成する技
術開発が主流となるが、走査線数の多い高精細液晶ディ
スプレイでは一画素への書き込みに確保できる時間が短
いため薄膜トランジスタの書き込み能力の向上即ち0.
6cm2 V・sec以上の高移動度化が不可欠となって
くる。
素子において、0.6cm2 /V・sec以上の高移動
度化を実現するための薄膜トランジスタ素子の構造及び
ゲート絶縁膜である窒化シリコン膜の成膜方法を提供す
ることである。
タは、ゲート絶縁膜である窒化シリコン膜の非晶質半導
体膜との界面側の表面凹凸が水平方向周期70nm以上
の平坦性を持つことを特徴とする。また、ゲート絶縁膜
である窒化シリコン膜の非晶質半導体膜との界面側の表
面凹凸が垂直方向の凹部・凸部の差が3nm以下の平坦
性を持つことを特徴とする。また前記窒化シリコン膜を
プラズマCVD法でモノシラン、アンモニア、窒素、水
素を用いて形成する場合、窒素のモノシランに対する流
量比が4倍以下かつ水素のモノシランに対する流量比が
13倍以上のガス比で成膜することを特徴とする。
を水平方向周期70nm以上あるいは垂直方向の凹部・
凸部の差を3nm以下の平坦性に制御することにより、
その上に形成される非晶質半導体の界面付近の膜質が向
上する現象が見いだされた。これは非晶質半導体の成膜
に寄与する活性種の成長表面における表面拡散と相関が
あると考えられる。また一般にMOS型電界効果トラン
ジスタではMOS界面の凹凸による電子の散乱により移
動度が減少するような現象が存在する。薄膜トランジス
タでもこれと同じような現象が発生する可能性がありゲ
ート絶縁膜である窒化シリコン膜の表面平滑化による電
子の散乱抑制効果による移動度の向上も期待される。
ランジスタの構造を図1、2に示す。図1中の拡大図に
は非晶質半導体と接する側の窒化シリコン膜の表面凹凸
の水平方向周期が70nm以上である本発明の構造を示
している。図2中の拡大図には非晶質半導体と接する側
の窒化シリコン膜の表面凹凸の垂直方向の凹部・凸部の
差が3nm以下である本発明の構造を示している。ま
た、このような窒化シリコン膜は、プラズマCVD法で
モノシラン、アンモニア。窒素、水素を用いて形成する
場合、窒素のモノシランに対する流量比が4倍以下かつ
水素のモノシランに対する流量比が13倍以上のガス比
で成膜することにより得られる。
す。図3はプラズマCVD法でモノシラン、アンモニ
ア、窒素、水素を用いて形成する場合、ガス圧力、基板
温度、パワー密度、モノシラン流量に対するアンモニア
流量の比をそれぞれ100pa、300℃、12mW/
cm2 、3で一定にして形成した窒化シリコン膜の表面
凹凸の水平方向の周期とモノシランに対する窒素の流量
比との相関をモノシランに対する水素の流量比をパラメ
ータとして示したものである。表面凹凸はAFM(At
omic Force Microscope:原子間
力顕微鏡)で測定した。この図から分かるように、窒素
のモノシランに対する流量比が4倍以下かつ水素のモノ
シランに対する流量比が13倍以上のガス比で成膜を行
えば窒化シリコン膜の表面凹凸の水平方向周期を70n
m以上にすることが可能である。また、ガス圧力、基板
温度、パワー密度、モノシラン流量に対するアンモニア
流量の比を変化させても窒素のモノシランに対する流量
比が4倍以下かつ水素のモノシランに対する流量比が1
3倍以上のガス比で成膜すれば窒化シリコン膜の表面凹
凸の水平方向周期を70nm以上にすることが可能であ
る。図4はプラズマCVD法でモノシラン、アンモニ
ア、窒素、水素を用いて形成する場合、ガス圧力。基板
温度、パワー密度、モノシラン流量に対するアンモニア
流量の比をそれぞれ300pa、300℃、120mW
/cm2 、3で一定したときの形成された窒化シリコン
膜の表面凹凸の垂直方向の凹部・凸部の差とモノシラン
に対する窒素の流量比との相関をモノシランに対する水
素の流量比をパラメータとして示したものである。この
図から分かるように、窒素のモノシランに対する流量比
が4倍以下かつ水素のモノシランに対する流量比が13
倍以上のガス比で成膜を行えば窒化シリコン膜の表面凹
凸の垂直方向の凹部・凸部の差を3nm以下にすること
が可能である。また、ガス圧力、基板温度、パワー密
度、モノシラン流量に対するアンモニア流量の比を変化
させても窒素のモノシランに対する流量比が4倍以下か
つ水素のモノシランに対する流量比が13倍以上のガス
比で成膜を行えば窒化シリコン膜の表面凹凸の垂直方向
の凹部・凸部の差を3nm以下にすることが可能であ
る。
持つ窒化シリコン膜をゲート絶縁膜として用いた薄膜ト
ランジスタの移動度と水平方向周期との相関を図5に示
す。この図から分かるように表面凹凸の水平方向周期を
70nm以上にすることにより移動度の著しい向上がみ
られる。図4中の白丸で示した垂直方向の凹部・凸部の
差を持つ窒化シリコン膜をゲート絶縁膜として用いた薄
膜トランジスタの移動度と垂直方向の凹部・凸部の差と
の相関を図6に示す。この図から分かるように表面凹凸
の垂直方向の凹部・凸部の差を3nm以下にすることに
より移動度の著しい向上がみられる。また、上述したよ
うに窒素のモノシランに対する流量比が4倍以下かつ水
素のモノシランに対する流量比が13倍以上のガス比で
成膜を行えば窒化シリコン膜の表面凹凸の水平方向周期
及び垂直方向の凹部・凸部の差をそれぞれ独立に制御可
能であるが、この流量比を保った上でガス圧力を適当に
設定し成膜することによりゲート絶縁膜である窒化シリ
コン膜の非晶質半導体膜との界面側の表面凹凸を水平方
向周期70nm以上かつ垂直方向の凹部・凸部の差が3
nm以下にすることができさらに高移動度化を実現する
ことも可能である。
グ層をエッチング除去した構造の薄膜トランジスタにつ
いて述べたが、図7に示すように非晶質半導体膜13上
に通常の窒化シリコン膜20を形成した構造のものでも
よいことは明らかである。
それを実現するための製造方法を用いれば、薄膜トラン
ジスタの0.6cm2 V・sec以上の高移動度化が実
現でき書き込み能力が向上し高精細液晶ディスプレイの
実現が可能となる。
Claims (2)
- 【請求項1】 絶縁性基板上にゲート電極が形成され、
前記ゲート電極をおおうようにゲート絶縁膜である窒化
シリコン膜と島状非晶質半導体膜が形成されており、前
記島状非晶質半導体膜とドレイン電極及びソース電極と
接する部分にp型あるいはn型化したドーピング層が形
成されているボトムゲート型薄膜トランジスタ素子にお
いて、 ゲート絶縁膜である窒化シリコン膜の非晶質半導体膜と
の界面側の表面凹凸が水平方向周期70nm以上かつ垂
直方向の凹部・凸部の差が3nm以下の平坦性をもつこ
とを特徴とする薄膜トランジスタ素子。 - 【請求項2】 請求項1記載の薄膜トランジスタ素子の
製造方法において、 前記 窒化シリコン膜をプラズマCVD法でモノシラン、
アンモニア、窒素、水素を用いて形成し、窒素のモノシ
ランに対する流量比が4倍未満、かつ水素のモノシラン
に対する流量比率が13倍以上のガス比で成膜すること
を特徴とする薄膜トランジスタ素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3318164A JP2827637B2 (ja) | 1991-12-02 | 1991-12-02 | 薄膜トランジスタ素子及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3318164A JP2827637B2 (ja) | 1991-12-02 | 1991-12-02 | 薄膜トランジスタ素子及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0645605A JPH0645605A (ja) | 1994-02-18 |
JP2827637B2 true JP2827637B2 (ja) | 1998-11-25 |
Family
ID=18096190
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3318164A Expired - Lifetime JP2827637B2 (ja) | 1991-12-02 | 1991-12-02 | 薄膜トランジスタ素子及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2827637B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9385142B2 (en) | 2012-12-13 | 2016-07-05 | Samsung Display Co., Ltd. | Liquid crystal display and manufacturing method thereof |
Families Citing this family (3)
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JP4341062B2 (ja) | 2003-02-12 | 2009-10-07 | 日本電気株式会社 | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
WO2008139859A1 (en) * | 2007-04-27 | 2008-11-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Thin-film transistor and process for its fabrication |
JP2009194351A (ja) | 2007-04-27 | 2009-08-27 | Canon Inc | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
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---|---|---|---|---|
JPS59115561A (ja) * | 1982-12-23 | 1984-07-04 | Stanley Electric Co Ltd | 薄膜トランジスタの製造方法 |
-
1991
- 1991-12-02 JP JP3318164A patent/JP2827637B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9385142B2 (en) | 2012-12-13 | 2016-07-05 | Samsung Display Co., Ltd. | Liquid crystal display and manufacturing method thereof |
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---|---|
JPH0645605A (ja) | 1994-02-18 |
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