JP2814303B2 - 磁気ヘッド異常検出回路 - Google Patents
磁気ヘッド異常検出回路Info
- Publication number
- JP2814303B2 JP2814303B2 JP2264821A JP26482190A JP2814303B2 JP 2814303 B2 JP2814303 B2 JP 2814303B2 JP 2264821 A JP2264821 A JP 2264821A JP 26482190 A JP26482190 A JP 26482190A JP 2814303 B2 JP2814303 B2 JP 2814303B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- level
- magnetic head
- voltage
- circuit
- head coil
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
- G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
- G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/455—Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads
Landscapes
- Digital Magnetic Recording (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、磁気ヘッドコイル異常検出回路、さらには
磁気ヘッドコイルの短絡または開放による書込異常を書
込動作中に検出するのに適用して有効な技術に関するも
ので、例えば薄膜磁気ヘッドを用いてデータの書込／読
出を行なう磁気ハードディスク記憶装置に利用して有効
な技術に関するものである。
磁気ヘッドコイルの短絡または開放による書込異常を書
込動作中に検出するのに適用して有効な技術に関するも
ので、例えば薄膜磁気ヘッドを用いてデータの書込／読
出を行なう磁気ハードディスク記憶装置に利用して有効
な技術に関するものである。
［従来の技術］ 例えば、磁気ハードディスク記憶装置においてデータ
の書込／読取を行なう薄膜磁気ヘッドは、導電薄膜によ
って形成されたヘッドコイルを有し、このコイルを正逆
方向からパルス駆動することによって磁気的な書込を行
なう（例えば、日経BP社「日経エレクトロニクス 1987
年２月９日号」第211頁〜第233頁参照）。
の書込／読取を行なう薄膜磁気ヘッドは、導電薄膜によ
って形成されたヘッドコイルを有し、このコイルを正逆
方向からパルス駆動することによって磁気的な書込を行
なう（例えば、日経BP社「日経エレクトロニクス 1987
年２月９日号」第211頁〜第233頁参照）。
この種の磁気ヘッドでは、ヘッドコイルの短絡または
開放（断線）によって書込異常を生じることがある。そ
こで、上記異常を早期に検出することができるような回
路を設けることが必要になる。
開放（断線）によって書込異常を生じることがある。そ
こで、上記異常を早期に検出することができるような回
路を設けることが必要になる。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、上述した技術には、次のような問題の
あることが本発明者らによってあきらかとされた。
あることが本発明者らによってあきらかとされた。
すなわち、磁気ヘッドにおける書込異常を検出するた
めには、その書込異常の原因となるヘッドコイルの短絡
と開放をそれぞれに区別して検出する必要がある。しか
し、そのためには、短絡検出用と開放検出用の２種類の
回路を設けなれればならず、しかも各回路はそれぞれ書
込動作中に検出を行なえるものでなければならない。こ
の結果、磁気ヘッド周辺の回路がやたらに複雑になって
しまう。
めには、その書込異常の原因となるヘッドコイルの短絡
と開放をそれぞれに区別して検出する必要がある。しか
し、そのためには、短絡検出用と開放検出用の２種類の
回路を設けなれればならず、しかも各回路はそれぞれ書
込動作中に検出を行なえるものでなければならない。こ
の結果、磁気ヘッド周辺の回路がやたらに複雑になって
しまう。
また、一般に、短絡や開放を検出する手段としては、
被検出回路にシャント抵抗などの検出回路を直列に介在
させることによって、その被検出回路に流れる駆動電流
を直接測定する方式がある。しかし、この方式を上記磁
気ヘッドの書込異常検出に適用すると、検出回路を被検
出回路に直列に介在させるという配線が面倒であるとと
もに、その直列に介在する検出回路が磁気ヘッドの正常
な書込動作に支障を来す恐れがある。
被検出回路にシャント抵抗などの検出回路を直列に介在
させることによって、その被検出回路に流れる駆動電流
を直接測定する方式がある。しかし、この方式を上記磁
気ヘッドの書込異常検出に適用すると、検出回路を被検
出回路に直列に介在させるという配線が面倒であるとと
もに、その直列に介在する検出回路が磁気ヘッドの正常
な書込動作に支障を来す恐れがある。
本発明の目的は、磁気ヘッドコイルの短絡と開放によ
る２種類の書込異常を、簡単な回路構成および配線でも
って、磁気ヘッドの正常な書込動作に支障を来すことな
く、書込動作中に検出することを可能にするという技術
を提供するとにある。
る２種類の書込異常を、簡単な回路構成および配線でも
って、磁気ヘッドの正常な書込動作に支障を来すことな
く、書込動作中に検出することを可能にするという技術
を提供するとにある。
この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴
については、本明細書の記述および添附図面から明らか
になるであろう。
については、本明細書の記述および添附図面から明らか
になるであろう。
［課題を解決するための手段］ 本願において開示される発明のうち代表的なものの概
要を説明すれば、下記のとおりである。
要を説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、正逆方向から交互にパルス駆動されている
磁気ヘッドコイルの両端にそれぞれに現れる電圧を相対
的に一定レベルだけレベルシフトさせ、このレベルシフ
トされた一対の電圧の相互のレベル差が逆転するレベル
差逆転区間をレベル比較によって検出し、上記レベル差
逆転区間の長短によって上記磁気ヘッドコイルの短絡と
開放の２種類の異常を区別して示す信号を得るというも
のである。
磁気ヘッドコイルの両端にそれぞれに現れる電圧を相対
的に一定レベルだけレベルシフトさせ、このレベルシフ
トされた一対の電圧の相互のレベル差が逆転するレベル
差逆転区間をレベル比較によって検出し、上記レベル差
逆転区間の長短によって上記磁気ヘッドコイルの短絡と
開放の２種類の異常を区別して示す信号を得るというも
のである。
［作用］ 上記した手段によれば、磁気ヘッドコイルの両端にそ
れぞれに現れる電圧だけに基づいて、その磁気ヘッドコ
イルの短絡と開放の２種類の異常検出が行なわれるとと
もに、その２種類の異常を示す信号が、同一の回路によ
って行なわれるレベルシフトとレベル比較によって得る
ことができる。
れぞれに現れる電圧だけに基づいて、その磁気ヘッドコ
イルの短絡と開放の２種類の異常検出が行なわれるとと
もに、その２種類の異常を示す信号が、同一の回路によ
って行なわれるレベルシフトとレベル比較によって得る
ことができる。
これにより、磁気ヘッドコイルの短絡と開放による２
種類の書込異常を、簡単な回路構成および配線でもっ
て、磁気ヘッドの正常な書込動作に支障を来すことな
く、書込動作中に検出することを可能にするという目的
が達成される。
種類の書込異常を、簡単な回路構成および配線でもっ
て、磁気ヘッドの正常な書込動作に支障を来すことな
く、書込動作中に検出することを可能にするという目的
が達成される。
［実施例］ 以下、本発明の好適な実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
なお、各図中、同一符号は同一あるいは相当部分を示
す。
す。
第１図は本発明の技術が適用された磁気ヘッド異常検
出回路の一実施例をしめす。
出回路の一実施例をしめす。
同図に示す磁気ヘッド異常検出回路は、磁気ハードデ
ィスク記憶装置の薄膜磁気ヘッドのコイルRCが短絡また
は開放によって生じる書込異常を検出するためのもので
あって、１は磁気ヘッドコイルRCを正逆方向から交互に
パルス駆動することによってデータの書込を行なう書込
回路、２は本発明による書込異常検出回路、３は書込異
常検出回路２の検出出力を再加工する後処理回路であ
る。
ィスク記憶装置の薄膜磁気ヘッドのコイルRCが短絡また
は開放によって生じる書込異常を検出するためのもので
あって、１は磁気ヘッドコイルRCを正逆方向から交互に
パルス駆動することによってデータの書込を行なう書込
回路、２は本発明による書込異常検出回路、３は書込異
常検出回路２の検出出力を再加工する後処理回路であ
る。
書込回路１は、電源電位＋Vccと接地電位GNDの間でＨ
型にブリッジ接続された４個のバイポーラトランジスタ
Q1〜Q4を有し、このバイポーラトランジスタQ1〜Q4を互
いに相補な２組の書込信号＋D1と−D1および＋D2と−Ｄ
で２個ずつ交互にオン／オフ駆動することにより、磁気
ヘッドコイルRCに正方向と逆方向の駆動電流を交互に流
す。
型にブリッジ接続された４個のバイポーラトランジスタ
Q1〜Q4を有し、このバイポーラトランジスタQ1〜Q4を互
いに相補な２組の書込信号＋D1と−D1および＋D2と−Ｄ
で２個ずつ交互にオン／オフ駆動することにより、磁気
ヘッドコイルRCに正方向と逆方向の駆動電流を交互に流
す。
書込異常検出回路２は、磁気ヘッドコイルRCの両端に
それぞれに現れる電圧VX,VYを相対的に一定レベルだけ
シフトさせるレベルシフト回路21と、このレベルシフト
された一対の電圧の相互のレベル差が逆転するレベル差
逆転区間を検出するレベル比較回路22,23とを有する。
それぞれに現れる電圧VX,VYを相対的に一定レベルだけ
シフトさせるレベルシフト回路21と、このレベルシフト
された一対の電圧の相互のレベル差が逆転するレベル差
逆転区間を検出するレベル比較回路22,23とを有する。
この場合、レベルシフト回路21は、磁気ヘッドコイル
RCの両端にそれぞれ現れる電圧VX,VYをそれぞれエミッ
タフォロワによって伝達するバイポーラトランジスタQ5
〜Q8、レベルシフトを行なうための抵抗R1,R2などによ
って構成されている。このとき、Q6およびQ8は、上記電
圧VXおよびVYをベース・エミッタ間電圧（VBE）だけレ
ベルシフトした電圧Vx（Vx＝VX−VBE）及びVy（Vy＝VY
−VBE）を伝達する。Q5およびQ7は、エミッタに抵抗R1
およびR2が直列に介在することによって、Q6およびQ8に
よって伝達される電圧VxおよびVyに対して、上記抵抗R1
およびR2の電圧降下分による一定レベルdvだけ余計にレ
ベルシフトされた電圧Vx−dvおよびVy−dvを伝達する。
RCの両端にそれぞれ現れる電圧VX,VYをそれぞれエミッ
タフォロワによって伝達するバイポーラトランジスタQ5
〜Q8、レベルシフトを行なうための抵抗R1,R2などによ
って構成されている。このとき、Q6およびQ8は、上記電
圧VXおよびVYをベース・エミッタ間電圧（VBE）だけレ
ベルシフトした電圧Vx（Vx＝VX−VBE）及びVy（Vy＝VY
−VBE）を伝達する。Q5およびQ7は、エミッタに抵抗R1
およびR2が直列に介在することによって、Q6およびQ8に
よって伝達される電圧VxおよびVyに対して、上記抵抗R1
およびR2の電圧降下分による一定レベルdvだけ余計にレ
ベルシフトされた電圧Vx−dvおよびVy−dvを伝達する。
レベル比較回路22は、磁気ヘッドコイルRCの一端に現
れて一定のレベルdvのレベルシフトが行なわれていない
電圧Vxと、磁気ヘッドコイルRCの他端に現れて一定レベ
ルdvのレベルシフトか行なわれた電圧Vy−dvとをレベル
比較することにより、レベルシフトされていない電圧Vx
がレベルシフトされた電圧Vy−dvよりも低くなるレベル
差逆転区間［Vx＜（Vy−dv）］を検出する。同様に、レ
ベル比較回路23は、磁気ヘッドコイルRCの他端に現れて
一定レベルdvのレベルシフトが行なわれていない電圧Vy
と、磁気ヘッドコイルRCの一端に現れて一定レベルdvの
レベルシフトが行なわれた電圧Vx−dvとをレベル比較す
ることにより、レベルシフトされていない電圧Vyがレベ
ルシフトされた電圧Vx−dvよりも低くなるレベル差逆転
区間［Vy＜（Vx−dv）］を検出する。
れて一定のレベルdvのレベルシフトが行なわれていない
電圧Vxと、磁気ヘッドコイルRCの他端に現れて一定レベ
ルdvのレベルシフトか行なわれた電圧Vy−dvとをレベル
比較することにより、レベルシフトされていない電圧Vx
がレベルシフトされた電圧Vy−dvよりも低くなるレベル
差逆転区間［Vx＜（Vy−dv）］を検出する。同様に、レ
ベル比較回路23は、磁気ヘッドコイルRCの他端に現れて
一定レベルdvのレベルシフトが行なわれていない電圧Vy
と、磁気ヘッドコイルRCの一端に現れて一定レベルdvの
レベルシフトが行なわれた電圧Vx−dvとをレベル比較す
ることにより、レベルシフトされていない電圧Vyがレベ
ルシフトされた電圧Vx−dvよりも低くなるレベル差逆転
区間［Vy＜（Vx−dv）］を検出する。
後処理回路３は、上記レベル比較回路22,23によって
検出される上記レベル差逆転区間［Vx＜（Vy−dv）およ
びVy＜（Vx−dv）］の長短を電圧レベル（または電流レ
ベル）に変換する信号変換回路31,32と、この信号変換
回路31,32の変換出力VA,VBを高低２つの基準レベルVH,V
Lによってレベル弁別するレベル弁別回路33,34とを有す
る。そして、実施例では、そのレベル弁別回路33,34の
弁別出力、上記磁気ヘッドコイルRCの短絡と開放の２種
類の異常を示す判別信号Av,Bvとして、例えばエラー処
理回路や警報表示回路（図示省略）などへ与えられるよ
うになっている。信号変換回路31,32としては、例えば
通信分野で用いられているパルス幅復調回路などを使用
することができる。
検出される上記レベル差逆転区間［Vx＜（Vy−dv）およ
びVy＜（Vx−dv）］の長短を電圧レベル（または電流レ
ベル）に変換する信号変換回路31,32と、この信号変換
回路31,32の変換出力VA,VBを高低２つの基準レベルVH,V
Lによってレベル弁別するレベル弁別回路33,34とを有す
る。そして、実施例では、そのレベル弁別回路33,34の
弁別出力、上記磁気ヘッドコイルRCの短絡と開放の２種
類の異常を示す判別信号Av,Bvとして、例えばエラー処
理回路や警報表示回路（図示省略）などへ与えられるよ
うになっている。信号変換回路31,32としては、例えば
通信分野で用いられているパルス幅復調回路などを使用
することができる。
次に、上述した磁気ヘッド異常検出回路の動作につい
て説明する。
て説明する。
第２図、第３図、第４図はそれぞれ、第１図に示した
磁気ヘッド異常検出回路の動作例を示す。
磁気ヘッド異常検出回路の動作例を示す。
第２図は、磁気ヘッドコイルRCが短絡も開放（断線）
もしていない正常時の動作例を示す。
もしていない正常時の動作例を示す。
まず、同図（Ａ）に示すように、磁気ヘッドコイルRC
の両端に現れる電圧VX,VYの波形は、ヘッドコイルRCへ
の通電によって、磁気ヘッドコイルRCの直流抵抗分によ
る電圧降下（Ri・Ｉ）が交互に現れるとともに、その通
電の方向が切り換わる過渡時に、磁気ヘッドコイルRCの
インダクタンス分によって現れるスパイク電圧（dI/d
t）を伴うようになる。
の両端に現れる電圧VX,VYの波形は、ヘッドコイルRCへ
の通電によって、磁気ヘッドコイルRCの直流抵抗分によ
る電圧降下（Ri・Ｉ）が交互に現れるとともに、その通
電の方向が切り換わる過渡時に、磁気ヘッドコイルRCの
インダクタンス分によって現れるスパイク電圧（dI/d
t）を伴うようになる。
ここで、同図（Ｂ）に示すように、レベルシフト回路
21にて、磁気ヘッドコイルRCの一端に現れる電圧VXに対
し、その他端に現れる電圧VYを相対的に一定レベルdvだ
けシフトダウンさせると、この一対の電圧VXとVY−dvの
レベルは、磁気ヘッドコイルRCのインダクタンス分によ
って現れるスパイク電圧（dI/dt）の部分だけで交差す
るようになる。
21にて、磁気ヘッドコイルRCの一端に現れる電圧VXに対
し、その他端に現れる電圧VYを相対的に一定レベルdvだ
けシフトダウンさせると、この一対の電圧VXとVY−dvの
レベルは、磁気ヘッドコイルRCのインダクタンス分によ
って現れるスパイク電圧（dI/dt）の部分だけで交差す
るようになる。
したがって、レベル比較回路22,23にて、レベルシフ
トされた一対の電圧VXとVY−dvの相互のレベル差が逆転
するレベル差逆転区間すなわち［Vx＜（Vy−dv）］とな
る区間を検出すると、同図（Ｃ）に示すように、所定の
デューティ幅Dwを持つパルス信号Apが得られる。
トされた一対の電圧VXとVY−dvの相互のレベル差が逆転
するレベル差逆転区間すなわち［Vx＜（Vy−dv）］とな
る区間を検出すると、同図（Ｃ）に示すように、所定の
デューティ幅Dwを持つパルス信号Apが得られる。
同様に、磁気ヘッドコイルRCの他端に現れる電圧VYに
対し、その一端に現れる電圧VXを相対的に一定レベルdv
だけシフトダウンさせた場合も、そのレベルシフトされ
た一対の電圧VYとVX−dvの相互のレベル差が逆転するレ
ベル差逆転区間即ち［Vy＜（Vx−dv）］となる区間を検
出すると、上述の場合と同様に、所定のデューティ幅Dw
を持つパルス信号Bpが得られる。
対し、その一端に現れる電圧VXを相対的に一定レベルdv
だけシフトダウンさせた場合も、そのレベルシフトされ
た一対の電圧VYとVX−dvの相互のレベル差が逆転するレ
ベル差逆転区間即ち［Vy＜（Vx−dv）］となる区間を検
出すると、上述の場合と同様に、所定のデューティ幅Dw
を持つパルス信号Bpが得られる。
第３図は、磁気ヘッドコイルRCが開放状態となった異
常時の動作例を示す。
常時の動作例を示す。
この場合、同図（Ａ）に示すように、磁気ヘッドコイ
ルRCの両端に現れる電圧VX,VYに、ヘッドコイルRCでの
通電がないため、上述した磁気ヘッドコイルRCの直流抵
抗分による電圧降下（Ri・Ｉ）と磁気ヘッドコイルRCの
インダクタンス分によるスパイク電圧（dI/dt）がとも
に現れなくなる。
ルRCの両端に現れる電圧VX,VYに、ヘッドコイルRCでの
通電がないため、上述した磁気ヘッドコイルRCの直流抵
抗分による電圧降下（Ri・Ｉ）と磁気ヘッドコイルRCの
インダクタンス分によるスパイク電圧（dI/dt）がとも
に現れなくなる。
このため、同図（Ｂ）に示すように、レベルシフト回
路21にて、磁気ヘッドコイルRCの一端に現れる電圧VXに
対し、その他端に現れる電圧VYを相対的に一定レベルdV
だけ相対的にシフトさせると、この一対の電圧VXとVY−
dvのレベルは、一方（VY−dv）が高レベルで他方（VX）
が低レベルとなる半周期区間に定常的に交差するように
なる。
路21にて、磁気ヘッドコイルRCの一端に現れる電圧VXに
対し、その他端に現れる電圧VYを相対的に一定レベルdV
だけ相対的にシフトさせると、この一対の電圧VXとVY−
dvのレベルは、一方（VY−dv）が高レベルで他方（VX）
が低レベルとなる半周期区間に定常的に交差するように
なる。
この結果、レベル比較回路22,23によって検出される
レベル差逆転区間すなわち、［Vx＜（Vy−dv）］となる
区間を検出して得られるパルス信号Apは、同図（Ｃ）に
示すように、正常時の場合よりもデューティ幅Dwが大幅
に広いパルスとなる。［Vy＜（Vx−dv）］となる区間を
検出して得られるパルス信号Bpについても同様である。
レベル差逆転区間すなわち、［Vx＜（Vy−dv）］となる
区間を検出して得られるパルス信号Apは、同図（Ｃ）に
示すように、正常時の場合よりもデューティ幅Dwが大幅
に広いパルスとなる。［Vy＜（Vx−dv）］となる区間を
検出して得られるパルス信号Bpについても同様である。
第４図は、磁気ヘッドコイルRCが短絡状態となった異
常時の動作例を示す。
常時の動作例を示す。
この場合、同図（Ａ）に示すように、磁気ヘッドコイ
ルRCの両端は短絡によってほぼ同電位になる。
ルRCの両端は短絡によってほぼ同電位になる。
このため、同図（Ｂ）に示すように、レベルシフト回
路21にて、磁気ヘッドコイルRCの一端に現れる電圧VXに
対し、その他端に現れる電圧VYを相対的に一定レベルdV
だけ相対的にシフトさせても、この一対の電圧VXとVY−
dvのレベルは、ほとんど交差しないで一定のレベル差
（dV）を保つようになる。
路21にて、磁気ヘッドコイルRCの一端に現れる電圧VXに
対し、その他端に現れる電圧VYを相対的に一定レベルdV
だけ相対的にシフトさせても、この一対の電圧VXとVY−
dvのレベルは、ほとんど交差しないで一定のレベル差
（dV）を保つようになる。
この結果、レベル比較回路22,23によって検出される
レベル差逆転区間すなわち［Vx＜（Vy−dv）］となる区
間を検出して得られるパルス信号Apは、同図（Ｃ）に示
すように、デューティ幅Dwがほとんどないパルスとな
る。［Vy＜（Vx−dv）］となる区間を検出して得られる
パルス信号Bpについても同様である。
レベル差逆転区間すなわち［Vx＜（Vy−dv）］となる区
間を検出して得られるパルス信号Apは、同図（Ｃ）に示
すように、デューティ幅Dwがほとんどないパルスとな
る。［Vy＜（Vx−dv）］となる区間を検出して得られる
パルス信号Bpについても同様である。
第２図、第３図、第４図にそれぞれ示したように、磁
気ヘッドコイルRCの正常、開放、短絡の別は、レベル比
較回路22,23によって得られるパルス信号Ap,Bpのデュー
ティ幅Dwの長短によって示されるようになる。
気ヘッドコイルRCの正常、開放、短絡の別は、レベル比
較回路22,23によって得られるパルス信号Ap,Bpのデュー
ティ幅Dwの長短によって示されるようになる。
以上のように、磁気ヘッドコイルRCの両端にそれぞれ
に現れるVX,VYだけに基づいて、その磁気ヘッドコイルR
Cの短絡と開放の２種類の異常を検出することができ
る。これとともに、その２種類の異常を示す上記パルス
信号Ap,Bpは、同一の回路によって行なわれるレベルシ
フトとレベル比較によって得ることができる。
に現れるVX,VYだけに基づいて、その磁気ヘッドコイルR
Cの短絡と開放の２種類の異常を検出することができ
る。これとともに、その２種類の異常を示す上記パルス
信号Ap,Bpは、同一の回路によって行なわれるレベルシ
フトとレベル比較によって得ることができる。
これにより、磁気ヘッドコイルRCの短絡と開放の２種
類の異常を、簡単な回路構成および検出回路を並列に接
続するだけの簡単な配線でもって、磁気ヘッドの正常な
書込動作に支障を来すことなく、書込動作中に検出する
ことができるようになる。
類の異常を、簡単な回路構成および検出回路を並列に接
続するだけの簡単な配線でもって、磁気ヘッドの正常な
書込動作に支障を来すことなく、書込動作中に検出する
ことができるようになる。
さらに、第１図に示した実施例では、上記パルス信号
Ap,Bpを後処理回路３で再加工することにより、デュー
ティ幅Dwの長短によって異常の有無および種類を示すパ
ルス信号Ap,Bpを、２値論理信号の論理状態によって異
常の有無および種類を示す判別信号Av,Bvに変換してい
る。これにより、例えばエラー処理回路や警報表示回路
（図示省略）などを直接動作させることができるように
なっている。
Ap,Bpを後処理回路３で再加工することにより、デュー
ティ幅Dwの長短によって異常の有無および種類を示すパ
ルス信号Ap,Bpを、２値論理信号の論理状態によって異
常の有無および種類を示す判別信号Av,Bvに変換してい
る。これにより、例えばエラー処理回路や警報表示回路
（図示省略）などを直接動作させることができるように
なっている。
第５図および第６図は、上記判別信号Av,Bvを得るた
めのレベル弁別回路33,34の構成例を示す。
めのレベル弁別回路33,34の構成例を示す。
低側基準レベルVLによるレベル弁別回路34は、第５図
に示すように、電源電位Vccを基準にして動作するpnpバ
イポーラトランスジスタQ31,Q32とQ33の差動対を用いて
構成される。その差動対の一方をなすpnpバイポーラト
ランスジスタQ31,Q32のベースに、信号変換回路31,32の
変換出力VA,VBを与え、差動対の他方をなすpnpバイポー
ラトランスジスタQ33のベースに、低側基準レベルVLを
与えることにより、VAとVBの少なくとも一方が低側基準
レベルVLより低くなったか否かがレベル弁別される。こ
れにより、磁気ヘッドコイルRCに短絡異常が生じたか否
かを２値論理で示す判別信号Bvが得られる。
に示すように、電源電位Vccを基準にして動作するpnpバ
イポーラトランスジスタQ31,Q32とQ33の差動対を用いて
構成される。その差動対の一方をなすpnpバイポーラト
ランスジスタQ31,Q32のベースに、信号変換回路31,32の
変換出力VA,VBを与え、差動対の他方をなすpnpバイポー
ラトランスジスタQ33のベースに、低側基準レベルVLを
与えることにより、VAとVBの少なくとも一方が低側基準
レベルVLより低くなったか否かがレベル弁別される。こ
れにより、磁気ヘッドコイルRCに短絡異常が生じたか否
かを２値論理で示す判別信号Bvが得られる。
高側基準レベルVHによるレベル弁別回路33は、第６図
に示すように、接地電位GNDを基準にして動作するpnpバ
イポーラトランスジスタQ41,Q42とQ43の差動対を用いて
構成される。その差動対の一方をなすpnpバイポーラト
ランジスタQ41,Q42のベースに、信号変換回路31,32の変
換出力VA,VBを与え、差動対の他方をなすpnpバイポーラ
トランスジスタQ43のベースに、高側基準レベルVHを与
えることにより、VAとVBの少なくとも一方が高側基準レ
ベルVHより高くなったか否かがレベル弁別される。これ
により、磁気ヘッドコイルRCに開放異常が生じたか否か
を２値論理で示す判別信号Avが得られる。
に示すように、接地電位GNDを基準にして動作するpnpバ
イポーラトランスジスタQ41,Q42とQ43の差動対を用いて
構成される。その差動対の一方をなすpnpバイポーラト
ランジスタQ41,Q42のベースに、信号変換回路31,32の変
換出力VA,VBを与え、差動対の他方をなすpnpバイポーラ
トランスジスタQ43のベースに、高側基準レベルVHを与
えることにより、VAとVBの少なくとも一方が高側基準レ
ベルVHより高くなったか否かがレベル弁別される。これ
により、磁気ヘッドコイルRCに開放異常が生じたか否か
を２値論理で示す判別信号Avが得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき
具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。
具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。
例えば、各回路の一部または全部をMOSトランジスタ
で構成してもよい。
で構成してもよい。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発
明をその背景となった利用分野である磁気ハードディス
ク記憶装置の薄膜磁気ヘッドに適用した場合について説
明したが、それに限定されるものではなく、例えば高密
度フロッピディスク記憶装置にも適用できる。
明をその背景となった利用分野である磁気ハードディス
ク記憶装置の薄膜磁気ヘッドに適用した場合について説
明したが、それに限定されるものではなく、例えば高密
度フロッピディスク記憶装置にも適用できる。
［発明の効果］ 本願において開示される発明のうち代表的なものによ
って得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりであ
る。
って得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりであ
る。
すなわち、磁気ヘッドコイルの短絡と開放による２種
類の書込異常を、簡単な回路構成および配線でもって、
磁気ヘッドの正常な書込動作の支障を来すことなく、書
込動作中に検出することができるという効果が得られ
る。
類の書込異常を、簡単な回路構成および配線でもって、
磁気ヘッドの正常な書込動作の支障を来すことなく、書
込動作中に検出することができるという効果が得られ
る。
第１図は本発明の技術が適用された磁気ヘッド異常検出
回路の一実施例を示す図、 第２図（Ａ）〜（Ｃ）は正常時の検出動作例を示す波形
図、 第３図（Ａ）〜（Ｃ）は開放異常時の検出動作例を示す
波形図、 第４図（Ａ）〜（Ｃ）は短絡異常時の検出動作例を示す
波形図、 第５図および第６図はそれぞれ検出信号を再加工するた
めに使用されるレベル弁別回路の構成例を示す図であ
る。 RC……磁気ヘッドコイル、１……書込回路、２……本発
明による書込異常検出回路、３……後処理回路、Ap,Bp
……異常をパルス幅で現わすパルス信号、Av,Bv……異
常を２値論理で現わす判別信号。
回路の一実施例を示す図、 第２図（Ａ）〜（Ｃ）は正常時の検出動作例を示す波形
図、 第３図（Ａ）〜（Ｃ）は開放異常時の検出動作例を示す
波形図、 第４図（Ａ）〜（Ｃ）は短絡異常時の検出動作例を示す
波形図、 第５図および第６図はそれぞれ検出信号を再加工するた
めに使用されるレベル弁別回路の構成例を示す図であ
る。 RC……磁気ヘッドコイル、１……書込回路、２……本発
明による書込異常検出回路、３……後処理回路、Ap,Bp
……異常をパルス幅で現わすパルス信号、Av,Bv……異
常を２値論理で現わす判別信号。
Claims (2)
- 【請求項１】正方向と逆方向とから交互にパルス駆動さ
れる磁気ヘッドコイルの一端の電圧と他端の電圧とを一
定レベルシフトするレベルシフト回路と、 上記レベルシフト回路によるレベルシフトが行われない
上記磁気ヘッドコイルの上記一端の電圧と上記レベルシ
フト回路によるレベルシフトが行われた上記磁気ヘッド
コイルの上記他端の電圧のレベル差が逆転するレベル差
逆転期間と上記レベルシフト回路によるレベルシフトが
行われない上記磁気ヘッドコイルの上記他端の電圧と上
記レベルシフト回路によるレベルシフトが行われた上記
磁気ヘッドコイルの上記一端の電圧レベル差が逆転する
レベル差逆転期間とを検出するレベル比較回路とを有
し、 上記レベル比較回路により検出される上記レベル差逆転
期間の長短によって上記磁気ヘッドコイルの短絡と解放
の２種類の異常を区別して信号を得ることを特徴とする
磁気ヘッド異常検出回路。 - 【請求項２】正方向と逆方向とから交互にパルス駆動さ
れる磁気ヘッドコイルの一端の電圧と他端の電圧とを一
定レベルシフトするレベルシフト回路と、 上記レベルシフト回路によるレベルシフトが行わない上
記磁気ヘッドコイルの上記一端の電圧と上記レベルシフ
ト回路によるレベルシフトが行われた上記磁気ヘッドコ
イルの上記他端の電圧のレベル差が逆転するレベル差逆
転期間と上記レベルシフト回路によるレベルシフトが行
われない上記磁気ヘッドコイルの上記他端の電圧と上記
のレベルシフト回路によるレベルシフトが行われた上記
磁気ヘッドコイルの上記一端の電圧レベル差が逆転する
レベル差逆転期間とを検出するレベル比較回路と、 上記レベル比較回路により検出される上記レベル差逆転
期間の長短を電圧または電流のレベルに変換する信号変
換手段と、 上記信号変換手段の変換出力を高低２つの基準レベルに
よってレベル弁別するレベル弁別手段とを有し、 上記レベル弁別手段の弁別出力によって上記磁気ヘッド
コイルの短絡と解放の２種類の異常を区別して信号を得
ることを特徴とする磁気ヘッド異常検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2264821A JP2814303B2 (ja) | 1990-10-02 | 1990-10-02 | 磁気ヘッド異常検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2264821A JP2814303B2 (ja) | 1990-10-02 | 1990-10-02 | 磁気ヘッド異常検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04141805A JPH04141805A (ja) | 1992-05-15 |
| JP2814303B2 true JP2814303B2 (ja) | 1998-10-22 |
Family
ID=17408679
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2264821A Expired - Lifetime JP2814303B2 (ja) | 1990-10-02 | 1990-10-02 | 磁気ヘッド異常検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2814303B2 (ja) |
-
1990
- 1990-10-02 JP JP2264821A patent/JP2814303B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04141805A (ja) | 1992-05-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5457391A (en) | Load short-circuit detection using AWH-bridge driving circuit and an exclusive-OR gate | |
| JP2814303B2 (ja) | 磁気ヘッド異常検出回路 | |
| US6104199A (en) | Magnetic-head short-circuit detector | |
| JPH05298604A (ja) | 磁気ヘッド駆動回路 | |
| JP3576983B2 (ja) | 磁気記録装置 | |
| US6952316B2 (en) | Open head detection circuit and method in a voltage or current mode driver | |
| US6664815B2 (en) | Output driver circuit with current detection | |
| JPH0572646B2 (ja) | ||
| US6353914B1 (en) | Preamp writer fault detection circuit | |
| US6489779B1 (en) | System and method for terminal short detection | |
| JP2684062B2 (ja) | センサの異常検出回路 | |
| JP2579425B2 (ja) | 論理回路のテスト装置 | |
| JP2798591B2 (ja) | 磁気ヘッド断線検出回路 | |
| JPH0720614Y2 (ja) | 電流検出回路 | |
| JPH03104006A (ja) | 磁気記憶装置の記録時異常検出回路 | |
| JP2511051B2 (ja) | 磁気記録装置の書込み電流監視回路 | |
| JP3079582B2 (ja) | 出力回路 | |
| JPH0775046B2 (ja) | 磁気記憶装置の書込回路 | |
| JPH047711B2 (ja) | ||
| JP3755447B2 (ja) | 磁気記録装置 | |
| JP2003151104A (ja) | 磁気記録装置 | |
| JP2626023B2 (ja) | 磁気ヘッドドライブ装置 | |
| JPS6125055Y2 (ja) | ||
| JPS6168567A (ja) | 装置間配線の断線検出方式 | |
| JPH08160092A (ja) | 半導体集積回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070814 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080814 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080814 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090814 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090814 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100814 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110814 Year of fee payment: 13 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110814 Year of fee payment: 13 |