JP2804472B2 - 光ピックアップ - Google Patents
光ピックアップInfo
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- JP2804472B2 JP2804472B2 JP9291978A JP29197897A JP2804472B2 JP 2804472 B2 JP2804472 B2 JP 2804472B2 JP 9291978 A JP9291978 A JP 9291978A JP 29197897 A JP29197897 A JP 29197897A JP 2804472 B2 JP2804472 B2 JP 2804472B2
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- light
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- hologram
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- optical pickup
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学系にホログラ
ムを用いて、情報記録媒体から情報信号、フォーカスエ
ラー信号、トラッキングエラー信号を検出する。光ピッ
クアップに関する。
ムを用いて、情報記録媒体から情報信号、フォーカスエ
ラー信号、トラッキングエラー信号を検出する。光ピッ
クアップに関する。
【０００２】
【従来技術】近年、情報に関する産業の発展がめざまし
く、取り扱われる情報量も増大する傾向にある。このた
め、従来の磁気ヘッドを用いて情報を記録したり、再生
したりする記録または再生装置に代わり、光ビームを照
射して、記録媒体に高密度で情報を記録したり、記録媒
体に高密度で記録された情報を高速度で再生したりする
ことのできる光ピックアップを用いた光学的情報記録再
生装置が注目される状況にある。
く、取り扱われる情報量も増大する傾向にある。このた
め、従来の磁気ヘッドを用いて情報を記録したり、再生
したりする記録または再生装置に代わり、光ビームを照
射して、記録媒体に高密度で情報を記録したり、記録媒
体に高密度で記録された情報を高速度で再生したりする
ことのできる光ピックアップを用いた光学的情報記録再
生装置が注目される状況にある。
【０００３】この光学的情報記録再生装置の光ピックア
ップは、光源からの光を対物レンズによって記録媒体に
集光させ、その反射光を光検出器によって受光すること
で情報信号、フォーカスエラー信号及びトラッキングエ
ラー信号が検出される。そして、検出されたフォーカス
エラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいて、対
物レンズはフォーカス制御及びトラッキング制御され
る。
ップは、光源からの光を対物レンズによって記録媒体に
集光させ、その反射光を光検出器によって受光すること
で情報信号、フォーカスエラー信号及びトラッキングエ
ラー信号が検出される。そして、検出されたフォーカス
エラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいて、対
物レンズはフォーカス制御及びトラッキング制御され
る。
【０００４】例えば、特開昭６３−１０４２３２号公報
には、半導体レーザの出射光束を折曲するために、反射
型ホログラムを用いたピックアップが開示されている。
また、特開昭６３−１０４２２９号公報には、三角プリ
ズムの一面にビーム分割手段を設け、他の一面に瞳分割
手段（フォーカス、トラッキングエラー信号、情報信号
検出用）を設けたピックアップが開示されている。
には、半導体レーザの出射光束を折曲するために、反射
型ホログラムを用いたピックアップが開示されている。
また、特開昭６３−１０４２２９号公報には、三角プリ
ズムの一面にビーム分割手段を設け、他の一面に瞳分割
手段（フォーカス、トラッキングエラー信号、情報信号
検出用）を設けたピックアップが開示されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開昭
６３−１０４２３２号公報に開示されたピックアップで
は、半導体レーザからの光学系（出射光学系）と光検出
器への光学系（戻り光学系）とがビームスプリッタによ
って直交関係になっているため、ピックアップの小型
化、軽量化の妨げになっている。
６３−１０４２３２号公報に開示されたピックアップで
は、半導体レーザからの光学系（出射光学系）と光検出
器への光学系（戻り光学系）とがビームスプリッタによ
って直交関係になっているため、ピックアップの小型
化、軽量化の妨げになっている。
【０００６】また、特開昭６３−１０４２２９号公報に
開示されたピックアップでは、半導体レーザからの出射
光の光路と、光検出器に向かう光の光路とが、三角プリ
ズムを挟んで反対側にあるため、半導体レーザ用と光検
出器用の別々の基板が必要で、ピックアップの小型、軽
量化の妨げとなる。
開示されたピックアップでは、半導体レーザからの出射
光の光路と、光検出器に向かう光の光路とが、三角プリ
ズムを挟んで反対側にあるため、半導体レーザ用と光検
出器用の別々の基板が必要で、ピックアップの小型、軽
量化の妨げとなる。
【０００７】本発明は上記不具合を解決するものであっ
て、小型、軽量であると共に、フォーカスエラー信号の
検出精度を向上させる光ピックアップを提供することを
目的とする。
て、小型、軽量であると共に、フォーカスエラー信号の
検出精度を向上させる光ピックアップを提供することを
目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本願発明は上記目的を達
成するために、光源から出射された光を情報記録媒体に
照射し、該情報記録媒体からの反射光を光検出器によっ
て受光して情報信号、フォーカスエラー信号、トラッキ
ングエラー信号を検出する光ピックアップにおいて、前
記光源と光検出器とを同一基板上に固定し、前記情報記
録媒体から光検出器までの光路中に、該情報記録媒体か
らの反射光を回折するホログラムを配置し、前記ホログ
ラムは、情報記録媒体のトラック方向に対応する方向及
びそれと直交する方向に対応する方向にそれぞれ分割線
が形成され、複数の回折領域を有しており、前記光検出
器は、フォーカスエラー検出用の検出器とトラッキング
エラー検出用検出器とからなり、前記フォーカスエラー
検出用検出器は、前記トラック方向に直交する方向に対
応する方向に形成された分割線を挟んで２つの受光領域
を有するものであって、前記光検出器上における合焦時
の光スポットの大きさが前記検出器の分割線の幅よりも
大きく、前記分割線を跨いで２つの受光領域に均等に入
射する位置に配置されていることを特徴とするものであ
る。
成するために、光源から出射された光を情報記録媒体に
照射し、該情報記録媒体からの反射光を光検出器によっ
て受光して情報信号、フォーカスエラー信号、トラッキ
ングエラー信号を検出する光ピックアップにおいて、前
記光源と光検出器とを同一基板上に固定し、前記情報記
録媒体から光検出器までの光路中に、該情報記録媒体か
らの反射光を回折するホログラムを配置し、前記ホログ
ラムは、情報記録媒体のトラック方向に対応する方向及
びそれと直交する方向に対応する方向にそれぞれ分割線
が形成され、複数の回折領域を有しており、前記光検出
器は、フォーカスエラー検出用の検出器とトラッキング
エラー検出用検出器とからなり、前記フォーカスエラー
検出用検出器は、前記トラック方向に直交する方向に対
応する方向に形成された分割線を挟んで２つの受光領域
を有するものであって、前記光検出器上における合焦時
の光スポットの大きさが前記検出器の分割線の幅よりも
大きく、前記分割線を跨いで２つの受光領域に均等に入
射する位置に配置されていることを特徴とするものであ
る。
【０００９】なお、前記光源からの光を前記情報記録媒
体上に収束させる対物レンズを有し、前記対物レンズと
前記ホログラムの間の光路中に１／４波長板が配置され
ることが望ましい。
体上に収束させる対物レンズを有し、前記対物レンズと
前記ホログラムの間の光路中に１／４波長板が配置され
ることが望ましい。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態を説明する。図１乃至図４は本発明の第１実施例
に係り、図１は光磁気方式の光ピックアップの構成を示
す説明図、図２は半導体レーザ、フォトダイオード群及
び信号検出回路を示す説明図、図３は第３ホログラム１
３の説明図、図４（ａ）は光ビームがピットにかかると
きの戻り光の状態を示す説明図、図４（ｂ）は光ビーム
がピットから出るときの戻り光の状態を示す説明図であ
る。
施形態を説明する。図１乃至図４は本発明の第１実施例
に係り、図１は光磁気方式の光ピックアップの構成を示
す説明図、図２は半導体レーザ、フォトダイオード群及
び信号検出回路を示す説明図、図３は第３ホログラム１
３の説明図、図４（ａ）は光ビームがピットにかかると
きの戻り光の状態を示す説明図、図４（ｂ）は光ビーム
がピットから出るときの戻り光の状態を示す説明図であ
る。
【００１１】図１に示すように、本実施形態の光磁気ピ
ックアップは、三角柱形状のプリズム４０を備え、この
プリズム４０の同一面上に、第１ホログラム１１と第３
ホログラム１３とが設けられ、他の面上に第２ホログラ
ム１２が設けられている。前記第１ホログラム１１及び
第３ホログラム１３に対向する側には、半導体レーザ２
１とフォトダイオード群２２が設けられた基板２０が配
設されている。
ックアップは、三角柱形状のプリズム４０を備え、この
プリズム４０の同一面上に、第１ホログラム１１と第３
ホログラム１３とが設けられ、他の面上に第２ホログラ
ム１２が設けられている。前記第１ホログラム１１及び
第３ホログラム１３に対向する側には、半導体レーザ２
１とフォトダイオード群２２が設けられた基板２０が配
設されている。
【００１２】第１のホログラム１１は、ビーム整形と偏
光ビームスプリッタの機能を有し、半導体レーザ２１か
ら出射された楕円ビームは、第１ホログラム１１に入射
し、この第１ホログラム１１で反射された光は、円形ビ
ームに整形されると共に、Ｓ偏光は全反射、Ｐ偏光は透
過する。前記第１のホログラム１１で整形された円形ビ
ームは、１／４波長板４２によって円偏光に変換され、
対物レンズ１７によって磁気記録媒体３面上に集束され
る。
光ビームスプリッタの機能を有し、半導体レーザ２１か
ら出射された楕円ビームは、第１ホログラム１１に入射
し、この第１ホログラム１１で反射された光は、円形ビ
ームに整形されると共に、Ｓ偏光は全反射、Ｐ偏光は透
過する。前記第１のホログラム１１で整形された円形ビ
ームは、１／４波長板４２によって円偏光に変換され、
対物レンズ１７によって磁気記録媒体３面上に集束され
る。
【００１３】この記録媒体３で反射された光は、対物レ
ンズ１７によって平行光となり、１／４波長板４２によ
って再び直線偏光に変換され、第１ホログラム１１を透
過する。この第１ホログラム１１を透過したビームは、
プリズム４０の一端面で反射され、反射型の第２ホログ
ラム１２によって反射されると共に所望の集束光となっ
て、第３ホログラム１３にθ2 の角度で入射する。
ンズ１７によって平行光となり、１／４波長板４２によ
って再び直線偏光に変換され、第１ホログラム１１を透
過する。この第１ホログラム１１を透過したビームは、
プリズム４０の一端面で反射され、反射型の第２ホログ
ラム１２によって反射されると共に所望の集束光となっ
て、第３ホログラム１３にθ2 の角度で入射する。
【００１４】第３ホログラム１３は図３に示すように、
半円のホログラム領域１３ｃと２つの１／４円のホログ
ラム領域１３ａ，１３ｂとを有し、それらの領域を分割
する分割線の方向は、図２，４からも分かる通り、記録
媒体３のトラック方向に対応する方向及びトラック方向
に直交する方向に対応する方向に一致する。つまり図３
中、左右方向の分割線はトラック方向に対応する方向に
一致し、上下方向の分割線はトラック方向に直交する方
向に対応する方向に一致する。第２ホログラム１２から
のビームを半円ビームと２つの１／４円ビームに３分割
すると共に、分割された各ビームを若干異なる方向へ回
折するようになっている。半円ビームはフォトダイオー
ド群２２を構成するフォトダイオードＰＤ12に入射し、
２つの１／４円ビームはそれぞれ、フォトダイオードＰ
Ｄ11，ＰＤ13に入射するようになっている。
半円のホログラム領域１３ｃと２つの１／４円のホログ
ラム領域１３ａ，１３ｂとを有し、それらの領域を分割
する分割線の方向は、図２，４からも分かる通り、記録
媒体３のトラック方向に対応する方向及びトラック方向
に直交する方向に対応する方向に一致する。つまり図３
中、左右方向の分割線はトラック方向に対応する方向に
一致し、上下方向の分割線はトラック方向に直交する方
向に対応する方向に一致する。第２ホログラム１２から
のビームを半円ビームと２つの１／４円ビームに３分割
すると共に、分割された各ビームを若干異なる方向へ回
折するようになっている。半円ビームはフォトダイオー
ド群２２を構成するフォトダイオードＰＤ12に入射し、
２つの１／４円ビームはそれぞれ、フォトダイオードＰ
Ｄ11，ＰＤ13に入射するようになっている。
【００１５】なお、第１実施例と同様に、第３ホログラ
ム１３への入射光の光路は、半導体レーザ２１から第１
ホログラム１１に向かう出射光の光路と略平行になって
おり、且つ、第３ホログラム１３からフォトダイオード
群２２へ向かう戻り光の光路は、半導体レーザ２１から
第１ホログラム１１に向かう出射光の光路と略同方向に
なっている。
ム１３への入射光の光路は、半導体レーザ２１から第１
ホログラム１１に向かう出射光の光路と略平行になって
おり、且つ、第３ホログラム１３からフォトダイオード
群２２へ向かう戻り光の光路は、半導体レーザ２１から
第１ホログラム１１に向かう出射光の光路と略同方向に
なっている。
【００１６】本実施例において、情報信号及びフォーカ
ス、トラッキングエラー信号は、次のようにして検出さ
れるようになっている。図２に示すように、フォトダイ
オードＰＤ11，ＰＤ12，ＰＤ13はそれぞれ、２分割素子
になっている。さらに詳細に説明すれば、フォトダイオ
ードＰＤ11，13の分割線はトラック方向に対応する方向
に一致し、フォトダイオードＰＤ12の分割線はトラック
方向に直交する方向に対応する方向に一致している。
ス、トラッキングエラー信号は、次のようにして検出さ
れるようになっている。図２に示すように、フォトダイ
オードＰＤ11，ＰＤ12，ＰＤ13はそれぞれ、２分割素子
になっている。さらに詳細に説明すれば、フォトダイオ
ードＰＤ11，13の分割線はトラック方向に対応する方向
に一致し、フォトダイオードＰＤ12の分割線はトラック
方向に直交する方向に対応する方向に一致している。
【００１７】フォーカスエラー信号は、ナイフエッジ法
により、減算器５１によってフォトダイオードＰＤ12の
２分割素子の出力差を演算することにより得られる。な
お、図２に示すように、フォトダイオードＰＤ12上での
光スポットの大きさは、分割線の幅よりも大きなものと
なっていて、２つの受光素子に跨いで入射しているの
で、フォーカスエラー信号の検出精度が向上する。
により、減算器５１によってフォトダイオードＰＤ12の
２分割素子の出力差を演算することにより得られる。な
お、図２に示すように、フォトダイオードＰＤ12上での
光スポットの大きさは、分割線の幅よりも大きなものと
なっていて、２つの受光素子に跨いで入射しているの
で、フォーカスエラー信号の検出精度が向上する。
【００１８】また、トラッキングエラー信号はプッシュ
プル法により、フォトダイオードＰＤ11，ＰＤ13の出力
の差によって得られる。すなわち、フォトダイオードＰ
Ｄ11の２分割素子の出力の和を得る加算器５２の出力
と、フォトダイオードＰＤ13の２分割素子の出力の和を
得る加算器５３の出力との差を、減算器５４によって演
算することにより得られる。
プル法により、フォトダイオードＰＤ11，ＰＤ13の出力
の差によって得られる。すなわち、フォトダイオードＰ
Ｄ11の２分割素子の出力の和を得る加算器５２の出力
と、フォトダイオードＰＤ13の２分割素子の出力の和を
得る加算器５３の出力との差を、減算器５４によって演
算することにより得られる。
【００１９】また、データ部の情報信号は、フォトダイ
オードＰＤ11及びＰＤ13とフォトダイオードＰＤ12の出
力の差によって得られる。すなわち、加算器５２，５３
の出力の和を得る加算器５５の出力と、フォトダイオー
ドＰＤ12の２分割素子の出力の和を得る加算器５８の出
力との差を、減算器５６によって演算することにより得
られる。
オードＰＤ11及びＰＤ13とフォトダイオードＰＤ12の出
力の差によって得られる。すなわち、加算器５２，５３
の出力の和を得る加算器５５の出力と、フォトダイオー
ドＰＤ12の２分割素子の出力の和を得る加算器５８の出
力との差を、減算器５６によって演算することにより得
られる。
【００２０】また、プレピット部の情報信号は、加算器
５７によって、加算器５５の出力と加算器５８の出力の
和を演算することにより得られる。本実施形態では、光
磁気記録媒体３に円偏光ビームを照射して情報を読み出
す方式を用いている。すなわち、半導体レーザ２１から
出射された光は、第１ホログラム１１によってビーム整
形されると共に、Ｓ偏光は全反射、Ｐ偏光は透過する。
反射されたＳ偏光は、１／４波長板４２を通過すること
により円偏光となり、対物レンズ１７により集光され、
円偏光のまま光磁気記録媒体３に照射される。この円偏
光は、記録媒体３で反射するとき、記録媒体３の磁化方
向により位相が変化する。例えば、ピット部により反射
された円偏光は位相が変化する。例えば、ピット部によ
り反射された円偏光は位相が進み、逆に、非ピット部で
反射された円偏光は位相が遅れる。このように記録媒体
３で反射された円偏光は、対物レンズ１７で平行光とな
り、１／４波長板４２を再び通過し、Ｐ偏光の直線偏光
となる。このとき、ピット部による位相進みをθ（ｒａ
ｄ）、非ピット部による位相遅れを−θ（ｒａｄ）とす
ると、ピット部で反射した光と非ピット部で反射した光
とでは、直線偏光の位相差は２θ（ｒａｄ）となる。従
って、ピット部と非ピット部の境界におけるファーフィ
ールド部によって相互干渉が生じ、図４（ａ）に示すよ
うにピット部４５に入るとき、ファーフィールドにおけ
る光４４の前方が明るく後方が暗くなり、逆に図４
（ｂ）に示すように、ピット４４から抜け出るとき、フ
ァーフィールドにおける光４４の前方が暗く後方が明る
くなる。従って、ファーフィールドにおける光４４の前
後の光強度の差を検出することにより、ピット部と非ピ
ット部の境界を検出することができる。
５７によって、加算器５５の出力と加算器５８の出力の
和を演算することにより得られる。本実施形態では、光
磁気記録媒体３に円偏光ビームを照射して情報を読み出
す方式を用いている。すなわち、半導体レーザ２１から
出射された光は、第１ホログラム１１によってビーム整
形されると共に、Ｓ偏光は全反射、Ｐ偏光は透過する。
反射されたＳ偏光は、１／４波長板４２を通過すること
により円偏光となり、対物レンズ１７により集光され、
円偏光のまま光磁気記録媒体３に照射される。この円偏
光は、記録媒体３で反射するとき、記録媒体３の磁化方
向により位相が変化する。例えば、ピット部により反射
された円偏光は位相が変化する。例えば、ピット部によ
り反射された円偏光は位相が進み、逆に、非ピット部で
反射された円偏光は位相が遅れる。このように記録媒体
３で反射された円偏光は、対物レンズ１７で平行光とな
り、１／４波長板４２を再び通過し、Ｐ偏光の直線偏光
となる。このとき、ピット部による位相進みをθ（ｒａ
ｄ）、非ピット部による位相遅れを−θ（ｒａｄ）とす
ると、ピット部で反射した光と非ピット部で反射した光
とでは、直線偏光の位相差は２θ（ｒａｄ）となる。従
って、ピット部と非ピット部の境界におけるファーフィ
ールド部によって相互干渉が生じ、図４（ａ）に示すよ
うにピット部４５に入るとき、ファーフィールドにおけ
る光４４の前方が明るく後方が暗くなり、逆に図４
（ｂ）に示すように、ピット４４から抜け出るとき、フ
ァーフィールドにおける光４４の前方が暗く後方が明る
くなる。従って、ファーフィールドにおける光４４の前
後の光強度の差を検出することにより、ピット部と非ピ
ット部の境界を検出することができる。
【００２１】なお、ピット部にかかるときのフォーカ
ス、トラッキングエラー信号を検出すれば、ピット部か
ら抜け出るときにはエラー信号が得られないことになる
が、一般的には、データ部の変調周波数が高いので、平
均値のエラー信号が得られる。
ス、トラッキングエラー信号を検出すれば、ピット部か
ら抜け出るときにはエラー信号が得られないことになる
が、一般的には、データ部の変調周波数が高いので、平
均値のエラー信号が得られる。
【００２２】このように本実施形態によれば、第１ホロ
グラム１１と第３ホログラム１３とを一体のプリズム４
０の同一面に配置したので、第１のホログラム１１及び
第３ホログラム１３を１枚の光学部材とすることがで
き、光学部品点数を少なくすることができる。また、半
導体レーザ２１とフォトダイオード群２２とを同一基板
２０上に配置することが可能になり、光磁気ピックアッ
プの小型、軽量化が可能となる。
グラム１１と第３ホログラム１３とを一体のプリズム４
０の同一面に配置したので、第１のホログラム１１及び
第３ホログラム１３を１枚の光学部材とすることがで
き、光学部品点数を少なくすることができる。また、半
導体レーザ２１とフォトダイオード群２２とを同一基板
２０上に配置することが可能になり、光磁気ピックアッ
プの小型、軽量化が可能となる。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
小型、軽量であると共に、良好なフォーカスエラー信号
検出が可能な光ピックアップを提供することができる。
小型、軽量であると共に、良好なフォーカスエラー信号
検出が可能な光ピックアップを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 図１は本発明の光磁気ピックアップの構成を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図２】 図２は半導体レーザ、フォトダイオード群及
び信号検出回路を示す説明図である。
び信号検出回路を示す説明図である。
【図３】 図３は第３ホログラムの説明図である。
【図４】 図４（ａ）は光ビームがピットにかかるとき
の戻り光の状態を示す説明図、図４（ｂ）は光ビームが
ピットから出るときの戻り光の状態を示す説明図であ
る。
の戻り光の状態を示す説明図、図４（ｂ）は光ビームが
ピットから出るときの戻り光の状態を示す説明図であ
る。
１ 光磁気ピックアップ １０ プリズム １１ 第１ホログラム １２ 第２ホログラム １３ 第３ホログラム ２０ 基板 ２１ 半導体レーザ ２２ フォトダイオード群
Claims (2)
- 【請求項１】光源から出射された光を情報記録媒体に照
射し、該情報記録媒体からの反射光を光検出器によって
受光して情報信号、フォーカスエラー信号、トラッキン
グエラー信号を検出する光ピックアップにおいて、 前記光源と光検出器とを同一基板上に固定し、 前記情報記録媒体から光検出器までの光路中に、該情報
記録媒体からの反射光を回折するホログラムを配置し、 前記ホログラムは、情報記録媒体のトラック方向に対応
する方向及びそれに直交する方向に対応する方向にそれ
ぞれ分割線が形成され、複数の回折領域を有しており、 前記光検出器は、フォーカスエラー検出用の検出器とト
ラッキングエラー検出用検出器とからなり、 前記フォーカスエラー検出用検出器は、前記トラック方
向に直交する方向に対応する方向に形成された分割線を
挟んで２つの受光領域を有するものであって、前記光検
出器上における合焦時の光スポットの大きさが前記検出
器の分割線の幅よりも大きく、前記分割線を跨いで２つ
の受光領域に均等に入射する位置に配置されていること
を特徴とする光ピックアップ。 - 【請求項２】請求項１記載の光ピックアップにおいて、 前記光源からの光を前記情報記録媒体上に収束させる対
物レンズを有し、前記対物レンズと前記ホログラムの間
の光路中に１／４波長板が配置されることを特徴とする
光ピックアップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9291978A JP2804472B2 (ja) | 1997-10-24 | 1997-10-24 | 光ピックアップ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9291978A JP2804472B2 (ja) | 1997-10-24 | 1997-10-24 | 光ピックアップ |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63273828A Division JP2933166B2 (ja) | 1988-10-28 | 1988-10-28 | 光ピックアップ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10134442A JPH10134442A (ja) | 1998-05-22 |
| JP2804472B2 true JP2804472B2 (ja) | 1998-09-24 |
Family
ID=17775938
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9291978A Expired - Fee Related JP2804472B2 (ja) | 1997-10-24 | 1997-10-24 | 光ピックアップ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2804472B2 (ja) |
-
1997
- 1997-10-24 JP JP9291978A patent/JP2804472B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10134442A (ja) | 1998-05-22 |
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