JP2634221B2 - 光記録再生装置 - Google Patents

光記録再生装置

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JP2634221B2
JP2634221B2 JP64000501A JP50189A JP2634221B2 JP 2634221 B2 JP2634221 B2 JP 2634221B2 JP 64000501 A JP64000501 A JP 64000501A JP 50189 A JP50189 A JP 50189A JP 2634221 B2 JP2634221 B2 JP 2634221B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、光記録再生装置に関し、さらに詳しくい
うと、情報記録媒体に複数のビームを照射し、これら複
数のビームで情報の記録,再生,もしくは消去を行う光
記録再生装置に関するものである。
[従来の技術] 従来の光記録再生装置は、情報記録媒体に単一のビー
ムを照射し、このビームによって情報の記録,再生,あ
るいは消去を行っていた。しかし、光記録再生装置のよ
り一層の高機能化を図る目的で、情報記録媒体に複数の
ビームを照射させるものが考えられている。その具体的
機能とは、(i)リアルタイムモニタ、(ii)オーバー
ライト、(iii)並列記録再生、に大別される。(i)
情報記録媒体の同一トラックに少なくとも2つ以上のビ
ームを照射し、先行するビームで情報の記録を行い、後
行するビームで記録直後の情報を再生するものである。
これによって従来、単一のビームで記録を行い、一回転
後に記録された情報を再生し、正しく記録されたかどう
かの判定を行っているものが、一度に行えるという利点
がある。(ii)も(i)と同様に情報記録媒体の同一ト
ラックに少なくとも2つ以上のビームを照射し、書換え
形の情報記録媒体にすでに記録された情報に対し、先行
するビームで消去を行い、後行するビームで新たな情報
を記録するものであるこれによって従来、単一のビーム
で消去を行い、一回転後に記録を行っていたものが、一
度に行えるという利点がある。また(iii)は情報記録
媒体の異なる複数のトラックに各ビームを照射し、記
録、再生、消去を行うものであり、これによって一度に
大量の情報を処理できるという利点がある。
第3図は、例えば「光メモリシンポジウム85」論文集
の第107〜112ページに記載された、リアルタイムモニタ
機能を有する従来の光記録再生装置であり、図におい
て、2ビーム半導体レーザ(1)は、第4図に示すよう
に、互いに平行な記録用ビーム(2)と再生用ビーム
(3)を出射する。なお、ここでは、1素子に2つの活
性領域を有するアレイ形の2ビーム半導体レーザ(1)
を示しているが、各ビーム(2)、(3)を互いに独立
に駆動できるものであれば、通常の1つの活性領域を有
する素子を2個並列に配置したものでもよい。
2ビーム半導体レーザ(1)のビーム出射側にはコリ
メータレンズ(4)が配置され、偏光ビームスプリッタ
(5)がコリメータレンズ(4)を通過したビームを受
光するように配置されている。反射ミラー(6)は偏光
ビームスプリッタ(5)を透過したビームを図で上方に
向け、その光路に1/4波長板(7)、対物レンズ(8)
が配置されている。情報記録媒体(9)は対物レンズ
(8)に近接して配置されている。情報記録媒体(9)
の情報記録方向に沿って案内溝(10)が形成されてお
り、この案内溝(10)に沿って照射される各ビーム
(2),(3)によって記録用スポット(11)および再
生用スポット(12)が形成される。
偏光ビームスプリッタ(5)の側方には、偏光ビーム
スプリッタ(5)で反射されたビームを反射光と透過光
に分割するハーフプリズム(13)が配置されており、さ
らに2つの受光面(14a),(14b)を有しハーフプリズ
ム(13)を透過したビームを受光する2分割光検知器
(14)が配置されている。
凸レンズ(15)はハーフプリズム(13)で反射された
ビームを収束する。ピンホールミラー(16)は凸レンズ
(15)からのビームのうち再生用ビーム(3)のみを通
過させるピンホール(17)を有している。このピンホー
ルミラー(17)を通過した再生用ビーム(3)はハーフ
プリズム(18)で分割される。ハーフプリズム(18)を
透過した再生用ビーム(3)の光路上にはナイフエツジ
(19)が配置されており、2つの受光面(20a),(20
b)を有する2分割光検知器(20)は、ナイフエツジ(1
9)を介して再生用ビーム(3)を受光する。
光検知器(21)は、ピンホールミラー(16)で反射さ
れた記録用ビーム(2)を受光して記録用ビームのモニ
タ信号Eを発生する。光検知器(22)は、ハーフプリズ
ム(18)で反射された再生用ビーム(3)を受光して再
生用Cを発生する。回路(23)は、光検知器(22)から
の再生出力Cから再生信号Dを選るための再生信号検出
回路である。
記録信号発生回路(24)は、記録信号Aをパルス列と
して出力し、ドライブ回路(25)は、記録信号Aに基づ
いて2ビーム半導体レーザ(1)を駆動する。
2分割光検知器(14)の出力信号TSを検出する差動増
幅器(26)には、各受光面(14a)および(14b)からの
出力信号が入力される。2分割光検知器(20)の出力信
号FSを検出する差動増幅器(27)には、各受光面(20
a)および(20b)からの出力信号が入力される。
なお、2分割光検知器(14)および差動増幅器(26)
は、プッシュプル法と呼ばれる周知のトラッキングエラ
ー検出光学系を形成し、ナイフエッジ(19)、2分割光
検知器(20)および差動増幅器(27)は、ナイフエッジ
法と呼ばれる周知のフォーカシングエラー検出光学系を
形成している。
第5図は情報記録ば媒体(9)上の記録用スポット
(11)および再生用スポット(12)を詳細に示す。な
お、ここでは、各スポット(11),(12)を案内溝(1
0)相互間に照射して記録再生する場合を示したが、案
内溝(10)上に記録再生してもよい。図において、lは
記録用スポット(11)とこれに後行する再生用スポット
(12)との間隔、矢印は情報記録媒体(9)の回転移動
方向である。ピット(28)は記録用スポット(11)によ
って情報記録媒体(9)上に書き込まれる。
次に、第3図〜第5図に示した従来の光記録再生装置
の動作について説明する。
まず、第3図に示すような記録信号Aが発生すると、
この記録信号Aに基づいて2ビーム半導体レーザ(1)
が駆動される。2ビーム半導体レーザ(1)から出射し
た記録用ビーム(2)および再生用ビーム(3)は、コ
リメータレンズ(4)により平行ビームとなり、偏光ビ
ームスプリッタ(5)、反射ミラー(6)、1/4波長板
(7)および対物レンズ(8)を経て情報記録媒体
(9)に照射され、第5図に示すような記録用スポット
(11)および再生用スポット(12)となる。
記録用スポット(11)は、記録信号Aの記録情報(例
えばパルス幅)を含んでおり、これに応じた形状Bのピ
ット(28)を情報記録媒体(9)上に順次形成する。一
方、記録用スポット(11)から距離lだけ後行する再生
用スポット(12)は、一定の光強度で駆動されており、
書込まれたピット(28)を、強度lに対応した時間tl
(数μ秒)後に再生していく。
すなわち、記録用スポット(11)はピット(28)を形
成すると同時に反射され、再生用スポット(12)は書込
み後のピット(28)で反射される。このように、情報記
録媒体(9)で反射された記録用ビーム(2)および再
生用ビーム(3)は、再び対物レンズ(8)および1/4
波長板(7)を透過するが、1/4波長板(7)を往復す
ることによって偏光方向が90゜回転するため、偏光ビー
ムスプリッタ(5)で反射される。
続いて、各ビーム(2)および(3)はハーフプリズ
ム(13)で反射されるが、その一部はハーフプリズム
(13)を透過して後述するトラッキングラー検出光学系
に入力され、情報記録媒体(9)に照射されるビームの
トラッキングエラー補正に用いられる。
ハーフプリズム(13)で反射された各ビーム(2),
(3)は、凸レンズ(15)で収束された後、記録用ビー
ム(2)はピンホールミラー(16)で反射され、再生用
ビーム(3)はピンホール(17)を通過してハーフプリ
ズム(18)で反射される。なお、このとき、再生用ビー
ム(3)の一部はハーフプリズム(18)を透過して後述
するフオーカシングエラー検出光学系に入力され、情報
記録媒体(9)に照射されるビームのフオーカシングエ
ラー補正に用いられる。
ピンホールミラー(16)で反射された記録用ビーム
(2)は、光検知器(21)で受光されて記録信号Aに対
応したパルス波形Eとして検出され、情報記録媒体
(9)および光路などの障害の有無の判定に用いられ
る。
一方、ハーフプリズム(18)で反射された再生用ビー
ム(3)は、光検知器(22)で受光されて第6図に示す
ようにピット形状Bに対応した再生出力Cとして検出さ
れ、さらに、再生信号検出回路(23)で波形処理されて
パルス列状の再生信号Dとして検出される。こうして得
られた再生信号Dは、記録信号Aと比較され、情報記録
が正常に行われたかどうかの判定に用いられる。
ここでは、ピット(28)が形成されることにより情報
記録媒体(9)の反射率が低下する場合を示したが、ピ
ット(28)により反射率が増大する情報記録媒体(9)
であっても、同様に情報記録状態を判定することができ
る。
なお、再生信号Dは、記録信号Aに対し時間tlだけ遅
れているが、時間tlが数μ秒のオーダであるから、ほぼ
実時間で記録欠陥の有無の判定ができると考えられる。
情報記録媒体(9)に記録された情報を再生するとき
には、2ビーム半導体レーザ(1)から再生用ビーム
(3)のみを出射し、再生信号検出回路(23)で検出す
ればよい。
次に、第7図を用いて、ナイフエッジ(19)、2分割
光検知器(20)および差動増幅器(27)で構成されるナ
イフエッジ法による従来のフオーカシングエラー検出光
学系の動作について説明する。なお、第7図にはフオー
カシングエラー検出の原理説明に必要な部分のみを抜き
出して示してある。同図(a)は情報記録媒体(9)が
対物レンズ(8)に対し合焦点にある場合で、ナイフエ
ッジ(19)によって半円断面形状となった再生用ビーム
(3)は、2分割光検知器(20)の2つの受光面(20
a),(20b)の中央に集光する。この場合、差動増幅器
(27)の出力信号FSは零となる。同図(B)は情報記録
媒体(9)が対物レンズ(8)の焦点よりも遠い場合
で、ナイフエッジ(19)によって一部が遮光された再生
用ビーム(3)は受光面(20a)に入射するための、差
動増幅器(27)から得られた出力信号FSは正となる。逆
に、同図(c)は情報記録媒体(9)が対物レンズ
(8)の焦点よりも近い場合で、再生用ビーム(3)は
受光面(20b)に入射するため、差動増幅器(27)から
得られる出力信号FSは負となる。従って、焦点ずれの方
向と大きさが差動増幅器(27)の出力信号FSより得られ
る。
次に、第8図を用いて、2分割光検知器(14)及び差
動増幅器(26)で構成されるプッシュプル法による従来
のトラツキングエラー検出光学系の動作について説明す
る。なお、第8図にはトラッキングエラー検出の原理説
明に必要は部分のみを抜き出して示してある。同図
(a)はトラツキングのずれが無い場合、(b)は案内
溝(10)が+X方向にずれた場合、(c)は−X方向に
ずれた場合を示す。同図(a)〜(c)において、案内
溝(10)の両縁によってそれぞれ回折された1次回折光
の分布は、曲線(29),(30)で示されている。また同
図(d)(e)(f)は、それぞれ同図(a)(b)
(c)における2分割光検知器(14)の2つの受光面
(14a),(14b)における入射光の形状を示す。入射光
の外形形状は、再生用ビーム(3)と記録用ビーム
(2)のそれぞれ円形形状の中心が、2つの受光面(14
a),(14b)の分割線上に位置し、かつ分割線に沿った
方向に互いにずれたものとなる。1次回折光の分布(2
9),(30)を図中の斜線部で示している。
第8図(a)に示すような、トラツキングのずれが無
い場合、情報記録媒体(9)に設けられた案内溝(10)
の両縁による1次回折分布(29)と(30)の割合は互い
に等しく、従って、同図(d)に示す2分割光検出器
(14)の2つの受光面(14a),(14b)からの出力が等
しくなり、差動増幅器(26)の出力信号TSは零となる。
また、第8図(b)に示すように、案内溝(10)が+X
方向にずれた場合、案内溝(10)の両縁による1次回折
光分布(29)と(30)が互いに等しくなくなり、同図
(e)に示すように受光面(14a)に強度分布が偏るた
め、差動増幅器(26)の出力信号TSは正となる。一方、
同図(c)に示すように、案内溝(10)が−X方向にず
れた場合、同図(f)に示すように1次回折光分布(2
9),(30)の偏りが逆方向となり、差動増幅器(26)
の出力信号TSは負となる。以上のようにして案内溝(1
0)のずれの方向と大きさが差動増幅器(26)の出力信
号TSより得られる。
[発明が解決しようとする課題] 従来の光記録再生装置は、以上のように、トラツキン
グエラー検出光学系において、2分割光検,知器(14)
には記録用ビーム(2)と再生用ビーム(3)とが一括
して入射されるため、両ビーム(2)(3)とも発光し
ている状態においては、これより得られるトラツキング
エラーの出力信号TSから、各ビーム(2)(3)のトラ
ツキングエラーを個別に検出することができず、トラッ
ク追従の信頼性が確保できないという問題点があった。
また、記録ビームのモニタ信号Eおよび再生出力Cを
それぞれ検出するめの光検出器(21)(22)と、光路を
分割するためのピンホールミラー(16)、ハーフプリズ
ム(18)を設ける必要があり、光学系が複雑であるとい
う問題点があった。
この発明は上記のような問題を解決するためになされ
たもので、簡素な光学系で各ビームのトラツキングエラ
ーの出力信号、記録ビームのモニタ信号、再生信号を検
出することのできる光記録再生装置を得ることを目的と
する。
[課題を解決するための手段] この発明に係る光記録再生装置は、案内溝が設けられ
複数のビームが隣接する案内溝上にそれぞれ照射される
情報記録媒体と、前記情報記録媒体からの前記複数のビ
ームの反射光束が光学的にみて前記案内溝と平行な方向
が集光点であり、前記案内溝と直交する方向が遠視野領
域となるように配置されたシリンドリカルレンズと、前
記シリンドリカルレンズを透過した前記複数のビームの
反射光束を受光するように配置され複数の反射光束の前
記遠視野領域の方向を光学的にみて前記案内溝と直交す
る方向に互いにずれた量と略等しい量だけ2分割された
受光面の分割線が平行的にずれている光検知器と、前記
各ビームに対応する前記2分割された受光面からの出力
を減算する差動増幅器と、前記差動増幅器から得られた
2つの減算信号に基づいてトラッキングエラーを補正す
るようにしたものである。
[作用] この発明においては、2分割された受光面からの出力
を減算する差動増幅器から得られた2つの減算信号に基
づいてトラッキングエラー信号を検出することができ
る。また、案内溝と直交する方向に互いに複数の反射光
束のずれた量と略等しい量だけ2分割された受光面の分
割線が平行的にずれているので、両反射光束が2分割さ
れた受光面に対して均等に入射され、トラッキングエラ
ー信号に初期オフセットは生じない。
[実施例] 以下、この発明の一実施例を図について説明する。第
1図はこの発明を説明するための参考光路図であり、符
号(1)〜(5)、(7)〜(12)、(19)、(20)、
(23)〜(25)、および(27)は前述の従来の同一符号
のものと同様の部分である。
凸レンズ(31)は偏向ビームスプリッタ(5)で反射
された情報記録媒体(9)からの反射ビームを収束ビー
ムとするためのものである。ハーフプリズム(32)は前
記収束ビームを透過光と反射光とに分割するもので、こ
のハーフプリズム(32)の透過光の光路には、ナイフエ
ッジ(19)と2分割光検知器(20)および差動増幅器
(27)による前述したナイフエッジ法によるフオーカシ
ングエラー検出光学系が形成されている。
シリンドリカルレンズ(33)は、ハーフプリズム(3
2)の反射光の光路中に配置され、この実施例において
は、シリンドリカル凹レンズ(33)が、そのレンズ作用
を有する方向が光学的にみて、情報記録媒体(9)の案
内溝(10)と直交する方向となるように配置されてい
る。
4分割光検知器(34)は4つの受光面(34a)〜(34
d)を有し、記録ビーム(2)が受光面(34a)(34b)
に入射するように、また再生用ビーム(3)が受光面
(34c)(34d)に入射するように、かつ、各ビーム
(2)(3)が延在する方向の集光点の位置に配置され
ている。
差動増幅器(35)は2つの受光面(34a)(34b)から
の各出力の差を演算し、差動増幅器(36)は2つの受光
面(34c)(34d)からの各出力の差を演算する。加算器
(37)は2つの受光面(34a)(34b)からの各出力を加
算する。加算器(38)は2つの受光面(34c)(34d)か
らの各出力を加算して再生出力Cを発生する。再生信号
検出回路(23)は加算器(38)からの再生出力Cから再
生信号Dを得る。
次に、以上の構成による動作について説明する。この
実施例においては、リアルタイムモニタ機能を実行する
ものについて述べており、2ビーム半導体レーザ(1)
からの記録用ビーム(2)および再生用ビーム(3)
で、情報記録媒体(9)上に情報の記録および再生を行
う動作については従来技術と同じである。また、この実
施例におけるフオーカシングエラー検出光学系の動作原
理については、本出願人の先の出願(特願昭62−182256
号)に係る「光記録再生装置」に詳しく述べられている
ので、ここで説明は省略する。さらに、この説明におい
ては、フォーカシングエラー検出光学系を限定するもの
ではなく、この発明の要部である記録用ビーム(2)と
再生用ビーム(3)の分離、および各ビームのトラッキ
ングエラーの出力信号、記録用ビームのモニタ信号、再
生出力Cの検出原理について以下に詳しく説明する。
第1図において、4分割光検出器(34)は記録用ビー
ム(2)および再生用ビーム(3)が延在する方向にお
ける集光点に配置されているため、シリンドリカルレン
ズ(33)によって各ビーム(2)(3)は互いに空間的
に分離された線状の形状となる。従って記録用ビーム
(2)を受光面(34a)(34b)で、また再生用ビーム
(3)を受光面(34c)(34d)で検出することによっ
て、各ビームを独立して検出することができる。すなわ
ち、記録用ビーム(2)のモニタ信号Eは加算器(37)
の出力信号から得られ、再生出力Cは加算器(38)の出
力信号として得られる。また、4分割光検知器(34)面
上において、各ビーム(2)(3)の情報記録媒体
(9)の案内溝(10)と直交する方向の状態は、シリン
ドリカルレンズ(33)の作用によって遠視野領域である
ため、従来例の第8図で述べたプッシュプル法によるト
ラッキングエラー検出を行うことができる。すなわち、
差動増幅器(35)の出力信号TS1から記録用ビーム
(2)のトラッキングエラーが得られ、差動増幅器(3
6)の出力信号TS2から再生用ビーム(3)のトラッキン
グエラーが得られる。
なお、上記実施例においてはシリンドリカルレンズ
(33)として凹レンズのものを示したが、凸レンズのも
のであってもよく、第1図に示すように4分割光検知器
(34)面上において、各ビーム(2)(3)の延在する
方向が集光点であり、これと直交する方向が遠視野領域
となるような構成であればどのような光路系であっても
よい。
また、上記実施例においては、リアルタイムモニタ機
能を実行するものについて述べたが、オーバーライト機
能や並列記録再生を実行するものにおいて適用できるの
は言うまでもない。
ただし、並列記録再生においては以下に述べるような
点に留意する必要がある。第2図は並列記録再生におけ
る各ビームと4分割光検知器との関係を示す図である。
同図(a)は情報記録媒体(9)の平面図、同図(b)
は光路図であり、説明に必要な部分のみを抜き出して示
している。図において、距離δだけ離間した隣接する記
録トラック上に第1のビーム(40)による第1のスポッ
ト(41)、および第2のビーム(42)による第2のスポ
ット(43)が照射されている。同図(c)は4分割光検
知器(34)と演算回路(35)〜(38)との接続を示し、
受光面(34a)(34b)の出力が入力された差動増幅器
(35)から第1のビームのトラッキングエラー出力信号
TS1が、および加算器(37)から第1のビームの再生信
号RF1が得られる。。同様に、受光面(34c)(34d)の
出力が入力された差動増幅器(36)から第2のビームの
トラッキングエラー出力信号TS2が、および加算器(3
8)から第2のビームの再生信号RF2が得られる。並列記
録再生においては、各スポット(41)(43)が同一トラ
ックではなく、距離δだけ離間して照射されるため、同
図(b)(c)に示すように4分割光検知器(34)面上
において、案内溝(10)と直交する方向にδだけ各ビ
ームの中心位置のずれが発生する。δのずれは対物レ
ンズ(8)の焦点距離fおよび対物レンズ(8)と4分
割光検知器(34)間の距離Lにも依存し で与えられる。例えばトラックのピッチδを1.6(μ
m)、対物レンズの焦点距離fを4(mm)、対物レンズ
(8)と4分割光検知器(34)間の距離Lを40(mm)す
ると、ビームずれδは16(μm)と計算され、4分割
光検知器(34)面上での各ビームの長径方向がδに較
べて充分大きい場合には、ビームのずれδによるトラ
ッキングエラーの各出力信号TS1,TS2のオフセットは問
題とならない。ビームのずれδが問題となるが、この
発明では第2図(d)に示すように4分割光検知器(3
4)を用いている。第2図(d)においては、受光面(3
4a)と(34b)の分割線(34e)と、受光面(34c)と(3
4d)の間の分割線(34f)を、光学系で決まるビームの
ずれδだけ段違いにしたものであり、このようにする
ことによって各ビーム(40)(42)から得られるトラッ
キングエラーの出力信号TS1,TS2にはオフセットが発生
しない。
なお、上記実施例においては、すべて2つのビームを
照射するものについて述べたが、3ビーム以上を照射す
るものについて適用できることは言うまでもない。
[発明の効果] 以上説明したように、この発明によれば、案内溝が設
けられ複数のビームが隣接する案内溝上にそれぞれ照射
される情報記録媒体と、前記情報記録媒体からの前記複
数のビームの反射光束が光学的にみて前記案内溝と平行
な方向が集光点であり、前記案内溝と直交する方向が遠
視野領域となるように配置されたシリンドリカルレンズ
と、前記シリンドリカルレンズを透過した前記複数のビ
ームの反射光束を受光するように配置され複数の反射光
束の前記遠視野領域の方向を光学的にみて前記案内溝と
直交する方向に互いにずれた量と略等しい量だけ2分割
された受光面の分割線が平行的にずれている光検知器
と、前記各ビームに対応する前記2分割された受光面か
らの出力を減算する差動増幅器と、前記差動増幅器から
得られた2つの減算信号に基づいてトラッキングエラー
を補正するようにしたので、簡単な光学系でありなが
ら、2分割された受光面からの出力を減算する差動増幅
器から得られた2つの減算信号に基づいてトラッキング
エラー信号を検出することができる。
また、案内溝と直交する方向に互いに複数の反射光束
のずれる量と略等しい量だけ2分割された受光面の分割
線が平行的にずれており、両反射光束が2分割された受
光面に対して均等に入射されるので、情報記録媒体上の
隣接する案内溝上に照射された集光スポットに対して光
検知器面で均等に入射されるように光学的に補正されて
おり、両方のスポットに対するトラッキングエラー信号
に初期オフセットは生じず、電気的な補正手段を別に設
ける必要性がなく、電気回路構成が簡素化されるととも
に、精度の高いトラッキング追従が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明を説明するための参考光路図、第2図
(a)はこの発明の一実施例を示す情報記録媒体の一部
平面図、同図(b)は一部光路図、同図(c)は光検知
器とビームの関係を示す参考平面図、同図(d)はこの
発明の一実施例を示す光検知器とビームの関係を示す平
面図、第3図は従来の光記録再生装置の光路図、第4図
は第3図における2ビーム半導体レーザの斜視図、第5
図は第3図のものの各スポットの照射位置を説明するた
めの斜視図、第6図は第3図のものの動作を説明するた
めのタイミングチャート図、第7図は第3図のもののフ
ォーカスエラー検出光学系の動作を説明するための光路
図、第8図は第3図のもののトラッキングエラー検出光
学系の動作を説明するための光路図である。 (1)……2ビーム半導体レーザ、(2),(4)……
第1のビーム、(3),(42)……第2のビーム、
(9)……情報記録媒体、(10)……案内溝、(11),
(41)……第1のスポット、(12),(43)……第2の
スポット、(31)……凸レンズ、(33)……シリンドリ
カルレンズ、(34)……4分割(多分割形)光検知器、
(34a)〜(34d)……受光面、(34e),(34f)……分
割線、(35),(36)……差動増幅器、(37),(38)
……加算器。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 泰幸 京都府長岡京市馬場図所1番地 三菱電 機株式会社電子商品開発研究所内 (56)参考文献 特開 平1−173442(JP,A)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】案内溝が設けられ、複数のビームが隣接す
    る案内溝上にそれぞれ照射される情報記録媒体と、 前記情報記録媒体からの前記複数のビームの反射光束が
    光学的にみて前記案内溝と平行な方向が集光点であり、
    前記案内溝と直交する方向が遠視野領域となるように配
    置されたシリンドリカルレンズと、 前記シリンドリカルレンズを透過した前記複数のビーム
    の反射光束を受光するように配置された複数の反射光束
    の前記遠視野領域の方向を光学的にみて前記案内溝と直
    交する方向に互いにずれた量と略等しい量だけ2分割さ
    れた受光面の分割線が平行的にずれている光検知器と、 前記各ビームに対応する前記2分割された受光面からの
    出力を減算する差動増幅器と、 前記差動増幅器から得られた2つの減算信号に基づいて
    トラッキングエラーを補正するようにしたことを特徴と
    する光記録再生装置。
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