JPH04229435A - トラッキング・エラー検出用光検出器,トラッキング・エラー検出装置および方法,フォーカシング・エラー検出装置および方法,ならびに光磁気記録/再生用光学ヘッド - Google Patents

トラッキング・エラー検出用光検出器,トラッキング・エラー検出装置および方法,フォーカシング・エラー検出装置および方法,ならびに光磁気記録/再生用光学ヘッド

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JPH04229435A
JPH04229435A JP2415028A JP41502890A JPH04229435A JP H04229435 A JPH04229435 A JP H04229435A JP 2415028 A JP2415028 A JP 2415028A JP 41502890 A JP41502890 A JP 41502890A JP H04229435 A JPH04229435 A JP H04229435A
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light
photodetector
magneto
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optical recording
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Application number
JP2415028A
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English (en)
Inventor
Tatsuo Ogaki
龍男 大垣
Hayami Hosokawa
速美 細川
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はトラッキング・エラー
検出用光検出器,トラッキング・エラー検出装置および
方法,フォーカシング・エラー検出装置および方法,な
らびに光磁気記録/再生用光学ヘッドに関し,とくにト
ラッキング制御のためのガイド・トラック溝を有する光
磁気ディスク,光磁気カード等の光磁気記録媒体の記録
/再生のための光学ヘッドおよびその構成要素に適して
いる。
【0002】この発明において記録/再生とは,記録,
再生,ならびに記録および再生を含む。
【0003】
【従来の技術】トラッキング制御のためのガイド・トラ
ック溝を有する光磁気ディスクに適用される記録/再生
光学ヘッドに設けられるトラッキング・エラー検出装置
の1つにプッシュプル法を利用したものがある。
【0004】プッシュプル法を利用したトラッキング・
エラー検出装置の光検出器には2分割フォトダイオード
または3分割フォトダイオードが用いられている。この
うちで3分割フォトダイオードはフォーカシング・エラ
ー検出用に兼用するのに適している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】2分割フォトダイオー
ドまたは3分割フォトダイオードによって構成される光
検出器を用いたプッシュプル法によるトラッキング・エ
ラー検出装置では,光磁気ディスクがその半径方向に傾
くこと,または対物レンズが何らかの原因でトラック方
向に移動することに起因してトラッキング・エラー信号
中に直流オフセットが現われるという問題がある。
【0006】この問題点を図5から図7を参照してさら
に詳しく説明する。
【0007】図5は光学ヘッドのトラッキング・エラー
検出のための光学系のみを抽出して示すものである。
【0008】半導体レーザ41の発散する出射光はコリ
メート・レンズ42でコリメートされ,ビーム・スプリ
ッタ44を透過して対物レンズ43によって光磁気ディ
スク49上に焦点を結ぶように集光される。
【0009】光磁気ディスク49からの反射光は対物レ
ンズ43によってコリメートされ,ビーム・スプリッタ
44によって偏光され,光検出器45に入射する。光検
出器45は,光磁気ディスク49のトラック方向と直交
する方向に分割された2つのフォトダイオード45aお
よび45bを含んでいる。
【0010】これらのフォトダイオード45aと45b
の出力信号の差が減算回路46で演算され,トラッキン
グ・エラー信号として出力される。
【0011】半導体レーザ41からの投射光が光磁気デ
ィスク49上に正しくトラッキングされているときには
鎖線の円で示すように2つのフォトダイオード45aと
45bに受光される光量は等しい。投射光がトラックか
らずれるとこのずれ量に応じてフォトダイオード45a
と45bに受光される光量にも差が生じ,この差がトラ
ッキング・エラーとなる。
【0012】光磁気ディスク49が破線で示すようにそ
の半径方向に傾いたときには,正しくトラッキングされ
ていたとしても,破線の円で示すようにフォトダイオー
ド45aと45bに受光される光量に差が生じる。これ
がオフセット量となる。
【0013】図6も図5と同じ光学系を示している。対
物レンズ43が何らかの原因でトラック方向に移動した
ときにも,同じようにフォトダイオード45aと45b
に受光される光量に差が生じ,トラッキング・オフセッ
トが現われる。
【0014】図7は光検出器45のフォトダイオード4
5a,45b上に結像する反射光像を示している。
【0015】図7(A) は正しくトラッキングされて
おり,反射光の中心0が2つのフォトダイオード45a
と45bの境界に正しく位置している状態を示している
。反射光像は鎖線で示すように円形であり,その中にト
ラックの両側にあるトラック溝によって生じる回折光が
重なることによって明るくなる領域aおよびbが含まれ
ている。
【0016】図7(B) は光磁気ディスクの傾き,対
物レンズの移動等によって反射光の中心0がフォトダイ
オード45aと45bとの境界からずれた状態を示して
いる。これによって反射光スポットの位置がフォトダイ
オード45bの方に寄るので,フォトダイオード45b
の入射光量が増大し,フォトダイオードの入射光量が減
少する。図7(B) に斜線で示す領域に入射する光量
がオフセットとしてトラッキング・エラー信号に現われ
ることになる。
【0017】この発明はプッシュプル法によってトラッ
キング・エラー信号を生成するときに生じる上記オフセ
ットを低減しようとするものである。
【0018】
【課題を解決するための手段】この発明によるトラッキ
ング・エラー検出用光検出器は,所定方向に並べて配置
された5個の受光素子を含むものである。
【0019】この発明によるトラッキング・エラー検出
装置は上記のトラッキング・エラー検出用光検出器を用
いてプッシュプル法によりトラッキング・エラーを検出
するもので,光磁気記録媒体からの反射光を受光する位
置に配置されかつ光磁気記録媒体のトラックに対応する
方向に並べられた少なくとも5個の受光素子を有する光
検出器,および上記光検出器の受光素子のうち中央部お
よび最外側に位置する受光素子以外の受光素子の出力信
号を入力とし,中央部の右側の受光素子の出力信号と左
側の出力信号との差を表わすトラッキング・エラー信号
を出力する演算回路を備えている。
【0020】上記のトラッキング・エラー検出用光検出
器はフォーカシング・エラー検出装置にも適用可能であ
る。
【0021】この発明によるフォーカシング・エラー検
出装置は2個の光検出器を用いてビーム・サイズ法にし
たがってフォーカシング・エラーを検出するものである
。このフォーカシング・エラー検出装置は,ビーム・ス
プリッタと集光レンズとを備え,光磁気記録媒体からの
反射光を少なくとも2つに分割しかつ集光する光学系,
分割された一方の光の収束点よりも上記光磁気記録媒体
に近い位置に配置された少なくとも5個の受光素子を有
する第1の光検出器,分割された他方の光の収束点より
も上記光磁気記録媒体から遠い位置に配置された少なく
とも5個の受光素子を有する第2の光検出器,および第
1の光検出器における中央部の受光素子の出力信号とそ
れ以外の受光素子の出力信号の和との差と,第2の光検
出器における中央部の受光素子の出力信号とそれ以外の
受光素子の出力信号の和との差とを比較し,この比較結
果をフォーカシング・エラー信号として出力する演算回
路を備えている。
【0022】この発明による光磁気記録媒体の記録/再
生のための光学ヘッドは,直線偏光の光を出射する光源
,光源から出射された光を光磁気記録媒体上に集光する
第1の集光光学系,光磁気記録媒体からの反射光を集光
する第2の集光光学系,光磁気記録媒体からの反射光を
,偏光方向が互いに直交する2つの偏光成分に分離する
偏光ビーム・スプリッタ,および分離されかつ集光され
る2つの偏光成分の光の焦点位置付近に配置された2つ
の光検出器を備え,上記2つの光検出器の少なくとも一
方に,光磁気記録媒体のトラックに対応する方向に並べ
られた少なくとも5個の受光素子を有する光検出器が用
いられているものである。
【0023】好ましくは,上記第1の集光光学系が上記
第2の集光光学系と兼用される。
【0024】上述したトラッキング・エラー検出装置お
よびフォーカシング・エラー検出装置がこの光学ヘッド
で用いられる。
【0025】また,読取信号は2つの光検出器の出力信
号の差信号として得られる。
【0026】
【作用】トラッキング・エラー検出用光検出器は少なく
とも5個の受光素子を備え,これらが一方向に配列され
ている。そして,中央の受光素子と最外側の2つの受光
素子とを除く,残りの少なくとも2つの受光素子の出力
信号の差に基づいてトラッキング・エラーが検出される
【0027】光磁気記録媒体の傾き,対物レンズの移動
等がなくかつ正しくトラッキングが行なわれているとき
には反射光スポットの中心は中央の受光素子の中心と一
致している。したがって,上記の残りの2つの受光素子
の出力信号の差は零である。
【0028】投射光スポットが光磁気記録媒体のトラッ
クの中心からずれるとそれに応じて反射光スポットの中
心も光検出器における受光素子の配列方向にずれ,上記
の残りの2つの受光素子に入射する光量が変化し,この
変化によってトラッキング・エラーが検出される。
【0029】光磁気記録媒体の傾き,対物レンズの移動
等によって反射光スポットの光検出器上における位置が
ずれても,このずれにより入射光量が大きく変化する中
央と最外側の受光素子を除いているのでオフセット量が
小さくなる。
【0030】
【実施例】図1(A) において光検出器21は5分割
フォトダイオードから構成されている。すなわち光検出
器21は,中央の方形状の受光面を有するフォトダイオ
ード21aと,その左右両側に外方に向って配列された
方形状のフォトダイオード21b,21c,21d,2
1eとから構成されている。中央のフォトダイオード2
1aの両側に位置するフォトダイオード21bと21c
の幅は等しく設定されている。また,最外側のフォトダ
イオード21dと21eの幅も等しく設定されている。
【0031】光磁気ディスクの記録/再生用光学ヘッド
において光検出器21は,そのフォトダイオードの分割
方向(フォトダイオードの境界線方向)が光磁気ディス
クのトラック方向と直交する方向に配置される。
【0032】中央のフォトダイオード21の両側に位置
するフォトダイオード21bと21cの出力信号が減算
回路23に与えられ,これらの出力信号の差が演算され
,トラッキング・エラー信号として出力される。
【0033】光学ヘッドから光磁気ディスクに向けて投
射される光が光磁気ディスクのトラック中央にスポット
を形成している場合には,光磁気ディスクから反射し光
学ヘッドの光学系を通して光検出器21に入射する光は
,その光ビームの中心0が中央のフォトダイオード21
aの中心に位置するように円形スポットを形成する。光
学ヘッドからの光磁気ディスクへの投射光がトラックか
らずれるとそれに応じて光検出器21上のスポットもず
れ,このずれ量に応じたレベルのトラッキング・エラー
信号が得られる。
【0034】光磁気ディスクの半径方向への傾きまたは
光学ヘッドの対物レンズのトラック方向への移動によっ
て,光検出器21上に投影される光スポットの中心0は
,図1(B) に示すように,中央のフォトダイオード
21aの中心からずれる。光スポットの中心がフォトダ
イオード21c,21eの方向にずれたとすると,フォ
トダイオード21c上に光が入射する面積は(斜線で示
す)増大し,フォトダイオード21b上に光が入射する
面積は減少する。 しかし,フォトダイオード21bには光磁気ディスクの
トラック溝による回折光を含む明るい部分(二重の斜線
で示す)が多くなる。したがって,フォトダイオード2
1bと21cの出力信号の差(これが直流オフセットと
なる)は小さく,従来に比べてオフセット量を大幅に低
減することができる。トラッキング・エラー信号の振幅
も小さくなるがこれは交流増幅回路を用いて増幅するこ
とができるので問題は生じない。
【0035】図2は光検出器の変形例を示している。
【0036】フォトダイオード21bと21cの受光面
の形が図1に示すものと異なっており,中央部でのみ幅
が広く,両端部で細くなるように形成されている。ビー
ム・スポットの移動が上下±dの範囲ではオフセット量
はほぼ零になる。
【0037】図3は上述した光検出器を用いた光磁気デ
ィスクの記録/再生のための光学ヘッドの構成を示して
いる。ここでは光検出器21とこれと同じ構成の光検出
器22とが用いられている。
【0038】半導体レーザ11から直線偏光の発散光が
出射し,この光は偏光ビーム・スプリッタ12を透過し
(約80%の光が透過),コリメート・レンズ13によ
って平行化され,さらに対物レンズ14によって光磁気
ディスク20上に焦点を結ぶように集光される。
【0039】必要ならば半導体レーザ11から出射する
楕円形断面の光を円形断面の光に変換するビーム整形光
学系を設ける。また,半導体レーザ11の出射光の一部
を受光し,その受光信号を半導体レーザ11の駆動回路
にフィードバックすることにより半導体レーザ11の出
射光強度を安定化することが好ましい。
【0040】光磁気ディスク20に投射された直線偏光
の光は光磁気ディスク20に記録されている情報(磁化
の方向)に応じて偏光面が回転されて反射する(カー効
果)。
【0041】この反射光は対物レンズ14によってコリ
メートされ,さらにコリメート・レンズ13によって集
光されながら偏光ビーム・スプリッタ12に入射する。 偏光ビーム・スプリッタ12は半導体レーザ11の出射
光の偏光方向が90°異なる偏光方向の光をすべて反射
させるとともに,半導体レーザ11の出射光と同じ偏光
方向の光の一部(たえば20%)を反射させる。これに
より,光磁気ディスク20の記録情報によって反射光に
生じる偏光面回転角が増幅される。
【0042】偏光ビーム・スプリッタ12によって反射
された光は次に 1/2 波長板15によって適当な角
度(42〜43°)偏光面が回転させられる。すなわち
, 1/2 波長板15の出射光は半導体レーザ11の
出射光に対して偏光面が45°回転している。
【0043】1/2 波長板15の出射光はさらに偏光
ビーム・スプリッタ16に入射し,この偏光ビーム・ス
プリッタ16によって偏光方向が互いに90°異なる偏
光成分が分離される。一方の偏光成分は偏光ビーム・ス
プリッタ16を透過して光検出器21に入射し,他方の
偏光成分は偏光ビーム・スプリッタ16で反射して光検
出器22に入射する。
【0044】光磁気ディスク20への投射光が正しくフ
ォーカシングされている(合焦)されている場合に,コ
リメート・レンズ13によって集光される光磁気ディス
ク20からの反射光の焦点位置よりも遠い位置に光検出
器21が配置され,上記焦点位置よりも近い位置に光検
出器22が配置されている。
【0045】光検出器21,22の構成と,その出力信
号の処理回路が図4に示されている。
【0046】図4には図示されていないが,トラッキン
グ・エラー信号は上述したように光検出器21のフォト
ダイオード21bと21cの出力信号の差(または光検
出器22のフォトダイオード22bと22cの出力信号
の差)として生成される。
【0047】フォーカシング・エラー信号はビーム・サ
イズ法にしたがって生成される。図4において,合焦時
に光検出器21の受光面上に生じる光スポットがQ0 
で示されている。光磁気ディスク20aへの投射光がデ
ィスク面上に正しく集光されず焦点ずれが生じている場
合には,焦点ずれの方向に応じて,その反射光は光検出
器21の受光面上に符号Qa またはQb で示すよう
にスポットQ0 よりも小さなまたは大きなスポットを
形成する。図示は省略してあるが,光検出器22の受光
面上にも同じように合焦の有無,焦点ずれの方向に応じ
た大きさの光スポットが形成される。ビーム・サイズ法
はこれら2つの光検出器21,22上に形成される光ス
ポットの大きさを比較することにより,焦点ずれの有無
および方向を判別するものである。
【0048】光検出器21の中央のフォトダイオード2
1a以外の他のすべてのフォトダイオード21b〜21
eの出力信号の和が加算回路24,25,26によって
算出される。この和信号とフォトダイオード21aの出
力信号との差が減算回路28によって算出される。減算
回路28の出力信号は光検出器21上に形成されたビー
ム・スポットの大きさを表わしている。
【0049】同じように,光検出器22の中央のフォト
ダイオード22aの出力信号と,他のすべてのフォトダ
イオード22b〜22eの出力信号の和との差が,加算
回路34〜36,減算回路38によって減算される。減
算回路38の出力信号は光検出器22上に形成されたビ
ーム・スポットの大きさを表わしている。
【0050】これらの減算回路28と38の出力信号の
差が減算回路32で算出され,フォーカシング・エラー
信号として出力される。
【0051】光検出器21のすべてのフォトダイオード
21a〜21eの出力信号の和が加算回路24〜27で
算出される。光検出器22のすべてのフォトダイオード
22a〜22eの出力信号の和が加算回路34〜37で
算出される。これらの和信号の差が減算回路31で算出
され,光磁気ディスク20の記録情報の読取信号となる
【0052】
【発明の効果】以上のようにしてこの発明によると,直
流オフセットが低減される。
【0053】また,トラッキング・エラー検出用光検出
器はビーム・サイズ法によるフォーカシング・エラー検
出にも兼用できるので,光学ヘッドの小型化,軽量化を
図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明によるトラッキング・エラー検出用光
検出器の構成を示し,(A) は正常なビーム・スポッ
トの状態を,(B) はオフセットを生じさせるビーム
・スポットの状態を夫々表わしている。
【図2】光検出器の変形例を示すものである。
【図3】この発明による光学ヘッドの構成を示すもので
ある。
【図4】フォーカシング・エラー信号および読取信号を
生成する回路を示すものである。
【図5】従来の光学ヘッドのトラッキング・エラー検出
装置において,光磁気ヘッドの傾きによりオフセットが
生じる様子を示すものである。
【図6】従来の光学ヘッドのトラッキング・エラー検出
装置において,対物レンズの移動によりオフセットが生
じる様子を示すものである。
【図7】従来の2分割フォトダイオードによる光検出器
を示し,(A)は正常なビーム・スポットの状態を,(
B) はオフセットを生じさせるビーム・スポットの状
態をそれぞれ表わしている。
【符号の説明】
11  半導体レーザ 12,16  偏光ビーム・スプリッタ13  コリメ
ート・レンズ 14  対物レンズ 15   1/2 波長板 20  光磁気ディスク 21,22  光検出器 21c〜21e,22a〜22e  フォトダイオード
24〜27,34〜37  加算回路 28,31,32,38  減算回路

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  所定方向に並べて配置された5個の受
    光素子を含むトラッキング・エラー検出用光検出器。
  2. 【請求項2】  光磁気記録媒体からの反射光を受光す
    る位置に配置されかつ光磁気記録媒体のトラックに対応
    する方向に並べられた少なくとも5個の受光素子を有す
    る光検出器,および上記光検出器の受光素子のうち中央
    部および最外側に位置する受光素子以外の受光素子の出
    力信号を入力とし,中央部の右側の受光素子の出力信号
    と左側の出力信号との差を表わすトラッキング・エラー
    信号を出力する演算回路,を備えたトラッキング・エラ
    ー検出装置。
  3. 【請求項3】  光磁気記録媒体のトラックに対応する
    方向に並べられた少なくとも5個の受光素子を有する光
    検出器を,光磁気記録媒体からの反射光を受光する位置
    に配置し,上記光検出器の受光素子のうち中央部および
    最外側に位置する受光素子以外の受光素子の出力信号を
    取込み,この取込んだ出力信号を用いて,中央部の右側
    の受光素子の出力信号と左側の受光素子の出力信号との
    差を演算し,この差によって表わされるトラッキング・
    エラー信号を出力する,トラッキング・エラー検出方法
  4. 【請求項4】  ビーム・スプリッタと集光レンズとを
    備え,光磁気記録媒体からの反射光を少なくとも2つに
    分割しかつ集光する光学系,分割された一方の光の収束
    点よりも上記光磁気記録媒体に近い位置に配置された少
    なくとも5個の受光素子を有する第1の光検出器,分割
    された他方の光の収束点よりも上記光磁気記録媒体から
    遠い位置に配置された少なくとも5個の受光素子を有す
    る第2の光検出器,および第1の光検出器における中央
    部の受光素子の出力信号とそれ以外の受光素子の出力信
    号の和との差と,第2の光検出器における中央部の受光
    素子の出力信号とそれ以外の受光素子の出力信号の和と
    の差とを比較し,この比較結果をフォーカシング・エラ
    ー信号として出力する演算回路,を備えたフォーカシン
    グ・エラー検出装置。
  5. 【請求項5】  ビーム・サイズ法を利用したフォーカ
    シング・エラー検出方法であり,光磁気記録媒体からの
    反射光を少なくとも2つの光に分割しかつ集光し,これ
    らの集光する2つの光の焦点位置の前後に,少なくとも
    5個の受光素子をそれぞれ有する2つの光検出器を配置
    し,各光検出器の出力信号により得られるビーム・サイ
    ズを表わす信号を比較し,この比較結果によって表わさ
    れるフォーカシング・エラー信号を得る,フォーカシン
    グ・エラー検出方法。
  6. 【請求項6】  直線偏光の光を出射する光源,光源か
    ら出射された光を光磁気記録媒体上に集光する第1の集
    光光学系,光磁気記録媒体からの反射光を集光する第2
    の集光光学系,光磁気記録媒体からの反射光を,偏光方
    向が互いに直交する2つの偏光成分に分離する偏光ビー
    ム・スプリッタ,および分離されかつ集光される2つの
    偏光成分の光の焦点位置付近に配置された2つの光検出
    器を備え,上記2つの光検出器の少なくとも一方に,光
    磁気記録媒体のトラックに対応する方向に並べられた少
    なくとも5個の受光素子を有する光検出器が用いられて
    いる,光磁気記録/再生用光学ヘッド。
  7. 【請求項7】  上記第1の集光光学系が上記第2の集
    光光学系と兼用されている請求項6に記載の光磁気記録
    /再生用光学ヘッド。
  8. 【請求項8】  上記の少なくとも5個の受光素子を有
    する光検出器の受光素子のうち中央部および最外側に位
    置する受光素子以外の受光素子の出力信号を入力とし,
    中央部の一方側の受光素子の出力信号と他方側の受光素
    子の出力信号との差によって表わされるトラッキング・
    エラー信号を出力する演算回路をさらに備えた請求項6
    に記載の光磁気記録/再生用光学ヘッド。
  9. 【請求項9】  上記2つの光検出器の出力信号の比較
    結果によって表わされる読取信号を出力する演算回路を
    さらに備えた請求項6に記載の光磁気記録/再生用光学
    ヘッド。
  10. 【請求項10】  上記2つの光検出器のうちの一方が
    ,偏光分離されかつ集光される一方の光の焦点よりも上
    記磁気記録媒体に近い位置に配置された少なくとも5個
    の受光素子を有する第1の光検出器によって構成され,
    他方が,偏光分離されかつ集光される他方の光の焦点よ
    りも上記磁気記録媒体から遠い位置に配置された少なく
    とも5個の受光素子を有する第2の光検出器によって構
    成され,第1の光検出器における中央部の受光素子の出
    力信号と第2の光検出器における中央部以外の受光素子
    の出力信号との和と,第2の光検出器における中央部の
    受光素子の出力信号と第1の光検出器における中央部以
    外の受光素子の出力信号との和とを比較し,この比較結
    果により表わされるフォーカシング・エラー信号を出力
    する演算回路をさらに備えている,請求項6に記載の光
    磁気記録/再生用光学ヘッド。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003044284A1 (de) 2001-11-20 2003-05-30 Peter Heinze Verfahren zum einschwimmen von mit beton ausgekleideten stahltunnelröhren
JP2008117524A (ja) * 2002-08-23 2008-05-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ピックアップヘッド装置及び光情報装置及び光情報再生方法

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003044284A1 (de) 2001-11-20 2003-05-30 Peter Heinze Verfahren zum einschwimmen von mit beton ausgekleideten stahltunnelröhren
JP2008117524A (ja) * 2002-08-23 2008-05-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ピックアップヘッド装置及び光情報装置及び光情報再生方法
JP2008282528A (ja) * 2002-08-23 2008-11-20 Panasonic Corp 光ピックアップヘッド装置及び光情報装置及び光情報再生方法
US7460448B2 (en) 2002-08-23 2008-12-02 Panasonic Corporation Optical pick-up head, optical information apparatus, and optical information reproducing method
US7463561B2 (en) 2002-08-23 2008-12-09 Panasonic Corporation Optical pick-up head, optical information apparatus, and optical information reproducing method
US7539090B2 (en) 2002-08-23 2009-05-26 Panasonic Corporation Optical pick-up head, optical information apparatus, and optical information reproducing method
US7542382B2 (en) 2002-08-23 2009-06-02 Panasonic Corporation Optical pick-up head, optical information apparatus, and optical information reproducing method
US7558170B2 (en) 2002-08-23 2009-07-07 Panasonic Corporation Optical pick-up head, optical information apparatus, and optical information reproducing method
US7558162B2 (en) 2002-08-23 2009-07-07 Panasonic Corporation Optical pick-up head, optical information apparatus, and optical information reproducing method
JP2011054275A (ja) * 2002-08-23 2011-03-17 Panasonic Corp 光情報再生方法
JP2011081904A (ja) * 2002-08-23 2011-04-21 Panasonic Corp 光ピックアップヘッド装置及び光情報装置及び光情報再生方法

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