JP2784396B2 - 静電容量形センサ - Google Patents
静電容量形センサInfo
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
- H03K17/945—Proximity switches
- H03K17/955—Proximity switches using a capacitive detector
-
- H—ELECTRICITY
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- H03K—PULSE TECHNIQUE
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- H03K2217/94—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00 characterised by the way in which the control signal is generated
- H03K2217/96—Touch switches
- H03K2217/9607—Capacitive touch switches
- H03K2217/960735—Capacitive touch switches characterised by circuit details
- H03K2217/960745—Capacitive differential; e.g. comparison with reference capacitance
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- Electronic Switches (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この考案は、人体や種々の物体の
近接を検出する静電容量形近接センサの改良に関するも
のである。
近接を検出する静電容量形近接センサの改良に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】従来の静電容量形近接センサとして、実
公昭63−36246公報に開示されているように、パ
ルス発生回路と、上記パルス発生回路の出力を2つに分
岐させ、各々の出力を遅延させる2つの遅延回路とを持
ち、上記2つの遅延回路の出力の位相弁別を行うものが
ある。
公昭63−36246公報に開示されているように、パ
ルス発生回路と、上記パルス発生回路の出力を2つに分
岐させ、各々の出力を遅延させる2つの遅延回路とを持
ち、上記2つの遅延回路の出力の位相弁別を行うものが
ある。
【0003】図7に示すように、パルス発生回路71に
よって作られたパルスは抵抗と静電容量からなる積分回
路72、73に入力される。積分回路72には人体など
が接近した時にその静電容量の変化を検出する検出電極
77が接続されている。
よって作られたパルスは抵抗と静電容量からなる積分回
路72、73に入力される。積分回路72には人体など
が接近した時にその静電容量の変化を検出する検出電極
77が接続されている。
【0004】検出電極77は静電容量変化形変換器であ
って、物体が近づくと静電容量が変化するのでその静電
容量をCxとして示してある。積分回路73は基準とな
る遅延時間をつくるための回路である。各々の積分回路
出力は所定の電圧レベル(これをスレショルド電圧Vt
hとする)を越えた時に出力が得られる2値化回路7
4、75によって2値化され、位相弁別回路76によっ
て検出電極77に静電容量の増加があったかどうかを判
定している。
って、物体が近づくと静電容量が変化するのでその静電
容量をCxとして示してある。積分回路73は基準とな
る遅延時間をつくるための回路である。各々の積分回路
出力は所定の電圧レベル(これをスレショルド電圧Vt
hとする)を越えた時に出力が得られる2値化回路7
4、75によって2値化され、位相弁別回路76によっ
て検出電極77に静電容量の増加があったかどうかを判
定している。
【0005】この時図6に示す様に、例えば積分回路7
2の出力VA’は、式(1)のように、指数関数 VA’=E{1−exp(−T/RC)} (1) で表わされる。ここでEは電源電圧、Rは抵抗、Cは静
電容量、Tは経過時間である。
2の出力VA’は、式(1)のように、指数関数 VA’=E{1−exp(−T/RC)} (1) で表わされる。ここでEは電源電圧、Rは抵抗、Cは静
電容量、Tは経過時間である。
【0006】電圧VA’がスレショルド電圧Vthに達
するまでの時間(すなわち遅延回路による遅延時間)T
A’は式(2)で表わされる。
するまでの時間(すなわち遅延回路による遅延時間)T
A’は式(2)で表わされる。
【0007】 TA’=−RCln{(E−Vth)/E} (2) しかしながら上記積分回路は回路のインピーダンスが高
く、ノイズの影響を受けることがある。今、パルス発生
器により発生したパルスの立ち上がりを基準として、時
刻T0の時点でノイズにより積分回路72の出力がΔE
だけ増加または減少した場合、積分回路72の出力がス
レショルド電圧Vthに達するまでの時間を各々T
B’、TC’とすればTB’、TC’はそれぞれ式
(3)、式(4)であらわされる。ここでE0は時刻T
0における積分回路72の出力電圧である。
く、ノイズの影響を受けることがある。今、パルス発生
器により発生したパルスの立ち上がりを基準として、時
刻T0の時点でノイズにより積分回路72の出力がΔE
だけ増加または減少した場合、積分回路72の出力がス
レショルド電圧Vthに達するまでの時間を各々T
B’、TC’とすればTB’、TC’はそれぞれ式
(3)、式(4)であらわされる。ここでE0は時刻T
0における積分回路72の出力電圧である。
【0008】 TB’=T0−RCln{(E−Vth)/(E−E0−ΔE)} (3) TC’=T0−RCln{(E−Vth)/(E−E0+ΔE)} (4) 図6において、VB’は時刻T0の時点で積分回路72
の出力がΔEだけ増加した場合を、VC’はT0の時点
で積分回路72の出力がΔEだけ減少した場合を示す。
時間TC’−TB’をΔTとすると、ΔTの大きさは図
4の点線で示すようにノイズのはいった時刻T0によっ
て遅延時間が不規則に変化し、位相弁別のレベルが移動
してしまう。
の出力がΔEだけ増加した場合を、VC’はT0の時点
で積分回路72の出力がΔEだけ減少した場合を示す。
時間TC’−TB’をΔTとすると、ΔTの大きさは図
4の点線で示すようにノイズのはいった時刻T0によっ
て遅延時間が不規則に変化し、位相弁別のレベルが移動
してしまう。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】2つの遅延回路の位相
差を検出して物体の近接を検出する静電センサにおいて
検出距離を延ばすには、通常の状態(物体が近づいてい
ない状態)でその位相差を安定して小さく設定すること
が必要である。しかし、従来の静電容量形センサは、ノ
イズの乗り方により遅延時間が不規則に変化し、位相弁
別のレベルが移動してしまうという問題点を有してい
た。
差を検出して物体の近接を検出する静電センサにおいて
検出距離を延ばすには、通常の状態(物体が近づいてい
ない状態)でその位相差を安定して小さく設定すること
が必要である。しかし、従来の静電容量形センサは、ノ
イズの乗り方により遅延時間が不規則に変化し、位相弁
別のレベルが移動してしまうという問題点を有してい
た。
【0010】従って、近接センサを作る場合にはノイズ
の影響による誤動作を防ぐために物体を検出する電極を
有する積分回路と基準となる積分回路の位相差は最初か
ら充分大きくしておく必要があり、そのため物体を検出
する側の静電容量の変化を大きくする、すなわち、物体
を検出電極のすぐ近くまで近づけなければならない(検
出距離が小さい)という欠点があった。
の影響による誤動作を防ぐために物体を検出する電極を
有する積分回路と基準となる積分回路の位相差は最初か
ら充分大きくしておく必要があり、そのため物体を検出
する側の静電容量の変化を大きくする、すなわち、物体
を検出電極のすぐ近くまで近づけなければならない(検
出距離が小さい)という欠点があった。
【0011】そこで本考案は、上記ノイズの乗り方によ
らず遅延時間の変化を規則的、かつ一定のものとなるよ
うにし、平均化することにより、位相弁別レベルが見か
け上移動しないようにすることを目的とする。
らず遅延時間の変化を規則的、かつ一定のものとなるよ
うにし、平均化することにより、位相弁別レベルが見か
け上移動しないようにすることを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、パルス発生回路と、上記パルス発生回路の出力に各
々接続され、それぞれ静電容量を有する2つの遅延回路
と、上記遅延回路の少なくとも一方に接続された静電容
量変化型変換器と、上記2つの遅延回路の出力の位相差
を検出する位相弁別回路とを有し、上記遅延回路は上記
静電容量をほぼ一定の電流で充電または、放電するため
の定電流回路をそれぞれ含み、これら定電流回路は上記
パルス発生回路の出力に応じて間欠的に駆動するように
した。
に、パルス発生回路と、上記パルス発生回路の出力に各
々接続され、それぞれ静電容量を有する2つの遅延回路
と、上記遅延回路の少なくとも一方に接続された静電容
量変化型変換器と、上記2つの遅延回路の出力の位相差
を検出する位相弁別回路とを有し、上記遅延回路は上記
静電容量をほぼ一定の電流で充電または、放電するため
の定電流回路をそれぞれ含み、これら定電流回路は上記
パルス発生回路の出力に応じて間欠的に駆動するように
した。
【0013】
【実施例】以下本発明の詳細を添付図面に示した好適な
実施例に沿って説明する。図1には回路例を、図2は図
1の回路の要部の波形のタイミングチャートを示す。
実施例に沿って説明する。図1には回路例を、図2は図
1の回路の要部の波形のタイミングチャートを示す。
【0014】図1において、1はパルス発生回路を構成
するパルス発生器であり、図2のPaに示すような矩形
波を発生する。2は物体が近づいたことを検出するため
の検出電極7が接続された第1の遅延回路であり、3は
基準となる第2の遅延回路、4および5は遅延回路から
の出力を2値化するためのシュミット回路などの2値化
回路、6は2つのシュミット回路の出力のうちどちらの
遅延量が大きいかを判定するための位相弁別回路であ
る。9、11は定電流回路であり、パルス出力Paが高
電位(以下”H”と記す)のときに検出電極7によって
構成される静電容量15および、第2の遅延回路のコン
デンサ16(静電容量を構成)をほぼ一定の電流で充電
する。検出電極7と静電容量15により、静電容量変化
型変換器が構成される。10、11はスイッチング回路
であり、パルスPaが低電位(以下”L”と記す)のと
きに導通して抵抗13および14を通じて静電容量15
およびコンデンサ16に蓄えられた電荷を放電する。8
はインバータである。
するパルス発生器であり、図2のPaに示すような矩形
波を発生する。2は物体が近づいたことを検出するため
の検出電極7が接続された第1の遅延回路であり、3は
基準となる第2の遅延回路、4および5は遅延回路から
の出力を2値化するためのシュミット回路などの2値化
回路、6は2つのシュミット回路の出力のうちどちらの
遅延量が大きいかを判定するための位相弁別回路であ
る。9、11は定電流回路であり、パルス出力Paが高
電位(以下”H”と記す)のときに検出電極7によって
構成される静電容量15および、第2の遅延回路のコン
デンサ16(静電容量を構成)をほぼ一定の電流で充電
する。検出電極7と静電容量15により、静電容量変化
型変換器が構成される。10、11はスイッチング回路
であり、パルスPaが低電位(以下”L”と記す)のと
きに導通して抵抗13および14を通じて静電容量15
およびコンデンサ16に蓄えられた電荷を放電する。8
はインバータである。
【0015】通常の状態(図2のTnの期間)では第1
の遅延回路の出力Pbの遅延量は第2の遅延回路の出力
Pdの遅延量より小さく設定されており、2値化回路の
出力PeはPcより若干遅れている。この時、位相弁別
回路の出力Pfは”L”である。
の遅延回路の出力Pbの遅延量は第2の遅延回路の出力
Pdの遅延量より小さく設定されており、2値化回路の
出力PeはPcより若干遅れている。この時、位相弁別
回路の出力Pfは”L”である。
【0016】検出電極7に物体が近づくと(図2のTk
の期間)、静電容量15が増加することにより第1の遅
延回路の出力Pbの遅延量は第2の遅延回路の出力Pd
の遅延量より大きくなるので2値化された出力PcはP
eより遅れ、その結果位相弁別回路の出力Pfは”H”
となる。
の期間)、静電容量15が増加することにより第1の遅
延回路の出力Pbの遅延量は第2の遅延回路の出力Pd
の遅延量より大きくなるので2値化された出力PcはP
eより遅れ、その結果位相弁別回路の出力Pfは”H”
となる。
【0017】電流値Iの定電流によって静電容量Cのコ
ンデンサを充電する場合、その出力電圧は、図3に示す
ように式(5)で表わされる。
ンデンサを充電する場合、その出力電圧は、図3に示す
ように式(5)で表わされる。
【0018】 VA=IT/C (5) 今、パルス発生器により発生したパルスの立ち上がりを
基準として時刻T0の時点でノイズにより積分回路2の
出力がΔEだけ増加または減少した場合、積分回路2の
出力は各々VB、VCとなり、VB、VCが2値化回路
のスレショルド電圧Vthに達するまでの時間を各々T
B、TCとすればTB、TCはそれぞれ式(6)、式
(7)で表される。
基準として時刻T0の時点でノイズにより積分回路2の
出力がΔEだけ増加または減少した場合、積分回路2の
出力は各々VB、VCとなり、VB、VCが2値化回路
のスレショルド電圧Vthに達するまでの時間を各々T
B、TCとすればTB、TCはそれぞれ式(6)、式
(7)で表される。
【0019】 TB=C(Vth−ΔE)/I (6) TC=C(Vth+ΔE)/I (7) すなわち、TB、TCは2値化回路のスレショルド電圧
とノイズの電圧のみによって決まり、ノイズの乗るタイ
ミングには無関係となる。従って、時間TC−TBをΔ
Tとすると、ノイズが乗った時2値化回路の出力Pcは
ΔT=TC−TBの範囲を変動するにとどめることがで
きる。
とノイズの電圧のみによって決まり、ノイズの乗るタイ
ミングには無関係となる。従って、時間TC−TBをΔ
Tとすると、ノイズが乗った時2値化回路の出力Pcは
ΔT=TC−TBの範囲を変動するにとどめることがで
きる。
【0020】図4に従来例と上記実施例の場合について
同じ大きさのノイズに対して2値化回路の出力がどのよ
うに違うかを示す。
同じ大きさのノイズに対して2値化回路の出力がどのよ
うに違うかを示す。
【0021】従来例、上記実施例とも、電源電圧E=5
V、ノイズの大きさΔE=±0.5V、ノイズが乗らな
い時の積分回路の出力電圧Va、VAが2値化回路のス
レショルド電圧Vth(3.5V)になるまでの時間T
a、TAは各々1.2μsになるように積分時定数を設
定した場合について示した。
V、ノイズの大きさΔE=±0.5V、ノイズが乗らな
い時の積分回路の出力電圧Va、VAが2値化回路のス
レショルド電圧Vth(3.5V)になるまでの時間T
a、TAは各々1.2μsになるように積分時定数を設
定した場合について示した。
【0022】図4において、横軸はパルス発生器により
発生したパルスの立ち上がりを基準としてノイズが乗っ
た時刻T0を、縦軸は2値化回路の出力が変動する範囲
(ΔtおよびΔT)を示す。Δt(従来例)はT0によ
って変化するがΔTは一定であり、T0=0.5μs以
上ではΔt>ΔTとなる。
発生したパルスの立ち上がりを基準としてノイズが乗っ
た時刻T0を、縦軸は2値化回路の出力が変動する範囲
(ΔtおよびΔT)を示す。Δt(従来例)はT0によ
って変化するがΔTは一定であり、T0=0.5μs以
上ではΔt>ΔTとなる。
【0023】ノイズが乗るタイミングは不定であるの
で、例えばT0=0.92μsの時を考えると、従来例
では通常の状態で第1の遅延回路の出力Pbに対して第
2の遅延回路の出力Pdは0.51μs以上充分遅らせ
る必要があったが、上記実施例では0.34μs以上遅
らせれば良くなり、物体の検出距離を延ばすことができ
る。
で、例えばT0=0.92μsの時を考えると、従来例
では通常の状態で第1の遅延回路の出力Pbに対して第
2の遅延回路の出力Pdは0.51μs以上充分遅らせ
る必要があったが、上記実施例では0.34μs以上遅
らせれば良くなり、物体の検出距離を延ばすことができ
る。
【0024】言い換えると、一定の検出距離を得るため
の静電センサを作る時に従来よりもノイズに対して誤動
作しにくいセンサが構成できる。
の静電センサを作る時に従来よりもノイズに対して誤動
作しにくいセンサが構成できる。
【0025】なお、図1の実施例ではパルスPaの立ち
上がりで積分回路を充電するようにしたが、パルスPa
の”H”の時点で静電容量15および16を充電してお
き、パルスPaの立ち下がりから一定電流で放電するよ
うにしてもよい。
上がりで積分回路を充電するようにしたが、パルスPa
の”H”の時点で静電容量15および16を充電してお
き、パルスPaの立ち下がりから一定電流で放電するよ
うにしてもよい。
【0026】また、第1の遅延回路は静電容量変化形変
換器の静電容量15のみ示してあるがこれと並列に別の
コンデンサを接続して遅延量を調整するようにしてもよ
い。
換器の静電容量15のみ示してあるがこれと並列に別の
コンデンサを接続して遅延量を調整するようにしてもよ
い。
【0027】図5に定電流による放電方式を用いた他の
実施例を示す。51は反転形シュミット58、59、コ
ンデンサC1、抵抗R1から構成される発振回路であ
り、矩形のパルスを発生する。このパルスはダイオード
D1、D2のアノードに入力され、パルスが”H”の期
間検出電極57によって発生する静電容量C3および、
基準となるコンデンサC4を充電する。検出電極57と
静電容量C3によって、静電容量変化形変換器が構成さ
れる。パルスが”L”になると静電容量C3および、コ
ンデンサC4に充電されていた電荷は各々定電流回路5
2および、53を通じて放電される。
実施例を示す。51は反転形シュミット58、59、コ
ンデンサC1、抵抗R1から構成される発振回路であ
り、矩形のパルスを発生する。このパルスはダイオード
D1、D2のアノードに入力され、パルスが”H”の期
間検出電極57によって発生する静電容量C3および、
基準となるコンデンサC4を充電する。検出電極57と
静電容量C3によって、静電容量変化形変換器が構成さ
れる。パルスが”L”になると静電容量C3および、コ
ンデンサC4に充電されていた電荷は各々定電流回路5
2および、53を通じて放電される。
【0028】定電流回路52はトランジスタTR1、抵
抗R3と、TR1のベースに接続された抵抗R2および
ダイオードD3により、また、定電流回路52はトラン
ジスタTR2、抵抗R4、可変抵抗器VR1と、TR2
のベースに接続された抵抗R2およびダイオードD3に
より構成される。
抗R3と、TR1のベースに接続された抵抗R2および
ダイオードD3により、また、定電流回路52はトラン
ジスタTR2、抵抗R4、可変抵抗器VR1と、TR2
のベースに接続された抵抗R2およびダイオードD3に
より構成される。
【0029】第1の遅延回路は定電流回路52、静電容
量C3および反転形シュミット回路54から、また第2
の遅延回路は定電流回路53、コンデンサC4および反
転形シュミット回路55から構成され、静電容量C3と
C4の大きさに応じた量だけ遅延されて、D形フリップ
フロップ56のデータ端子Dとクロック端子Cに入力さ
れる。通常第2の遅延回路の遅延量を第1の遅延回路の
遅延量より大きくしているためD形フリップフロップ5
6の出力POは”L”レベルであるが、検出電極57に
物体が近づき静電容量C3が増加すると、第1の遅延回
路の遅延量が増加し、第2の遅延量より大きくなるとD
形フリップフロップ56の出力POは”H”レベルにな
り物体の近接を検知することができる。なお、可変抵抗
VR1は第2の遅延回路には遅延量を調整するためのも
のである。
量C3および反転形シュミット回路54から、また第2
の遅延回路は定電流回路53、コンデンサC4および反
転形シュミット回路55から構成され、静電容量C3と
C4の大きさに応じた量だけ遅延されて、D形フリップ
フロップ56のデータ端子Dとクロック端子Cに入力さ
れる。通常第2の遅延回路の遅延量を第1の遅延回路の
遅延量より大きくしているためD形フリップフロップ5
6の出力POは”L”レベルであるが、検出電極57に
物体が近づき静電容量C3が増加すると、第1の遅延回
路の遅延量が増加し、第2の遅延量より大きくなるとD
形フリップフロップ56の出力POは”H”レベルにな
り物体の近接を検知することができる。なお、可変抵抗
VR1は第2の遅延回路には遅延量を調整するためのも
のである。
【0030】定電流回路について補足すると、トランジ
スタTR1、TR2のエミッタは定電流で引かれている
ので、トランジスタTR1、TR2のこれくたは一定の
電流を流そうとする。この電流にて検出電極57の静電
容量C3と第2の遅延回路のコンデンサC4に蓄えられ
た電荷を放電する。この定電流回路52、53は電流帰
還がかかっているため安定した定電流となっている。ま
た、コンデンサC4と静電容量C3の電荷を放電し終え
たら、その電位を保つように電流帰還の帰還量を制御す
る。また、トランジスタTR1、TR2ベース・エミッ
タ間電位の温度変化をダイオードD3の順方向電位の温
度特性により打ち消しあっている。
スタTR1、TR2のエミッタは定電流で引かれている
ので、トランジスタTR1、TR2のこれくたは一定の
電流を流そうとする。この電流にて検出電極57の静電
容量C3と第2の遅延回路のコンデンサC4に蓄えられ
た電荷を放電する。この定電流回路52、53は電流帰
還がかかっているため安定した定電流となっている。ま
た、コンデンサC4と静電容量C3の電荷を放電し終え
たら、その電位を保つように電流帰還の帰還量を制御す
る。また、トランジスタTR1、TR2ベース・エミッ
タ間電位の温度変化をダイオードD3の順方向電位の温
度特性により打ち消しあっている。
【0031】なお、図5において、抵抗R4、コンデン
サC2、反転形シュミット回路60によりフィルタを、
抵抗R5、R6、トランジスタTR3により、出力回路
部を構成している。
サC2、反転形シュミット回路60によりフィルタを、
抵抗R5、R6、トランジスタTR3により、出力回路
部を構成している。
【0032】なお、上記実施例では基準となる遅延回路
の静電容量はコンデンサとしたが、これに限らず基準と
なる遅延回路も検出電極と同様の電極とし、その静電容
量を利用するようにしてもよい。
の静電容量はコンデンサとしたが、これに限らず基準と
なる遅延回路も検出電極と同様の電極とし、その静電容
量を利用するようにしてもよい。
【0033】
【発明の効果】本発明によれば、どのタイミングでノイ
ズが乗っても遅延時間のばらつきは一定となり、従来よ
りも通常の状態での2つの遅延回路の位相差を狭く設定
できるので、検出距離を大きく取れる。
ズが乗っても遅延時間のばらつきは一定となり、従来よ
りも通常の状態での2つの遅延回路の位相差を狭く設定
できるので、検出距離を大きく取れる。
【0034】また比較的短い距離を検出する場合には、
従来のセンサよりもノイズに対して誤動作の少ない安定
したセンサが構成できる。
従来のセンサよりもノイズに対して誤動作の少ない安定
したセンサが構成できる。
【図1】本発明による静電容量形センサ実施例の回路ブ
ロック図
ロック図
【図2】実施例のタイミングチャート図
【図3】実施例の積分回路の出力信号を表わす波形図
【図4】本発明のノイズによる遅延量の変動を表わすグ
ラフ
ラフ
【図5】他の実施例の回路図
【図6】従来例の積分回路の出力信号を表わす波形図
【図7】従来の静電容量形センサの構成図
1 パルス発生回路 2 遅延回路 3 遅延回路 6 位相弁別回路7、15 静電容量変化型変換器 9 定電流回路 11 定電流回路15 静電容量 16 静電容量
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭52−55656(JP,A) 特開 昭55−112512(JP,A) 実公 昭63−36246(JP,Y2)
Claims (1)
- 【請求項1】 パルス発生回路と、上記パルス発生回路
の出力に各々接続され、それぞれ静電容量を有する2つ
の遅延回路と、上記遅延回路の少なくとも一方に接続さ
れた静電容量変化型変換器と、上記2つの遅延回路の出
力の位相差を検出する位相弁別回路とを有し、 上記遅延回路は上記静電容量をほぼ一定の電流で充電ま
たは、放電するための定電流回路をそれぞれ含み、これ
ら定電流回路は上記パルス発生回路の出力に応じて間欠
的に駆動するものであることを特徴とする静電容量型セ
ンサ。
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