JP2772517B2 - 回転式基板処理装置 - Google Patents
回転式基板処理装置Info
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Landscapes
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Description
晶パネル用のガラス板といった基板を複数の処理機器へ
搬送し、搬送された基板に所要の処理液を供給して基板
洗浄,薄膜形成等の回転処理を基板に施す回転式基板処
理装置に関する。
理手順に基づき駆動されて基板を処理する複数の処理機
器と各処理機器に基板を搬送するための基板搬送機器と
を備える。この複数の処理機器としては、例えば、フォ
トレジストや現像液或いは超純水等の各種処理液を回転
させた基板に供給し、基板に対して種々の回転処理を施
す回転処理機器や、ホットプレートやクールプレートと
いった基板に熱処理を施す熱処理機器等が挙げられる。
また、各処理機器への基板搬送順序や各処理機器におけ
る回転数,処理温度,使用する処理液等の基板処理条件
を特定するための基板処理手順は、予め回転式基板処理
装置の記憶機器に記憶されている。
と、回転式基板処理装置は、この指定された基板処理手
順における基板搬送順序に基づいて、該当する処理機器
に基板を順次搬送し、搬送された各処理機器において、
基板処理手順における基板処理条件に基づいて、基板を
処理する。
は、次のようになされていた。
複数の基板の連続処理を通した処理効率の向上を図るた
め、処理される基板を多段に収納するカセットを用い、
このカセットから基板は順次処理機器に搬送されてそれ
ぞれの処理機器で処理される。また、カセットは、通常
複数用意されており、異なる搬送順序や処理条件での種
々の基板処理を図るため、あるカセットの基板はある基
板処理手順で処理され、他のカセットの基板は他の基板
処理で処理できるようされている。
来の回転式基板処理装置では、次のような問題点が指摘
されている。
理手順が異なる場合には、カセットと基板処理手順とを
対応付ける必要がある。この際、この対応付けは、作業
者が種々の用途、例えば処理条件の個別設定や修正等に
用いられる主操作パネルをキー操作することで行なわれ
る。このため、カセットと基板処理手順との対応付けが
キー操作ミスにより正しく行なわれない場合があった。
され、カセットに収納した基板に施す基板処理手順をカ
セットに正確に対応付けることを目的とする。
かる課題を解決するため、本発明の回転式基板処理装置
は、所要の処理液を用いて基板に回転処理を施す回転処
理機器を始めとする複数の処理機器を有し、該複数の処
理機器に対して所定の基板搬送順序で基板を搬送する基
板処理部と、基板を多段に収納する複数のカセットに対
する基板の取り出しと収納とを行なう基板供給部と、前
記複数の処理機器への基板搬送順序と搬送された各処理
機器における基板処理条件とを含む基板処理手順を複数
記憶し、該記憶した複数の基板処理手順のうちから随時
指定された基板処理手順に基づいて前記処理機器を制御
して、基板を処理する制御手段とを備える回転式基板処
理装置であって、前記基板供給部は、前記カセットに収
納された基板に施す所望の基板処理手順を前記記憶され
た複数の基板処理手順のうちから特定し、該特定した基
板処理手順を前記制御手段に指定する指定手段を、前記
複数のカセットごとに有する。
装置では、複数のカセットを有する基板供給部自体が基
板処理手順を指定する指定手段をそれぞれのカセットご
とに有する。よって、カセットに収納された基板に施す
所望の基板処理手順を、そのカセットについての指定手
段からの指定により、複数の基板処理手順のうちから正
確に特定することができる。このため、本発明の回転式
基板処理装置によれば、基板に施す基板処理手順をその
基板を収納したカセットに正確に対応付けることができ
る。
おいて、前記制御手段を、前記複数の基板処理手順を、
個々の基板処理手順を特定する手順番号と共に記憶する
ものとし、前記指定手段を、前記手順番号を前記制御手
段に指定するものとした。
カセットごとの指定手段から手順番号を指定するだけ
で、そのカセットに収納された基板に施す所望の基板処
理手順を、複数の基板処理手順のうちから正確に特定す
ることができる。このため、この構成の回転式基板処理
装置によれば、手順番号の指定という簡単な操作で、カ
セットと基板処理手順とを正確に対応付けることができ
る。
採ることも可能であり、第1の態様では、前記基板供給
部は、前記指定手段を該当するカセットに隣接して有す
る。
は、指定手段とカセットとが隣接しているので、そのカ
セットに収納された基板に施す所望の基板処理手順を指
定するに際して、指定ミスがなくなる。このため、カセ
ットと基板処理手順との対応付けの信頼性が向上する。
理装置の実施の形態を実施例に基づき説明する。まず、
本実施例の回転式基板処理装置の概要について、当該装
置の概略斜視図である図1を用いて簡単に説明する。
の基板を回転させこの基板表面にフォトレジスト等を回
転塗布して熱処理するための装置であり、図1に示すよ
うに、基板供給部2と基板処理部3とに大別される。な
お、以下の説明に当たっては、この両者を呼称上明確に
区別するために、前者の基板供給部2を基板授受ユニッ
ト2と称し、基板処理部3をプロセス処理ユニット3と
称することとする。
納したカセットC1ないしC4から基板Wを取り出して
基板受け渡し位置である基板授受位置Pまで移送した
り、この基板授受位置Pから基板Wを移送して基板の収
納が可能ないずれかのカセット内へ基板Wを収納する。
プロセス処理ユニット3は、後述するように基板に所要
の処理液を供給して回転処理を施す回転処理機器を含む
複数の各種処理機器等を備え、これら各処理機器等を駆
動して基板を処理する。
基板授受ユニット2は、図1及び回転式基板処理装置1
の一部平面を破断して示す図2に示すように、カセット
設置台4の上面に、基板Wを多段に収納した2基のカセ
ットC1,C2と基板未収納の2基のカセットC3,C
4を備える。また、各カセットから基板Wを取り出した
り各カセット内に基板Wを収納したりするための基板移
送機器6を、カセットC1ないしC4の並びに図中矢印
D方向に水平移動自在に備える。そして、カセット設置
台4の前面には、この基板授受ユニット2や後述するプ
ロセス処理ユニット3に種々の指示を与えるための主操
作パネル5が組み込まれている。
カセットとしたが、これに限るわけでなく、例えば総て
のカセットを基板収納済みのカセットとしてもよい。ま
た、この主操作パネル5は、種々の設定や数値入力を行
なうためのキーボード5aと、このキーボード5aから
の指示に基づき種々の画面を表示するディスプレイ5b
とを備える。
うに、基板Wをその下面で吸引・吸着する基板吸着アー
ム7を、カセットにおける基板Wの積み重ね方向(図2
の紙面における表裏方向)に沿って昇降可能で、且つ、
図2に示す待機位置とカセット内に進入した取り出し位
置との間に渡って図中矢印E方向に前後動可能に備え
る。
向に水平移動させて所望のカセットの正面まで移動し、
その後、当該カセットにおける所望段の基板収納溝に対
応する高さまでの基板吸着アーム7の上昇,カセット内
への基板吸着アーム7の進入,基板吸着アーム7の僅か
な再上昇,基板吸着アーム7の後退,基板吸着アーム7
の降下を順次行なえば、カセットからの基板Wの取り出
しが完了する。又、この逆の手順で基板吸着アーム7を
駆動させれば、カセット内への基板Wの収納が完了す
る。
のほか、基板吸着アーム7でカセットから取り出した基
板Wを水平に支持するために、3本の支持ピン8a,8
b,8cをその基台9に昇降自在に備える。また、これ
ら各支持ピンに支持された基板Wの中心位置合わせを行
なうために、基台9の両側に位置合わせ板10を水平往
復動自在に備える。
本の案内ピン11が、基板Wの外径と略同一の曲率とな
るような配列で、それぞれ突設されている。よって、基
台9から上昇した各支持ピンにより基板Wが支持された
状態で、各位置合わせ板10を水平往復動させると、各
案内ピン11が基板Wの外周に当接・離間するため、基
板Wの中心位置合わせが完了する。
Wは、基板移送機器6により基板授受位置P(図1参
照)に移送された後、後述するプロセス処理ユニット3
付属の基板搬送機器37に受け渡され、当該ユニットに
おける回転塗布機器等に、順次搬送されて処理される。
そして、処理が完了した処理済み基板は、基板搬送機器
37により基板授受位置Pに返却された後、基板移送機
器6により所定のカセット内に収納される。
示すように、処理すべき基板を収納したカセットである
ことや基板処理手順を特定するための手順番号数値コー
ドやカセット単位の処理順序等を入力するためカセット
コントロールパネル18が、各カセット毎に設置されて
いる。この場合、それぞれのカセットコントロールパネ
ル18は、図示するように該当するカセットに隣接して
カセット設置台4の上面に設置されており、カセットコ
ントロールパネル18とカセットとの対応は明確となる
ようされている。
4に載置された各カセットC1ないしC4の周囲には、
カセットを取り囲むコの字状のブラケット21が昇降自
在に付設されている。このブラケット21の開口部先端
には、カセット内に収納された基板Wの有無を検出する
投光素子22と受光素子23からなる光センサ24が取
り付けられている。なお、ブラケット21は、カセット
設置台4の上面を貫通する板状の支持軸30を上下動さ
せる光センサ昇降機構25(図3参照)を介して昇降す
る。そして、この光センサ24は、タイミング検出セン
サ42(図3参照)とともに、カセットに沿って上昇す
る間において、カセット内における基板有無をカセット
における基板収納溝の段数に対応付けて一括して検出す
る。
け取りこれを処理するプロセス処理ユニット3は、図1
に示すように、回転する基板表面に処理液(薬液)を滴
下して薄膜を形成する回転塗布機器31,32や、回転
塗布機器で処理を行なう前後に基板を熱処理(加熱・冷
却)する熱処理機器33,34,35を備える。更に、
各回転塗布機器31,32及び熱処理機器33,34,
35の並びに沿った図中矢印A方向に水平移動自在な基
板搬送機器37を備える。なお、図示するように、各熱
処理機器は、それぞれ上段に加熱用熱処理機器を、下段
に冷却用熱処理機器をそれぞれ備える。
後述するメインコントローラ50から基板処理手順にお
ける処理条件(回転数,温度,使用処理液種類,吐出量
等)のロードを受ける個別の後述するコントローラと、
図示しない回転数センサ,温度センサ等を備える。そし
て、各回転塗布機器及び熱処理機器は、これらセンサの
検出信号とロードを受けた後述する基板処理手順におけ
る制御指令値(処理条件)とに基づき、各処理機器付属
のコントローラにより、フィードバック制御されてい
る。
より図中矢印A方向に水平移動自在なステージ38上面
に図中矢印B方向に旋回自在なヘッド39を備え、この
ヘッド39には、Uの字状の基板支持アーム37a,3
7bを上下2段に備えて構成される。また、この各基板
支持アーム37a,37bは、ヘッド39から出入り自
在に構成されている。
定の基板処理手順における搬送プロセスに基づいて、基
板搬送機器37を駆動制御して、基板授受ユニット2に
おける基板授受位置Pから、上記回転塗布機器といった
複数の処理機器のうちの必要な処理機器に、順次基板を
搬送する。そして、基板が搬送された回転塗布機器等に
て、当該基板処理手順における処理条件に基づいて基板
を処理し、搬送された各処理機器における処理が完了し
た処理済み基板を基板授受位置Pに返却する。
基板を出入りさせる際に、当該処理機器内に処理済み基
板が残存している場合には、基板を支持していない方の
基板支持アームをヘッド39から迫り出して残存処理済
み基板を処理機器から取り除く。その後、他方の基板支
持アームに支持されている未処理基板を処理機器内にセ
ットする。こうして、効率よく基板処理がなされる。
ける制御系について、図3に示すブロック図を用いて説
明する。本実施例におけるこの制御系は、回転式基板処
理装置1の全体を統括制御するメインコントローラ50
のほか、そのサブコントローラとして、基板授受ユニッ
ト2を制御する基板授受ユニットコントローラ60と、
プロセス処理ユニット3を構成する各処理機器ごとのコ
ントローラである基板搬送機器コントローラ37Aと、
各回転塗布機器用の回転塗布機器コントローラ31A,
32Aと、各熱処理機器用の熱処理機器コントローラ3
3A,34A,35Aとを備える。
行する周知のCPU51,CPUを制御する種々のプロ
グラム等を予め記憶するROM52,種々のデータを一
時的に記憶するRAM53等を中心に論理演算回路とし
て構成され、データの書き込み及びデータの保持が随時
可能で後述する多量のデータを予め記憶する記憶ディス
ク54を内蔵している。
上記CPU等とコモンバス55を介して相互に接続され
た入出力ポート56により、外部との入出力、例えば、
既述した主操作パネル5や、基板授受ユニットコントロ
ーラ60,基板搬送機器コントローラ37A,各処理機
器ごとの各コントローラ31Aないし35A等との間で
データの転送を行なう。
センサ24及びタイミング検出センサ42のほか、基板
移送機器6,カセットコントロールパネル18,光セン
サ昇降機構25等と接続されている。そして、これら各
センサやカセットコントロールパネル18からの信号を
始め、当該コントローラで求めた算術演算データをメイ
ンコントローラ50に出力する。なお、カセットコント
ロールパネル18,光センサ24,タイミング検出セン
サ42,光センサ昇降機構25等は、カセット設置台4
の上面における4基のカセットC1ないしC4のそれぞ
れに備えられており、各々基板授受ユニットコントロー
ラ60に接続されている。
トローラ37A,31Aないし35Aは、メインコント
ローラ50から指令された制御指令値や、各処理機器に
備えられた図示しないセンサからの検出信号に基づい
て、各処理機器を制御する。
7A,31Aないし35Aは、上記メインコントローラ
50と同様に、それぞれCPU,RAM,ROM等を備
えるが、その詳細な説明については省略する。
の基板処理手順について説明する。基板処理手順は複数
種類存在し、図4に示すように、その各々が、各基板処
理手順を特定するための手順番号数値コードと各処理機
器における制御指令値等とを対応付けて、予め記憶ディ
スク54に書き込み記憶されている。
に、各手順番号数値コードのそれぞれに関して、必要な
処理ステップごとに、各処理ステップにおける工程を表
す工程記号と、その工程を行なう処理機器と、その工程
における処理条件とに関するデータが書き込まれてい
る。
の欄の記号は、それぞれの工程名称に相当し、工程記号
ADは処理液塗布前の加熱工程を、ACは処理液塗布前
の冷却工程を、SCは処理液塗布工程を、SBは処理液
塗布後の加熱工程をそれぞれ表す。また、同一の処理ス
テップにおいて複数の処理機器(処理機器1,2…)が
書き込まれている場合(手順番号数値コード01におけ
る処理ステップ1の加熱用熱処理機器33a,34a)
は、いずれかの処理機器で処理すれば良いことを示す。
ただし、処理機器の数値が小さいほど優先的に使用され
る。例えば、手順番号数値コード01の場合には、処理
機器1の欄の加熱用熱処理機器33aが優先して使用さ
れ、この加熱用熱処理機器33aが処理中であるとして
使用できなければ、処理機器2の欄の加熱用熱処理機器
34aが使用される。
程記号AD,AC,SB等から判るように処理液塗布前
後の熱処理工程であり、その処理条件欄に記載されてい
るように、該当する処理機器を制御する際の処理温度や
処理時間等の制御指令値を表す数値データを備える。
工程記号SCから判るように回転処理機器を用いた処理
液塗布工程であり、処理液塗布を繰り返し行なうことか
ら、当該処理ステップを更に第1ステップ部分,第2ス
テップ部分…第iステップ部分等に区分したデータを有
する。
プ3は、基板を回転させつつ処理液(薬液)を塗布する
ため、使用する複数種類の処理液の指定,処理回転数,
回転加速度,処理液吐出時間(吐出量)といった数多く
の処理条件(制御指令値)に基づき実行される上に、異
なった処理液を使用する回転処理を繰り返し行なう。こ
のため、処理ステップ3は他の処理より格段に多くの条
件データを幾種類も備えるが、これらを総て支障なく記
憶できるよう配慮されている。
類の基板処理手順が、膨大な処理条件のデータを含んで
記録されている。このため、ある手順番号数値コード、
例えば00の手順番号数値コードが指定されると、この
時の基板処理手順は、まず処理液塗布前に加熱用熱処理
機器33aにて加熱処理を行ない(処理ステップ1)、
次に冷却用熱処理機器33bにて冷却処理を行ない(処
理ステップ2)、引続いて回転塗布機器32にて処理液
塗布処理を行ない(処理ステップ3)、処理液塗布後の
加熱処理を加熱用熱処理機器35aにて行なう(処理ス
テップ4)ことになる。つまり、処理ステップの数値
は、プロセス処理ユニット3側における基板の搬送順序
を表わす。なお、処理ステップ5以下についてもデータ
が作成・記憶されていればそれに従って処理されること
は勿論である。
書き込みは、例えば、主操作パネル5のキーボード5a
からのデータ入力や、磁気テープ,フレキシブルディス
ク等の記憶媒体にデータの書き込み・記憶を行なう外部
記憶装置70(図3参照)からの入出力ポート56を介
したデータ転送等により行なわれる。
理手順のうちからの所望の基板処理手順の選択指示は、
カセットコントロールパネル18や主操作パネル5のキ
ーボード5a等におけるキー操作により実行される。な
お、所望の基板処理手順を選択指示するための上記キー
操作は、手順番号数値コードの数値をキー入力する操作
である。
順番号数値コードが指定されると、該当する基板処理手
順の各処理ステップにおける処理条件は、メインコント
ローラ50から該当する処理機器付属のコントローラに
ロードされる。例えば00の手順番号数値コードが指定
されると、処理ステップ1及び処理ステップ2における
処理条件は加熱用熱処理機器33a,冷却用熱処理機器
33bを有する熱処理機器33付属の熱処理機器コント
ローラ33Aにロードされる。同様に、処理ステップ3
における処理条件は回転塗布機器31付属の回転塗布機
器コントローラ31Aにロードされ、処理ステップ4に
おける処理条件は加熱用熱処理機器35aを有する熱処
理機器35付属の熱処理機器コントローラ35Aにロー
ドされる。
トローラ37A,31Aないし35Aは、ロードを受け
た処理条件である制御指令値とセンサからの検出信号と
に基づき、各処理機器をフィードバック制御しつつ基板
処理を行なう。
転式基板処理装置1が行なう基板処理制御(ルーチン)
について、図5,図6のフローチャートに基づき説明す
る。
Wを処理する一連の処理を示す基板処理ルーチンのフロ
ーチャートの前半部分を示す。そして、当該基板処理ル
ーチンは、電源が投入されたときにのみ実施する図示し
ない初期処理、即ち、CPU51の内部レジスタのクリ
ア,基板搬送機器37の原点復帰等を経て、電源投入時
から電源遮断時までの間に渡って繰り返し実行される。
は、上記初期処理の後に、まず、記憶ディスク54の所
定アドレスに記憶されている優先基板処理手順を特定す
るための手順番号数値コードを読み込む(ステップ10
0,以下単にステップをSと表記する)。この手順番号
数値コードは、図7に示す優先基板処理手順更新ルーチ
ンにより随時更新して、記憶ディスク54に書き込まれ
る。なお、図7の優先基板処理手順更新ルーチンは、主
操作パネル5におけるスイッチ(優先基板処理手順更新
スイッチ)が操作される度に割り込み処理され、当該ス
イッチの操作後に押圧されたテンキーによって入力され
た数値を優先基板処理手順を特定するための手順番号数
値コードとして書き込み記憶する(S200)。
んだ後には、その手順番号数値コードと図4における手
順番号数値コードとが一致するアドレスに書き込まれて
いる該当基板処理手順を優先基板処理手順とし、読み込
んだ該当基板処理手順における処理条件の制御パラメー
タ、例えば熱処理機器における温度制御パラメータ等に
基づき各処理機器を制御する(S105)。例えば、読
み込んだ手順番号数値コードが01であれば、アドレス
A1 に書き込まれている基板処理手順を優先基板処理手
順として認識し、この基板処理手順における処理条件の
制御パラメータに従って、加熱用熱処理機器33a,3
4aを160℃(条件1)まで予め昇温したり、冷却用
熱処理機器33bを図示しない所定温度まで冷却したり
する。また、回転塗布機器31においては、第1ステッ
プとしてノズルから吐出される処理液C1 が処理液記号
16で特定される処理液となるように図示しないバルブ
の切換等が行なわれる。
御を開始した後は、基板授受ユニットコントローラ60
からの後述の基板収納状況データの入力を受けて、基板
関連情報等をチェックする(S110)。
うなデータ構成を備えたデータとして基板授受ユニット
2側で求められ、メインコントローラ50に入力され
る。即ち、基板収納状況データは、処理対象となる未処
理基板を収納した収納元カセットのカセット番号(収納
元カセットNo.)と、そのカセットにおける最下段の
基板収納溝から数えて何段目の基板収納溝であることに
相当する溝番号と、カセット単位の処理順序と、基板有
無検出結果(基板ありの場合は「1」,基板なしの場合
は「0」)と、処理済み基板を収納することになる収納
先カセットのカセット番号(収納先カセットNo.)と
を含む。このうち、収納元カセットNo.と、カセット
単位の処理順序と、収納先カセットNo.とは、カセッ
トコントロールパネル18や主操作パネル5のスイッチ
又はテンキー等から処理すべき基板に関する種々の情報
として入力される。また、溝番号と基板有無状態とは、
カセットの最下端の初期位置に位置する光センサ24
を、カセット下端から上端に向けて連続的に上昇させ、
この光センサ24及びタイミング検出センサ42からの
検出信号に基づき、対応付けて決定される。
受ユニットコントローラ60におけるRAM又はバック
アップRAMに、所定番地の書込開始アドレス(AA1
)からカセット毎の基板収納溝に対応して順次記憶さ
れる。この場合、基板有無の検出を要するカセットは、
カセットC1,C2であるので、アドレスAC1 以降に
はデータが書き込まれない。勿論、カセットC1〜C4
の総てのカセットが処理すべき基板を収納した収納元カ
セットであり、これら総てのカセットについて処理する
場合には、アドレスAC1 以降にもデータが書き込まれ
る。また、図8の基板収納状況データからは、カセット
C1の下から3段目の基板収納溝に基板が無いので、処
理すべき基板の総数がカセットC1(25枚)とカセッ
トC2(26枚)とで51枚であることが判る。
ットコントローラ60からの基板関連情報に何らかの不
都合がないか、或いは、プロセス処理ユニット3の各処
理機器から何らかの異常の報知を受けていないか、その
他諸々を確認することにより、基板の回転処理を開始で
きる態勢が整っているか否かを判断する。なお、基板関
連情報に不都合がある場合の例としては、収納元カセッ
ト(カセットC1,C2)に関してカセットコントロー
ルパネル18等から予め入力された手順番号数値コード
に対応する基板処理手順が、その手順における各処理条
件データにデータの未入力があるまま記憶ディスク54
に記憶されている場合などがある。また、処理機器から
何らかの異常の報知を受けている場合の例としては、例
えばセンサ不良により熱処理機器の温度制御ができない
場合などがある。
クの結果、何らかの不備がある場合には、基板授受ユニ
ット2の収納元カセットからプロセス処理ユニット3へ
基板を供給する基板供給移送に支障があるとして、基板
供給移送を禁止する(S115)。具体的には、基板供
給移送を禁止する旨の基板移送禁止指令信号を基板授受
ユニットコントローラ60へ出力し、基板授受ユニット
2側で実行される図示しない基板授受ルーチンにおい
て、この基板移送禁止指令信号により基板供給移送を行
なわないようにする。その後、S110に移行して、基
板関連情報等に不備がなくなるまで待機する。
備がないと判断した場合には、電源投入直後の最先の基
板処理を、S100で読み込んだ手順番号数値コードで
特定される優先基板処理手順に基づき実施するか、又は
電源投入後に優先基板処理手順と異なる基板処理手順と
して新たに指示された指定基板処理手順に基づき実施す
るか否かを判断する(S120)。この判断は、優先基
板処理手順を特定する手順番号数値コードと異なる手順
番号数値コードが、カセットコントロールパネル18の
キー操作を介して入力されたか否かによって下される。
番号数値コードと異なる手順番号数値コードが入力され
れば、入力された手順番号数値コードで特定される指定
基板処理手順に基づき最先の基板処理を実施し、当該数
値コードの入力が無ければ優先基板処理手順に基づき最
先の基板処理を実施する。なお、カセットコントロール
パネル18からの手順番号数値コードは、基板授受ユニ
ットコントローラ60の入出力ポートを介してメインコ
ントローラ50に入力される。この場合、処理される基
板を収納した収納元カセットNo.に該当するカセット
コントロールパネル18が手順番号数値コードの入力に
用いられる。例えば、図8に示すように、収納元カセッ
トNo.がC1,C2であれば、この二つのカセットに
対応したカセットコントロールパネル18から手順番号
数値コードが入力される。
板処理を優先基板処理手順に基づき実施すると判断すれ
ば、基板授受ユニットコントローラ60から入力を受け
た基板収納状況データ(図8)に基づいて、上記基板授
受ユニット2側で検出された基板毎に、基板を区別する
ために新たに付与した基板情報と、収納元カセットN
o.,収納先カセットNo.といったカセット単位の情
報(カセット情報)と、優先基板処理手順を特定するた
めにS100で読み込んだ手順番号数値コード01とを
対応付けた、図9に示すような基板データを作成し、こ
れを記憶ディスク54に記憶する(S125)。この基
板データ作成に当たっては、優先基板処理手順を特定す
る手順番号数値コード01を最先の手順番号数値コード
とする。
番号数値コードを含んだ基板データの作成・記憶の完了
に伴って、メインコントローラ50からは、優先基板処
理手順に該当するプロセス処理ユニット3の各処理機器
付属のコントローラへ、図4に示す基板処理手順の詳細
な条件やデータのうち基板データにおける手順番号数値
コードで特定された基板処理手順に関する詳細な条件や
データが転送される。つまり、手順番号数値コード01
を含んだ図4のアドレスA1 に書き込まれている基板処
理手順に関する詳細な条件やデータが転送される。
転式基板処理装置1において電源が投入されてから遮断
されるまでに渡って処理する総ての未処理基板を、個々
に区別する情報であり、電源投入直後に基板授受ユニッ
ト2側で収納元カセット内に基板有りとされた最初の検
出基板を「1」とし、各検出基板に対して通し番号が付
与される。従って、図8に示すように、電源投入直後の
基板処理に際しては、処理すべき基板の総数はカセット
C1,C2の合計で51枚であることから、これら処理
すべき基板の個々に対して、基板有無検出順に「1」か
ら「51」までの基板情報が付与される。そして、これ
ら51枚の基板処理が完了し新たに処理すべき収納元カ
セットにおける基板有無の検出を実行した場合には、
「52」以降の基板情報が付与される。
タの書き込みに際しては、予め設定された書込開始アド
レス(W1 )から実施される。また、基板データをRA
M53に記憶してもよいことは勿論である。
板処理を新たに指示された指定基板処理手順に基づき実
施すると判断すれば、上記S125と同様にして、図8
に示す基板収納状況データに基づいて、基板授受ユニッ
ト2側で検出された基板毎に、基板情報と、カセット単
位の情報(カセット情報)と、上記新たに入力を受けた
手順番号数値コード、例えば11とを対応付けた、図1
0に示すような基板データを作成し、これを記憶ディス
ク54に記憶する(S130)。この場合には、指定基
板処理手順を特定する手順番号数値コード11を最先の
手順番号数値コードとする。なお、指定基板処理手順を
特定する手順番号数値コード11を含んだ基板データの
作成・記憶の完了に伴って、メインコントローラ50か
らは、指定基板処理手順に該当するプロセス処理ユニッ
ト3の各処理機器付属のコントローラへ、手順番号数値
コード11を含んだ図4のアドレスA11(図示せず)に
書き込まれている基板処理手順に関する詳細な条件やデ
ータが転送される。
理手順を特定する手順番号数値コード(「11」)と図
4における手順番号数値コードとが一致するアドレスに
書き込まれている該当基板処理手順における処理条件の
制御パラメータ、例えば熱処理機器における温度制御パ
ラメータ等に基づき各処理機器を制御する(S13
5)。
記憶を行なった後、又はS135にて指定基板処理手順
に基づく処理機器制御を開始した後は、基板処理手順に
おける制御パラメータに基づく各処理機器の制御状態が
基板処理可能な状態(熱処理機器における温度制御完了
等)にあるか否かを、各処理機器毎のコントローラから
の制御状態に関する検出結果の良否に基づき判断する
(S140)。そして、優先基板処理手順又は指定基板
処理手順に該当する総ての処理機器における制御状態が
基板処理が可能な状態となるまで待機する。
可能な状態となれば、収納元カセットからプロセス処理
ユニット3へ基板を供給移送して基板処理が開始できる
として、図6に示すように、基板供給移送を許可し(S
145)、基板供給移送の開始を許可する旨の基板移送
許可指令信号を基板授受ユニットコントローラ60へ出
力する。これを受けた基板授受ユニットコントローラ6
0は、プロセス処理ユニット3への基板供給移送が開始
できると判断し、その実行タイミングを決定するメイン
コントローラ50からの後述の基板供給実行指令信号の
入力を待機する。
可に引き続いて、プロセス処理ユニット3側において未
処理基板を受け取ることができるか否かを判断し(S1
50)、基板受け取りが可能となるまで待機する。即
ち、S140における総ての処理機器についての基板処
理可能判断とS145における基板供給移送許可とに基
づいて未処理基板の処理を開始できる状態であっても、
例えば、プロセス処理ユニット3の各処理機器付属のコ
ントローラへ転送した基板処理手順に該当する総ての処
理機器において基板処理中であれば、未処理基板をプロ
セス処理ユニット3に受け取ることができないため、上
記判断を行なう。なお、この判断は、各処理機器毎のコ
ントローラからの基板処理状態(基板処理中又は処理待
機中)に関する検出結果の有無に基づき下される。
と判断すれば、基板処理の準備が総て完了したとして、
基板授受ユニット2の基板授受ユニットコントローラ6
0に、プロセス処理ユニット3への未処理基板の供給移
送を実際に実行する旨の基板供給実行指令信号を出力
し、この信号の入力を受けて基板授受位置P(図1参
照)へ移送されてきた未処理基板を次のようにして受け
取る(S155)。つまり、基板搬送機器コントローラ
37Aを介して基板搬送機器37に制御信号を出力し
て、基板授受位置P手前で待機している基板搬送機器3
7を駆動し、処理済み基板を支持していない方の基板支
持アーム37a又は37bをヘッド39から迫り出さ
せ、基板授受位置Pからプロセス処理ユニット3側に未
処理基板を受け取る。
この基板供給実行指令信号の入力とともに基板移送機器
6に制御信号を出力して、収納元カセットからの未処理
基板の取り出し,位置合わせ板10による基板Wの中心
位置合わせ等を順次実行し、基板授受位置Pへ未処理基
板を移送する。そして、この基板供給移送を実行するに
際しては、図8に示すカセット毎の基板収納状況データ
を参照して、基板移送機器6を駆動制御する。具体的に
は、カセット単位の処理順序に従ったカセット順(カセ
ットC1,C2の順)にそのカセット内の基板Wを取り
出しに行く。更に、各カセットにおいては、基板有りと
された基板収納溝のみに対応させて基板吸着アーム7を
進入させるとともに、基板有りとされた基板収納溝のう
ちの最下段の基板収納溝から順次基板を取り出しに行
く。
置Pから未処理基板を受け取るに当たっては、基板授受
位置Pまでの1枚の基板の移送が完了した旨の移送完了
信号を、メインコントローラ50が基板授受ユニットコ
ントローラ60から入力し、この信号の入力を受けて基
板受け取りを開始する。
未処理基板の受け取り後には、次のようにして、プロセ
ス処理ユニット3における各処理機器に受け取った未処
理基板を順次搬送しつつ、搬送された各処理機器におい
て基板処理を実行する(S160)。
ものであり最先の基板処理を優先基板処理手順によって
行なう場合には、優先基板処理手順における搬送順序に
従って基板搬送機器37を駆動して、優先基板処理手順
に該当する各処理機器に基板を搬送する。また、基板が
搬送された各処理機器では、S125における基板デー
タ(図9)の作成・記憶の完了に伴ってメインコントロ
ーラ50から各処理機器付属のコントローラへ転送され
た優先基板処理手順における処理条件に従って基板を処
理する。
ものであっても最先の基板処理を新たに指定された指定
基板処理手順によって行なう場合、又は本ルーチンが2
回目以降のものである場合には、指定基板処理手順にお
ける搬送順序に従って基板搬送機器37を駆動して各処
理機器に基板を搬送し、基板が搬送された各処理機器に
おいては、S130における基板データ(図10)の作
成・記憶の完了に伴ってメインコントローラ50から各
処理機器付属のコントローラへ転送された基板処理手順
における処理条件に従って基板を処理する。
板処理手順における処理ステップの順にほかならない。
つまり、基板処理手順が手順番号数値コード01で特定
されるものであれば、図4から判るように、処理ステッ
プの数値の昇順に従って、加熱用熱処理機器33a又は
34a,冷却用熱処理機器33b,回転塗布機器31,
加熱用熱処理機器35a等の各処理機器に、この順で基
板が搬送される。
れた後には、最終処理ステップにおける処理機器まで基
板が各処理機器を一巡して搬送されて一連の基板処理が
完了したか否かを判断し(S165)、基板処理が完了
していなければ上記S150に移行して、基板受け取り
可否判断,基板受け取り,基板搬送・処理を繰り返す。
これにより、収納元カセット内の未処理基板が1枚ずつ
プロセス処理ユニット3に受け渡されて次々と処理され
る。
処理機器で基板処理が完了すると、処理済み基板を基板
搬送機器37により基板授受位置Pへ搬送して、基板授
受ユニット2の基板移送機器6に受け渡す(S17
0)。この際、メインコントローラ50からは、プロセ
ス処理ユニット3の基板搬送機器37から基板を受け取
って収納先カセットへ収納する旨の基板収納指令信号が
基板授受ユニットコントローラ60に出力される。そし
て、これを受けた基板授受ユニットコントローラ60
は、基板移送機器6を介して処理済み基板を収納先カセ
ットへ収納する。なお、この基板の収納移送は、基板授
受ユニットコントローラ60において作成・記憶した図
8の基板収納状況データに基づいて、基板授受位置Pへ
返送基板順に、予め設定入力した処理済み基板の収納先
カセットの所定の段の収納溝に対して行なわれる。
処理手順(優先基板処理手順又は指定基板処理手順)で
処理するよう指示された全基板について一連の基板処理
が完了したか否かを、図9,図10の基板データと最終
処理ステップにおける処理機器で基板処理が完了した基
板枚数とに基づき判断する(S175)。ここで否定判
断すると、S150に移行して基板受け取り可否判断,
基板受け取り,基板搬送・処理,基板受け渡しを繰り返
し実行する。一方、上記全基板毎についてその処理が完
了すれば、優先基板処理手順又は指定基板処理手順に続
く次の基板処理手順が指定されているか否かを、カセッ
トコントロールパネル18からの手順番号数値コードの
入力の有無により判断する(S180)。
の基板処理手順として、優先基板処理手順(手順番号数
値コード01,図9)又は指定基板処理手順(手順番号
数値コード11,図10)に続いて手順番号数値コード
28で特定される基板処理手順がカセットコントロール
パネル18から指定されていれば、上記次の基板処理手
順における処理条件の制御パラメータに基づく各処理機
器の制御を開始した後(S185)、既述したS140
に移行してそれ以降の処理を繰り返す。一方、次の基板
処理手順が指定されていなければ、基板処理するよう指
示された全収納元カセットの全基板について基板処理が
完了したとして、S110に移行し、基板授受ユニット
コントローラ60からの新たな基板収納状況データの入
力に備える。そして、この新たな基板収納状況データの
入力、即ち新たな基板処理の指示があるたびに、上記し
た処理を行ない基板を処理する。
処理装置1は、記憶ディスク54に記憶した複数の基板
処理手順から基板処理に用いるある基板処理手順を特定
するに当たり、基板授受ユニット2における複数のカセ
ットごとのカセットコントロールパネル18から、当該
ある基板処理手順と一対一で予め対応付けられた手順番
号数値コードを入力することとした。このため、本実施
例の回転式基板処理装置1によれば、それぞれのカセッ
トC1〜C4(上記の実施例で説明した場合にあっては
カセットC1,C2)に収納された基板に施す所望の基
板処理手順を、手順番号数値コードの入力という簡単な
操作で、それぞれのカセットと基板処理手順とを正確に
対応付けることができる。
それぞれのカセットコントロールパネル18と該当する
カセットとがカセット設置台4の上面において隣接して
いるので、そのカセットに収納された基板に施す所望の
基板処理手順を指定する際の指定ミス(入力ミス)がな
くなる。また、作業者は、カセットコントロールパネル
18とカセットとの対応関係についての考慮を払うこと
なく、該当するカセットについてのカセットコントロー
ルパネル18から手順番号数値コードを入力すればよ
い。よって、カセットと基板処理手順との対応付けの信
頼性を向上させることができると共に、操作性並びに使
い勝手が向上する。
本発明は上記の実施例や実施形態になんら限定されるも
のではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種
々なる態様で実施し得ることは勿論である。
断して示す平面図。
インコントローラ50を中心とした制御系のブロック
図。
器が行なう回転基板処理の基板処理手順を説明するため
の説明図。
処理ルーチンの前半を示すフローチャート。
処理ルーチンの後半を示すフローチャート。
基板処理手順更新ルーチンを示すフローチャート。
の説明図。
の説明図。
めの説明図。
Claims (2)
- 【請求項1】 所要の処理液を用いて基板に回転処理を
施す回転処理機器を始めとする複数の処理機器を有し、
該複数の処理機器に対して所定の基板搬送順序で基板を
搬送する基板処理部と、 基板を多段に収納する複数のカセットに対する基板の取
り出しと収納とを行なう基板供給部と、 前記複数の処理機器への基板搬送順序と搬送された各処
理機器における基板処理条件とを含む基板処理手順を複
数記憶し、該記憶した複数の基板処理手順のうちから随
時指定された基板処理手順に基づいて前記処理機器を制
御して、基板を処理する制御手段とを備える回転式基板
処理装置であって、 前記基板供給部は、 前記カセットに収納された基板に施す所望の基板処理手
順を前記記憶された複数の基板処理手順のうちから特定
し、該特定した基板処理手順を前記制御手段に指定する
指定手段を、前記複数のカセットごとに有することを特
徴とする回転式基板処理装置。 - 【請求項2】 前記制御手段は、 前記複数の基板処理手順を、個々の基板処理手順を特定
する手順番号と共に記憶し、 前記指定手段は、 前記手順番号を前記制御手段に指定するものである請求
項1記載の回転式基板処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8725796A JP2772517B2 (ja) | 1996-03-14 | 1996-03-14 | 回転式基板処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8725796A JP2772517B2 (ja) | 1996-03-14 | 1996-03-14 | 回転式基板処理装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9807291A Division JP2813751B2 (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 回転式基板処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH091034A JPH091034A (ja) | 1997-01-07 |
JP2772517B2 true JP2772517B2 (ja) | 1998-07-02 |
Family
ID=13909732
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8725796A Expired - Fee Related JP2772517B2 (ja) | 1996-03-14 | 1996-03-14 | 回転式基板処理装置 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2772517B2 (ja) |
-
1996
- 1996-03-14 JP JP8725796A patent/JP2772517B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JPH091034A (ja) | 1997-01-07 |
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