JP2598720B2 - 回転式基板処理装置 - Google Patents
回転式基板処理装置Info
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Description
を多段に収納したカセットから基板を取り出し、所要の
処理液を用いて基板に回転処理を施す回転処理機器を始
めとする複数の処理機器を所定の基板処理手順に基づい
て制御し、前記取り出した基板を回転処理する回転式基
板処理装置に関する。
理手順に基づき駆動されて基板を処理する基板処理部
と、基板を多段に収納する複数のカセットから前記基板
処理部へ基板を供給する基板供給部とを備える。この基
板処理部には、例えば、フォトレジストや現像液あるい
は超純水等の各種処理液を回転させた基板に供給して、
基板に対して種々の回転処理を施す回転処理機器と、ホ
ットプレートやクールプレートといった基板に熱処理を
施す熱処理機器等の複数の処理機器が備え付けられてい
る。一方、基板供給部には、カセットから取り出した基
板を基板処理部への基板受け渡し位置へ移送するための
移送機器が備え付けている。そして、これら回転処理機
器における種々の処理液の供給制御や、熱処理機器にお
ける温度制御等は、総て基板処理手順に基づいて行なわ
れている。
ット内の基板に応じた処理内容(基板処理手順)をカセ
ットが配置されるセンダー(未処理基板を収納したカセ
ットの設置単位)に対応して登録するものが提案されて
いる。
により基板をカセットから取り出し、基板供給部の出口
に備えたセンサで基板供給部から基板処理部に受け渡さ
れる基板を検出している。そして、あるセンダーのカセ
ットから取り出した基板を基板処理部に受け渡す際に、
センダーに対応して登録した基板処理手順を、基板処理
部への基板受け渡し毎に、基板処理部にロードしてい
る。なお、この様にしてロードされる基板処理手順は、
各処理ステップにおける処理時間,処理温度,処理回転
数等やステップ数などの詳細なデータを含んでおり、そ
のデータ数も多い。
した回転処理機器や熱処理機器等の複数の処理機器のほ
か、これら各処理機器間で基板を搬送する基板処理部専
用の搬送機器を備えている。そして、これら各処理機器
等を、所定の基板処理手順に則った温度,回転数等の条
件に基づいて、常時、独立に制御している。
来の回転式基板処理装置では、次のような問題点が指摘
されている。
給部側で、移送機器を駆動して基板の取り出しを行ない
ながら、データ数の多い基板処理手順を基板毎に割り付
けて基板処理部にロードしている。このため、回転式基
板処理装置の基板供給部においては、移送機器の駆動制
御と、基板の移送に同期した基板処理部への基板処理手
順のロードを実行するためのデータ管理制御とを並行し
て実施しなければならない。この結果、基板供給部の移
送機器の制御装置に相当な負荷がかかる。
漏れがあった場合には、次のような問題がある。基板供
給部出口のセンサにて基板の受け渡しを検出しているも
のの、カセットからの基板取り出し時に収納漏れの有無
を考慮していないので、この基板を収納していない基板
収納溝にまで、移送機器が基板を取り出しに行く。この
ため、移送機器は基板を有していないまま基板処理部へ
の受け渡し位置まで駆動して、基板の受け渡しロスが発
生し、この間に渡って各処理機器は基板処理を行なわな
いので、基板処理部における処理工程能力が低下してし
まう。
処理条件等が特殊な特注基板であったり、或いは試作基
板であるために、その作成枚数が少なく、カセットにお
ける実際の基板収納枚数が基板収納溝の段数より少ない
場合でも発生する。更に、このような特殊の場合に限ら
ず、量産時においても発生する。この量産時における不
具合発生事例として、前工程で何らかの欠陥が基板に生
じ、これが原因で基板がカセットから抜き取られた場合
等が挙げられる。
され、回転処理機器を始めとした複数の処理機器を含む
基板処理部へカセットから取り出した基板を受け渡す際
に、基板供給部における制御負荷を軽減するとともに、
カセットにおける基板収納漏れの有無に拘らず基板処理
部への基板受け渡しロスを回避することを目的とする。
めに本発明の採用した手段は、図1のブロック図にその
基本的な構成を例示するように、所要の処理液を用いて
基板に回転処理を施す回転処理機器を始めとする複数の
基板処理用の処理機器を有する基板処理部WSと、未処
理基板を多段に収納した未処理基板収納カセットCから
の未処理基板の取り出しと、前記未処理基板収納カセッ
トCと前記基板処理部WSとの間における基板移送とを
行なう基板移送機器HRを有する基板供給部LDと、複
数の基板処理手順から選ばれた基板処理手順に基づい
て、前記基板移送機器HRと前記基板処理部WSにおけ
る複数の基板処理用の各処理機器を駆動制御する制御手
段M1とを備え、前記基板移送機器HRにより前記未処
理基板収納カセットCから前記基板処理部WSに未処理
基板を移送し、前記複数の基板処理用の処理機器により
未処理基板を回転処理する回転式基板処理装置であっ
て、前記未処理基板収納カセットCの各段における基板
の有無を検出する検出手段M2と、前記未処理基板収納
カセットCをカセット毎に区別するカセット情報を入力
するカセット情報入力手段M3と、前記制御手段M1が
前記基板処理部WSを制御する際の基板処理手順を特定
するための手順特定情報を入力する手順特定情報入力手
段M4とを備え、更に前記制御手段M1は、前記基板移
送機器HRにより前記未処理基板収納カセットCから取
り出した未処理基板を前記基板処理部WSへ移送する基
板供給移送に先立って、前記検出手段M2を駆動し、前
記未処理基板収納カセットCの各段毎に前記検出手段M
2が検出した基板の有無状況と前記入力されたカセット
情報とを含む基板収納状況データを、作成及び記憶する
基板収納状況記憶部M11と、前記基板供給移送に先立
って前記検出手段M2が検出した基板毎に、基板を個々
に区別する基板情報と、前記入力されたカセット情報
と、前記入力された手順特定情報とを含む基板データ
を、作成及び記憶する基板データ記憶部M12と、前記
基板収納状況記憶部M11の記憶した基板収納状況デー
タに基づいて前記基板移送機器HRを駆動制御し、前記
基板供給移送を行なう供給移送制御部M13と、前記基
板データ記憶部M12の記憶した基板データと、該基板
データにおける前記手順特定情報に応じて特定した基板
処理手順とに基づいて、前記基板処理部WSにおける複
数の基板処理用の各処理機器を駆動制御する基板処理制
御部M14とを備えることをその要旨とする。
ず、制御手段M1の基板収納状況記憶部M11により、
検出手段M2を駆動させ、この検出手段M2の検出した
未処理基板収納カセットCの各段における基板の有無状
況とカセット情報入力手段M3から入力された未処理基
板収納カセットCを区別するカセット情報とを含む基板
収納状況データを作成し、これを記憶する。こうして、
未処理基板収納カセットCのおのおのについて、各段の
基板有無状況を把握する。
12により、検出手段M2の検出した基板毎に、基板を
一つ一つ区別するための基板情報と、カセット情報入力
手段M3から入力された未処理基板収納カセットCを区
別するカセット情報と、手順特定情報入力手段M4から
入力された基板処理手順を特定する手順特定情報とを含
む基板データを作成し、これを記憶する。こうして、基
板供給部LDから基板処理部WSに移送されて複数の基
板処理用の各処理機器により回転処理される個々の未処
理基板について、基板を一つ一つ区別しつつ、各基板の
処理に用いられる基板処理手順の特定を可能とする。
状況記憶部M11及び基板データ記憶部M12が基板収
納状況データ及び基板データを作成・記憶してから、次
のようにして、基板供給部LDの未処理基板収納カセッ
トCから取り出した未処理基板を基板処理部WSへ移送
する基板供給移送と、基板処理部WSにおける複数の基
板処理用の各処理機器による基板の回転処理がなされ
る。
記憶部M11に記憶されている基板収納状況データに基
づいて供給移送制御部M13が基板移送機器HRを駆動
制御することにより行なわれるので、未処理基板収納カ
セットCのおのおのについて、カセット内に基板が存在
している段に限って、基板の取り出し動作を行い、基板
が存在しない段に対しては基板取出し動作を行なわな
い。このため、基板供給部LDから基板処理部WSへの
未処理基板の受け渡し時に、基板処理部WS側において
基板の受け取りのために無駄に待機する必要がなくな
る。この結果、基板処理部WSにおける処理効率の向上
が可能となる。
部WS側における基板の回転処理は、既に基板データ記
憶部M12に記憶されている基板データと特定した基板
処理手順とに基づいて、基板処理制御部M14が基板処
理部WSにおける複数の基板処理用の各処理機器を駆動
制御することにより行なわれる。このため、基板供給部
LDから基板処理部WSへ未処理基板を供給する際に、
基板供給移送を行なうための基板移送機器HRの駆動制
御を、当該未処理基板を回転処理するための基板処理手
順等のデータ転送制御と切り放して実行できる。
適な実施例について、図面に基づき説明する。まず、本
実施例の回転式基板処理装置の概要について、当該装置
の概略斜視図である図2を用いて簡単に説明する。
の基板を回転させ、この基板表面にフォトレジスト等を
回転塗布して熱処理するための装置であり、図2に示す
ように、基板供給部2と基板処理部3とに大別される。
なお、以下の説明に当たっては、この両者を呼称上明確
に区別するために、前者の基板供給部2を基板授受ユニ
ット2と称し、基板処理部3をプロセス処理ユニット3
と称することとする。
納したカセットC1ないしC4から基板Wを取り出して
基板受け渡し位置である基板授受位置Pまで移送した
り、この基板授受位置Pから基板Wを移送して基板の収
納が可能ないずれかのカセット内へ基板Wを収納する。
プロセス処理ユニット3は、後述するように基板に所要
の処理液を供給して回転処理を施す回転処理機器を含む
複数の各種処理機器等を備え、これら各処理機器等を駆
動して基板を処理する。
処理ユニット3から順次説明する。図2に示すように、
プロセス処理ユニット3は、回転する基板表面に薬液を
滴下して薬液薄膜を形成する回転塗布機器31,32
や、回転塗布機器で処理を行なう前後に基板を熱処理
(加熱・冷却)する熱処理機器33,34,35を備え
る。更に、各回転塗布機器31,32及び熱処理機器3
3,34,35の並びに図中矢印A方向に水平移動自在
な基板搬送機器37を備える。なお、図示するように、
各熱処理機器は、上段に加熱処理用の熱処理機器を、下
段に冷却処理用の熱処理機器をそれぞれ備える。
より図中矢印A方向に水平移動自在なステージ38上面
に図中矢印B方向に旋回自在なヘッド39を備え、この
ヘッド39には、Uの字状の基板支持アーム37a,3
7bを上下2段に備えて構成される。また、この各基板
支持アーム37a,37bは、ヘッド39から出入り自
在に構成されている。
定の基板処理手順における搬送プロセスに基づいて、基
板搬送機器37を駆動制御して、基板授受ユニット2に
おける基板授受位置Pから、上記回転塗布機器といった
複数の処理機器のうちの必要な処理機器に、順次、基板
を搬送する。そして、基板が搬送された回転塗布機器等
にて、当該基板処理手順における処理条件に基づいて基
板を処理し、搬送された各処理機器における処理が完了
した処理済み基板を基板授受位置Pに返却する。
基板を出入りさせる際に、当該処理機器内に処理済み基
板が残存している場合には、基板を支持していない方の
基板支持アームをヘッド39から迫り出して残存処理済
み基板を処理機器から取り除く。その後、他方の基板支
持アームに支持されている未処理基板を処理機器内にセ
ットする。こうして、効率よく基板処理がなされる。
板処理装置1の一部平面を破断して示す図3に示すよう
に、カセット設置台4の上面に、基板Wを多段に収納し
た2基のカセットC1,C2と基板未収納の2基のカセ
ットC3,C4を備える。そして、カセット設置台4内
部に、後述する基板検出装置の要部を備え、カセット設
置台4の前面に、種々の指示を与えるための主操作パネ
ル5を備える。なお、カセットC3,C4を基板未収納
のカセットとしたが、これに限るわけでなく、例えば総
てのカセットを基板収納済みのカセットとしてもよい。
から基板Wを取り出してプロセス処理ユニット3へ供給
したり、各カセット内に基板Wを収納したりするための
基板移送機器6を、カセットC1ないしC4の並びに沿
った図中矢印D方向に水平移動自在に備える。
すように、基板Wをその下面で吸引・吸着する基板吸着
アーム7を、カセットにおける基板Wの積み重ね方向
(図3の紙面における表裏方向)に沿って昇降可能で、
且つ、図3に示す待機位置とカセット内に進入した取り
出し位置との間に渡って図中矢印E方向に前後動可能に
備える。
向に水平移動させて所望のカセットの正面まで移動し、
その後、当該カセットにおける所望段の基板収納溝に対
応する高さまでの基板吸着アーム7の上昇,カセット内
への基板吸着アーム7の進入,基板吸着アーム7の僅か
な上昇,基板吸着アーム7の後退,基板吸着アーム7の
降下を順次行なえば、カセットからの基板Wの取り出し
が完了する。また、この逆の手順で基板吸着アーム7を
駆動させれば、カセット内への基板Wの収納が完了す
る。
のほか、基板吸着アーム7でカセットから取り出した基
板Wを水平に支持するために、3本の支持ピン8a,8
b,8cをその基台9に昇降自在に備える。また、これ
ら各支持ピンに支持された基板Wの中心位置合わせを行
なうために、基台9の両側に位置合わせ板10を水平往
復動自在に備える。
本の案内ピン11が、基板Wの外径と略同一の曲率とな
るような配列で、それぞれ突設されている。よって、基
台9から上昇した各支持ピンにより基板Wが支持された
状態で、各位置合わせ板10を水平往復動させると、各
案内ピン11が基板Wの外周に当接・離間するため、基
板Wの中心位置合わせが完了する。
Wは、基板移送機器6により基板授受位置P(図2参
照)に移送された後、既述したプロセス処理ユニット3
付属の基板搬送機器37に受け渡され、当該ユニットに
おける回転塗布機器等に、順次、搬送されて処理され
る。そして、処理が完了した処理済み基板は、基板搬送
機器37により基板授受位置Pに返却された後、基板移
送機器6により所定のカセット内に収納される。
示すように、後述する各種基板関連情報を入力するため
カセットコントロールパネル18が、各カセット毎に設
置されている。
を検出する基板検出装置20について、図3ないし図6
を用いて説明する。図4は基板検出装置20の一部破断
正面図、図5は図4のX−X矢視断面図、図6は図5の
Y−Y矢視断面図である。
置された各カセットC1ないしC4の周囲には、カセッ
トを取り囲むコの字状のブラケット21が昇降自在に付
設されている。このブラケット21の開口部先端には、
カセット内に収納された基板Wの有無を検出する投光素
子23と受光素子22からなる光センサ24が取り付け
られている。そして、図4に示すように、これら投光素
子23及び受光素子22は、その光軸が水平方向に対し
て若干傾斜した角度(例えば、2〜3度)で配設されて
いる。
いるため、投光素子23から照射される照射光束を基板
Wの厚み以下にまで絞り込まなくても、基板Wの有無に
よって受光素子22への遮光・透光状態が確実に区別さ
れるので、基板Wの有無を精度良く検出することができ
る。
0の構成は同一であるため、基板検出装置20に関する
以下の説明においては、カセットC1に付随する基板検
出装置20について行なうこととする。
けるカセットC1の下方には、ブラケット21に一体に
取り付けられた光センサ24を、このブラケット21ご
と昇降させるための光センサ昇降機構25が設けられて
いる。この光センサ昇降機構25は、カセット設置台4
内部に位置する支持枠26に垂直方向に並設支持された
ロッドレスシリンダ27とガイド棒28とを備える。そ
して、これらに摺動自在に嵌入された可動部材29とカ
セットC1を取り囲むブラケット21とを、カセット設
置台4を貫通する板状の縦部材30を介して連結して構
成されている。
端から圧縮空気を供給してロッドレスシリンダ27内の
図示しない磁石を上下動させると、これに伴って可動部
材29が上下動することにより、光センサ24はブラケ
ット21とともにカセットC1に沿って昇降する。な
お、光センサ昇降機構25は、上述したようなロッドレ
スシリンダ27に限らず、通常のエアーシリンダや、モ
ータによるネジ送り機構等を用いて構成することもでき
る。
0が上下方向に連結されている。このピッチ部材40に
は、カセットC1における基板収納溝と同数のスリット
41が、被検出部位として上記収納溝と同一ピッチで形
成されている。そして、図4ないし図6に示すように、
支持枠26には、スリット41を取り囲むフォトインタ
ラプタ等のタイミング検出センサ42が取り付けられて
いる。よって、このタイミング検出センサ42によりピ
ッチ部材40の上下動に伴ってスリット41を検出する
とともに、光センサ24により基板Wの有無を検出する
ことで、カセットC1の何段目に基板Wが収納されてい
るかを判断できる。
ける制御系について、図7に示すブロック図を用いて説
明する。本実施例におけるこの制御系は、回転式基板処
理装置1の全体を統括制御するメインコントローラ50
のほか、そのサブコントローラとして、基板授受ユニッ
ト2を制御する基板授受ユニットコントローラ60と、
プロセス処理ユニット3を構成する各処理機器ごとのコ
ントローラである基板搬送機器コントローラ37Aと、
各回転塗布機器用の回転塗布機器コントローラ31A,
32Aと、各熱処理機器用の熱処理機器コントローラ3
3A,34A,35Aとを備え、これら各コントローラ
の集合体である制御系全体が、本発明の制御手段M1に
相当する。
行する周知のCPU51,CPUを制御する種々のプロ
グラム等を予め記憶するROM52,種々のデータを一
時的に記憶するRAM53等を中心に論理演算回路とし
て構成され、データの書き込み及びデータの保持が随時
可能で後述する多量のデータを予め記憶する記憶ディス
ク54を内蔵している。
上記CPU等とコモンバス55を介して相互に接続され
た入出力ポート56により、外部との入出力、例えば、
後述する主操作パネル5や、前記基板授受ユニットコン
トローラ60,基板搬送機器コントローラ37A,各処
理機器ごとの各種コントローラ31Aないし35A等と
の間でデータの転送を行なう。
センサ24及びタイミング検出センサ42のほか、基板
移送機器6,カセットコントロールパネル18,光セン
サ昇降機構25等と接続されている。そして、これら各
センサやカセットコントロールパネル18からの信号を
始め、当該コントローラで求めた算術演算データをメイ
ンコントローラ50に出力する。なお、カセットコント
ロールパネル18,光センサ24,タイミング検出セン
サ42,光センサ昇降機構25等は、カセット設置台4
の上面における4基のカセットC1ないしC4のそれぞ
れに備えられており、各々基板授受ユニットコントロー
ラ60に接続されている。
ントローラ37A,31Aないし35Aは、メインコン
トローラ50から指令された制御指令値や、各処理機器
に備えられた図示しないセンサからの検出信号に基づい
て、各処理機器を制御する。
37A,31Aないし35Aは、上記メインコントロー
ラ50と同様に、それぞれCPU,RAM,ROM等を
備えるが、その詳細な説明については省略する。
の基板処理手順について説明する。基板処理手順は複数
種類存在し、図8に示すように、その各々が、各基板処
理手順を特定するための手順番号数値コードと各処理機
器における制御指令値等とを対応付けて、予め記憶ディ
スク54に書き込み記憶されている。
に、各手順番号数値コードのそれぞれに関して、必要な
処理ステップごとに、各処理ステップにおける工程を表
す工程記号と、その工程を行なう処理機器と、その工程
における処理条件とに関するデータが書き込まれてい
る。
の欄の記号は、それぞれの工程名称に相当し、工程記号
ADは薬液塗布前の加熱工程を、ACは薬液塗布前の冷
却工程を、SCは薬液塗布工程を、SBは薬液塗布後の
加熱工程をそれぞれ表す。また、同一の処理ステップに
おいて複数の処理機器(処理機器1,2…)が書き込ま
れている場合(手順番号数値コード01における処理ス
テップ1の加熱処理用の熱処理機器33a,34a)
は、いずれかの処理機器で処理すれば良いことを示す。
ただし、処理機器の数値が小さいほど優先的に使用され
る。例えば、手順番号数値コード01の場合には、処理
機器1の欄の加熱処理用の熱処理機器33aが優先して
使用され、この加熱処理用の熱処理機器33aが処理中
であるとして使用できなければ、処理機器2の欄の加熱
処理用の熱処理機器34aが使用される。
程記号AD,AC,SB等から判るように薬液塗布前後
の熱処理工程であり、その処理条件欄に記載されている
ように、該当する処理機器を制御する際の処理温度や処
理時間等の制御指令値を表す数値データを備える。
工程記号SCから判るように回転処理機器を用いた薬液
塗布工程であり、薬液塗布を繰り返し行なうことから、
当該処理ステップを更に第1ステップ部分,第2ステッ
プ部分…第iステップ部分等に区分したデータを有す
る。
3は、基板を回転させつつ薬液を塗布するため、使用す
る複数種類の薬液の指定,処理回転数,回転加速度,薬
液吐出時間(吐出量)といった数多くの処理条件(制御
指令値)に基づき実行される上に、異なった薬液を使用
する回転処理を繰り返し行なう。このため、条件データ
が、他の処理より格段に多く、以下に説明するようなデ
ータ構成を備えことによって、処理条件のデータが、幾
種類か記憶できるように配慮されている。
における第1ステップ部分から第iステップ部分(同図
の左端欄に示す)ごとに、回転数a1 〜ai と、プロセ
ス時間と、薬液の種類であるケミカルデータ等の処理条
件を示すデータがそれぞれ記憶されている。なお、プロ
セス時間の欄におけるプロセス1ないしプロセス4の数
値(b1 ,c1 ,d1 ,e1 等)は、該当する第1ない
し第iステップの実行に要する時間や薬液吐出時間(吐
出量)などを表し、ケミカルデータの欄におけるC1 な
いしC8 は、使用することのできる薬液の種類を表す。
また、C1 ないしC8における16,15,10等の数
値は、薬液を特定する記号であり、数値0は、薬液の指
定がなされていないことを意味する。
基板を回転させ、この基板に薬液記号16,15,10
等の薬液を吐出する処理を行ない、第2ステップでは、
回転数a2 で基板を回転させて、薬液記号3の薬液のみ
を用いた処理を行なうことになる。
類の基板処理手順が、膨大な処理条件のデータを含んで
記録されている。なお、このような記憶ディスク54へ
のデータの書き込みは、例えば、主操作パネル5のキー
ボード5aからのデータ入力や、磁気テープ,フレキシ
ブルディスク等の記憶媒体にデータの書き込み・記憶を
行なう外部記憶装置70(図7参照)からの入出力ポー
ト56を介したデータ転送等により行なわれる。
理手順のうちからの所望の基板処理手順の選択指示は、
カセットコントロールパネル18や主操作パネル5のキ
ーボード5a等におけるキー操作により実行される。従
って、本実施例におけるカセットコントロールパネル1
8やキーボード5aが、本発明における手順特定情報入
力手段M4に相当する。なお、所望の基板処理手順を選
択指示するための上記キー操作は、手順番号数値コード
の数値をキー入力する操作である。
板授受ユニット2側で行なわれる基板授受制御(ルーチ
ン)について、図10のフローチャートに基づき説明す
る。
から取り出した基板Wをプロセス処理ユニット3に受け
渡す一連の処理を示す基板授受ルーチンのフローチャー
トである。なお、その説明に当たっては、基板授受ユニ
ット2側の基板授受ルーチンと並行してメインコントロ
ーラ50において実行されるメインルーチンの一部を示
す図11のフローチャートを援用する。
入されたときにのみ実施する図示しない初期処理、即
ち、基板授受ユニットコントローラ60におけるCPU
の内部レジスタのクリア,RAMにおける所定アドレス
への初期値のセット等を経て実行される。
に、処理すべき基板に関する種々の情報の入力がカセッ
トコントロールパネル18や主操作パネル5のスイッチ
又はテンキー等からなされたか否かを判断し(ステップ
105,以下単にステップをSと表記する)、上記種々
の情報が入力されなければ何の処理を行なうことなく当
該入力があるまで待機する。
情報(基板関連情報)とは、基板を収納したカセットC
1ないしC4のうちどのカセットの基板を処理するのか
という処理カセット(収納元カセット)の指示や、複数
の収納元カセットの基板を処理する場合にはカセット単
位の処理順序の指示といったカセット単位の情報や、カ
セットから取り出した基板の移送モードの区別(処理済
み基板を元のカセットと同一のカセットに収納する移送
モード又は処理済み基板を元のカセットと異なるカセッ
トに収納する移送モードの区別)のほか、次のような基
板単位の情報を含んでいる。即ち、この基板単位の情報
は、未処理基板がプロセス処理ユニット3にて処理され
た後に収納される収納先カセットの区別と、プロセス処
理ユニット3における基板処理手順を特定するに足りる
最低限のデータである既述した手順番号数値コードとを
含む情報である。つまり、上記基板関連情報は、基板処
理手順に関しては、基板処理手順そのもの、即ち図8や
図9に示すような詳細なデータそのものではなく、手順
番号数値コードを含むに過ぎない。
に、どのカセットの基板を処理するのかといった指示を
含むものであることから、基板から見れば収納されてい
たカセットを区分する情報であり、本発明におけるカセ
ット情報に相当する。また、手順番号数値コードは、本
発明における手順特定情報に相当する。
は、処理すべき基板を収納した処理カセットを指示する
ためのスイッチ等の操作がなされた順に応じて決定す
る。また、上記収納先カセットのカセット番号の指定
は、例えばカセットC1内の未処理基板を処理完了後に
カセットC3のカセットに収納するというように、収納
元カセットと収納先カセットとを対応付けて行なわれ
る。従って、基板関連情報のうち移送モード情報とし
て、処理済み基板を元のカセットと同一のカセットに収
納する移送モード(以下、この移送モードをカセット同
一移送モードという)の入力があれば、収納先カセット
と収納元カセットとは同一となるので、収納先カセット
のカセット番号の入力は必要としない。つまり、収納先
カセットのカセット番号の入力は、移送モード情報とし
て処理済み基板を元のカセットと異なるカセットに収納
する移送モード(以下、この移送モードをカセット独立
移送モードという)が入力されたときにのみ実行され
る。なお、電源投入時には、上記二つの移送モードのう
ち、予め指示された一方の移送モードが自動的に設定さ
れる。
番号数値コードの選択指定は、カセット個々或はカセッ
ト内の基板個々のいずれかを単位として行なわれる。つ
まり、同一カセット内の総ての基板について同一の手順
番号数値コードを指定したり、同一カセット内の基板で
あっても異なる手順番号数値コードを指定したりするこ
とができる。そして、カセットコントロールパネル18
のキー操作を介して入力された手順番号数値コードは、
基板授受ユニットコントローラ60の入出力ポートを介
してメインコントローラ50に出力される。
カセットコントロールパネル18やキーボード5aは、
本発明におけるカセット情報入力手段M3や手順特定情
報入力手段M4に相当する。
判断(S105)すると、次に、基板への回転処理の開
始が指示されたか否かを、オペレータによるカセットコ
ントロールパネル18やキーボード5aの所定操作の有
無に基づき判断する(S106)。ここで、上記所定操
作がなされるまで何の処理をすることなく待機する。そ
して、所定操作がなされて基板への回転処理の開始が指
示されたと判断すれば、基板関連情報の一つとしてS1
05にて指示された収納元カセットについて基板検出を
実行する(S110)。
出力して、図4,図5に示すようにカセットの最下端の
初期位置に位置する光センサ24を、カセット下端から
上端に向けて連続的に上昇させる。そして、光センサ2
4に伴って上昇するピッチ部材40のスリット41の通
過状態をタイミング検出センサ42により検出しつつ、
光センサ24によって基板Wの有無を一括して走査す
る。これにより、カセットの基板収納溝毎に基板有無が
検出される。
の基板有無の検出結果と入力した基板関連情報とに基づ
いてカセットにおける基板Wの収納状況を把握して、図
12に示すような後述する基板収納状況データを作成す
るとともに、これを基板授受ユニットコントローラ60
内のRAM又はバックアップRAMに記憶する(S11
5)。そして、この基板収納状況データの記憶に当たっ
ては、所定番地のアドレスからカセット毎の基板収納溝
に対応して順次記憶する。
に、もれなく基板が収納された場合に備えて、各カセッ
トの基板収納溝における基板個々についてデータを記憶
できるよう、上記アドレスの総数は、上記所定番地から
十分確保されている。具体的には、本実施例において使
用する各カセットはそれぞれ26段の基板収納溝を備え
ていることから、4×26(104)のアドレス総数が
用意されている。そして、これに限らず、基板収納溝の
段数に応じたアドレス総数を用意すればよいことは勿論
である。また、データを書き込む最初のアドレスは、書
込開始アドレス(AA1 )として予め設定されている。
連情報がカセットC1とC2の処理カセット(収納元カ
セット),カセットC2・C1の順の処理順序,カセッ
ト独立移送モードの移送モード,収納元カセットC1に
対応する収納先カセットC3,収納元カセットC2に対
応する収納先カセットC4等であると、カセットC1,
C2についてこの順に(カセットCの数値が小さい順
に)基板検出を実行し(S110)、図12に示すよう
なデータを基板収納状況として作成・記憶する(S11
5)。この場合、上記書込開始アドレス(AA1 )は、
最初に基板有無を検出するカセットC1の最下段の基板
収納溝に対応し、この溝の基板に関するデータがアドレ
スAA1 領域に書き込まれる。そして、アドレスAA2
領域には、カセットC1の最下段から2段目の基板収納
溝の基板に関するデータが書き込まれる。また、収納先
カセットNo.のデータとしては、カセットC1,C2
に対応して指示された空のカセットC3,C4が書き込
まれる。
納元カセットのカセット番号(収納元カセットNo.)
と、そのカセットにおける最下段の基板収納溝から数え
て何段目の基板収納溝であることに相当する溝番号と、
カセット単位の搬送順序(処理順序)と、基板有無検出
結果(基板ありの場合は「1」,基板なしの場合は
「0」)と、収納先カセットのカセット番号(収納先カ
セットNo.)とが書き込まれる。そして、図12の基
板収納状況データからは、カセットC1の下から3段目
の基板収納溝に基板が無いので、処理すべき基板の総数
がカセットC1(25枚)とカセットC2(26枚)と
で51枚であることが判る。
トは、カセットC1,C2であるので、アドレスAC1
以降にはデータが書き込まれない。勿論、カセットC1
〜C4の総てのカセットが処理すべき基板を収納した収
納元カセットであり、これら総てのカセットについて処
理するよう基板関連情報を入力した場合には、アドレス
AC1 以降にもデータが書き込まれる。
を記憶した後には、引き続いて基板関連情報とS110
で検出された基板検出結果とを、即ち基板収納状況デー
タをメインコントローラ50へ出力し、メインコントロ
ーラ50から、後述する基板移送の開始を許可する旨の
基板移送許可指令信号又は基板移送を禁止する旨の基板
移送禁止指令信号のどちらかからなる移送指令信号が入
力されるまで待機する(S120)。そして、移送指令
信号がメインコントローラ50から入力されたら、それ
が基板移送許可信号か基板移送禁止指令信号のどちらで
あるかに基づいて、基板移送の開始可否の判断を行なう
(S130)。
ければ、基板授受ユニットコントローラ60では、S1
30にて基板移送開始を禁止されたと判断し、前記した
S105へ移行する。なお、この際、ディスプレイ5b
等に基板関連情報を再検討する旨の警告文等を適宜表示
し、基板関連情報等の不備が解消するまでS105の処
理を待機する。一方、基板移送開始指令信号の入力を受
ければ、実際に基板を移送すべくS135以降の処理に
移行する。
ルーチンの上記S130の処理やそれ以降の処理の理解
を助けるために、メインコントローラ50において実行
されているメインルーチンの一部についての説明を必要
に応じて行なうこととする。
50では、基板授受ルーチンからの基板収納状況データ
の入力を受けて、メインルーチンにおけるS200に
て、基板関連情報等をチェックする。つまり、入力した
基板関連情報に何らかの不都合がないか、或いは、プロ
セス処理ユニット3の各処理機器から何らかの異常の報
知を受けていないか、その他諸々を確認することによ
り、基板の回転処理を開始できる態勢が整っているか否
かを判断する。なお、基板関連情報に不都合がある場合
の例としては、収納元カセット(カセットC1,C2)
に関してカセットコントロールパネル18等から予め入
力された手順番号数値コードに対応する基板処理手順
が、その手順における各処理条件データにデータの未入
力があるまま記憶ディスク54に記憶されている場合な
どがある。また、処理機器から何らかの異常の報知を受
けている場合の例としては、例えばセンサ不良により熱
処理機器の温度制御ができない場合などがある。
クの結果、何らかの不備がある場合には、収納元カセッ
トからプロセス処理ユニット3へ基板を供給する基板移
送に支障があるとして、基板移送を禁止する旨の基板移
送禁止指令信号を基板授受ユニットコントローラ60へ
出力し(S220)、その後、基板授受ルーチンにおい
ては、既述したように、S130でこの基板移送禁止指
令信号の入力を受けて基板の移送を行なわないと判断す
る。
備もなく、基板処理が可能の場合には、メインコントロ
ーラ50では、基板授受ユニットコントローラ60から
入力を受けた基板収納状況データに基づいて、S110
で検出された基板毎に、基板を区別するために新たに付
与した基板情報と、収納元カセットNo.,収納先カセ
ットNo.といったカセット単位の情報(カセット情
報)と、基板に施す基板処理手順を特定するためにカセ
ットコントロールパネル18等から収納元カセットごと
に予め入力された手順番号数値コードとを対応付けた、
図13に示すような基板データを作成し、これを記憶デ
ィスク54に記憶する(S205)。なお、基板データ
をRAM53に記憶してもよいことは勿論である。
転式基板処理装置1において電源が投入されて遮断され
るまでに渡って処理する総ての未処理基板を、個々に区
別する情報であり、電源投入直後の基板授受ルーチンで
収納元カセット内に基板有りとされた最初の検出基板を
「1」とし、各検出基板に対して通し番号が付与され
る。本基板授受ルーチンが電源投入直後のものであれ
ば、この基板授受ルーチンのS115,S120により
今回処理すべき基板の総数はカセットC1,C2の合計
で51枚であることから、これら処理すべき基板の個々
に対して、基板有無検出順に「1」から「51」までの
基板情報が付与される。そして、2度目以降の基板授受
ルーチンが実行される場合には、メインルーチンのS2
05にて、「52」以降の基板情報が付与される。
タの書き込みに際しては、予め設定された書込開始アド
レス(W1 )から実施される。
におけるメインルーチン側で基板毎の基板データの作成
・記憶が完了すると、メインコントローラ50は、プロ
セス処理ユニット3の各処理機器へ、図8及び図9に示
す基板処理手順の詳細な条件やデータのうち基板データ
における手順番号数値コードで特定された基板処理手順
に関する詳細な条件やデータを転送する(S210)。
そして、このデータ転送は、次のようになされる。つま
り、メインルーチンにおける図示しない処理ステップに
おいて、プロセス処理ユニット3において回転処理され
る基板に対する手順番号数値コードの切り替わり時期を
算出し、この手順番号数値コードの切り替わりタイミン
グの都度、データ転送を行なう。
2,C1の順に基板を回転処理し、図13に示すように
カセットC2の基板について手順番号数値コード「2
8」が付与されている場合には、収納元カセットNo.
がC2で溝番号が1の基板をプロセス処理ユニット3に
供給する際に、手順番号数値コード「28」で特定され
た基板処理手順に関する詳細な条件やデータが、この基
板移送に先立って転送される。また、カセットC1の基
板について手順番号数値コード「01」が付与されてい
る場合には、手順番号数値コード「01」で特定された
基板処理手順に関する詳細な条件やデータが基板移送に
先立って転送される。
セス処理ユニット3における各処理機器の制御状態に関
する報告を各処理機器毎のコントローラから受けること
によって、各処理機器が基板処理可能な状態(熱処理機
器における温度制御完了等)にあるか否かを判断し(S
215)、プロセス処理ユニット3の各処理機器へ転送
した手順番号数値コードで特定される基板処理手順に該
当する総ての処理機器が基板処理可能と判断するまで待
機する。しかる後、上記総ての処理機器が基板処理可能
な状態となれば、収納元カセットからプロセス処理ユニ
ット3へ基板を供給して基板処理が開始できるとして、
基板移送の開始を許可する旨の基板移送許可指令信号を
基板授受ユニットコントローラ60へ出力する(S22
5)。
ーラ60が基板移送許可指令信号の入力を受けると、基
板授受ユニット2における基板授受ルーチン側では、S
130にて基板移送が開始できると判断し、S135以
降の処理を実施する。つまり、S135以降の処理によ
り、収納元カセットからプロセス処理ユニット3への未
処理基板の供給、或は、処理済み基板を収納先カセット
内に収納するためのプロセス処理ユニット3からカセッ
トへの基板の収納のいずれか一方を開始する。
130に続くS135にて、未処理基板の供給又は処理
済み基板の収納の何れを行なうべきかを、メインコント
ローラ50からの基板収納指令信号(プロセス処理ユニ
ット3の基板搬送機器37より基板を受け取ってカセッ
トへ収納する旨の指令信号)の入力有無に基づき判断す
る。
板収納指令信号が未入力であれば未処理基板の供給を開
始すると判断してS140以降の処理を実行し、基板収
納指令信号が入力済みであれば処理済み基板の収納を実
行すると判断して後述するS136以降の処理を実行す
る。
した場合には、プロセス処理ユニット3への未処理基板
の供給を実際に実行するか否かを、メインコントローラ
50からの基板供給実行指令信号の入力有無に基づいて
判断する(S140)。そして、この基板供給実行指令
信号の入力がなければS135に移行し、当該指令信号
を入力すれば未処理基板の供給を実行すべく後述するS
141に移行する。
S215にて総ての処理機器が基板処理可能な状態であ
ると判断され未処理基板の供給を開始できる場合であっ
ても、未処理基板の供給を実行するタイミングは、メイ
ンコントローラ50から入力を受ける基板供給実行指令
信号により決定される。
ンルーチンにおけるS215以降の処理ステップにて、
プロセス処理ユニット3における各処理機器での基板処
理状態から未処理基板を新たにプロセス処理ユニット3
に供給できるか否かを判断し、その判断結果に基づいて
メインコントローラ50から基板授受ユニットコントロ
ーラ60へ出力される。例えば、メインルーチンのS2
10にてプロセス処理ユニット3の各処理機器へ転送し
た基板処理手順に該当する総ての処理機器において基板
処理中であれば、未処理基板をプロセス処理ユニット3
に供給できる状態ではないと判断され基板供給実行指令
信号は出力されない。
号の入力に基づき未処理基板の供給実行を判断すると、
基板移送機器6に制御信号を出力してこれを駆動し、カ
セットからの基板の取り出し,取り出した基板の基板授
受位置Pへの移送,並びに位置合わせ板10による基板
Wの中心位置合わせ等を順次実行し、未処理基板の供給
移送を行なう(S141)。
は、S115で記憶したカセット毎の基板収納状況デー
タを参照して、基板移送機器6を駆動制御する。具体的
には、カセット単位の処理順序に従ったカセット順(カ
セットC2,C1の順(図12))にそのカセット内の
基板Wを取り出しに行く。更に、各カセットにおいて
は、基板有りとされた基板収納溝のみに対応させて基板
吸着アーム7を進入させるとともに、基板有りとされた
基板収納溝のうちの最下段の基板収納溝から順次基板を
取り出しに行く。
ないセンサ等からの検出信号により、カセットから基板
授受位置Pまでの基板移送が完了したか否かを判断し
(S142)、上記検出信号を入力するまで、即ち基板
授受位置Pまでの基板移送が完了するまで待機する。基
板授受ユニットコントローラ60がセンサ等からの検出
信号を入力すれば、基板授受位置Pまでの1枚の基板の
移送が完了したとして、その旨の信号である移送完了信
号をメインコントローラ50に出力する(S143)。
記移送完了信号の入力を受けたメインコントローラ50
からの指示によって、基板授受位置Pからの基板の受け
取り並びに熱処理機器等への基板搬送を実行する。即
ち、基板授受位置P手前で待機しているプロセス処理ユ
ニット3の基板搬送機器37を制御して、処理済み基板
を支持していない方の基板支持アーム37a又は37b
をヘッド39から迫り出させ、基板授受位置Pから未処
理基板を受け取る。そして、受け渡されるべき基板毎に
メインルーチンのS205で作成された基板データにお
ける手順番号数値コードで特定される基板処理手順に従
って基板搬送機器37を駆動制御し、当該基板処理手順
に該当する各処理機器に基板を順次搬送する。
1枚の基板の移送が完了した旨の移送完了信号をメイン
コントローラ50に出力した後には、当該1枚の基板に
引き続いてプロセス処理ユニット3へ供給すべき供給対
象基板(S110にて基板有りとされた総ての未処理基
板)が残存しいるか否かを判断する(S145)。そし
て、供給対象基板が有ると判断すれば、引き続き基板供
給を行なうべくS135に移行し、供給対象基板が無い
と判断すれば、後述するS150に移行する。
理ユニット3へ供給されるまで、上記S135,S14
0,S141,S142,S143,S145からなる
一連の基板供給ループの処理を繰り返し行なうことで、
メインコントローラ50からの基板収納指令信号が未入
力の間に渡って、メインコントローラ50からの基板供
給実行指令信号の出力タイミングで未処理基板が1枚ず
つプロセス処理ユニット3へ供給される。
の有無の判断は、メインコントローラ50から出力され
る基板供給完了信号の入力有無に基づき下される。この
基板供給完了信号は、S205で記憶した基板データに
おける処理対象基板枚数の基板が総てプロセス処理ユニ
ット3へ供給されたことを表す信号であり、上記処理対
象基板枚数とプロセス処理ユニット3における処理完了
基板枚数とを照合するメインルーチンにおけるS215
以降の処理ステップにて出力される。
理を繰り返し実施して次々と未処理基板を供給する間
に、未処理基板がプロセス処理ユニット3の各処理機器
を一巡して一連の回転処理が完了し、基板搬送機器37
によって処理済み基板が基板授受位置Pへ搬送(返送)
されて来ると、処理済み基板を収納先カセット内に収納
すべく、メインコントローラ50から基板授受ユニット
コントローラ60に基板収納指令信号が出される。
給実行指令信号と同様、メインルーチンにおけるS21
5以降の処理ステップにて、基板授受位置Pへの処理済
み基板の搬送終了の判断に基づき出力される。
基板授受ユニットコントローラ60は、S135にて基
板収納指令信号の入力に基づき収納先カセットへの処理
済み基板の収納を実行すべくS136へ進み、基板移送
機器6を介して処理済み基板をカセットへ収納する。つ
まり、基板移送機器6に制御信号を出力してこれを駆動
し、位置合わせ板10による処理済み基板の中心位置合
わせ,基板授受位置Pから収納先カセット手前までの移
送,収納先カセットへの基板収納等を順次実行し、処理
済み基板の収納移送を1枚ずつ行なう(S136)。こ
の1枚の処理済み基板の収納移送が完了すると、S13
5に移行して、既述したように、未処理基板の供給又は
処理済み基板の収納の何れを行なうべきかの判断を、メ
インコントローラ50からの基板収納指令信号の入力有
無に基づき繰り返し実行する。
5において作成・記憶した基板収納状況データに基づい
て、基板授受位置Pへ返送基板順に、予め設定入力した
処理済み基板の収納先カセットの所定の段の収納溝に対
して行なわれる。
み基板の収納のいずれかを、メインコントローラ50か
らの基板収納指令信号の入力状況に応じて繰り返し実行
している間に、S145にてプロセス処理ユニット3へ
供給すべき供給対象基板が総てプロセス処理ユニット3
に供給されたと判断すれば、次のS150へ移行する。
で回転処理を指示した総ての基板(カセットC1,C2
内の基板)がプロセス処理ユニット3の各処理機器で回
転処理され、処理済みの総ての基板が基板授受ユニット
2の収納先カセットへ収納されたか否かを判断する。そ
して、総ての処理済み基板が収納先カセットへ収納され
ていないと判断すれば先のS135へ移行し、総ての処
理済み基板について収納先カセットへの収納が完了した
と判断すれば本基板受渡しルーチンを終了する。
み基板についての収納完了の判断は、やはり、メインル
ーチンにおけるS215以降の処理ステップにてメイン
コントローラ50から既述した基板供給実行指令信号と
同様にして出力される収納完了信号の入力有無に基づき
下される。
処理装置1は、基板授受ユニット2からプロセス処理ユ
ニット3に未処理基板を受け渡すに当たって、処理すべ
き基板に関する種々の情報(基板関連情報)の入力を受
けると、まず、収納元カセットの各段の基板収納溝にお
ける基板有無を一括して走査・検出し、この基板有無の
結果を収納元カセットの各段の基板収納溝に対応付けた
基板収納状況データを作成・記憶する。このため、基板
移送機器6が基板授受ユニット2の収納元カセットから
基板を取り出す際に、基板収納状況データに基づいて基
板移送機器6を制御することにより、収納元カセット内
にて基板が存在している段の基板収納溝に対してのみ、
基板の取り出し作業を行なう。この結果、収納元カセッ
トにおける基板が存在しない段の基板収納溝への基板取
り出しが基板授受ユニット2側で事前に回避されること
になるので、プロセス処理ユニット3の側では、基板の
受け取りを無駄に待たされることが解消され、基板の回
転処理効率を向上させることができる。
は、基板授受ユニット2側の収納元カセットからプロセ
ス処理ユニット3への基板の移送に先立って、メインコ
ントローラ50にて基板データを作成・記憶する。こう
して作成される基板データは、設定入力された基板関連
情報に基づいて、収納元カセット内で検出された基板毎
に、基板が収納されていたカセット(収納元カセット)
を区別するカセット情報と、基板処理手順を特定する手
順番号数値コードとを対応付けたデータである。しか
も、プロセス処理ユニット3では、所望する基板処理手
順に関する詳細な回転処理条件データのデータ転送を、
基板授受ユニット2から未処理基板の供給を受ける度に
基板授受ユニット2側から受けるわけではない。つま
り、プロセス処理ユニット3では、このデータ転送を、
メインコントローラ50が前記基板データにおける手順
番号数値コードに基づく基板処理手順の切り替わりを判
断する都度、メインコントローラ50から受けるに過ぎ
ない。そして、プロセス処理ユニット3は、メインコン
トローラ50からデータ転送を受けた基板処理手順に関
する詳細な回転処理条件データに基づいて回転処理を基
板に施し、この回転処理を、メインコントローラ50か
らのデータ転送の内容が切り替わるまで、即ち新たな基
板処理手順に関する詳細な回転処理条件データのデータ
転送を受けるまで継続する。
ス処理ユニット3への基板の移送に際して、供給対象基
板である未処理基板と共に、その基板の基板処理手順を
プロセス処理ユニット3へデータ転送する必要がなくな
るので、基板授受ユニットコントローラ60では、基板
処理手順に関する膨大なデータを転送するための制御が
不要となる。この結果、基板移送機器6に関わる制御負
荷が著しく軽減される。
理条件データのメインコントローラ50からプロセス処
理ユニット3へのデータ転送を、手順番号数値コードに
基づく基板処理手順の切り替わりの都度行なえばよいこ
とから、メインコントローラ50における上記データ転
送の頻度も少なくなり、メインコントローラ50の負荷
も軽減される。
するための手順番号数値コードを指定する際に、同一カ
セット内の基板であっても異なる手順番号数値コードを
指定したりすることができるよう構成したので、同一カ
セット内の基板について異なる基板処理処理を実施でき
る。よって、複数の基板処理手順毎の処理基板数が少な
い場合には、使用するカセットの数を削減しつつ複数の
基板処理手順による基板処理を可能とし、使い勝手が向
上する。例えば、一つのカセット内の所定数の基板と残
りの枚数の基板とについて、異なる基板処理手順で処理
することができる。
処理装置は、基板処理手順に基づいて複数の処理機器に
より基板を処理するに当たって、基板の受け渡し開始が
指示されると、まず、未処理基板を収納した収納元カセ
ットの各段における基板有無を検出し、その検出結果と
未処理基板収納カセットを区別するカセット情報を含む
基板収納状況データを作成・記憶する。そして、未処理
基板収納カセットから基板を取り出す際に、この基板収
納状況データに基づいて、未処理基板収納カセット内に
て基板が存在している段に対してのみ基板の取り出し作
業を行なう。
よれば、未処理基板収納カセットにおいて基板が存在し
ない段に対する基板の取り出しを回避でき、基板処理部
に対する基板受け渡しロスをなくすことができる。この
結果、基板処理部が移送されてきた基板を受け取るため
に無駄に待機する必要がなくなり、基板の回転処理効率
を向上させることができる。
板供給部から基板処理部へ未処理基板を供給する基板供
給移送の実施に先立って、未処理基板収納カセット内で
基板有りとされた未処理基板毎に、基板を区別する基板
情報とカセット情報と手順特定情報とを対応つけた基板
データを予め作成・記憶する。そして、この基板データ
と、手順特定情報を介して特定した基板処理手順とに基
づいて、基板処理部における各処理機器を駆動制御し基
板を回転処理する。従って、基板供給部から基板処理部
への基板供給移送を行なう際に、未処理基板の移送する
ための基板移送機器の駆動制御を、移送される未処理基
板に関する基板処理手順等のデータ転送制御と別個に独
立して行なうことができるので、基板供給移送に関わる
制御負荷を極めて軽減できる。
するブロック図。
断して示す平面図。
おける基板検出装置20の一部破断正面図。
インコントローラ50を中心とした制御系のブロック
図。
器が行なう回転基板処理の基板処理手順を説明するため
の説明図。
ための説明図。
ット2が行なう基板授受ルーチンを示すフローチャー
ト。
トローラ50において実行されるメインルーチンの一部
を示す図11のフローチャート。
めの説明図。
の説明図。
Claims (1)
- 【請求項1】 所要の処理液を用いて基板に回転処理を
施す回転処理機器を始めとする複数の基板処理用の処理
機器を有する基板処理部と、未処理基板を多段に収納し
た未処理基板収納カセットからの未処理基板の取り出し
と、前記未処理基板収納カセットと前記基板処理部との
間における基板移送とを行なう基板移送機器を有する基
板供給部と、複数の基板処理手順から選ばれた基板処理
手順に基づいて、前記基板移送機器と前記基板処理部に
おける複数の基板処理用の各処理機器を駆動制御する制
御手段とを備え、前記基板移送機器により前記未処理基
板収納カセットから前記基板処理部に未処理基板を移送
し、前記複数の基板処理用の処理機器により未処理基板
を回転処理する回転式基板処理装置であって、前記未処
理基板収納カセットの各段における基板の有無を検出す
る検出手段と、前記未処理基板収納カセットをカセット
毎に区別するカセット情報を入力するカセット情報入力
手段と、前記制御手段が前記基板処理部を制御する際の
基板処理手順を特定するための手順特定情報を入力する
手順特定情報入力手段とを備え、更に前記制御手段は、
前記基板移送機器により前記未処理基板収納カセットか
ら取り出した未処理基板を前記基板処理部へ移送する基
板供給移送に先立って、前記検出手段を駆動し、前記未
処理基板収納カセットの各段毎に前記検出手段が検出し
た基板の有無状況と前記入力されたカセット情報とを含
む基板収納状況データを、作成及び記憶する基板収納状
況記憶部と、前記基板供給移送に先立って前記検出手段
が検出した基板毎に、基板を個々に区別する基板情報
と、前記入力されたカセット情報と、前記入力された手
順特定情報とを含む基板データを、作成及び記憶する基
板データ記憶部と、前記基板収納状況記憶部の記憶した
基板収納状況データに基づいて前記基板移送機器を駆動
制御し、前記基板供給移送を行なう供給移送制御部と、
前記基板データ記憶部の記憶した基板データと、該基板
データにおける前記手順特定情報に応じて特定した基板
処理手順とに基づいて、前記基板処理部における複数の
基板処理用の各処理機器を駆動制御する基板処理制御部
とを備えることを特徴とする回転式基板処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3089690A JP2598720B2 (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 回転式基板処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP3089690A JP2598720B2 (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 回転式基板処理装置 |
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---|---|
JPH04299551A JPH04299551A (ja) | 1992-10-22 |
JP2598720B2 true JP2598720B2 (ja) | 1997-04-09 |
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Family Applications (1)
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---|---|---|---|---|
JP4932778B2 (ja) * | 2008-04-18 | 2012-05-16 | 株式会社日立国際電気 | 固体デバイス製造装置、固体デバイスの製造方法、固体デバイス製造装置の基板搬送方法、固体デバイス製造装置のレシピ制御方法、レシピ転送方法、表示方法、制御方法及びレシピ作成方法 |
JP2012080107A (ja) * | 2011-11-08 | 2012-04-19 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 固体デバイス製造装置、固体デバイスの製造方法、固体デバイス製造装置の基板搬送方法及びレシピ作成方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02132840A (ja) * | 1988-02-12 | 1990-05-22 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置及びレジスト処理装置及び処理方法及びレジスト処理方法 |
JPH02155251A (ja) * | 1988-12-07 | 1990-06-14 | Tokyo Electron Ltd | 半導体製造装置 |
JPH0342429A (ja) * | 1989-07-08 | 1991-02-22 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板の収納・取り出し管理システム |
-
1991
- 1991-03-27 JP JP3089690A patent/JP2598720B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
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JPH02132840A (ja) * | 1988-02-12 | 1990-05-22 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置及びレジスト処理装置及び処理方法及びレジスト処理方法 |
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JPH0342429A (ja) * | 1989-07-08 | 1991-02-22 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板の収納・取り出し管理システム |
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JPH04299551A (ja) | 1992-10-22 |
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