JP2768477B2 - 電熱的な原子化のためのるつぼ並びにグラファイト製の原子化のためのるつぼ - Google Patents
電熱的な原子化のためのるつぼ並びにグラファイト製の原子化のためのるつぼInfo
- Publication number
- JP2768477B2 JP2768477B2 JP63318724A JP31872488A JP2768477B2 JP 2768477 B2 JP2768477 B2 JP 2768477B2 JP 63318724 A JP63318724 A JP 63318724A JP 31872488 A JP31872488 A JP 31872488A JP 2768477 B2 JP2768477 B2 JP 2768477B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crucible
- web
- sample
- hollow
- plane
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/74—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using flameless atomising, e.g. graphite furnaces
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B3/00—Ohmic-resistance heating
- H05B3/0014—Devices wherein the heating current flows through particular resistances
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Geology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Crucibles And Fluidized-Bed Furnaces (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は原子吸光分光分析器に関し、特に原子吸光分
光分析器内のサンプルの電熱的な原子化のためのるつぼ
に関する。
光分析器内のサンプルの電熱的な原子化のためのるつぼ
に関する。
原子吸光分光分析器はサンプル中の被検エレメントの
量または濃度の決定のための分析法である。サンプルは
原子化されて、「原子雲」内の原子状態にされる。被検
エレメントの共鳴スペクトル線を有する光源からの測定
光線が原子雲を通過する。サンプル中の被検エレメント
の濃度は原子雲内での測定光線の減光を、濃度の知られ
ている試薬により検量した後に決定される。
量または濃度の決定のための分析法である。サンプルは
原子化されて、「原子雲」内の原子状態にされる。被検
エレメントの共鳴スペクトル線を有する光源からの測定
光線が原子雲を通過する。サンプル中の被検エレメント
の濃度は原子雲内での測定光線の減光を、濃度の知られ
ている試薬により検量した後に決定される。
サンプルの電熱的な原子化は高感度測定のために有利
である。電熱的な原子化では、サンプルの原子化及び原
子雲の発生が電気的に加熱されたるつぼ内で行われる。
一般にこのるつぼは、高電流によつて加熱されたグラフ
アイトチユーブアトマイザに関して適当に形成したグラ
フアイト体から成る。サンプルはこのるつぼ内に挿入さ
れ、るつぼはそこを流れる電流によつて高温に加熱され
る。その場合、サンプルはまず乾燥され、次いで粉砕さ
れ、最終的に原子化される。これにより、被検エレメン
トを原子状態で含む「原子雲」がるつぼ内に形成され
る。このるつぼを測定光線が通過する。
である。電熱的な原子化では、サンプルの原子化及び原
子雲の発生が電気的に加熱されたるつぼ内で行われる。
一般にこのるつぼは、高電流によつて加熱されたグラフ
アイトチユーブアトマイザに関して適当に形成したグラ
フアイト体から成る。サンプルはこのるつぼ内に挿入さ
れ、るつぼはそこを流れる電流によつて高温に加熱され
る。その場合、サンプルはまず乾燥され、次いで粉砕さ
れ、最終的に原子化される。これにより、被検エレメン
トを原子状態で含む「原子雲」がるつぼ内に形成され
る。このるつぼを測定光線が通過する。
一般に、このるつぼはグラフアイトから成る小径のチ
ユーブから成り、チユーブは２つの環状のコンタクト間
に保持される。高電流が両コンタクトを介してチユーブ
内をその長手方向に流れる。これによりチユーブが高温
に加熱される。稼働中、サンプルが側方のインレットポ
ートからチユーブ内へ挿入され、チユーブが加熱され終
るとサンプルが原子化される。測定光線が環状のコンタ
クトを通してチユーブの孔をその長手方向に通過する。
グラフアイトチユーブは内側及び外側で不活性ガスによ
つて取囲まれる。不活性ガスはチユーブを大気酸素との
接触から保護する。この種のグラフアイトチユーブアト
マイザは米国特許第3,778,156号明細書及び同第4.098,5
54号明細書に開示されている。
ユーブから成り、チユーブは２つの環状のコンタクト間
に保持される。高電流が両コンタクトを介してチユーブ
内をその長手方向に流れる。これによりチユーブが高温
に加熱される。稼働中、サンプルが側方のインレットポ
ートからチユーブ内へ挿入され、チユーブが加熱され終
るとサンプルが原子化される。測定光線が環状のコンタ
クトを通してチユーブの孔をその長手方向に通過する。
グラフアイトチユーブは内側及び外側で不活性ガスによ
つて取囲まれる。不活性ガスはチユーブを大気酸素との
接触から保護する。この種のグラフアイトチユーブアト
マイザは米国特許第3,778,156号明細書及び同第4.098,5
54号明細書に開示されている。
米国特許第4,111,563号明細書に開示されたグラフア
イトチユーブアトマイザでは、チユーブ状のインナボデ
イが環状のるつぼ内の中央領域内に配置されており、こ
の環状のるつぼは両端で開いておりチユーブ状のインナ
ボデイはこの環状のるつぼに比して著しく短い。インナ
ボデイは同軸的にるつぼ体内に配置されて、るつぼ体の
中央領域のみを通つて延びている。側方のインレツトポ
ートはるつぼ体の中央に位置してインナボデイのインレ
ツトポートと整合している。インナボデイは縦方向で延
びるウエブによつてるつぼ体に結合されており、ウエブ
はインレツトポートに対する垂直な縦平面内で延びてい
る。
イトチユーブアトマイザでは、チユーブ状のインナボデ
イが環状のるつぼ内の中央領域内に配置されており、こ
の環状のるつぼは両端で開いておりチユーブ状のインナ
ボデイはこの環状のるつぼに比して著しく短い。インナ
ボデイは同軸的にるつぼ体内に配置されて、るつぼ体の
中央領域のみを通つて延びている。側方のインレツトポ
ートはるつぼ体の中央に位置してインナボデイのインレ
ツトポートと整合している。インナボデイは縦方向で延
びるウエブによつてるつぼ体に結合されており、ウエブ
はインレツトポートに対する垂直な縦平面内で延びてい
る。
このるつぼはグラフアイトチューブの内壁に液状のサ
ンプルを妨げなく広範囲に噴霧するゆえに測定誤差を削
減する。しかし液体がるつぼの比較的冷たい端部に達す
ると、不完全な蒸発しか生ぜず、サンプルはるつぼ内に
残つて他のサンプルの引続く測定の妨げとなる。さら
に、この構成は内壁内への液状サンプルの浸透を妨げ、
多孔性のグラフアイト内へのサンプル液の浸透によつて
生じるサンプル損失を妨げる。
ンプルを妨げなく広範囲に噴霧するゆえに測定誤差を削
減する。しかし液体がるつぼの比較的冷たい端部に達す
ると、不完全な蒸発しか生ぜず、サンプルはるつぼ内に
残つて他のサンプルの引続く測定の妨げとなる。さら
に、この構成は内壁内への液状サンプルの浸透を妨げ、
多孔性のグラフアイト内へのサンプル液の浸透によつて
生じるサンプル損失を妨げる。
サンプルの原子化をるつぼ壁の加熱に対して遅らせる
のが望まれる。原子化を適当に遅らせることにより、原
子化されたサンプルの成分が、比較的冷えた壁部分上に
沈殿せず、かつサンプルは強い吸収信号を生じるべく可
能な限り急激に原子化される。Ｌ′vovの刊行物「Spect
rochimica Acta」第338号、153193によれば、ピロリテ
イックグラフアイトから成る一般に方形のプラツトフオ
ームが公知であり、これがグラフアイトチユーブとして
形成されたるつぼ体に挿入される。グラフアイトチユー
ブ壁との接触を軽減するために、プラツトフオームの長
手縁に沿つて切欠が設けられている。その結果、サンプ
ルはるつぼの内壁の放射によつてほぼ間接的に加熱され
る。
のが望まれる。原子化を適当に遅らせることにより、原
子化されたサンプルの成分が、比較的冷えた壁部分上に
沈殿せず、かつサンプルは強い吸収信号を生じるべく可
能な限り急激に原子化される。Ｌ′vovの刊行物「Spect
rochimica Acta」第338号、153193によれば、ピロリテ
イックグラフアイトから成る一般に方形のプラツトフオ
ームが公知であり、これがグラフアイトチユーブとして
形成されたるつぼ体に挿入される。グラフアイトチユー
ブ壁との接触を軽減するために、プラツトフオームの長
手縁に沿つて切欠が設けられている。その結果、サンプ
ルはるつぼの内壁の放射によつてほぼ間接的に加熱され
る。
米国特許第4,303,339号明細書によれば、プラツトフ
オーム状のインナボデイが開示されており、このプラツ
トフオームがサンプルに適合する切欠を備えており、か
つアウタボデイのところで２つの向かい合う長手縁によ
つてのみ案内されている。しかし、このプラツトフオー
ムに適合されるサンプルの量は制限されている。プラツ
トフオームの操作は複雑でありかつ熟練を要し、特に小
さなるつぼ体内に同様に小さなプラツトフオームを挿入
するさいには極めてめんどうな操作を要する。さらに、
るつぼ体を長手方向に流れる電流は同様にプラツトフオ
ームを通つて流れて熱を発する。従つてプラツトフオー
ムは放射によつて間接的に加熱されるのみならず、プラ
ツトフオーム自体の内部で生じるジユール熱によつても
加熱されることになる。
オーム状のインナボデイが開示されており、このプラツ
トフオームがサンプルに適合する切欠を備えており、か
つアウタボデイのところで２つの向かい合う長手縁によ
つてのみ案内されている。しかし、このプラツトフオー
ムに適合されるサンプルの量は制限されている。プラツ
トフオームの操作は複雑でありかつ熟練を要し、特に小
さなるつぼ体内に同様に小さなプラツトフオームを挿入
するさいには極めてめんどうな操作を要する。さらに、
るつぼ体を長手方向に流れる電流は同様にプラツトフオ
ームを通つて流れて熱を発する。従つてプラツトフオー
ムは放射によつて間接的に加熱されるのみならず、プラ
ツトフオーム自体の内部で生じるジユール熱によつても
加熱されることになる。
本発明の課題は電熱的は原子化のための新しい改良さ
れたるつぼを提供することにある。
れたるつぼを提供することにある。
本発明の別の課題はるつぼ内壁にサンプルが沈殿又は
堆積するのが回避されるようなるつぼを提供することに
ある。
堆積するのが回避されるようなるつぼを提供することに
ある。
本発明のさらに別の課題は、サンプルがるつぼ体の加
熱に対して所定時間だけ遅れてプラツトフオーム上で間
接的に加熱されるようなるつぼを提供することにある。
熱に対して所定時間だけ遅れてプラツトフオーム上で間
接的に加熱されるようなるつぼを提供することにある。
本発明のさらに別の課題は、サンプルプラツトフオー
ム上に保持されたサンプルがるつぼ壁からの熱放射によ
つて優先的に加熱されるようなるつぼを提供することに
ある。
ム上に保持されたサンプルがるつぼ壁からの熱放射によ
つて優先的に加熱されるようなるつぼを提供することに
ある。
本発明のさらに別の課題は、プラツトフオームの難し
い操作及び位置決めが回避されると共にプラツトフオー
ムが正確にるつぼ体内に位置決めされるようなるつぼを
提供することにある。
い操作及び位置決めが回避されると共にプラツトフオー
ムが正確にるつぼ体内に位置決めされるようなるつぼを
提供することにある。
本発明のさらに別の課題は製作費が経済的であるよう
なるつぼを提供することにある。
なるつぼを提供することにある。
本発明のその他の目的は逐次部分的に明らかにされか
つ部分的にさらに詳しく説明される。
つ部分的にさらに詳しく説明される。
上記課題を解決した本発明の要旨は、請求項１に記載
の通りである。サンプルプラツトフオームは中空であつ
て一般に半円筒形状を備えかつウエブによつてるつぼ体
に一体に結合されており、ウエブはプラツトフオーム上
のサンプルをほぼるつぼ体からの放射により熱的に原子
化するべくるつぼ体からプラツトフオームへの熱伝導を
著しく妨げるように形成されかつ配置されている。
の通りである。サンプルプラツトフオームは中空であつ
て一般に半円筒形状を備えかつウエブによつてるつぼ体
に一体に結合されており、ウエブはプラツトフオーム上
のサンプルをほぼるつぼ体からの放射により熱的に原子
化するべくるつぼ体からプラツトフオームへの熱伝導を
著しく妨げるように形成されかつ配置されている。
インナボデイはチユーブ状のアウタるつぼ体と一体で
あり、それゆえ操作が簡単である。米国特許第4,111,56
3号明細書のものに対比して、インナボデイは閉じたチ
ユーブでなく、中空であつて一般に円筒形状でありかつ
るつぼ体の内壁へ開いている。それゆえ、インナボデイ
に供給されたサンプルはるつぼ体に対して遅れて加熱さ
れる。米国特許第4111563号明細書のインナボデイは同
様にるつぼ体に対して遅れて加熱されるが、サンプルは
るつぼ体の内壁を「見る」ことがなく、むしろサンプル
はインナボデイの内壁を見て、このインナボデイと一緒
に加熱される。それゆえ、サンプルの遅れた加熱によつ
て得られる効果は米国特許第4,111563号明細書に開示さ
れた構成からは生じない。これに対してＬ′vovの刊行
物及び米国特許第4303339号明細書に基づくプラツトフ
オームによつて回避されるべき同じ不都合な効果が（イ
ンナボデイに関して）生じる。本発明によれば、るつぼ
が簡単に操作される。インナボデイの中空であつて一般
に半円筒形の構成が有する利点は、多量のサンプルが装
入できることにある。本発明るつぼは製作が経済的に行
なわれる。なぜならば、容易に実施される旋削、ボーリ
ング、ミーリングによつて製作が行なわれるからであ
る。
あり、それゆえ操作が簡単である。米国特許第4,111,56
3号明細書のものに対比して、インナボデイは閉じたチ
ユーブでなく、中空であつて一般に円筒形状でありかつ
るつぼ体の内壁へ開いている。それゆえ、インナボデイ
に供給されたサンプルはるつぼ体に対して遅れて加熱さ
れる。米国特許第4111563号明細書のインナボデイは同
様にるつぼ体に対して遅れて加熱されるが、サンプルは
るつぼ体の内壁を「見る」ことがなく、むしろサンプル
はインナボデイの内壁を見て、このインナボデイと一緒
に加熱される。それゆえ、サンプルの遅れた加熱によつ
て得られる効果は米国特許第4,111563号明細書に開示さ
れた構成からは生じない。これに対してＬ′vovの刊行
物及び米国特許第4303339号明細書に基づくプラツトフ
オームによつて回避されるべき同じ不都合な効果が（イ
ンナボデイに関して）生じる。本発明によれば、るつぼ
が簡単に操作される。インナボデイの中空であつて一般
に半円筒形の構成が有する利点は、多量のサンプルが装
入できることにある。本発明るつぼは製作が経済的に行
なわれる。なぜならば、容易に実施される旋削、ボーリ
ング、ミーリングによつて製作が行なわれるからであ
る。
第１図によれば、本発明の電熱的なるつぼは符号11に
よつて示されている。符号10はグラフアイトから成るチ
ューブ状のアウタるつぼ体（以下るつぼ体）を示し、こ
のるつぼ体10は１対の接触面12,14と、側方のインレツ
トポート16とを備えている。円錐形の接触面12,14はる
つぼ体10の端面に設けられてスペクトロスコピツクな計
器（図示せず）側の環状のコンタクトの対応面と協働す
る。るつぼ体10はこれらの対応面間に保持される。計器
側のこれらのコンタクトを通して電流がるつぼ体10をそ
の長手方向に流れてこのるつぼ体10を加熱する。側方の
インレツトポート16はるつぼ体10の中央に位置してい
る。
よつて示されている。符号10はグラフアイトから成るチ
ューブ状のアウタるつぼ体（以下るつぼ体）を示し、こ
のるつぼ体10は１対の接触面12,14と、側方のインレツ
トポート16とを備えている。円錐形の接触面12,14はる
つぼ体10の端面に設けられてスペクトロスコピツクな計
器（図示せず）側の環状のコンタクトの対応面と協働す
る。るつぼ体10はこれらの対応面間に保持される。計器
側のこれらのコンタクトを通して電流がるつぼ体10をそ
の長手方向に流れてこのるつぼ体10を加熱する。側方の
インレツトポート16はるつぼ体10の中央に位置してい
る。
るつぼ体10は、中空であつて一般に円筒形状を有する
インナボデイ18と一体である。このインナボデイ18は周
方向にほぼ角180゜にわたつて延びており、かつ長手方
向でるつぼ体10の中央領域を貫通している。インナボデ
イ18はインレツトポート16に対向して配置されておりか
つるつぼ体10に比して著しく短い。
インナボデイ18と一体である。このインナボデイ18は周
方向にほぼ角180゜にわたつて延びており、かつ長手方
向でるつぼ体10の中央領域を貫通している。インナボデ
イ18はインレツトポート16に対向して配置されておりか
つるつぼ体10に比して著しく短い。
インナボデイ18はウエブ20を介してるつぼ体10に結合
されている。ウエブ20は、インレツトポート16の軸線と
るつぼ体10の縦軸線24とによつて規定された縦中央平面
に対して対称的に配置されている。この縦中央平面は第
１図の図平面内に在る。第２図に示すように、ウエブ20
は、一般に半円筒形のインナボデイ18に比して著しく狭
い角度にわたつて延びており、かつ縦中央平面に関して
対称的である。このようにして、ウエブ20の領域内に円
弧状の隙間26,28が、るつぼ体10の内壁とインナボデイ1
8の外壁との間に形成されている。
されている。ウエブ20は、インレツトポート16の軸線と
るつぼ体10の縦軸線24とによつて規定された縦中央平面
に対して対称的に配置されている。この縦中央平面は第
１図の図平面内に在る。第２図に示すように、ウエブ20
は、一般に半円筒形のインナボデイ18に比して著しく狭
い角度にわたつて延びており、かつ縦中央平面に関して
対称的である。このようにして、ウエブ20の領域内に円
弧状の隙間26,28が、るつぼ体10の内壁とインナボデイ1
8の外壁との間に形成されている。
ウエブ20は縦方向で平面30,32によつて制限されてお
り、かつインレツトポート16の軸線22を含む半径方向の
平面に関して対称的である。ウエブ20に複数の軸方向の
孔が設けられている。
り、かつインレツトポート16の軸線22を含む半径方向の
平面に関して対称的である。ウエブ20に複数の軸方向の
孔が設けられている。
このるつぼの構成では、ウエブ20の異なる点がほぼ同
じ電位を有しているため、インナボデイ18を電流が流れ
ない。従つて、ジユール熱によるインナボデイの直接的
な加熱が生じない。さらに、ウエブ20は幅狭に形成さ
れ、その横断面はさらに孔34によつて一層削減されてい
る。それゆえ、熱伝導による局部的な加熱がわずかであ
る。さらに十分な機械的な安定度が得られている。
じ電位を有しているため、インナボデイ18を電流が流れ
ない。従つて、ジユール熱によるインナボデイの直接的
な加熱が生じない。さらに、ウエブ20は幅狭に形成さ
れ、その横断面はさらに孔34によつて一層削減されてい
る。それゆえ、熱伝導による局部的な加熱がわずかであ
る。さらに十分な機械的な安定度が得られている。
インレツトポート16を通してインナボデイ18に供給あ
れたサンプルはインナボデイ18自体がるつぼ体10の熱い
内壁の放射によつてほぼ間接的に加熱されることによつ
て加熱される。これにより、サンプルは、るつぼ体10が
原子化温度に達したさいにのみ原子化され、すでに述べ
たサンプルの沈澱が阻止される。
れたサンプルはインナボデイ18自体がるつぼ体10の熱い
内壁の放射によつてほぼ間接的に加熱されることによつ
て加熱される。これにより、サンプルは、るつぼ体10が
原子化温度に達したさいにのみ原子化され、すでに述べ
たサンプルの沈澱が阻止される。
中空であつて一般に半円筒形のインナボデイ18の内壁
は複数の突条36を備えており、この突条36はねじ山の部
分を形成している。この突条36によつて多量のサンプル
をインナボデイ内に装入できると共に、インナボデイ18
に沿つたサンプルの分配が妨げられる。
は複数の突条36を備えており、この突条36はねじ山の部
分を形成している。この突条36によつて多量のサンプル
をインナボデイ内に装入できると共に、インナボデイ18
に沿つたサンプルの分配が妨げられる。
このるつぼ11の製作は比較的簡単かつ経済的である。
特に、同軸的なチユーブ状のインナボデイを備え、この
インナボデイがその中央部でウエブを介してるつぼ体に
結合されているチユーブ状のるつぼ体が旋盤で加工され
る。その後、チユーブ状のインナボデイにねじ山が切ら
れる。インナボデイのほぼ半分が取除かれ、中空であつ
て一般に半円筒形のインナボデイ18が形成される。イン
ナボデイのほぼ半分の取除きは、第２図で符号38,40で
示したように２度穿孔することによつて行なうことがで
きる。次いでウエブ20の孔34が形成される。隙間26,28
がミーリングによつて形成され、最後にインレツトポー
ト16があけられる。
特に、同軸的なチユーブ状のインナボデイを備え、この
インナボデイがその中央部でウエブを介してるつぼ体に
結合されているチユーブ状のるつぼ体が旋盤で加工され
る。その後、チユーブ状のインナボデイにねじ山が切ら
れる。インナボデイのほぼ半分が取除かれ、中空であつ
て一般に半円筒形のインナボデイ18が形成される。イン
ナボデイのほぼ半分の取除きは、第２図で符号38,40で
示したように２度穿孔することによつて行なうことがで
きる。次いでウエブ20の孔34が形成される。隙間26,28
がミーリングによつて形成され、最後にインレツトポー
ト16があけられる。
以上説明した通り、本原子化るつぼはグラフアイトか
ら一体に、要するに１つの部分から形成でき、かつイン
レツトポートに対向してプラツトフオームを有してい
る。構成全体は機械的に安定であり、原子化プロセス並
びに適用サンプルに関して有利な特性を示す。
ら一体に、要するに１つの部分から形成でき、かつイン
レツトポートに対向してプラツトフオームを有してい
る。構成全体は機械的に安定であり、原子化プロセス並
びに適用サンプルに関して有利な特性を示す。
第３図及び第４図に示す実施例では、電熱的なるつぼ
11′がグラフアイトから成るチユーブ状の導電性のるつ
ぼ体210と、これと一体のインナボデイ又はプラツトフ
オーム218とから成つている。るつぼ体210は側方の又は
半径方向のインレツトアパーチヤ212を有しており、こ
れは第４図から判るように、るつぼ体210の中央領域内
に位置している。るつぼ11′の縦中央平面216はインレ
ツトアパーチヤ212の軸線とるつぼ体210の軸線214とに
よつて規定されている。第４図の部分図は縦中央平面21
6に沿つたものである。
11′がグラフアイトから成るチユーブ状の導電性のるつ
ぼ体210と、これと一体のインナボデイ又はプラツトフ
オーム218とから成つている。るつぼ体210は側方の又は
半径方向のインレツトアパーチヤ212を有しており、こ
れは第４図から判るように、るつぼ体210の中央領域内
に位置している。るつぼ11′の縦中央平面216はインレ
ツトアパーチヤ212の軸線とるつぼ体210の軸線214とに
よつて規定されている。第４図の部分図は縦中央平面21
6に沿つたものである。
インナボデイ218はチユーブ状のるつぼ体210の内部に
位置してるつぼ体と一体である。インナボデイ218はる
つぼ体210の中央領域にわたつてのみ延びている。
位置してるつぼ体と一体である。インナボデイ218はる
つぼ体210の中央領域にわたつてのみ延びている。
インナボデイ218は中空であつて一般に半円筒形を有
し、かつ第３図に示すように自軸線に関して角180゜に
わたつて延びる中空半円筒を形成している。インナボデ
イ218は縦中央平面216に関して対称的にインレツトアパ
ーチヤ212に対向して位置している。使用時に、インレ
ツトアパーチヤ212は第３図に示したように上向きに位
置し、縦中央平面216は鉛直に延びている。インナボデ
イ218はるつぼ体の内部でその底部に位置しており、そ
の位置はインレツトアパーチヤ212の下方にある。さら
にインナボデイ218は１つのウエブ220を介してチユーブ
状のるつぼ体210に結合されている。ウエブ220は、るつ
ぼ体210からインナボデイ218への熱伝導を十分に妨げる
ように形成されており、そのため、インナボデイ218上
のサンプルはほぼるつぼ体の放射によつて熱的に原子化
される。ウエブ220はるつぼの縦中央平面216内に位置し
かつインレツトアパーチヤ212とは逆の側に位置してい
る。インナボデイの218は第４図に示すように対向する
端部に上向きに突起したカラー242,244を備えており、
これによつて、液状サンプルの安全な保持のためのトラ
フ形のプラツトフオームが形成されている。
し、かつ第３図に示すように自軸線に関して角180゜に
わたつて延びる中空半円筒を形成している。インナボデ
イ218は縦中央平面216に関して対称的にインレツトアパ
ーチヤ212に対向して位置している。使用時に、インレ
ツトアパーチヤ212は第３図に示したように上向きに位
置し、縦中央平面216は鉛直に延びている。インナボデ
イ218はるつぼ体の内部でその底部に位置しており、そ
の位置はインレツトアパーチヤ212の下方にある。さら
にインナボデイ218は１つのウエブ220を介してチユーブ
状のるつぼ体210に結合されている。ウエブ220は、るつ
ぼ体210からインナボデイ218への熱伝導を十分に妨げる
ように形成されており、そのため、インナボデイ218上
のサンプルはほぼるつぼ体の放射によつて熱的に原子化
される。ウエブ220はるつぼの縦中央平面216内に位置し
かつインレツトアパーチヤ212とは逆の側に位置してい
る。インナボデイの218は第４図に示すように対向する
端部に上向きに突起したカラー242,244を備えており、
これによつて、液状サンプルの安全な保持のためのトラ
フ形のプラツトフオームが形成されている。
るつぼ体210はその側方に配置されたコンタクト222,2
24を介して配置され、るつぼ体210の周方向で流れる電
流によつて電気的に加熱される。その場合、ウエブ220
のすべての個所がほぼ同じ電位を有するため、インナボ
デイ218を電流が流れない。従つてインナボデイ218は電
流によつて直接的に加熱されない。
24を介して配置され、るつぼ体210の周方向で流れる電
流によつて電気的に加熱される。その場合、ウエブ220
のすべての個所がほぼ同じ電位を有するため、インナボ
デイ218を電流が流れない。従つてインナボデイ218は電
流によつて直接的に加熱されない。
一般に半円筒形の２つの中空体230,232がそれぞれウ
エブ226,228を介してるつぼ体210に結合されており、両
中空体は縦中央平面216に対して垂直に延びている。平
円筒形の中空体230,232はるつぼ体210を取囲む隙間が形
成されるように、るつぼ体210の両側でこれの周りに延
びている。半円筒形の両中空体230,232間にスロット236
が形成されており、このスロットは両中空体230,232に
関して対称的でありかつ縦中央平面216を含んでいる。
インレツトアパーチヤ212はスロット236を介してアクセ
ス可能である。
エブ226,228を介してるつぼ体210に結合されており、両
中空体は縦中央平面216に対して垂直に延びている。平
円筒形の中空体230,232はるつぼ体210を取囲む隙間が形
成されるように、るつぼ体210の両側でこれの周りに延
びている。半円筒形の両中空体230,232間にスロット236
が形成されており、このスロットは両中空体230,232に
関して対称的でありかつ縦中央平面216を含んでいる。
インレツトアパーチヤ212はスロット236を介してアクセ
ス可能である。
円筒形のコンタクト222,224はそれぞれ中空体230,232
と一体であり、かつその軸線が縦中央平面216に対して
垂直に延びるように配置されている。このコンタクト22
2,224はるつぼ体210を介してのみ導電的に結合されてい
る。コンタクト222,224はその端部に円錐状の接触面238
を形成しており、これはるつぼを計器側の電極（図示せ
ず）間に取付けるのに役立つ。不活性ガスがコンタクト
を介してキヤビテイ234内へ導入されるが、これについ
ては図示を省く。
と一体であり、かつその軸線が縦中央平面216に対して
垂直に延びるように配置されている。このコンタクト22
2,224はるつぼ体210を介してのみ導電的に結合されてい
る。コンタクト222,224はその端部に円錐状の接触面238
を形成しており、これはるつぼを計器側の電極（図示せ
ず）間に取付けるのに役立つ。不活性ガスがコンタクト
を介してキヤビテイ234内へ導入されるが、これについ
ては図示を省く。
第３図に示したように、ウエブ226,228は電気抵抗を
高めるためにくびれている。その結果、ウエブ内でジユ
ール熱が増大し高温が生じる。従つて、熱いるつぼ体21
0から比較的冷めたいコンタクト222,224への熱の伝導が
妨げられ、るつぼ体210内での熱の均一な分布が保証さ
れる。
高めるためにくびれている。その結果、ウエブ内でジユ
ール熱が増大し高温が生じる。従つて、熱いるつぼ体21
0から比較的冷めたいコンタクト222,224への熱の伝導が
妨げられ、るつぼ体210内での熱の均一な分布が保証さ
れる。
以上説明した通り、本発明によれば、内部のるつぼ壁
上へのサンプルの沈澱又は堆積が回避されると共に、主
としてるつぼ壁からの熱放射によるサンプルの原子化を
生じるような、一体のグラフアイトから成る原子化のた
めのるつぼが提供される。サンプルはるつぼ体の加熱に
対して所望通り遅れてプラツトフオーム上で間接的に加
熱される。さらにプラツトフオームの位置が固定され、
従つてプラツトフオームの操作が不要となり、測定光線
が不都合に圧縮されない。
上へのサンプルの沈澱又は堆積が回避されると共に、主
としてるつぼ壁からの熱放射によるサンプルの原子化を
生じるような、一体のグラフアイトから成る原子化のた
めのるつぼが提供される。サンプルはるつぼ体の加熱に
対して所望通り遅れてプラツトフオーム上で間接的に加
熱される。さらにプラツトフオームの位置が固定され、
従つてプラツトフオームの操作が不要となり、測定光線
が不都合に圧縮されない。
本発明は図示の実施例に限定されない。
第１図は本発明の１実施例の縦断面図、第２図は同実施
例の端面図、第３図は本発明の別の実施例を軸線方向に
みた略示図、第４図は同実施例の部分縦断面図である。 10……アウタるつぼ体、11,11′……るつぼ、12,14……
接触面、16……インレツトポート、18……インナボデ
イ、20……ウエブ、22……軸線、24……縦軸線、26,28
……隙間、30,32……平面、34……孔、36……突条、38,
40……符号、210……るつぼ体、212……インレツトアパ
ーチヤ、214……軸線、216……縦中央平面、218……イ
ンナボデイ（プラツトフオーム）、220……ウエブ、22
2,224……コンタクト、226,228……ウエブ、242,244…
…カラー
例の端面図、第３図は本発明の別の実施例を軸線方向に
みた略示図、第４図は同実施例の部分縦断面図である。 10……アウタるつぼ体、11,11′……るつぼ、12,14……
接触面、16……インレツトポート、18……インナボデ
イ、20……ウエブ、22……軸線、24……縦軸線、26,28
……隙間、30,32……平面、34……孔、36……突条、38,
40……符号、210……るつぼ体、212……インレツトアパ
ーチヤ、214……軸線、216……縦中央平面、218……イ
ンナボデイ（プラツトフオーム）、220……ウエブ、22
2,224……コンタクト、226,228……ウエブ、242,244…
…カラー
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 21/74 G01N 21/31 F27B 14/04
Claims (17)
- 【請求項１】電熱的な原子化のためのるつぼにおいて、 放射ビームを通過させるためのチューブ状の電熱的なる
つぼ体が設けられており、このるつぼ体が、中央に位置
する側方のインレットアパーチャを備えており、 るつぼ体内部でプラットフォーム上のサンプルを原子化
するに十分なほどるつぼ体を加熱すべくるつぼ体に電流
を流すための部材が設けられており、 細長いサンプルプラットフォームがサンプル保持凹所を
備えておりかつインレットアパーチャに対向してるつぼ
内でその中央に位置しておりかつるつぼ体に一体に結合
されており、 サンプルプラットフォームをるつぼ体に一体に結合させ
るウェブが設けられており、このウェブは、電流がるつ
ぼ体を流れたさいにサンプルプラットフォームを通る、
熱を発生する電流を著しく阻止して、るつぼ体からサン
プルプラットフォームの熱伝導を著しく妨げ、その結
果、サンプルプラットフォーム上のサンプルが大体にお
いてるつぼ体からの放射によって熱的に原子化されるよ
うに、その断面にわたりほぼ均一な電位を維持するよう
に構成されかつ配置されており、 るつぼ体が縦軸線と、この縦軸線を含みかつインレット
アパーチャを通って延びる縦中央平面とを有しており、 ウェブが、るつぼ体とサンプルプラットフォームとの間
に延びるシングルウェブから成り、かつ縦中央平面内に
位置しており、 サンプルプラットフォームが、中空であって一般に半円
筒形状を有していて、インレットアパーチャとウェブと
の間に配置されており、かつ縦中央平面に関して対称的
に配置されており、 電流を流すための前記部材は、電流がるつぼ体を周方向
に流れるようにるつぼ体の側部に配置された第１及び第
２の電気的なコンタクトから成り、かつ、ウェブは、こ
れのすべての点がほぼ同じ電位を有するように位置して
おり、 第１及び第２の一般に半円筒形の中空体が対向して位置
しておりかつるつぼ体の周りで延びており、両中空体の
間にスロットが形成されており、前記縦中央平面がこの
スロットを通って延びており、第１の中空体が縦中央平
面に垂直に延びる第１のウェブ部分を有し、このウェブ
部分が第１の中空体をるつぼ体に結合させており、第２
の中空体が縦中央平面に垂直に延びる第２のウェブ部分
を有し、このウェブ部分が第２の中空体をるつぼ体に結
合させており、 第１のコンタクトが第１の中空体と一体であり、縦中央
平面に垂直に延びる縦軸線を有しており、 第２のコンタクトが第２の中空体と一体であり、縦中央
平面に垂直に延びる縦軸線を有していることを特徴とす
る、電熱的な原子化のためのるつぼ。 - 【請求項２】第１及び第２のウェブ部分が、電気抵抗を
増大させかつそれを通る熱伝導を妨げるようくびれてい
る、請求項１記載のるつぼ。 - 【請求項３】第１及び第２のコンタクトがそれぞれ、る
つぼを電極間に取り付けるための円錐状の終端部を有し
ている、請求項１記載のるつぼ。 - 【請求項４】電熱的な原子化のためのるつぼにおいて、 放射ビームを通過させるためのチューブ状の電熱的なる
つぼ体が設けられており、このるつぼ体が、中央に位置
する側方のインレットアパーチャを備えており、 るつぼ体内部でプラットフォーム上のサンプルを原子化
するに十分なほどるつぼ体を加熱すべくるつぼ体に電流
を流すための部材が設けられており、 細長いサンプルプラットフォームがサンプルイ保持凹所
を備えておりかつインレットアパーチャに対向してるつ
ぼ内でその中央に位置しておりかつるつぼ体に一体に結
合されており、 サンプルプラットフォームをるつぼ体に一体に結合させ
るウェブが設けられており、このウェブは、電流がるつ
ぼ体を流れたさいにサンプルプラットフォームを通る、
熱を発生する電流を著しく阻止して、るつぼ体からサン
プルプラットフォームの熱伝導を著しく妨げ、その結
果、サンプルプラットフォーム上のサンプルが大体にお
いてるつぼ体からの放射によって熱的に原子化されるよ
うに、その断面にわたりほぼ均一な電位を維持するよう
に構成されかつ配置されており、 るつぼ体が縦軸線と、この縦軸線を含みかつインレット
アパーチャを通って延びる縦中央平面とを有しており、 ウェブが、るつぼ体とサンプルプラットフォームとの間
に延びるシングルウェブから成り、かつ縦中央平面内に
位置しており、 サンプルプラットフォームが、中空であって一般に半円
筒形状を有していて、インレットアパーチャとウェブと
の間に配置されており、かつ縦中央平面に関して対称的
に配置されており、 ウェブがるつぼ体からプラットフォームへ向かってくび
れており、これによって、るつぼ体からプラットフォー
ムへの熱伝導が妨げられており、これによりサンプルプ
ラットフォーム上のサンプルが大体においてるつぼ体か
らの放射によって熱的に原子化されることを特徴とす
る、電熱的な原子化のためのるつぼ。 - 【請求項５】電流を流すための部材は、電流がるつぼ体
を周方向に流れるようにるつぼ体の側部に配置された第
１及び第２の電気的なコンタクトから成り、かつ、ウェ
ブのすべての個所がほぼ同じ電位をしている、請求項４
記載の装置。 - 【請求項６】電熱的な原子化のためのるつぼにおいて、 放射ビームを通過させるためのチューブ状の電熱的なる
つぼ体が設けられており、このるつぼ体が、中央に位置
する側方のインレットアパーチャを備えており、 るつぼ体内部でプラットフォーム上のサンプルを原子化
するに十分なほどるつぼ体を加熱すべくるつぼ体に電流
を流すための部材が設けられており、 細長いサンプルプラットフォームがサンプル保持凹所を
備えておりかつインレットアパーチャに対向してるつぼ
内でその中央に位置しておりかつるつぼ体に一体に結合
されており、 サンプルプラットフォームをるつぼ体に一体に結合させ
るウェブが設けられており、このウェブは、電流がるつ
ぼ体を流れたさいにサンプルプラットフォームを通る、
熱を発生する電流を著しく阻止して、るつぼ体からサン
プルプラットフォームの熱伝導を著しく妨げ、その結
果、サンプルプラットフォーム上のサンプルが大体にお
いてるつぼ体からの放射によって熱的に原子化されるよ
うに、その断面にわたりほぼ均一な電位を維持するよう
に構成されかつ配置されており、 るつぼ体が縦軸線と、この縦軸線を含みかつインレット
アパーチャを通って延びる縦中央平面とを有しており、 電流を流すための部材が、第１及び第２の電気的なコン
タクトから成り、 第１及び第２の一般に半円筒形の中空体が対向して配置
されかつるつぼ体の周りで延びており、両中空体間にス
ロットが形成されており、縦中央平面がこのスロットを
通って延びており、第１の中空体が縦中央平面に垂直に
延びる第１のウェブ部分を備えており、このウェブ部分
が第１の中空体をるつぼ体に結合させており、第２の中
空体が縦中央平面に垂直に延びる第２のウェブ部分を備
えており、このウェブ部分が第２の中空体をるつぼ体に
結合させており、 第１のコンタクトが第１の中空体と一体であり、縦中央
平面に垂直に延びる縦軸線を有しており、 第２のコンタクトが第２の中空体と一体であり、縦中央
平面に垂直に延びる縦軸線を有していることを特徴とす
る、電熱的な原子化のためのるつぼ。 - 【請求項７】電熱的な原子化のためのるつぼにおいて、 チューブ状の導電的なるつぼ体が内壁及び中空領域を有
しており、 サンプルを保持するインナボデイがるつぼ体と一体であ
り、インナボデイが、一体のウェブによってるつぼ体の
内壁から隔てられており、 インナボデイが中空であって一般に半円筒形状を有して
おりかつるつぼ体の中央領域を通ってのみ軸方向に延び
ており、 るつぼ体が中央領域に側方のインレットポートを有して
おり、半円筒形のインナボデイがインレットポートに対
向して位置してインレットポートに向かって開いてお
り、 インナボデイがインレットポートに面した第１の側と、
インレットポートから遠い第２の側とを有しており、イ
ンナボデイがその対向する側でウェブによってるつぼ体
に結合されており、ウェブが、半円筒形のインナボデイ
の周囲の一部に沿って周方向に延びていることを特徴と
する、電熱的な原子化のためのるつぼ。 - 【請求項８】ウェブが、るつぼ体の縦軸線に対して平行
に複数の軸方向の孔を有している、請求項７記載の装
置。 - 【請求項９】インナボデイの内面の一部に、ねじ山の一
部を形成する複数の突条が成形されている、請求項７又
は８記載の装置。 - 【請求項１０】インナボデイが滑らかな内面と、サンプ
ルを保持する凹所を形成するための内側へ突出した、対
向して配置されたカラーとを備えている、請求項８記載
の装置。 - 【請求項１１】電流がるつぼ体の周方向に流れるよう
に、るつぼ体の側部に電気的なコンタクトが配置されて
いる、請求項７記載の装置。 - 【請求項１２】電熱的な原子化のためのるつぼにおい
て、 チューブ状の導電的なるつぼ体が内壁及び中空領域を有
しており、 サンプルを保持するインナボデイがるつぼ体と一体であ
り、インナボデイが、一体のウェブによってるつぼ体の
内壁から隔てられており、 インナボデイが中空であって一般に半円筒形状を有して
おりかつるつぼ体の中央領域を通ってのみ軸方向に延び
ており、 電流がるつぼ体を周方向に流れるように、るつぼ体の側
部に第１及び第２の電気的なコンタクトが配置されてお
り、 第１及び第２の一般に半円筒形の中空体が対向して位置
しておりかつるつぼ体の周りで延びており、両中空体の
間にスロットが形成されており、るつぼ体の縦中央平面
がこのスロットを通って延びており、第１の中空体が縦
中央平面に垂直に延びる第１のウェブ部分を有し、この
ウェブ部分が第１の中空体をるつぼ体に結合させてお
り、第２の中空体が縦中央平面に垂直に延びる第２のウ
ェブ部分を有し、このウェブ部分が第２の中空体をるつ
ぼ体に結合させており、 第１のコンタクトが第１の中空体と一体であり、縦中央
平面に垂直に延びる縦軸線を有しており、 第２のコンタクトが第２の中空体と一体であり、縦中央
平面に垂直に延びる縦軸線を有していることを特徴とす
る、電熱的な原子化のためのるつぼ。 - 【請求項１３】第１及び第２のウェブ部分が、電気抵抗
を増大させかつそこを通る熱の伝導を妨げるようくびれ
ている、請求項12記載のるつぼ。 - 【請求項１４】グラファイト製の原子化のためのるつぼ
の製法において、 同軸的なチューブ状のインナボデイを備え、このインナ
ボデイがその中央部で環状のウェブを介して結合されて
いる、グラファイト製の一体のチューブ状のるつぼ体ブ
ランクを製作し、 サンプルを保持するプラットフォームを形成するため
に、前記インナボデイをほぼ半円筒形状にまで減少させ
るように前記ブランクを軸方向でボーリングし、 前記ウェブを軸方向でボーリングしてウェブに複数の孔
を形成し、 前記ウェブをミーリングしてインナボデイとアウタボデ
イとの間に環状の凹所を成形し、 半円筒形のインナボデイに向き合ってるつぼ体を介して
インレットポートをボーリングすることを特徴とする、
グラファイト製の原子化のためのるつぼの製法。 - 【請求項１５】るつぼ体ブランクの製作ステップが、グ
ラファイト・ワークピースを旋削するステップを含む、
請求項14記載の製法。 - 【請求項１６】前記ブランクを軸方向でボーリングする
前にチューブ状のインナボデイの内面にねじ山を形成す
る、請求項14又は15記載の製法。 - 【請求項１７】前記ブランクを軸方向でボーリングする
ステップが、半円筒形のインナボデイを形成するために
インナボデイのほぼ半分を切除するように軸方向で前記
ブランクに複数の孔をボーリングするステップを含む、
請求項14記載の製法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3743286.9 | 1987-12-19 | ||
| DE19873743286 DE3743286A1 (de) | 1987-12-19 | 1987-12-19 | Ofen zur thermoelektrischen atomisierung |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01296138A JPH01296138A (ja) | 1989-11-29 |
| JP2768477B2 true JP2768477B2 (ja) | 1998-06-25 |
Family
ID=6343107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63318724A Expired - Fee Related JP2768477B2 (ja) | 1987-12-19 | 1988-12-19 | 電熱的な原子化のためのるつぼ並びにグラファイト製の原子化のためのるつぼ |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4953977A (ja) |
| JP (1) | JP2768477B2 (ja) |
| DE (1) | DE3743286A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE8901529U1 (ja) * | 1989-02-10 | 1989-05-11 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co Gmbh, 7770 Ueberlingen, De | |
| DE3923822C2 (de) * | 1989-07-19 | 1998-08-20 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Ofen zur elektrothermischen Atomisierung von Proben für spektroskopische Zwecke und Verfahren zu seiner Herstellung |
| US5118187A (en) * | 1990-07-20 | 1992-06-02 | Bodenseewerk Perkin-Elmer Gmbh | Furnace for the electro-thermal atomization of samples for spectroscopical purposes |
| CA2231548A1 (en) * | 1996-07-11 | 1998-01-22 | Klaus Eichardt | Longitudinally or transversely heated tubular atomising furnace |
| DE10128272A1 (de) | 2001-06-12 | 2002-12-19 | Perkin Elmer Bodenseewerk Zwei | Ofen |
| DE102017119631A1 (de) * | 2017-08-28 | 2019-02-28 | Analytik Jena Ag | Anordnung zur elektrothermischen Atomisierung und Atom-Absorptions-Spektrometer |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3778156A (en) * | 1971-09-30 | 1973-12-11 | Perkin Elmer Co Gmbh | Heated sample cell |
| DE2219594C2 (de) * | 1972-04-21 | 1974-05-09 | Bodenseewerk Geraetetechnik Gmbh, 7770 Ueberlingen | Vorrichtung zur Atomisierung einer Probe für die flammenlose Atomabsorptions-Spektroskopie |
| DE2221184A1 (de) * | 1972-04-29 | 1973-11-08 | Bodenseewerk Geraetetech | Rohrkuevette fuer die flammenlose atomabsorption |
| DE2225421C2 (de) * | 1972-05-25 | 1982-05-06 | Bodenseewerk Gerätetechnik GmbH, 7770 Überlingen | Vorrichtung zum Atomisieren von Proben durch elektrische Beheizung für die flammenlose Atomabsorptions-Spektrometrie |
| DE2314207C3 (de) * | 1973-03-22 | 1979-11-15 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co Gmbh, 7770 Ueberlingen | Atomisierungsvorrichtung zum Atomisieren einer Probe für flammenlose Atomabsorptionsmessungen |
| US3819279A (en) * | 1973-04-20 | 1974-06-25 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Sample atomizing device having a radiation absorbing protective jacket for flameless atomic absorption spectroscopy |
| DE2554950C2 (de) * | 1975-12-06 | 1983-12-29 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Graphitrohr zum Atomisieren von Proben bei der flammenlosen Atomabsorptions-Spektroskopie |
| DE2924123C2 (de) * | 1979-06-15 | 1985-04-04 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Graphitrohr zum Atomisieren von Proben bei der flammenlosen Atomabsorptions-Spektroskopie |
| US4407582A (en) * | 1981-01-12 | 1983-10-04 | The Research And Development Institute, Inc. At Montana State University | Method and apparatus for reduction of matric interference in electrothermal atomizer for atomic absorption spectroscopy |
| JPS57131038A (en) * | 1981-02-06 | 1982-08-13 | Hitachi Ltd | Flame-free atomizer for atomic absorption analysis |
| JPS5997040A (ja) * | 1982-11-25 | 1984-06-04 | Shimadzu Corp | フレ−ムレス原子化炉用グラフアイトチユ−ブ |
| JPS59126232A (ja) * | 1983-01-07 | 1984-07-20 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | フレ−ムレス原子吸光分析装置の試料原子化装置 |
| DD233190A1 (de) * | 1984-09-28 | 1986-02-19 | Adw Der Ddr Zi F Optik U Spekt | Atomisator fuer probentraeger |
| DE3534417A1 (de) * | 1985-09-27 | 1987-04-02 | Ringsdorff Werke Gmbh | Kuevette fuer die flammenlose atomabsorptions-spektroskopie |
-
1987
- 1987-12-19 DE DE19873743286 patent/DE3743286A1/de not_active Withdrawn
-
1988
- 1988-12-16 US US07/285,884 patent/US4953977A/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-12-19 JP JP63318724A patent/JP2768477B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3743286A1 (de) | 1989-06-29 |
| US4953977A (en) | 1990-09-04 |
| JPH01296138A (ja) | 1989-11-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2768477B2 (ja) | 電熱的な原子化のためのるつぼ並びにグラファイト製の原子化のためのるつぼ | |
| US4407582A (en) | Method and apparatus for reduction of matric interference in electrothermal atomizer for atomic absorption spectroscopy | |
| US5772964A (en) | Nozzle arrangement for collecting components from a fluid for analysis | |
| JPS6275335A (ja) | 原子吸光分析用キユベツト | |
| Majidi et al. | Improving sensitivity for CE-ICP-MS using multicapillary parallel separation | |
| US3893769A (en) | Graphite tube furnace | |
| US3817629A (en) | Tubular sample cell having radially extending flanges at the ends of the cell for flameless atomic absorption | |
| Schmidt et al. | Direct determination of Ag, Cu and Ni in solid materials by graphite furnace atomic absorption spectrometry using a specially designed graphite tube | |
| US4981356A (en) | Method and apparatus for electrothermal atomization of samples | |
| US4971438A (en) | Graphite tube furnace with specimen support for atomic absorption spectroscopy | |
| US4406540A (en) | Apparatus for use in flameless atomic absorption spectroscopy | |
| US4968141A (en) | Electrothermal atomization furnace | |
| Aller | Fundamentals of Electrothermal Atomic Absorption Spectrometry: A Look Inside the Fundamental Processes in ETAAS | |
| GB2152234A (en) | Atomizer cuvette for use in flameless atomic absorption spectrometry | |
| US5822059A (en) | Atomic absorption spectrophotometer and graphite tube type cuvette used for the same | |
| US4548497A (en) | Method and device for introducing a sample into a graphite tube | |
| US5015093A (en) | Electromagnet for an atomic absorption spectrometer | |
| AU626632B2 (en) | Furnace for the electrothermal atomization of samples in atomic absorption spectroscopy | |
| HUT56004A (en) | Atomizing device from high-melting metal | |
| JP2999001B2 (ja) | 原子吸光分光学用グラファイト管状炉 | |
| Adams et al. | The application of optical pyrometric and two-line atomic absorption techniques to the determination of temperatures in a graphite furnace atomizer | |
| US5118187A (en) | Furnace for the electro-thermal atomization of samples for spectroscopical purposes | |
| AU610956B2 (en) | Electrothermal atomization furnace | |
| US5249028A (en) | Graphite tube furnace | |
| JPH0381650A (ja) | 分光目的のサンプルの電熱霧化装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |