JP2767577B2 - 光学ディスク上に予め作られたトラックを用いずに情報を記録する方法及び装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は情報を記録するため
に予め作られたトラックを有していない光学ディスクに
情報を記録しつつ、情報トラックの間隔を制御するため
の改良された方法及び装置についてのものである。

【０００２】

【発明が解決しようとする課題】光学ディスク上に格納
された情報は普通、情報トラックとして知られている螺
旋状トラックとして現れる。光学ディスクの螺旋状情報
トラックは見かけ上はビニールレコードの螺旋状の溝と
類似している。情報を記録するために使用することが可
能な光学ディスクには種々のタイプが存在する。一つの
タイプは予め作られたトラックの無いブランク光学ディ
スクである。他のタイプは情報を記録するために予め作
られた情報トラックを含む光学ディスクである。光学デ
ィスクのこれらのタイプの各々に情報を記録するための
方法は使用するディスクのタイプに依存している。

【０００３】予め作られた情報トラックを有する記録可
能な光学ディスクは、その必要性により、上述のように
何等かの初めのマスタリングプロセスの最終結果として
得られる。記録可能な光学ディスクをこの方法で大量生
産することは商業的に有利であるけれども、記録可能な
光学ディスクを大量生産するより経済的な方法を追求す
ることが期待されている。

【０００４】記録可能な光学ディスクを大量生産するコ
ストを低減させるための一つの可能な解決法は、ディス
ク上にトラックが無いディスクを製造することである。
ディスク上のトラックを無くすことにより、製造者にと
ってはマスタリング工程を無くすことによってディスク
製造コストを低減する可能性が得られる。マスタリング
を行わずにトラック無しのディスクを製造する一つの方
法は、シート状のクッッキー生地からクッキーを切り取
るのにクッキーカッターが使用されるのと同一の方法で
記録可能な媒体のシートからディスクを打ち出すか又は
切りとる方法である。またこの方法により製造者には、
より速い速度でディスクが製造できるという性質によっ
てディスク製造コストを減少させることが可能になる。

【０００５】予め作られたトラックの無い光学ディスク
の部分に情報を記録することに付随する問題は、記録装
置の光学ヘッドが記録処理（記録プロセス）の間にディ
スクをトラッキングすること又はディスクを横切って移
動することを可能にするものがディスクの記録面上に何
も無いことである。これは、上述の光学ディスクのマス
タリングにおいて起きる問題と本質的に同一の問題であ
る。先に述べたように、例えば精密に機械仕上げされた
親ネジ又は精密に校正された干渉計を用いる、マスタリ
ングにおいて用いられる方法は購買可能な光学ディスク
記録装置を大量生産するのにはあまり費用低減効果が無
い。従って、本発明の目的は情報を記録するために予め
作られたトラックを有していない光学ディスクの部分に
情報を記録するより経済的な方法を提供することであ
る。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明は光学ディスク上
に記録された情報トラックの位置を案内するために正確
な基準スケールを用いる。基準スケールは間隔をあけた
光学チェックマークを有する直線的な細片である。基準
スケール上の光学チェックマークの間隔は光学ディスク
上に記録された情報トラック間のトラックピッチに直接
的に関係する。

【０００７】本発明は光学ディスクから読み出し、光学
ディスクに書き込むための第１の光学系を使用する。第
２の光学系が基準スケール上の光学チェックマークを検
出するために使用される。第１の光学系及び第２の光学
系は共通の光学部品を共有する。第１及び第２の光学系
の両方に共通の光学部品には光源、回折格子、フィール
ドレンズ、及びビーム・スプリッターが含まれる。これ
らの共通の光学部品の構成によって、光学ビームの経路
全体の内の一部分が両方の光学系に共通になる。各々の
光学系にのみ属する部品には、第１の光学系については
対物レンズ及びフィールドレンズが含まれ、第２の光学
系についてはビーム・スプリッター、対物レンズ及びフ
ィールドレンズが含まれる。

【０００８】第１の光学系は記録プロセスの間に、第２
の光学系に直接関係して動作する。記録の際に、第２の
光学系により形成された放射エネルギービームが基準ス
ケールの反射面を長さ方向に横切って進む。第２の光学
系の先導に従って、第１の光学系により形成される放射
エネルギービームは第２の光学系により形成された放射
エネルギービームの基準スケールの長さに沿った移動に
直接対応し、回転する光学ディスクの表面を半径方向に
横切って進む。

【０００９】第２の光学系は情報読み取り処理の間は非
能動化され、トラッキング動作は記録プロセスの間に光
学ディスク上に形成された情報トラックに追従する第１
の光学系によってのみ行われる。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下本発明の実施例について添付
図面を参照しつつ詳細に説明する。図１を参照すれば、
予めトラックが作られていない光学ディスクの一部分に
情報を記録する装置１０が示されている。装置１０は第
１の光学系１２及び第２の光学系１６とから成る光学ヘ
ッドの構成１１を有している。第１の光学系１２は光学
ディスク１４上に情報を記録し、また記録情報を読み取
る処理の間に用いられる。第２の光学系１６は光学ディ
スク上に情報を記録する際に第１の光学系１２と協働し
てのみ用いられる。記録処理の間、第２の光学系１６は
高精度の光学基準スケール１８をトラッキング（追跡）
し、光学ディスク１４上に記録された情報トラック間の
間隔を第１の光学系１２に対して制御する。第１の光学
系１２は光学ディスク１４上に情報を記録する時に第２
の光学系１６の先導に従う。

【００１１】第１の光学系１２及び第２の光学系１６は
それぞれ両方の系に共通の光学部品を共有するととも
に、各系にのみ属する別々の光学部品を使用する。第１
の光学系１２及び第２の光学系１６の両方に共通の光学
部品には、放射エネルギービーム２２を発する放射エネ
ルギー源２０、放射エネルギービーム２２を２以上のビ
ームに分けるための回折格子２４、フィールドレンズ２
６、及び第１のビーム・スプリッター２８（時には部分
ミラーと称される）が含まれる。単一の放射エネルギー
ビームを用いる系においては回折格子２４は省略するか
又はコリメーターレンズによって置き換えることができ
る。

【００１２】放射エネルギー源２０は光学ディスクから
情報を読み取り、また情報を記録するための放射エネル
ギービームを生成するのに適当なものであれば当業者に
知られている如何なる放射エネルギー源を用いても良
い。例えば、放射エネルギー源２０は光学式ディスクプ
レーヤ及び記録装置において普通に用いられているレー
ザーダイオードのどれを用いても良い。

【００１３】第１の光学系１２にのみ属する光学部品に
は第１の対物レンズ３０及び第１のフィールドレンズ３
２が含まれる。第２の光学系１６にのみ設けられた光学
部品には第２のビーム・スプリッター３４、第２の対物
レンズ３６、及び第２のフィールドレンズ３８が含まれ
る。放射エネルギービーム２２は第１の光学系１２の構
成部品により形成される第１の経路４０に沿って以下の
様にして進む。即ち、放射エネルギー源２０が放射エネ
ルギービーム２２を発し、後者は回折格子２４及びフィ
ールドレンズ２６を通過し、第１のビーム・スプリッタ
ー２８により部分的に反射され、第１の対物レンズ３０
を通過して光学ディスク１４に照射され、光学ディスク
１４によって反射され、再び第１の対物レンズ３０を通
過し、第１のビーム・スプリッター２８を通過し、第１
のフィールドレンズ３２を通過して光検出器アレイ４２
に照射される。

【００１４】放射エネルギービーム２２は第２の光学系
１６の構成部品によって形成される第２の経路４４に沿
って以下の様に進む。即ち、放射エネルギー源２０が放
射エネルギービーム２２を発し、後者は回折格子２４、
及びフィールドレンズ２６を通過し、第１のビーム・ス
プリッター２８を部分的に通過し、第２のビーム・スプ
リッター３４により部分的に反射され、第２の対物レン
ズ３６を通過して基準スケール１８に照射され、基準ス
ケール１８によって反射され、再び第２の対物レンズ３
６を通過し、第２のビーム・スプリッター３４を通過
し、第２のフィールドレンズ３８を通過して光検出器ア
レイ４６に照射される。

【００１５】第１の光学系１２及び第１の光学系１６の
機能及び動作は光学ディスク１４及び基準スケール１８
を交換することによって換えることができ、それによっ
て機能的には光学ヘッドの構成１１と同一に動作するや
や異なった光学ヘッドの構成が得られる。光検出器アレ
イ４２及び４６は光学ディスクのトラッキング及びフォ
ーカスシステムと共に用いられる普通の光検出器アレイ
の当業者に知られている構成のどれを用いても良い。

【００１６】基準スケール１８は記録処理の間に放射エ
ネルギービーム２２を反射するための反射面４８を有す
る。反射面４８は放射エネルギービーム２２が基準スケ
ール１８の長さに沿って追従することが可能になるため
に連続的に間隔を置いた反射性の印５０を有する。反射
性の印５０の間の間隔は光学ディスク１４に記録された
情報トラックの間の間隔に直接関係する。

【００１７】反射面４８は放射エネルギービーム２２に
より識別可能な連続的に間隔を置いた反射性の印５０を
設けることが可能な適当な反射性の材料のどれを用いて
作ることも可能である。反射面４８としての適切な特性
を得るための一つの可能な方法は光学ディスク技術にお
いて用いられているものと同一の技術を用いることであ
る。反射面４８上の反射性の印５０は技術的には光学デ
ィスクの反射面上の情報トラックと同一の離間した光学
チェックマークによって表すことができる。この技術は
本技術分野において周知であり、ここでは詳述する必要
は無い。反射性の印５０の間の間隔は均一である必要は
無いことに注意すべきである。

【００１８】装置１０は光学ディスク１４に既に記録さ
れた情報トラックを情報読み取り処理の間にトラッキン
グするための第１のトラッキングシステム５２を有す
る。装置１０は記録処理の間に基準スケール１８上の反
射性の印５０をトラッキングするための第２のトラッキ
ングシステム５４を有する。装置１０は情報読み取り若
しくは記録処理の間に放射エネルギービーム２２を光学
ディスク１４上に合焦（フォーカス）させるための第１
のフォーカスシステム５６を有する。装置１０は記録処
理の間には放射エネルギービーム２２を基準スケール１
８の反射面４８上に合焦させるための第２のフォーカス
システム５８を有する。

【００１９】光検出器アレイ４２は第１のトラッキング
システム５２に第１のトラッキング情報信号６０を出力
する。第１のトラッキングシステム５２は第１のトラッ
キングエラー検出器６２、第１のトラッキングサーボ６
４、第１の制御装置６６、第１のトラッキング駆動装置
６８、第１のトラッキングアクチュエータ７０、キャリ
ッジ制御システム７３２及びトラック位置制御装置７４
から成る。キャリッジ制御システム７２及びトラック位
置制御装置７４は第１のトラッキングシステム５２及び
第２のトラッキングシステム５４の両方に共通であるこ
とに注意してほしい。

【００２０】第１のトラッキングエラー検出器６２は第
１のトラッキング情報信号６０を読んで放射エネルギー
ビーム２２が光学ディスク１４上の情報トラックを正し
くトラッキングしているか或いは放射エネルギービーム
２２が光学ディスク１４上の情報トラックから外れてい
るかを判別する。もし放射エネルギービーム２２が光学
ディスク１４上の情報トラックから外れている場合に
は、第１のトラッキングエラー検出器６２が放射エネル
ギービーム２２が情報トラックから外れている距離及び
方向を判別する。この情報は第１のトラッキングエラー
検出器６２から第１のトラッキングエラー信号７６とし
て第１のトラッキングサーボ６４に出力される。

【００２１】第１のトラッキングサーボ６４は第１のト
ラッキングエラー信号７６を読んで放射エネルギービー
ム２２をトラッキングされている情報トラックに正しく
位置合わせするために用いられるべき必要な位相及び利
得補償をもし有れば与える。この情報は第１のトラッキ
ングサーボ６４により第１のトラッキング補償信号７８
として第１の制御装置６６に出力される。

【００２２】第１の制御装置６６の動作は読み出し書き
込み制御装置８０により制御される。読み出し書き込み
制御装置８０は装置１０が光学ディスク１４上に情報を
記録するか又は光学ディスク１４から情報を読み取るか
を制御する。読み出し書き込み制御装置８０は第１の読
み出し書き込み制御信号８２を第１の制御装置６０に出
力する。第１の読み出し書き込み制御信号８２は装置１
０が記録情報を光学ディスク１４から読み取るか情報を
記録するかを指定する。第１の制御装置６６は、第１の
制御装置６６が読み出し書き込み制御装置８０から、第
１の読み出し書き込み制御信号８２を介して、装置１０
が光学ディスク１４から情報を読み取っているとの情報
を受け取った時には第１のトラッキング補償信号７８を
第１の制御信号８４としてキャリッジ制御システム７２
及び第１のトラッキング駆動装置６８に伝達する。キャ
リッジ制御システム７２は情報読み取り処理の間に第１
の制御信号８４を読んでキャリッジスレッド（キャリッ
ジ滑動部材、図示せず）の粗い位置調整を行うためのキ
ャリッジモーター（図示せず）を制御する。キャリッジ
スレッドは図３及び図４に示された光学ヘッドハウジン
グ２９０を担持する。

【００２３】再び図１を参照すれば、トラック位置制御
装置７４は第１のトラック位置制御信号８６を第１のト
ラッキング駆動装置６８に出力する。第１のトラッキン
グ駆動装置６８は情報読み取り処理の間に第１の制御信
号８４及び第１のトラック位置制御信号８６を合成して
第１のトラッキングアクチュエータ７０を制御する第１
のトラッキング駆動信号８８を生成する。第１のトラッ
キングアクチュエータ７０は情報読み取り処理の間に第
１の対物レンズ３０のトラック位置の微調の制御を行
う。

【００２４】第１の制御装置６６は、第１の制御装置６
６が読み出し書き込み制御装置８０から、第１の読み出
し書き込み制御信号８２を介して、装置１０が光学ディ
スク１４に情報を記録しているという情報を受け取った
時には第１のトラッキング補償信号７８を伝達しない。
第１のトラッキングシステム５２は情報読み取り処理の
間にのみ第１のトラッキング補償信号７８を伝達し、記
録処理の間は伝達しない。

【００２５】光検出器アレイ４２は第１のフォーカス情
報信号９０を第１のフォーカスシステム５６に出力す
る。第１のフォーカスシステム５６は第１のフォーカス
エラー検出器９２、第１のフォーカスサーボ９４、第１
のフォーカス駆動装置９６、及び第１のフォーカスアク
チュエータ９８から構成される。第１のフォーカスエラ
ー検出器９２は第１のフォーカス情報信号９０を読み、
放射エネルギービーム２２が光学ディスク１４上に正し
くフォーカスしているか否かを判別する。第１のフォー
カスエラー検出器９２は、放射エネルギービーム２２が
全くフォーカスしていなければ、それが光学ディスク１
４を照射する際のフォーカスの外れの程度を判別する。
この情報は第１のフォーカスエラー検出器９２により第
１のフォーカスエラー１００信号として第１のフォーカ
スサーボ９４に出力される。

【００２６】第１のフォーカスサーボ９４は第１のフォ
ーカスエラー信号１００を読み、もし有れば必要な位相
及び利得補償を与えて、放射エネルギービーム２２を光
学ディスク１４上に正しくフォーカスさせる。この情報
は第１のフォーカスサーボ９４により第１のフォーカス
補償信号１０２として第１のフォーカス駆動装置９６に
出力される。第１のフォーカス駆動装置９６は第１のフ
ォーカス補償信号１０２の完全さを保証するのに適当な
ものであればどのような電気的な構成部品でも良い。一
つの可能な方法は、演算増幅器は第１のフォーカス補償
信号１０２を増幅する第１のフォーカス駆動装置９６と
して用いることである。

【００２７】第１のフォーカス駆動装置９６は第１のフ
ォーカス補償信号１０２を第１のフォーカスアクチュエ
ータ９８を駆動する第１のフォーカス駆動信号１０４と
して伝達する。第１のフォーカスアクチュエータ９８は
第１のフォーカス駆動信号１０４に応答して第１の対物
レンズ３０の光学ディスク１４からの空間距離を制御
し、放射エネルギービーム２２を光学ディスク１４上に
正しくフォーカスさせる。

【００２８】光検出器アレイ４６は第２のトラッキング
情報信号１０６を第２のトラッキングシステム５４に出
力する。第２のトラッキングシステム５４は第２のトラ
ッキングエラー検出器１０８、第２のトラッキングサー
ボ１１０、バッファ増幅器１１２、第２の制御装置１１
４、第２のトラッキング駆動装置１１６、第２のトラッ
キングアクチュエータ１１８、キャリッジ制御システム
７２及びトラック位置制御装置７４から構成される。

【００２９】第２のトラッキングエラー検出器１０８は
第２のトラッキング情報信号１０６を読み、放射エネル
ギービーム２２が基準スケール１８上の反射性の印５０
を正しくトラッキングしているか否かを判別する。もし
放射エネルギービーム２２が基準スケール１８が正しく
トラッキングしていなければ、第２のトラッキングエラ
ー検出器１０８は放射エネルギービーム２２がずれてい
る距離及び方向を判別する。この情報は第２のトラッキ
ングエラー検出器１０８によって第２のトラッキングエ
ラー信号１２０として第２のトラッキングサーボ１１０
に出力される。

【００３０】第２のトラッキングサーボ１１０は第２の
トラッキングエラー信号１２０を読み、放射エネルギー
ビーム２２を基準スケール１８に正しく位置合わせする
ために、もし有れば必要な位相及び利得補償を与える。
この情報は第２のトラッキングサーボ１１０によって第
２のトラッキング補償信号１２２としてバッファ増幅器
１１２に出力される。

【００３１】バッファ増幅器１１２は第２のトラッキン
グ補償信号１２２を中間の第２のトラッキング補償信号
１２４として第２の制御装置１１４に伝達する。バッフ
ァ増幅器は１１２は第２のトラッキング補償信号１２２
の完全さを保証するのに適当なものであればどの様な電
気的構成部品でも良い。一つの可能な方法は第２のトラ
ッキング補償信号１２２を増幅するバッファ増幅器１１
２のために演算増幅器を用いることである。

【００３２】第２の制御装置１１４の動作は読み出し書
き込み制御装置８０によって制御される。読み出し書き
込み制御装置８０は装置１０が光学ディスク１４上に情
報を記録するか或いは光学ディスク１４から情報を読み
取るかを制御する。読み出し書き込み制御装置８０は第
２の読み出し書き込み制御信号１２６を第２の制御装置
１１４に出力する。第２の読み出し書き込み制御信号１
２６は装置１１が光学ディスク１４から情報を読み取る
か光学ディスク１４に情報を記録するかを指定する。第
２の制御装置１１４が読み出し書き込み制御装置８０か
ら、第２の読み出し書き込み制御信号１２６を介して
の、装置１０が光学ディスク１４上に情報を記録してい
るという情報を受け取ったときには、第２の制御装置１
１４は中間の第２のトラッキング補償信号１２４を第２
の制御信号１２８としてキャリッジ制御システム７２及
び第２のトラッキング駆動装置１１６に伝達する。

【００３３】キャリッジ制御システム７２は記録プロセ
スの間に第２の制御信号１２８を読み、キャリッジスレ
ッド（図示せず）の粗い位置調整を行うためにキャリッ
ジモーター（図示せず）を制御する。トラック位置制御
装置７４は第２のトラック位置制御信号１３０を第２の
トラッキング駆動装置１１６に出力する。第２のトラッ
キング駆動装置１１６は記録プロセスの間に第２の制御
信号１２８及び第２のトラック位置制御信号１３０を合
成して第２のトラッキングアクチュエータ１１８を制御
するための第２のトラッキング駆動信号１３２を生成す
る。第２のトラッキングアクチュエータ１１８は記録プ
ロセスの間に放射エネルギービーム２２のトラック位置
決めの微調制御を行う。

【００３４】第２の制御装置１１４は第２の制御装置１
１４が読み出し書き込み制御装置８０から、第２の読み
出し書き込み制御信号１２６を介しての、装置１０が光
学ディスク１４から情報を読み出しているという情報を
受け取った時には中間の第２の補償信号１２４を伝達し
ない。第２のトラッキングシステム５４は記録プロセス
の間にのみ動作し、情報読み取り処理の間は根本的に切
り放される。

【００３５】光検出器アレイ４６は第２のフォーカス情
報信号１３４を第２のフォーカスシステム５８に出力す
る。第２のフォーカスシステム５８は第２のフォーカス
エラー検出器１３６、第２のフォーカスサーボ１３８、
第２のフォーカス駆動装置１４０、第２のフォーカスア
クチュエータ１４２によって構成される。第２のフォー
カスエラー検出器１３６は第２のフォーカス情報信号１
３４を読み、放射エネルギービーム２２が基準スケール
１８の反射面４８に正しくフォーカスしているか否かを
判別する。第２のフォーカスエラー検出器１３６は放射
エネルギービーム２２がフォーカスしていなければ、そ
れが基準スケール１８を照射する際のそのフォーカスず
れの程度を判別する。この情報は第２のフォーカスエラ
ー検出器１３６によって第２のフォーカスエラー信号１
４４として第２のフォーカスサーボ１３８に出力され
る。

【００３６】第２のフォーカスサーボ１３８は第２のフ
ォーカスエラー信号１４４を読み、放射エネルギービー
ム２２を基準スケール１８の反射面４８に正しくフォー
カスさせるために、もし有れば必要な位相及び利得補償
を与える。この情報は第２のフォーカスサーボ１３８に
より第２のフォーカス補償信号１４６として第２のフォ
ーカス駆動装置１４０に出力される。第２のフォーカス
駆動装置１４０は第２のフォーカス補償信号１４６の完
全さを保証するのに適当であればどの様な電気的構成部
品であっても良い。一つの可能な方法は第２のフォーカ
ス補償信号１４６を増幅するための第２のフォーカス駆
動装置１４０として演算増幅器を用いることである。

【００３７】第２のフォーカス駆動装置１４０は第２の
フォーカス補償信号１４６を第２のフォーカスアクチュ
エータ１４２を制御する第２のフォーカス駆動信号１４
８として伝達する。第２のフォーカスアクチュエータ１
４２は第２のフォーカス駆動信号１４８に応答して第２
の対物レンズ３６の基準スケール１８の反射面４８から
の空間距離を制御し、放射エネルギービーム２２を反射
性スケール１８上に正しくフォーカスさせる。

【００３８】読み出し書き込み制御装置８０は放射エネ
ルギー源２０により発せられる放射エネルギービーム２
２の強度を制御する放射エネルギー源制御信号１５０を
発生する。放射エネルギービーム２２は記録プロセスの
間は大きな強度レベルを有し、情報プロセスの間は小さ
な強度レベルを有する。記録プロセスの間は、読み出し
書き込み制御装置８０は放射エネルギー源２０に放射エ
ネルギービーム２２を光学ディスク１４上に情報を記録
するのに充分なレベルの強度で発生させる。放射エネル
ギービーム２２は第１の光学系１２により形成される第
１の経路４０に従って進み、光学ディスク１４に放射エ
ネルギービーム２２を照射させるとともに光検出器アレ
イ４２に光学ディスク１４によって反射された放射エネ
ルギービーム２２を照射させる。放射エネルギービーム
２２はまた第２の光学系１６によって生成される第２の
経路４４に沿って進み、基準スケール１４の反射面４８
に放射エネルギービーム２２を照射させるとともに光検
出器アレイ４６に基準スケール１４により反射された放
射エネルギービーム２２を照射させる。

【００３９】読み出し書き込み制御装置８０は記録プロ
セスの間に第１の制御装置６６及び第２の制御装置１１
４に適切な制御信号を送出することによって第２のトラ
ッキングシステム５４を活性化させ及び第１のトラッキ
ングシステム５２不活性化させる。第２のトラッキング
システム５４は第２の光学系１６と協働して動作し、反
射面４８上の連続する反射性の印５０をトラッキングす
ることによって放射エネルギービーム２２を基準スケー
ル１８の反射面４８の長さ方向に沿って進ませる。第１
の光学系は、第２の光学系５４によって形成される基準
スケール１８を長さ方向に横切る放射エネルギービーム
２２の移動に直接的に対応して放射エネルギービーム２
２を回転する光学ディスク１４の表面を横切って半径方
向に進ませることによって、第２のトラッキングシステ
ム５４と協働する第２の光学系１６の先導に追従する。

【００４０】情報読み取り処理の間、読み出し書き込み
制御装置８０は放射エネルギー源２０に光学ディスク１
４からの情報の読み取りが可能になるのに充分な強度レ
ベルであると同時に光学ディスク１４上に既に記録され
た情報が上書きされて失われることが無いように強度を
制限しつつ放射エネルギービーム２２を発生させる。記
録プロセスの間は読み出し書き込み制御装置８０は第１
の制御装置６６及び第２の制御装置１１４に適切な制御
信号を送出することによって第１のトラッキングシステ
ム５２を活性化させ、第２のトラッキングシステム５４
を非活性化させる。

【００４１】第１の光学系１２は第１のトラッキングシ
ステム５２と協働して従来の光学ディスク演奏装置が光
学ディスクから情報を読み取る際に動作するのとほぼ同
様の動作を成す。第１のトラッキングシステム５２と協
働して動作する第１の光学系１２が放射エネルギービー
ム２２を先行する記録プロセスの間に光学ディスク１４
上に形成された情報トラックを追従させる。

【００４２】第１のフォーカスシステム５６及び第２の
フォーカスシステム５８の両方が記録プロセスの間に使
用される。第１のフォーカスシステム５６が放射エネル
ギービームを光学ディスク１４上で確実に合焦させる。
第２のフォーカスシステム５８が放射エネルギービーム
２２を基準スケール１８の反射面４８上に確実に合焦さ
せる。情報読み取り処理の間は第１のフォーカスシステ
ム５６のみが信頼される。

【００４３】図２を参照すれば、本発明による装置の第
２の実施例が示されており、この例では光学ディスクの
トラッキング及び光学基準スケールのトラッキングに共
通のトラッキングサーボ１５２及び共通のトラッキング
アクチュエータ１５４が用いられている。装置１５６は
第１の光学系１５８及び第２の光学系１６２から成る光
学ヘッドの構成１５７を有している。第１の光学系１５
８は光学ディスク１６０に情報を記録し光学ディスクか
ら記録情報を読み取る処理の間に用いられる。第２の光
学系１６２は光学ディスクに情報を記録する処理の間に
のみ第１の光学系１５８と協働して排他的に用いられ
る。記録プロセスの間、第２の光学系１６２は高精度の
光学基準スケール１６４をトラッキングし、光学ディス
ク１６０に記録された情報トラックのピッチ（間隔）を
第１の光学系１５８に対して制御する。第１の光学系１
５８は光学ディスク１６０に情報を記録するときに第２
の光学系１６２の先導に追従する。

【００４４】第１の光学系１５８及び第２の光学系１６
２は各々が両方の系に共通の光学部品を共有するととも
にそれぞれの系にのみ属する別個の光学部品を使用す
る。第１の光学系１５８及び第２の光学系１６２の両方
に共通の光学部品には放射エネルギービーム１６８を発
する放射エネルギー源１６６、放射エネルギービーム１
６８を２以上のビームに分離するための回折格子１７
０、フィールドレンズ１７２、及び第１のビーム・スプ
リッター１７４が含まれる。単一の放射エネルギービー
ムを用いるシステムにおいては回折格子１７０は省略す
るかまたはコリメーターレンズで置き換えることができ
る。

【００４５】放射エネルギー源１６６は光学ディスクか
ら情報を読み取り、光学ディスクに情報を記録するため
の放射エネルギービームを生成するのに適当な当業者に
知られているどのような放射エネルギー源でも良い。例
えば、放射エネルギー源１６６は光学式ディスクプレー
ヤ及び記録装置に普通に用いられているレーザーダイオ
ードのどれでも良い。

【００４６】第１の光学系１５８にのみ属する光学部品
には第１の対物レンズ１７６及び第１のフィールドレン
ズ１７８が含まれる。第２の光学系１６２にのみ属する
光学部品には第２のビーム・スプリッター１８０、第２
の対物レンズ１８２、及び第２のフィールドレンズ１８
４が含まれる。放射エネルギービーム１６８第１の光学
系１５８の構成部品により形成される第１の経路１８６
に沿って以下のように進む。放射エネルギー源１６６は
放射エネルギービーム１６８を発し、後者は回折格子１
７０及びフィールドレンズ１７２を通過し、第１のビー
ム・スプリッター１７４によって部分的に反射され、第
１の対物レンズ１７６を通過して光学ディスク１６０に
照射され、光学ディスク１６０によって反射され、再び
第１の対物レンズ１７６を通過し、第１のビーム・スプ
リッター１７４を通過し、第１のフィールドレンズ１７
８を通過して光検出器アレイ１８８に照射される。

【００４７】放射エネルギービーム１６８は第２の光学
系１６２の構成部品により形成される第２の経路１９０
に沿って以下のように進む。放射エネルギー源１６６が
放射エネルギービーム１６８を発し、後者は回折格子１
７０及びフィールドレンズ１７２を通過し、部分的に第
２の対物レンズ１８２を通過して基準スケール１６４に
照射され、基準スケール１６４によって反射され、再び
対物レンズ８２を通過し、第２のビーム・スプリッター
１８０を通過し、第２のフィールドレンズ１８４を通過
して光検出器アレイ１９２に照射される。

【００４８】第１の光学系１５８及び第２の光学系１６
２の機能及び動作は光学ディスク１６０及び基準スケー
ル１６４を交換することによって切り替えることがで
き、それによって光学ヘッドの構成１５７と機能的には
同様に動作するやや異なる光学ヘッドの構成が得られ
る。光検出器アレイ１８８及び１９２光学ディスクトラ
ッキング及びフォーカスシステムとともに用いる当業者
に知られた普通の光検出器アレイの構成どれでも良い。

【００４９】基準スケール１６４は記録プロセスの間に
放射エネルギービーム１６８を反射するための反射面１
９４を有する。反射面１９４は放射エネルギービーム１
６８が基準スケール１６４の長さ方向に沿ってトラック
ッキングすることを可能にするための連続的に間隔のあ
いた反射性の印１９６を有する。反射性の印１９６の間
隔は光学ディスク１６０上に記録された情報トラックの
間の間隔に直接的に関係している。

【００５０】反射面１９４は放射エネルギービーム１６
８によって識別することが可能な連続的に間隔のあいた
反射性の印１９６をもうけることが可能な適当な反射性
の材料のどれを用いて作ることも可能である。反射面１
９４のための適切な特性を得る一つの可能な方法は光学
ディスク技術によって用いられるものと同一の技術を用
いることである。反射面１９４上の反射性の印１９６は
光学ディスクの反射面上の情報トラックと技術的には同
一の間隔のあいた光学チェックマークにより表すことが
可能である。この技術は本技術分野において周知である
ためここでは詳述する必要は無い。反射性の印１９６の
間の間隔は均一である必要は無いことに注意すべきであ
る。

【００５１】装置１５６は情報読み取り処理の間に既に
光学ディスク１６０に既に記録された情報トラックをト
ラッキングするための第１のトラッキングシステム１９
８と、基準スケール１６４上の反射性の印１９６を記録
プロセスの間にトラッキングするための第２のトラッキ
ングシステム２００から構成される。第１のトラッキン
グシステム１９８及び第２のトラッキングシステム２０
０の両方が共通のトラッキングサーボ１５２、共通のト
ラッキング駆動装置２０２、及び共通のトラッキングア
クチュエータ１５４を共有する。装置１５６は情報読み
取り又は記録プロセスのどちらの場合にも放射エネルギ
ービームを光学ディスク１６０上に合焦させるための第
１のフォーカスシステム２０８を有する。装置１５６は
記録プロセスの間に放射エネルギービーム１６８を基準
スケール１６４の反射面１９４上に合焦させるための第
２のフォーカスシステム２１０を有する。

【００５２】光検出器アレイ１８８は第１のトラッキン
グ情報信号２１２を第１のトラッキングシステム１９８
に出力する。第１のトラッキングシステム１９８は第１
のトラッキングエラー検出器２１４、第１のトラッキン
グサーボ２１６、第１の制御装置２１８、共通のトラッ
キングサーボ１５２、共通のトラッキング駆動装置２０
２、共通のトラッキングアクチュエータ１５４、キャリ
ッジ制御システム２０４及びトラック位置制御装置２０
６から構成される。キャリッジ制御システム及びトラッ
ク位置制御装置２０６は第１のトラッキングシステム１
９８及び第２のトラッキングシステム２００の両方に共
通であることに注意されたい。

【００５３】第１のトラッキングエラー検出器２１４は
第１のトラッキング情報信号２１２を読み、放射エネル
ギービーム１６８が光学ディスク１６０上の情報トラッ
クを正しくトラッキングしているか或いは放射エネルギ
ービーム１６８が光学ディスク１６０上の情報トラック
からずれているか否かを判別する。もし放射エネルギー
ビーム１６８が光学ディスク１６０上の情報トラックか
らずれていれば、第１のトラッキングエラー検出器２１
４が放射エネルギービーム１６８が情報トラックからず
れている距離及び方向を判別する。この情報は第１のト
ラッキングエラー検出器２１４によって第１のトラッキ
ングエラー信号２２０として第１のトラッキングサーボ
２１６に出力される。

【００５４】第１のトラッキングサーボ２１６は第１の
トラッキングエラー信号２２０を読み、もし有れば放射
エネルギービーム１６８をトラッキングされている情報
トラックに正しく位置合わせするために使用されるべき
必要な位相及び利得補償を提供する。この情報は第１の
トラッキングサーボ２１６によって第１のトラッキング
補償信号２２２として第１の制御装置２１８に出力され
る。

【００５５】第１の制御装置２１８の動作は読み出し書
き込み制御装置２２４によって制御される。読み出し書
き込み制御装置２２４は装置１５６が光学ディスク１６
０上に情報を記録するか又は装置が光学ディスク１６０
から情報を読み取るかを制御する。読み出し書き込み制
御装置２２４は第１の読み出し書き込み制御信号２２６
を第１の制御装置２１８に出力する。第１の読み出し書
き込み制御信号２２６は装置１５６が光学ディスク１６
０から情報を読み取るか又は光学ディスク１６０に情報
を記録するかを指定する。第１の制御装置２１８は、第
１の制御装置２１８が読み出し書き込み制御装置２２４
からの第１の読み出し書き込み制御信号２２６を介して
の、装置１５６が光学ディスク１６０から情報を読み取
っているという情報を受け取ったときに、第１のトラッ
キング補償信号２２２を第１の制御信号２２８として共
通のトラッキングサーボ１５２に伝達する。

【００５６】共通のトラッキングサーボ１５２は第１の
制御信号２２８を処理して共通のトラッキングサーボ信
号２３０を生成する。キャリッジ制御システム２０４は
情報読み取り処理の間に共通のトラッキングサーボ信号
２３０を読み取り、キャリッジスレッド（図示せず）の
粗い位置調整のためのキャリッジモーター（図示せず）
を制御する。キャリッジスレッドは図３及び図４に示さ
れた光学ヘッドハウジング２９０を担持する。

【００５７】再び図２を参照すれば、トラック位置制御
装置２０６はトラック位置制御信号２３２を共通のトラ
ッキング駆動装置２０２に出力する。共通のトラッキン
グ駆動装置２０２は情報読み取り処理の間に共通のトラ
ッキングサーボ信号２３０及びトラック位置制御信号２
３２を合成して共通のトラッキングアクチュエータ１５
４を制御する共通のトラッキング駆動信号２３４を生成
する。共通のトラッキングアクチュエータ１５４は情報
読み取り処理の間に放射エネルギービーム１６８の微調
トラック位置決めを制御する。

【００５８】第１の制御装置２１８は、第１の制御装置
２１８が読み出し書き込み制御装置２２４からの、第１
の読み出し書き込み制御信号２２６を介しての、装置１
５６が光学ディスク１６０に情報を記録しているという
情報を受け取ったときには第１のトラッキング補償信号
２２２を伝達しない。第１のトラッキングシステム１９
８は情報読み取り処理の間にのみ第１のトラッキング補
償信号２２２を伝達し記録プロセスの間は伝達しない。

【００５９】光検出器アレイ１８８は第１のフォーカス
情報信号２３６を第１のフォーカスシステム２０８に出
力する。第１のフォーカスシステム２０８は第１のフォ
ーカスエラー検出器２３８、第１のフォーカスサーボ２
４０、第１のフォーカス駆動装置２４２、及び第１のフ
ォーカスアクチュエータ２４４から構成される。第１の
フォーカスエラー検出器２３８は第１のフォーカス情報
信号２３６を読み、放射エネルギービーム１６８が光学
ディスク１６０上に正しくフォーカスしているか否かを
判別する。第１のフォーカスエラー検出器２３８は放射
エネルギービーム１６８がもし全く合焦していなけれ
ば、後者が光学ディスク１６０に照射される際のそのフ
ォーカス外れの程度を判別する。この情報は第１のフォ
ーカスエラー検出器２３８により第１のエラー信号２４
６として第１のフォーカスサーボ２４０に出力される。

【００６０】第１のフォーカスサーボ２４０は第１のフ
ォーカスエラー信号２４６を読み、もし有れば放射エネ
ルギービーム１６８を光学ディスク１６０上に正しくフ
ォーカスさせるために必要な位相及び利得補償を与え
る。この情報は第１のフォーカスサーボ２４０により第
１のフォーカス補償信号２４８として第１のフォーカス
駆動装置２４２に出力される。第１のフォーカス駆動装
置は第１のフォーカス補償信号２４８の完全さを保証す
るのに適当な電気的部品のどれであっても良い。一つの
可能な方法は第１のフォーカス補償信号２４８を増幅す
る第１のフォーカス駆動装置２４２のために演算増幅器
を用いることである。

【００６１】第１のフォーカス駆動装置２４２は第１の
フォーカス補償信号２４８を第１のフォーカスアクチュ
エータ２４４を制御する第１のフォーカス駆動信号２５
０として伝達する。第１のフォーカスアクチュエータ２
４４は第１のフォーカス駆動信号２５０に応答して光学
ディスク１６０からの第１の対物レンズ１７６の空間距
離を制御して放射エネルギービーム１６８を光学ディス
ク１６０上に正しくフォーカスさせる。

【００６２】光検出器アレイ１９２は第２のトラッキン
グ情報信号２５２を第２のトラッキングシステム２００
に出力する。第２のトラッキングシステム２００は第２
のトラッキングエラー検出器２５４、第２のトラッキン
グサーボ２５６、第２の制御装置２５８、共通のトラッ
キングサーボ１５２、共通のトラッキング駆動装置２０
２、共通のトラッキングアクチュエータ１５４、キャリ
ッジ制御システム２０４及びトラック位置制御装置２０
６から構成される。

【００６３】第２のトラッキングエラー検出器２５４は
第２のトラッキング情報信号２５２を読み、放射エネル
ギービーム１６８が基準スケール１６４上の反射性の印
１９６に正しくトラッキングしているか否かを判別す
る。もし放射エネルギービーム１６８が基準スケール１
６４を正しくトラッキングしていなければ、第２のトラ
ッキングエラー検出器２５４が放射エネルギービーム１
６８がトラックからずれている距離及び方向を判別す
る。この情報は第２のトラッキングエラー検出器２５４
により第２のトラッキングエラー信号２６０として第２
のトラッキングサーボ２５６に出力される。

【００６４】第２のトラッキングサーボ２５６は第２の
トラッキングエラー信号２６０を読み、もし有れば、放
射エネルギービーム１６８を基準スケール１６４に対し
て正しく位置合わせするために使用すべき必要な位相及
び利得補償を与える。この情報は第２のトラッキングサ
ーボ２５６によって第２のトラッキング補償信号２６２
として第２の制御装置２５８に出力される。

【００６５】第２の制御装置２５８の動作は読み出し書
き込み制御装置２２４によって制御される。読み出し書
き込み制御装置２２４は装置１５６が情報を光学ディス
ク１６０に記録するか又は光学ディスク１６０から情報
を読み取るかを制御する。読み出し書き込み制御装置２
２４は第２の読み出し書き込み制御信号２６４を第２の
制御装置２５８に出力する。第２の読み出し書き込み制
御信号２６４は装置１５６が光学ディスク１６０から情
報を読み取るか光学ディスク１６０に情報を記録するか
を指定する。第２の制御装置２５８は第２の制御装置２
５８が読み出し書き込み制御装置２２４から、第２の読
み出し書き込み制御信号２６４を介して、装置１５６が
光学ディスク１６０に情報を記録しているとの情報を受
け取ったときに第２の制御信号２６６として第２のトラ
ッキング補償信号２６２を共通のトラッキングサーボ１
５２に伝達する。

【００６６】共通のトラッキングサーボ１５２は第２の
制御信号２６６を処理して共通のトラッキングサーボ信
号２３０を生成する。キャリッジ制御システム２０４は
記録プロセスの間に共通のトラッキングサーボ信号２３
０を読み、キャリッジスレッドの粗い位置調整（図示せ
ず）を行うキャリッジモーター（図示せず）を制御す
る。

【００６７】トラック位置制御装置２０６がトラック位
置制御信号２３２を共通のトラッキング駆動装置２０２
に出力する。共通のトラッキング駆動装置２０２は記録
プロセスの間トラック位置制御信号２３２及び共通のト
ラッキングサーボ信号２３０を合成して共通のトラッキ
ングアクチュエータ１５４を制御する共通のトラッキン
グ駆動信号２３４を生成する。共通のトラッキングアク
チュエータ１５４は記録プロセスの間に放射エネルギー
ビーム１６８のトラック位置決め微調制御を行う。

【００６８】第２の制御装置２５８は、第２の制御装置
２５８が読み出し書き込み制御装置２２４から、第２の
読み出し書き込み制御信号２６４を介して、装置１５６
が光学ディスク１６０から情報を読み取っているとの情
報を受け取ったときには第２の補償信号２６２を伝達し
ない。第２のトラッキングシステム２００は記録プロセ
スの間にのみ活性化され、情報読み取り処理の間は本質
的に切り離される。

【００６９】光検出器アレイ１９２は第２のフォーカス
情報信号２６８を第２のフォーカスシステム２１０に出
力する。第２のフォーカスシステム２１０は第２のフォ
ーカスエラー検出器２７０、第２のフォーカスサーボ２
７２、第２のフォーカス駆動装置２７４、及び第２のフ
ォーカスアクチュエータ２７６によって構成される。第
２のフォーカスエラー検出器２７０は第２のフォーカス
情報信号２６８を読み、放射エネルギービーム１６８が
基準スケール１６４の反射面１９４に正しくフォーカス
しているか否かを判別する。第２のフォーカスエラー検
出器２７０は放射エネルギービーム１６８が全くフォー
カスからずれていれば、後者が基準スケール１６４に照
射される際のフォーカスのずれ程度を判別する。この情
報は第２のフォーカスエラー検出器２７０から第２のフ
ォーカスエラー信号２７８として第２のフォーカスサー
ボ２７２に出力される。

【００７０】第２のフォーカスサーボ２７２は第１のフ
ォーカスエラー信号２７８を読み、もし有れば、放射エ
ネルギービーム１６８を基準スケール１６４の反射面１
９４に正しくフォーカスさせるために必要とされる位相
及び利得補償を与える。この情報は第２のフォーカスサ
ーボ２７２により第２のフォーカス補償信号２８０とし
て第２のフォーカス駆動装置２７４に出力される。第２
のフォーカス駆動装置２７４は第２のフォーカス補償信
号２８０の完全さを保証するのに適当な電気的部品のど
れでも良い。一つの可能な方法は第２のフォーカス補償
信号２８０を増幅する第２のフォーカス駆動装置２７４
のために演算増幅器を用いることである。

【００７１】第２のフォーカス駆動装置２７４は第２の
補償信号２８０を第２のフォーカスアクチュエータ２７
６を制御する第２のフォーカス駆動信号２８２として伝
達する。第２のフォーカスアクチュエータ２７６は第２
のフォーカス駆動信号２８２に応答して放射エネルギー
ビーム１６８を基準スケール１６４上に正しくフォーカ
スさせるために第２の対物レンズ１８２の基準スケール
１６４の反射面１９４からの空間距離を制御する。

【００７２】読み出し書き込み制御装置２２４は放射エ
ネルギー源１６６によって発せられる放射エネルギービ
ーム１６８の強度を制御する放射エネルギー源制御信号
２８４を発生する。放射エネルギービーム１６８は記録
プロセスの間に大なる強度レベルを有し、情報プロセス
の間小なる強度レベルを有する。記録プロセスの間、読
み出し書き込み制御装置２２４は放射エネルギー源１６
６に光学ディスク１６０に情報を記録するために充分な
レベルの強度で放射エネルギービーム１６８を発生させ
る。放射エネルギービーム１６８は第１の光学系１５８
によって形成される第１の経路１８６に沿って進み、光
学ディスク１６０に放射エネルギービーム１６８を照射
させ、光検出器アレイ１８８に光学ディスク１６０によ
って反射された放射エネルギービーム１６８を照射させ
る。放射エネルギービーム１６８は第２の光学系１６２
によって形成される第２の経路１９０に沿って進み、基
準スケール１６４の反射面１９４に放射エネルギービー
ム１６８を照射させ、光検出器アレイ１９２に基準スケ
ール１６４によって反射された放射エネルギービーム１
６８を照射させる。

【００７３】読み出し書き込み制御装置２２４は記録プ
ロセスの間、適切な制御信号を第１の制御装置２１８及
び第２の制御装置２５８に送出することにより第２のト
ラッキングシステム２００を活性化させ及び第１のトラ
ッキングシステム１９８を不活性化させる。第２のトラ
ッキングシステム２００は第２の光学系１６２と協働し
て動作し、反射面１９４上の連続する反射性の印１９６
をトラッキングすることによって放射エネルギービーム
１６８を基準スケール１６４の反射面１９４の長さ方向
に沿って進む。第１の光学系１５８は放射エネルギービ
ーム１６８の第２の光学系１６２により形成される基準
スケール１６４の長さを横切る移動に直接対応して放射
エネルギービーム１６８を回転する光学ディスク１６０
の表面を横切って半径方向に進ませることによって、第
２のトラッキングシステム２００と協働して動作する第
２の光学系の先導に従う。

【００７４】情報読み取り処理の間、読み出し書き込み
制御装置２２４は放射エネルギー源１６６に光学ディス
ク１６０からの情報の読み取りを可能にするのに充分な
強度レベルで放射エネルギービーム１６８を発生させ、
それと同時に光学ディスク１６０上に既に記録された情
報が上書きされ失われることが無いように強度を制限す
る。読み出し書き込み制御装置２２４は記録プロセスの
間、第１の制御装置２１８及び第２の制御装置２５８に
適切な制御信号を送出することによって第１のトラッキ
ングシステム１９８を活性化させ第２のトラッキングシ
ステム２００を不活性化させる。

【００７５】第１の光学系１５８は従来の光学ディスク
再生装置が光学ディスクから情報を読み取るときに動作
する方法とほぼ同一の方法で第１のトラッキングシステ
ム１９８と協働して動作する。第１のトラッキングシス
テム１９８と協働して動作する第１の光学系１５８は放
射エネルギービーム１６８に先行する記録プロセスの間
に光学ディスク１６０上に形成された情報トラックを追
従させる。

【００７６】第１のフォーカスシステム２０８及び第２
のフォーカスシステム２１０の両方が記録プロセスの間
使用される。第１のフォーカスシステム２０８は放射エ
ネルギービーム１６８が光学ディスク１６０上に合焦す
ることを確実にさせる。第２のフォーカスシステムは放
射エネルギービーム１６８が基準スケール１６４の反射
面１９４上に合焦することを確実にする。情報読み取り
処理の間は第１のフォーカスシステム２０８のみが信頼
される。

【００７７】図３及び図４を参照すれば、光学ディスク
２８６、基準スケール及び光学ヘッドハウジング２９０
が示されている。光学ヘッドハウジング２９０は第１の
対物レンズ２９２及び第２の対物レンズ２９４を有して
いる。第１の対物レンズ２９２は放射エネルギービーム
２９６を光学ディスク２８６に向けて方向づけ、放射エ
ネルギービーム２９６を光学ディスク２８６の表面に合
焦させ、記録プロセスの間に光学ディスク２８６上に情
報トラックを記録し、情報読み取り処理の間に光学ディ
スク２８６上の情報トラックをトラッキングするために
用いられる。

【００７８】第２の対物レンズ２９４は放射エネルギー
ビーム２９８を基準スケール２８８に向けて方向づけ、
放射エネルギービーム２９８を基準スケール２８８の反
射面３００に合焦させ、記録プロセスの間に反射面３０
０上の反射性の印３０２を基準スケール２８８の長さに
沿ってトラッキングするために用いられる。光学ヘッド
ハウジング２９０は光学ディスク２８６に平行な半径軸
にほぼ沿って第１の対物レンズ２９２が光学ディスク２
８６の表面に対面するように移動しなければならない。
基準スケール２８８の縦軸は矢印３０４によって示され
るようにそれに沿って光学ヘッドハウジング２９０が移
動する光学ディスク２８６の半径軸に平行に位置してい
なければならない。

【００７９】基準スケール２８８はまた反射性の印３０
２を担時する反射面３００が第２の対物レンズ２９４に
対面するように位置していなければならない。第１の対
物レンズ２９２及び第２の対物レンズ２９４から出射す
る放射エネルギービーム２９６及び２９８によって形成
される角度は第２の対物レンズ２９４及び基準スケール
２８８の反射面３００が互いに面している限りどのよう
な大きさの角度でも良い。一つの可能な構成は図３及び
図４に図示された如く、第１の対物レンズ２９２から出
射する放射エネルギービーム２９６及び第２の対物レン
ズ２９４から出射する放射エネルギービーム２９８をふ
たつのビームが９０度の角度を形成するようにする構成
である。この構成において、基準スケール２８８の幅は
光学ディスク２８６の表面に対して９０度の角度で位置
することになる。

【００８０】記録プロセスの間、基準スケール２８８の
反射面３００上の反射性の印３０２をトラッキングする
ことにより、光学ヘッドハウジング２９０は回転する光
学ディスク２８６の表面を横切って半径方向に移動す
る。基準スケール２８８は光学ヘッドハウジング２９０
の第２の対物レンズ２９４を通して反射面３００上の反
射性の印３０２に放射エネルギービーム２９８を照射す
ることによってトラッキングされる。光学ヘッドハウジ
ング基準スケール２８８をトラッキングするのに従っ
て、放射エネルギービーム２９６が第１の対物レンズ２
９２を通して伝達され、光学ディスク２８６に照射され
てその上に情報を記録し、その結果光学ディスク２８６
上に情報トラックが形成される。

【００８１】図５を参照すれば、第１の光学系３０８及
び第２の光学系３１０を有する第２の光学ヘッド３０６
の構成が示されている。第１の光学系３０８及び第２の
光学系３１０は図１に示された装置１０における第１の
光学系１２及び第２の光学系１６の代わり、または図２
に示された装置１５６における第１の光学系１５８及び
第２の光学系１６２の代わりに使用することができる。

【００８２】再び図５を参照すれば、第１の光学系３０
８は情報を記録する処理及び光学ディスク３１２から記
録情報を読み取る処理の間に使用される。第２の光学系
３１０は光学ディスク上に情報を記録する処理の間にの
み第１の光学系３０８と協働して用いられる。記録プロ
セスの間に、第２の光学系３１０が高精度の光学基準ス
ケール３１４をトラッキングして光学ディスク３１２上
に記録された情報トラックの間のピッチを第１の光学系
３０８に対して制御する。第１の光学系３０８は光学デ
ィスク３１２上に情報に記録するときに第２の光学系３
１０の先導に追従する。

【００８３】第１の光学系３０８及び第２の光学系はそ
れぞれ両方のシステムに共通の光学部品を共有するとと
もにそれぞれの系にのみ属する別々の光学部品を使用す
る。第１の光学系３０８及び第２の光学系３１０の両方
に共通の光学部品には放射エネルギービーム３１８を発
する放射エネルギー源３１６、放射エネルギービーム３
１８を２以上のビームにを分離するための回折格子３２
０、及び第２のビーム・スプリッター３２２が含まれ
る。単一の放射エネルギービームを用いるシステムにお
いては回折格子は省略するか又はコリメーターレンズに
よって置き換えることができる。

【００８４】放射エネルギー源３１６は図１に示された
装置１０における放射エネルギー源２００及び図２に示
された装置１５６における放射エネルギー源１６６と同
一の特性を有する。再び図５を参照すれば、第１の光学
系３０８にのみ属する光学部品には第１のビーム・スプ
リッター３３０、第１の対物レンズ３２４、第１のフィ
ールドレンズ３２８、第１の補助フィールドレンズ３２
６が含まれる。第２の光学系３１０にのみ属する光学部
品には第２の対物レンズ３２２、第２のフィールドレン
ズ３３６、第２の補助フィールドレンズ３３４が含まれ
る。

【００８５】放射エネルギービーム３１８は第１の光学
系３０８の構成部品によって形成される第１の経路３３
８に従って以下の様に進む。即ち、放射エネルギー源３
１６が放射エネルギービーム３１８を発し後者は回折格
子３２０、第２のビーム・スプリッター３２２、第１の
ビーム・スプリッター３１２を通過し、光学ディスク３
１２によって反射され、再び第１の対物レンズ３２４及
び第１の補助フィールドレンズ３２８を通過し、光検出
器アレイ３４０に照射される。

【００８６】放射エネルギービーム３１８は第２の光学
系３１０の構成部品により形成される第２の経路３４２
に従って以下の様に進む。即ち、放射エネルギー源３１
６が放射エネルギービーム３１８を発し後者は回折格子
３２０を通過し、第２のビーム・スプリッター３２２に
よって部分的に反射され、第２の補助フィールドレンズ
３３４を通過し、第２の対物レンズ３３２を通過して基
準スケール３１４に照射され、基準スケール３１４によ
って反射され、再び第２の対物レンズ３３２を通過し、
第２の補助フィールドレンズ３３４を通過し、第２のビ
ーム・スプリッター３２２を通過し、第２のフィールド
レンズ３３６を通過して検出器３４４に照射される。

【００８７】第１の光学系３０８及び第２の光学系３１
０の機能及び動作は光学ディスク３１２及び基準スケー
ル３１４を交換することにより切り換えることができ、
それにより光学ヘッドの構成３０６と機能的には同一に
動作するやや異なる光学ヘッド構成が得られる。光検出
器アレイ３４０及び３４４は図１に示された装置１０に
おける光検出器アレイ４２及び４６及び図２に示された
装置１５６における光検出器アレイ１８８及び１９２と
同一の特性を有する。

【００８８】基準スケール３１４は図１に示された装置
１０における基準スケール１８及び図２に示された装置
１５６における基準スケール１６４と同一の特性を有す
る。動作時には、第１の光学系３０８及び第２の光学系
３１０は図１に示された装置１０における第１の光学系
１２及び第２の光学系１６が動作するのと同一の方法で
動作し、図２に示された装置１５６における光学系１５
８及び第２の光学系１６２が動作するのと同一の方法で
動作する。

【００８９】図６及び図７を参照すれば、第１の光学系
３４８及び第２の光学系３５０を有する第３の光学ヘッ
ドの構成３４６が示されている。第１の光学系３４８及
び第２の光学系３５０は図１に示された装置１０におけ
る第１の光学系１２及び第２の光学系１６の代わりに、
又は図２に示された装置１５６における第１の光学系１
５８及び第２の光学系１６２の代わりに使用することが
できる。

【００９０】再び図６及び図７を参照すれば、第１の光
学系３４８光学ディスク３５２に情報を記録する処理及
び光学ディスク３５２から記録情報を読み取る処理の間
に使用される。第２の光学系３５０は光学ディスク上に
情報を記録する処理の間にのみ第１の光学系３４８と協
働して使用される。記録プロセスの間に、第２の光学系
３５０は高精度の光学基準スケール３５４をトラッキン
グして光学ディスク３５２上に記録された情報トラック
の間のピッチを第１の光学系３４８に対して制御する。
第１の光学系３４８は光学ディスク３５２に情報を記録
する際に第２の光学系３５０の先導に追従する。

【００９１】第１の光学系３４８及び第２の光学系３５
０はそれぞれ両方の系に共通の光学部品を共有するとと
もに各系にのみ属する別個の光学部品を使用する。第１
の光学系３４８及び第２の光学系３５０の両方に共通の
光学部品には放射エネルギービーム３５８を発する放射
エネルギー源３５６、フィールドレンズ３６０、及び第
１のビーム・スプリッター３６２が含まれる。

【００９２】放射エネルギー源３５６は図１に示された
装置１０における放射エネルギー源２０及び図２に示さ
れた装置１５６における放射エネルギー源１６６と同一
の特性を有する。再び図６及び図７を参照すれば、第１
の光学系３４８にのみ属する光学部品には第１の対物レ
ンズ３６４及び第１のフィールドレンズ３６８が含まれ
る。第２の光学系３５０にのみ属する光学部品には第２
のビーム・スプリッター３７０、プリズム３７４、第２
の対物レンズ３７２、第２のフィールドレンズ３７６が
含まれる。

【００９３】放射エネルギービーム３５８は第１の光学
系３４８の構成部品により形成される第１の経路３７８
に沿って以下のように進む。即ち、放射エネルギー源３
５６は放射エネルギーのビーム３５８を発し、後者はフ
ィールドレンズ３６０を通過し、第１のビーム・スプリ
ッター３６２によって部分的に反射され、第１の対物レ
ンズ３６４を通過して光学ディスク３５２に照射され、
光学ディスク３５２によって反射され、再び第１の対物
レンズ３６４を通過し、第１のビーム・スプリッター３
６２を通過し、第１のフィールドレンズ３６８を通過し
て光検出器アレイ３８０に照射される。

【００９４】放射エネルギービーム３５８は第２の光学
系３５０の構成部品によって形成される第２の経路３８
２に沿って以下のように進む。即ち、放射エネルギー源
３５６が放射エネルギービーム３５８を発し、後者はフ
ィールドレンズ３６０を通過し、第１のビーム・スプリ
ッター３６２を通過し、第２のビーム・スプリッター３
７０を通過し、プリズム３７４を通過して放射エネルギ
ービーム３５８は第１の放射エネルギービーム３５８ａ
及び第２の放射エネルギービーム３５８ｂに分離し、第
１の放射エネルギービーム３５８ａ及び第２の放射エネ
ルギービーム３５８ｂの両方が第２の対物レンズ３７２
を通過して基準スケール３５４に照射され、第１の放射
エネルギービーム３５８ａ及び第２の放射エネルギービ
ーム３５８ｂの両方が基準スケール３５４によって反射
され、第１の放射エネルギービーム３５８ａ及び第２の
放射エネルギービーム３５８ｂの両方が第２のビーム・
スプリッター３７０によって部分的に反射された放射エ
ネルギービーム３５８として再びプリズム３７４を通過
し、第２のフィールドレンズ３７６を通過し、光検出器
アレイ３８４に照射される。

【００９５】光検出器アレイ３８０及び３８４は図１に
示された装置１０における光検出器アレイ４２及び４６
及び図２に示された装置１５６における光検出器アレイ
１８８及び１９２と同一の特性を有する。基準スケール
３５４は図１に示された装置１０における基準スケール
１８及び図２に示された装置１５６における基準スケー
ル１６４と同一の特性を有する。

【００９６】図７を参照すれば、反射性スケール３５４
の反射面３８８に照射される第１の放射エネルギービー
ム３５８ａ及び第２の放射エネルギービーム３５８ｂが
示されている。第１の放射エネルギービーム３５８ａ及
び第２の放射エネルギービーム３５８ｂはビームの中心
が順次基準スケール３５４の縦軸に位置合わせされるよ
うに配置することができる。これにより、第１の放射エ
ネルギービーム３５８ａ及び第２の放射エネルギービー
ム３５８ｂが記録プロセスの間に図７に示された如く反
射性の印３８６に跨り、より滑らかかつ正確な基準スケ
ール３５４のトラッキングが行われる。

【００９７】動作時には、第１の光学系３４８及び第２
の光学系３５０は図１に示された装置１０における第１
の光学系１２及び第２の光学系１６及び図２に示された
装置１５６における光学系１５８及び第２の光学系１６
２が動作するのと同一の方法で動作する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光学ディスク装置の一実施例をブ
ロック図の形式で概略的に表した図である。

【図２】本発明による光学ディスク装置の第２の実施例
をブロック図形式で概略的に表した図であり、光学ディ
スクのトラッキング及び光学基準スケールのトラッキン
グに共通のトラッキングサーボ及び共通のトラッキング
アクチュエータが使用された例である。

【図３】光学ディスク、光学ヘッドハウジング及び光学
基準スケールの構成の一実施例を示す適当な遠点から見
た絵画図である。

【図４】図３に示された光学ディスク、光学ヘッドハウ
ジング及び光学基準スケールの構成の側面図である。

【図５】本発明による光学ディスク装置とともに用いる
第２の光学ヘッドの構成を示す概略図である。

【図６】基準スケールをトラッキングする２つのトラッ
キングビームを生成するためにプリズムを用いた第３の
光学ヘッドの構成を示す概略図である。

【図７】図６に示された基準スケールに照射される二つ
の光学的トラッキングビームの詳細図である。

【主要部分の符号の説明】

１０ 記録装置 １２ 第１の光学系 １４ 光学ディスク １６ 第２の光学系 １８ 基準スケール ２０ 放射エネルギー源 ２２ 放射エネルギービーム

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 軸の回りで回転し、予め作られた情報記
   録用のトラックを有さない光学ディスクの部分に情報を
   記録する装置において、 放射エネルギーを発する放射源と、 前記放射エネルギーの第１のビームを光学ディスクに当
   てる第１の光学系と、 前記放射エネルギーの第２のビームを生成する第２の光
   学系と、 光学ディスクに情報を記録している間に、該光学ディス
   クに形成される情報トラック間の間隔を制御する基準ス
   ケールであって、情報トラック間のピッチを表す間隔を
   置いて離された印を有する基準スケールであり、前記第
   ２のビームが前記基準スケールに当たって該基準スケー
   ルと相互作用して基準スケールとの相互作用後の光を発
   生させ、前記基準スケールは光学ディスクの軸に関して
   静止している基準スケールと、 前記第１の光学系の部分及び前記第２の光学系の部分を
   保持する可動キャリッジであって、該可動キャリッジの
   移動により前記基準スケールの長さ方向軸に沿って第２
   のビームを移動させ、前記基準スケールとの相互作用後
   の光に応答して、前記基準スケールに沿って前記第２の
   ビームを粗に位置決めする可動キャリッジと、及び 前記基準スケールとの相互作用後の光に応答して、前記
   基準スケールに沿って前記第２のビームを微細に位置決
   めする微細トラッキング手段と、を含み、 前記第１のビームは、前記基準スケールに沿った前記第
   ２のビームの移動に応答して、回転する光学ディスクの
   表面を横切るように半径方向に進む情報記録装置。
2. 【請求項２】 予め作られた情報トラックを有しない回
   転する光学ディスクの部分に情報を記録する方法であっ
   て、 放射エネルギー源から放射エネルギービームを発するス
   テップと、 第１の光学系により前記放射エネルギービーム用の第１
   の経路を形成するステップであって、該第１の経路は前
   記放射エネルギー源から光学ディスクにわたる第１の経
   路を形成するステップと、 第２の光学系により前記放射エネルギービーム用の第２
   の経路を形成するステップであって、該第２の経路は前
   記放射エネルギー源から静止している基準スケールにわ
   たっており、前記放射エネルギービームの前記第２の経
   路の部分が前記放射エネルギービームの前記第１の経路
   の部分と共通である第２の経路を形成するステップと、 前記第１の光学系を光学ディスクに対して粗に位置決め
   するために、前記基準スケールを前記第２の光学系によ
   ってトラッキングするステップと、 その上に、前記第１の光学系を光学ディスクに対して微
   細に位置決めするために前記基準スケールを前記第２の
   光学系によってトラッキングするステップと、及び情報
   を光学ディスクに記録するために前記第１の光学系を通
   して光学ディスクを照射するステップと、を含む情報記
   録方法。