JP2748757B2 - 情報処理装置 - Google Patents
情報処理装置Info
- Publication number
- JP2748757B2 JP2748757B2 JP3351445A JP35144591A JP2748757B2 JP 2748757 B2 JP2748757 B2 JP 2748757B2 JP 3351445 A JP3351445 A JP 3351445A JP 35144591 A JP35144591 A JP 35144591A JP 2748757 B2 JP2748757 B2 JP 2748757B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- package
- hot
- swap
- information processing
- diagnostic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
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- Hardware Redundancy (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【０００１】
【技術分野】本発明は情報処理装置に関し、特にシステ
ム運転中における電源オン状態での障害パッケージ交換
後の試験方式に関する。
ム運転中における電源オン状態での障害パッケージ交換
後の試験方式に関する。
【０００２】
【従来技術】近年、情報処理装置が多種多様に利用さ
れ、２４時間運転も稀ではなくなってきており、情報処
理装置の故障による運転停止は社会的問題となってきて
いる。このため、情報処理装置の信頼性は益々高くなる
一方で、情報処理装置のノンストップやノーダウンは当
然のものとなってきている。
れ、２４時間運転も稀ではなくなってきており、情報処
理装置の故障による運転停止は社会的問題となってきて
いる。このため、情報処理装置の信頼性は益々高くなる
一方で、情報処理装置のノンストップやノーダウンは当
然のものとなってきている。
【０００３】従来、この種の情報処理装置においては、
情報処理装置のモジュール化を行い、このモジュールを
電源制御単位とすることによって障害装置の切離し交換
を行っている。しかしながら、今日の半導体技術の進歩
による高集積化によって電源制御単位が大きくなってき
ているため、電源がオン状態でパッケージ交換が行える
活線挿抜パッケージが使用されるようになってきてい
る。この活線挿抜パッケージについては、公技番号90-1
0992号の発明協会公開技報にその使用例が掲載されてい
る。
情報処理装置のモジュール化を行い、このモジュールを
電源制御単位とすることによって障害装置の切離し交換
を行っている。しかしながら、今日の半導体技術の進歩
による高集積化によって電源制御単位が大きくなってき
ているため、電源がオン状態でパッケージ交換が行える
活線挿抜パッケージが使用されるようになってきてい
る。この活線挿抜パッケージについては、公技番号90-1
0992号の発明協会公開技報にその使用例が掲載されてい
る。
【０００４】また、システム運用中に障害パッケージを
交換した場合、システムで走行中のオペレーティングシ
ステムにおいてシステム組入れ後のパッケージが装置管
理テーブル上で障害装置として切離されており、アクセ
スできないように制御されている。したがって、オペレ
ーティングシステム配下で走行する試験プログラムでは
そのパッケージの機能確認を行うことができないように
なっている。
交換した場合、システムで走行中のオペレーティングシ
ステムにおいてシステム組入れ後のパッケージが装置管
理テーブル上で障害装置として切離されており、アクセ
スできないように制御されている。したがって、オペレ
ーティングシステム配下で走行する試験プログラムでは
そのパッケージの機能確認を行うことができないように
なっている。
【０００５】このような従来の情報処理装置では、電源
オン状態で障害パッケージの交換を行う際、障害発生時
に現在運用中のシステム資源である現用系パッケージと
障害発生時の切換え用として待機している予備系パッケ
ージの切換えを行って障害パッケージの交換を行うた
め、交換後の予備系パッケージがオペレーティングシス
テムにおいて装置管理テーブル上で障害装置として切離
され、アクセスできないように制御されている。したが
って、オペレーティングシステム配下で走行する試験プ
ログラムにて機能確認を行うことができないという欠点
がある。
オン状態で障害パッケージの交換を行う際、障害発生時
に現在運用中のシステム資源である現用系パッケージと
障害発生時の切換え用として待機している予備系パッケ
ージの切換えを行って障害パッケージの交換を行うた
め、交換後の予備系パッケージがオペレーティングシス
テムにおいて装置管理テーブル上で障害装置として切離
され、アクセスできないように制御されている。したが
って、オペレーティングシステム配下で走行する試験プ
ログラムにて機能確認を行うことができないという欠点
がある。
【０００６】
【発明の目的】本発明は上記のような従来のものの欠点
を除去すべくなされたもので、電源オン状態で交換した
パッケージの機能確認を行うことができる情報処理装置
の提供を目的とする。
を除去すべくなされたもので、電源オン状態で交換した
パッケージの機能確認を行うことができる情報処理装置
の提供を目的とする。
【０００７】
【発明の構成】本発明による情報処理装置は、電源オン
状態でも抜き差しが自在な複数の活線挿抜パッケージか
らなり、障害が発生した活線挿抜パッケージをシステム
から切離して予備系としかつ予め設定された予備系の活
線挿抜パッケージを現用系に切換えて動作を継続し、診
断用インタフェースを介して保守診断装置に接続される
情報処理装置であって、前記活線挿抜パッケージの動作
確認を行う試験プログラムを格納する格納手段と、自装
置に設けられかつ前記障害が発生した活線挿抜パッケー
ジを交換した活線挿抜パッケージの挿入を検出する検出
手段と、前記保守診断装置に設けられかつ前記検出手段
から前記診断用インタフェースを介して当該活線挿抜パ
ッケージの挿入が通知された時に前記格納手段から前記
試験プログラムを読出して当該活線挿抜パッケージの動
作確認を行う手段と、前記保守診断装置に設けられかつ
前記動作確認の結果を外部に表示する手段とを有するこ
とを特徴とする。
状態でも抜き差しが自在な複数の活線挿抜パッケージか
らなり、障害が発生した活線挿抜パッケージをシステム
から切離して予備系としかつ予め設定された予備系の活
線挿抜パッケージを現用系に切換えて動作を継続し、診
断用インタフェースを介して保守診断装置に接続される
情報処理装置であって、前記活線挿抜パッケージの動作
確認を行う試験プログラムを格納する格納手段と、自装
置に設けられかつ前記障害が発生した活線挿抜パッケー
ジを交換した活線挿抜パッケージの挿入を検出する検出
手段と、前記保守診断装置に設けられかつ前記検出手段
から前記診断用インタフェースを介して当該活線挿抜パ
ッケージの挿入が通知された時に前記格納手段から前記
試験プログラムを読出して当該活線挿抜パッケージの動
作確認を行う手段と、前記保守診断装置に設けられかつ
前記動作確認の結果を外部に表示する手段とを有するこ
とを特徴とする。
【０００８】
【実施例】次に、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。
して説明する。
【０００９】図１は本発明の一実施例の構成を示すブロ
ック図である。図において、情報処理装置１を構成する
活線挿抜パッケージ群１０の活線挿抜パッケージ101 〜
10Nが挿入されたことをパッケージ挿入検出回路１１で
検出すると、その旨が診断用インタフェース５を介して
保守診断装置２に通知される。
ック図である。図において、情報処理装置１を構成する
活線挿抜パッケージ群１０の活線挿抜パッケージ101 〜
10Nが挿入されたことをパッケージ挿入検出回路１１で
検出すると、その旨が診断用インタフェース５を介して
保守診断装置２に通知される。
【００１０】保守診断装置２では活線挿抜パッケージ10
1 〜10N が挿入されたことがパッケージ挿入検出回路１
１から通知されると、ロード回路２０によって磁気ディ
スク３内に予め格納された試験プログラムを活線挿抜パ
ッケージ101 〜10N にロードする。ロード回路２０によ
って活線挿抜パッケージ101 〜10N にロードされた試験
プログラムは試験実行回路２１の制御で実行される。
1 〜10N が挿入されたことがパッケージ挿入検出回路１
１から通知されると、ロード回路２０によって磁気ディ
スク３内に予め格納された試験プログラムを活線挿抜パ
ッケージ101 〜10N にロードする。ロード回路２０によ
って活線挿抜パッケージ101 〜10N にロードされた試験
プログラムは試験実行回路２１の制御で実行される。
【００１１】この試験実行回路２１の試験結果は試験結
果読出し回路２２によって活線挿抜パッケージ101 〜10
N から読出され、試験結果表示回路２３によって保守用
コンソール４に表示される。
果読出し回路２２によって活線挿抜パッケージ101 〜10
N から読出され、試験結果表示回路２３によって保守用
コンソール４に表示される。
【００１２】この図１を用いて本発明の一実施例の動作
について説明する。ここで、情報処理装置１においてシ
ステム運用中に活線挿抜パッケージ群１０の現用系の活
線挿抜パッケージ101 に障害が発生し、予備系の活線挿
抜パッケージ10N に切換わった場合について説明する。
この場合、予備系の活線挿抜パッケージ10N は現用系と
なる。
について説明する。ここで、情報処理装置１においてシ
ステム運用中に活線挿抜パッケージ群１０の現用系の活
線挿抜パッケージ101 に障害が発生し、予備系の活線挿
抜パッケージ10N に切換わった場合について説明する。
この場合、予備系の活線挿抜パッケージ10N は現用系と
なる。
【００１３】障害発生によってシステムから切離されて
予備系となった活線挿抜パッケージ101 は交換された後
に情報処理装置１に挿入される。この活線挿抜パッケー
ジ101 の挿入はパッケージ挿入検出回路１１で検出さ
れ、診断インタフェース５を介して保守診断装置２に自
動的に通知される。
予備系となった活線挿抜パッケージ101 は交換された後
に情報処理装置１に挿入される。この活線挿抜パッケー
ジ101 の挿入はパッケージ挿入検出回路１１で検出さ
れ、診断インタフェース５を介して保守診断装置２に自
動的に通知される。
【００１４】保守診断装置２では活線挿抜パッケージ10
1 の挿入が通知されると、ロード回路２０によって磁気
ディスク３内の試験プログラムを診断用インタフェース
５を介して活線挿抜パッケージ101 にロードする。ロー
ド回路２０による活線挿抜パッケージ101 への試験プロ
グラムのロードが完了すると、試験実行回路２１は活線
挿抜パッケージ101 にロードされた試験プログラムを起
動する。
1 の挿入が通知されると、ロード回路２０によって磁気
ディスク３内の試験プログラムを診断用インタフェース
５を介して活線挿抜パッケージ101 にロードする。ロー
ド回路２０による活線挿抜パッケージ101 への試験プロ
グラムのロードが完了すると、試験実行回路２１は活線
挿抜パッケージ101 にロードされた試験プログラムを起
動する。
【００１５】この試験プログラムの実行が終了すると、
試験結果読出し回路２２は診断用インタフェース５を介
して活線挿抜パッケージ101 から試験結果を読出す。活
線挿抜パッケージ101 から読出された試験結果は試験結
果表示回路２３で編集された後に、保守用コンソール４
に表示される。
試験結果読出し回路２２は診断用インタフェース５を介
して活線挿抜パッケージ101 から試験結果を読出す。活
線挿抜パッケージ101 から読出された試験結果は試験結
果表示回路２３で編集された後に、保守用コンソール４
に表示される。
【００１６】このように、電源オン状態での抜き差しが
自在な活線挿抜パッケージ101 〜10N が障害の発生によ
って交換され、交換後の活線挿抜パッケージ101 〜10N
の挿入がパッケージ挿入検出回路１１で検出されてその
旨が通知されたときにロード回路２０によって磁気ディ
スク３からロードされた試験プログラムを試験実行回路
２１の制御で実行し、その試験結果を試験結果読出し回
路２２によって読出して試験結果表示回路２３から保守
用コンソール４に表示することによって、電源オン状態
で交換した活線挿抜パッケージ101 〜10N の機能確認を
行うことができる。
自在な活線挿抜パッケージ101 〜10N が障害の発生によ
って交換され、交換後の活線挿抜パッケージ101 〜10N
の挿入がパッケージ挿入検出回路１１で検出されてその
旨が通知されたときにロード回路２０によって磁気ディ
スク３からロードされた試験プログラムを試験実行回路
２１の制御で実行し、その試験結果を試験結果読出し回
路２２によって読出して試験結果表示回路２３から保守
用コンソール４に表示することによって、電源オン状態
で交換した活線挿抜パッケージ101 〜10N の機能確認を
行うことができる。
【００１７】上述の如く、障害が発生して交換された活
線挿抜パッケージ101 〜10N の機能確認を行うことで、
障害の発生によって予備系に切換わった活線挿抜パッケ
ージ101 〜10N が正常か否かを確認できるため、現用系
から予備系への切換え時に予備系の障害によってシステ
ムダウンを招くという最悪の事態を避けることができ
る。
線挿抜パッケージ101 〜10N の機能確認を行うことで、
障害の発生によって予備系に切換わった活線挿抜パッケ
ージ101 〜10N が正常か否かを確認できるため、現用系
から予備系への切換え時に予備系の障害によってシステ
ムダウンを招くという最悪の事態を避けることができ
る。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、電
源オン状態でも抜き差しが自在な活線挿抜パッケージが
障害の発生によって交換されて挿入されたことが検出さ
れたときに、予め格納された試験プログラムを読出して
該活線挿抜パッケージの動作確認を行うようにすること
によって、電源オン状態で交換した活線挿抜パッケージ
の機能確認を行うことができるという効果がある。
源オン状態でも抜き差しが自在な活線挿抜パッケージが
障害の発生によって交換されて挿入されたことが検出さ
れたときに、予め格納された試験プログラムを読出して
該活線挿抜パッケージの動作確認を行うようにすること
によって、電源オン状態で交換した活線挿抜パッケージ
の機能確認を行うことができるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
１ 情報処理装置 ２ 保守診断装置 ３ 磁気ディスク ４ 保守用コンソール １０ 活線挿抜パッケージ群 １１ パッケージ挿入検出回路 ２０ ロード回路 ２１ 試験実行回路 ２２ 試験結果読出し回路 ２３ 試験結果表示回路 101 〜10N 活線挿抜パッケージ
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G06F 11/22 360 G06F 1/18 G06F 3/00 G06F 11/16 310 G06F 11/28 340
Claims (1)
- 【請求項１】 電源オン状態でも抜き差しが自在な複数
の活線挿抜パッケージからなり、障害が発生した活線挿
抜パッケージをシステムから切離して予備系としかつ予
め設定された予備系の活線挿抜パッケージを現用系に切
換えて動作を継続し、診断用インタフェースを介して保
守診断装置に接続される情報処理装置であって、前記活
線挿抜パッケージの動作確認を行う試験プログラムを格
納する格納手段と、自装置に設けられかつ前記障害が発
生した活線挿抜パッケージを交換した活線挿抜パッケー
ジの挿入を検出する検出手段と、前記保守診断装置に設
けられかつ前記検出手段から前記診断用インタフェース
を介して当該活線挿抜パッケージの挿入が通知された時
に前記格納手段から前記試験プログラムを読出して当該
活線挿抜パッケージの動作確認を行う手段と、前記保守
診断装置に設けられかつ前記動作確認の結果を外部に表
示する手段とを有することを特徴とする情報処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3351445A JP2748757B2 (ja) | 1991-12-12 | 1991-12-12 | 情報処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3351445A JP2748757B2 (ja) | 1991-12-12 | 1991-12-12 | 情報処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05165669A JPH05165669A (ja) | 1993-07-02 |
| JP2748757B2 true JP2748757B2 (ja) | 1998-05-13 |
Family
ID=18417342
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3351445A Expired - Fee Related JP2748757B2 (ja) | 1991-12-12 | 1991-12-12 | 情報処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2748757B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7409576B2 (en) | 2004-09-08 | 2008-08-05 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | High-availability cluster with proactive maintenance |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6340944A (ja) * | 1986-08-05 | 1988-02-22 | Nec Corp | 情報処理装置 |
| JPH0746299B2 (ja) * | 1987-05-29 | 1995-05-17 | 三菱電機株式会社 | 中央演算処理素子実装カ−ド多重化装置 |
-
1991
- 1991-12-12 JP JP3351445A patent/JP2748757B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05165669A (ja) | 1993-07-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |