JPH04211944A - 印刷機の電子制御装置の診断装置および方法 - Google Patents

印刷機の電子制御装置の診断装置および方法

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JPH04211944A
JPH04211944A JP3011552A JP1155291A JPH04211944A JP H04211944 A JPH04211944 A JP H04211944A JP 3011552 A JP3011552 A JP 3011552A JP 1155291 A JP1155291 A JP 1155291A JP H04211944 A JPH04211944 A JP H04211944A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、印刷機のディジタル制
御装置の診断システムに関する。
【0002】
【従来の技術】ディジタル制御装置による印刷機の制御
は、欠陥のため材料に著しい損傷を与え、または人間に
危険をおよぼすような機能もしばしば有している。特に
、制御装置の構造が複雑である場合、個々の構成要素の
信頼性に極めて高度な要求が課せられる。
【0003】それにも拘らず、制御装置の内部や制御装
置を印刷機と結合するセンサおよび調整要素の部分、な
らびに印刷機において、欠陥が生じる場合がある。さら
に、印刷機の場合、発生した欠陥を可及的に迅速にしか
も印刷機の位置にいる人間によって取り除くことが重要
である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明の
課題は、欠陥を確実に識別し表示することが可能な、印
刷機のディジタル制御装置の診断システムを提供するこ
とである。さらに、監視を行うプロセッサが故障した場
合でも、欠陥を可及的に識別し得る必要がある。最後に
、単に散発的に生じる欠陥、または制御装置の故障に通
じるような欠陥の場合、補足的な診断が必要である。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明による診断システ
ムは、制御装置の構成要素を試験し、印刷機の運転の間
、パラメータを監視するプログラムを有する少なくとも
1つのプロセッサが設けられ、試験およびパラメータ監
視の結果が表示および/または記憶されることを特徴と
している。とくに、プロセッサはさらに制御課題を実行
する。
【0006】安全性を一層向上させるため、一実施態様
によれば、試験し監視する2つのプロセッサが設けられ
、これらが、それぞれに対応する構成要素のほかに、そ
れぞれ他のプロセッサおよびプロセッサ間の伝送を行う
手段を試験し監視する。
【0007】印刷機の場合は元来、制御課題が2つのプ
ロセッサに配分されることがしばしば行われるため、本
発明の他の実施態様によれば、異なる制御課題用の制御
装置に2つのプロセッサが設けられ、これらがさらに、
それぞれに対応する構成要素とそれぞれ他のプロセッサ
、ならびにプロセッサ間の伝送を行う手段を試験し監視
することによって、経済的かつ確実な監視が可能である
【0008】本発明による診断システムの場合、一方で
は、印刷機の運転時にともかく存在するデータ、例えば
回転数センサまたは紙センサのようなセンサの出力信号
を評価することができる。以下、このようなデータを運
転パラメータと呼称する。本発明による診断システムは
、例えばメモリまたはプロセッサの試験用のそれ自体公
知のプログラムにおけるような、試験プログラムにおい
て生成されたデータをも評価する。そのような試験にお
いては、例えば目標値/実際値比較試験またはいわゆる
評価試験の形での運転パラメータも含まれ得る。このよ
うな試験の結果(以下、試験結果と称する)は、欠陥の
場合には、以下、欠陥通報と呼称する。欠陥通報の確実
な表示を可能にするため、その他の実施態様によれば、
少なくともプロセッサの1つがバスシステムを迂回する
欠陥通報用の出力を用意している。その場合、それぞれ
のプロセッサが当該のシステムカードに設けられ、各プ
ロセッサが互いに無関係に、少なくとも1つの表示装置
に接続されることが好ましい。
【0009】本発明の他の実施態様は、修理作業および
監視作業に重要な情報用のメモリに関するものである。 その場合、印刷機または制御装置の停止後でも重要なデ
ータを評価し得るようにするために、本来、不揮発性メ
モリが設けられる。このメモリには、本発明の実施態様
では欠陥通報、試験結果または運転パラメータを記憶さ
せることができる。望ましくは、それぞれ最も新しいデ
ータが不揮発性メモリ内にあるように、データの記憶が
可能である。
【0010】特許請求の範囲の従属項に記載されている
対策によって、特許請求の範囲第1項に記載されている
本発明を、好適に構成し改善することができる。
【0011】
【実施例】本発明の実施例が2つの図に示されており、
次の記述において一層詳細に説明する。
【0012】図1に示されている制御装置の場合、その
構成要素である2つの計算機1,2が設けられ、それら
はそれぞれ1つのシステムカード上に設けられている。 計算機1は印刷機の中央制御に使用されるが、計算機2
は本来的に主駆動装置の制御に使用される。それぞれの
計算機1,2は、それ自体公知のやり方でマイクロプロ
セッサ3,4およびその他の構成要素、例えばレジスタ
、プログラムメモリおよび内部バスシステムを制御する
が、これらの説明は本発明を理解する上には不必要であ
る。
【0013】しかしながら、これらの構成要素のほかに
不揮発性メモリ5,6が計算機カード上に設けられ、こ
れらは、後に評価のために必要な試験結果、運転データ
および欠陥通報を、制御装置の遮断または故障の後まで
記憶する。制御装置または当該の計算機の故障にはいた
らない欠陥通報の場合、場合によっては数個の欠陥通報
を他の通報可能な試験結果および運転パラメータと共に
記憶することができる。
【0014】対応するカードが制御装置から取り出され
、例えば製造業者において修理するか、または保守作業
を行う必要がある場合にも、それぞれの計算機1,2に
不揮発性メモリ5,6が設けられていることによって、
欠陥通報を評価することもできる。
【0015】計算機1,2はシステムバス7に接続され
、さらに、このシステムバス7は、入出力ユニット8お
よび書込み・読出し用メモリである伝送メモリ9に接続
されている。伝送メモリ9は、受信計算機が伝送メモリ
9から送信計算機が予め書込んだデータを呼び出すやり
方で、計算機1と2との間でデータを交換するために使
用される。さらに、不揮発性メモリとして構成された伝
送メモリ9に、試験結果および欠陥通報をもファイルす
ることができる。その場合、これらを2つの計算機1,
2によって読み出すことができる。
【0016】例えば、出願人の特許出願P364250
0.1に記載されているように、センサおよび調整要素
が、入力線および出力線10を介して入出力ユニット8
に接続されている。
【0017】印刷機の運転時に生じるデータを表示する
ため、中央表示装置11が直列のインタフェース12を
介して計算機1に接続されている。本発明による診断シ
ステムの場合、インタフェース12および表示装置11
はさらに、欠陥通報を表示するために使用される。別の
表示装置13,14が、直列のインタフェース15,1
6を介して入出力ユニット8と接続され、同様に、運転
データの表示以外に欠陥通報を表示するため使用される
【0018】主駆動装置を制御する計算機2が主駆動装
置用の制御カード17に接続され、この制御カード17
に出力段18を介して主駆動装置の電動機19が接続さ
れている。さらに、制御カード17はシステムバス7に
接続されており、したがって、例えば計算機1は制御カ
ード17の状態を問いただすことができる。ディジタル
制御装置に電圧を供給するため数個の電源装置が設けら
れ、そのうち2つの電源装置だけが図1に例示されてい
る。安全上の理由から、計算機1および中央表示装置1
1が第1の電源装置20に接続され、計算機2、入出力
ユニット8およびその他の表示装置13,14が、第2
の電源装置21に接続されている。
【0019】計算機1と中央表示装置11との間の、シ
ステムバス7とは無関係な接続と、これらの構成要素用
の別個の電源装置20の使用することによって、1つの
表示装置またはシステムバスへのデータの流れを阻止す
るような欠陥の表示も可能である。マイクロプロセッサ
3,4に対して、充分な試験および監視が可能なプログ
ラムが設定されている。特に、それぞれの他のマイクロ
プロセッサおよび伝送メモリ9は、それぞれのマイクロ
プロセッサによって監視される。その場合、試験プログ
ラムおよび監視プログラムは、それぞれの試験結果に依
存して多かれ少なかれ試験が行われるように、適応性を
備えて構成することができる。したがって、例えば定常
運転において、マイクロプロセッサ3,4のそれぞれが
、制御装置の一部の構成要素の他に他のマイクロプロセ
ッサを試験するようにすることができる。しかしながら
、他のマイクロプロセッサが故障した場合、まだ作動可
能なマイクロプロセッサが、その時まで他のマイクロプ
ロセッサによって試験された構成要素をも試験する。
【0020】制御装置が電源投入された後、または印刷
機自体がまだ運転されない間、個々の構成要素の初期化
の枠内に入る試験が合目的的に行われる。その場合は、
印刷機の運転の間、運転パラメータが補足的に監視され
る。したがって、印刷機の運転時にだけ確認し得る欠陥
も見出すことができる。
【0021】適当なループ回路により、またはそれぞれ
のカードに常に存在する信号(例えばクロックパルス信
号)の監視によって、差込み接続を常に試験することが
できる。
【0022】図2に示すフローチャートは、制御装置の
電源投入後、マイクロプロセッサ3,4内で実行される
試験プログラムの主要部を示している。31における始
動後、先ず自己試験32が行われ、これはそれぞれのマ
イクロプロセッサにより行われ、それぞれの計算機1,
2に関係する。欠陥がある場合、対応する欠陥通報が3
3において記憶され、34において直列のインタフェー
ス12を通して中央表示装置11(図1)に伝達される
【0023】しかしながら、自己試験の結果において欠
陥がなかった場合、プログラム部分35において伝送メ
モリ9が試験される。これは、公知の方法で情報の書込
みおよび再読出しによって行われる。欠陥時に再び記憶
および表示が行われるが、伝送メモリ9に欠陥がない場
合は、プログラム部分36において他のマイクロプロセ
ッサの試験が行われる。
【0024】図示の実施例の場合、それぞれ他のマイク
ロプロセッサを試験すればほぼ充分であり、全体の他の
プロセッサは、すでに予め他のマイクロプロセッサによ
って試験されているため、試験する必要がないことを前
提としている。
【0025】他のマイクロプロセッサの効果的な試験経
過の後に、別の構成要素の試験が37において行われる
。これにも欠陥がない場合、38において試験プログラ
ムが終了し、その後、印刷機の制御プログラムが作動さ
れる。このことは、印刷機の正常な運転を阻害する欠陥
が認められなかった場合、プログラムの記憶33および
表示34に従って行うこともできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による診断システムを有する印刷機用の
ディジタル制御装置の一実施例を示すブロック図である
【図2】図1に示す実施例に使用されるプログラムのフ
ローチャートである。
【符号の説明】
1,2  計算機 3,4  マイクロプロセッサ 5,6  不揮発性メモリ 7    システムバス 8    入出力ユニット 9    伝送メモリ 10  入出力線 11  中央表示装置 12  インタフェース 13,14  表示装置 15,16  インタフェース 17  制御カード 18  出力段 19  電動機 20,21  電源装置 31  始動 32  自己試験 33  記憶 34  表示 35,36  プログラム部分 37  別の構成要素の試験 38  試験プログラム終了

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  印刷機のディジタル制御装置の診断シ
    ステムにおいて、制御装置の構成要素を試験し、また、
    印刷機の運転の間、パラメータを監視するためのプログ
    ラムを有する少なくとも1つのプロセッサ(3,4)が
    設けられ、試験およびパラメータ監視の結果が表示およ
    び/または記憶されることを特徴とする印刷機のディジ
    タル制御装置の診断システム。
  2. 【請求項2】  プロセッサ(3,4)がさらに制御の
    仕事をも引受ける請求項1記載の診断システム。
  3. 【請求項3】  試験し監視する2つのプロセッサ(3
    ,4)が設けられ、これらが、それぞれに対応する構成
    要素(1,2)のほかに、互いに他のプロセッサ(4,
    3)およびプロセッサ間の伝送を行う手段(7,9)を
    試験し監視する請求項1記載の診断システム。
  4. 【請求項4】  異なる制御の仕事用の制御装置に2つ
    のプロセッサ(3,4)が設けられ、これらがさらにそ
    れぞれに対応する構成要素(1,2)と互いに他のプロ
    セッサ(4,3)とプロセッサ間の伝送を行う手段(7
    ,9)とを試験し監視する請求項1記載の診断システム
  5. 【請求項5】  少なくとも1つのプロセッサ(3,4
    )が、バスシステム(7)を迂回する欠陥通報用の出力
    線を有する請求項4記載の診断システム。
  6. 【請求項6】  それぞれのプロセッサ(3,4)が所
    属するシステムカード(1,2)上に設けられ、プロセ
    ッサ(3,4)が互いに無関係に少なくとも1つの表示
    装置(11;13,14)と接続される請求項5記載の
    診断システム。
  7. 【請求項7】  システムカード(1,2)が、それぞ
    れ対応する表示装置(11;13,14)と共に異なる
    電源装置(20,21)に接続される請求項6記載の診
    断システム。
  8. 【請求項8】  欠陥状態を表示するため、正常な経過
    を表示する表示装置(11;13,14)が使用される
    請求項7記載の診断システム。
  9. 【請求項9】  特に重要な構成要素および機能が、2
    つのプロセッサ(3,4)によって試験され監視される
    請求項4記載の診断システム。
  10. 【請求項10】  欠陥通報が不揮発性メモリに記憶さ
    れる請求項4記載の診断システム。
  11. 【請求項11】  別の欠陥通報が生じた場合、不揮発
    性メモリ(5,6)内のそれまでに生じた欠陥通報の位
    置が1つだけ移動される請求項10記載の診断システム
  12. 【請求項12】  最も古い欠陥通報が不揮発性メモリ
    (5,6)から補助メモリに移されて、もっと古い欠陥
    通報と共に記憶される請求項1記載の診断システム。
  13. 【請求項13】  欠陥の発生前および発生中に、運転
    パラメータが不揮発性メモリに記憶される請求項4記載
    の診断システム。
  14. 【請求項14】  運転中に存在する運転パラメータが
    、継続的に不揮発性メモリに書込まれ、所定時間を超過
    している運転パラメータが消去されてゆき、欠陥の発生
    に際して不揮発性メモリの状態が維持される請求項13
    記載の診断システム。
  15. 【請求項15】  電源投入後に、先ずプロセッサ(3
    ,4)の自己試験が行われ、その後、プロセッサ(3,
    4)のそれぞれにより、引き続いてプロセッサ間の伝送
    に使用される書込み・読出し用メモリ(9)が試験され
    、書込み・読出し用メモリ(9)の試験後にプロセッサ
    (3,4)の試験が相互間で行われる請求項4記載の診
    断システム。
  16. 【請求項16】  印刷機の運転中、さらに動的な試験
    が行われる請求項15記載の診断システム。
  17. 【請求項17】  プロセッサ(3,4)を試験するた
    め、互いにソフトウエアによる単安定フリップフロップ
    が設けられる請求項4記載の診断システム。
  18. 【請求項18】  1つのプロセッサ(3,4)が故障
    した場合、本来その故障したプロセッサ(3,4)によ
    って行うべき試験、評価および表示が、故障していない
    プロセッサ(4,3)によって行われる請求項4記載の
    診断システム。
  19. 【請求項19】  不揮発性メモリ(5,6)内の試験
    結果が、その試験結果の関係するそれぞれのシステムカ
    ード(1,2)にファイルされる請求項4記載の診断シ
    ステム。
  20. 【請求項20】  欠陥通報および/または試験結果が
    不揮発性メモリにファイルされ、このメモリがさらに、
    プロセッサ(3,4)間の伝送に使用される請求項4記
    載の診断システム。
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JP (1) JP2614674B2 (ja)
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AT (1) ATE105780T1 (ja)
AU (1) AU651800B2 (ja)
DE (2) DE4000295C2 (ja)
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