JP2716902B2

JP2716902B2 - 光ディスク装置

Info

Publication number: JP2716902B2
Application number: JP4028055A
Authority: JP
Inventors: 聡古田; 茂知柳
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1992-02-14
Filing date: 1992-02-14
Publication date: 1998-02-18
Anticipated expiration: 2013-02-18
Also published as: DE69311149T2; EP0555865A2; DE69311149D1; EP0555865B1; EP0555865A3; US5410528A; JPH05225569A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光ディスク装置に関し、
特に、光ディスク装置のサーボエラー検出回路に関する
ものである。

【０００２】

【従来技術】光ディスク装置は、光ビームによりリード
／ライトができるため、トラック間隔を数ミクロンとす
ることができ、大容量記憶装置として注目されている。

【０００３】この光ディスク装置においては、かかるト
ラックや光ヘッドの合焦点位置へ光ビームを追従制御す
るため、トラックサーボ制御及びフォーカスサーボ制御
が用いられている。

【０００４】図６は従来のサーボ系の概念を示すブロッ
ク図であり、図７はそのタイミング図である。光ディス
ク装置は図６に示すように、モータ１ａによって回転軸
を中心に回転する光ディスク１に対し、光学ヘッド２が
光ディスク１の半径方向に図示しないボイスコイルモー
タによって位置決めされ、光学ヘッド２による光ディス
ク１へのリード（再生）／ライト（記録）が行われる。

【０００５】一方、光学ヘッド２は光源であるレーザダ
イオード２２４の発光ビームをレンズ２２５、偏光ビー
ムスプリッタ２２３を介し対物レンズ２０１に導き、該
対物レンズ２０１でビームスポットＢＳに絞り込んで光
ディスク１に照射し、光ディスク１からの反射光を入射
光に逆進させてし偏光ビームスプリッタ２２３より光デ
ィテクタ２２６に入射するように構成されている。

【０００６】このような光ディスク装置においては、光
ディスク１の半径方向に数ミクロン間隔で多数のトラッ
クが形成されており、若干の偏心によってもトラックの
位置ずれが大きく、又光ディスク１のうねりによってビ
ームスポットの焦点位置のずれが生じ、これらの位置ず
れに対応してビームスポットを追従させる必要がある。

【０００７】このため、光学ヘッド２の対物レンズ２０
１に図の上下方向に移動して焦点位置を変更するフォー
カスアクチュエータ２２２と、対物レンズ２０１を図の
左右方向に移動して照射位置をトラック方向に変更する
トラックアクチュエータ２２１が設けられている。

【０００８】又、これに対応してディテクタ２２６の受
光信号からサーボ信号形成手段５ｂにてフォーカスサー
ボ信号ＦＳを形成し、フォーカスアクチュエータ２２２
を駆動するフォーカスサーボ制御手段３ｂと、ディテク
タ２２６の受光信号からサーボ信号形成手段５ａにてト
ラックサーボ信号ＴＳを形成し、トラックアクチュエー
タ２２１を駆動するトラックサーボ制御手段３ａが設け
られている。

【０００９】このトラックサーボ信号ＴＳやフォーカス
サーボ信号ＦＳは、図７（ｂ）に示すようにサーボオン
状態では通常スライスレベル以下であり、光ビームはト
ラックや合焦点位置に追従している。

【００１０】尚、上記トラック系、サーボ系それぞれの
サーボ信号形成手段５ａ、５ｂの構成は公知であるの
で、ここでは説明を省略する。一方、光ビームがトラッ
クや合焦点位置から外れたことを検出するため、トラッ
ク系及びフォーカス系のサーボエラー検出回路４ａ、４
ｂが、上記サーボ信号形成回路５ａ、５ｂの後段に設け
られており、該サーボエラー検出回路４ａ、４ｂでは、
トラックサーボ信号ＴＳ及びフォーカスサーボ信号ＦＳ
と所定のスライスレベルＳＬを比較し、トラックサーボ
信号ＴＳ、フォーカスエラー信号ＦＳの振幅がスライス
レベルＳＬを越えると、サーボが追従できないエラー状
態とし、サーボエラー信号を発生するようにしている。

【００１１】このように、サーボオン中にサーボエラー
が発生すると、直ちにトラックサーボ、あるいはフォー
カスサーボが中断され、ライト又はリード動作を中止す
るようにしている。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】ところで、光ディスク
装置では光学ヘッド内のレーザダイオードの出射パワー
は一定ではなく、図７（ａ）に示すようにライト時やイ
レーズ時ではリード時よりパワーが大きくなる。

【００１３】このように光学ヘッドの出射パワーを変化
すると、発振モードが変化し、出射角や発振波長が変化
する。この変化が緩やかであれば例えば図７（ｂ）に示
すように、サーボ信号も緩やかに変化しトラックやフォ
ーカスサーボは追従するが、図７（ａ）に示すように出
射パワーの変化が急激であると、図７（ｃ）に示すよう
に変化時にトラックサーボ信号ＴＳやフォーカスサーボ
信号ＦＳに瞬間的なトランジェントが生じる。

【００１４】このトランジェントはスライスレベルＳＬ
以上となることがあり、これによって図７（ｄ）に示す
ようにサーボエラー信号が発生することがある。即ち、
トラックサーボやフォーカスサーボが追従しているにも
かかわらず、ライト、イレーズ、リードの切換わり時の
出射光パワーの変化によるトランジェントによって無用
のサーボエラーが発生することになる。

【００１５】上記課題を解決するために、特開平２−６
６７４３号公報にはレーザ出射パワーを制御するために
パワー制御手段６より出力されるイレーズゲート信号Ｅ
Ｇ及びライトゲート信号ＷＧを利用して、マスク信号形
成手段１００でトラックサーボ信号ＴＳ、フォーカスサ
ーボ信号ＦＳのそれぞれに対応するマスク信号Ｓｍｆ、
Ｓｍｔを形成し、エラー検出回路４ａ、４ｂの前段（又
は後段）に設けたゲート回路８ａ、８ｂでレーザパワー
の変化時に発生するサーボ信号ＴＳ、ＦＳのトランジェ
ントをマスクしようとする方式が開示されている。

【００１６】しかしながら、この方式によると、図８、
図９に示すように、イレーズゲート信号ＥＧ（図９
（ｄ））（ライトゲート信号ＷＧ）と、該イレーズゲー
ト信号ＥＧ（ライトゲート信号ＷＧ）をシフトレジスタ
７１ｂ（７１ａ）で遅延させた信号ＤＥＧ（ＤＷＧ）と
の論理絶対オアをＥＯＲ回路７２ｂ（７２ａ）でとるこ
とによって、得られるゲートパルスＰｇ（Ｐｇ₁、Ｐｇ
₂）（図９（ｆ）、図９（ｃ））を合成した上記マスク
信号Ｓｍ（図９（ｇ））が形成されている。従って、上
記ゲートパルスＰｇの幅は、シフトレジスタ７１ｂ（７
１ａ）の駆動パルスの周波数によって規定されることに
なり、上記トランジェントによるサーボ信号の変動幅が
大きいときにマスク信号Ｓｍでのマスク効果が不充分と
なり、従来よりの欠点を解決したことにはならない場合
が生じることとなる。

【００１７】この発明は上記従来の事情に鑑みて提案さ
れたものであって、マスク信号のパルス幅をトランジェ
ントの大きさに応じて調整できるマスク信号形成手段を
備えた光ディスク装置を提供することを目的とするもの
である。

【００１８】

【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために以下の手段を採用している。すなわち、図
１に示すように、光ビームの出力変化に同期して発生す
るサーボ信号のトランジェントをマスク信号形成手段１
００より得られるマスク信号Ｓｍにより除去して、サー
ボ系が無用のサーボエラーを発生することを防止した光
ディスク装置において、上記マスク信号形成手段１００
が、光ビーム出力の変化を制御するイレーズゲート信号
ＥＧ又はライトゲート信号ＷＧのエッジを検出するエッ
ジ検出手段１０と、上記エッジ検出手段１０より出力さ
れるエッジ検出信号Ｓｅにより、ゲートパルスＰｇを出
力するゲートパルス形成手段２０と、上記ゲートパルス
ｐｇのパルス幅を設定するパルス幅設定手段３０とより
なるものである。

【００１９】上記エッジ検出手段１０はイレーズゲート
信号ＥＧ又はライトゲート信号ＷＧのアサートエッジを
検出するアサートエッジ検出手段１０ａと、ネゲートエ
ッジを検出するネゲートエッジ検出手段１０ｎとより
なるとともに、それぞれのエッジ検出手段１０ａ、１０
ｎに対応してゲートパルス形成手段２０ａ、２０ｎが設
けられている。

【００２０】上記パルス幅設定手段３０は図２に示すよ
うに、２つのエッジ検出手段１０ａ、１０ｎに対して
共通であっても、あるいは、図４に示すように、２つの
エッジ検出手段１０ａ、１０ｎに対して別個に設けら
れ、アサートエッジ側とネゲートエッジ側で異なるパル
ス幅を設定できるようにしてもよい。

【００２１】更に、図２、図３に示すように、エッジ検
出手段１０で、クロックパルスに同期したエッジ検出信
号Ｓｅを得るとともに、ゲートパルス形成手段２０にク
ロック同期型のフリップフロップを使用するようにして
もよいし、あるいは、図４、図５エッジ検出手段１０に
よりクロックパルスに非同期のエッジ検出信号Ｓｅを得
るとともに、ゲートパルス形成手段１０にクロック非同
期型のセットリセット回路２５ａ、２５ｂ使用するよう
にしてもよい。

【００２２】

【作用】上記エッジ検出手段１０によってイレーズゲー
ト信号（ライトゲート信号）のアサートエッジ及びネゲ
ートエッジを検出し、エッジ検出信号Ｓｅがパルス形成
手段２０に入力されるとともに、パルス幅設定手段３０
にも入力される。

【００２３】上記パルス形成手段２０では上記エッジ検
出信号Ｓｅの入力にともなって、マスク信号Ｓｍのゲー
トパルスＰｇが形成され、そのゲートパルスＰｇの幅は
パルス幅設定手段３０に設定された値によって決定され
る。このパルス幅設定手段３０の設定値はサーボ信号の
トランジェントの大きさに応じて任意に変更することが
できるので、サーボエラーを発生することはなくなる。

【００２４】上記パルス幅設定手段３０は、上記イレー
ズゲート信号（ライトゲート信号）のアサートエッジ側
とネゲートエッジ側に共通に設けることもできるし、別
々に設けることもできる。共通に設けたときは、アサー
ト側とネゲート側のゲートパルス幅は同じになり、別個
に設けたときは、アサート側のゲートパルスとネゲート
側のゲートパルスの幅をそれぞれ異ならせることができ
る。

【００２５】上記エッジ検出信号Ｓｅは使用クロックパ
ルスに同期させて検出することもできるし、非同期で検
出することもできる。エッジ検出信号Ｓｅを使用クロッ
クパルスに同期させる方式では、図２、図３に示すよう
に、該エッジ信号Ｓｅはイレーズゲート信号ＥＧ（ライ
トゲート信号ＷＧ）のアサート（ネゲート）タイミング
より１クロック周期以内の若干の遅れが生じるので、使
用クロック周波数が大きいときに有効となる。また、上
記エッジ検出信号Ｓｅが使用クロックに同期しているの
で、該エッジ検出信号Ｓｅをそのままパルス幅設定手段
３０としてのカウンタ３１ａ、３１ｎに入力することが
でき、構成が簡単となる。

【００２６】一方、エッジ検出信号Ｓｅを使用クロック
パルスに非同期で形成する方式では、図４、図５に示す
ようにエッジ検出信号Ｓｅとアサート（ネゲート）タイ
ミングとの間に遅れは生じないが、ゲートパルスＰｇの
幅を設定するパルス幅設定手段３０で使用クロックに同
期したロードパルスをロードパルス作成回路３５で形成
した後、該ロードパルスをパルス幅を決定するカウンタ
３６に入力する必要があるので、構成は若干複雑にな
る。

【００２７】

【実施例】図２はクロックパルスの周波数が大きいとき
（例えば１０ＭＨｚ以上）に適用されるクロック同期タ
イプの本発明の一実施例を示すブロック図、図３はその
タイミング図である。この回路は図６に示すパワー制御
手段６より出力されるイレーズゲート信号ＥＧ又はライ
トゲート信号ＷＧを入力とするが、以下イレーズゲート
信号ＥＧが入力信号である場合を例に説明する。更に、
イレーズゲート信号ＥＧのアサートエッジ側とネゲート
エッジ側ではほぼ同じ構成であるので、アサートエッジ
側を中心に示し、ネゲートエッジ側の細部は省略した。

【００２８】イレーズゲート信号ＥＧ（図３（ｂ））は
アサートエッジ検出手段１０ａを構成するフリップフロ
ップ１１ａのクリア端子ＣＬに入力され、これによって
該フリップフロップ１１ａはイレーズゲート信号ＥＧの
アサートによってクリア状態が解除される。この状態で
クロック端子Ｃｋに入力されている図３（ａ）に示すク
ロックパルスＳｃが立ち下がると、図３（ｃ）に示すよ
うに該フリップフロップ１１ａのＱ出力はアサート状態
となる。

【００２９】このＱ出力は次段のフリップフロップ１２
ａのデータ端子Ｄに入力されており、図３（ｄ）に示す
ように上記と同じクロックパルスＳｃの次の立ち下がり
でそのＸＱ出力がアサート状態となる。これによって、
上記フリップフロップ１１ａのＱ出力とフリップフロッ
プ１２ａのＸＱ出力が入力されているアンドゲート１３
ａの反転出力が図３（ｅ）に示すように、１クロックパ
ルス期間ネゲート状態となり、エッジ検出信号Ｓｅを出
力する。次いで、該アンドゲート１３ａの出力はゲート
パルス形成手段２０ａを構成するノットゲート２２ａを
介してＪＫフリップフロップ２３ａのＪ端子に入力さ
れ、これによって該ＪＫフリップフロップ２３ａのＱ出
力が図３（ｇ）に示すようにアサート状態となる。

【００３０】一方、アンドゲート１３ａの出力はパルス
幅設定手段３０ａとしての次段のカウンタ３１ａのロー
ド端子ＬＤにロードパルスとして入力される。カウンタ
３１ａは上記のようにロードパルスが入力されると、カ
ウントを開始し、設定カウント値をカウントすると、図
３（ｆ）に示す桁上がり信号Ｃｏを出力する。この桁上
がり信号Ｃｏは上記ＪＫフリップフロップ２３ａのＫ端
子に入力されているので、上記カウンタ２１ａに設定さ
れた時間が経過すると、該桁上がり信号Ｃｏによって、
該ＪＫフリップフロップ２３ａのＱ出力はネゲート状態
となる。これによって、該ＪＫフリップフロップ２３ａ
よりは上記イレーズゲート信号ＥＧのアサートエッジに
同期して所定幅のゲートパルスＰｇを形成することにな
る。

【００３１】尚、イレーズゲート信号ＥＧのネゲートエ
ッジでの上記アサートエッジ側の回路の動作を簡単に触
れると、イレーズゲート信号ＥＧがネゲートするとフリ
ップフロップ１１ａ、１２ａがネゲート、アンドゲート
１３ａの出力はアサート状態を維持して、ＪＫフリップ
フロップ２３ａを起動することも、カウンタ３１ａを起
動することもない（図３（ｂ）〜（ｇ）後半部参照）。

【００３２】以上の動作は図３（ｈ）〜（ｍ）に示すよ
うに、イレーズゲート信号ＥＧが反転されて入力されて
いるネゲートエッジ側においても全く同じであり、ネゲ
ートエッジ検出回路１０ｎによってイレーズゲート信号
ＥＧのネゲートを検出してＪＫフリップフロップ２３ｎ
より該ネゲート付近の所定間隔アサート状態となるゲー
トパルスＰｇ（図３（ｍ））を形成する。

【００３３】従って、上記２つのＪＫフリップフロップ
２３ａ、２３ｎの出力が入力されているオアゲート４０
よりは、図３（ｎ）に示すようにイレーズゲート信号Ｅ
Ｇのアサート時とネゲート時の所定時間ゲートパルスＰ
ｇを形成するマスク信号Ｓｍが出力されることになる。
更に、このマスク信号Ｓｍは図６に示したゲート回路８
ａ（８ｂ）に入力されることになる。

【００３４】尚、図２に示す回路では、パルス幅を設定
するカウンタ３１ａ、３１ｎを２つ備えるようにし、イ
レーズゲート信号ＥＧのアサートエッジ側とネゲートエ
ッジ側でそれぞれ独立してパルス幅を設定できるように
している。しかしながら、上記カウンタ３１ａ、３１ｎ
のいずれか一方をアサートエッジ側とネゲートエッジ側
に共通に使用し、ゲートパルス幅が同じになるようにし
てもよい。

【００３５】更に、エッジ検出信号Ｓｅはイレーズゲー
ト信号ＥＧのアサートタイミングより若干遅れてアサー
トし、従って、ゲートパルスＰｇのアサートも遅れる
が、使用周波数が大きいのでこの遅れは無視することが
できる。

【００３６】図４はクロックパルスの周波数が小さい場
合（例えば１０ＭＨｚ以下）の本発明の実施例を示すブ
ロック図であり、図５はそのタイミング図である。アサ
ートエッジ検出手段１０ａを構成するフリップフロップ
１５ａのデータ端子Ｄには、イレーズゲート信号ＥＧ
（図５（ｂ））が入力されており、これによって、この
フリップフロップ１５ａのＸＱ端子の出力はクロックパ
ルスＣｋに同期してネゲート状態となり、アンドゲート
１６ａに入力される（図５（ｃ））。一方、アンドゲー
ト１６ａには上記イレーズゲート信号ＥＧが直接入力さ
れており、これによって該アンドゲート１６ａの出力
（反転出力）（図５（ｄ））はイレーズゲート信号ＥＧ
がアサートしたときにネゲート状態となり、上記フリッ
プフロップ１５ａがＯＮしたときにアサート状態とな
る。

【００３７】このアンドゲート１６ａの出力は次段のゲ
ートパルス形成手段２０ａとしてのセットリセット回路
２５ａのセット端子Ｓに入力され、該アンドゲート１６
ａの出力がネゲートされたとき、該フリップフロップ２
５ａをセットし、これによって該フリップフロップ２５
ａのＱ出力をアサート状態にする（図５（ｇ））。

【００３８】上記アンドゲート１６ａの出力はパルス幅
設定手段３０にも入力されており、該パルス幅設定手段
３０には上記アンドゲート１６ａの出力のアサートを受
けてロードパルスを作成するロードパルス作成回路３５
と、該ロードパルスによってロードされ、所定の設定値
で桁上がり信号Ｃｏ（図５（ｆ））を出力するカウンタ
３６が備えられている〔このロードパルス作成回路３５
とカウンタ３６の関係は、図２のフリップフロップ１１
ａ、フリップフロップ１２ａ、カウンタ３１ａの関係と
同じであるので、説明を省略する。〕。

【００３９】これによって得られた桁上がり信号Ｃｏ
は、上記セットリセット回路２５ａのリセット端子Ｒに
入力され、そのＱ出力をネゲートにする。これによっ
て、上記セットリセット回路２５ａよりは図５（ｇ）に
示すようにイレーズ信号ＥＧのアサートエッジ付近でア
サート状態となり、桁上がりパルスＣｏが出力される
と、ネゲート状態となるゲートパルス信号Ｐｇが得られ
ることになる。

【００４０】イレーズ信号ＥＧが反転して入力されてい
るネゲートエッジ側の回路も全く同様の構成及び動作と
なっており、これにより上記セットリセット回路２５ａ
の出力とセットリセット回路２５ｎの出力が入力されて
いるオアゲート４１よりイレーズゲート信号ＥＧのアサ
ートエッジとネゲートエッジの付近でゲートパルスを形
成したマスク信号Ｓｍが出力されることになる。

【００４１】尚、図４における回路では、パルス幅設定
手段３０をアサートエッジ側とネゲートエッジ側で共通
にし、ゲートパルス幅が同じになるようにしているが、
図２に示したようにアサートエッジ側とネゲートエッジ
側で別個のパルス幅設定手段３０を用い、アサート側と
ネゲート側で異なるパルス幅を設定してもよい。

【００４２】また、この回路ではアンドゲート１６ａ
（１６ｎ）の出力するエッジ検出信号Ｓｅがクロックに
同期しないで、イレーズゲート信号ＥＧのアサート（ネ
ゲート）のタイミングでネゲート状態になるので、クロ
ック周波数が小さいときでもゲートパルスＰｇがアサー
トエッジ（ネゲートエッジ）より遅れることはない。

【００４３】

【発明の効果】以上説明したようにこの発明は、イレー
ズゲート信号（ライトゲート信号）を利用して、そのア
サート時とネゲート時の任意の設定幅のゲートパルスを
有するマスク信号を形成し、該マスク信号でレーザパル
ス信号の出力変動にともなうサーボ信号のトランジェン
ト部分をマスクするようにしているので、該パルス幅を
サーボ信号のトランジェント部分をマスクするに充分な
幅に設定でき、サーボエラーの発生を防止することがで
きる効果がある。

【００４４】また、上記ゲートパルスの幅を設定するパ
ルス幅設定手段を上記アサート側とネゲート側とで別々
に設けることによって、それぞれに対応するゲートパル
ス幅を任意に設定できる。

【００４５】また、クロックパルス同期タイプに構成す
ることによって、周波数の大きなクロックパルスを使用
する場合に適用でき、回路構成を簡単にすることができ
る。更に、クロックパルスに非同期なタイプに構成する
ことによって、周波数の小さなクロックパルスを使用す
る場合にも適用できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理ブロック図である。

【図２】本発明の一実施例ブロック図である。

【図３】図２のタイミング図である。

【図４】本発明の別の実施例ブロック図である。

【図５】図４のタイミング図である。

【図６】従来の光ディスク装置ブロック図である。

【図７】図６のタイミング図である。

【図８】従来のマスク信号形成手段ブロック図である。

【図９】図８のタイミング図である。

【符号の説明】

１０エッジ検出手段１０ａアサートエッジ検出手段１０ｎネゲートエッジ検出手段２０（２０ａ、２０ｎ）ゲートパルス形成手段２５セットリセット回路３０パルス幅設定手段１００マスク信号形成手段ＥＧイレーズゲート信号ＰｇゲートパルスＳｅエッジ検出信号Ｓｍマスク信号ＷＧライトゲート信号

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】光ビームの出力変化に同期して発生する
サーボ信号のトランジェントをマスク信号形成手段(10
0) より得られるマスク信号(Sm)により除去して、サー
ボ系が無用のサーボエラーを発生することを防止した光
ディスク装置において、上記マスク信号形成手段(100) が、光ビーム出力の変化を制御するイレーズゲート信号(EG)
又はライトゲート信号(WG)のエッジを検出するエッジ検
出手段(10)と、上記エッジ検出手段(10)より出力されるエッジ検出信号
(Se)により、ゲートパルス(Pg)を出力するゲートパルス
形成手段(20)と、上記ゲートパルス(Pg)のパルス幅を設定するパルス幅設
定手段(30)とよりなることを特徴とする光ディスク装
置。
【請求項２】上記エッジ検出手段(10)がイレーズゲー
ト信号(EG)又はライトゲート信号(WG)のアサートエッジ
を検出するアサートエッジ検出手段（10a)と、ネゲート
エッジを検出するネゲートエッジ検出手段(10n) とより
なるとともに、それぞれのエッジ検出手段（10a)、(10
n) に対応してゲートパルス形成手段(20a) 、(20n) を
設けた請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】上記パルス幅設定手段(30)が２つのゲー
トパルス形成手段（20a)、(20n) に対して共通である請
求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】上記パルス幅設定手段(30)が２つのゲー
トパルス形成手段（20a)、(20n) に対して別個に設けら
れ、アサートエッジ側とネゲートエッジ側で異なるパル
ス幅を設定できる請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】エッジ検出手段(10)によりクロックパル
スに同期したエッジ検出信号(Se)を得るとともに、ゲー
トパルス形成手段(20)にクロック同期型のフリップフロ
ップを使用した請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項６】エッジ検出手段(10)によりクロックパル
スに非同期のエッジ検出信号(Se)を得るとともに、ゲー
トパルス形成手段(20)にクロック非同期型のセットリセ
ット回路(25)を使用した請求項１に記載の光ディスク装
置。