JP2716902B2 - 光ディスク装置 - Google Patents

光ディスク装置

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JP2716902B2
JP2716902B2 JP4028055A JP2805592A JP2716902B2 JP 2716902 B2 JP2716902 B2 JP 2716902B2 JP 4028055 A JP4028055 A JP 4028055A JP 2805592 A JP2805592 A JP 2805592A JP 2716902 B2 JP2716902 B2 JP 2716902B2
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    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0901Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only

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  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光ディスク装置に関し、
特に、光ディスク装置のサーボエラー検出回路に関する
ものである。
【0002】
【従来技術】光ディスク装置は、光ビームによりリード
/ライトができるため、トラック間隔を数ミクロンとす
ることができ、大容量記憶装置として注目されている。
【0003】この光ディスク装置においては、かかるト
ラックや光ヘッドの合焦点位置へ光ビームを追従制御す
るため、トラックサーボ制御及びフォーカスサーボ制御
が用いられている。
【0004】図6は従来のサーボ系の概念を示すブロッ
ク図であり、図7はそのタイミング図である。光ディス
ク装置は図6に示すように、モータ1aによって回転軸
を中心に回転する光ディスク1に対し、光学ヘッド2が
光ディスク1の半径方向に図示しないボイスコイルモー
タによって位置決めされ、光学ヘッド2による光ディス
ク1へのリード(再生)/ライト(記録)が行われる。
【0005】一方、光学ヘッド2は光源であるレーザダ
イオード224の発光ビームをレンズ225、偏光ビー
ムスプリッタ223を介し対物レンズ201に導き、該
対物レンズ201でビームスポットBSに絞り込んで光
ディスク1に照射し、光ディスク1からの反射光を入射
光に逆進させてし偏光ビームスプリッタ223より光デ
ィテクタ226に入射するように構成されている。
【0006】このような光ディスク装置においては、光
ディスク1の半径方向に数ミクロン間隔で多数のトラッ
クが形成されており、若干の偏心によってもトラックの
位置ずれが大きく、又光ディスク1のうねりによってビ
ームスポットの焦点位置のずれが生じ、これらの位置ず
れに対応してビームスポットを追従させる必要がある。
【0007】このため、光学ヘッド2の対物レンズ20
1に図の上下方向に移動して焦点位置を変更するフォー
カスアクチュエータ222と、対物レンズ201を図の
左右方向に移動して照射位置をトラック方向に変更する
トラックアクチュエータ221が設けられている。
【0008】又、これに対応してディテクタ226の受
光信号からサーボ信号形成手段5bにてフォーカスサー
ボ信号FSを形成し、フォーカスアクチュエータ222
を駆動するフォーカスサーボ制御手段3bと、ディテク
タ226の受光信号からサーボ信号形成手段5aにてト
ラックサーボ信号TSを形成し、トラックアクチュエー
タ221を駆動するトラックサーボ制御手段3aが設け
られている。
【0009】このトラックサーボ信号TSやフォーカス
サーボ信号FSは、図7(b)に示すようにサーボオン
状態では通常スライスレベル以下であり、光ビームはト
ラックや合焦点位置に追従している。
【0010】尚、上記トラック系、サーボ系それぞれの
サーボ信号形成手段5a、5bの構成は公知であるの
で、ここでは説明を省略する。一方、光ビームがトラッ
クや合焦点位置から外れたことを検出するため、トラッ
ク系及びフォーカス系のサーボエラー検出回路4a、4
bが、上記サーボ信号形成回路5a、5bの後段に設け
られており、該サーボエラー検出回路4a、4bでは、
トラックサーボ信号TS及びフォーカスサーボ信号FS
と所定のスライスレベルSLを比較し、トラックサーボ
信号TS、フォーカスエラー信号FSの振幅がスライス
レベルSLを越えると、サーボが追従できないエラー状
態とし、サーボエラー信号を発生するようにしている。
【0011】このように、サーボオン中にサーボエラー
が発生すると、直ちにトラックサーボ、あるいはフォー
カスサーボが中断され、ライト又はリード動作を中止す
るようにしている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】ところで、光ディスク
装置では光学ヘッド内のレーザダイオードの出射パワー
は一定ではなく、図7(a)に示すようにライト時やイ
レーズ時ではリード時よりパワーが大きくなる。
【0013】このように光学ヘッドの出射パワーを変化
すると、発振モードが変化し、出射角や発振波長が変化
する。この変化が緩やかであれば例えば図7(b)に示
すように、サーボ信号も緩やかに変化しトラックやフォ
ーカスサーボは追従するが、図7(a)に示すように出
射パワーの変化が急激であると、図7(c)に示すよう
に変化時にトラックサーボ信号TSやフォーカスサーボ
信号FSに瞬間的なトランジェントが生じる。
【0014】このトランジェントはスライスレベルSL
以上となることがあり、これによって図7(d)に示す
ようにサーボエラー信号が発生することがある。即ち、
トラックサーボやフォーカスサーボが追従しているにも
かかわらず、ライト、イレーズ、リードの切換わり時の
出射光パワーの変化によるトランジェントによって無用
のサーボエラーが発生することになる。
【0015】上記課題を解決するために、特開平2−6
6743号公報にはレーザ出射パワーを制御するために
パワー制御手段6より出力されるイレーズゲート信号E
G及びライトゲート信号WGを利用して、マスク信号形
成手段100でトラックサーボ信号TS、フォーカスサ
ーボ信号FSのそれぞれに対応するマスク信号Smf、
Smtを形成し、エラー検出回路4a、4bの前段(又
は後段)に設けたゲート回路8a、8bでレーザパワー
の変化時に発生するサーボ信号TS、FSのトランジェ
ントをマスクしようとする方式が開示されている。
【0016】しかしながら、この方式によると、図8、
図9に示すように、イレーズゲート信号EG(図9
(d))(ライトゲート信号WG)と、該イレーズゲー
ト信号EG(ライトゲート信号WG)をシフトレジスタ
71b(71a)で遅延させた信号DEG(DWG)と
の論理絶対オアをEOR回路72b(72a)でとるこ
とによって、得られるゲートパルスPg(Pg1 、Pg
2 )(図9(f)、図9(c))を合成した上記マスク
信号Sm(図9(g))が形成されている。従って、上
記ゲートパルスPgの幅は、シフトレジスタ71b(7
1a)の駆動パルスの周波数によって規定されることに
なり、上記トランジェントによるサーボ信号の変動幅が
大きいときにマスク信号Smでのマスク効果が不充分と
なり、従来よりの欠点を解決したことにはならない場合
が生じることとなる。
【0017】この発明は上記従来の事情に鑑みて提案さ
れたものであって、マスク信号のパルス幅をトランジェ
ントの大きさに応じて調整できるマスク信号形成手段を
備えた光ディスク装置を提供することを目的とするもの
である。
【0018】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために以下の手段を採用している。すなわち、図
1に示すように、光ビームの出力変化に同期して発生す
るサーボ信号のトランジェントをマスク信号形成手段1
00より得られるマスク信号Smにより除去して、サー
ボ系が無用のサーボエラーを発生することを防止した光
ディスク装置において、上記マスク信号形成手段100
が、光ビーム出力の変化を制御するイレーズゲート信号
EG又はライトゲート信号WGのエッジを検出するエッ
ジ検出手段10と、上記エッジ検出手段10より出力さ
れるエッジ検出信号Seにより、ゲートパルスPgを出
力するゲートパルス形成手段20と、上記ゲートパルス
pgのパルス幅を設定するパルス幅設定手段30とより
なるものである。
【0019】上記エッジ検出手段10はイレーズゲート
信号EG又はライトゲート信号WGのアサートエッジを
検出するアサートエッジ検出手段10aと、ネゲートエ
ッジを検出するネゲートエッジ検出手段10n とより
なるとともに、それぞれのエッジ検出手段10a、10
nに対応してゲートパルス形成手段20a、20nが設
けられている。
【0020】上記パルス幅設定手段30は図2に示すよ
うに、2つのエッジ検出手段10a、10n に対して
共通であっても、あるいは、図4に示すように、2つの
エッジ検出手段10a、10nに対して別個に設けら
れ、アサートエッジ側とネゲートエッジ側で異なるパル
ス幅を設定できるようにしてもよい。
【0021】更に、図2、図3に示すように、エッジ検
出手段10で、クロックパルスに同期したエッジ検出信
号Seを得るとともに、ゲートパルス形成手段20にク
ロック同期型のフリップフロップを使用するようにして
もよいし、あるいは、図4、図5エッジ検出手段10に
よりクロックパルスに非同期のエッジ検出信号Seを得
るとともに、ゲートパルス形成手段10にクロック非同
期型のセットリセット回路25a、25b使用するよう
にしてもよい。
【0022】
【作用】上記エッジ検出手段10によってイレーズゲー
ト信号(ライトゲート信号)のアサートエッジ及びネゲ
ートエッジを検出し、エッジ検出信号Seがパルス形成
手段20に入力されるとともに、パルス幅設定手段30
にも入力される。
【0023】上記パルス形成手段20では上記エッジ検
出信号Seの入力にともなって、マスク信号Smのゲー
トパルスPgが形成され、そのゲートパルスPgの幅は
パルス幅設定手段30に設定された値によって決定され
る。このパルス幅設定手段30の設定値はサーボ信号の
トランジェントの大きさに応じて任意に変更することが
できるので、サーボエラーを発生することはなくなる。
【0024】上記パルス幅設定手段30は、上記イレー
ズゲート信号(ライトゲート信号)のアサートエッジ側
とネゲートエッジ側に共通に設けることもできるし、別
々に設けることもできる。共通に設けたときは、アサー
ト側とネゲート側のゲートパルス幅は同じになり、別個
に設けたときは、アサート側のゲートパルスとネゲート
側のゲートパルスの幅をそれぞれ異ならせることができ
る。
【0025】上記エッジ検出信号Seは使用クロックパ
ルスに同期させて検出することもできるし、非同期で検
出することもできる。エッジ検出信号Seを使用クロッ
クパルスに同期させる方式では、図2、図3に示すよう
に、該エッジ信号Seはイレーズゲート信号EG(ライ
トゲート信号WG)のアサート(ネゲート)タイミング
より1クロック周期以内の若干の遅れが生じるので、使
用クロック周波数が大きいときに有効となる。また、上
記エッジ検出信号Seが使用クロックに同期しているの
で、該エッジ検出信号Seをそのままパルス幅設定手段
30としてのカウンタ31a、31nに入力することが
でき、構成が簡単となる。
【0026】一方、エッジ検出信号Seを使用クロック
パルスに非同期で形成する方式では、図4、図5に示す
ようにエッジ検出信号Seとアサート(ネゲート)タイ
ミングとの間に遅れは生じないが、ゲートパルスPgの
幅を設定するパルス幅設定手段30で使用クロックに同
期したロードパルスをロードパルス作成回路35で形成
した後、該ロードパルスをパルス幅を決定するカウンタ
36に入力する必要があるので、構成は若干複雑にな
る。
【0027】
【実施例】図2はクロックパルスの周波数が大きいとき
(例えば10MHz以上)に適用されるクロック同期タ
イプの本発明の一実施例を示すブロック図、図3はその
タイミング図である。この回路は図6に示すパワー制御
手段6より出力されるイレーズゲート信号EG又はライ
トゲート信号WGを入力とするが、以下イレーズゲート
信号EGが入力信号である場合を例に説明する。更に、
イレーズゲート信号EGのアサートエッジ側とネゲート
エッジ側ではほぼ同じ構成であるので、アサートエッジ
側を中心に示し、ネゲートエッジ側の細部は省略した。
【0028】イレーズゲート信号EG(図3(b))は
アサートエッジ検出手段10aを構成するフリップフロ
ップ11aのクリア端子CLに入力され、これによって
該フリップフロップ11aはイレーズゲート信号EGの
アサートによってクリア状態が解除される。この状態で
クロック端子Ckに入力されている図3(a)に示すク
ロックパルスScが立ち下がると、図3(c)に示すよ
うに該フリップフロップ11aのQ出力はアサート状態
となる。
【0029】このQ出力は次段のフリップフロップ12
aのデータ端子Dに入力されており、図3(d)に示す
ように上記と同じクロックパルスScの次の立ち下がり
でそのXQ出力がアサート状態となる。これによって、
上記フリップフロップ11aのQ出力とフリップフロッ
プ12aのXQ出力が入力されているアンドゲート13
aの反転出力が図3(e)に示すように、1クロックパ
ルス期間ネゲート状態となり、エッジ検出信号Seを出
力する。次いで、該アンドゲート13aの出力はゲート
パルス形成手段20aを構成するノットゲート22aを
介してJKフリップフロップ23aのJ端子に入力さ
れ、これによって該JKフリップフロップ23aのQ出
力が図3(g)に示すようにアサート状態となる。
【0030】一方、アンドゲート13aの出力はパルス
幅設定手段30aとしての次段のカウンタ31aのロー
ド端子LDにロードパルスとして入力される。カウンタ
31aは上記のようにロードパルスが入力されると、カ
ウントを開始し、設定カウント値をカウントすると、図
3(f)に示す桁上がり信号Coを出力する。この桁上
がり信号Coは上記JKフリップフロップ23aのK端
子に入力されているので、上記カウンタ21aに設定さ
れた時間が経過すると、該桁上がり信号Coによって、
該JKフリップフロップ23aのQ出力はネゲート状態
となる。これによって、該JKフリップフロップ23a
よりは上記イレーズゲート信号EGのアサートエッジに
同期して所定幅のゲートパルスPgを形成することにな
る。
【0031】尚、イレーズゲート信号EGのネゲートエ
ッジでの上記アサートエッジ側の回路の動作を簡単に触
れると、イレーズゲート信号EGがネゲートするとフリ
ップフロップ11a、12aがネゲート、アンドゲート
13aの出力はアサート状態を維持して、JKフリップ
フロップ23aを起動することも、カウンタ31aを起
動することもない(図3(b)〜(g)後半部参照)。
【0032】以上の動作は図3(h)〜(m)に示すよ
うに、イレーズゲート信号EGが反転されて入力されて
いるネゲートエッジ側においても全く同じであり、ネゲ
ートエッジ検出回路10nによってイレーズゲート信号
EGのネゲートを検出してJKフリップフロップ23n
より該ネゲート付近の所定間隔アサート状態となるゲー
トパルスPg(図3(m))を形成する。
【0033】従って、上記2つのJKフリップフロップ
23a、23nの出力が入力されているオアゲート40
よりは、図3(n)に示すようにイレーズゲート信号E
Gのアサート時とネゲート時の所定時間ゲートパルスP
gを形成するマスク信号Smが出力されることになる。
更に、このマスク信号Smは図6に示したゲート回路8
a(8b)に入力されることになる。
【0034】尚、図2に示す回路では、パルス幅を設定
するカウンタ31a、31nを2つ備えるようにし、イ
レーズゲート信号EGのアサートエッジ側とネゲートエ
ッジ側でそれぞれ独立してパルス幅を設定できるように
している。しかしながら、上記カウンタ31a、31n
のいずれか一方をアサートエッジ側とネゲートエッジ側
に共通に使用し、ゲートパルス幅が同じになるようにし
てもよい。
【0035】更に、エッジ検出信号Seはイレーズゲー
ト信号EGのアサートタイミングより若干遅れてアサー
トし、従って、ゲートパルスPgのアサートも遅れる
が、使用周波数が大きいのでこの遅れは無視することが
できる。
【0036】図4はクロックパルスの周波数が小さい場
合(例えば10MHz以下)の本発明の実施例を示すブ
ロック図であり、図5はそのタイミング図である。アサ
ートエッジ検出手段10aを構成するフリップフロップ
15aのデータ端子Dには、イレーズゲート信号EG
(図5(b))が入力されており、これによって、この
フリップフロップ15aのXQ端子の出力はクロックパ
ルスCkに同期してネゲート状態となり、アンドゲート
16aに入力される(図5(c))。一方、アンドゲー
ト16aには上記イレーズゲート信号EGが直接入力さ
れており、これによって該アンドゲート16aの出力
(反転出力)(図5(d))はイレーズゲート信号EG
がアサートしたときにネゲート状態となり、上記フリッ
プフロップ15aがONしたときにアサート状態とな
る。
【0037】このアンドゲート16aの出力は次段のゲ
ートパルス形成手段20aとしてのセットリセット回路
25aのセット端子Sに入力され、該アンドゲート16
aの出力がネゲートされたとき、該フリップフロップ2
5aをセットし、これによって該フリップフロップ25
aのQ出力をアサート状態にする(図5(g))。
【0038】上記アンドゲート16aの出力はパルス幅
設定手段30にも入力されており、該パルス幅設定手段
30には上記アンドゲート16aの出力のアサートを受
けてロードパルスを作成するロードパルス作成回路35
と、該ロードパルスによってロードされ、所定の設定値
で桁上がり信号Co(図5(f))を出力するカウンタ
36が備えられている〔このロードパルス作成回路35
とカウンタ36の関係は、図2のフリップフロップ11
a、フリップフロップ12a、カウンタ31aの関係と
同じであるので、説明を省略する。〕。
【0039】これによって得られた桁上がり信号Co
は、上記セットリセット回路25aのリセット端子Rに
入力され、そのQ出力をネゲートにする。これによっ
て、上記セットリセット回路25aよりは図5(g)に
示すようにイレーズ信号EGのアサートエッジ付近でア
サート状態となり、桁上がりパルスCoが出力される
と、ネゲート状態となるゲートパルス信号Pgが得られ
ることになる。
【0040】イレーズ信号EGが反転して入力されてい
るネゲートエッジ側の回路も全く同様の構成及び動作と
なっており、これにより上記セットリセット回路25a
の出力とセットリセット回路25nの出力が入力されて
いるオアゲート41よりイレーズゲート信号EGのアサ
ートエッジとネゲートエッジの付近でゲートパルスを形
成したマスク信号Smが出力されることになる。
【0041】尚、図4における回路では、パルス幅設定
手段30をアサートエッジ側とネゲートエッジ側で共通
にし、ゲートパルス幅が同じになるようにしているが、
図2に示したようにアサートエッジ側とネゲートエッジ
側で別個のパルス幅設定手段30を用い、アサート側と
ネゲート側で異なるパルス幅を設定してもよい。
【0042】また、この回路ではアンドゲート16a
(16n)の出力するエッジ検出信号Seがクロックに
同期しないで、イレーズゲート信号EGのアサート(ネ
ゲート)のタイミングでネゲート状態になるので、クロ
ック周波数が小さいときでもゲートパルスPgがアサー
トエッジ(ネゲートエッジ)より遅れることはない。
【0043】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明は、イレー
ズゲート信号(ライトゲート信号)を利用して、そのア
サート時とネゲート時の任意の設定幅のゲートパルスを
有するマスク信号を形成し、該マスク信号でレーザパル
ス信号の出力変動にともなうサーボ信号のトランジェン
ト部分をマスクするようにしているので、該パルス幅を
サーボ信号のトランジェント部分をマスクするに充分な
幅に設定でき、サーボエラーの発生を防止することがで
きる効果がある。
【0044】また、上記ゲートパルスの幅を設定するパ
ルス幅設定手段を上記アサート側とネゲート側とで別々
に設けることによって、それぞれに対応するゲートパル
ス幅を任意に設定できる。
【0045】また、クロックパルス同期タイプに構成す
ることによって、周波数の大きなクロックパルスを使用
する場合に適用でき、回路構成を簡単にすることができ
る。更に、クロックパルスに非同期なタイプに構成する
ことによって、周波数の小さなクロックパルスを使用す
る場合にも適用できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理ブロック図である。
【図2】本発明の一実施例ブロック図である。
【図3】図2のタイミング図である。
【図4】本発明の別の実施例ブロック図である。
【図5】図4のタイミング図である。
【図6】従来の光ディスク装置ブロック図である。
【図7】図6のタイミング図である。
【図8】従来のマスク信号形成手段ブロック図である。
【図9】図8のタイミング図である。
【符号の説明】
10 エッジ検出手段 10a アサートエッジ検出手段 10n ネゲートエッジ検出手段 20(20a、20n) ゲートパルス形成手段 25 セットリセット回路 30 パルス幅設定手段 100 マスク信号形成手段 EG イレーズゲート信号 Pg ゲートパルス Se エッジ検出信号 Sm マスク信号 WG ライトゲート信号

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光ビームの出力変化に同期して発生する
    サーボ信号のトランジェントをマスク信号形成手段(10
    0) より得られるマスク信号(Sm)により除去して、サー
    ボ系が無用のサーボエラーを発生することを防止した光
    ディスク装置において、 上記マスク信号形成手段(100) が、 光ビーム出力の変化を制御するイレーズゲート信号(EG)
    又はライトゲート信号(WG)のエッジを検出するエッジ検
    出手段(10)と、 上記エッジ検出手段(10)より出力されるエッジ検出信号
    (Se)により、ゲートパルス(Pg)を出力するゲートパルス
    形成手段(20)と、 上記ゲートパルス(Pg)のパルス幅を設定するパルス幅設
    定手段(30)とよりなることを特徴とする光ディスク装
    置。
  2. 【請求項2】 上記エッジ検出手段(10)がイレーズゲー
    ト信号(EG)又はライトゲート信号(WG)のアサートエッジ
    を検出するアサートエッジ検出手段(10a)と、ネゲート
    エッジを検出するネゲートエッジ検出手段(10n) とより
    なるとともに、それぞれのエッジ検出手段(10a)、(10
    n) に対応してゲートパルス形成手段(20a) 、(20n) を
    設けた請求項1に記載の光ディスク装置。
  3. 【請求項3】 上記パルス幅設定手段(30)が2つのゲー
    トパルス形成手段(20a)、(20n) に対して共通である請
    求項2に記載の光ディスク装置。
  4. 【請求項4】 上記パルス幅設定手段(30)が2つのゲー
    トパルス形成手段(20a)、(20n) に対して別個に設けら
    れ、アサートエッジ側とネゲートエッジ側で異なるパル
    ス幅を設定できる請求項2に記載の光ディスク装置。
  5. 【請求項5】 エッジ検出手段(10)によりクロックパル
    スに同期したエッジ検出信号(Se)を得るとともに、ゲー
    トパルス形成手段(20)にクロック同期型のフリップフロ
    ップを使用した請求項1に記載の光ディスク装置。
  6. 【請求項6】 エッジ検出手段(10)によりクロックパル
    スに非同期のエッジ検出信号(Se)を得るとともに、ゲー
    トパルス形成手段(20)にクロック非同期型のセットリセ
    ット回路(25)を使用した請求項1に記載の光ディスク装
    置。
JP4028055A 1992-02-14 1992-02-14 光ディスク装置 Expired - Fee Related JP2716902B2 (ja)

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