JPH0684219A

JPH0684219A - 光磁気ディスクおよび光磁気ディスク装置

Info

Publication number: JPH0684219A
Application number: JP25738592A
Authority: JP
Inventors: Shigeaki Wachi; 滋明和智
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1992-09-01
Filing date: 1992-09-01
Publication date: 1994-03-25

Abstract

(57)【要約】【目的】光磁気ディスクの容量を増加させる。【構成】光磁気ディスクの各トラックに、ｎビット周
期でピットを形成する。そして、このピットの前方のエ
ッジをクロック生成用のエッジとし、後方のエッジを、
基準位置から±ｍビットだけずらした位置に形成するこ
とにより、論理１または０を表すようにする。そして、
この後方のエッジによりセクタのアドレスを表すように
する。鏡面部はもとより、このピット上にも光磁気膜が
形成され、データが記録される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、情報を光磁気的に記録
または再生する光磁気ディスクおよび光磁気ディスク装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図１５は、従来の光磁気ディスクにおけ
るトラックのフォーマットを示している。光磁気ディス
クは、その１周が複数のセクタに区分され、各セクタは
さらに複数のセグメントにより構成されている。各セグ
メントは、図１１に示すように、サーボバイト区間とデ
ータ区間とに区分される。サーボバイト区間には、クロ
ックを生成するための基準となるクロックピットと、ト
ラッキンクエラー信号を生成するためのウォブルドピッ
トとが設けられている。これらのピットは、例えばエン
ボス加工等により物理的な凸部あるいは凹部として形成
されている。

【０００３】一方、データ区間には、光磁気膜が形成さ
れ、光磁気的にデータが記録または再生されるようにな
されている。即ち、このデータ区間は鏡面部とされ、そ
こには物理的な凹部あるいは凸部よりなるピットが形成
されていない。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従来の光磁気ディスク
は、このように、そのセグメントがサーボバイト区間と
データ区間とに区分され、実質的なデータはデータ区間
においてのみ記録または再生が可能であるため、実質的
にデータを記録することができる領域が狭くなる（記録
容量が小さくなる）課題があった。

【０００５】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
ものであり、記録容量をより大きくすることができるよ
うにするものである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の光磁気
ディスクは、物理的な凹部または凸部として形成された
ピットを有し、ピットとピットが形成されていない鏡面
部の両方に光磁気膜が形成されており、ピット上および
鏡面部上の光磁気膜に主情報が記録されるとともに、ピ
ットのエッジにより副情報が記録されることを特徴とす
る。

【０００７】このピットのエッジにより、副情報とし
て、例えばセクタのアドレスを記録するようにすること
ができる。この場合、１つ前のセクタに形成されている
ピットにより、その直後のセクタのアドレスを記録する
ようにすることができる。また、このピットと鏡面部の
段差は、記録または再生用の光の波長の約１／４の奇数
倍に設定することができる。

【０００８】請求項５に記載の光磁気ディスク装置は、
物理的な凹部または凸部として形成されたピットを有
し、ピットとピットが形成されていない鏡面部の両方に
光磁気膜が形成されており、ピット上および鏡面部上の
光磁気膜に主情報が、また、ピットのエッジにより副情
報が、それぞれ記録される光磁気ディスクに、主情報を
記録または再生する光磁気ディスク装置であって、ピッ
トのエッジの近傍においては、光磁気膜に対する情報の
記録または再生を禁止することを特徴とする。

【０００９】また、請求項６に記載の光磁気ディスク装
置は、物理的な凹部または凸部として形成されたピット
を有し、ピットとピットが形成されていない鏡面部の両
方に光磁気膜が形成されており、ピット上および鏡面部
上の光磁気膜に主情報が、また、ピットのエッジにより
副情報が、それぞれ記録される光磁気ディスクに、主情
報を記録または再生する光磁気ディスク装置であって、
光磁気ディスクに情報を記録または再生する光の光磁気
ディスク上におけるスポットの径がピットの幅とほぼ等
しいか、またはピットの幅より小さくなるように設定さ
れていることを特徴とする。

【００１０】

【作用】請求項１に記載の光磁気ディスクにおいては、
ピットとピットの形成されていない鏡面部の両方に光磁
気膜が形成されている。従って、鏡面部はもとより、ピ
ット上にも光磁気膜上に情報を記録またき再生すること
が可能となる。これにより、記録容量を増加させること
ができる。

【００１１】また、請求項５に記載の光磁気ディスク装
置においては、ピットとピットの形成されていない鏡面
部の両方に、光磁気膜が形成されている光磁気ディスク
に主情報を記録または再生するに際し、ピットのエッジ
の近傍においては、光磁気膜に対する情報の記録または
再生が禁止される。従って、正確な情報の記録または再
生が可能となる。

【００１２】また、請求項６に記載の光磁気ディスク装
置においては、光磁気ディスクに主情報を記録または再
生する光スポットの径がピットの幅とほぼ等しいか、ま
たはピットの幅より小さくなるように設定されている。
従って、ピットの前後方向のエッジを正確に検出するこ
とが可能になる。

【００１３】

【実施例】図１は、本発明の光磁気ディスク装置の一実
施例の構成を示すブロック図である。光磁気ディスク装
置１は、スピンドルモータ２により所定の速度で回転さ
れるようになされている。この光磁気ディスク１の下側
には、光ヘッド３が配置され、その上側には磁気ヘッド
４が配置されている。光ヘッド３は、レーザダイオード
５を有し、そこより出射されたレーザ光が回折格子６に
より３本のレーザ光に分割され、コリメートレンズ７に
より平行光とされるようになされている。そして、この
平行光はビームスプリッタ８、対物レンズ９を介して光
磁気ディスク１上に集束照射される。

【００１４】光磁気ディスク１により反射されたレーザ
光が、対物レンズ９、ビームスプリッタ８、１／２波長
板１１を介して、偏光ビームスプリッタ１２に入射され
るようになされている。偏光ビームスプッリタ１２は、
入射されたレーザ光の一部（例えばＰ偏光成分）を透過
し、このレーザ光は集光レンズ１３により、ホトディテ
クタ１４上に集束照射される。一方、偏光ビームスプリ
ッタ１２は、レーザ光の一部（例えばＳ偏光成分）を反
射し、この反射されたレーザ光は集光レンズ１５によ
り、ホトディテクタ１６に集束照射されるようになされ
ている。そして、ホトディテクタ１４と１６の出力は、
演算回路１７に供給されている。

【００１５】演算回路１７は、入力された信号からフォ
ーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を生成し、
アクチュエータ１０に供給している。また、演算回路１
７は、入力された信号からＭＯ信号とＲＦ信号を分離
し、ＭＯ信号を読取回路１８に、ＲＦ信号を読取回路１
９にそれぞれ出力するようになされている。読取回路１
９は、入力された信号から所定のデータを読み取り、そ
の読み取った結果をＣＰＵ２０に出力している。

【００１６】ＣＰＵ２０は駆動回路２１を制御し、スピ
ンドルモータ２を駆動させる。また、駆動回路２２を制
御し、レーザダイオード５を駆動させる。さらにまた、
駆動回路２３を制御し、磁気ヘッド４に対して所定の記
録信号を供給させる。また、駆動回路２４を制御し、光
ヘッド３と磁気ヘッド４を光磁気ディスク１の所定のア
ドレス位置に移送するようになされている。

【００１７】光磁気ディスク１は、例えば図２に示すよ
うに、その１周が複数のセクタに区分されている。そし
て、各セクタには図３に示すように、複数個のピットが
物理的な凸部または凹部（実施例の場合凹部）として、
予め形成されている。そして、このピットとピットが形
成されていない鏡面部の両方に光磁気膜が形成されてい
る。この実施例においては、ピットが基本的に所定の周
期でセクタの全体にわたって配置されている。

【００１８】しかしながら、後述するように、このピッ
トにより、例えば各セクタのアドレスが表されるように
なされるのであるが、例えばこのアドレスを表すのに充
分な数のピットがあればよいわけであるから、このピッ
トは必ずしもセクタの全体にわたって設けられる必要は
なく、例えばセクタの前側の所定の範囲の部分にのみ設
けるようにすることも可能である。

【００１９】即ち、本実施例においては、ピット上の光
磁気膜、およびピットが形成されていない鏡面部の光磁
気膜の両方に、光磁気的に主情報として、例えばオーデ
ィオデータやビデオデータ等が記録される。これに対し
て、ピットのエッジ位置に副情報として、例えば各セク
タのアドレス等が記録される。

【００２０】図４および図５はピットによりデータ（副
情報）を記録する原理を示している。即ち、これらの図
に示すように、ピットは基本的にｎビットの長さに形成
される。換言すれば、ピットはｎビット周期で形成され
ることになる。各ピットの前方のエッジは、クロックエ
ッジとされ、このエッジに対応してクロックが生成され
る。光磁気膜に対するデータの記録または再生は、この
ようにして生成されたクロックを基準として行われる。

【００２１】一方、ピットの後方のエッジは、前方エッ
ジからｎ−ｍビットの位置か、またはｎ＋ｍビットの位
置に形成される。このｎ−ｍビットの位置のエッジによ
り例えば論理１が表され、ｎ＋ｍビットのエッジにより
論理０が表される。即ち、１つのピットの後方エッジの
位置により論理１または０が表されるため、ｎ個のピッ
トによりｎビットのデータを表すことができる。このｎ
ビットのデータによりセクタアドレスが表される。

【００２２】図６は、このようにしてピットに記録され
ている情報を再生する原理について表している。即ち、
レーザダイオード５からのレーザ光により光スポットを
光磁気ディスク１上に形成し、これによりトラックを走
査すると、鏡面部分を走査しているタイミングにおい
て、その反射率はほぼ一定であるため、反射光を受光し
て得られるＲＦ信号のレベルはほぼ一定となる。

【００２３】光スポットの直径Ｄは、トラックの幅（ピ
ットの幅Ｗ）と等しいか、それより小さい値となるよう
に設定されている。従って、この光スポットがピットを
走査しているタイミングにおいても、ＲＦ信号のレベル
は、ほぼ鏡面部を走査しているタイミングにおけるレベ
ルと同一のレベルとなり、一定となる。

【００２４】これに対して、この光スポットがピットの
前方エッジまたは後方エッジを走査するタイミングにお
いては、光が散乱され、ホトディテクタ１４，１６で検
出する反射光量（ＲＦ信号のレベル）が減少する。ま
た、この光量の減少をより効果的に発生させるために、
鏡面部とピットの段差を記録再生用の光の波長の約１／
４の奇数倍の長さになるように設定してある。このた
め、鏡面部からの反射光に対して、ピットからの反射光
が往復で１／２波長だけ位相がずれるため（逆相となる
ため）、相互に干渉し、反射光量が効果的に減少する。

【００２５】その結果、図６に示すように、ＲＦ信号の
レベルがピットのエッジに対応して減少する。そこで、
このＲＦ信号のレベル変化を検出し、そのタイミングか
らピットのエッジの位置を検出することができる。

【００２６】光磁気膜に記録されたデータは、原理的に
はＲＦ信号のレベル変化に拘らず、これを再生すること
が可能である。しかしながら、実際には光学的および電
気的コモンモードリジェクションレシオ（Ｐ波とＳ波の
光量変動比）が充分ではないのが一般的であるため、Ｒ
Ｆ信号のレベルが変化すると、ＭＯ信号（光磁気的信
号）を正確に読み取ることが困難になる。そこで、本実
施例においては、例えば図７に示すように、ピットの後
方エッジの位置からＰビットだけ余裕をみた範囲におい
て、すなわちｎ±（ｐ＋ｍ）ビットの範囲において、光
磁気膜に対する記録再生を実質的に行わないようにす
る。換言すれば、この範囲においてはＲＦ信号の再生の
みが実行される。

【００２７】一方、ピットの前方のエッジは変動するこ
とがない。従って、原理的には前方のエッジを基準とし
て±ｐビットの範囲について、光磁気的な記録再生を禁
止するようにすればよい。しかしながら、実際には、隣
接トラックの後方エッジによるクロストークの影響を受
ける恐れがある。そこで、前方エッジを基準として±
（ｐ＋ｍ）ピットの範囲を光磁気的な記録再生の禁止領
域とする。その結果、実質的にはｎ−（２（ｔ＋ｍ））
の範囲について光磁気的な記録再生が実行される。

【００２８】いま、図７におけるｎを２０バイト、ｍを
３ビット、ｐを３ビットとすると、オーバヘッドは次式
で示すように約７．５％となる。

【００２９】２（ｍ＋ｐ）／ｎ＝２（３＋３）／（２０×８）＝０．０７５

【００３０】従来の図１５に示した方式の光磁気ディス
クにおけるオーバラップは、約２０％となるため、相当
改善されていることが分かる。

【００３１】このようにして、ピットの後方エッジによ
りセクタのアドレスを表すようにすると、このアドレス
を読み取るのに、そのセクタに記録されているピットの
すべてを読み取る必要がある。そこで、図８に示すよう
に、ピットの後方エッジにより表されるアドレスＲが記
録されているセクタに、光磁気的にデータを記録すると
き、そのセクタのピットを読み取り、そのセクタがＲで
あることを確認してから、そのセクタに記録を開始する
のに光磁気ディスク１が、もう１回、回転するのを待機
しなければならない。そのようにすると、所定のセクタ
に対応するデータを記録するのに時間がかかることにな
る。

【００３２】そこで、Ｒセクタに対応するデータは、そ
の直後のＲ＋１セクタに記録するようする。このように
すれば、Ｒセクタのアドレスを読み取った後、その直後
に到来するＲ＋１セクタに、直ちにセクタＲに対応する
データを記録することができる。

【００３３】また、このようにしておけば、例えば、Ｒ
セクタからのデータの読出しを指令した場合、Ｒセクタ
のアドレスを読み取った後、その直後に到来するセクタ
からデータを直ちに読み取ることができる。従って、迅
速な再生が可能となる。

【００３４】次に、図９を参照して本実施例におけるフ
ォーカスの原理について説明する。本実施例において
は、図９（ａ）に示すように、ピットと鏡面部の中間の
位置にフォーカス面が設定される。すなわち、いまフォ
ーカスがピットに対して調整（合焦）されているとする
と、光スポットの走査に対応する。その時のＲＦ信号の
レベル変化は、図９（ｂ）に示すようになる。

【００３５】即ち、このとき光磁気ディスク１上のピッ
ト区間を光スポットがトレースしているとき得られるＲ
Ｆ信号のレベルは、ピットが形成されていない鏡面部を
トレースしているときより大きくなる。

【００３６】これに対して、図９（ｃ）に示すように、
フォーカスが鏡面部に対して調整（合焦）されていると
き、ＲＦ信号のレベルは、鏡面部における場合の方が、
ピットにおける場合より大きくなる。そこで、ＲＦ信号
のレベルがピットにおける場合と鏡面部における場合と
で等しくなるように、フォーカスをかけることにより、
ピットと鏡面部の中間にフォーカス面を設定することが
できる。

【００３７】このようにすることにより、ピットのエッ
ジを読み取ることができるとともに、ピット上の光磁気
膜および鏡面部上の光磁気膜に対するデータの記録再生
が可能となる。

【００３８】このフォーカスの方法について更に説明す
ると、いま図１０（ａ）に、状態Ｂで示すように、対物
レンズ９によりピットに対してフォーカスが調整されて
いるとすると、状態Ｃで示すように、鏡面部においては
フォーカス点が鏡面部より遠くなる。

【００３９】これに対して図１０（ｂ）に状態Ｂで示す
ように、鏡面部にフォーカスが調整されているとする
と、状態Ａデ示すように、ピットにおいてはフォーカス
点がピットの面より手前に位置することになる。

【００４０】ホトディテクタ１４と１６のうち、フォー
カスエラー信号を生成するための信号を出力する方（例
えばホトディテクタ１４）は、集光レンズ１３からの光
に対して図１１に示すように配置されている。図１１に
おける符号Ａ，Ｂ，Ｃは、図１０における符号Ａ，Ｂ，
Ｃにそれぞれ対応している。すなわち、符号Ｂはピット
または鏡面部にフォーカスが調整されている状態のレー
ザ光を示し、符号Ａはフォーカス点がピットより手前に
位置する状態のレーザ光を示し、符号Ｃはフォーカス点
が鏡面部より遠くに位置する状態におけるレーザ光を表
している。

【００４１】このホトディテクタ１４は、図１１および
図１２に示すように、内周側の領域Ｄ₁と外周側の領域
Ｄ₂に２分割されており、最も径の小さい状態Ａのレー
ザ光が入射されたとき、領域Ｄ₁の外側にそのレーザ光
によるスポットが形成されるようになされている。その
結果、状態Ｂのレーザ光によるスポット、さらに状態Ｃ
のレーザ光によるスポットは、それぞれ状態Ａにおける
スポットより順次、大きくなる。

【００４２】状態Ａにおける光スポットは、領域Ｄ₁の
大きさに最も近いため、比較的多くのエネルギーが領域
Ｄ₁により受光される。その結果、領域Ｄ₁の出力は大き
くなる。これに対して、状態Ｂにおける光スポットは、
状態Ａにおける光スポットより、その径が大きくなるた
め、領域Ｄ₁で受光されるエネルギーの量は少なくな
る。その結果、領域Ｄ₁が出力する信号のレベルは、状
態Ａの光スポットを受ける場合より小さくなる。

【００４３】さらに、状態Ｃにおける光スポットを受け
る場合においては、その光スポットの径がさらに大きく
なるため、領域Ｄ₁が出力する信号のレベルは最も小さ
くなる。即ち、領域Ｄ₁が出力する信号のレベルは、状
態Ａ、状態Ｂおよび状態Ｃの順に、順次小さくなる。

【００４４】そこで、ピットにおける領域Ｄ₁の出力
と、鏡面部における領域Ｄ₁の出力が等しくなるように
フォーカスサーボをかけることにより、図９（ａ）に示
すように、ピットと鏡面部の中間にフォーカス面を設定
することが可能となる。

【００４５】次に、図１３を参照してトラッキングの原
理について説明する。本実施例においては、レーザダイ
オード５より出射されたレーザ光は、回折格子６により
実質的に３本のレーザ光に分割される。この３本のレー
ザ光は、光磁気ディスク１上において、図１３に示すよ
うに、３つの光スポットを形成する。

【００４６】メインのスポットＭは、記録再生を行うべ
きトラックの中央に配置される。これに対して、メイン
のスポットＭの左右に配置される２つのサブスポットＳ
₁，Ｓ₂は、それぞれ左右に隣接するトラックの左側のエ
ッジと右側のエッジに照射される。そして、例えばホト
ディテクタ１６において、トラッキングエラー信号が生
成されるものとすると、図１４に示すように、実質的に
３つに分割されたホトディテクタ１６により各スポット
の反射光が受光される。この実施例においては、メイン
スポットＭの反射光がホトディテクタＤ_Mにより受光さ
れ、サブスポットＳ₁とＳ₂の反射光が、それぞれホトデ
ィテクタＤ_S1とＤ_S2により、それぞれ受光される。トラ
ッキングエラー信号は、この２つのホトディテクタＤ_S1
とＤ_S2の出力の差より生成される。

【００４７】尚、図１３に示すように、メインスポット
Ｍがピットをトレースしている場合と、鏡面部をトレー
スしている場合において、サブスポットＳ₁とＳ₂の位相
が逆転する。即ち、例えば図１３において、図中、右側
方向に各スポットがトラックをトレースしているものと
すると、メインスポットＭがピットをトレースしている
区間において、スポットが左側（図中、上側）にずれる
と、スポットＳ₁においてはピットから受ける光量が増
加し、スポットＳ₂においては鏡面部から受ける光量が
増加する。

【００４８】これに対して、メインスポットＭが鏡面部
をトレースしている場合においては、スポットが左側方
向にずれたとすると、スポットＳ₁においては鏡面部か
らの反射光量が増加し、スポットＳ₂においてはピット
からの反射光量が増加する。その結果、メインスポット
Ｍがピットをトレースしている場合と、鏡面部をトレー
スしている場合とにおいて、トラッキンクエラー信号の
極性が反転することになる。そこで、トラッキンクエラ
ー信号の極性を各ピット毎に（ｎビット毎に）反転する
ようにする。あるいはまた、トラッキングエラー信号を
２ピット毎（偶数ピット毎）にサンプルホールドしても
よい。

【００４９】次に、図１に戻ってその動作について説明
する。ＣＰＵ２０は例えば再生の指令が入力されると、
駆動回路２１を制御し、スピンドルモータ２を駆動し
て、光磁気ディスク１を一定の各速度で回転させる。ま
た、駆動回路２２を制御し、レーザダイオード５に所定
の強度のレーザ光を発生させる。このレーザ光は回折格
子６により実質的に３本のレーザ光に分割される。そし
て、この３本のレーザ光がコリメートレンズ７、ビーム
スプリッタ８、対物レンズ９を介して光磁気ディスク１
上に照射される。光磁気ディスク１上においては、図１
３に示すように、メインスポットＭと、その左右に２つ
のサブスポットＳ₁とＳ₂が形成されることになる。

【００５０】光磁気ディスク１からの反射光は、対物レ
ンズ９、ビームスプリッタ８、１／２波長板１１を介し
て、偏光ビームスプリッタ１２に入射される。入射され
たレーザ光の一部は、偏光ビームスプリッタ１２を透過
し、集光レンズ１３により集光され、ホトディテクタ１
４上に照射される。また、偏光ビームスプリッタ１２に
より反射されたレーザ光は、集光レンズ１５を介してホ
トディテクタ１６上に集束照射される。ホトディテクタ
１４と１６の出力は、演算回路１７に供給される。

【００５１】演算回路１７は、図１１および図１２に示
したホトディテクタＤ₁の出力を、メインスポットＭが
ピットをトレースしている区間において、サンプルホー
ルドする。また、同様にしてメインスポットＭが鏡面部
をトレースしているときの出力をサンプルホールドす
る。そして、２つのサンプルホールド値の差を演算し、
これをフォーカスエラー信号としてアクチュエータ１０
に供給する。アクチュエータ１０は、このフォーカスエ
ラー信号に対応して対物レンズ９をフォーカス方向に駆
動する。

【００５２】一方、演算回路１７は、図１４に示すホト
ディテクタＤ_S1とＤ_S2の出力の差を演算し、これをトラ
ッキングエラー信号としてアクチュエータ１０に出力す
る。アクチュエータ１０は、このトラッキングエラー信
号に対応して対物レンズ９をトラッキング方向に駆動す
る。また、演算回路１７は、このトラッキングエラー信
号の直流成分を、スレッド信号として駆動回路２４に供
給する。駆動回路２４は、このスレッド信号に対応して
光ヘッド３と磁気ヘッド４を光磁気ディスク１の半径方
向に徐々に移動する。これにより、光ヘッド３が光磁気
ディスク１上のトラックを連続的にトレースすることに
なる。

【００５３】さらに、演算回路１７は、図１１および図
１２に示すホトディテクタ１４の領域Ｄ₁，Ｄ₂の出力の
和と、図１４に示すホトディテクタＤ_M，Ｄ_S1，Ｄ_S2の
出力の和を加算する。この加算出力がＲＦ信号となる。
このＲＦ信号は、ＰＬＬ回路２５に供給される。ＰＬＬ
回路２５は、このＲＦ信号のうちピットの前方のエッジ
に対応して発生されるパルスに対応してクロックを生成
する。このクロックは、読取回路１８と読取回路１９に
それぞれ出力される。

【００５４】また、演算回路１７は、図１１と図１２に
示すホトディテクタ１４の領域Ｄ₁とＤ₂の出力の和と、
図１４に示すホトディテクタＤ_Mの出力の差から、光磁
気膜に記録されているデータに対応するＭＯ信号を生成
し、読取回路１８に出力する。読取回路１８は、ＰＬＬ
回路２５より供給されるクロックを基準として、このデ
ータを読み取る。

【００５５】また、読取回路１９は、演算回路１７が出
力するＲＦ信号をＰＬＬ回路２５が出力するクロックを
基準として読み取り、その読み取り結果をＣＰＵ２０に
出力する。上述したように、このピットに対応するデー
タはセクタのアドレスを表している。ＣＰＵ２０は、１
セクタ分の読取回路１９からのデータを読み取ってアド
レスとし、光ヘッド３の再生位置を検出する。そして、
必要に応じて駆動回路２４を制御し、光ヘッド３を所定
のアドレスに移動させる。

【００５６】一方、記録動作が指令されとき、ＣＰＵ２
０は駆動回路２３を制御し、磁気ヘッド４に記録信号に
対応する磁界を発生させる。また、このとき光ヘッド３
から光磁気ディスク１に対して再生時における場合よ
り、強い強度のレーザ光が照射される。これにより、光
磁気ディスク１の光磁気膜上にデータが記録される。上
述したように、このデータは鏡面部の光磁気膜だけでな
く、ピット上の光磁気膜にも記録される。

【００５７】

【発明の効果】以上の如く、請求項１に記載の光磁気デ
ィスクによれば、ピット上および鏡面部上の光磁気膜に
主情報を記録するようにしたので、容量を増大すること
ができる。

【００５８】請求項５に記載の光磁気ディスク装置によ
れば、ピットのエッジの近傍において、光磁気膜に対す
る主情報の記録または再生を禁止するようにしたので、
正確な主情報の記録または再生が可能となる。

【００５９】さらに、請求項６に記載の光磁気ディスク
装置によれば、スポットの径をピットの幅とほぼ等しい
か、それより小さくなるようにしたので、副情報を正確
に読み取ることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光磁気ディスク装置の一実施例の構成
を示すブロック図である。

【図２】図１の実施例における光磁気ディスク１のフォ
ーマットを説明する図である。

【図３】図２の実施例のセクタのフォーマットを説明す
る図である。

【図４】図３のピットによるデータの記録原理を説明す
る図である。

【図５】図４の一部の断面の構成を示す断面図である。

【図６】図４のピットの再生原理を説明する図である。

【図７】図４のピットのエッジ近傍における記録または
再生禁止区間を説明する図である。

【図８】図２の各セクタのアドレスに対応するデータの
記録位置を説明する図である。

【図９】図１の実施例におけるフォーカスの原理を説明
する図である。

【図１０】図１の実施例におけるフォーカスの原理を説
明する他の図である。

【図１１】図１の実施例におけるホトディテクタ１４の
配置位置を説明する図である。

【図１２】図１１のホトディテクタ１４の正面の構成を
示す図である。

【図１３】図１の実施例におけるトラッキングの原理を
説明する図である。

【図１４】図１の実施例におけるホトディテクタ１６の
構成を説明する図である。

【図１５】従来の光磁気ディスクのセグメントのフォー
マットを説明図である。

【符号の説明】

１光磁気ディスク３光ヘッド４磁気ヘッド５レーザダイオード６回折格子９対物レンズ１０アクチュエータ１１１／２波長板１２偏光ビームスプリッタ１４，１６ホトディテクタ１７演算回路１８，１９読取回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】物理的な凹部または凸部として形成され
たピットを有し、前記ピットと、前記ピットが形成されていない鏡面部の
両方に光磁気膜が形成されており、前記ピット上および前記鏡面部上の前記光磁気膜に主情
報が記録されるとともに、前記ピットのエッジにより副情報が記録されることを特
徴とする光磁気ディスク。
【請求項２】前記ピットのエッジにより、前記副情報
としてアドレスが記録されていることを特徴とする請求
項１に記載の光磁気ディスク。
【請求項３】前記アドレスは、セクタのアドレスであ
り、１つ前のセクタに形成されている前記ピットによ
り、その直後の前記セクタの前記アドレスが記録されて
いることを特徴とする請求項２に記載の光磁気ディス
ク。
【請求項４】前記ピットと鏡面部の段差は、記録また
は再生用の光の波長の約１／４の奇数倍に設定されてい
ることを特徴とする請求項１，２または３に記載の光磁
気ディスク。
【請求項５】物理的な凹部または凸部として形成され
たピットを有し、前記ピットと、前記ピットが形成され
ていない鏡面部の両方に光磁気膜が形成されており、前
記ピット上および前記鏡面部上の前記光磁気膜に主情報
が、また、前記ピットのエッジにより副情報が、それぞ
れ記録される光磁気ディスクに、前記主情報を記録また
は再生する光磁気ディスク装置であって、前記ピットのエッジの近傍においては、前記光磁気膜に
対する前記主情報の記録または再生を禁止することを特
徴とする光磁気ディスク装置。
【請求項６】物理的な凹部または凸部として形成され
たピットを有し、前記ピットと、前記ピットが形成され
ていない鏡面部の両方に光磁気膜が形成されており、前
記ピット上および前記鏡面部上の前記光磁気膜に主情報
が、また、前記ピットのエッジにより副情報が、それぞ
れ記録される光磁気ディスクに、前記主情報を記録また
は再生する光磁気ディスク装置であって、前記光磁気ディスクに前記主情報を記録または再生する
光の前記光磁気ディスク上におけるスポットの径は、前
記ピットの幅とほぼ等しいか、または前記ピットの幅よ
り小さくなるように設定されていることを特徴とする光
磁気ディスク装置。