JPH07121875A - 光ディスクおよび光ディスク再生装置 - Google Patents
光ディスクおよび光ディスク再生装置Info
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- JPH07121875A JPH07121875A JP5264600A JP26460093A JPH07121875A JP H07121875 A JPH07121875 A JP H07121875A JP 5264600 A JP5264600 A JP 5264600A JP 26460093 A JP26460093 A JP 26460093A JP H07121875 A JPH07121875 A JP H07121875A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】最短記録マーク周期が再生スポット径以下であ
るサンプルサーボ方式および連続サーボ方式の高密度光
ディスクの再生をすることを目的とする。 【構成】記録部分と未記録部分の反射光強度の差を信号
とするサンプルサーボ方式および連続サーボ方式の高密
度光ディスクにおいて、データ記録領域の一部に再生ス
ポットの信号検出領域以上の長さの未記録領域または特
定の記録マークを設ける。また、光ディスクからの反射
光強度を検出して再生を行う光ディスク再生装置におい
て、検出した反射光強度の情報を遅延する遅延回路およ
び検出した反射光強度の情報と遅延された情報を比較し
その差分を計算する比較演算回路を設ける。 【効果】本発明によれば、最短記録マーク周期が再生ス
ポット径よりも小さいサンプルサーボ方式および連続サ
ーボ方式の高密度光ディスクを再生することが可能にな
る。
るサンプルサーボ方式および連続サーボ方式の高密度光
ディスクの再生をすることを目的とする。 【構成】記録部分と未記録部分の反射光強度の差を信号
とするサンプルサーボ方式および連続サーボ方式の高密
度光ディスクにおいて、データ記録領域の一部に再生ス
ポットの信号検出領域以上の長さの未記録領域または特
定の記録マークを設ける。また、光ディスクからの反射
光強度を検出して再生を行う光ディスク再生装置におい
て、検出した反射光強度の情報を遅延する遅延回路およ
び検出した反射光強度の情報と遅延された情報を比較し
その差分を計算する比較演算回路を設ける。 【効果】本発明によれば、最短記録マーク周期が再生ス
ポット径よりも小さいサンプルサーボ方式および連続サ
ーボ方式の高密度光ディスクを再生することが可能にな
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、高密度で記録されてい
る光ディスクおよび光ディスクの情報を再生する再生装
置に関するものである。
る光ディスクおよび光ディスクの情報を再生する再生装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】再生専用光ディスク、相変化型光ディス
クおよび合金型光ディスクは、レーザー光を記録トラッ
ク部分に照射し記録部分と未記録部分の反射光強度の差
を検出することによって再生を行う。レーザー光源から
出射した再生光は回折格子、対物レンズを通って光ディ
スク上に集光し微小な光スポットとなる。この際、情報
の読み出し領域は再生光のスポット径で決まる。光ディ
スクからの反射光は上記光路を逆行し受光素子および光
検出器にてその光強度を検出される。
クおよび合金型光ディスクは、レーザー光を記録トラッ
ク部分に照射し記録部分と未記録部分の反射光強度の差
を検出することによって再生を行う。レーザー光源から
出射した再生光は回折格子、対物レンズを通って光ディ
スク上に集光し微小な光スポットとなる。この際、情報
の読み出し領域は再生光のスポット径で決まる。光ディ
スクからの反射光は上記光路を逆行し受光素子および光
検出器にてその光強度を検出される。
【０００３】高密度情報が記録されている上記光ディス
クを再生する場合、読み出し領域を縮小するため光スポ
ット径を微小化する必要がある。これを実現する従来の
技術としては、主にレーザー光の短波長化、対物レンズ
の開口率(ＮＡ)増大が行われている。また、特開平４−
１５７６３４号公報に示すように光源から出射する光束
の中心付近の光強度をあらかじめ減衰させ、対物レンズ
を通して集光される光スポットをガウス分布型の光束よ
り小さくさせる方法もある。
クを再生する場合、読み出し領域を縮小するため光スポ
ット径を微小化する必要がある。これを実現する従来の
技術としては、主にレーザー光の短波長化、対物レンズ
の開口率(ＮＡ)増大が行われている。また、特開平４−
１５７６３４号公報に示すように光源から出射する光束
の中心付近の光強度をあらかじめ減衰させ、対物レンズ
を通して集光される光スポットをガウス分布型の光束よ
り小さくさせる方法もある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】光ディスクは、レーザ
ー光による穴あけ、結晶化等レーザー光照射部分の反射
率を変化させることによって記録を行う。このとき記録
マークの大きさはレーザー光のパワーによって決まるた
め、記録レーザーパワーを小さくすればスポット径より
も小さいマークを記録することができる。しかし、再生
時には光スポット内を通過する記録マークを個別に検出
する必要があるため、結果的に記録マークの周期は再生
光のスポット径によって決定される。
ー光による穴あけ、結晶化等レーザー光照射部分の反射
率を変化させることによって記録を行う。このとき記録
マークの大きさはレーザー光のパワーによって決まるた
め、記録レーザーパワーを小さくすればスポット径より
も小さいマークを記録することができる。しかし、再生
時には光スポット内を通過する記録マークを個別に検出
する必要があるため、結果的に記録マークの周期は再生
光のスポット径によって決定される。
【０００５】したがって、高密度で情報が記録されてい
る光ディスクを再生するには、光ディスクに照射するレ
ーザー光の光スポット径を通常の再生よりもさらに小さ
くする必要がある。これを実現するには、再生レーザ光
を集光する対物レンズの開口率(ＮＡ)の増大およびレー
ザー光の短波長化などの方法がある。しかし、光ディス
クの反り、光ピックアップの組立て精度および再生情報
の信頼性などを考慮するとこれまで以上に対物レンズの
ＮＡを大きくすることは難しい。レーザー光の短波長化
についても、半導体レーザーの波長およびコストの点か
ら現時点では困難である。光強度を減衰させる方法につ
いても、再生レーザー光の強度減衰と共に反射光強度が
低下するという問題がある。また上述の方法では基本的
に記録マーク周期が光スポット径に依存することにな
り、マーク周期が光スポット径以下の場合には再生が不
可能である。
る光ディスクを再生するには、光ディスクに照射するレ
ーザー光の光スポット径を通常の再生よりもさらに小さ
くする必要がある。これを実現するには、再生レーザ光
を集光する対物レンズの開口率(ＮＡ)の増大およびレー
ザー光の短波長化などの方法がある。しかし、光ディス
クの反り、光ピックアップの組立て精度および再生情報
の信頼性などを考慮するとこれまで以上に対物レンズの
ＮＡを大きくすることは難しい。レーザー光の短波長化
についても、半導体レーザーの波長およびコストの点か
ら現時点では困難である。光強度を減衰させる方法につ
いても、再生レーザー光の強度減衰と共に反射光強度が
低下するという問題がある。また上述の方法では基本的
に記録マーク周期が光スポット径に依存することにな
り、マーク周期が光スポット径以下の場合には再生が不
可能である。
【０００６】本発明ではこれらの問題点を解決し反射光
強度の差を検出し再生を行う光ディスクにおいて、記録
マークの周期が再生光スポット径以下の場合でも再生を
可能にする光ディスク記録媒体および光ディスク再生装
置を提供することにある。
強度の差を検出し再生を行う光ディスクにおいて、記録
マークの周期が再生光スポット径以下の場合でも再生を
可能にする光ディスク記録媒体および光ディスク再生装
置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の光ディスク再生
装置は上記問題点を解決するため、記録部分と未記録部
分との反射光強度差を信号とする光ディスクにおいて、
サンプルサーボ方式の場合サーボ領域の一部、連続サー
ボ方式の場合信号記録領域の一部に規則的に再生光スポ
ット径(以下光スポット径)の検出領域以上の大きさの未
記録領域または再生光スポットで検出が可能である特定
の記録マークを設ける。また、これらの光ディスクを再
生する光ディスク再生装置において、検出した反射光強
度の情報を遅延する遅延回路および検出した反射光強度
の情報と遅延された情報を比較しその差分を計算する比
較演算回路を設ける。
装置は上記問題点を解決するため、記録部分と未記録部
分との反射光強度差を信号とする光ディスクにおいて、
サンプルサーボ方式の場合サーボ領域の一部、連続サー
ボ方式の場合信号記録領域の一部に規則的に再生光スポ
ット径(以下光スポット径)の検出領域以上の大きさの未
記録領域または再生光スポットで検出が可能である特定
の記録マークを設ける。また、これらの光ディスクを再
生する光ディスク再生装置において、検出した反射光強
度の情報を遅延する遅延回路および検出した反射光強度
の情報と遅延された情報を比較しその差分を計算する比
較演算回路を設ける。
【０００８】
【作用】上記光ディスクおよび再生装置を用いれば、以
下に説明するように記録マークの周期が光スポット径以
下である光ディスクを再生することができる。
下に説明するように記録マークの周期が光スポット径以
下である光ディスクを再生することができる。
【０００９】例えばサンプルサーボ方式において、サー
ボ領域の後に未記録部分を設け、データ部分の最短記録
マーク周期２周期分が光スポット径(d)に相当する場合
を図１に示すＰＡＤを用いて説明する。再生レーザー光
はガウス分布型の光強度分布を持ち、再生光スポット径
の半分(d/2)となる同心円状の領域（検出領域)のみで信
号を検知すると仮定する。
ボ領域の後に未記録部分を設け、データ部分の最短記録
マーク周期２周期分が光スポット径(d)に相当する場合
を図１に示すＰＡＤを用いて説明する。再生レーザー光
はガウス分布型の光強度分布を持ち、再生光スポット径
の半分(d/2)となる同心円状の領域（検出領域)のみで信
号を検知すると仮定する。
【００１０】再生光がサーボ領域を走査し、トラッキン
グエラーを検出した後、データ領域の先頭にある未記録
部分の光強度信号R1を比較演算回路内部のメモリａに格
納すると同時に遅延回路に送る。このとき遅延回路の遅
延時間tDは最短記録マーク長(d/4)を光スポットが通過
する時間d/4v(vは線速)とする。
グエラーを検出した後、データ領域の先頭にある未記録
部分の光強度信号R1を比較演算回路内部のメモリａに格
納すると同時に遅延回路に送る。このとき遅延回路の遅
延時間tDは最短記録マーク長(d/4)を光スポットが通過
する時間d/4v(vは線速)とする。
【００１１】未記録部分検出後の時間ｔがd/4v未満の場
合は、光スポットから順次検出される反射光強度Ｒとメ
モリａにある未記録部分の信号R1との差分を出力信号Ｖ
とする。出力信号Ｖは再生信号への変換を行う復調回路
へ送られると同時に遅延回路に送られ遅延信号Ｄとな
る。
合は、光スポットから順次検出される反射光強度Ｒとメ
モリａにある未記録部分の信号R1との差分を出力信号Ｖ
とする。出力信号Ｖは再生信号への変換を行う復調回路
へ送られると同時に遅延回路に送られ遅延信号Ｄとな
る。
【００１２】ｔがd/2v以上の場合は、順次検出される反
射光強度Ｒから遅延信号Ｄおよび未記録部分の信号R1を
差し引いた信号を出力信号Ｖとする。以下出力信号Ｖは
遅延信号Ｄとして遅延回路に送られ、順次検出される反
射光強度Ｒから未記録部分の信号R1および遅延信号Ｄを
差し引いて出力信号Ｖを求める動作を繰り返す。
射光強度Ｒから遅延信号Ｄおよび未記録部分の信号R1を
差し引いた信号を出力信号Ｖとする。以下出力信号Ｖは
遅延信号Ｄとして遅延回路に送られ、順次検出される反
射光強度Ｒから未記録部分の信号R1および遅延信号Ｄを
差し引いて出力信号Ｖを求める動作を繰り返す。
【００１３】再生光がサーボ領域を走査する毎に、新た
に未記録部分の情報R1を比較演算回路内部のメモリａに
格納し、上述の動作を繰り返す。
に未記録部分の情報R1を比較演算回路内部のメモリａに
格納し、上述の動作を繰り返す。
【００１４】未記録部分のかわりに特定の記録マークを
用いた場合も同様である。
用いた場合も同様である。
【００１５】こうして得られた出力信号Ｖは、検出した
光強度情報Ｒのうち検出領域の先端半分(d/2)にある記
録マークの信号に相当する。
光強度情報Ｒのうち検出領域の先端半分(d/2)にある記
録マークの信号に相当する。
【００１６】上記検出手段を用いることによって、記録
マーク周期が光スポット径以下である光ディスクを再生
をすることができる。
マーク周期が光スポット径以下である光ディスクを再生
をすることができる。
【００１７】
実施例１ 本発明によるサンプルサーボ方式の光ディスクおよび再
生装置の実施例１を以下に示す。
生装置の実施例１を以下に示す。
【００１８】本発明による信号検出部のアルゴリズム図
１、再生装置の要部ブロック図を図２に、光ディスク上
の光スポットと記録マークの模式図を図３に、記録マー
クの検出パターンを図４、５に、記録マークと各信号の
関係を図６に示す。１はレーザー光源、２はビームスプ
リッタ(回折格子)、３は光学系、４は光ディスク、５は
ディテクター(受光素子)、６は遅延回路、７は比較演算
回路、７ａはメモリ、８はトラッキング制御回路、９は
記録マーク、１０は未記録領域、１１は信号検出部分、
１２はウォブルピット、１３はクロックピットを示す。
１、再生装置の要部ブロック図を図２に、光ディスク上
の光スポットと記録マークの模式図を図３に、記録マー
クの検出パターンを図４、５に、記録マークと各信号の
関係を図６に示す。１はレーザー光源、２はビームスプ
リッタ(回折格子)、３は光学系、４は光ディスク、５は
ディテクター(受光素子)、６は遅延回路、７は比較演算
回路、７ａはメモリ、８はトラッキング制御回路、９は
記録マーク、１０は未記録領域、１１は信号検出部分、
１２はウォブルピット、１３はクロックピットを示す。
【００１９】以下記録マーク周期が光スポット径の半分
となる信号を記録した光ディスクを再生する場合につい
て説明する。
となる信号を記録した光ディスクを再生する場合につい
て説明する。
【００２０】サンプルサーボ方式では、ウォブルピット
とクロックピットからなるサーボ領域において同期、ト
ラッキング、フォーカスの制御を行う。光ディスクに
は、クロックピットの後すなわちデータ記録領域の先頭
部分に再生光スポット（以下光スポット）と同じ長さｄ
の未記録領域を設ける。一方再生レーザー光はガウス分
布型の光強度分布を持ち、再生光スポット径ｄの半分(d
/2)となる同心円状の領域、図３に示す信号検出部分１
１が実際に信号を検知する検出領域となる。
とクロックピットからなるサーボ領域において同期、ト
ラッキング、フォーカスの制御を行う。光ディスクに
は、クロックピットの後すなわちデータ記録領域の先頭
部分に再生光スポット（以下光スポット）と同じ長さｄ
の未記録領域を設ける。一方再生レーザー光はガウス分
布型の光強度分布を持ち、再生光スポット径ｄの半分(d
/2)となる同心円状の領域、図３に示す信号検出部分１
１が実際に信号を検知する検出領域となる。
【００２１】再生光スポットがサーボ領域を走査すると
き、光ディスクからの反射光は図２に示すようにビーム
スプリッタ２によって回折されディテクター５に受光さ
れる。その後、トラッキング制御回路によりサーボ領域
とデータ記録領域の境界を判断し、比較演算回路７内部
のメモリａの情報を消去する。続いて光スポットから検
出されるデータ領域先頭の未記録部分の光強度信号R1を
比較演算回路７内部のメモリ７ａに格納すると同時に、
遅延回路６へ送る。検出される信号は遅延時間tDは光ス
ポットが最短記録マークをを読み取る時間d/4v(vは線
速)とする。
き、光ディスクからの反射光は図２に示すようにビーム
スプリッタ２によって回折されディテクター５に受光さ
れる。その後、トラッキング制御回路によりサーボ領域
とデータ記録領域の境界を判断し、比較演算回路７内部
のメモリａの情報を消去する。続いて光スポットから検
出されるデータ領域先頭の未記録部分の光強度信号R1を
比較演算回路７内部のメモリ７ａに格納すると同時に、
遅延回路６へ送る。検出される信号は遅延時間tDは光ス
ポットが最短記録マークをを読み取る時間d/4v(vは線
速)とする。
【００２２】未記録部分検出後の時間ｔがd/2v未満の場
合は、光スポットから検出される反射光強度Ｒとメモリ
ａにある未記録部分の信号R1との差分を出力信号Ｖとす
る。求めた出力信号は、遅延回路６に送られると同時に
復調回路に送られ再生信号に変換される。
合は、光スポットから検出される反射光強度Ｒとメモリ
ａにある未記録部分の信号R1との差分を出力信号Ｖとす
る。求めた出力信号は、遅延回路６に送られると同時に
復調回路に送られ再生信号に変換される。
【００２３】ｔがd/2v以上の場合は、順次検出される反
射光強度Ｒから遅延信号Ｄおよび未記録部分の信号R1を
差し引いた信号を出力信号Ｖとする。以下出力信号Ｖは
復調回路に送られると同時に遅延回路６において順次遅
延される。そして、検出される反射光強度Ｒから未記録
部分の信号R1および遅延信号Ｄを差し引いて出力信号Ｖ
を求める動作を繰り返す。こうして得られた出力信号Ｖ
は、図４に示す信号検出部分１１内部ある記録マークの
有無および種類を示す。また、マーク長が異なる部分を
再生する場合、検出信号Ｒ、遅延信号Ｄおよび出力信号
Ｖは図５に示す通りである。
射光強度Ｒから遅延信号Ｄおよび未記録部分の信号R1を
差し引いた信号を出力信号Ｖとする。以下出力信号Ｖは
復調回路に送られると同時に遅延回路６において順次遅
延される。そして、検出される反射光強度Ｒから未記録
部分の信号R1および遅延信号Ｄを差し引いて出力信号Ｖ
を求める動作を繰り返す。こうして得られた出力信号Ｖ
は、図４に示す信号検出部分１１内部ある記録マークの
有無および種類を示す。また、マーク長が異なる部分を
再生する場合、検出信号Ｒ、遅延信号Ｄおよび出力信号
Ｖは図５に示す通りである。
【００２４】以上データ先頭部分に設ける未記録部分の
長さが、光スポット径dと同じ場合について説明した
が、図６に示すように未記録領域は信号検出部分１１の
長さ(d/2)まで短くすることができる。この場合、未記
録部分検出後の時間ｔがd/4v未満のときは、光スポット
から検出される反射光強度Ｒとメモリａにある未記録部
分の信号R1との差分を出力信号Ｖとし、遅延回路６に送
ると同時に復調回路において再生信号に変換される。ｔ
がd/4v以上の場合は、順次検出される反射光強度Ｒから
遅延信号Ｄおよび未記録部分の信号R1を差し引いた信号
を出力信号Ｖとし、以下順次遅延回路６に送ると同時に
復調回路において再生信号に変換される動作を繰り返
す。
長さが、光スポット径dと同じ場合について説明した
が、図６に示すように未記録領域は信号検出部分１１の
長さ(d/2)まで短くすることができる。この場合、未記
録部分検出後の時間ｔがd/4v未満のときは、光スポット
から検出される反射光強度Ｒとメモリａにある未記録部
分の信号R1との差分を出力信号Ｖとし、遅延回路６に送
ると同時に復調回路において再生信号に変換される。ｔ
がd/4v以上の場合は、順次検出される反射光強度Ｒから
遅延信号Ｄおよび未記録部分の信号R1を差し引いた信号
を出力信号Ｖとし、以下順次遅延回路６に送ると同時に
復調回路において再生信号に変換される動作を繰り返
す。
【００２５】未記録部分がd以下の場合は、信号検出部
分以外の光スポット内部入るクロック信号等の信号がノ
イズとなり、その後の演算にノイズ成分が加算される可
能性がある。ただし、再生光はガウス分布型の強度分布
を持つため、信号検出部分の外にある記録マークのノイ
ズの影響は少なく、むしろ光ディスク自身のＣ／Ｎとノ
イズの割合が問題になる。
分以外の光スポット内部入るクロック信号等の信号がノ
イズとなり、その後の演算にノイズ成分が加算される可
能性がある。ただし、再生光はガウス分布型の強度分布
を持つため、信号検出部分の外にある記録マークのノイ
ズの影響は少なく、むしろ光ディスク自身のＣ／Ｎとノ
イズの割合が問題になる。
【００２６】上述した信号検出方法では、信号検出領域
１１の先頭部分半分に位置する記録マークの情報を信号
とすることにより、記録マークの周期が光スポット径以
下である高密度情報の再生を可能にしている。本実施例
では光スポット径ｄに対し、最短記録マーク周期d/2の
場合を取り上げたが、本再生手段は最短記録マーク周期
d/2以上の場合について可能である。
１１の先頭部分半分に位置する記録マークの情報を信号
とすることにより、記録マークの周期が光スポット径以
下である高密度情報の再生を可能にしている。本実施例
では光スポット径ｄに対し、最短記録マーク周期d/2の
場合を取り上げたが、本再生手段は最短記録マーク周期
d/2以上の場合について可能である。
【００２７】また、本実施例では検出誤差およびエラー
の伝搬を考慮してサーボ領域ごとに未記録部分を設けた
が、未記録部分の情報をデータ再生前にメモリａに格納
できれば他の方法を用いても支障はない。さらに未記録
部のかわりに、再生光スポットが可能である特定の記録
マーク（スポット径以上の長さの記録マーク，スポット
径の半分の長さの記録マークなど）を用いた場合も同様
である。なお、本実施例の再生方法は、記録部分と未記
録部分の反射率の違いを再生信号として検知するタイプ
の光ディスクであれば、いずれも記録マークの周期が光
スポット径以下である高密度の情報を再生をすることが
可能である。
の伝搬を考慮してサーボ領域ごとに未記録部分を設けた
が、未記録部分の情報をデータ再生前にメモリａに格納
できれば他の方法を用いても支障はない。さらに未記録
部のかわりに、再生光スポットが可能である特定の記録
マーク（スポット径以上の長さの記録マーク，スポット
径の半分の長さの記録マークなど）を用いた場合も同様
である。なお、本実施例の再生方法は、記録部分と未記
録部分の反射率の違いを再生信号として検知するタイプ
の光ディスクであれば、いずれも記録マークの周期が光
スポット径以下である高密度の情報を再生をすることが
可能である。
【００２８】実施例２ 本発明による再生装置において、サンプルサーボ方式の
光ディスクを再生する場合の実施例２を以下に示す。
光ディスクを再生する場合の実施例２を以下に示す。
【００２９】本発明による再生装置の要部ブロック図を
図２に、光ディスク上の光スポットと記録マークの模式
図を図７に示す。１はレーザー光源、２はビームスプリ
ッタ(回折格子)、３は光学系、４は光ディスク、５はデ
ィテクター(受光素子)、６は遅延回路、７は比較演算回
路、７ａはメモリ、８はトラッキング制御回路、９は記
録マーク、１０は未記録領域、１１は信号検出部分、１
２はウォブルピット、１３はクロックピットを示す。
図２に、光ディスク上の光スポットと記録マークの模式
図を図７に示す。１はレーザー光源、２はビームスプリ
ッタ(回折格子)、３は光学系、４は光ディスク、５はデ
ィテクター(受光素子)、６は遅延回路、７は比較演算回
路、７ａはメモリ、８はトラッキング制御回路、９は記
録マーク、１０は未記録領域、１１は信号検出部分、１
２はウォブルピット、１３はクロックピットを示す。
【００３０】以下特に未記録部分を設けていないサンプ
ルサーボ方式の光ディスクにおいて、記録マーク周期が
光スポット径ｄの半分(d/2)となる信号を記録した光デ
ィスクを再生する場合について説明する。
ルサーボ方式の光ディスクにおいて、記録マーク周期が
光スポット径ｄの半分(d/2)となる信号を記録した光デ
ィスクを再生する場合について説明する。
【００３１】サンプルサーボ方式では、ウォブルピット
とクロックピットからなるサーボ領域において同期、ト
ラッキング、フォーカスの制御を行う。ウォブルピット
とクロックピットの間隔は光スポット径ｄ以上あり、こ
の間隔を未記録領域１０とする。再生装置の概要につい
ては実施例１と同じであり、図２に示すとおりである。
とクロックピットからなるサーボ領域において同期、ト
ラッキング、フォーカスの制御を行う。ウォブルピット
とクロックピットの間隔は光スポット径ｄ以上あり、こ
の間隔を未記録領域１０とする。再生装置の概要につい
ては実施例１と同じであり、図２に示すとおりである。
【００３２】実施例１ではトラッキングエラー制御回路
においてクロックピットを検知しその後にある未記録領
域の情報をメモリａに格納したが、本実施例ではトラッ
キングエラー信号からウォブルピットとクロックピット
の間にある信号レベルを未記録部分の情報として抽出し
メモリａに格納すると同時に遅延回路６に送る。その後
は、実施例１において説明した信号処理と同じ方法を用
いて出力信号を求める。
においてクロックピットを検知しその後にある未記録領
域の情報をメモリａに格納したが、本実施例ではトラッ
キングエラー信号からウォブルピットとクロックピット
の間にある信号レベルを未記録部分の情報として抽出し
メモリａに格納すると同時に遅延回路６に送る。その後
は、実施例１において説明した信号処理と同じ方法を用
いて出力信号を求める。
【００３３】本実施例ではサーボ領域の一部を未記録領
域として信号検出を行うため、光ディスクに新たに未記
録領域を設けることなく記録マークの周期が光スポット
径以下である高密度情報の再生が可能である。また、未
記録部のかわりに再生光スポットでの検出が可能な特定
の記録マークを用いた場合も同様の手段で高密度情報の
再生が可能である。なお、本実施例の再生方法は、記録
部分と未記録部分の反射率の違いを再生信号として検知
するタイプの光ディスクであれば、いずれも記録マーク
の周期が光スポット径以下である高密度の情報を再生を
することが可能である。
域として信号検出を行うため、光ディスクに新たに未記
録領域を設けることなく記録マークの周期が光スポット
径以下である高密度情報の再生が可能である。また、未
記録部のかわりに再生光スポットでの検出が可能な特定
の記録マークを用いた場合も同様の手段で高密度情報の
再生が可能である。なお、本実施例の再生方法は、記録
部分と未記録部分の反射率の違いを再生信号として検知
するタイプの光ディスクであれば、いずれも記録マーク
の周期が光スポット径以下である高密度の情報を再生を
することが可能である。
【００３４】実施例３ 本発明による再生装置において、連続サーボ方式の光デ
ィスクを再生する場合の実施例３を以下に示す。
ィスクを再生する場合の実施例３を以下に示す。
【００３５】本発明による光ディスク上の光スポットと
記録マークの模式図を図８に、信号検出のアルゴリズム
を図９に、再生装置の要部ブロック図を図１０に示す。
１はレーザー光源、２はビームスプリッタ(回折格子)、
３は光学系、４は光ディスク、５ａ，５ｂはフォトダイ
オード(受光素子)、６は遅延回路、７は比較演算回路、
７ａはメモリ、８はトラッキング制御回路、９は記録マ
ーク、１０は未記録領域、１１は信号検出部分、１４は
グルーブ、１５は未記録部分検出回路を示す。
記録マークの模式図を図８に、信号検出のアルゴリズム
を図９に、再生装置の要部ブロック図を図１０に示す。
１はレーザー光源、２はビームスプリッタ(回折格子)、
３は光学系、４は光ディスク、５ａ，５ｂはフォトダイ
オード(受光素子)、６は遅延回路、７は比較演算回路、
７ａはメモリ、８はトラッキング制御回路、９は記録マ
ーク、１０は未記録領域、１１は信号検出部分、１４は
グルーブ、１５は未記録部分検出回路を示す。
【００３６】以下図８に示すようにデータ記録領域の先
頭部分に再生光スポット（以下光スポット）と同じ長さ
ｄの未記録領域を設けた連続サーボ方式の光ディスクに
おいて、記録マーク周期が光スポット径ｄの半分(d/2)
となる信号を再生する場合について説明する。
頭部分に再生光スポット（以下光スポット）と同じ長さ
ｄの未記録領域を設けた連続サーボ方式の光ディスクに
おいて、記録マーク周期が光スポット径ｄの半分(d/2)
となる信号を再生する場合について説明する。
【００３７】光ディスクからの反射光は図１０に示すよ
うにビームスプリッタ２によって回折されフォトダイオ
ード５ａに受光される。その後、アドレス終端検出回路
によりサーボ領域とデータ記録領域の境界を判断し、比
較演算回路７’内部のメモリａの情報を消去する。続い
て光スポットから検出されるデータ領域先頭の未記録部
分の光強度信号R1を比較演算回路７内部のメモリ７ａに
格納すると同時に、遅延回路６へ送る。検出される信号
は遅延時間tDは光スポットが最短記録マークをを読み取
る時間d/4v(vは線速)とする。以下実施例１と同様に信
号の検出を行う。
うにビームスプリッタ２によって回折されフォトダイオ
ード５ａに受光される。その後、アドレス終端検出回路
によりサーボ領域とデータ記録領域の境界を判断し、比
較演算回路７’内部のメモリａの情報を消去する。続い
て光スポットから検出されるデータ領域先頭の未記録部
分の光強度信号R1を比較演算回路７内部のメモリ７ａに
格納すると同時に、遅延回路６へ送る。検出される信号
は遅延時間tDは光スポットが最短記録マークをを読み取
る時間d/4v(vは線速)とする。以下実施例１と同様に信
号の検出を行う。
【００３８】未記録部分検出後の時間ｔがd/2v未満の場
合は、光スポットから検出される反射光強度Ｒとメモリ
ａにある未記録部分の信号R1との差分を出力信号Ｖとす
る。求めた出力信号は、遅延回路６に送られると同時に
復調回路に送られ再生信号に変換される。
合は、光スポットから検出される反射光強度Ｒとメモリ
ａにある未記録部分の信号R1との差分を出力信号Ｖとす
る。求めた出力信号は、遅延回路６に送られると同時に
復調回路に送られ再生信号に変換される。
【００３９】ｔがd/2v以上の場合は、順次検出される反
射光強度Ｒから遅延信号Ｄおよび未記録部分の信号R1を
差し引いた信号を出力信号Ｖとする。以下出力信号Ｖは
復調回路に送られると同時に遅延回路６において順次遅
延される。そして、検出される反射光強度Ｒから未記録
部分の信号R1および遅延信号Ｄを差し引いて出力信号Ｖ
を求める動作を繰り返す。
射光強度Ｒから遅延信号Ｄおよび未記録部分の信号R1を
差し引いた信号を出力信号Ｖとする。以下出力信号Ｖは
復調回路に送られると同時に遅延回路６において順次遅
延される。そして、検出される反射光強度Ｒから未記録
部分の信号R1および遅延信号Ｄを差し引いて出力信号Ｖ
を求める動作を繰り返す。
【００４０】以上データ先頭部分に設ける未記録部分の
長さが、光スポット径dと同じ場合について説明した
が、実施例１と同様に、未記録領域を信号検出部分１１
の長さ(d/2)まで短くすることができる。この場合、未
記録部分検出後の時間ｔがd/4v未満のときは、光スポッ
トから検出される反射光強度Ｒとメモリａにある未記録
部分の信号R1との差分を出力信号Ｖとし、遅延回路６に
送ると同時に復調回路において再生信号に変換される。
ｔがd/4v以上の場合は、順次検出される反射光強度Ｒか
ら遅延信号Ｄおよび未記録部分の信号R1を差し引いた信
号を出力信号Ｖとし、以下順次遅延回路６に送ると同時
に復調回路において再生信号に変換される動作を繰り返
す。
長さが、光スポット径dと同じ場合について説明した
が、実施例１と同様に、未記録領域を信号検出部分１１
の長さ(d/2)まで短くすることができる。この場合、未
記録部分検出後の時間ｔがd/4v未満のときは、光スポッ
トから検出される反射光強度Ｒとメモリａにある未記録
部分の信号R1との差分を出力信号Ｖとし、遅延回路６に
送ると同時に復調回路において再生信号に変換される。
ｔがd/4v以上の場合は、順次検出される反射光強度Ｒか
ら遅延信号Ｄおよび未記録部分の信号R1を差し引いた信
号を出力信号Ｖとし、以下順次遅延回路６に送ると同時
に復調回路において再生信号に変換される動作を繰り返
す。
【００４１】また、本実施例ではアドレス終端部分を検
知し信号の検出を行ったが、決まったビット数からなる
シンボルを構成し、各シンボルの先頭部分に未記録部分
を設ける方法もある。この場合にはアドレス終端検出回
路の代わりに未記録部分検出回路を設け、ビット数をカ
ウントすることにより未記録部分を検出し以下同様の方
法で信号を検出することができる。実施例では光スポッ
ト径ｄに対し、最短記録マーク周期d/2の場合を取り上
げたが、本再生手段は最短記録マーク周期d/2以上の場
合について可能である。
知し信号の検出を行ったが、決まったビット数からなる
シンボルを構成し、各シンボルの先頭部分に未記録部分
を設ける方法もある。この場合にはアドレス終端検出回
路の代わりに未記録部分検出回路を設け、ビット数をカ
ウントすることにより未記録部分を検出し以下同様の方
法で信号を検出することができる。実施例では光スポッ
ト径ｄに対し、最短記録マーク周期d/2の場合を取り上
げたが、本再生手段は最短記録マーク周期d/2以上の場
合について可能である。
【００４２】実施例４ 本発明によるサンプルサーボ方式の光ディスク上の光ス
ポットと記録マークの模式図を図１１に、再生装置の要
部ブロック図を図１２、信号検出部のアルゴリズムを図
１３に示す。１はレーザー光源、２はビームスプリッタ
(回折格子)、３は光学系、４は光ディスク、５はディテ
クター(受光素子)、６ａ，６ｂ，６ｃは遅延回路、７”
は比較演算回路、８はトラッキングエラー検出回路、９
は記録マーク、１０は未記録領域、１１は信号検出部分
を示す。
ポットと記録マークの模式図を図１１に、再生装置の要
部ブロック図を図１２、信号検出部のアルゴリズムを図
１３に示す。１はレーザー光源、２はビームスプリッタ
(回折格子)、３は光学系、４は光ディスク、５はディテ
クター(受光素子)、６ａ，６ｂ，６ｃは遅延回路、７”
は比較演算回路、８はトラッキングエラー検出回路、９
は記録マーク、１０は未記録領域、１１は信号検出部分
を示す。
【００４３】以下記録マーク周期が光スポット径の１／
４となる信号を記録した光ディスクを再生する場合につ
いて説明する。
４となる信号を記録した光ディスクを再生する場合につ
いて説明する。
【００４４】光ディスクにはデータ記録領域の先頭部分
に再生光スポット径ｄと同じ長さの未記録領域を設定す
る。再生光スポット(以下光スポット)がサーボ領域を走
査するとき、光ディスクからの反射光は図８に示すよう
にビームスプリッタ２によって回折され、ディテクター
５に受光される。この時、再生光スポットの強度はガウ
ス分布を示すことから、実効的な検出領域は図１１に示
す信号検出部分１１となる。
に再生光スポット径ｄと同じ長さの未記録領域を設定す
る。再生光スポット(以下光スポット)がサーボ領域を走
査するとき、光ディスクからの反射光は図８に示すよう
にビームスプリッタ２によって回折され、ディテクター
５に受光される。この時、再生光スポットの強度はガウ
ス分布を示すことから、実効的な検出領域は図１１に示
す信号検出部分１１となる。
【００４５】その後、トラッキングエラー端検出回路８
によりサーボ領域終端を判断し、比較演算回路７”内部
のメモリ７ａの情報を消去する。続いて、光スポットは
データ領域先頭の未記録部分の光強度信号R1を検出し、
比較演算回路７”内部のメモリ７ａに格納すると同時に
遅延回路６ａへ送る。遅延時間tD1は光スポットが最短
記録マークを読み取る時間d/8v(vは線速)とする。
によりサーボ領域終端を判断し、比較演算回路７”内部
のメモリ７ａの情報を消去する。続いて、光スポットは
データ領域先頭の未記録部分の光強度信号R1を検出し、
比較演算回路７”内部のメモリ７ａに格納すると同時に
遅延回路６ａへ送る。遅延時間tD1は光スポットが最短
記録マークを読み取る時間d/8v(vは線速)とする。
【００４６】3d/8v未満の場合、光スポットから検出さ
れる反射光強度Ｒとメモリａにある未記録部分の信号R1
との差分を出力信号Ｖとする。求めた出力信号Ｖはｔが
d/4v以上のとき遅延回路６ａに送られる。なお、求めた
出力信号Ｖは復調回路において再生信号に変換される。
れる反射光強度Ｒとメモリａにある未記録部分の信号R1
との差分を出力信号Ｖとする。求めた出力信号Ｖはｔが
d/4v以上のとき遅延回路６ａに送られる。なお、求めた
出力信号Ｖは復調回路において再生信号に変換される。
【００４７】ｔが3d/8v以上d/2v未満の場合、光スポッ
トから検出される反射光強度Ｒからメモリａにある未記
録部分の信号R1および遅延回路６ａの出力D1を差し引い
た信号を出力信号Ｖとする。出力信号Ｖは遅延信号D1は
遅延回路６ｂに、遅延回路６ａに順次送られる。遅延回
路６ｂの遅延時間tD2は遅延回路６ａと同じく最短記録
マークを読み取る時間d/8vとする。
トから検出される反射光強度Ｒからメモリａにある未記
録部分の信号R1および遅延回路６ａの出力D1を差し引い
た信号を出力信号Ｖとする。出力信号Ｖは遅延信号D1は
遅延回路６ｂに、遅延回路６ａに順次送られる。遅延回
路６ｂの遅延時間tD2は遅延回路６ａと同じく最短記録
マークを読み取る時間d/8vとする。
【００４８】ｔがd/2v以上5d/8v未満の場合は、光スポ
ットから検出される反射光強度Ｒからメモリａにある未
記録部分の信号R1、遅延回路６ａの出力D1および遅延回
路６ｂの出力D2を差し引いた信号を出力信号Ｖとする。
出力信号Ｖは復調回路にて再生信号に変換されると同時
に遅延回路６ａに、遅延信号D1は遅延回路６ｂに、遅延
回路D2は遅延回路６ｃに順次送られる。遅延回路６ｃの
遅延時間tD3は遅延回路６ａ，６ｂと同じく最短記録マ
ーク分d/8vとする。
ットから検出される反射光強度Ｒからメモリａにある未
記録部分の信号R1、遅延回路６ａの出力D1および遅延回
路６ｂの出力D2を差し引いた信号を出力信号Ｖとする。
出力信号Ｖは復調回路にて再生信号に変換されると同時
に遅延回路６ａに、遅延信号D1は遅延回路６ｂに、遅延
回路D2は遅延回路６ｃに順次送られる。遅延回路６ｃの
遅延時間tD3は遅延回路６ａ，６ｂと同じく最短記録マ
ーク分d/8vとする。
【００４９】ｔが5d/8v以上の場合は、新たに検出され
る反射光強度Ｒから未記録部分の信号R1、遅延信号D1，
D2および遅延回路６ｃの出力D3を差し引いた信号を出力
信号Ｖとする。以下出力信号Ｖは復調回路にて再生信号
に変換されると同時に遅延回路６ａに、遅延信号D1は遅
延回路６ｂに、遅延回路D2は遅延回路６ｃに順次送ら
れ、新たに検出される反射光強度Ｒから未記録部分の信
号R1および遅延信号D1，D2，D3を差し引いて出力信号Ｖ
を求める動作を繰り返す。
る反射光強度Ｒから未記録部分の信号R1、遅延信号D1，
D2および遅延回路６ｃの出力D3を差し引いた信号を出力
信号Ｖとする。以下出力信号Ｖは復調回路にて再生信号
に変換されると同時に遅延回路６ａに、遅延信号D1は遅
延回路６ｂに、遅延回路D2は遅延回路６ｃに順次送ら
れ、新たに検出される反射光強度Ｒから未記録部分の信
号R1および遅延信号D1，D2，D3を差し引いて出力信号Ｖ
を求める動作を繰り返す。
【００５０】上述した方法によって、信号検出部分１１
にある記録マークの信号レベルを検出することにより、
記録マークの周期が光スポット径以下である高密度の情
報を再生をすることが可能となる。この方法は実施例３
に取り上げた連続サーボ方式のディスクにも応用するこ
とができる。また、未記録部分の長さは実施例１および
実施例３で述べたようにd/2まで短くすることができ
る。さらに、実施例２で述べたようにサーボ領域の信号
から未記録部分の情報を抽出する場合は、特に未記録部
分を設ける必要はない。
にある記録マークの信号レベルを検出することにより、
記録マークの周期が光スポット径以下である高密度の情
報を再生をすることが可能となる。この方法は実施例３
に取り上げた連続サーボ方式のディスクにも応用するこ
とができる。また、未記録部分の長さは実施例１および
実施例３で述べたようにd/2まで短くすることができ
る。さらに、実施例２で述べたようにサーボ領域の信号
から未記録部分の情報を抽出する場合は、特に未記録部
分を設ける必要はない。
【００５１】本実施例では、最短記録マーク周期d/4の
場合を取り上げたが、本再生手段の最短記録マーク周期
の限界は比較演算回路７にある遅延回路の数によって決
まるためd/4の以外の場合についても再生可能である。
原理的には、再生光スポット径dに対し最短記録マーク
周期がd/nであるとき、遅延時間をd/2nv(vは線速)、遅
延回路の個数をn-1に設定することにより再生可能であ
る。また未記録部分のかわりに特定の記録マークを用い
た場合も同様の方法で高密度情報の再生が可能である。
なお、本実施例の再生方法は、記録部分と未記録部分の
反射率の違いを再生信号として検知するタイプの光ディ
スクであれば、いずれも記録マークの周期が光スポット
径以下である高密度の情報を再生をすることが可能であ
る。
場合を取り上げたが、本再生手段の最短記録マーク周期
の限界は比較演算回路７にある遅延回路の数によって決
まるためd/4の以外の場合についても再生可能である。
原理的には、再生光スポット径dに対し最短記録マーク
周期がd/nであるとき、遅延時間をd/2nv(vは線速)、遅
延回路の個数をn-1に設定することにより再生可能であ
る。また未記録部分のかわりに特定の記録マークを用い
た場合も同様の方法で高密度情報の再生が可能である。
なお、本実施例の再生方法は、記録部分と未記録部分の
反射率の違いを再生信号として検知するタイプの光ディ
スクであれば、いずれも記録マークの周期が光スポット
径以下である高密度の情報を再生をすることが可能であ
る。
【００５２】
【発明の効果】本発明によれば、最短記録マークの周期
が再生光のスポット径よりも小さいサンプルサーボ方式
および連続サーボ方式の高密度光ディスクを再生するこ
とができる。
が再生光のスポット径よりも小さいサンプルサーボ方式
および連続サーボ方式の高密度光ディスクを再生するこ
とができる。
【図１】本発明の実施例における再生方法のアルゴリズ
ムを示したＰＡＤ図である。
ムを示したＰＡＤ図である。
【図２】本発明の実施例における再生装置の要部ブロッ
ク図である。
ク図である。
【図３】本発明の実施例における光ディスク記録マーク
の模式図である。
の模式図である。
【図４】本発明の実施例における光ディスク記録マーク
検出パターンの模式図である。
検出パターンの模式図である。
【図５】本発明の実施例における光ディスク記録マーク
と信号模式図である。
と信号模式図である。
【図６】本発明の実施例における光ディスク記録マーク
検出パターンの模式図である。
検出パターンの模式図である。
【図７】本発明の実施例における光ディスク記録マーク
の模式図である。
の模式図である。
【図８】本発明の実施例における光ディスク記録マーク
の模式図である。
の模式図である。
【図９】本発明の実施例における再生方法のアルゴリズ
ムを示したＰＡＤ図である。
ムを示したＰＡＤ図である。
【図１０】本発明の実施例における再生装置の要部ブロ
ック図である。
ック図である。
【図１１】本発明の実施例における光ディスク記録マー
クの模式図である。
クの模式図である。
【図１２】本発明の実施例における再生装置の要部ブロ
ック図である。
ック図である。
【図１３】本発明の実施例における再生方法のアルゴリ
ズムを示したＰＡＤ図である。
ズムを示したＰＡＤ図である。
１…レーザー光源、 ２…ビームスプリッタ、 ３…光学系、 ４…光ディスク、 ５…ディテクター、 ５ａ，５ｂ…フォトダイオード、 ６ａ，６ｂ，６ｃ…遅延回路、 ７，７’，７”…比較演算回路、 ８…トラッキングエラー検出回路、アドレス終端検出回
路、 ９…記録マーク、 １０…未記録領域、 １１…信号検出部分、 １２…ウォブルピット、 １３…クロックピット、 １４…グルーブ、 １５…アドレス終端検出回路。
路、 ９…記録マーク、 １０…未記録領域、 １１…信号検出部分、 １２…ウォブルピット、 １３…クロックピット、 １４…グルーブ、 １５…アドレス終端検出回路。
Claims (5)
- 【請求項１】サンプルサーボ方式に対応し、記録部分と
未記録部分との反射光強度差を信号として検出する光デ
ィスク記録媒体において、サーボ領域の一部に再生光ス
ポットの検出領域以上の長さの未記録部分または特定の
記録マークを有することを特徴とする光ディスク。 - 【請求項２】連続サーボ方式に対応し、記録部分と未記
録部分との反射光強度差を信号として検出する光ディス
ク記録媒体において、信号記録領域の一部に規則的に再
生光スポットの検出領域以上の長さの未記録部分または
特定の記録マークを有することを特徴とする光ディス
ク。 - 【請求項３】請求項１記載の光ディスクを再生する再生
装置において、受光した反射光強度の情報を遅延する遅
延回路および複数の情報の比較および計算を行う比較演
算部を備えたことを特徴とする光ディスク再生装置。 - 【請求項４】請求項２記載の光ディスクを再生する再生
装置において、受光した反射光強度の情報を遅延する遅
延回路および複数の情報の比較および計算を行う比較演
算部を備えたことを特徴とする光ディスク再生装置。 - 【請求項５】請求項３又は４記載の光ディスク再生装置
において、再生光スポット径dに対して該光ディスクの
最短記録マーク周期lがd/nの関係(n=1,2…)にあると
き、再生時の線速をvとすると遅延回路の遅延時間tがd/
2nv、遅延回路の個数がn-1であることを特徴とする光デ
ィスク再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5264600A JPH07121875A (ja) | 1993-10-22 | 1993-10-22 | 光ディスクおよび光ディスク再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5264600A JPH07121875A (ja) | 1993-10-22 | 1993-10-22 | 光ディスクおよび光ディスク再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07121875A true JPH07121875A (ja) | 1995-05-12 |
Family
ID=17405571
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5264600A Pending JPH07121875A (ja) | 1993-10-22 | 1993-10-22 | 光ディスクおよび光ディスク再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07121875A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003102934A1 (en) * | 2002-05-30 | 2003-12-11 | Lg Electronics Inc. | High density optical disc and method for reproducing and recording data thereof |
| CN100345201C (zh) * | 2003-06-25 | 2007-10-24 | 索尼株式会社 | 畴壁位移检测系统磁光记录介质及其制造方法 |
-
1993
- 1993-10-22 JP JP5264600A patent/JPH07121875A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003102934A1 (en) * | 2002-05-30 | 2003-12-11 | Lg Electronics Inc. | High density optical disc and method for reproducing and recording data thereof |
| US7342871B2 (en) | 2002-05-30 | 2008-03-11 | Lg Electronics Inc. | High density optical disc and method for reproducing and recording data thereof |
| AU2003234357B2 (en) * | 2002-05-30 | 2009-04-09 | Lg Electronics Inc. | High density optical disc and method for reproducing and recording data thereof |
| US8159922B2 (en) | 2002-05-30 | 2012-04-17 | Lg Electronics Inc. | High density optical disc and method for reproducing and recording data thereof |
| CN100345201C (zh) * | 2003-06-25 | 2007-10-24 | 索尼株式会社 | 畴壁位移检测系统磁光记录介质及其制造方法 |
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