JP2708193B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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- JP2708193B2 JP2708193B2 JP63242360A JP24236088A JP2708193B2 JP 2708193 B2 JP2708193 B2 JP 2708193B2 JP 63242360 A JP63242360 A JP 63242360A JP 24236088 A JP24236088 A JP 24236088A JP 2708193 B2 JP2708193 B2 JP 2708193B2
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- Japan
- Prior art keywords
- duty ratio
- recording
- optical disk
- radial position
- signal
- Prior art date
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、光磁気ディスクなどの光ディスクを一定の
角速度で回転させるCAV（Constant Angular Velocity）
方式の光ディスク装置に関し、特にその記録の改良に関
するものである。
角速度で回転させるCAV（Constant Angular Velocity）
方式の光ディスク装置に関し、特にその記録の改良に関
するものである。
［発明の概要］ 光ディスク装置において光ディスクを角速度一定（CA
V方式）で回転させて使用する場合、光ディスクの半径
位置で線速度が変化するため再生信号に波形ひずみを生
じる。そこで、本発明は、記録時に光ディスクの半径位
置毎に予めメモリに格納しておいたデューティ比の制御
量に従って記録信号のデューティ比を補正することによ
り、ディスク半径の位置にかかわらずに波形ひずみを低
減する。
V方式）で回転させて使用する場合、光ディスクの半径
位置で線速度が変化するため再生信号に波形ひずみを生
じる。そこで、本発明は、記録時に光ディスクの半径位
置毎に予めメモリに格納しておいたデューティ比の制御
量に従って記録信号のデューティ比を補正することによ
り、ディスク半径の位置にかかわらずに波形ひずみを低
減する。
［従来の技術］ CAV方式の光ディスク装置においては、光ディスクの
半径位置毎に線速度が変化する。これに起因して、再生
信号に波形ひずみが生じる。かかる波形ひずみを低減さ
せる方法としては、従来、光ディスクの半径位置によっ
て幾つかの記録領域を区分して記録レーザ光出力を制御
する方法などがある。
半径位置毎に線速度が変化する。これに起因して、再生
信号に波形ひずみが生じる。かかる波形ひずみを低減さ
せる方法としては、従来、光ディスクの半径位置によっ
て幾つかの記録領域を区分して記録レーザ光出力を制御
する方法などがある。
［発明が解決しようとする課題］ このようにレーザ光出力の制御によって再生信号の波
形ひずみを低減させる従来の方法によれば、所要の波形
ひずみの低減効果は得られるものの、再生信号の品質の
目安であるSN比の点では依然として不利である。
形ひずみを低減させる従来の方法によれば、所要の波形
ひずみの低減効果は得られるものの、再生信号の品質の
目安であるSN比の点では依然として不利である。
そこで、本発明の目的は、上述した従来方法と同様の
波形ひずみ低減効果が得られ、かつ再生信号のSN比が良
好となるように記録信号のデューティ比を適切に制御し
て光ディスクに記録を行う光ディスク装置を提供するこ
とにある。
波形ひずみ低減効果が得られ、かつ再生信号のSN比が良
好となるように記録信号のデューティ比を適切に制御し
て光ディスクに記録を行う光ディスク装置を提供するこ
とにある。
［課題を解決するための手段］ このような目的を達成するために、本発明は、光ディ
スクを一定の角速度で回転させる光ディスク装置におい
て、前記光ディスクに関して、その使用環境温度の各々
において、前記光ディスクの半径位置および当該半径位
置に対応するデューティ比のデータをあらかじめ求めて
格納した記憶手段と、使用環境温度を検出する温度検出
手段と、前記光ディスクの記録する半径位置を検出する
半径位置検出手段と、前記温度検出手段により検出され
た使用環境温度および前記半径検出手段により検出され
た半径位置に対応するデューティ比を前記記憶手段から
読み出す読み出し手段と、各記録時点における記録信号
のデューティ比が前記読み出し手段から読み出されたデ
ューティ比と等しくなるように、前記記録信号のデュー
ティ比を制御する制御手段と、前記制御手段から取り出
され、デューティ比が最適である記録信号を前記光ディ
スクに記録する記録手段とを具えたことを特徴とする。
スクを一定の角速度で回転させる光ディスク装置におい
て、前記光ディスクに関して、その使用環境温度の各々
において、前記光ディスクの半径位置および当該半径位
置に対応するデューティ比のデータをあらかじめ求めて
格納した記憶手段と、使用環境温度を検出する温度検出
手段と、前記光ディスクの記録する半径位置を検出する
半径位置検出手段と、前記温度検出手段により検出され
た使用環境温度および前記半径検出手段により検出され
た半径位置に対応するデューティ比を前記記憶手段から
読み出す読み出し手段と、各記録時点における記録信号
のデューティ比が前記読み出し手段から読み出されたデ
ューティ比と等しくなるように、前記記録信号のデュー
ティ比を制御する制御手段と、前記制御手段から取り出
され、デューティ比が最適である記録信号を前記光ディ
スクに記録する記録手段とを具えたことを特徴とする。
［作 用］ CAV方式の光ディスク装置において、ディスク半径お
よび環境温度における最適なデューティ比をあらかじめ
定めておき、実際の記録信号のデューティ比が、かかる
最適なデューティ比に等しくなるように記録信号の制御
を行ってその記録信号の記録を行うことによって、再生
信号の波形ひずみを低減させるとともに記録密度を高め
ることができる。
よび環境温度における最適なデューティ比をあらかじめ
定めておき、実際の記録信号のデューティ比が、かかる
最適なデューティ比に等しくなるように記録信号の制御
を行ってその記録信号の記録を行うことによって、再生
信号の波形ひずみを低減させるとともに記録密度を高め
ることができる。
［実施例］ 以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明す
る。
る。
本発明の一実施例を第１図および第２図を用いて詳細
に説明する。ここで記録信号は、たとえば第２図（ａ）
に示すようなNRZ信号であると仮定する。この記録信号
（ａ）はローパスフィルタ（LPF）１によってデューテ
ィ比の制御が可能になるように適当になまらせて、第２
図（ｂ）に示すようなLPF出力信号（ｂ）を得る。このL
PF出力信号（ｂ）をコンパレータ２の一方の入力端子に
供給する。
に説明する。ここで記録信号は、たとえば第２図（ａ）
に示すようなNRZ信号であると仮定する。この記録信号
（ａ）はローパスフィルタ（LPF）１によってデューテ
ィ比の制御が可能になるように適当になまらせて、第２
図（ｂ）に示すようなLPF出力信号（ｂ）を得る。このL
PF出力信号（ｂ）をコンパレータ２の一方の入力端子に
供給する。
一方、この光ディスク装置が使用される各環境温度に
おける半径位置およびそれに対応する最適なデューティ
比のデータをあらかじめ求めておき、ROM11に格納して
おく。光ディスク記録時における環境温度およびディス
ク半径位置を、それぞれ、ディスク半径位置センサ７お
よび温度センサ９で検知する。センサ７および９からの
各検知出力をそれぞれA/Dコンバータ８および10を介し
てCPU5に転送する。CPU5はこれら検出出力に応じて波形
ひずみか最小となるようにデューティ比データをROM11
から読み出して、CPU5にロードする。そのデューティ比
データをD/Aコンバー６から可変抵抗15を介してコンパ
レータ２の他方の入力端子に供給する。
おける半径位置およびそれに対応する最適なデューティ
比のデータをあらかじめ求めておき、ROM11に格納して
おく。光ディスク記録時における環境温度およびディス
ク半径位置を、それぞれ、ディスク半径位置センサ７お
よび温度センサ９で検知する。センサ７および９からの
各検知出力をそれぞれA/Dコンバータ８および10を介し
てCPU5に転送する。CPU5はこれら検出出力に応じて波形
ひずみか最小となるようにデューティ比データをROM11
から読み出して、CPU5にロードする。そのデューティ比
データをD/Aコンバー６から可変抵抗15を介してコンパ
レータ２の他方の入力端子に供給する。
コンパレータ２からの出力をデューティ比検出回路３
に供給して、各記録時点におけるデューティ比を検出す
る。その検出出力をA/Dコンバータ４を介してCPU5に供
給し、ここでROM11からロードされてきているデューテ
ィ比データとの比較を行う。この両者の差がなくなるよ
うにCPU5で計算を行って得たデータを、上述したよう
に、D/Aコンバータ６および可変抵抗15を経て、コンパ
レータ２に供給することにより、その基準電圧（Ｃ）を
コンパレータ２に与える。この様子を第２図（ｃ）に示
す。その結果、コンパレータ２からは第２図（ｄ）に示
すようなコンパレータ出力信号が取り出される。
に供給して、各記録時点におけるデューティ比を検出す
る。その検出出力をA/Dコンバータ４を介してCPU5に供
給し、ここでROM11からロードされてきているデューテ
ィ比データとの比較を行う。この両者の差がなくなるよ
うにCPU5で計算を行って得たデータを、上述したよう
に、D/Aコンバータ６および可変抵抗15を経て、コンパ
レータ２に供給することにより、その基準電圧（Ｃ）を
コンパレータ２に与える。この様子を第２図（ｃ）に示
す。その結果、コンパレータ２からは第２図（ｄ）に示
すようなコンパレータ出力信号が取り出される。
このようにしてデューティ比の制御が行われた記録信
号（ｄ）を、LD（レーザダイオード）ドライバ12に供給
する。それによって光学ヘッド13内に設けたレーザダイ
オード13aを点灯させ、以て、光ディスク14に信号を記
録する。16は光ディスク14を一定の角速度で回転駆動す
るためのモータである。
号（ｄ）を、LD（レーザダイオード）ドライバ12に供給
する。それによって光学ヘッド13内に設けたレーザダイ
オード13aを点灯させ、以て、光ディスク14に信号を記
録する。16は光ディスク14を一定の角速度で回転駆動す
るためのモータである。
第３図は、記録信号を、そのデューティ比を制御して
光ディスクに記録し、以て再生信号の波形ひずみを低減
する本発明の例、およびレーザ光出力を制御して同様に
波形ひずみを低減させる従来例の双方における再生信号
のSN比を比較して示す実験例である。ここで、記録周波
数は6MHz,ディスク回転数は1800rpmとした。第３図は波
形ひずみの低減がほぼ同程度の場合におけるSN比を対比
して示しており、デューティ比を補正して波形ひずみを
低減させる本発明によればSN比が2dB程度改善されるこ
とがわかる。
光ディスクに記録し、以て再生信号の波形ひずみを低減
する本発明の例、およびレーザ光出力を制御して同様に
波形ひずみを低減させる従来例の双方における再生信号
のSN比を比較して示す実験例である。ここで、記録周波
数は6MHz,ディスク回転数は1800rpmとした。第３図は波
形ひずみの低減がほぼ同程度の場合におけるSN比を対比
して示しており、デューティ比を補正して波形ひずみを
低減させる本発明によればSN比が2dB程度改善されるこ
とがわかる。
［発明の効果］ 本発明によれば、CAV方式の光ディスク装置におい
て、ディスク半径および環境温度における最適なデュー
ティ比をあらかじめ定めておき、実際の記録信号のデュ
ーティ比が、かかる最適なデューティ比に等しくなるよ
うに記録信号の制御を行ってその記録信号の記録を行う
ことによって、再生信号の波形ひずみを低減させるとと
もに記録密度を高めることができる。したがって、本発
明によれば、再生信号のSN比が従来例に比べて良好であ
り、しかも再生信号の波形ひずみを従来例と同じように
低減できる。
て、ディスク半径および環境温度における最適なデュー
ティ比をあらかじめ定めておき、実際の記録信号のデュ
ーティ比が、かかる最適なデューティ比に等しくなるよ
うに記録信号の制御を行ってその記録信号の記録を行う
ことによって、再生信号の波形ひずみを低減させるとと
もに記録密度を高めることができる。したがって、本発
明によれば、再生信号のSN比が従来例に比べて良好であ
り、しかも再生信号の波形ひずみを従来例と同じように
低減できる。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、 第２図はその動作を説明するための各部信号波形図、 第３図は本発明による記録の効果を従来例と対比して示
す特性図である。 １……ローパスフィルタ、 ２……コンパレータ、 ３……デューティ比検出回路、 4,8,10……A/Dコンバータ、 ５……CPU、 ６……D/Aコンバータ、 ７……ディスク半径位置センサ、 ９……温度センサ、 11……ROM、 12……LDドライバ、 13……光学ヘッド、 13a……レーザダイオード、 14……光ディスク、 15……可変抵抗、 16……光ディスク回転駆動用モータ。
す特性図である。 １……ローパスフィルタ、 ２……コンパレータ、 ３……デューティ比検出回路、 4,8,10……A/Dコンバータ、 ５……CPU、 ６……D/Aコンバータ、 ７……ディスク半径位置センサ、 ９……温度センサ、 11……ROM、 12……LDドライバ、 13……光学ヘッド、 13a……レーザダイオード、 14……光ディスク、 15……可変抵抗、 16……光ディスク回転駆動用モータ。
Claims (1)
- 【請求項１】光ディスクを一定の角速度で回転させる光
ディスク装置において、 前記光ディスクに関して、その使用環境温度の各々にお
いて、前記光ディスクの半径位置および当該半径位置に
対応するデューティ比のデータをあらかじめ求めて格納
した記憶手段と、 使用環境温度を検出する温度検出手段と、 前記光ディスクの記録する半径位置を検出する半径位置
検出手段と、 前記温度検出手段により検出された使用環境温度および
前記半径検出手段により検出された半径位置に対応する
デューティ比を前記記憶手段から読み出す読み出し手段
と、 各記録時点における記録信号のデューティ比が前記読み
出し手段から読み出されたデューティ比と等しくなるよ
うに、前記記録信号のデューティ比を制御する制御手段
と、 前記制御手段から取り出され、デューティ比が最適であ
る記録信号を前記光ディスクに記録する記録手段と を具えたことを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63242360A JP2708193B2 (ja) | 1988-09-29 | 1988-09-29 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63242360A JP2708193B2 (ja) | 1988-09-29 | 1988-09-29 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0291818A JPH0291818A (ja) | 1990-03-30 |
| JP2708193B2 true JP2708193B2 (ja) | 1998-02-04 |
Family
ID=17088027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63242360A Expired - Fee Related JP2708193B2 (ja) | 1988-09-29 | 1988-09-29 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2708193B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0644538A4 (en) * | 1993-03-15 | 1995-12-20 | Nippon Kogaku Kk | MAGNETO-OPTICAL RECORDING METHOD, MEDIUM AND DEVICE. |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0287328A (ja) * | 1988-09-22 | 1990-03-28 | Sony Corp | 光記録装置 |
-
1988
- 1988-09-29 JP JP63242360A patent/JP2708193B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0291818A (ja) | 1990-03-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |