JP2689957B2 - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JP2689957B2
JP2689957B2 JP7152373A JP15237395A JP2689957B2 JP 2689957 B2 JP2689957 B2 JP 2689957B2 JP 7152373 A JP7152373 A JP 7152373A JP 15237395 A JP15237395 A JP 15237395A JP 2689957 B2 JP2689957 B2 JP 2689957B2
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剛 江田
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NEC Corp
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置に関し、特に
高出力電界効果型トランジスタに関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、高出力電界効果型トランジス
タは、衛星の中継器等に使用されており、高電力利得・
高信頼度が求められている。図3は従来の高出力電界効
果型トランジスタの平面レイアウト図であり、n型ガリ
ウム砒素導電層11に対してオーム性接続する電極であ
るドレイン電極12及びソース電極13と、ショットキ
ー接続するゲート電極14とが交互に並列配置されてい
る。そして、前記各電極には、それぞれドレインパッド
15,ソースパッド16,ゲートパッド17が接続さ
れ、外部配線との接続が行われる。
【0003】このような構成の従来の高出力電界効果型
トランジスタにおいては、高電力利得を得るために、複
数本の並列されたゲート電極(以下、ゲートフィンガと
称する)の長さは80μmから125μmの範囲に設計
されている。また、ゲートフィンガの材料には単位長さ
当りの抵抗が100Ω/mm以下の金属、例えばWSi
/Au等の金属を用いていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この従来の高出力電界
効果型トランジスタでは、使用周波数以外の周波数特に
50GHzから60GHzの範囲にゲートフィンガを介
した正帰還の寄生発振が発生し、増幅素子としての機能
を低下させることがあった。
【0005】
【発明の目的】本発明の目的は、このような寄生発振の
発生を防止した高出力電界効果型トランジスタを備える
半導体装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、n型導電層上
にショットキー接続されるゲート電極は、その単位長さ
当たりの抵抗が100Ω/mm以下であり、かつそのチ
ャネル幅方向の長さが130μmから400μmの範囲
であることを特徴とする。
【0007】ここで、少なくともゲート電極は所定幅に
形成されたn型導電層上においてこの導電層の領域から
両端部がそれぞれ突出された状態に形成される。また、
複数のゲート電極が並列配置された複数のソース電極と
ドレイン電極の間に配設され、これら複数のゲート電極
はその一端部において同一のゲートパッドに接続され、
ゲート電極の長さは前記ゲートパッドから他端部までの
長さである。
【0008】
【作用】ゲート電極の長さを130μmから400μm
の範囲に設定することで、周波数が28GHz以上の範
囲における最大有能電力利得が低下し、寄生発振が抑制
され、かつ高出力電界効果型トランジスタの使用帯域で
ある500MHzから28GHzの範囲での最大安定電
力利得が低下されることがなくなる。
【0009】
【実施例】次に、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図1は本発明の一実施例を示す高出力電界効果型
トランジスタの平面図である。同図において、1は半導
体基板上に形成されたn型ガリウム砒素導電層であり、
その表面上にはこのn型ガリウム砒素導電層1に対して
オーム性接続をなすドレイン電極2とソース電極3が交
互に並列配置される。また、これらドレイン電極2とソ
ース電極3の間にはそれぞれ前記n型ガリウム砒素導電
層1に対しショットキー接合をなすゲート電極4が配置
される。そして、前記各電極2,3,4はそれぞれドレ
インパッド5、ソースパッド6、ゲートパッド7に電気
接続されており、外部配線に電気接続されている。
【0010】前記した複数本の並列配置されたゲート電
極4、すなわちゲートフィンガ4は、単位長さ当りの抵
抗が100Ω/mm以下であり、かつ前記n型ガリウム
砒素導電層1に流れる電流の方向に対して垂直方向の長
さが150μmに設計されている。すなわち、このゲー
トフィンガは、その単位長さ当りの抵抗が従来と同様に
100Ω/mm以下の金属層で形成しているが、その長
さは従来よりも長い130μmから400μmの範囲の
値に設定している。
【0011】ここで、ゲートフィンガ4は所定幅の領域
として形成されている前記n型ガリウム砒素導電層1を
跨ぐように、その両端部がn型ガリウム砒素導電層1の
両側に突出された構成とされていることは通常の高出力
電界効果型トランジスタと同じである。そして、ゲート
フィンガ4の長さはその一端部に接続されたゲートパッ
ド7から他端部までの長さである。
【0012】このように、ゲートフィンガ4の長さを従
来よりも長く形成することで、周波数が28GHz以上
の範囲に発生するゲートフィンガ4を介した正帰還によ
る寄生発振が抑制され、かつ高出力電界効果型トランジ
スタの使用帯域である500MHzから28GHzにお
いて電界効果型トランジスタの性能指数の1つである最
大安定電力利得の大幅な低下が防止される。この実施例
の高出力電界効果型トランジスタは、10GHzにおけ
る最大安定電力利得が15dBでゲートフィンガ長が1
00μmの場合と同様であり、かつ50GHz以上の周
波数領域で寄生発振が抑制された。
【0013】図2はこの効果を説明するための特性図で
あり、単位長さ当りの抵抗が100Ω/mm以下の高出
力電界効果型トランジスタの最大安定電力利得,最大有
能電力利得の周波数依存性を示している。この特性で
は、ゲートフィンガ長Wuを100μmから200μm
まで長くすると高出力電界効果型トランジスタの使用周
波数帯域である500MHzから28GHzの範囲の最
大安定電力利得は低下せず、38GHz以上特に50G
Hz以上の周波数において最大有能電力利得が大幅に低
下することが判る。
【0014】従来、寄生発振が発生していたのは、50
〜60GHzの範囲であったが、図2より周波数が50
GHzから60GHzの範囲の最大有能電力利得がゲー
トフィンガ長Wuが100μm の場合(この場合寄生発
振が生じる)の最大有能電力利得より低くなるのはゲー
トフィンガ長が130μmからであるので、寄生発振を
抑制することのできるゲートフィンガ長Wuの下限は1
30μmとなる。
【0015】さらに、図2から、高出力電界効果型トラ
ンジスタの使用周波数帯域における最大安定電力利得が
低下し始めるゲートフィンガ長Wuが400μmの範囲
まで前記と同様の効果が得られる。したがって、ゲート
フィンガ長Wuを130μmから400μmの範囲にす
ることにより、使用周波数帯域の最大安定電力利得を低
下させることなく寄生発振を抑制できることがわかる。
【0016】例えば、本発明ではゲートフィンガ長が3
50μmの高出力電界効果型トランジスタを構成した場
合でも、ゲートフィンガ長が150μmの場合と同様
に、10GHzにおける最大安定電力利得が15dB
で、50GHz以上の周波数領域で寄生発振が抑制され
る。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の高出力電
界効果型トランジスタは、ゲート電極の単位長さ当たり
の抵抗が100Ω/mm以下とし、かつそのチャネル幅
方向の長さを130μmから400μmの範囲に設定す
ることで、周波数が28GHz以上の範囲における最大
有能電力利得が低下し、寄生発振が抑制され、かつ高出
力電界効果型トランジスタの使用帯域である500MH
zから28GHzの範囲での最大安定電力利得が低下さ
れることがないという効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電界効果型トランジスタの一実施例の
平面レイアウト図である。
【図2】ゲートフィンガの長さをパラメータとする最大
有能電力利得及び最大安定電力利得の特性図である。
【図3】従来の電界効果型トランジスタの一例の平面レ
イアウト図である。
【符号の説明】
1 n型ガリウム砒素導電層 2 ドレイン電極 3 ソース電極 4 ゲート電極(ゲートフィンガ) 5 ドレインパッド 6 ソースパッド 7 ゲートパッド

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 n型導電層上にショットキー接続される
    ゲート電極と、オーム接続されるソース,ドレインの各
    電極を備える高出力電界効果型トランジスタを備える半
    導体装置において、前記ゲート電極は、単位長さ当たり
    の抵抗が100Ω/mm以下であり、かつそのチャネル
    幅方向の長さが130μmから400μmの範囲である
    ことを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 少なくともゲート電極は所定幅に形成さ
    れたn型導電層上においてこの導電層の領域から両端部
    がそれぞれ突出された状態に形成されてなる請求項1の
    半導体装置。
  3. 【請求項3】 複数のソース電極とドレイン電極が交互
    に配列された状態で並列配置され、かつ各ソース電極と
    ドレイン電極のそれぞれの間に複数のゲート電極が配設
    され、前記複数のゲート電極はその一端部において同一
    のゲートパッドに接続され、ゲート電極の長さは前記ゲ
    ートパッドから他端部までの長さである請求項1または
    2の半導体装置。
JP7152373A 1995-05-27 1995-05-27 半導体装置 Expired - Lifetime JP2689957B2 (ja)

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JPH08330332A JPH08330332A (ja) 1996-12-13
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JPS58100462A (ja) * 1981-12-10 1983-06-15 Fujitsu Ltd 電界効果形トランジスタ
JPH03291274A (ja) * 1990-04-09 1991-12-20 Yoshitomi Pharmaceut Ind Ltd アミノアルキルモルホリン誘導体の製造法
JPH0729919A (ja) * 1993-07-08 1995-01-31 Sumitomo Electric Ind Ltd 高出力電界効果トランジスタ

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