JP2679152B2 - 情報処理装置の試験方法 - Google Patents
情報処理装置の試験方法Info
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- JP2679152B2 JP2679152B2 JP63234443A JP23444388A JP2679152B2 JP 2679152 B2 JP2679152 B2 JP 2679152B2 JP 63234443 A JP63234443 A JP 63234443A JP 23444388 A JP23444388 A JP 23444388A JP 2679152 B2 JP2679152 B2 JP 2679152B2
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、情報処理装置の試験方法に関し、特に大量
生産時の複数の検査工程を自動的に試験するようにした
情報処理装置の試験方法に関するものである。
生産時の複数の検査工程を自動的に試験するようにした
情報処理装置の試験方法に関するものである。
製造工程において、ワークステーション等の処理装置
の量産検査ラインは、エージング槽内の複数検査工程か
ら形成されているため、操作員の介入は不可能である。
また、エージング槽内の各工程では、温度等の環境条件
を変化させて、試験項目を変化させる必要がある。この
ため、試験プログラムは無人状態で自動的に、かつ工程
ごとに所定の試験を実行し、その結果を蓄積して、全試
験が終了した後にその試験結果を表示するような機能が
必要であった。
の量産検査ラインは、エージング槽内の複数検査工程か
ら形成されているため、操作員の介入は不可能である。
また、エージング槽内の各工程では、温度等の環境条件
を変化させて、試験項目を変化させる必要がある。この
ため、試験プログラムは無人状態で自動的に、かつ工程
ごとに所定の試験を実行し、その結果を蓄積して、全試
験が終了した後にその試験結果を表示するような機能が
必要であった。
従来の自動試験方法では、例えば、特開昭62−247434
号公報に記載された方法のように、診断プログラムモニ
タ内に自動運転モードのフラグを設け、プログラムの実
行手順を規定することにより、診断プログラムを外部記
憶装置に記憶した後、診断プログラムモニタを主記憶装
置に自動的にロードして、オペレータの操作を介さずに
一般診断プログラムを自動的に実行できるようにしてい
る。このように、従来の試験方法でも、一般診断プログ
ラムを自動的に実行できるようになっているが、試験工
程が複数ではなく、しかも各工程に合わせて試験内容を
変えることはできなかった。また、工程移動に伴う電源
のオン・オフの繰り返しについても、追従できる機能は
具備されていなかった。
号公報に記載された方法のように、診断プログラムモニ
タ内に自動運転モードのフラグを設け、プログラムの実
行手順を規定することにより、診断プログラムを外部記
憶装置に記憶した後、診断プログラムモニタを主記憶装
置に自動的にロードして、オペレータの操作を介さずに
一般診断プログラムを自動的に実行できるようにしてい
る。このように、従来の試験方法でも、一般診断プログ
ラムを自動的に実行できるようになっているが、試験工
程が複数ではなく、しかも各工程に合わせて試験内容を
変えることはできなかった。また、工程移動に伴う電源
のオン・オフの繰り返しについても、追従できる機能は
具備されていなかった。
上述のように、従来の試験プログラムでは、無人化対
策としてエンドレスで試験を実行するヒートラン試験が
行われていた。しかし、この方法は、被試験システムが
試験中に通電状態であることを前提としているため、試
験環境を変化させて、被試験システムに負担をかけるよ
うに工程が分かれている場合には、自動的な工程ライン
の移動に伴う電源のオン・オフ、およびコールドスター
ト試験のための電源オン・オフを含めた無人化という点
については、何も配慮されていなかった。その結果、工
程ラインの移動は自動的に行うことができなかった。
策としてエンドレスで試験を実行するヒートラン試験が
行われていた。しかし、この方法は、被試験システムが
試験中に通電状態であることを前提としているため、試
験環境を変化させて、被試験システムに負担をかけるよ
うに工程が分かれている場合には、自動的な工程ライン
の移動に伴う電源のオン・オフ、およびコールドスター
ト試験のための電源オン・オフを含めた無人化という点
については、何も配慮されていなかった。その結果、工
程ラインの移動は自動的に行うことができなかった。
本発明の目的は、このような従来の課題を解決し、自
動的な工程ラインの移動に伴う電源オン・オフを含め
て、人手を介さずに無人で運転することができ、省力化
と誤操作防止と安全性向上が可能な情報処理装置の試験
方法を提供することにある。
動的な工程ラインの移動に伴う電源オン・オフを含め
て、人手を介さずに無人で運転することができ、省力化
と誤操作防止と安全性向上が可能な情報処理装置の試験
方法を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明による情報処理装置
の試験方法は、（ｉ）試験手順を保持する手順テーブル
（２−９）および試験プログラム（２−８）を格納する
主メモリ（２−２）と手順テーブル検索用のポインタ
（２−10）を格納する不揮発性メモリ（２−６）を有す
る情報処理装置を試験対象として、複数の試験工程ライ
ン間を該情報処理装置自体を移動させながら前記各試験
工程ごとに電源オン，所定の処理，電源オフを自動的に
行うようにした情報処置装置の試験方法であって、前記
複数の試験工程のうち最初の試験工程（初期試験工程）
において、電源オンにより、前記手順テーブル（２−
９）と試験プログラム（２−８）を主メモリ（２−２）
に格納するとともに前記不揮発性メモリ（２−６）の内
容をイニシャライズし、前記複数の工程のうち前記最初
の試験工程以降の試験工程において、電源オンにより、
前記ポインタの値を更新し、この更新されたポインタの
値に対応する前記手順テーブル（２−９）の内容に従っ
て試験プログラムを実行して自動的に試験を実施し、該
試験終了後に電源をオフにすることに特徴がある。ま
た、（ii）上記手順テーブル上に、磁気記録装置の書き
込みと読み込みの試験を、異なる温湿度環境下で行うよ
うに指示しておくことにより、磁気記録装置を試験対象
として温湿度変化試験を自動的に実施することにも特徴
がある。また（iii）上記手順テーブル上に、書き込み
情報を維持するためリフレッシュを必要とするメモリの
試験を、該メモリへ情報を書き込んでから予め定めた時
間が経過した後に読み出すように指示しておくことによ
り、リフレッシュメモリの試験を自動的に実施すること
にも特徴がある。また、（iv）上記手順テーブル上に、
電源電圧をプログラムで変動させる手段を備えた処理装
置の試験を、電圧を変化させる手順を指示しておくこと
により、各試験工程において異なった電圧で自動的に試
験を実施することにも特徴がある。また（ｖ）上記読み
書き可能な不揮発性メモリ上に、再書き込み不可能な追
記形記録媒体の試験を行うため、書き込み可能なアドレ
スを記憶しておくことにより、試験プログラムが該アド
レスを参照し、更新することにより、上記再書き込み不
可能な追記形記録媒体への書き込み試験を自動的に実施
することにも特徴がある。さらに、（vi）上記読み書き
可能な不揮発性メモリ上に、各試験工程ごとの試験結果
を蓄積し、全試験が終了した後に、該試験結果を一覧性
のある形式に編集して、表示することにも特徴がある。
の試験方法は、（ｉ）試験手順を保持する手順テーブル
（２−９）および試験プログラム（２−８）を格納する
主メモリ（２−２）と手順テーブル検索用のポインタ
（２−10）を格納する不揮発性メモリ（２−６）を有す
る情報処理装置を試験対象として、複数の試験工程ライ
ン間を該情報処理装置自体を移動させながら前記各試験
工程ごとに電源オン，所定の処理，電源オフを自動的に
行うようにした情報処置装置の試験方法であって、前記
複数の試験工程のうち最初の試験工程（初期試験工程）
において、電源オンにより、前記手順テーブル（２−
９）と試験プログラム（２−８）を主メモリ（２−２）
に格納するとともに前記不揮発性メモリ（２−６）の内
容をイニシャライズし、前記複数の工程のうち前記最初
の試験工程以降の試験工程において、電源オンにより、
前記ポインタの値を更新し、この更新されたポインタの
値に対応する前記手順テーブル（２−９）の内容に従っ
て試験プログラムを実行して自動的に試験を実施し、該
試験終了後に電源をオフにすることに特徴がある。ま
た、（ii）上記手順テーブル上に、磁気記録装置の書き
込みと読み込みの試験を、異なる温湿度環境下で行うよ
うに指示しておくことにより、磁気記録装置を試験対象
として温湿度変化試験を自動的に実施することにも特徴
がある。また（iii）上記手順テーブル上に、書き込み
情報を維持するためリフレッシュを必要とするメモリの
試験を、該メモリへ情報を書き込んでから予め定めた時
間が経過した後に読み出すように指示しておくことによ
り、リフレッシュメモリの試験を自動的に実施すること
にも特徴がある。また、（iv）上記手順テーブル上に、
電源電圧をプログラムで変動させる手段を備えた処理装
置の試験を、電圧を変化させる手順を指示しておくこと
により、各試験工程において異なった電圧で自動的に試
験を実施することにも特徴がある。また（ｖ）上記読み
書き可能な不揮発性メモリ上に、再書き込み不可能な追
記形記録媒体の試験を行うため、書き込み可能なアドレ
スを記憶しておくことにより、試験プログラムが該アド
レスを参照し、更新することにより、上記再書き込み不
可能な追記形記録媒体への書き込み試験を自動的に実施
することにも特徴がある。さらに、（vi）上記読み書き
可能な不揮発性メモリ上に、各試験工程ごとの試験結果
を蓄積し、全試験が終了した後に、該試験結果を一覧性
のある形式に編集して、表示することにも特徴がある。
本発明においては、不揮発メモリまたは外部記憶装置
に、テーブルおよびそのテーブルのポインタをそれぞれ
記憶しておき、テーブルには工程ごとの試験プログラム
と試験項目と手順を記載しておき、電源がオンになった
タイミングで、上記ポインタで示されるテーブル上の手
順に従って試験を実行し、上記ポインタの値を電源オン
になるごとに更新する。これにより、検査工程が複数で
あり、連続的に検査工程を移動する場合、電源がオン・
オフを繰り返しても、試験プログラムが常に上記ポイン
タを参照して更新し、ポインタに示されたテーブルの試
験項目と手順に従って所定の試験を実行する。この結
果、一連の検査工程を操作員の介入なしに、自動的に実
行することができる。
に、テーブルおよびそのテーブルのポインタをそれぞれ
記憶しておき、テーブルには工程ごとの試験プログラム
と試験項目と手順を記載しておき、電源がオンになった
タイミングで、上記ポインタで示されるテーブル上の手
順に従って試験を実行し、上記ポインタの値を電源オン
になるごとに更新する。これにより、検査工程が複数で
あり、連続的に検査工程を移動する場合、電源がオン・
オフを繰り返しても、試験プログラムが常に上記ポイン
タを参照して更新し、ポインタに示されたテーブルの試
験項目と手順に従って所定の試験を実行する。この結
果、一連の検査工程を操作員の介入なしに、自動的に実
行することができる。
以下、本発明の実施例を、図面により詳細に説明す
る。
る。
第１図は、本発明の一実施例を示す検査ラインの概念
図である。
図である。
第１図において、１−１は温度等の環境を変化させる
環境変化槽、１−２は低温槽、１−３は温度変化槽、１
−４は高温槽、１−５はコンベアライン、１−６は情報
処理装置（製品）である。また、電源のオン・オフ状態
レベルが示され、工程２では、電圧変動の高レベル、０
レベル、低レベルへの変化が示されている。
環境変化槽、１−２は低温槽、１−３は温度変化槽、１
−４は高温槽、１−５はコンベアライン、１−６は情報
処理装置（製品）である。また、電源のオン・オフ状態
レベルが示され、工程２では、電圧変動の高レベル、０
レベル、低レベルへの変化が示されている。
自動検査ライン工程は、第１図に示すように、組立工
程の後にコンベアライン１−５で連続しており、第１工
程の初期試験工程、環境変化槽１−１内で実施される複
数の試験工程（環境・エージング試験工程）、および最
終確認試験工程からなる。そして、検査ラインの後に
は、梱包工程がある。初期試験工程と最終確認工程では
操作員が立ち合い、また初期試験工程では試験プログラ
ム媒体のセットおよび簡易試験による初期試験が行われ
る。また、最終確認工程では、環境変化槽１−１内の試
験結果が判別され、試験対象機器１−６の選別が行われ
る。環境変化槽１−１内は低温槽１−２、温度変化槽１
−３、高温槽１−４からなり、無人状態になっている。
コンベアライン１−５は、環境変化槽内の単位時間ごと
に分かれた複数工程を自動的に流れている。コンベアラ
イン上の試験対象機器１−６は、工程の移動に伴って、
プログラムまたは機械的による電源オンおよび電源オフ
が行われる。各工程にわたって、予め試験項目が設定さ
れており、各工程内も詳細な試験項目が定められてい
て、電圧変化も試験項目に含められる。一例として、試
験対象機器１−６が磁気ディスク装置の場合には、低温
槽１−２で特定アドレスに書き込んだ試験データについ
ては、高温槽１−４に至るまで読み込みのみの試験を行
い、高温槽１−４で最初に読み込み試験を行った後、再
書き込みの試験を行う。
程の後にコンベアライン１−５で連続しており、第１工
程の初期試験工程、環境変化槽１−１内で実施される複
数の試験工程（環境・エージング試験工程）、および最
終確認試験工程からなる。そして、検査ラインの後に
は、梱包工程がある。初期試験工程と最終確認工程では
操作員が立ち合い、また初期試験工程では試験プログラ
ム媒体のセットおよび簡易試験による初期試験が行われ
る。また、最終確認工程では、環境変化槽１−１内の試
験結果が判別され、試験対象機器１−６の選別が行われ
る。環境変化槽１−１内は低温槽１−２、温度変化槽１
−３、高温槽１−４からなり、無人状態になっている。
コンベアライン１−５は、環境変化槽内の単位時間ごと
に分かれた複数工程を自動的に流れている。コンベアラ
イン上の試験対象機器１−６は、工程の移動に伴って、
プログラムまたは機械的による電源オンおよび電源オフ
が行われる。各工程にわたって、予め試験項目が設定さ
れており、各工程内も詳細な試験項目が定められてい
て、電圧変化も試験項目に含められる。一例として、試
験対象機器１−６が磁気ディスク装置の場合には、低温
槽１−２で特定アドレスに書き込んだ試験データについ
ては、高温槽１−４に至るまで読み込みのみの試験を行
い、高温槽１−４で最初に読み込み試験を行った後、再
書き込みの試験を行う。
第２図は、本発明の一実施例を示す試験対象の情報処
理装置の構成図である。
理装置の構成図である。
第２図において、２−１は試験の対象である中央処理
装置、２−２は主メモリ、２−３は命令解析機構、２−
４は電気変動機構、２−５は電源部、２−６は不揮発メ
モリ、２−７は被試験機器、２−８は主メモリ２−２に
格納された試験プログラム、２−９は主メモリ２−２に
格納された試験手順テーブル、２−10は不揮発メモリ２
−６に格納されたテーブルのポインタ、２−11は試験正
常終了回数格納エリア、２−12はエラーメッセージログ
ング・エリアである。
装置、２−２は主メモリ、２−３は命令解析機構、２−
４は電気変動機構、２−５は電源部、２−６は不揮発メ
モリ、２−７は被試験機器、２−８は主メモリ２−２に
格納された試験プログラム、２−９は主メモリ２−２に
格納された試験手順テーブル、２−10は不揮発メモリ２
−６に格納されたテーブルのポインタ、２−11は試験正
常終了回数格納エリア、２−12はエラーメッセージログ
ング・エリアである。
第２図からも明らかなように、本発明の情報処理装置
２−１は試験対象機器であるとともに、その中の主メモ
リ２−２には試験のための手順を記憶したテーブル２−
９と、試験を実行する試験プログラム２−８とが格納さ
れている。また、中央処理装置２−１に接続される外部
記憶装置の不揮発メモリ２−６には、このテーブルを検
索するポインタが格納されているので、外部からこのポ
インタ２−10を初期設定することにより、人手を介さず
に自動的に被試験機器内のテーブルから試験手順を読み
出し、試験プログラム２−８を実行することにより、手
順に従って試験を行う。
２−１は試験対象機器であるとともに、その中の主メモ
リ２−２には試験のための手順を記憶したテーブル２−
９と、試験を実行する試験プログラム２−８とが格納さ
れている。また、中央処理装置２−１に接続される外部
記憶装置の不揮発メモリ２−６には、このテーブルを検
索するポインタが格納されているので、外部からこのポ
インタ２−10を初期設定することにより、人手を介さず
に自動的に被試験機器内のテーブルから試験手順を読み
出し、試験プログラム２−８を実行することにより、手
順に従って試験を行う。
ここで、情報処理装置は、自ら試験対象である中央処
理装置２−１と、これに含まれる主メモリ２−２、命令
解析機構２−３、電圧変動機構２−４、電源部２−５、
不揮発メモリ２−６、および被試験機器群２−７からな
る。主メモリ２−２内には、電源オンにより自動的に被
試験機器２−７の中のプログラム格納機器（外部記憶装
置）から試験プログラムと試験手順テーブルとがローデ
ィングされる。不揮発メモリ２−６内には、試験手順テ
ーブル等のポインタ２−10と試験正常終了回数エリア２
−11とエラーメッセージロギングエリア２−12とが格納
される。不揮発メモリ２−６の内容は、第１図で示した
初期試験工程でイニシャライズされる。第１図に示す工
程２以降では、電源オンの度ごとに試験手順テーブル２
−９のポインタ２−10を参照し、試験手順テーブル２−
９に示された試験を実施して、その試験が終了した後、
そのポインタ２−10の値を更新する。
理装置２−１と、これに含まれる主メモリ２−２、命令
解析機構２−３、電圧変動機構２−４、電源部２−５、
不揮発メモリ２−６、および被試験機器群２−７からな
る。主メモリ２−２内には、電源オンにより自動的に被
試験機器２−７の中のプログラム格納機器（外部記憶装
置）から試験プログラムと試験手順テーブルとがローデ
ィングされる。不揮発メモリ２−６内には、試験手順テ
ーブル等のポインタ２−10と試験正常終了回数エリア２
−11とエラーメッセージロギングエリア２−12とが格納
される。不揮発メモリ２−６の内容は、第１図で示した
初期試験工程でイニシャライズされる。第１図に示す工
程２以降では、電源オンの度ごとに試験手順テーブル２
−９のポインタ２−10を参照し、試験手順テーブル２−
９に示された試験を実施して、その試験が終了した後、
そのポインタ２−10の値を更新する。
また、その試験が正常終了であれば、不揮発メモリ２
−６の試験正常終了回数を更新する。エラー終了であれ
ば、試験正常終了回数の更新を行わずに、エラー終了を
示すエラーメッセージを不揮発メモリ２−６のエラーメ
ッセージロギングエリア２−12に蓄積する。次に、上記
ポインタを参照し、試験手順テーブル２−９に示された
試験を実施する。以降、この処理を繰り返し行う。
−６の試験正常終了回数を更新する。エラー終了であれ
ば、試験正常終了回数の更新を行わずに、エラー終了を
示すエラーメッセージを不揮発メモリ２−６のエラーメ
ッセージロギングエリア２−12に蓄積する。次に、上記
ポインタを参照し、試験手順テーブル２−９に示された
試験を実施する。以降、この処理を繰り返し行う。
なお、試験手順テーブル２−９には、電圧変動の手順
や、次工程に移るための電圧オフまで待機する手順も含
まれている。最終確認工程では、同じようにして、ポイ
ンタ２−10に示された試験手順テーブルの処理として、
試験正常終了回数と蓄積されているエラーメッセージロ
グングの内容を表示し、また必要に応じてこれを印字す
る。最終確認工程の操作員は、前記試験結果の表示また
は印字により、試験結果を即時に判定することができ
る。
や、次工程に移るための電圧オフまで待機する手順も含
まれている。最終確認工程では、同じようにして、ポイ
ンタ２−10に示された試験手順テーブルの処理として、
試験正常終了回数と蓄積されているエラーメッセージロ
グングの内容を表示し、また必要に応じてこれを印字す
る。最終確認工程の操作員は、前記試験結果の表示また
は印字により、試験結果を即時に判定することができ
る。
本実施例においては、情報処理装置の環境変化、温湿
度変化、電圧変化等の外部変化に対応した所定の組合わ
せ試験を、連続して無人で実施することができ、かつ試
験結果を直ちに判定することが可能である。
度変化、電圧変化等の外部変化に対応した所定の組合わ
せ試験を、連続して無人で実施することができ、かつ試
験結果を直ちに判定することが可能である。
また、書き込み情報の維持にリフレッシュを必要とす
るメモリの試験を、メモリへ書き込み後、一定時間経過
した後に読み出すように、試験手順テーブル２−９に記
載することによって、リフレッシュメモリの試験も実施
することができる。
るメモリの試験を、メモリへ書き込み後、一定時間経過
した後に読み出すように、試験手順テーブル２−９に記
載することによって、リフレッシュメモリの試験も実施
することができる。
電源電圧を変化させる手順を、試験手順テーブル２−
９に記載することによって、電源電圧をプログラムで変
動できる機構を備えた情報処理装置の試験を行うことが
できる。
９に記載することによって、電源電圧をプログラムで変
動できる機構を備えた情報処理装置の試験を行うことが
できる。
また、再書き込みが不可能な追記形記録媒体（例え
ば、光ディスク等）の試験を行うためには、書き込み可
能なアドレスを不揮発性の読み書き可能な記録媒体に設
けておき、このアドレスを参照更新することによって、
書き込み試験を行うことが可能である。その場合、書き
込み可能なアドレスが、最低１箇所は追記形記録媒体に
存在することが必要となる。
ば、光ディスク等）の試験を行うためには、書き込み可
能なアドレスを不揮発性の読み書き可能な記録媒体に設
けておき、このアドレスを参照更新することによって、
書き込み試験を行うことが可能である。その場合、書き
込み可能なアドレスが、最低１箇所は追記形記録媒体に
存在することが必要となる。
第３図は、本発明の一実施例を示す試験方法の動作フ
ローチャートである。
ローチャートである。
先ず、電源がオンすることにより、試験プログラムお
よび手順テーブルを情報処理装置内の主メモリにローデ
ィングする（ステップ101）。次に、扱者により不揮発
性メモリがイニシャライズされたか否かを判断し（ステ
ップ102）、イニシャライズされていれば、次の試験工
程（ここでは、第二の試験工程）にコンベアで移動した
か否かを判断し（ステップ103）、移動が完了していれ
ば、その工程での電源をオンして（ステップ104）、そ
の工程へのポインタを参照し、テーブルに示された手順
で試験を実施する（ステップ105）。試験が終了したな
らば（ステップ106）、試験結果が正常か否かを判定し
（ステップ107）、正常であれば、不揮発メモリの正常
終了回数を更新する（ステップ108）。また、エラーで
終了したならば、エラーメッセージをロギングに蓄積す
る（ステップ109）。そして、ポインタが終了するまで
ステップ103にループして、繰り返し同一の動作を行う
（ステップ103〜109）。
よび手順テーブルを情報処理装置内の主メモリにローデ
ィングする（ステップ101）。次に、扱者により不揮発
性メモリがイニシャライズされたか否かを判断し（ステ
ップ102）、イニシャライズされていれば、次の試験工
程（ここでは、第二の試験工程）にコンベアで移動した
か否かを判断し（ステップ103）、移動が完了していれ
ば、その工程での電源をオンして（ステップ104）、そ
の工程へのポインタを参照し、テーブルに示された手順
で試験を実施する（ステップ105）。試験が終了したな
らば（ステップ106）、試験結果が正常か否かを判定し
（ステップ107）、正常であれば、不揮発メモリの正常
終了回数を更新する（ステップ108）。また、エラーで
終了したならば、エラーメッセージをロギングに蓄積す
る（ステップ109）。そして、ポインタが終了するまで
ステップ103にループして、繰り返し同一の動作を行う
（ステップ103〜109）。
以上説明したように、本発明によれば、試験槽内の試
験を含む複数の工程からなる情報処理装置の試験におい
て、人手を介すことなく運転することができるので、手
数が不要となり、かつ人手による誤操作が防止され、し
かも安全性が確保されるとともに、大量生産が可能であ
る。
験を含む複数の工程からなる情報処理装置の試験におい
て、人手を介すことなく運転することができるので、手
数が不要となり、かつ人手による誤操作が防止され、し
かも安全性が確保されるとともに、大量生産が可能であ
る。
第１図は本発明の一実施例を示す自動検査ライン工程の
ブロック図、第２図は被試験機器である情報処理装置の
構成図第３図は本発明の一実施例を示す試験方法の動作
フローチャートである。 １−1:環境変化槽、１−2:低温槽、１−3:温度変化槽、
１−4:高温槽、１−5:コンベアライン、１−6:情報処理
装置（被試験機器）、２−1:中央処理装置、２−2:主メ
モリ、２−3:命令解析機構、２−4:電圧変動機構、２−
5:電源部、２−6:不揮発メモリ、２−7:被試験機器、２
−8:試験プログラム、２−9:試験手順テーブル、２−1
0:ポインタ、２−11:試験正常終了回数エリア、２−12:
エラーメッセージロギングエリア。
ブロック図、第２図は被試験機器である情報処理装置の
構成図第３図は本発明の一実施例を示す試験方法の動作
フローチャートである。 １−1:環境変化槽、１−2:低温槽、１−3:温度変化槽、
１−4:高温槽、１−5:コンベアライン、１−6:情報処理
装置（被試験機器）、２−1:中央処理装置、２−2:主メ
モリ、２−3:命令解析機構、２−4:電圧変動機構、２−
5:電源部、２−6:不揮発メモリ、２−7:被試験機器、２
−8:試験プログラム、２−9:試験手順テーブル、２−1
0:ポインタ、２−11:試験正常終了回数エリア、２−12:
エラーメッセージロギングエリア。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 内川 芳彦 愛知県尾張旭市晴丘町池上１番地 株式 会社日立製作所旭工場内 (72)発明者 佐藤 賢治 愛知県尾張旭市晴丘町池上１番地 株式 会社日立製作所旭工場内 (72)発明者 恵元 朗夫 大阪府大阪市大淀区長柄西１丁目７番31 号 日立西商品エンジニアリング株式会 社内 (72)発明者 加藤 友康 神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社 日立コンピュータエレクトロニクス内 (56)参考文献 特開 昭58−169258（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−279945（ＪＰ，Ａ)
Claims (6)
- 【請求項１】試験手順を保持する手順テーブルおよび試
験プログラムを格納する主メモリと手順テーブル検索用
のポインタを格納する不揮発性メモリを有する情報処理
装置を試験対象として、複数の試験工程ライン間を該情
報処理装置自体を移動させながら前記各試験工程ごとに
電源オン，所定の処理，電源オフを自動的に行うように
した情報処置装置の試験方法であって、 前記複数の試験工程のうち最初の試験工程において、電
源オンにより、前記手順テーブルと試験プログラムを主
メモリに格納するとともに前記不揮発性メモリの内容を
イニシャライズし、 前記複数の工程のうち前記最初の試験工程以降の試験工
程において、電源オンにより、前記ポインタの値を更新
し、この更新されたポインタの値に対応する前記手順テ
ーブルの内容に従って試験プログラムを実行して自動的
に試験を実施し、該試験終了後に電源をオフにすること
を特徴とする情報処理装置の試験方法。 - 【請求項２】上記手順テーブル上に、磁気記録装置の書
き込みと読み込みの試験を、異なる温湿度環境下で行う
ように指示しておくことにより、磁気記録装置を試験対
象として温湿度変化試験を自動的に実施することを特徴
とする請求項１記載の情報処理装置の試験方法。 - 【請求項３】上記手順テーブル上に、書き込み情報を維
持するためリフレッシュを必要とするメモリの試験を、
該メモリへ情報を書き込んでから予め定めた時間が経過
した後に読み出すように指示しておくことにより、リフ
レッシュメモリの試験を自動的に実施することを特徴と
する請求項１記載の情報処理装置の試験方法。 - 【請求項４】上記手順テーブル上に、電源電圧をプログ
ラムで変動させる手段を備えた処理装置の試験を、電圧
を変化させる手順を指示しておくことにより、各試験工
程において異なった電圧で自動的に試験を実施すること
を特徴とする請求項１記載の情報処理装置の試験方法。 - 【請求項５】上記読み書き可能な不揮発性メモリ上に、
再書き込み不可能な追記形記録媒体の試験を行うため、
書き込み可能なアドレスを記憶しておくことにより、試
験プログラムが該アドレスを参照し、更新することによ
り、上記再書き込み不可能な追記形記録媒体への書き込
み試験を自動的に実施することを特徴とする請求項１記
載の情報処理装置の試験方法。 - 【請求項６】上記書き込み可能な不揮発性メモリ上に、
各試験工程ごとの試験結果を蓄積し、全試験が終了した
後に、該試験結果を一覧性のある形式に編集して、表示
することを特徴とする請求項１記載の情報処理装置の試
験方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63234443A JP2679152B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 情報処理装置の試験方法 |
| US07/407,121 US5107498A (en) | 1988-09-19 | 1989-09-14 | Automatic testing method for information processing devices |
| KR1019890013448A KR920004440B1 (ko) | 1988-09-19 | 1989-09-18 | 정보처리장치의 자동검사방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63234443A JP2679152B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 情報処理装置の試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0281233A JPH0281233A (ja) | 1990-03-22 |
| JP2679152B2 true JP2679152B2 (ja) | 1997-11-19 |
Family
ID=16971091
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63234443A Expired - Fee Related JP2679152B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 情報処理装置の試験方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5107498A (ja) |
| JP (1) | JP2679152B2 (ja) |
| KR (1) | KR920004440B1 (ja) |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5056604A (en) * | 1990-05-02 | 1991-10-15 | Xerox Corporation | Sheet feeder devices |
| JPH0455778A (ja) * | 1990-06-26 | 1992-02-24 | Toshiba Corp | 半導体装置のテスト方法 |
| US5283564A (en) * | 1990-12-26 | 1994-02-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Liquid crystal apparatus with temperature-dependent pulse manipulation |
| KR0166727B1 (ko) * | 1992-11-27 | 1999-03-20 | 김광호 | 영상움직임관련정보를 양자화제어에 이용하는 부호화방법 및 장치 |
| JP3212228B2 (ja) * | 1994-10-17 | 2001-09-25 | 富士通株式会社 | 試験プログラム作成装置における試験プログラム自動作成方法 |
| KR100376282B1 (ko) * | 1995-12-26 | 2003-09-06 | 에스케이케미칼주식회사 | 은행잎 엑기스로부터 리그난의 분리 및 정제방법 |
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| CN103377102A (zh) * | 2012-04-20 | 2013-10-30 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 电脑重启及开关机测试系统 |
| TWI456222B (zh) * | 2012-06-29 | 2014-10-11 | Hon Tech Inc | 電子元件測試分級設備、測試分級方法及其完測電子元件 |
| US9928138B2 (en) * | 2015-02-17 | 2018-03-27 | Toshiba Memory Corporation | Memory system |
| TWI644113B (zh) * | 2018-03-06 | 2018-12-11 | 桓達科技股份有限公司 | 使用電磁式流量計計算流量之方法 |
| CN109787043B (zh) * | 2019-01-19 | 2020-12-22 | 深圳市沃特沃德股份有限公司 | 电源切断方法、装置、存储介质及计算机设备 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5148941A (en) * | 1974-10-25 | 1976-04-27 | Hitachi Ltd | Dainamitsukugata ic memorino sukuriininguhoho |
| US3969618A (en) * | 1974-11-29 | 1976-07-13 | Xerox Corporation | On line PROM handling system |
| JPS6016653B2 (ja) * | 1979-08-22 | 1985-04-26 | 富士通株式会社 | 情報処理装置の自動試験方式 |
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| JPS617950A (ja) * | 1984-06-22 | 1986-01-14 | Fujitsu Ltd | オンラインシステムのテスト制御方式 |
| US4885683A (en) * | 1985-09-27 | 1989-12-05 | Unisys Corporation | Self-testing peripheral-controller system |
| JPS62247434A (ja) * | 1986-04-21 | 1987-10-28 | Mitsubishi Electric Corp | 計算機システムの自動診断方式 |
| JPS63116243A (ja) * | 1986-11-04 | 1988-05-20 | Nec Corp | 自己診断方式 |
| JPS63118649U (ja) * | 1987-01-28 | 1988-08-01 | ||
| US4837764A (en) * | 1987-03-26 | 1989-06-06 | Bunker Ramo Corporation | Programmable apparatus and method for testing computer peripherals |
-
1988
- 1988-09-19 JP JP63234443A patent/JP2679152B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-09-14 US US07/407,121 patent/US5107498A/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-09-18 KR KR1019890013448A patent/KR920004440B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR920004440B1 (ko) | 1992-06-05 |
| KR900005319A (ko) | 1990-04-14 |
| JPH0281233A (ja) | 1990-03-22 |
| US5107498A (en) | 1992-04-21 |
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