TWI456222B - 電子元件測試分級設備、測試分級方法及其完測電子元件 - Google Patents

Claims (13)

1. 一種電子元件測試分級設備，係包括有：中央處理單元：係執行分析比對，並控制各單元作動；測試單元：係裝設有測試板，該測試板上設有供置入待測電子元件之測試座，而以測試程式對該待測電子元件執行測試作業，並將測試結果資料傳輸至該中央處理單元；資料庫：係內建有電子元件在測試單元啟動開機時所需開機基本值的電流量或輸出功率，或測試單元開機後正常運作基本值所需的電流量或輸出功率，或測試單元啟動開機時特定元件的開機基本溫度，或測試單元的取樣時間軸範圍值之紀錄，並連結該中央處理單元，以提供紀錄資料給該中央處理單元進行比對分析；電源供應單元：係提供各單元所需的電源；偵測單元：係偵測該測試單元的電流變化或輸出功率變化或溫度變化，並將偵測到之訊號傳輸至該中央處理單元，以供該中央處理單元與該資料庫之紀錄進行比對，而由該中央處理單元即時的控制執行分級作業或繼續以測試程式執行測試作業。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分級設備，其中，該偵測單元係於電源供應單元連結至測試單元之電源輸送線路上設有電流計，並使該電流計可將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行比對。
3. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分級設備，其中，該偵測單元係於特定元件裝設溫度檢知器，並使該溫度檢知器將偵測到之溫度值傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行比對。
4. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分級設備，其中， 該偵測單元係偵測測試單元之控制器所連結之週邊配備的輸出功率，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行比對。
5. 一種電子元件測試分級設備，係包括有：中央處理單元：係執行分析比對，並控制各單元作動；測試單元：係裝設有測試板，該測試板上設有供置入待測電子元件之測試座，而以測試程式對該待測電子元件執行測試作業，並將測試結果資料傳輸至該中央處理單元；溫度控制單元：係連結該中央處理單元，其具有溫度控制模組、一偵測電子元件溫度並將溫度訊號傳輸至該溫度控制模組之溫度偵測模組、一接收該溫度控制模組控制訊號之電源供應模組以及至少一溫度輸出模組；資料庫：係內建有電子元件在測試單元啟動開機時，溫度控制單元之溫度輸出模組所需開機基本值的電流量或輸出功率，或溫度控制單元之溫度輸出模組正常運作基本值所需的電流量或輸出功率，或電子元件的溫度變化範圍值，或溫度控制單元之溫度輸出模組的取樣時間軸範圍值之紀錄，並連結該中央處理單元，以提供紀錄資料給該中央處理單元進行比對分析；電源供應單元：係提供各單元所需的電源；偵測單元：係偵測溫度控制單元的電流變化或輸出功率變化或電子元件的溫度變化，並將偵測到之訊號傳輸至該中央處理單元，以供該中央處理單元與該資料庫之紀錄進行比對，而由該中央處理單元即時的控制執行分級作業或繼續以測試程式執行測試作業。
6. 依申請專利範圍第5項所述之電子元件測試分級設備，其中，該偵測單元係於電源供應模組連結至溫度輸出模組之電源輸送線路上設有電流計，並使該電流計可將偵測到之電流值或輸 出功率傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行比對。
7. 依申請專利範圍第5項所述之電子元件測試分級設備，其中，該偵測單元係以溫度控制單元之溫度偵測模組偵測待測電子元件的溫度，並將溫度訊號傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行比對。
8. 依申請專利範圍第1或5項所述之電子元件測試分級設備，其中，該測試分級設備更包含有由中央處理單元控制作動之供料單元、收料單元及輸送單元。
9. 一種電子元件測試分級方法，係包括有：開機基本值的建構手段：係找出良品電子元件於開機執行測試作業時，其測試單元或溫度輸出模組開機啟動所需開機基本值的電流量或輸出功率或溫度，並將該開機基本值儲存於資料庫中；偵測測試單元是否開機手段：係偵測該測試單元或該溫度輸出模組的電流量或輸出功率或溫度，並傳輸至中央處理單元，以供該中央處理單元與該資料庫之紀錄進行該開機基本值的比對，如果表示電子元件無法使該測試單元開機則停止測試，將該電子元件分級放置；測試程式執行測試之結果判定手段：當執行偵測該測試單元是否開機手段後，若表示該電子元件可以使該測試單元開機，則繼續進行以測試程式執行測試，判定測試結果是否OK，如果表示該電子元件仍為不良品，將該電子元件分級放置，如果表示該電子元件通過測試程式的測試，將該電子元件分級放置。
10. 一種電子元件測試分級方法，係包括有：開機基本值的建構手段：係找出良品電子元件於開機執行測試作業時，其測試單元或溫度輸出模組開機啟動所需開機基本值的電流量或輸出功率或溫度，並將該 開機基本值儲存於資料庫中；正常運作基本值的建構手段：係找出良品電子元件於執行測試作業時，其測試單元或溫度輸出模組啟動後所需正常運作基本值的電流量或輸出功率或溫度，並將該正常運作基本值儲存於該資料庫中；偵測測試單元是否開機手段：係偵測該測試單元或該溫度輸出模組的電流量或輸出功率或溫度，並傳輸至中央處理單元，以供該中央處理單元與該資料庫之紀錄進行開機基本值的比對，如果表示電子元件無法使該測試單元開機則停止測試，將該電子元件分級放置；偵測測試單元是否中途當機手段：當執行偵測該測試單元是否開機手段後，若表示該電子元件可以使該測試單元開機，則接續於各取樣時間軸偵測該測試單元或該溫度輸出模組的的電流量或輸出功率或溫度，並將偵測到之電流值或輸出功率或溫度傳輸至該中央處理單元，以供該中央處理單元與該資料庫之紀錄進行正常運作基本值的比對，如果表示該電子元件使該測試單元中途當機則停止測試，將該電子元件分級放置；測試程式執行測試之結果判定手段：當執行偵測該測試單元是否中途當機手段後，若表示該電子元件於取樣時間軸正常運作使該測試單元保持開機執行測試，則接續判定該電子元件是否完成所有取樣時間軸的比對，如果表示尚未完成，則繼續進行下一取樣時間軸的正常運作基本值比對，若該表示電子元件完成所有取樣時間軸的比對，則繼續進行以測試程式執行測試，判定測試結果是否OK，如果表示該電子元件仍為不良品，將該電子元件分級放置，如果表示該電子元件通過測試程式的測試，將該電子元件分 級放置。
11. 一種電子元件測試分級方法，係包括有：開機基本值的建構手段：係找出良品電子元件於開機執行測試作業時，其測試單元或溫度輸出模組開機啟動所需開機基本值的電流量或輸出功率，並將該開機基本值儲存於資料庫中；正常運作基本值的建構手段：係找出良品電子元件於執行測試作業時，其測試單元或溫度輸出模組啟動後所需正常運作基本值的電流量或輸出功率，並將該正常運作基本值儲存於該資料庫中；取樣時間軸範圍值的建構手段：係在整個測試時間內找出數個適當的時間點作為資料比對的時間點，接著並於各取樣時間軸上找出各良品電子元件於執行測試作業時，其測試單元或溫度輸出模組執行測試的電流量或輸出功率的範圍值，並將該取樣時間軸範圍值儲存於資料庫中；偵測測試單元是否開機手段：係偵測該測試單元或該溫度輸出模組的電流量或輸出功率，並將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元，以供該中央處理單元與該資料庫之紀錄進行開機基本值的比對，如果表示電子元件無法使該測試單元開機則停止測試，將該電子元件分級放置；偵測測試單元是否中途當機手段：當執行偵測該測試單元是否開機手段後，若該表示電子元件可以使該測試單元開機，則接續於各取樣時間軸偵測該測試單元或該溫度輸出模組的電流量或輸出功率，並將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至該中央處理單元，以供該中央處理單元與該資料庫之紀錄進行正常運作基本值的比對，如果表示該電子元件使該測試單元中途當機則停止測試，將該電子元件分級放置； 電子元件不正常發熱判定手段：當該電子元件於取樣時間軸正常運作使該測試單元繼續開機執行測試後，則接續與該資料庫之紀錄進行是否在取樣時間軸範圍值內的比對，如果表示該電子元件不正常發熱，將該電子元件分級放置；測試程式執行測試之結果判定手段：當執行偵測該測試單元不正常發熱判定手段後，若表示該電子元件於取樣時間軸範圍值內，接續判定該電子元件是否完成所有取樣時間軸的比對，如果表示尚未完成，則繼續進行下一取樣時間軸的偵測該測試單元是否中途當機手段，若表示該電子元件完成所有取樣時間軸的比對，則繼續進行以測試程式執行測試，判定測試結果是否OK，如果表示該電子元件仍為不良品，將該電子元件分級放置，如果表示該電子元件通過測試程式的測試，該電子元件即為良品。
12. 一種依申請專利範圍第10或11項所述之電子元件測試分級方法，於測試程式執行測試之結果判定手段後，更包括有：適用高頻之測試判定手段：該電子元件如果通過測試程式的測試後，執行高階的高頻測試，該高階的高頻測試係於各取樣時間軸偵測該測試單元或該溫度輸出模組的電流量或輸出功率或溫度，並傳輸至該中央處理單元，以供該中央處理單元與該資料庫之紀錄進行正常運作基本值的比對，如果表示該電子元件可執行該高頻測試，則依據測試程式執行測試，判定測試結果是否OK，如果表示該電子元件無法通過該高頻測試，將該電子元件分級放置，如果表示該電子元件在該高頻測試時仍可正常運作，則標記該電子元件通過該高頻測試，將該電子元件分級放置。
13. 一種依申請專利範圍第12項所述之電子元件測試分級方 法之完測電子元件，該完測電子元件在通過高頻測試後，係於該電子元件上標記通過高頻測試。